JPH1116293A - 電圧制御発振回路及びディスク再生装置 - Google Patents
電圧制御発振回路及びディスク再生装置Info
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- JPH1116293A JPH1116293A JP9185733A JP18573397A JPH1116293A JP H1116293 A JPH1116293 A JP H1116293A JP 9185733 A JP9185733 A JP 9185733A JP 18573397 A JP18573397 A JP 18573397A JP H1116293 A JPH1116293 A JP H1116293A
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 少なくとも1つの基準クロックを用いて、分
周比が1/2n 以外のものを含む任意の発振周波数信号
が得られる電圧制御発振(VCO)回路及びこの回路を
用いたディスク再生装置を提供する。 【解決手段】 VCO回路は、第1のディレイセル群A
と、第2のディレイセル群Bからなりそのディレイ量に
よって発振する周波数が決まるように構成されたリング
オシレータと、第2のディレイセル群からディレイセル
数を選択するスイッチ7とを有し、第2のディレイセル
の他方のゲートに第1の制御電圧DCVと同じ値が第2
の制御電圧Vinとして入力した場合、第1のディレイセ
ル数と第2のディレイセル数との比によって決まる所望
の周波数を発振し、第2の制御電圧を変化させることに
より前記周波数を基準として発振周波数を変化させる。
ディレイセル数比を2種類以上設定出来、1つの基準ク
ロックを用いて、すべての再生速度に対応出来る。
周比が1/2n 以外のものを含む任意の発振周波数信号
が得られる電圧制御発振(VCO)回路及びこの回路を
用いたディスク再生装置を提供する。 【解決手段】 VCO回路は、第1のディレイセル群A
と、第2のディレイセル群Bからなりそのディレイ量に
よって発振する周波数が決まるように構成されたリング
オシレータと、第2のディレイセル群からディレイセル
数を選択するスイッチ7とを有し、第2のディレイセル
の他方のゲートに第1の制御電圧DCVと同じ値が第2
の制御電圧Vinとして入力した場合、第1のディレイセ
ル数と第2のディレイセル数との比によって決まる所望
の周波数を発振し、第2の制御電圧を変化させることに
より前記周波数を基準として発振周波数を変化させる。
ディレイセル数比を2種類以上設定出来、1つの基準ク
ロックを用いて、すべての再生速度に対応出来る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンパクトディス
ク(CD:Compact Disc)等の光学的なディスク再生装
置に関するものであり、とくに再生信号に同期したクロ
ックを生成するPLL(Phase Locked Loop)回路内の電
圧制御発振(VCO;Voltage ControlledOscilator)
回路に関するものである。
ク(CD:Compact Disc)等の光学的なディスク再生装
置に関するものであり、とくに再生信号に同期したクロ
ックを生成するPLL(Phase Locked Loop)回路内の電
圧制御発振(VCO;Voltage ControlledOscilator)
回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】音響機器の分野では、現在、デジタル記
録再生システムが開発されている。このシステムは高密
度で忠実度の高い記録再生を行うため、オーディオ信号
をPCM(Pulse Code Modulation)技術によりデジタル
信号に変換して、例えばディスクや磁気テープなどの記
録媒体に記録しこれを再生する。前記ディスクからデー
タを再生するディスク再生装置は、ディスクをモータ制
御回路及びモータによって線速度一定(CLV:Consta
nt Linear Velocity)もしくは角速度一定(CAV:Co
nstant Angular Velocity )で回転させる。図7は、従
来のディスク再生装置の回路ブロック図である。半導体
レーザや光電変換素子などを内臓した光学式ピックアッ
プ素子9は、ディスクモータ16で回転されているディ
スク15の内周側から外周側に向けてリニアトラッキン
グすることにより、ディスク15に記録されたデータを
読み取る。
録再生システムが開発されている。このシステムは高密
度で忠実度の高い記録再生を行うため、オーディオ信号
をPCM(Pulse Code Modulation)技術によりデジタル
信号に変換して、例えばディスクや磁気テープなどの記
録媒体に記録しこれを再生する。前記ディスクからデー
タを再生するディスク再生装置は、ディスクをモータ制
御回路及びモータによって線速度一定(CLV:Consta
nt Linear Velocity)もしくは角速度一定(CAV:Co
nstant Angular Velocity )で回転させる。図7は、従
来のディスク再生装置の回路ブロック図である。半導体
レーザや光電変換素子などを内臓した光学式ピックアッ
プ素子9は、ディスクモータ16で回転されているディ
スク15の内周側から外周側に向けてリニアトラッキン
グすることにより、ディスク15に記録されたデータを
読み取る。
【0003】この読み取ったデータ(電流信号)はアン
プ10に供給される。このアンプ10は、電流信号を電
圧信号としての広帯域の信号(以下、RF信号という)
に変換して、データスライス回路17に供給する。デー
タスライス回路17は、再生信号を2値化し、EFM信
号としてPLL(Phase Locked Loop )回路18及びデ
ータ処理回路11に供給する。このデータ処理回路11
は、EFM信号から同期信号を分離した後EFM復調
し、パリティデータP、Qを含む32シンボルのデータ
成分とサブコードデータ成分とに分離する。ついで、E
FM復調されたデータは、データ処理回路11におい
て、PLL回路18で生成されたクロック信号PLCK
により、メモリ(図示せず)へ書き込まれる。このメモ
リに書き込まれたデータは、水晶振動子を用いて生成し
た水晶系のシステム基準クロック信号XCKによりメモ
リから読み出されることによって、モータによる時間軸
変動が吸収される。このメモリから読み出されたデータ
は誤り訂正された後、16ビットのデジタルデータとし
て出力される。
プ10に供給される。このアンプ10は、電流信号を電
圧信号としての広帯域の信号(以下、RF信号という)
に変換して、データスライス回路17に供給する。デー
タスライス回路17は、再生信号を2値化し、EFM信
号としてPLL(Phase Locked Loop )回路18及びデ
ータ処理回路11に供給する。このデータ処理回路11
は、EFM信号から同期信号を分離した後EFM復調
し、パリティデータP、Qを含む32シンボルのデータ
成分とサブコードデータ成分とに分離する。ついで、E
FM復調されたデータは、データ処理回路11におい
て、PLL回路18で生成されたクロック信号PLCK
により、メモリ(図示せず)へ書き込まれる。このメモ
リに書き込まれたデータは、水晶振動子を用いて生成し
た水晶系のシステム基準クロック信号XCKによりメモ
リから読み出されることによって、モータによる時間軸
変動が吸収される。このメモリから読み出されたデータ
は誤り訂正された後、16ビットのデジタルデータとし
て出力される。
【0004】再生速度の可変は、システムコントローラ
20が行う。システムコントローラ20は、再生速度コ
ントロール信号(以下、HSという)を生成する。この
HS信号は、例えば、通常の再生速度(1倍速と称す
る)又は基準速度の2倍の速度(2倍速と称する)を指
定する。このHS信号は、データ処理回路11、モータ
制御回路19に供給され、処理速度及びディスク再生速
度を目的の速度に切り換える。HS信号は、データスラ
イス回路17にも供給され、データスライス回路17
は、HS信号に応じて制御周波数帯域を再生速度に対応
するように変化させている。PLL回路は、出力信号を
