JPH10512046A - 一体化共振マイクロビームセンサ及びトランジスタ発振器 - Google Patents
一体化共振マイクロビームセンサ及びトランジスタ発振器Info
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Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract description 7
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 8
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 3
- 239000011324 bead Substances 0.000 claims description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims 8
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 6
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 101100484930 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) VPS41 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/08—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
- G01P15/097—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by vibratory elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/18—Measuring force or stress, in general using properties of piezo-resistive materials, i.e. materials of which the ohmic resistance varies according to changes in magnitude or direction of force applied to the material
- G01L1/183—Measuring force or stress, in general using properties of piezo-resistive materials, i.e. materials of which the ohmic resistance varies according to changes in magnitude or direction of force applied to the material by measuring variations of frequency of vibrating piezo-resistive material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0001—Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means
- G01L9/0008—Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations
- G01L9/0019—Transmitting or indicating the displacement of elastically deformable gauges by electric, electro-mechanical, magnetic or electro-magnetic means using vibrations of a semiconductive element
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- Micromachines (AREA)
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.サブストレート上に設けられ、基準端子に接続されたビームで、第1の端部 及び第2の端部がそのサブストレートに固定され、測定しようとする物理パラメ ータの大きさに応じたサブストレートの曲げによって前記第1の端部と第2の端 部との間に引張または圧縮が作用し、その引張または圧縮に応じて決まる共振周 波数で振動することができ、その共振周波数が測定しようとする物理パラメータ を指示するビームと; 前記ビームの第1の側の近傍に設けられた第1の電極であって、ビームが振 動してそのビームと第1の電極との間の距離が変化し、かつビームと第1の電極 との間の第1のキャパシタンスがビームの振動に応じて変化するようになってい る第1の電極と; 前記ビームの前記第1の側の反対側の第2の側に設けられた第2の電極であ って、ビームが振動してビームと第2の電極の間の距離が前記ビームと前記第1 の電極との間の距離に対して逆方向に変化し、前記ビームと第2の電極の間の第 2のキャパシタンスが第1の電極とビームとの間の第1のキャパシタンスとは逆 に変化するようになっている第2の電極と; 入力が前記第1の電極に接続され、出力が前記第2の電極に接続されたイン バータと; を具備したトランジスタ共振一体化マイクロビーム構造。 