JPH1099795A - 不良検出装置及び不良物除去装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 正常な検査対象物よりも透過率が大きい異物
や不良物を適切に検出して、それらの異物等を正常な検
査対象物から確実に分離して除去させる。 【解決手段】 粒状体群を検査対象物として、その検査
対象物の予定存在箇所を照明して透過した透過光が受光
され、その受光量が粒状体に対する適正光量範囲ΔＥｔ
の上限値ＵＬと下限値ＬＬとの間にある場合に正常な粒
状体の存在ｅ０を判定し，適正光量範囲ΔＥｔの上限値
ＵＬと、照明光を直接受光したときの受光量Ｅｓとの間
に明側の判定レベルＵＬ１を設定して、受光量が適正光
量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬと明側の判定レベルＵＬ１と
の間にある場合に、正常な粒状体よりも透過率が大きい
不良の粒状体又は異物の存在ｅ４を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粒状体群を検査対
象物として、その検査対象物の予定存在箇所を照明する
照明手段と、その照明手段からの照明光が前記予定存在
箇所を透過した透過光を受光する受光手段と、その受光
手段の受光情報に基づいて、粒状体群における各粒状体
の良否又は粒状体群内に混入した異物の存否を判別する
判別手段とが設けられた不良検出装置、及び、その不良
検出装置にて検出された不良の粒状体又は異物を除去す
る不良物除去装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記不良検出装置では、図８及び図９に
示すように、例えば米粒ｋからなる粒状体群が所定経路
に沿って移送されて予定存在箇所つまり検査位置に来る
と、経路横方向から照明手段である光源Ｌｇにて照明さ
れ、その光源Ｌｇからの照明光が米粒群を透過した透過
光をフォトセンサ等の受光手段Ｐｓで受光し、その受光
レベルが予め設定した下限値ｅｋ以上の適正範囲Δｅ内
であれば正常な米粒ｋと判定する一方で、下限値ｅｋを
下回ると、着色した米粒等の不良物ｋ’や、石・プラス
チック等の異物が混入していると判定していた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】つまり、上記従来技術
では、米粒等の検査対象物が存在しない場合には、受光
手段Ｐｓは光源Ｌｇからの照明光を検査対象物を通過せ
ずに受光して、その受光レベルが高い値になるので、正
常な検査対象物に対する設定適正範囲Δｅの上限値を想
定することはできるが、実際にその上限値を設定する
と、検査対象物が存在しない状態で照明光を受光した場
合に、正常な検査対象物よりも透過率が大きい異物等が
存在すると誤って判定し、その結果、正常な検査対象物
よりも透過率が大きい異物等の存在を適切に検出できな
いという不都合があった。具体例としては、「うるち
米」を正常な検査対象物としたときに、「ガラス」が
「うるち米」よりも透過率が大きい異物に相当し、又、
「もち米」を正常な検査対象物としたときに、「うるち
米」や「ガラス」が「もち米」よりも透過率が大きい異
物に相当する。

【０００４】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消す
べく、正常な検査対象物よりも透過率が大きい異物や不
良物の存否を適切に判別でき、さらに、その検出結果に
基づいて、検査対象物中に混入した不良物や異物を正常
な検査対象物から確実に分離して除去できるようにする
ことである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１によれば、検査
対象物としての粒状体群の予定存在箇所が照明手段にて
照明され、その照明光が上記予定存在箇所を透過した透
過光が受光手段によって受光され、その受光手段の受光
量が粒状体に対する適正光量範囲の上限値と下限値との
間にある場合に正常な粒状体の存在が判定され、その受
光手段の受光量が、適正光量範囲の上限値と照明光を検
査対象物を通過せずに受光したときの受光量との間に設
定した明側の判定レベルと、適正光量範囲の上限値との
間にある場合に、正常な粒状体よりも透過率が大きい不
良の粒状体又は異物の存在が判定される。

【０００６】従って、正常な粒状体に対する適正光量範
囲の上限値よりも明るい側に判定レベルを設け、この明
側の判定レベルと上記適正光量範囲の上限値とに対する
受光量の情報を用いることによって、正常な粒状体より
も透過率が大きい不良の粒状体等の混入を適切に検出す
ることができる不良検出装置が得られる。

【０００７】請求項２によれば、請求項１において、受
光手段の受光量が適正光量範囲の下限値よりも小さい場
合に、正常な粒状体よりも透過率が小さい不良の粒状体
又は異物の存在が判定される。