発生するVCO回路と、この出力を所定の低周波数まで
分周した信号と一定周波数の基準信号との位相差を検出
してこの位相差に応じた制御電圧をVCO回路に与える
位相ロックループ(PLLループ)とを有する。すなわ
ちPLLループは、VCO回路の出力を分周した信号と
基準信号との位相が一致する位相ロック状態になるまで
VCO回路の制御電圧を調整する。PLLループは、位
相差に応じた信号(電流)を制御電圧に変えるためのル
ープフィルタを有している。
20が行う。システムコントローラ20は、再生速度コ
ントロール信号(以下、HSという)を生成する。この
HS信号は、例えば、通常の再生速度(1倍速と称す
る)又は基準速度の2倍の速度(2倍速と称する)を指
定する。このHS信号は、データ処理回路11、モータ
制御回路19に供給され、処理速度及びディスク再生速
度を目的の速度に切り換える。HS信号は、データスラ
イス回路17にも供給され、データスライス回路17
は、HS信号に応じて制御周波数帯域を再生速度に対応
するように変化させている。PLL回路は、出力信号を
発生するVCO回路と、この出力を所定の低周波数まで
分周した信号と一定周波数の基準信号との位相差を検出
してこの位相差に応じた制御電圧をVCO回路に与える
位相ロックループ(PLLループ)とを有する。すなわ
ちPLLループは、VCO回路の出力を分周した信号と
基準信号との位相が一致する位相ロック状態になるまで
VCO回路の制御電圧を調整する。PLLループは、位
相差に応じた信号(電流)を制御電圧に変えるためのル
ープフィルタを有している。
【0005】図4には、従来のVCO回路で使用される
ディレイセルの内容が記載されており、ディレイセル5
のブロック図、構成図及び等価回路図が示されている。
ディレイセル5は、ソース/ドレインを接続した一対の
Pチャネル/NチャネルMOSトランジスタ1とこのソ
ース/ドレインに接続されたインバータ2から構成され
ている。その等価回路は、可変抵抗とこの可変抵抗に直
列接続されたインバータと、この可変抵抗/インバータ
間に接続された一方が接地されたキャパシタからなる。
VCO回路を構成するリングオシレータは、このディレ
イセル5が複数直列に接続されている。このリングオシ
レータでは、PチャネルMOSトランジスタのゲート電
圧は、基準電圧に固定されている。そして、Nチャネル
MOSトランジスタのゲート電圧を変化させることによ
り一対のトランジスタ1の等価的なオン抵抗値を変化さ
せ、リングオシレータの発振周波数を変化させる。この
オン抵抗値を変化させるということは、可変抵抗器を変
化させることに相当し、この変化によってディレイ量が
変化する。
ディレイセルの内容が記載されており、ディレイセル5
のブロック図、構成図及び等価回路図が示されている。
ディレイセル5は、ソース/ドレインを接続した一対の
Pチャネル/NチャネルMOSトランジスタ1とこのソ
ース/ドレインに接続されたインバータ2から構成され
ている。その等価回路は、可変抵抗とこの可変抵抗に直
列接続されたインバータと、この可変抵抗/インバータ
間に接続された一方が接地されたキャパシタからなる。
VCO回路を構成するリングオシレータは、このディレ
イセル5が複数直列に接続されている。このリングオシ
レータでは、PチャネルMOSトランジスタのゲート電
圧は、基準電圧に固定されている。そして、Nチャネル
MOSトランジスタのゲート電圧を変化させることによ
り一対のトランジスタ1の等価的なオン抵抗値を変化さ
せ、リングオシレータの発振周波数を変化させる。この
オン抵抗値を変化させるということは、可変抵抗器を変
化させることに相当し、この変化によってディレイ量が
変化する。
【0006】図5は、CMOS構造の半導体集積回路
(LSI)内部で一般的に良く使われるディレイライン
によるリングオシレータタイプのVCO回路を示してい
る。リングオシレータは、発振ブロック(第2のディレ
イセル群)Bからなり、リファレンスブロックAは、n
個のディレイセル5から構成され、発振ブロックBは、
例えば、4個のディレイセル5から構成されている。リ
ファレンスブロックAのディレイセル5のPチャネルM
OSトランジスタ(P−ch)のゲート電圧は、所定の
電圧(第1の制御電圧)DCVに固定されており、Nチ
ャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲートには入
力信号CVが印加される。リファレンスブロックAには
基準クロックが入力され、出力信号fout が出力され
る。基準クロックの出力は、位相比較器3にも入力され
る。位相比較器3は、基準クロックと、この基準クロッ
クがリファレンスブロックAを通った後の出力fout と
の位相を比較し、その比較結果をローパスフィルタ(L
PF)4に供給する。フィルタ4は、位相比較器3によ
る位相検出結果の出力の低周波数成分のみを取り出すこ
とができる。フィルタ4から取り出された出力は、先の
入力信号CVとしてリファレンスブロックAのNチャネ
ルMOSトランジスタ(N−ch)のゲートに印加され
る。
(LSI)内部で一般的に良く使われるディレイライン
によるリングオシレータタイプのVCO回路を示してい
る。リングオシレータは、発振ブロック(第2のディレ
イセル群)Bからなり、リファレンスブロックAは、n
個のディレイセル5から構成され、発振ブロックBは、
例えば、4個のディレイセル5から構成されている。リ
ファレンスブロックAのディレイセル5のPチャネルM
OSトランジスタ(P−ch)のゲート電圧は、所定の
電圧(第1の制御電圧)DCVに固定されており、Nチ
ャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲートには入
力信号CVが印加される。リファレンスブロックAには
基準クロックが入力され、出力信号fout が出力され
る。基準クロックの出力は、位相比較器3にも入力され
る。位相比較器3は、基準クロックと、この基準クロッ
クがリファレンスブロックAを通った後の出力fout と
の位相を比較し、その比較結果をローパスフィルタ(L
PF)4に供給する。フィルタ4は、位相比較器3によ
る位相検出結果の出力の低周波数成分のみを取り出すこ
とができる。フィルタ4から取り出された出力は、先の
入力信号CVとしてリファレンスブロックAのNチャネ
ルMOSトランジスタ(N−ch)のゲートに印加され
る。
【0007】入力信号(電圧)CVは、発振ブロックB
のディレイセル5のNチャネルMOSトランジスタのゲ
ートにも印加される。発振ブロックBのディレイセル5
のPチャネルMOSトランジスタには第2の制御電圧V
inが印加される。発振ブロックBの出力側にインバータ
8が接続され、インバータ8の出力側は、分周器6に接
続されている。発振ブロックBの出力、すなわちVCO
回路の出力VCOoutは、分周器6を通して出力され
る。また、インバータ8の出力は、発振ブロックBの入
力側に接続されている。基準クロックと、基準クロック
がリファレンスブロックを通過した後の信号fout とを
位相比較し、高域周波数成分をカットした信号(電圧)
CVをリファレンスブロックAのNチャネルMOSトラ
ンジスタ(N−ch)のゲート電圧に入力し、Pチャネ
ルMOSトランジスタ(P−ch)のゲート電圧にDC
Vを入力すると、リファレンスブロックのディレイ量と
基準クロックの位相が一致するようにCVが制御され
る。これを位相ロック状態という。
のディレイセル5のNチャネルMOSトランジスタのゲ
ートにも印加される。発振ブロックBのディレイセル5
のPチャネルMOSトランジスタには第2の制御電圧V
inが印加される。発振ブロックBの出力側にインバータ
8が接続され、インバータ8の出力側は、分周器6に接
続されている。発振ブロックBの出力、すなわちVCO
回路の出力VCOoutは、分周器6を通して出力され
る。また、インバータ8の出力は、発振ブロックBの入
力側に接続されている。基準クロックと、基準クロック
がリファレンスブロックを通過した後の信号fout とを
位相比較し、高域周波数成分をカットした信号(電圧)
CVをリファレンスブロックAのNチャネルMOSトラ
