JPH10174940A - 粒状体の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検査対象物ごとに供給量を手動設定する必要
がなく、又、処理途中で変化する不良発生頻度に対応し
た供給量条件で適切な選別処理を行うようにして、その
作業能率の低下を回避させる。 【解決手段】 選別部Ｓにおける不良物の不良発生頻度
が検出され、その不良発生頻度が多いほど選別部Ｓへの
検査対象物（粒状体群ｋ）の供給量が少なくなるよう
に、選別部Ｓに検査対象物を供給するフィーダ１９等の
供給部Ｐからの供給量が変更調節され、選別部Ｓにおい
て供給された粒状体群ｋ内における不良物が検出されて
正常物と異なる経路に分離され、不良物が箱３に正常物
が箱２に選別回収される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、粒状体群を検査対
象物として粒状体群内における不良物を検出して、その
不良物と正常物とを異なる経路に分離して選別する選別
部と、その選別部に供給する検査対象物の供給量を変更
調節自在な供給部とが設けられた粒状体の検査装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】上記粒状体の検査装置は、例えば、外部
の精米機等からの米粒群をフィーダ等の供給部から、検
査対象物を所定経路に沿って移送しながら選別処理する
選別部に供給して、着色米等の不良米や石等の異物を不
良物としてエアーの噴射等にて分離・除去して正常米
（正常物）を得るものであるが、上記不良物の発生頻度
が通常よりも高い場合には、粒状体群内の不良を検出す
るための光センサや、不良物を分離するためのエアー吹
き付け装置等の処理能力が不足して、適切に選別処理さ
れないおそれがある。そこで、従来は、検査対象物ごと
に不良物の発生頻度を予想して、その値に合わせて例え
ばフィーダの移送速度を調整して供給部から選別部への
供給量を手動で設定していた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、検査対象物ごとに予想される不良発生頻度
に合わせて選別部への供給量を手動設定するので、その
設定操作が面倒であり、又、処理途中で不良発生頻度が
変わることを考慮して予想される不良発生頻度の最大値
に合わせて供給量を少なめに設定していたので、選別処
理の作業能率が低下するという不具合があった。

【０００４】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消す
べく、検査対象物ごとに供給量を手動設定する必要がな
く、又、処理途中で変化する不良発生頻度に対応した供
給量条件で適切な選別処理を行うようにして、その作業
能率の低下を回避させた粒状体の検査装置を提供するこ
とである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１によれば、選別
部における不良物の不良発生頻度が検出され、その不良
発生頻度が多いほど選別部への検査対象物の供給量が少
なくなるように、選別部に検査対象物を供給する供給部
からの供給量が変更調節され、選別部において、供給さ
れた粒状体群内における不良物が検出され、その不良物
が正常物と異なる経路に分離されて選別される。

【０００６】従って、選別部における不良物の不良発生
頻度が多くなると選別部への検査対象物の供給量が少な
くなる一方、不良発生頻度が少なくなると選別部への検
査対象物の供給量が多くなるように、実際の不良発生頻
度に応じて、選別部への検査対象物の供給量が自動的に
調節されるので、従来技術の供給量を手動設定する場合
のように、検査対象物ごとに予想される不良発生頻度に
合わせて供給量を設定する面倒な手間が不良になり、
又、処理途中で不良発生頻度が変化してもそれに対応し
た供給量条件で適切な選別処理を行うので、従来技術の
ように、予想される不良発生頻度の最大値に合わせて供
給量を少なめに固定して設定していたために生じていた
作業能率の低下も回避させることができる。

【０００７】請求項２によれば、請求項１において、選
別部に備えた流下案内手段にて、粒状体群が一層状態で
流下案内されながら、その流下方向下流側において、粒
状体の良否又は異物の存否が判別されるとともに、その
判別情報に基づいて粒状体群における不良物と正常物と
を異なる経路に分離され、同時に、上記判別情報に基づ
いて選別部における不良物の不良発生頻度が検出され
る。