【０００８】従って、正常な粒状体よりも透過率が大き
い不良物が検出できることに加えて、例えば、米粒群の
場合の着色米、及び石やプラスチック等のように光を透
過させない物について、正常な粒状体よりも透過率が小
さいことで検出できるので、正常な粒状体に対する適正
光量範囲から外れる各種の不良物の混入を検出すること
ができ、もって、請求項１に係る不良検出装置の好適な
手段が得られる。

【０００９】請求項３によれば、請求項１又は２におい
て、検査対象物の予定存在箇所を透過した透過光が、各
別に受光情報が取出し可能であってその予定存在箇所の
全体に亘って備えられた複数個の受光部にて受光され、
その各受光部において、受光量が前記明側の判定レベル
よりも小で且つ適正光量範囲の上限値よりも大である受
光部が求められ、その求めた受光部の隣接する連続個数
が設定個数を超える箇所が、正常な粒状体よりも透過率
が大きい不良の粒状体又は異物の存在箇所と判定され
る。

【００１０】従って、複数個の受光部によって予定存在
箇所を透過した透過光を限られた範囲毎に比較的細かく
受光しながら、粒状体を透過する透過光量が、厚みが大
である中心部から厚みが小になる縁部になるほど大きく
なるような場合に、通常は、明側の判定レベルよりも小
となる受光部の数が適正光量範囲の上限値よりも大とな
る受光部の数よりも多くなって、明側の判定レベルと適
正光量範囲の上限値とで検出される受光部の数が多少異
なる結果、上記検査対象物の縁部に対応して、明側の判
定レベルよりも小で且つ適正光量範囲の上限値よりも大
である受光部が少ない個数ながら隣接して連続しても、
その連続個数は設定個数を超えることはなく、正常な粒
状体よりも透過率が大きい不良の粒状体又は異物の存在
箇所と誤って判定されることが回避でき、もって、請求
項１又は２に係る不良検出装置の好適な手段が得られ
る。

【００１１】請求項４によれば、請求項３において、受
光部の受光量が前記明側の判定レベルよりも小である２
値情報と、受光部の受光量が前記適正光量範囲の上限値
よりも大である２値情報とを演算して、前記受光量が前
記明側の判定レベルよりも小で且つ前記適正光量範囲の
上限値よりも大である受光部を求める。

【００１２】従って、このような２値情報ではなく、多
値情報を用いて、受光部の受光量が前記明側の判定レベ
ルよりも小で且つ前記適正光量範囲の上限値よりも大で
ある受光部を求めるようにすると、その判定処理される
情報量が多いために、処理時間が長くなったり、あるい
は、処理の制御構成が複雑になるという不都合を適切に
解消させることができ、もって、請求項３に係る不良検
出装置の好適な手段が得られる。

【００１３】請求項５によれば、請求項１〜４のいずれ
か１項に記載の不良検出装置が備えられ、予定移送経路
に沿って移送される検査対象物である粒状体群が受光手
段の受光位置つまり前記予定存在箇所に移送されると、
予定移送経路を挟んだ一方側からの照明光が予定存在箇
所を透過して予定移送経路を挟んだ他方側にて受光さ
れ、その受光手段の受光情報に基づいて判別された不良
の粒状体及び異物が、粒状体群のうちの正常な粒状体の
経路と異なる経路に分離して移送される。

【００１４】従って、例えば検査対象物（粒状体群）を
移送させずにその不良検出及び不良物除去を行うには、
装置側を可動できるように構成する必要があるのに比べ
て、検査対象物（粒状体群）を受光手段の受光位置つま
り不良検出位置から、異なる経路への分離位置つまり不
良物除去位置に順次移送しながら、不良物及び異物を正
常な粒状体から分離して移送させるようにすることで、
装置側を可動させないようにしながら装置各部を合理的
に配置して円滑な動作が実現できる不良物除去装置が得
られる。

【００１５】請求項６によれば、請求項５において、予
定移送経路に沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移
送されている検査対象物が、その並び方向の全幅におい
て照明されるとともに、その並び方向に沿ってその全幅
を受光範囲として受光手段によって受光され、その受光
情報に基づいて、複数列の検査対象物の並び方向の全幅
における粒状体の良否又は混入異物の存否が判別され
る。