ンジスタ(N−ch)のゲート電圧に入力し、Pチャネ
ルMOSトランジスタ(P−ch)のゲート電圧にDC
Vを入力すると、リファレンスブロックのディレイ量と
基準クロックの位相が一致するようにCVが制御され
る。これを位相ロック状態という。
【0008】位相ロック状態の信号CVを、発振ブロッ
クBのNチャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲ
ート電圧として入力し、PチャネルMOSトランジスタ
(P−ch)のゲート電圧(第2の制御電圧)Vinに第
1の制御電圧DCVと同じ値を入力したとき、フリーラ
ン周波数ffr=[(リファレンスブロック中のディレイ
セル数)/(発振ブロック中のディレイセル数)]×
(基準クロック)で発振する。このVCO回路の発振周
波数ffrと第2の制御電圧Vinの入力電圧の特性を図6
に示す。従来は、以上のような構成になっており、現在
使用されているVCO回路では、リファレンスブロック
中のディレイセル数と、発振ブロック中のディレイセル
数が固定であるため、第1の制御電圧DCVを固定する
と、1つの基準クロックに対して1つのフリーラン周波
数ffrしか得られない。したがって図6に示したよう
に、ある基準クロックによって作成された発振周波数を
1/2n に分周した特性は得られるが、分周比が1/2
n 以外の場合は、別の基準クロックを用いなければなら
ない。
クBのNチャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲ
ート電圧として入力し、PチャネルMOSトランジスタ
(P−ch)のゲート電圧(第2の制御電圧)Vinに第
1の制御電圧DCVと同じ値を入力したとき、フリーラ
ン周波数ffr=[(リファレンスブロック中のディレイ
セル数)/(発振ブロック中のディレイセル数)]×
(基準クロック)で発振する。このVCO回路の発振周
波数ffrと第2の制御電圧Vinの入力電圧の特性を図6
に示す。従来は、以上のような構成になっており、現在
使用されているVCO回路では、リファレンスブロック
中のディレイセル数と、発振ブロック中のディレイセル
数が固定であるため、第1の制御電圧DCVを固定する
と、1つの基準クロックに対して1つのフリーラン周波
数ffrしか得られない。したがって図6に示したよう
に、ある基準クロックによって作成された発振周波数を
1/2n に分周した特性は得られるが、分周比が1/2
n 以外の場合は、別の基準クロックを用いなければなら
ない。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】VCO回路は、基準ク
ロックを入力すると、リファレンスブロックと発振ブロ
ックのディレイセル数比によって、フリーラン周波数を
調節できる回路である。従来技術では、ディレイセル数
比が1種類しか設定出来なかった。したがって、再生速
度が1倍速、2倍速、4倍速、8倍速、16倍速、32
倍速などの2n 倍速については、同一の基準クロックを
用いてフリーラン周波数を作成し分周して対応出来る
が、12倍速、24倍速などの2n 倍速以外については
別の基準クロックを用いてフリーラン周波数を作成しな
ければならなかった。この様に現存の技術においては分
周比が1/2n で表現できない周波数を得る場合、X’
talなどの基準クロックが2つ以上必要となり、その
結果、コストアップが問題となっている。本発明は、こ
のような事情によりなされたものであり、少なくとも1
つの基準クロックを用いて、分周比が1/2n 以外のも
のを含む任意の発振周波数信号が得られる電圧制御発振
(VCO)回路及びこの回路を用いたディスク再生装置
を提供する。
ロックを入力すると、リファレンスブロックと発振ブロ
ックのディレイセル数比によって、フリーラン周波数を
調節できる回路である。従来技術では、ディレイセル数
比が1種類しか設定出来なかった。したがって、再生速
度が1倍速、2倍速、4倍速、8倍速、16倍速、32
倍速などの2n 倍速については、同一の基準クロックを
用いてフリーラン周波数を作成し分周して対応出来る
が、12倍速、24倍速などの2n 倍速以外については
別の基準クロックを用いてフリーラン周波数を作成しな
ければならなかった。この様に現存の技術においては分
周比が1/2n で表現できない周波数を得る場合、X’
talなどの基準クロックが2つ以上必要となり、その
結果、コストアップが問題となっている。本発明は、こ
のような事情によりなされたものであり、少なくとも1
つの基準クロックを用いて、分周比が1/2n 以外のも
のを含む任意の発振周波数信号が得られる電圧制御発振
(VCO)回路及びこの回路を用いたディスク再生装置
を提供する。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のVCO回路は、
複数のディレイセルからなる第1のディレイセル群と、
複数のディレイセルからなる第2のディレイセル群から
なり、そのディレイ量によって発振する周波数が決まる
ように構成されたリングオシレータと、前記第1のディ
レイセル群からディレイセル数を選択するスイッチと、
基準クロックと、この基準クロックが前記第1のディレ
イセル群を通った後の出力との位相を比較する位相検出
手段と、前記位相検出手段の出力のうち低周波数成分の
みを取り出すフィルタ手段とを備え、前記第1のディレ
イセル群、前記位相検出手段及び前記フィルタ手段は、
ディレイ量制御回路を構成し、前記第1のディレイセル
群の一方のゲートに第1の制御電圧が入力し、前記第1
のディレイセル群の他方のゲートに前記フィルタ手段の
出力が入力して前記第1のディレイセル群のディレイ量
が前記基準クロックの周期と一致するように前記フィル
タ手段の出力が自動調整され、かつ前記フィルタ手段の
出力が前記第2のディレイセル群の一方のゲートに入力
し、前記第2のディレイセルの他方のゲートに前記第1
の制御電圧と同じ値が第2の制御電圧として入力した場
合、第1のディレイセル数と、第2のディレイセル数と
の比によって決まる所望の周波数を発振し、第2の制御
電圧を変化させることにより前記周波数を基準として発
振周波数を変化させることができることを第1の特徴と
する。
複数のディレイセルからなる第1のディレイセル群と、
複数のディレイセルからなる第2のディレイセル群から
なり、そのディレイ量によって発振する周波数が決まる
ように構成されたリングオシレータと、前記第1のディ
レイセル群からディレイセル数を選択するスイッチと、
基準クロックと、この基準クロックが前記第1のディレ
イセル群を通った後の出力との位相を比較する位相検出
手段と、前記位相検出手段の出力のうち低周波数成分の
みを取り出すフィルタ手段とを備え、前記第1のディレ
イセル群、前記位相検出手段及び前記フィルタ手段は、
ディレイ量制御回路を構成し、前記第1のディレイセル
群の一方のゲートに第1の制御電圧が入力し、前記第1
のディレイセル群の他方のゲートに前記フィルタ手段の
出力が入力して前記第1のディレイセル群のディレイ量
が前記基準クロックの周期と一致するように前記フィル
タ手段の出力が自動調整され、かつ前記フィルタ手段の
出力が前記第2のディレイセル群の一方のゲートに入力
し、前記第2のディレイセルの他方のゲートに前記第1
の制御電圧と同じ値が第2の制御電圧として入力した場
合、第1のディレイセル数と、第2のディレイセル数と
の比によって決まる所望の周波数を発振し、第2の制御
電圧を変化させることにより前記周波数を基準として発
振周波数を変化させることができることを第1の特徴と
する。
【0011】また、本発明のVCO回路は、複数のディ
レイセルからなる第1のディレイセル群と、複数のディ
レイセルからなる第2のディレイセル群からなり、その
ディレイ量によって発振する周波数が決まるように構成
されたリングオシレータと、前記第2のディレイセル群
からディレイセル数を選択するスイッチと、基準クロッ
クと、この基準クロックが前記第1のディレイセル群を
通った後の出力との位相を比較する位相検出手段と、前
記位相検出手段の出力のうち低周波数成分のみを取り出
すフィルタ手段とを備え、前記第1のディレイセル群、
前記位相検出手段及び前記フィルタ手段は、ディレイ量