2.前記インバータが: 前記第1の電極に接続された第1の端子、前記第2の電極に接続された第2 の端子、及び前記基準端子に接続された第3の端子を有するトランジスタと; そのトランジスタの第2の端子に接続された第1の端子を有し、かつ電圧端 子に接続された第2の端子を有する負荷インピーダンスと; を具備する請求項1記載のマイクロビーム構造。 3.前記トランジスタの第1の端子に接続された第1の端子を有し、かつそのト ランジスタの第2の端子に接続された第2の端子を有するフィードバックインピ ーダンスをさらに具備した請求項2記載のマイクロビーム構造。 4.前記第1の電極が容量センサであり; 前記第2の電極が静電ドライバである; 請求項3記載のマイクロビーム構造。 5.前記トランジスタがn‐チャンネル電界効果トランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がそれぞれゲート、ドレイン 及びソースである; 請求項4記載のマイクロビーム構造。 6.前記トランジスタがバイポーラトランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がベース、コレクタ及びエミ ッタである; 請求項4記載のマイクロビーム構造。 7.前記負荷インピーダンスが互いに並列に接続された抵抗器及びコンデンサか らなる請求項5記載のマイクロビーム構造。 8.サブストレート中に設けられたビーム構造と; そのビーム構造に近接して設けられ、駆動信号に従ってビーム構造を駆動し て振動させる駆動手段と; 前記ビーム構造に近接して設けられ、そのビーム構造の振動を検出し、検出 信号を得る検出手段と; 前記駆動手段と検出手段に接続されていて、検出手段からの検出信号を駆動 手段用の駆動信号に変換するための回路手段と; を具備した一体化マイクロビーム構造。 9.前記ビーム構造が共振周波数を有し; その共振周波数が前記ビーム構造に影響を及ぼすパラメータの大きさを指示 し、その影響の結果としてビーム構造が共振周波数を変化させる; 請求項8記載のマイクロビーム構造。 10.サブストレート中に設けられ、基準端子に接続されているビームで、第1 の端部及び第2の端部がサブストレートに固定され、測定しようとする物理パラ メータの大きさに応じたサブストレートの曲げによって生じる引張または圧縮が 前記第1の端部と第2の端部との間に作用し、その引張または圧縮に応じて変化 する共振周波数を有し、その共振周波数が物理パラメータを指示するビームと; 前記ビームが振動して、そのビームとの間の距離が前記共振周波数と同調 して変化し、その結果ビームとの間の第1のキャパシタンスがそのビームとの間 の距離に逆比例して変化するようビームの第1の側に設けた第1の電極と; 前記ビームの第1の側に設けられていて、そのビームとの間の距離がビー ムと前記第1の電極との間の距離に比例して変化し、ビームとの間の第2のキャ パシタンスが前記第1のキャパシタンスと同相で変化する第2の電極と; 入力が前記第1の電極に接続され、出力が前記第2の電極に接続されたノ ンインバータと; を具備したトランジスタ共振一体化マイクロビーム構造。 11.前記ノンインバータが: 前記第1の電極に接続された第1の端子、前記基準端子に接続された第2 の端子、及び第3の端子を有する第1のトランジスタと; 入力端子が前記トランジスタの第3の端子に接続され、出力端子が前記第 2の電極に接続されたインバータと; を具備する請求項10記載のマイクロビーム構造。 12.前記第1のトランジスタの前記第1の端子に接続された第1の端子を有し 、かつ前記第3の端子に接続された第2の端子を有するフィードバックインピー ダンスをさらに具備した請求項11記載のマイクロビーム構造。 13.前記第1の電極がセンス電極であり; 前記第2の電極が駆動電極である; 請求項12記載のマイクロビーム構造。 14.前記インバータが: 前記第1のトランジスタの前記第3の端子に接続された第1の端子を有し 、その第1の端子に接続された第2の端子、及び電圧端子に接続された第3の端 子を有する第2のトランジスタと; 前記第2の電極に接続された第1の端子を有し、前記第2のトランジスタ の第2の端子に接続された第2の端子を有し、かつ前記電圧端子に接続された第 3の端子を有する第3のトランジスタと; その第3のトランジスタの第1の端子に接続された第1の端子を有し、か つ前記基準端子に接続された第2の端子を有するインピーダンスと; を具備する請求項13記載のマイクロビーム構造。 15.前記ノンインバータが: 前記第1の電極に接続された第1の端子、電圧端子に接続された第2の端 子、及び前記第2の電極に接続された第3の端子を有するトランジスタと; そのトランジスタの第3の端子に接続された第1の端子及び前記基準端子 に接続された第2の端子を有する負荷インピーダンスと; を具備する請求項10記載のマイクロビーム構造。 16.前記ノンインバータが、前記トランジスタの前記第1の端子に接続された 第1の端子を有し、かつそのトランジスタの前記第2の端子に接続された第2の 端子を有するフィードバックインピーダンスをさらに具備する請求項15記載の マイクロビーム構造。 