【０００８】従って、重力によって流下している粒状体
群を検査対象として、不良の判別と除去とを行うことに
より、例えば、特別の搬送装置によって粒状体群を送る
場合に比べて装置構成を簡素化しながら、同時に、その
不良の判別情報から不良の発生頻度を適切に検出するこ
とができ、もって、請求項１の好適な手段が得られる。

【０００９】請求項３によれば、請求項２において、選
別部における不良発生頻度が多いほど移送量が少なくな
るように移送量が変更される移送装置によって、粒状体
群が前記流下案内手段の流下方向始端部まで移送されて
選別部に供給される。

【００１０】従って、例えば、移送装置にて移送される
対象物の層厚さを設定層厚さの状態を維持しながらその
移送速度を変更することによって、選別部への供給量を
精度良く変更調節することができ、もって、請求項２の
好適な手段が得られる。

【００１１】請求項４によれば、請求項２において、選
別部における不良発生頻度が多いほど、前記流下案内手
段の流下方向上流側の流下案内面上に貯溜された粒状体
群の流下案内面への排出量が少なくなるように、その排
出量を変更する開閉式のゲート手段が作動される。

【００１２】従って、選別部に備える板状部材等の流下
案内手段の一部を利用して粒状体群を貯溜して、別に貯
溜用のタンク等を設けることを不要とし、且つ、その貯
溜物の選別部への排出量を単純な開閉ゲートで変更調節
するようにしたので、供給部を簡素に構成することがで
き、もって、請求項２の好適な手段が得られる。

【００１３】請求項５によれば、請求項２〜４のいずれ
か１項において、流下案内される粒状体に照射される光
の光学特性の変化に基づいて、粒状体の良否又は異物の
存否が判別される。

【００１４】従って、光学特性の変化に基づいて粒状体
の良否又は異物の存否を判別することにより、粒状体群
における不良物の検出を適切に行うことができ、もっ
て、請求項２〜４のいずれか１項の好適な手段が得られ
る。

【００１５】請求項６によれば、請求項２〜５のいずれ
か１項において、不良物に対してエアーを吹き付けて、
正常物と異なる経路に分離させる。

【００１６】従って、例えば米粒等を検査対象として、
正常米から不良米や異物等の不良物を分離させるのに、
エアーの吹き付け作用によって行うので、例えば、出退
動作をする板等の機械的な手段で直接接触して分離させ
るのに比べて、速い応答速度で且つソフトタッチに損傷
を与えるおそれもなく良好に分離でき、もって、請求項
２〜５のいずれか１項の好適な手段が得られる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の粒状体の検査装置
の実施形態を、玄米や精米等の米粒群からなる粒状体群
を検査対象物として流下案内させながら、不良検出及び
不良物除去を行う場合について図面に基づいて説明す
る。

【００１８】図１〜図２に示すように、所定幅の板状の
シュータ１が、水平面に対して所定角度（例えば６０
度）に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部側に
設けた貯溜用のタンク１８からフィーダ１９で搬送され
て供給された米粒群ｋがシュータ１上を一層状態で横方
向に広がった状態で滑って移送されている。つまり、検
査対象物としての米粒群ｋを一層状態で流下案内させる
流下案内手段がシュータ１にて構成される。

【００１９】タンク１８の上部には、外部の精米機等か
ら供給される米粒群ｋの搬入口１８Ａが設けられ、先細
筒状のタンク下端部には、タンク内の米粒群ｋをシュー
タ１へ供給させるか否かを切り換える開閉シャッター２
０が設けられている。そして、タンク１８からフィーダ
１９上に落下した米粒群ｋのシュータ１への供給量が、
フィーダ１９の搬送速度を変化させて調節される（ここ
で、フィーダ１９上の米粒群ｋの層は、スクレイパー等
にて一定厚さに保持されている）。つまり、シュータ１
（選別部Ｓ）に供給する米粒群ｋの供給量を変更調節自
在な供給部Ｐが、米粒群ｋを移送量が変更自在な状態で
シュータ１の流下方向始端部まで移送する移送装置とし
てのフィーダ１９を備えて構成されている。タンク１８
には、内部の米粒群ｋの貯溜量を検出するレベルセンサ
１２が設置されている。