【００１６】従って、複数列並ぶ状態ではなく、例えば
一列状態で検査対象物（粒状体群）を移送するものに比
べて、その並び方向の全幅において並列的につまり能率
良く不良を検出することができ、もって、請求項５に係
る不良物除去装置の好適な手段が得られる。

【００１７】請求項７によれば、請求項５又は６におい
て、検査対象物である粒状体群を自重にて落下させて移
送させながら、その粒状体群内の不良の粒状体又は異物
に対してエアーが吹き付けられ、その不良の粒状体又は
異物が正常な粒状体の移送経路から分離される。

【００１８】従って、正常な粒状体の移送経路から不良
の粒状体又は異物を分離させるのに、エアーの吹き付け
作用によって行うので、例えば、出退動作をする板等の
機械的な手段で直接接触して分離させるのに比べて、速
い応答速度で且つソフトタッチに損傷を与えるおそれも
なく良好に分離でき、もって、請求項５又は６に係る不
良物除去装置の好適な手段が得られる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の不良検出装置及び
不良物除去装置の実施形態を、玄米等の米粒群からなる
粒状体群を検査対象物として所定経路に沿って移送しな
がら、不良検出及び不良物除去を行う場合について図面
に基づいて説明する。

【００２０】図１及び図２に示すように、所定幅の板状
のシュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば６０
度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部側に
設けた貯溜用のホッパー７から供給される米粒群ｋが一
層状態で横方向に広がった状態で滑って移送されてい
る。シュータ１の下方には、シュータ下端から所定速度
で自然落下する米粒群ｋのうちの正常な米粒ｋを回収す
る良米回収箱２と、正常な米粒ｋの流れから分離した着
色米（焼け米）や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片
等の異物を回収する不良物回収箱３とが設置されてい
る。以上より、シュータ１が、検査対象物としての米粒
群ｋを予定移送経路（つまりシュータ上の米粒群ｋの流
れ経路及びシュータ下端から飛び出た米粒群ｋの落下経
路）に沿って一層状態で且つ複数列並ぶ状態で移送する
移送手段Ｈを構成する。

【００２１】前記ホッパー７は、シュータ１の上部側部
分を利用したシュータ面１ａと、このシュータ面１ａに
対向して反対側に傾斜した傾斜側面７ａと、ホッパー７
の全周を囲むための側壁部７ｂ及び上壁部７ｃとによっ
て、図２の紙面に垂直な方向視において下端側ほど先細
状の筒体に構成されている。傾斜側面７ａには、ホッパ
ー７内の米粒ｋをシュータ１へ排出するために、図２の
紙面に垂直な方向に沿う直線状の隙間をシュータ面１ａ
との間に形成する開閉ゲート９Ａと、その開閉ゲート９
Ａを移動させて上記隙間を変更するためのゲート駆動モ
ータ９Ｂ及びその他の機構が設けられている。尚、傾斜
側面７ａの上方の側壁部７ｂには、ホッパー７内の貯溜
量を検出するレベルセンサ１２が設置され、上壁部７ｃ
には、外部から供給される米粒の流入口７Ａが設けられ
ている。

【００２２】図２に示すように、前記予定移送経路つま
りシュータ下端からの米粒群ｋの落下経路の途中に、米
粒群ｋの予定存在箇所Ｊが設定されている。すなわち、
前記移送手段Ｈは、米粒群ｋを上記予定存在箇所Ｊつま
り後述の検査用のラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光位置に
移送するように構成されている。

【００２３】そして、上記米粒群ｋの落下経路を挟ん
で、一方側に、上記予定存在箇所Ｊに複数列状に並ぶ米
粒群ｋの並び方向の全幅を照明する蛍光灯等からなるラ
イン状光源４と、そのライン状光源４からの照明光が上
記予定存在箇所Ｊの米粒群ｋで反射した反射光を受光す
るラインセンサ５Ｂとが、一方のケース１３Ｂ内に格納
された状態で配置され、他方側に、そのライン状光源４
からの照明光が上記予定存在箇所Ｊを透過した透過光を
受光するラインセンサ５Ａと、前記ライン状光源４から
の照明光を受けて反射光用のラインセンサ５Ｂに向けて
反射させるための反射板８とが、他方のケース１３Ａ内
に格納された状態で配置されている。