17.前記トランジスタがn‐チャンネル電界効果トランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がそれぞれゲート、ドレイ ン及びソースである請求項16記載のマイクロビーム構造。 18.前記トランジスタがバイポーラトランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がベース、コレクタ及びエ ミッタである; 請求項16記載のマイクロビーム構造。 19.サブストレート中に設けられ、基準端子に接続された第1のビームで、第 1の端部及び第2の端部がそのサブストレートに固定され、測定しようとする物 理パラメータの大きさに応じたそのサブストレートの曲げによってその第1の端 部と第2の端部との間に引張または圧縮が作用し、その引張または圧縮に応じて 決まる共振周波数を有し、その共振周波数が前記物理パラメータを指示する第1 のビームと; その第1のビームに近接して設けられ、その基準端子に接続された第2の ビームで、第1の端部及び第2の端部が第1のビームの第1及び第2の端部に固 定され、第1のビームと平行にかつ第1のビームから一定距離を隔てて配置され 、 第1のビームと同様の引張または圧縮が作用し、第1のビームが振動すると、そ の第1のビームと同じ共振周波数で振動し、かつ第1のビームに対して位相が1 80度ずれて振動するようにして第1のビームに機械的に結合された第2のビー ムと; その第2のビームに近い側である前記第1のビームの第2の側と反対の第 1のビームの第1の側に近接して設けられた第1の電極で、第1のビームが振動 するとき第1のビームに対して変化する第1の距離を有し、第1のビームの共振 周波数で前記第1の距離に逆比例して変化する第1のビームとの間の第1のキャ パシタンスを有する第1の電極と; 前記第1のビームに近い側である前記第2のビームの第2の側と反対の第 2のビームの第1の側に近接して設けられた第2の電極で、第2のビームが振動 するとき第2のビームに対して変化する第2の距離を有し、第2のビームの共振 周波数で前記第2の距離に逆比例して変化する第2のビームとの間の第2のキャ パシタンスを有する第2の電極と; 入力が前記第2の電極に接続され、出力が前記第1の電極に接続されたノ ンインバータと; を具備したトランジスタ共振一体化マイクロビーム構造。 20.前記ノンインバータが: 前記第2の電極に接続された第1の端子、前記基準端子に接続された第2 の端子、及び第3の端子を有する第1のトランジスタと; その第1のトランジスタの第3の端子に接続された第1の端子及び第1の 電圧端子に接続された第2の端子を有する負荷インピーダンスと; 入力端子が第1のトランジスタの第3の端子に接続され、出力端子が前記 第1の電極に接続されたインバータと; を具備する請求項19記載のマイクロビーム構造。 21.前記第1のトランジスタの第3の端子に接続された第1の端子を有しかつ 第1のトランジスタの第1の端子に接続された第2の端子を有するフィードバッ クインピーダンスをさらに具備した請求項20記載のマイクロビーム構造。 22.前記第1の電極がドライバ電極であり; 前記第2の電極がセンサ電極である; 請求項20記載のマイクロビーム構造。 23.前記インバータが: 第1の端子を有し、インバータの前記出力端子に接続された第2の端子を 有し、第2の電圧端子に接続された第3の端子を有する第2のトランジスタと; その第2のトランジスタの第1の端子に接続された第1の端子を有し、前 記基準端子に接続された第2の端子を有し、かつ第2のトランジスタの第2の端 子に接続された第3の端子を有する第3のトランジスタと; インバータの前記入力端子に接続された第1の端子を有し、かつ第2及び 第3のトランジスタの第1の端子に接続された第2の端子を有する入力インピー ダンスと; を具備する請求項22記載のマイクロビーム構造。 24.前記ノンインバータが: ノンインバータの前記入力端子に接続された第1の端子、電圧端子に接続 された第2の端子、及びノンインバータの前記出力端子に接続された第3の端子 を有するトランジスタと; そのトランジスタの第3の端子に接続された第1の端子及び前記基準端子 に接続された第2の端子を有する負荷インピーダンスと; を具備する請求項19記載のマイクロビーム構造。 25.前記ノンインバータが、前記トランジスタの第1の端子に接続された第1 の端子を有し、かつそのトランジスタの第2の端子に接続された第2の端子を有 するフィードバックインピーダンスをさらに具備する請求項24記載のマイクロ ビーム構造。 26.前記トランジスタがn‐チャンネル電界効果トランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がそれぞれゲート、ドレイ ン及びソースである請求項25記載のマイクロビーム構造。 27.前記トランジスタがバイポーラトランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がベース、コレクタ及びエ ミッタである; 請求項25記載のマイクロビーム構造。 28.