【００２０】図１に示すように、シュータ下端からの米
粒群ｋの落下経路中に、米粒群ｋに対する検査用のライ
ンセンサ５Ａ，５Ｂの検出位置Ｊが設定され、その検出
位置Ｊを挟んで一方側に、その位置Ｊの複数列の米粒群
ｋの並び方向の全幅を照明する蛍光灯等のライン状光源
４と、そのライン状光源４からの照明光が上記検出位置
Ｊで反射した反射光を受光する反射光用のラインセンサ
５Ｂとが、一方の格納室１３Ｂ内に格納され、又、上記
検出位置Ｊを挟んで他方側に、ライン状光源４からの照
明光が検出位置Ｊを透過した透過光を受光する透過光用
のラインセンサ５Ａと、反射光用のラインセンサ５Ｂの
受光方向であって検出位置Ｊの背部側に位置してライン
状光源４からの照明光を反射光用のラインセンサ５Ｂに
向けて反射する反射板８とが、他方の格納室１３Ａ内に
格納されている。

【００２１】両格納室１３Ａ，１３Ｂ夫々は、検出位置
Ｊに面する側に板状の透明なガラスからなる窓部材１４
Ａ，１４Ｂを備えるとともに、その窓部材１４Ａ，１４
Ｂの入射側及び出射側の各面が、透過光用のラインセン
サ５Ａに入射する透過光及び反射光用のラインセンサ５
Ｂに入射する反射光の両方向に対して直交するように設
定されている。そして、透過光と反射光の方向が同一方
向にできないために、各窓部材１４Ａ，１４Ｂを途中箇
所で折れ曲げるように形成して上記直交状態を実現して
いる。

【００２２】上記反射板８は、米粒と同じ反射率の領域
８ａを上記ライン状光源４にて照明された米粒群ｋの全
幅に対応して長手状に形成し、且つその長手状の領域８
ａの両側に黒色の領域８ｂを形成した表面を、窓部１４
Ａの背部に押し付ける状態で固定されている。つまり、
反射板８が、他方の格納室１３Ａ内の窓部１４Ａを固定
するための固定部材に兼用されている。もう一方の格納
室１３Ｂの窓部１４Ｂは専用の固定板１５で押し付けて
固定されている。

【００２３】図４に示すように、上記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂは、米粒ｋの大きさよりも小さい範囲ｐ（例え
ば米粒ｋの大きさの１０分の１程度）を夫々の受光対象
範囲として、各別に受光情報が取出し可能な複数個の受
光部５ａを、米粒群ｋの受光位置Ｊの全体に亘って備え
るように構成されている。具体的には、複数個の受光部
５ａとしての受光素子が上記複数列の米粒群ｋの並び方
向に沿ってその全幅に亘って直線状に並置されたモノク
ロタイプのＣＣＤセンサと、米粒群ｋの像を上記ＣＣＤ
センサの各受光素子上に結像させるための光学系とから
構成されている。これにより、両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂは、複数列の米粒群ｋの並び方向に沿ってその全幅を
受光範囲とするように構成される。

【００２４】上記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂの検出位置
Ｊから経路方向の下手側に、後述の判別手段１００によ
って不良と判定された米粒ｋや異物等の不良物に対して
エアーを吹き付けて正常な米粒ｋと異なる経路に分離さ
せるためのエアー吹き付け装置６が設けられている。つ
まり、このエアー吹き付け装置６が、シュータ１の流下
方向下流側において、判別手段１００の判別情報に基づ
いて米粒群ｋ内の不良物と正常物とを異なる経路に分離
する分離手段を構成する。上記エアー吹き付け装置６
は、米粒ｋの流れ方向に対して横幅方向に所定幅毎に分
割した各米粒群ｋに対して各別に吹き付け作動する複数
個のエアーガン６ａを備えている。