制御回路を構成し、前記第1のディレイセル群の一方の
ゲートに第1の制御電圧が入力し、前記第1のディレイ
セル群の他方のゲートに前記フィルタ手段の出力が入力
して前記第1のディレイセル群のディレイ量が前記基準
クロックの周期と一致するように前記フィルタ手段の出
力が自動調整され、かつ前記フィルタ手段の出力が前記
第2のディレイセル群の一方のゲートに入力し、前記第
2のディレイセルの他方のゲートに前記第1の制御電圧
と同じ値が第2の制御電圧として入力した場合、第1の
ディレイセル数と、第2のディレイセル数との比によっ
て決まる所望の周波数を発振し、第2の制御電圧を変化
させることにより前記周波数を基準として発振周波数を
変化させることができることを第2の特徴とする。
レイセルからなる第1のディレイセル群と、複数のディ
レイセルからなる第2のディレイセル群からなり、その
ディレイ量によって発振する周波数が決まるように構成
されたリングオシレータと、前記第2のディレイセル群
からディレイセル数を選択するスイッチと、基準クロッ
クと、この基準クロックが前記第1のディレイセル群を
通った後の出力との位相を比較する位相検出手段と、前
記位相検出手段の出力のうち低周波数成分のみを取り出
すフィルタ手段とを備え、前記第1のディレイセル群、
前記位相検出手段及び前記フィルタ手段は、ディレイ量
制御回路を構成し、前記第1のディレイセル群の一方の
ゲートに第1の制御電圧が入力し、前記第1のディレイ
セル群の他方のゲートに前記フィルタ手段の出力が入力
して前記第1のディレイセル群のディレイ量が前記基準
クロックの周期と一致するように前記フィルタ手段の出
力が自動調整され、かつ前記フィルタ手段の出力が前記
第2のディレイセル群の一方のゲートに入力し、前記第
2のディレイセルの他方のゲートに前記第1の制御電圧
と同じ値が第2の制御電圧として入力した場合、第1の
ディレイセル数と、第2のディレイセル数との比によっ
て決まる所望の周波数を発振し、第2の制御電圧を変化
させることにより前記周波数を基準として発振周波数を
変化させることができることを第2の特徴とする。
【0012】さらに、本発明のVCO回路は、複数のデ
ィレイセルからなる第1のディレイセル群と、複数のデ
ィレイセルからなる第2のディレイセル群からなり、そ
のディレイ量によって発振する周波数が決まるように構
成されたリングオシレータと、前記第1のディレイセル
群からディレイセル数を選択する第1のスイッチと、前
記第2のディレイセル群からディレイセル数を選択する
第2のスイッチと、基準クロックと、この基準クロック
が前記第1のディレイセル群を通った後の出力との位相
を比較する位相検出手段と、前記位相検出手段の出力の
うち低周波数成分のみを取り出すフィルタ手段とを備
え、前記第1のディレイセル群、前記位相検出手段及び
前記フィルタ手段は、ディレイ量制御回路を構成し、前
記第1のディレイセル群の一方のゲートに第1の制、御
電圧が入力し、前記第1のディレイセル群の他方のゲー
トに前記フィルタ手段の出力が入力して前記第1のディ
レイセル群のディレイ量が前記基準クロックの周期と一
致するように前記フィルタ手段の出力が自動調整され、
かつ前記フィルタ手段の出力が前記第2のディレイセル
群の一方のゲートに入力し、前記第2のディレイセルの
他方のゲートに前記第1の制御電圧と同じ値が第2の制
御電圧として入力した場合、第1のディレイセル数と、
第2のディレイセル数との比によ、って決まる所望の周
波数を発振し、第2の制御電圧を変化させることにより
前記周波数を基準として発振周波数を変化させることが
できることを第3の特徴とする。
ィレイセルからなる第1のディレイセル群と、複数のデ
ィレイセルからなる第2のディレイセル群からなり、そ
のディレイ量によって発振する周波数が決まるように構
成されたリングオシレータと、前記第1のディレイセル
群からディレイセル数を選択する第1のスイッチと、前
記第2のディレイセル群からディレイセル数を選択する
第2のスイッチと、基準クロックと、この基準クロック
が前記第1のディレイセル群を通った後の出力との位相
を比較する位相検出手段と、前記位相検出手段の出力の
うち低周波数成分のみを取り出すフィルタ手段とを備
え、前記第1のディレイセル群、前記位相検出手段及び
前記フィルタ手段は、ディレイ量制御回路を構成し、前
記第1のディレイセル群の一方のゲートに第1の制、御
電圧が入力し、前記第1のディレイセル群の他方のゲー
トに前記フィルタ手段の出力が入力して前記第1のディ
レイセル群のディレイ量が前記基準クロックの周期と一
致するように前記フィルタ手段の出力が自動調整され、
かつ前記フィルタ手段の出力が前記第2のディレイセル
群の一方のゲートに入力し、前記第2のディレイセルの
他方のゲートに前記第1の制御電圧と同じ値が第2の制
御電圧として入力した場合、第1のディレイセル数と、
第2のディレイセル数との比によ、って決まる所望の周
波数を発振し、第2の制御電圧を変化させることにより
前記周波数を基準として発振周波数を変化させることが
できることを第3の特徴とする。
【0013】本発明のディスク再生装置は、ディスクに
記録されたデータを光学的に読み出し、電気信号に変換
する光電変換手段と、前記光電変換手段から供給される
電気信号を増幅する増幅器と、前記増幅器から供給され
る電気信号から2値化された信号を生成するデータスラ
イス回路と、前記データスライス回路から供給される2
値化された信号に基づき、データの再生速度の変化に応
じたクロック信号を生成するPLL回路と、前記クロッ
ク信号に応じて、前記データスライス回路から供給され
る前記2値化された信号を復調し、データを再生するデ
ータ処理回路とを備え、前記PLL回路は、位相比較回
路と低域フィルタと本発明の電圧制御発信回路とを具備
していることを特徴とする。本発明は、以上の構成によ
り、ディレイセル数比を2種類以上設定出来るため、1
つの基準クロックを用いて、すべての再生速度に対応出
来るようになった。これにより、分周比が1/2n でな
い場合でもX’talなどの基準クロックを増やすこと
なく実現できるため、コストダウンにつながると考えら
れる。また、発振回路部が削減できるため消費電力の低
下が期待できる。
記録されたデータを光学的に読み出し、電気信号に変換
する光電変換手段と、前記光電変換手段から供給される
電気信号を増幅する増幅器と、前記増幅器から供給され
る電気信号から2値化された信号を生成するデータスラ
イス回路と、前記データスライス回路から供給される2
値化された信号に基づき、データの再生速度の変化に応
じたクロック信号を生成するPLL回路と、前記クロッ
ク信号に応じて、前記データスライス回路から供給され
る前記2値化された信号を復調し、データを再生するデ
ータ処理回路とを備え、前記PLL回路は、位相比較回
路と低域フィルタと本発明の電圧制御発信回路とを具備
していることを特徴とする。本発明は、以上の構成によ
り、ディレイセル数比を2種類以上設定出来るため、1
つの基準クロックを用いて、すべての再生速度に対応出
来るようになった。これにより、分周比が1/2n でな
い場合でもX’talなどの基準クロックを増やすこと
なく実現できるため、コストダウンにつながると考えら
れる。また、発振回路部が削減できるため消費電力の低
下が期待できる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して発明の実施
の形態を説明する。本発明は、第1のディレイセル群を
有するリファレンスブロックと第2のディレイセル群を
有する発振ブロックとを有し、この第2のディレイセル
群のディレイ量によって発振する周波数が決まるように
第2のディレイセル群により構成されたリングオシレー
タに、これらディレイセル群の少なくとも1つのディレ
イセルをディレイセル群から切り離すスイッチを具備し
たVCO回路及びこのVCO回路を用いたディスク再生
装置にある。VCO回路は、図7に示すディスク再生装
置に適用される。
の形態を説明する。本発明は、第1のディレイセル群を
有するリファレンスブロックと第2のディレイセル群を
有する発振ブロックとを有し、この第2のディレイセル
群のディレイ量によって発振する周波数が決まるように