【００２４】尚、各ケース１３Ａ，１３Ｂの前記予定存
在箇所Ｊに向く側は、入射光を通過させるために、透明
ガラスからなる窓部１４Ａ，１４Ｂにて構成されてい
る。上記反射板８は、米粒と同じ反射率の領域８ａを上
記ライン状光源４にて照明された米粒群ｋの全幅に対応
して長手状に形成し、且つその長手状の領域８ａの両側
に黒色の領域８ｂを形成した表面を、窓部１４Ａの背部
に押し付ける状態で固定されており、その窓部１４Ａの
固定板に兼用されている。もう一つの窓部１４Ｂは専用
の固定板１５で押し付けて固定されている。

【００２５】以上より、米粒群ｋの予定存在箇所Ｊを照
明する照明手段が、前記ライン状光源４にて構成される
とともに、複数列の米粒群ｋの並び方向の全幅を照明す
るように構成され、又、前記ライン状光源４からの照明
光が前記予定存在箇所Ｊを透過した透過光を受光する受
光手段が、透過光用のラインセンサ５Ａにて構成される
とともに、複数列の米粒群ｋの並び方向に沿ってその全
幅を受光範囲とするように構成されることになる。尚、
反射光用のラインセンサ５Ｂも、前記複数列の米粒群ｋ
の並び方向に沿ってその全幅を受光範囲としている。

【００２６】図４に示すように、上記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例え
ば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部５ａを、米粒群ｋの予定存在箇所Ｊの全体に亘って
備えるように構成されている。具体的には、複数個の受
光部５ａとしての受光素子が上記複数列の米粒群ｋの並
び方向に沿ってその全幅に亘って直線状に並置されたモ
ノクロタイプのＣＣＤセンサと、米粒群ｋの像を上記Ｃ
ＣＤセンサの各受光素子上に結像させるための光学系と
から構成されている。これにより、米粒群ｋの流れ方向
の全幅における透過及び反射画像情報が得られる。

【００２７】上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの予定移送
経路における受光位置（予定存在箇所Ｊ）から経路方向
の下手側に、不良と判定された米粒ｋや異物等に対して
エアーを吹き付けて正常な米粒ｋの流れ方向から分離さ
せて前記不良物回収箱３に回収させるためのエアー吹き
付け装置６が設けられている。このエアー吹き付け装置
６は、米粒ｋの流れ方向に対して横幅方向に所定幅毎に
分割した各米粒群ｋに対して各別に吹き付け作動する複
数個のエアーガン６ａを備えている。

【００２８】制御構成を説明すると、図３に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、前記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂからの各画像信号と、前記レベルセンサ１２の検出信
号とが入力されている。一方、制御装置１０からは、前
記エアー吹き付け装置６の各エアーガン６ａを夫々各別
に作動させるために、図示しないコンプレッサーから上
記各エアーガン６ａへの各エアー供給路のエアー流通を
オンオフする複数個の電磁弁１１に対する駆動信号と、
前記レベルセンサ１２の検出信号に基づいて、ホッパー
７内の貯溜量を設定状態に維持するための前記ゲート駆
動モータ９Ｂに対する駆動信号とが出力されている。

【００２９】前記制御装置１０を利用して、前記透過光
用のラインセンサ５Ａの受光情報に基づいて、米粒群ｋ
における各米粒の良否又は米粒群ｋ内に混入した異物の
存否を判別する判別手段１００が構成されている。具体
的には、図５の透過光用のラインセンサ５Ａの出力波形
に示すように、この判別手段１００は、透過光用のライ
ンセンサ５Ａの受光量つまり各受光部５ａの受光量に対
応する出力電圧が米粒群ｋに対する適正光量範囲ΔＥｔ
の上限値ＵＬと下限値ＬＬとの間にある場合に正常な米
粒の存在を判定するとともに、設定適正範囲ΔＥｔの下
限値ＬＬよりも小さい場合に、正常な米粒よりも透過率
が小さい不良の米粒や異物等（例えば、黒色の石粒）の
存在を判定する。