【００２５】そして、エアー吹き付け装置６よりも流下
方向下流側には、その流下方向に沿って自然落下する正
常な米粒ｋを回収する良米回収箱２と、正常な米粒ｋの
流れから分離した着色米（焼け米）や胴割れ米等の不良
米又は石やガラス片等の異物を回収する不良物回収箱３
とが設置されている。

【００２６】制御構成を説明すると、図３に示すよう
に、マイクロコンピュータ利用の制御装置１０が設けら
れ、この制御装置１０に、前記両ラインセンサ５Ａ，５
Ｂからの各画像信号と、前記レベルセンサ１２の検出信
号と、前記フィーダ１９による米粒群ｋの供給量制御に
使用する不良発生頻度の基準値を設定する基準頻度設定
器２１からの情報とが入力されている。

【００２７】一方、制御装置１０からは、エアー吹き付
け装置６の各エアーガン６ａを夫々各別に作動させるた
めに、図示しないコンプレッサーから各エアーガン６ａ
への各エアー供給路のエアー流通をオンオフする複数個
の電磁弁１１に対する駆動信号と、前記シャッター２０
を作動させる電磁ソレノイド２０Ａに対する駆動信号
と、前記フィーダ１９を作動させるフィーダ駆動モータ
１９Ｂへの駆動信号とが出力されている。尚、フィーダ
１９の移送速度はフィーダ駆動モータ１９Ｂの駆動電圧
を変えることによって変更される。

【００２８】前記両ラインセンサ５Ａ，５Ｂ及び制御装
置１０を利用して、前記シュータ１の流下方向下流側に
おいて、米粒群ｋ内における米粒の良否又は異物の存否
を判別する判別手段１００が構成されている。つまり、
判別手段１００は、前記検出位置Ｊにおける透過光用及
び反射光用の各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光情報に基
づいて、すなわち、流下案内される米粒群ｋに照射され
る光の光学特性の変化に基づいて、粒状体の良否又は異
物の存否を判別する。

【００２９】透過光の場合は、図５の透過光用のライン
センサ５Ａの出力波形に示すように、透過光用のライン
センサ５Ａの受光量つまり各受光部５ａの受光量に対応
する出力電圧が米粒群ｋに対する適正光量範囲ΔＥｔの
上限値ＵＬと下限値ＬＬとの間にある場合に正常な米粒
の存在を判定するとともに、設定適正範囲ΔＥｔの下限
値ＬＬよりも小さい場合に、正常な米粒よりも透過率が
小さい不良の米粒や異物等（例えば、黒色の石粒）の存
在を判定する。

【００３０】ここで、米粒ｋや異物等が存在しない位置
の受光部５ａでは、照明光源４からの照明光を直接受光
して設定適正範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよりも大きい出力
値Ｅｓになる。そこで、適正光量範囲ΔＥｔの上限値Ｕ
Ｌと、照明光源４からの照明光を直接受光したときの受
光量Ｅｓとの間に、明側の判定レベルＵＬ１を設定し、
ラインセンサ５Ａの受光量が、適正光量範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬと前記明側の判定レベルＵＬ１との間にある場
合に、正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米粒ｋ
又は前記異物の存在を判定する。この正常な米粒ｋより
も透過率が大きい不良の米粒ｋ又は異物の例としては、
正常な米粒ｋを「もち米」としたときの「うるち米」が
正常な米粒ｋよりも透過率が大きい不良の米粒ｋにな
り、薄い色付の透明なガラス片等が、正常な米粒ｋより
も透過率が大きい異物になる。

【００３１】図５には、受光部５ａの出力電圧（受光
量）が、米粒ｋに一部着色部分が存在する位置や、黒色
の石等（ｅ１で示す）、及び、胴割れ部分が存在する位
置（ｅ２で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｔよりも
下側に位置し、又、正常な米粒よりも透過率が大きい異
物等が存在する場合には、位置ｅ４に示すように設定適
正範囲ΔＥｔよりも上側で前記明側の判定レベルＵＬ１
よりも下側に位置している状態を例示している。