第2のディレイセル群により構成されたリングオシレー
タに、これらディレイセル群の少なくとも1つのディレ
イセルをディレイセル群から切り離すスイッチを具備し
たVCO回路及びこのVCO回路を用いたディスク再生
装置にある。VCO回路は、図7に示すディスク再生装
置に適用される。
【0015】まず、図1を参照して第1の実施例を説明
する。前述した図4には、従来のVCO回路で使用され
るディレイセルの内容が記載されているが、本発明でも
このディレイセルを用いる。VCO回路を構成するリン
グオシレータは、このディレイセル5が複数直列に接続
されている。このリングオシレータでは、PチャネルM
OSトランジスタのゲート電圧は、基準電圧に固定され
ている。そして、NチャネルMOSトランジスタのゲー
ト電圧を変化させることにより一対のトランジスタ1の
等価的なオン抵抗値を変化させる。オン抵抗値の変化に
よりリングオシレータのディレイ量を変化させ、この変
化によって発振周波数が変化する。
する。前述した図4には、従来のVCO回路で使用され
るディレイセルの内容が記載されているが、本発明でも
このディレイセルを用いる。VCO回路を構成するリン
グオシレータは、このディレイセル5が複数直列に接続
されている。このリングオシレータでは、PチャネルM
OSトランジスタのゲート電圧は、基準電圧に固定され
ている。そして、NチャネルMOSトランジスタのゲー
ト電圧を変化させることにより一対のトランジスタ1の
等価的なオン抵抗値を変化させる。オン抵抗値の変化に
よりリングオシレータのディレイ量を変化させ、この変
化によって発振周波数が変化する。
【0016】図1は、CMOS構造の半導体集積回路
(LSI)内部で一般的に良く使われるディレイライン
によるリングオシレータタイプのVCO回路の回路ブロ
ック図である。リングオシレータは、発振ブロック(第
2のディレイセル群)Bからなり、リファレンスブロッ
クAは、n個のディレイセル5から構成され、発振ブロ
ックBは、例えば、4個のディレイセル5から構成され
ている。リファレンスブロックAのディレイセル5のP
チャネルMOSトランジスタ(P−ch)のゲート電圧
は、例えば、第1の制御電圧DCVに固定されており、
NチャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲートに
は入力信号CVが印加される。リファレンスブロックA
には基準クロックが入力され、出力信号fout が出力さ
れる。基準クロックの出力は、位相比較器3にも入力さ
れる。位相比較器3は、基準クロックと、この基準クロ
ックがリファレンスブロックAを通った後の出力fout
との位相を比較し、その比較結果をローパスフィルタ
(LPF)4に供給する。ローパスフィルタ4は、位相
比較器3による位相検出結果の出力の低周波数成分のみ
を取り出すことができる。ローパスフィルタ4から取り
出された出力は、先に示した入力信号CVとしてリファ
レンスブロックAのNチャネルMOSトランジスタ(N
−ch)のゲートに印加される。
(LSI)内部で一般的に良く使われるディレイライン
によるリングオシレータタイプのVCO回路の回路ブロ
ック図である。リングオシレータは、発振ブロック(第
2のディレイセル群)Bからなり、リファレンスブロッ
クAは、n個のディレイセル5から構成され、発振ブロ
ックBは、例えば、4個のディレイセル5から構成され
ている。リファレンスブロックAのディレイセル5のP
チャネルMOSトランジスタ(P−ch)のゲート電圧
は、例えば、第1の制御電圧DCVに固定されており、
NチャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲートに
は入力信号CVが印加される。リファレンスブロックA
には基準クロックが入力され、出力信号fout が出力さ
れる。基準クロックの出力は、位相比較器3にも入力さ
れる。位相比較器3は、基準クロックと、この基準クロ
ックがリファレンスブロックAを通った後の出力fout
との位相を比較し、その比較結果をローパスフィルタ
(LPF)4に供給する。ローパスフィルタ4は、位相
比較器3による位相検出結果の出力の低周波数成分のみ
を取り出すことができる。ローパスフィルタ4から取り
出された出力は、先に示した入力信号CVとしてリファ
レンスブロックAのNチャネルMOSトランジスタ(N
−ch)のゲートに印加される。
【0017】入力信号(電圧)CVは、発振ブロックB
のディレイセル5のNチャネルMOSトランジスタ(N
−ch)のゲートにも印加される。発振ブロックBのデ
ィレイセル5のPチャネルMOSトランジスタ(P−c
h)のゲートには第2の制御電圧Vinが印加される。発
振ブロックBの出力側にはインバータ8が接続され、イ
ンバータ8の出力側は、分周器6に接続されている。発
振ブロックBの出力、すなわちVCO回路の出力VCO
out は、分周器6を通して出力される。また、インバー
タ8の出力は、発振ブロックBの入力側に接続されてい
る。基準クロックと、基準クロックがリファレンスブロ
ックを通過した後の信号fout とを位相比較し、高域周
波数成分をカットした信号(電圧)CVをリファレンス
ブロックAのNチャネルMOSトランジスタ(N−c
h)のゲート電圧に入力し、PチャネルMOSトランジ
スタ(P−ch)のゲート電圧に第1の制御電圧DCV
を入力すると、リファレンスブロックのディレイ量と基
準クロックの位相が一致するようにCVが制御される
(位相ロック状態)。
のディレイセル5のNチャネルMOSトランジスタ(N
−ch)のゲートにも印加される。発振ブロックBのデ
ィレイセル5のPチャネルMOSトランジスタ(P−c
h)のゲートには第2の制御電圧Vinが印加される。発
振ブロックBの出力側にはインバータ8が接続され、イ
ンバータ8の出力側は、分周器6に接続されている。発
振ブロックBの出力、すなわちVCO回路の出力VCO
out は、分周器6を通して出力される。また、インバー
タ8の出力は、発振ブロックBの入力側に接続されてい
る。基準クロックと、基準クロックがリファレンスブロ
ックを通過した後の信号fout とを位相比較し、高域周
波数成分をカットした信号(電圧)CVをリファレンス
ブロックAのNチャネルMOSトランジスタ(N−c
h)のゲート電圧に入力し、PチャネルMOSトランジ
スタ(P−ch)のゲート電圧に第1の制御電圧DCV
を入力すると、リファレンスブロックのディレイ量と基
準クロックの位相が一致するようにCVが制御される
(位相ロック状態)。
【0018】位相ロック状態の信号CVを、発振ブロッ
クBのNチャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲ
ート電圧として入力し、PチャネルMOSトランジスタ
(P−ch)のゲート電圧(第2の制御電圧)Vinに第
1の制御電圧DCVと同じ値を入力したとき、フリーラ
ン周波数ffr=[(リファレンスブロック中のディレイ
セル数)/(発振ブロック中のディレイセル数)]×
(基準クロック)で発振する。このVCO回路の発振周
波数ffrと第2の制御電圧Vinの入力電圧の特性を図6
に示す。この実施例では、図1に示したように、発振ブ
ロックBにディレイセル数を選択出来るスイッチ7を設
ける。スイッチ7は、インバータ8と出力側のディレイ
セル51との間に設けられている。スイッチ7は、ディ
レイセル51とその隣のディレイセル52との間にも接
続されており、このような構成によってディレイセル5
1は、発振ブロックBの第2のディレイセル群から機能
的に分離され得るようになる。
クBのNチャネルMOSトランジスタ(N−ch)のゲ
ート電圧として入力し、PチャネルMOSトランジスタ
(P−ch)のゲート電圧(第2の制御電圧)Vinに第
1の制御電圧DCVと同じ値を入力したとき、フリーラ
ン周波数ffr=[(リファレンスブロック中のディレイ
セル数)/(発振ブロック中のディレイセル数)]×
(基準クロック)で発振する。このVCO回路の発振周
波数ffrと第2の制御電圧Vinの入力電圧の特性を図6
に示す。この実施例では、図1に示したように、発振ブ
ロックBにディレイセル数を選択出来るスイッチ7を設