【００３０】ここで、透過光の場合は、米粒ｋや異物等
が存在しない位置に対応する受光部５ａでは、照明光源
４からの照明光を直接受光して設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬよりも大きい出力値Ｅｓになる。そこで、前記
判別手段１００は、適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬ
と、照明光源４からの照明光を米粒ｋ等を透過せずに受
光したときの受光量Ｅｓとの間に、明側の判定レベルＵ
Ｌ１を設定し、ラインセンサ５Ａの受光量が、適正光量
範囲ΔＥｔの上限値ＵＬと前記明側の判定レベルＵＬ１
との間にある場合に、正常な米粒ｋよりも透過率が大き
い不良の米粒ｋ又は前記異物の存在を判定するように構
成されている。この正常な米粒ｋよりも透過率が大きい
不良の米粒ｋ又は異物の例としては、正常な米粒ｋを
「もち米」としたときの「うるち米」が正常な米粒ｋよ
りも透過率が大きい不良の米粒ｋになり、薄い色付の透
明なガラス片等が、正常な米粒ｋよりも透過率が大きい
異物になる。

【００３１】図５には、受光部５ａの出力電圧（受光
量）が、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置や、黒色
の石等（ｅ１で示す）、及び、胴割れ部分が存在する位
置（ｅ２で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｔよりも
下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異
物等が存在する場合には、位置ｅ４に示すように設定適
正範囲ΔＥｔよりも上側で前記明側の判定レベルＵＬ１
よりも下側に位置している状態を例示している。

【００３２】そして、ラインセンサ５Ａの受光量が、上
記明側の判定レベルＵＬ１と、設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬとの間にあることを判別するために、前記判別
手段１００は、ラインセンサ５Ａの各受光部５ａにおい
て、その受光量（出力電圧）が明側の判定レベルＵＬ１
よりも小で且つ前記適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよ
りも大である受光部５ａを求め、その求めた受光部５ａ
の隣接する連続個数が設定個数（例えば、２個）を超え
る箇所を、正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米
粒ｋ又は前記異物の存在箇所と判定するように構成され
ている。

【００３３】つまり、判別手段１００は、受光部５ａの
受光量が明側の判定レベルＵＬ１よりも小である２値情
報と、受光部５ａの受光量が前記適正光量範囲ΔＥｔの
上限値ＵＬよりも大である２値情報とを演算して、前記
受光量が前記明側の判定レベルＵＬ１よりも小で且つ前
記適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよりも大である受光
部５ａを求める。

【００３４】具体的な処理を、図６によって説明する。
（イ）は、受光部５ａの受光量が明側の判定レベルＵＬ
１よりも小のときを１とした出力波形であり、前述の４
つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４の夫々に対応する箇所
で１になっている。（ロ）は、設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬよりも大のときを１とした出力波形（上限値Ｕ
Ｌよりも小のときを１とした出力波形の反転波形）であ
り、前述の４つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４のうちで
ｅ４だけが出力されていない。そして、（イ）の波形と
（ロ）の波形との論理積（ＡＮＤ処理）を演算すると、
（ハ）に示すように、ｅ４だけに対応する信号波形が得
られる。但し、ＵＬ１にて検出される波形とＵＬにて検
出される波形の幅が異なる（ＵＬ１の方がＵＬに比べて
広い）ので、ｅ４以外の位置ｅ０，ｅ１，ｅ２において
も、前後に細いパルス状の波形が出るが、これは、前述
の設定個数（例えば、２個）以下の波形をカットするフ
イルター処理にて除去することができる。そして、
（ニ）に示すように、設定適正範囲ΔＥｔの下限値ＬＬ
よりも下側の位置ｅ１，ｅ２と、上記位置ｅ４とが、不
良物の位置として判定される。

【００３５】一方、反射光の場合には、図７の反射光用
のラインセンサ５Ｂの出力波形に示すように、ラインセ
ンサ５Ａの複数個の受光部５ａの受光情報に基づいて、
その各受光部５ａの受光量に対応する出力電圧が設定適
正範囲ΔＥｈを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異
物の存在を判定する。ここで、反射光用の設定適正範囲
ΔＥｈは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力
電圧レベルｅ０’を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。

【００３６】図７には、米粒ｋに一部着色部分が存在す
る位置（ｅ１’で示す）や胴割れ部分が存在する位置
（ｅ２’で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｈから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置ｅ３’に示すように設定適正範囲ΔＥｈから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て設定適正範囲ΔＥｈから下側に大きく外れることにな
る。