【００３２】そして、ラインセンサ５Ａの受光量が、上
記明側の判定レベルＵＬ１と、設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬとの間にあることを判別するために、ラインセ
ンサ５Ａの各受光部５ａにおいて、その受光量（出力電
圧）が明側の判定レベルＵＬ１よりも小で且つ前記適正
光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬよりも大である受光部５ａ
を求め、その求めた受光部５ａの隣接する連続個数が設
定個数（例えば、２個）を超える箇所を、正常な米粒ｋ
よりも透過率が大きい不良の米粒ｋ又は前記異物の存在
箇所と判定している。つまり、受光部５ａの受光量が明
側の判定レベルＵＬ１よりも小である２値情報と、受光
部５ａの受光量が適正光量範囲ΔＥｔの上限値ＵＬより
も大である２値情報とを演算して、前記受光量が明側の
判定レベルＵＬ１よりも小で且つ適正光量範囲ΔＥｔの
上限値ＵＬよりも大である受光部５ａを求める。

【００３３】具体的な処理を、図６によって説明する。
（イ）は、受光部５ａの受光量が明側の判定レベルＵＬ
１よりも小のときを１とした出力波形であり、前述の４
つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４の夫々に対応する箇所
で１になっている。（ロ）は、設定適正範囲ΔＥｔの上
限値ＵＬよりも大のときを１とした出力波形（上限値Ｕ
Ｌよりも小のときを１とした出力波形の反転波形）であ
り、前述の４つの位置ｅ０，ｅ１，ｅ２，ｅ４のうちで
ｅ４だけが出力されていない。そして、（イ）の波形と
（ロ）の波形との論理積（ＡＮＤ処理）を演算すると、
（ハ）に示すように、ｅ４だけに対応する信号波形が得
られる。但し、ＵＬ１にて検出される波形とＵＬにて検
出される波形の幅が異なる（ＵＬ１の方がＵＬに比べて
広い）ので、ｅ４以外の位置ｅ０，ｅ１，ｅ２において
も、前後に細いパルス状の波形が出るが、これは、前述
の設定個数（例えば、２個）以下の波形をカットするフ
イルター処理にて除去することができる。そして、
（ニ）に示すように、設定適正範囲ΔＥｔの下限値ＬＬ
よりも下側の位置ｅ１，ｅ２と、上記位置ｅ４とが、不
良物の位置として判定される。

【００３４】一方、反射光の場合には、図７の反射光用
のラインセンサ５Ｂの出力波形に示すように、ラインセ
ンサ５Ａの複数個の受光部５ａの受光情報に基づいて、
その各受光部５ａの受光量に対応する出力電圧が設定適
正範囲ΔＥｈを外れた場合に前記米粒の不良又は前記異
物の存在を判定する。ここで、反射光用の設定適正範囲
ΔＥｈは、正常米粒からの標準的な反射光に対する出力
電圧レベルｅ０’を挟んで上下所定幅の範囲に設定され
る。

【００３５】図７には、米粒ｋに一部着色部分が存在す
る位置（ｅ１’で示す）や胴割れ部分が存在する位置
（ｅ２’で示す）では、上記設定適正範囲ΔＥｈから下
側に外れている状態を例示し、又、ガラス片等の異物が
存在する場合には、異物からの強い直接反射光によって
位置ｅ３’に示すように設定適正範囲ΔＥｈから上側に
外れている状態を例示している。又、図示しないが、黒
色の石等では、反射率が非常に小さいので、波形におい
て設定適正範囲ΔＥｈから下側に大きく外れることにな
る。

【００３６】そして、前記制御装置１０は、前記判別手
段１００の判別情報に基づいて、前記両ラインセンサ５
Ａ，５Ｂの検出位置Ｊに移送した米粒群ｋのうちで、米
粒の不良又は異物の存在が判別された場合には、検出位
置Ｊから不良の米粒又は異物に対する異なる経路への分
離箇所（前記エアーガン６ａの設置箇所）までの移送時
間が経過するに伴って、自重にて落下している不良の米
粒又は異物に対して、その位置に対応する各エアーガン
６ａからエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離
させる。