ける。スイッチ7は、インバータ8と出力側のディレイ
セル51との間に設けられている。スイッチ7は、ディ
レイセル51とその隣のディレイセル52との間にも接
続されており、このような構成によってディレイセル5
1は、発振ブロックBの第2のディレイセル群から機能
的に分離され得るようになる。
【0019】したがって、例えば、リファレンスブロッ
クの第1のディレイセル群のディレイセル数が16個
(n=16)、発振ブロックの第2のディレイセル群の
ディレイセル数を4個と3個にスイッチ7で切り替える
ようにした場合において、フリーラン周波数ffr=(1
6/4)×(基準クロック)もしくはフリーラン周波数
ffr=(16/3)×(基準クロック)のいずれかを選
択出来る。つまり、VCO回路の出力VCOout =(基
準クロック)×(1/2n-2 )もしくはVCOout =
(基準クロック)×(1/(3×2n-4 ))を選択出
来、分周比が1/2n以外のフリーラン周波数であって
も1つの基準クロックを用いて作成できるようになる。
クの第1のディレイセル群のディレイセル数が16個
(n=16)、発振ブロックの第2のディレイセル群の
ディレイセル数を4個と3個にスイッチ7で切り替える
ようにした場合において、フリーラン周波数ffr=(1
6/4)×(基準クロック)もしくはフリーラン周波数
ffr=(16/3)×(基準クロック)のいずれかを選
択出来る。つまり、VCO回路の出力VCOout =(基
準クロック)×(1/2n-2 )もしくはVCOout =
(基準クロック)×(1/(3×2n-4 ))を選択出
来、分周比が1/2n以外のフリーラン周波数であって
も1つの基準クロックを用いて作成できるようになる。
【0020】次に、図2を参照して第2の実施例を説明
する。図2は、CMOS構造の半導体集積回路(LS
I)内部で一般的に良く使われるディレイラインによる
リングオシレータタイプのVCO回路の回路ブロック図
である。この実施例の基本的には、図1に示すVCO回
路と同じ構造を有するので、その基本構造及び基本動作
(スイッチとは関係の無い部分)の説明は省略する。こ
の実施例では、発振ブロックBにディレイセル数を選択
出来るスイッチ7とともにリファレンスブロックAにも
ディレイセル数を選択できるスイッチ7′を設ける。ス
イッチ7は、インバータ8と出力側のディレイセル51
との間に設けられている。スイッチ7は、ディレイセル
51とその隣のディレイセル52との間にも接続されて
おり、このような構成によってディレイセル51は、発
振ブロックBの第2のディレイセル群から機能的に分離
され得るようになる。一方、スイッチ7′は、少なくと
も1つのディレイセル5をリファレンスブロックAの第
1のディレイセル群から分離させ得るようになってい
る。スイッチ7′は、リファレンスブロックAの出力側
のディレイセル53、54、55、56のそれぞれに接
続されており、ディレイセル53、ディレイセル53及
び54、ディレイセル53〜55、ディレイセル53〜
56がそれぞれ第1のディレイセル群から分離され得る
ようになっている。
する。図2は、CMOS構造の半導体集積回路(LS
I)内部で一般的に良く使われるディレイラインによる
リングオシレータタイプのVCO回路の回路ブロック図
である。この実施例の基本的には、図1に示すVCO回
路と同じ構造を有するので、その基本構造及び基本動作
(スイッチとは関係の無い部分)の説明は省略する。こ
の実施例では、発振ブロックBにディレイセル数を選択
出来るスイッチ7とともにリファレンスブロックAにも
ディレイセル数を選択できるスイッチ7′を設ける。ス
イッチ7は、インバータ8と出力側のディレイセル51
との間に設けられている。スイッチ7は、ディレイセル
51とその隣のディレイセル52との間にも接続されて
おり、このような構成によってディレイセル51は、発
振ブロックBの第2のディレイセル群から機能的に分離
され得るようになる。一方、スイッチ7′は、少なくと
も1つのディレイセル5をリファレンスブロックAの第
1のディレイセル群から分離させ得るようになってい
る。スイッチ7′は、リファレンスブロックAの出力側
のディレイセル53、54、55、56のそれぞれに接
続されており、ディレイセル53、ディレイセル53及
び54、ディレイセル53〜55、ディレイセル53〜
56がそれぞれ第1のディレイセル群から分離され得る
ようになっている。
【0021】以上のように、この実施例では、第1の実
施例にさらにリファレンスブロック中のディレイ数を選
択出来るスイッチを設けた構造になっている。例えば、
リファレンスブロックAのディレイセル数を16、1
5、14、13個と切り替えられるスイッチ7′と、発
振ブロックBのディレイセル数を4個と3個に切り替え
るスイッチ7とを用いた場合、フリーラン周波数ffr
は、基準クロックの16/4、16/3、15/4、1
5/3、14/4、14/3、13/4、13/3倍を
選択することが出来る。このようにリファレンスブロッ
クと発振ブロックのディレイセル数及びスイッチを様々
に設定することにより、1つの基準クロックを用いて、
より多くのフリーラン周波数を作成できるようになる。
施例にさらにリファレンスブロック中のディレイ数を選
択出来るスイッチを設けた構造になっている。例えば、
リファレンスブロックAのディレイセル数を16、1
5、14、13個と切り替えられるスイッチ7′と、発
振ブロックBのディレイセル数を4個と3個に切り替え
るスイッチ7とを用いた場合、フリーラン周波数ffr
は、基準クロックの16/4、16/3、15/4、1
5/3、14/4、14/3、13/4、13/3倍を
選択することが出来る。このようにリファレンスブロッ
クと発振ブロックのディレイセル数及びスイッチを様々
に設定することにより、1つの基準クロックを用いて、
より多くのフリーラン周波数を作成できるようになる。
【0022】次に、図3を参照して第3の実施例を説明
する。図は、CMOS構造の半導体集積回路(LSI)
内部で一般的に良く使われるディレイラインによるリン
グオシレータタイプのVCO回路の回路ブロック図であ
る。この実施例は、基本的には図1に示すVCO回路と
同じ構造を有するので、その基本構造及動作(スイッチ
とは関係の無い部分)説明は省略する。この実施例で
は、リファレンスブロックAにディレイセル数を選択出
来るスイッチ7′を設けると共に発振ブロックBにディ
レイセル数を選択できるスイッチ7″を設ける。スイッ
チ7″は、インバータ8と出力側のディレイセル51と
の間に設けられている。スイッチ7は、ディレイセル5
1とその隣のディレイセル52との間、ディレイセル5
2とディレイセル57との間、ディレイセル57とディ
レイセル58との間にも接続されており、このような構
成によってディレイセル51、ディレイセル51及び5
2、ディレイセル51、52、57は、それぞれ発振ブ
ロックBの第2のディレイセル群から機能的に任意に分
離され得るようになる。
する。図は、CMOS構造の半導体集積回路(LSI)
内部で一般的に良く使われるディレイラインによるリン
グオシレータタイプのVCO回路の回路ブロック図であ
る。この実施例は、基本的には図1に示すVCO回路と
同じ構造を有するので、その基本構造及動作(スイッチ
とは関係の無い部分)説明は省略する。この実施例で
は、リファレンスブロックAにディレイセル数を選択出
来るスイッチ7′を設けると共に発振ブロックBにディ
レイセル数を選択できるスイッチ7″を設ける。スイッ
チ7″は、インバータ8と出力側のディレイセル51と
の間に設けられている。スイッチ7は、ディレイセル5
1とその隣のディレイセル52との間、ディレイセル5
2とディレイセル57との間、ディレイセル57とディ
レイセル58との間にも接続されており、このような構
成によってディレイセル51、ディレイセル51及び5
2、ディレイセル51、52、57は、それぞれ発振ブ
ロックBの第2のディレイセル群から機能的に任意に分
離され得るようになる。
【0023】一方、スイッチ7′は、少なくとも1つの
ディレイセル5をリファレンスブロックAの第1のディ
レイセル群から分離させ得るようになっている。スイッ
チ7′は、リファレンスブロックAの出力側のディレイ