【００３７】そして、前記移送手段Ｈは、前記制御装置
１０及び前記エアー吹き付け装置６をも利用して、前記
判別手段１００の判別情報に基づいて、前記予定存在箇
所Ｊに移送した米粒群ｋのうちの正常な米粒ｋと不良の
米粒及び前記異物とを異なる経路に分離して移送するよ
うに構成されている。具体的には、判別手段１００にて
前記米粒の不良又は前記異物の存在が判別された場合に
は、前記予定存在箇所Ｊから前記予定移送経路における
前記不良の米粒又は前記異物に対する異なる経路への分
離箇所（前記エアーガン６ａの設置箇所）までの移送時
間が経過するに伴って、前記不良の米粒又は前記異物を
正常な米粒の経路と異なる経路に分離させるように構成
されている。つまり、米粒群ｋを自重にて落下させて移
送させるとともに、不良の米粒又は異物に対して、その
位置に対応する各エアーガン６ａからエアーを吹き付け
て正常な米粒の経路から分離させる。

【００３８】〔別実施形態〕上記実施例では、受光手段
５Ａが複数個の受光部５ａを備えるように構成したが、
例えばフォトセンサー等の単一のセンサーで構成し、こ
のセンサーの出力について、適正光量範囲の上限値と下
限値、及び、明側の判定レベルを設定して、前述の判別
手段１００による不良検出処理を行うようにしてもよ
い。

【００３９】又、上記実施例では、受光部５ａの受光量
が明側の判定レベルＵＬ１よりも小である２値情報と、
適正光量範囲の上限値ＵＬよりも大である２値情報とを
演算して、受光量が明側の判定レベルよりも小で且つ適
正光量範囲の上限値よりも大である受光部を求めたが、
これに限るものではない。例えば、多値情報で表した受
光部５ａの受光量を、多値情報で表した明側の判定レベ
ルＵＬ１及び適正光量範囲の上限値ＵＬと直接比較し
て、明側の判定レベルよりも小で且つ適正光量範囲の上
限値よりも大であるか否かを判定するようにしてもよ
い。

【００４０】又、上記実施例のように、２値情報を演算
する場合においても、受光部の受光量が明側の判定レベ
ルよりも小であるときに１とし、適正光量範囲の上限値
よりも大であるときに１とする２値情報を得て、この２
値情報を論理積演算するものに限らない。

【００４１】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群が米粒群ｋである場合について例示したが、これに
限るものではなく、例えば、プラスチック粒等における
不良物や異物の存否を検査する場合にも適用できる。

【００４２】上記実施例では、照明手段４を、複数列状
の検査対象物（米粒群ｋ）の全幅を照明するようにライ
ン状の蛍光灯にて構成したが、検査対象物（米粒群ｋ）
の予定存在箇所その他の条件に応じて、照明手段の具体
構成は適宜変更できる。又、上記実施例では、照明手段
４を、単一の照明手段にて構成したが、これ以外に、透
過光用と反射光用とに各別の照明手段を設けるようにし
てもよい。又、照明光量の均一性を良くする等の目的の
ために、透過光用の照明手段（例えば蛍光灯）から発光
した光をそのまま照明光とせず、拡散反射する反射板で
反射させた光を照明光とすることもできる。

【００４３】上記実施例では、受光手段５Ａを、モノク
ロタイプのＣＣＤセンサを利用して構成したが、撮像管
式のテレビカメラを利用して構成してもよい。又、モノ
クロタイプではなく、カラータイプのＣＣＤセンサにて
構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の受光量から不
良米や異物の存否をさらに精度良く判別するようにして
もよい。

【００４４】上記実施例では、移送手段Ｈにて検査対象
物としての粒状体群（米粒群ｋ）を予定移送経路に沿っ
て複数列並ぶ状態で（つまり横方向に広がった状態で）
移送するようにしたが、これ以外に、例えば、予定移送
経路に沿って一列状態で（つまり直線状に）移送させる
ようにしてもよい。

【００４５】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群（米粒群ｋ）を予定移送経路に沿って一層状態で複
数列並ぶ状態で移送する移送手段Ｈを構成するために、
傾斜させたシュータ１を設けてその面上を粒状体群を滑
らせるようにしたが、これ以外に、例えば、粒状体群を
一層状態で載置して搬送する搬送装置等を設けてもよ
い。又、自重にて落下している粒状体群（米粒群ｋ）中
の不良物に向けてエアーを吹き付けて、正常な粒状体の
経路から不良物を分離して移送するように、移送手段Ｈ
を構成したが、これに限るものではなく、例えば、不良
物をエアーで吸引するようにしてもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】不良検出・除去装置の概略斜視図