【００３７】以上より、米粒群ｋを検査対象物として米
粒群ｋ内における不良物を検出して、その不良物と正常
物とを異なる経路に分離して選別する選別部Ｓが、前記
シュータ１と、前記判別手段１００と、前記エアー吹き
付け装置６とを備えて構成されることになる。

【００３８】又、制御装置１０を利用して、選別部Ｓに
おける不良物の不良発生頻度を検出する不良頻度検出手
段１０１と、その不良頻度検出手段１０１の情報に基づ
いて、前記不良発生頻度が多いほど前記供給部Ｐ（フィ
ーダ１９）から前記選別部Ｓ（シュータ１）への米粒群
ｋの供給量が少なくなるように制御する供給量制御手段
１０２とが構成されている。

【００３９】前記不良頻度検出手段１０１は、前記判別
手段１００の情報に基づいて、前記不良発生頻度を検出
するように構成されている。具体的には、前記両ライン
センサ５Ａ，５Ｂの検出位置Ｊの全幅に亘っての画像信
号中における不良米及び異物の判別信号を計数して、単
位時間当たりの積算値を不良発生頻度とする。そして、
図８に例示する供給量制御特性になるように、前記基準
頻度設定器２１で設定された不良発生頻度の基準値と、
上記検出した不良発生頻度とを比較して、グラフの曲線
に示すように供給量を調節制御する。

【００４０】〔別実施形態〕前記供給部Ｐは、前記フィ
ーダ１９によるものに限らない。１つの別実施例を図９
に示すように、供給部Ｐが、米粒群ｋを流下案内手段
（シュータ１）の流下方向上流側の流下案内面上にて貯
溜する貯溜手段としてのホッパー７と、そのホッパー７
から前記流下案内手段（シュータ１）の流下案内面への
米粒群ｋの排出量を変更する開閉式のゲート手段として
の開閉ゲート９Ａとを備えて構成されている。ホッパー
７は、シュータ１の上流側部分のシュータ面１ａと、こ
のシュータ面１ａに対向して反対側に傾斜した傾斜側面
７ａとによって、図９の紙面に垂直な方向視において下
端側ほど先細状の筒体に構成されるとともに、その筒体
の底部において、図９の紙面に垂直な方向に沿う直線状
の隙間をシュータ面１ａとの間に形成する開閉ゲート９
Ａが、ゲート駆動モータ９Ｂによって傾斜側面７ａに沿
って移動して上記隙間の間隔を変更調節自在な状態で設
けられている。尚、このゲート駆動モータ９Ｂは、図８
の供給量制御の特性になるように、前記制御装置１０に
よって駆動される（図３参照）。図中、１２Ａは、ホッ
パー内の貯溜量を検出するレベルセンサである。

【００４１】上記実施例では、検査対象物としての粒状
体群が玄米等の米粒群ｋである場合について例示した
が、これに限るものではなく、例えば、プラスチック粒
等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用
できる。

【００４２】上記実施例では、選別部Ｓが、粒状体群を
一層状態で斜め方向に流下案内させながら、不良物の判
別と分離とを行うようにしたが、これに限らず、例え
ば、粒状体群を一層状態で載置した保持面を水平方向に
送りながら、不良物の判別と分離とを行うようにしても
よい。

【００４３】又、流下案内手段は、横幅方向に複数列状
に広がった粒状体群を一層状態で流下案内させる板状の
シュータ１に限るものではなく、例えば粒状体群を多数
並置した流下樋群等によって各別に一列状態で流下案内
するようにしてもよい。

【００４４】又、分離手段は、自重落下している不良物
に対してエアーを吹き付けて、正常な粒状体の経路から
分離するエアー吹き付け装置６に限らず、例えば、不良
物をエアーで吸引して正常な粒状体の経路から分離する
ものでもよい。

【００４５】又、判別手段１００は、横幅方向に広がっ
た状態で流下する粒状体群を照明して、その透過光及び
反射光を受光するライン状の受光手段５Ａ，５Ｂの受光
情報に基づいて不良物と正常物の判別を行うように構成
したが、ライン状の受光手段ではなく、例えば上記個別
の流下樋上を一列状に流下させるような場合には、フォ
トセンサー等の単一のセンサーで構成してもよい。