セル53、54、55、56のそれぞれに接続されてお
り、ディレイセル53、ディレイセル53及び54、デ
ィレイセル53〜55、ディレイセル53〜56がそれ
ぞれ第1のディレイセル群から分離され得るようになっ
ている。以上のように、この実施例では、第1の実施例
にさらにリファレンスブロック中のディレイ数を選択出
来るスイッチを設けた構造になっている。このようにリ
ファレンスブロックと発振ブロックのディレイセル数及
びスイッチを様々に設定することにより、1つの基準ク
ロックを用いて、より多くのフリーラン周波数を作成で
きるようになる。
ディレイセル5をリファレンスブロックAの第1のディ
レイセル群から分離させ得るようになっている。スイッ
チ7′は、リファレンスブロックAの出力側のディレイ
セル53、54、55、56のそれぞれに接続されてお
り、ディレイセル53、ディレイセル53及び54、デ
ィレイセル53〜55、ディレイセル53〜56がそれ
ぞれ第1のディレイセル群から分離され得るようになっ
ている。以上のように、この実施例では、第1の実施例
にさらにリファレンスブロック中のディレイ数を選択出
来るスイッチを設けた構造になっている。このようにリ
ファレンスブロックと発振ブロックのディレイセル数及
びスイッチを様々に設定することにより、1つの基準ク
ロックを用いて、より多くのフリーラン周波数を作成で
きるようになる。
【0024】
【発明の効果】従来のVCO回路では、リファレンスブ
ロックと発振ブロックのディレイセル数が1種類である
ので1つの基準クロックでは分周比が1/2n の周波数
にしか対応できず、分周比が1/2n 以外の周波数を得
たい場合、2つ以上の基準クロックを用いなければなら
なかった。しかし、本発明により1つの基準クロックを
用いて、任意の発振周波数信号が得られるのでX’ta
l(水晶)などの高価な基準クロック発生器を削減でき
るため大きなコストダウンにつながる。また、発振回路
部が削減出来るため、消費電力の低下も期待出来る。
ロックと発振ブロックのディレイセル数が1種類である
ので1つの基準クロックでは分周比が1/2n の周波数
にしか対応できず、分周比が1/2n 以外の周波数を得
たい場合、2つ以上の基準クロックを用いなければなら
なかった。しかし、本発明により1つの基準クロックを
用いて、任意の発振周波数信号が得られるのでX’ta
l(水晶)などの高価な基準クロック発生器を削減でき
るため大きなコストダウンにつながる。また、発振回路
部が削減出来るため、消費電力の低下も期待出来る。
【図1】本発明のVCO回路のブロック図。
【図2】本発明のVCO回路のブロック図。
【図3】本発明のVCO回路のブロック図。
【図4】本発明及び従来例に用いられるVCO回路を構
成するディレイセルのブロック図、回路図及び等価回路
図。
成するディレイセルのブロック図、回路図及び等価回路
図。
【図5】従来のVCO回路のブロック図。
【図6】VCO回路の発振周波数−入力電圧特性図。
【図7】本発明及び従来例のディスク再生装置のブロッ
ク図。
ク図。
1・・・1対のMOSトランジスタ 2、8・・・イ
ンバータ、3・・・位相比較器、 4・・・ローパス
フィルタ(LPF)、5、51、52、53、54、5
5、56、57、58・・・ディレイセル、6・・・分
周器、 7、7′、7″・・・スイッチ、9・・・ピ
ックアップ、 10・・・アンプ、11・・・データ
処理回路、 15・・・ディスク、16・・・モー
タ、 17・・・データスライス回路・18・・・P
LL回路、 19・・・モータ制御回路、20・・・
システムコントローラ。
ンバータ、3・・・位相比較器、 4・・・ローパス
フィルタ(LPF)、5、51、52、53、54、5
5、56、57、58・・・ディレイセル、6・・・分
周器、 7、7′、7″・・・スイッチ、9・・・ピ
ックアップ、 10・・・アンプ、11・・・データ
処理回路、 15・・・ディスク、16・・・モー
タ、 17・・・データスライス回路・18・・・P
LL回路、 19・・・モータ制御回路、20・・・
システムコントローラ。
Claims (5)
- 【請求項1】 複数のディレイセルからなる第1のディ
レイセル群と、 複数のディレイセルからなる第2のディレイセル群から
なり、そのディレイ量によって発振する周波数が決まる
ように構成されたリングオシレータと、 前記第1のディレイセル群からディレイセル数を選択す
るスイッチと、 基準クロックと、この基準クロックが前記第1のディレ
イセル群を通った後の出力との位相を比較する位相検出
手段と、 前記位相検出手段の出力のうち低周波数成分のみを取り
出すフィルタ手段とを備え、 前記第1のディレイセル群、前記位相検出手段及び前記
フィルタ手段は、ディレイ量制御回路を構成し、前記第
1のディレイセル群の一方のゲートに第1の制御電圧が
入力し、前記第1のディレイセル群の他方のゲートに前
記フィルタ手段の出力が入力して前記第1のディレイセ
ル群のディレイ量が前記基準クロックの周期と一致する
ように前記フィルタ手段の出力が自動調整され、かつ前
記フィルタ手段の出力が前記第2のディレイセル群の一
方のゲートに入力し、前記第2のディレイセルの他方の
ゲートに前記第1の制御電圧と同じ値が第2の制御電圧
として入力した場合、第1のディレイセル数と、第2の
ディレイセル数との比によって決まる所望の周波数を発
振し、第2の制御電圧を変化させることにより前記周波
数を基準として発振周波数を変化させることができるこ
とを特徴とする電圧制御発振回路。 - 【請求項2】 複数のディレイセルからなる第1のディ
レイセル群と、 複数のディレイセルからなる第2のディレイセル群から
なり、そのディレイ量によって発振する周波数が決まる
ように構成されたリングオシレータと、 前記第2のディレイセル群からディレイセル数を選択す
るスイッチと、 基準クロックと、この基準クロックが前記第1のディレ
イセル群を通った後の出力との位相を比較する位相検出
手段と、 前記位相検出手段の出力のうち低周波数成分のみを取り
出すフィルタ手段とを備え、 前記第1のディレイセル群、前記位相検出手段及び前記
フィルタ手段は、ディレイ量制御回路を構成し、前記第
1のディレイセル群の一方のゲートに第1の制御電圧が
入力し、前記第1のディレイセル群の他方のゲートに前
記フィルタ手段の出力が入力して前記第1のディレイセ
ル群のディレイ量が前記基準クロックの周期と一致する
ように前記フィルタ手段の出力が自動調整され、かつ前
記フィルタ手段の出力が前記第2のディレイセル群の一
方のゲートに入力し、前記第2のディレイセルの他方の
ゲートに前記第1の制御電圧と同じ値が第2の制御電圧
として入力した場合、第1のディレイセル数と、第2の
ディレイセル数との比によって決まる所望の周波数を発
振し、第2の制御電圧を変化させることにより前記周波
数を基準として発振周波数を変化させることができるこ
とを特徴とする電圧制御発振回路。 - 【請求項3】 複数のディレイセルからなる第1のディ
レイセル群と、 複数のディレイセルからなる第2のディレイセル群から
なり、そのディレイ量によって発振する周波数が決まる
ように構成されたリングオシレータと、 前記第1のディレイセル群からディレイセル数を選択す
る第1のスイッチと、 前記第2のディレイセル群からディレイセル数を選択す
る第2のスイッチと、 基準クロックと、この基準クロックが前記第1のディレ
イセル群を通った後の出力との位相を比較する位相検出
手段と、 前記位相検出手段の出力のうち低周波数成分のみを取り
出すフィルタ手段とを備え、 前記第1のディレイセル群、前記位相検出手段及び前記
フィルタ手段は、ディレイ量制御回路を構成し、前記第
1のディレイセル群の一方のゲートに第1の制御電圧が
入力し、前記第1のディレイセル群の他方のゲートに前
記フィルタ手段の出力が入力して前記第1のディレイセ
ル群のディレイ量が前記基準クロックの周期と一致する
ように前記フィルタ手段の出力が自動調整され、かつ前
記フィルタ手段の出力が前記第2のディレイセル群の一
方のゲートに入力し、前記第2のディレイセルの他方の
ゲートに前記第1の制御電圧と同じ値が第2の制御電圧
として入力した場合、第1のディレイセル数と、第2の