【図２】同概略側面図

【図３】制御構成のブロック図

【図４】受光検出範囲の説明図

【図５】透過光受光手段の出力波形図

【図６】透過光の場合の不良検出処理を説明する波形図

【図７】反射光受光手段の出力波形図

【図８】従来例における受光検出部を示す側面図

【図９】従来例における不良検出処理を説明する波形図

【符号の説明】

４ 照明手段 ５Ａ 受光手段 ５ａ 受光部 １００ 判別手段 Ｈ 移送手段

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粒状体群を検査対象物として、その検査
   対象物の予定存在箇所を照明する照明手段と、その照明
   手段からの照明光が前記予定存在箇所を透過した透過光
   を受光する受光手段と、その受光手段の受光情報に基づ
   いて、粒状体群における各粒状体の良否又は粒状体群内
   に混入した異物の存否を判別する判別手段とが設けられ
   た不良検出装置であって、 前記判別手段は、前記受光手段の受光量が前記粒状体に
   対する適正光量範囲の上限値と下限値との間にある場合
   に正常な粒状体の存在を判定するとともに、 前記適正光量範囲の上限値と、前記照明手段からの照明
   光を検査対象物を透過せずに受光したときの受光量との
   間に、明側の判定レベルを設定し、前記受光手段の受光
   量が、前記適正光量範囲の上限値と前記明側の判定レベ
   ルとの間にある場合に、正常な粒状体よりも透過率が大
   きい不良の粒状体又は前記異物の存在を判定するように
   構成されている不良検出装置。
2. 【請求項２】 前記判別手段は、前記受光手段の受光量
   が前記適正光量範囲の下限値よりも小さい場合に、正常
   な粒状体よりも透過率が小さい不良の粒状体又は前記異
   物の存在を判定するように構成されている請求項１記載
   の不良検出装置。
3. 【請求項３】 前記受光手段は、各別に受光情報が取出
   し可能な複数個の受光部を前記予定存在箇所の全体に亘
   って備えるように構成され、 前記判別手段は、前記各受光部において、その受光量が
   前記明側の判定レベルよりも小で且つ前記適正光量範囲
   の上限値よりも大である受光部を求め、その求めた受光
   部の隣接する連続個数が設定個数を超える箇所を、正常
   な粒状体よりも透過率が大きい不良の粒状体又は前記異
   物の存在箇所と判定するように構成されている請求項１
   又は２記載の不良検出装置。
4. 【請求項４】 前記判別手段は、前記受光部の受光量が
   前記明側の判定レベルよりも小である２値情報と、前記
   受光部の受光量が前記適正光量範囲の上限値よりも大で
   ある２値情報とを演算して、前記受光量が前記明側の判
   定レベルよりも小で且つ前記適正光量範囲の上限値より
   も大である受光部を求めるように構成されている請求項
   ３記載の不良検出装置。
5. 【請求項５】 請求項１〜４のいずれか１項に記載の不
   良検出装置を備えた不良物除去装置であって、 前記検査対象物を予定移送経路に沿って移送する移送手
   段が設けられ、 前記予定移送経路を挟んで、一方側に前記照明手段が配
   置され、他方側に前記受光手段が配置され、 前記移送手段は、前記検査対象物を前記受光手段の受光
   位置に移送するとともに、前記判別手段の判別情報に基
   づいて、前記受光手段の受光位置に移送した前記検査対
   象物のうちの正常な粒状体と不良の粒状体及び前記異物
   とを異なる経路に分離して移送するように構成されてい
   る不良物除去装置。
6. 【請求項６】 前記移送手段は、前記検査対象物を一層
   状態で且つ複数列並ぶ状態で移送するように構成され、 前記照明手段は、前記複数列の検査対象物の並び方向の
   全幅を照明するように構成され、 前記受光手段は、前記複数列の検査対象物の並び方向に
   沿ってその全幅を受光範囲とするように構成されている
   請求項５記載の不良物除去装置。
7. 【請求項７】 前記移送手段は、前記検査対象物を自重
   にて落下させて移送させるとともに、前記不良の粒状体
   又は前記異物に対してエアーを吹き付けて正常な粒状体
   の経路から分離させるように構成されている請求項５又
   は６記載の不良物除去装置。