【００４６】尚、光学的な判別用のライン状の受光手段
も、多数個の光素子を並置したモノクロタイプのＣＣＤ
センサ以外に、撮像管式のテレビカメラでもよく、又、
モノクロタイプではなく、カラータイプのＣＣＤセンサ
にて構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の受光量か
ら不良米や異物の存否をさらに精度良く判別するように
してもよい。

【００４７】上記実施例では、不良頻度検出手段１０１
が、選別部Ｓの判別手段１００の情報に基づいて、不良
米や異物等の不良発生頻度を検出するようにしたが、こ
れに限らず、例えば、上記判別に基づいて前記エアー吹
き付け装置等の分離手段６で不良物を排除する排除信号
を計数して不良発生頻度を検出するようにしてもよい。
又、上記判別手段１００の情報に基づく場合も、両ライ
ンセンサ５Ａ，５Ｂの検出位置Ｊの全幅に亘っての画像
信号ではなく、その全幅の一部での画像信号を対象とし
たり、あるいは、一方のラインセンサ５の画像信号のみ
を対象としたりしてもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】不良検出・除去装置の全体側面図

【図２】同要部斜視図

【図３】制御構成のブロック図

【図４】受光検出範囲の説明図

【図５】透過光受光手段の出力波形図

【図６】透過光の場合の不良検出処理を説明する波形図

【図７】反射光受光手段の出力波形図

【図８】供給量制御の特性を示すグラフ

【図９】別実施例の不良検出・除去装置の全体側面図

【符号の説明】

１ 流下案内手段 ６ 分離手段 ７ 貯溜手段 ９Ａ ゲート手段 １９ 移送装置 １００ 判別手段 １０１ 不良頻度検出手段 １０２ 供給量制御手段 Ｐ 供給部 Ｓ 選別部

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 粒状体群を検査対象物として粒状体群内
   における不良物を検出して、その不良物と正常物とを異
   なる経路に分離して選別する選別部と、その選別部に供
   給する検査対象物の供給量を変更調節自在な供給部とが
   設けられた粒状体の検査装置であって、 前記選別部における不良物の不良発生頻度を検出する不
   良頻度検出手段と、 前記不良頻度検出手段の情報に基づいて、前記不良発生
   頻度が多いほど前記供給部から前記選別部への検査対象
   物の供給量が少なくなるように制御する供給量制御手段
   とが設けられている粒状体の検査装置。
2. 【請求項２】 前記選別部が、粒状体群を一層状態で流
   下案内させる流下案内手段と、その流下案内手段の流下
   方向下流側において、粒状体の良否又は異物の存否を判
   別する判別手段と、その判別手段の判別情報に基づい
   て、前記不良物と正常物とを異なる経路に分離する分離
   手段とを備え、 前記不良頻度検出手段が、前記判別手段の情報に基づい
   て、前記不良発生頻度を検出するように構成されている
   請求項１記載の粒状体の検査装置。
3. 【請求項３】 前記供給部が、粒状体群を移送量が変更
   自在な状態で前記流下案内手段の流下方向始端部まで移
   送する移送装置とを備えて構成されている請求項２記載
   の粒状体の検査装置。
4. 【請求項４】 前記供給部が、粒状体群を前記流下案内
   手段の流下方向上流側の流下案内面上にて貯溜する貯溜
   手段と、その貯溜手段から前記流下案内面への粒状体群
   の排出量を変更する開閉式のゲート手段とを備えて構成
   されている請求項２記載の粒状体の検査装置。
5. 【請求項５】 前記判別手段は、流下案内される粒状体
   に照射される光の光学特性の変化に基づいて、粒状体の
   良否又は異物の存否を判別するように構成されている請
   求項２〜４のいずれか１項に記載の粒状体の検査装置。
6. 【請求項６】 前記分離手段が、不良物に対してエアー
   を吹き付けて正常物と異なる経路に分離させるように構
   成されている請求項２〜５のいずれか１項に記載の粒状
   体の検査装置。