ディレイセル数との比によって決まる所望の周波数を発
振し、第2の制御電圧を変化させることにより前記周波
数を基準として発振周波数を変化させることができるこ
とを特徴とする電圧制御発振回路。 - 【請求項4】 前記第1及び第2のディレイセル群を構
成するディレイセルは、PチャネルMOSトランジスタ
とNチャネルMOSトランジスタのソース/ドレイン間
を電気的に接続し、かつ1対のゲートを有するトランジ
スタ対及びインバータからなることを特徴とする請求項
1乃至請求項3のいずれかに記載の電圧制御発振回路。 - 【請求項5】 ディスクに記録されたデータを光学的に
読み出し、電気信号に変換する光電変換手段と、 前記光電変換手段から供給される電気信号を増幅する増
幅器と、 前記増幅器から供給される電気信号から2値化された信
号を生成するデータスライス回路と、 前記データスライス回路から供給される2値化された信
号に基づき、データの再生速度の変化に応じたクロック
信号を生成するPLL回路と、 前記クロック信号に応じて、前記データスライス回路か
ら供給される前記2値化された信号を復調し、データを
再生するデータ処理回路とを備え、 前記PLL回路は、位相比較回路と低域フィルタと請求
項1乃至請求項4のいずれかに記載の電圧制御発振回路
とを具備していることを特徴とするディスク再生装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9185733A JPH1116293A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 電圧制御発振回路及びディスク再生装置 |
TW087110261A TW402806B (en) | 1997-06-26 | 1998-06-25 | Voltage control oscillator circuit and disk regeneration apparature |
US09/104,995 US6064271A (en) | 1997-06-26 | 1998-06-26 | Voltage controlled oscillator circuit and disc reproducing apparatus |
KR1019980024363A KR100276198B1 (ko) | 1997-06-26 | 1998-06-26 | 전압 제어 발진 회로 및 디스크 재생 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9185733A JPH1116293A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 電圧制御発振回路及びディスク再生装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1116293A true JPH1116293A (ja) | 1999-01-22 |
Family
ID=16175916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9185733A Pending JPH1116293A (ja) | 1997-06-26 | 1997-06-26 | 電圧制御発振回路及びディスク再生装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6064271A (ja) |
JP (1) | JPH1116293A (ja) |
KR (1) | KR100276198B1 (ja) |
TW (1) | TW402806B (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000357951A (ja) * | 1999-06-15 | 2000-12-26 | Mitsubishi Electric Corp | 遅延回路、クロック生成回路及び位相同期回路 |
FR2816135B1 (fr) * | 2000-10-30 | 2003-01-03 | St Microelectronics Sa | Generateur digital de taille reduite produisant des signaux d'horloge |
JP3094707U (ja) * | 2002-12-17 | 2003-07-04 | アルプス電気株式会社 | 信号発生装置 |
KR100862230B1 (ko) | 2006-12-29 | 2008-10-09 | 한국과학기술원 | 멀티-모듈러스 주파수 분주기 |
CN104320136B (zh) * | 2014-11-04 | 2019-01-18 | 中国科学院微电子研究所 | 一种利用全数字标准单元实现的时钟信号生成器 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0390226A1 (en) * | 1984-07-31 | 1990-10-03 | Yamaha Corporation | Jitter absorption circuit |
JPS6369314A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-29 | Sony Corp | Cmos回路を用いた可変遅延装置 |
DE69130043T2 (de) * | 1990-09-18 | 1999-04-15 | Fujitsu Ltd., Kawasaki, Kanagawa | Elektronische Anordnung mit einem Bezugsverzögerungsgenerator |
US5585754A (en) * | 1993-04-02 | 1996-12-17 | Nec Corporation | Integrated digital circuit |
JP2885650B2 (ja) * | 1993-11-11 | 1999-04-26 | 株式会社東芝 | ディスク再生装置 |
US5487093A (en) * | 1994-05-26 | 1996-01-23 | Texas Instruments Incorporated | Autoranging digital analog phase locked loop |
US5663665A (en) * | 1995-11-29 | 1997-09-02 | Cypress Semiconductor Corp. | Means for control limits for delay locked loop |
-
1997
- 1997-06-26 JP JP9185733A patent/JPH1116293A/ja active Pending
-
1998
- 1998-06-25 TW TW087110261A patent/TW402806B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-06-26 KR KR1019980024363A patent/KR100276198B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-06-26 US US09/104,995 patent/US6064271A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6064271A (en) | 2000-05-16 |
KR100276198B1 (ko) | 2000-12-15 |
KR19990007377A (ko) | 1999-01-25 |
TW402806B (en) | 2000-08-21 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040623 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040823 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041118 |