サブストレート中に設けられた振動することが可能な第1のビームと; そのサブストレート中に第1のビームに近接して設けられた振動すること が可能な第2のビームと; 前記サブストレート中に前記第2のビームに近接して設けられた振動する ことが可能な第3のビームと; 前記第1のビームに近接し、第1のビームに対して第1のビームの振動運 動に応じて変化する値のキャパシタンスを有する第1の電極と; 前記第2のビームに近接し、第2のビームに対して第2のビームの振動運 動に応じて変化する値のキャパシタンスを有する第2の電極と; 前記第3のビームに近接し、第3のビームに対して第3のビームの振動運 動に応じて変化する値のキャパシタンスを有する第3の電極と; 入力が前記第1及び第3の電極に接続され、出力が前記第2の電極に接続 されたインバータと; を具備し、 前記第1、第2及び第3のビームの端部が前記サブストレートに固定され 、かつ基準端子に接続されており、是延期第1、第2及び第3のビームの端部に 加えられるある大きさを有する物理現象によって生じる引張または圧縮との関係 で変化する共振周波数を有し、その共振周波数が物理現象の大きさを指示する; トランジスタ共振一体化マイクロビーム構造。 29.前記インバータが: インバータの前記入力に接続された第1の端子、基準端子に接続された第 2の端子、及びインバータ前記出力に接続された第3の端子を有するトランジス タと; そのトランジスタの第3の端子に接続された第1の端子及び電圧端子に接 続された第2の端子を有する負荷インピーダンスと; を具備する請求項28記載のマイクロビーム構造。 30.前記第1及び第3の電極がそれぞれ前記第1及び第3のビームの振動運動 を検出する容量性検出電極であり; 前記第2の電極が前記第2のビームを駆動して前記共振周波数で振動させ る静電駆動電極てあり; 前記第1及び第3のビームが振動中の第2のビームに近接していることに よる機械的結合を介して前記共振周波数で振動するよう駆動される; 請求項29記載のマイクロビームこうぞう。 31.それぞれ前記トランジスタの第1及び第3の端子に接続された第1及び第 2の端子を有するフィードバック抵抗器をさらに具備した請求項30記載のマイ クロビーム構造。 32.前記トランジスタがn‐チャンネル電界効果トランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がそれぞれゲート、ソース 及びドレインである請求項31記載のマイクロビーム構造。 33.前記トランジスタがバイポーラトランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がベース、エミッタ及びコ レクタである; 請求項31記載のマイクロビーム構造。 34.サブストレートに固定された第1の端部、及び自由に振動する第2の端部 を有するビームと; そのビームに近接して、そのビームとの間にビームが振動すると変化する 第1のキャパシタンスを形成するように配置された第1の電極と; 前記ビームに近接して、そのビームとの間にビームが振動すると前記第1 のキャパシタンスと180度位相がずれて変化する第2のキャパシタンスを形成 するよう配置された第2の電極と; を具備したトランジスタ共振一体化マイクロビーム構造。 35.入力が前記第2の電極に接続され、出力が前記第1の電極に接続されたイ ンバータをさらに具備した請求項34記載のマイクロビーム構造。 36.前記インバータが: 前記第1の電極に接続された第1の端子、前記第2の電極に接続された第 2の端子、及び前記ビームに接続された第3の端子を有するトランジスタと; そのトランジスタの第1の端子に接続された第1の端子を有し、かつ電圧 端 子に接続された第2の端子を有する負荷インピーダンスと; を具備する請求項35記載のマイクロビーム構造。 37.前記トランジスタの第1の端子に接続された第1の端子を有し、かつその トランジスタの第2の端子に接続された第2の端子をさらに具備した請求項36 記載のマイクロビーム構造。 38.前記第1の電極が静電ドライバであり; 前記第2の電極が容量センサである; 請求項37記載のマイクロビーム構造。 39.少なくとも一端部がサブストレートに固定された少なくとも1本のビーム と; その少なくとも1本のビームに近接して設けられ、その少なくとも1本の ビームを駆動して振動させる静電駆動電極と; その少なくとも1本のビームに近接して設けられ、その少なくとも1本の ビームの振動を検出するための容量センス電極と; 入力がその容量センス電極に接続されたバッファ/増幅器回路と; を具備したトランジスタ共振一体化マイクロビーム構造。 40.前記バッファ/増幅器回路の出力が前記静電駆動電極に接続されている請 求項39記載のマイクロビーム構造。 41.各々の少なくとも一端部がサブストレートに固定された複数のビームで、 各ビームの振動がその複数のビームの中の少なくとも1本の他のビームに機械的 に結合されるよう、各々その複数の中のその少なくとも1本の他のビームに近接 して配置されている複数のビームと; その複数のビームの中の少なくとも1本のビームに近接して配置された少 なくとも1つの容量センス電極と; 前記複数のビームの中の少なくとも1本のビームに近接して配置された少 なくとも1つの静電駆動電極と; 入力がその少なくとも1つの容量センス電極に接続された回路と; を具備したトランジスタ共振一体化マイクロビーム構造。 42.前記回路の出力が前記少なくとも1つの静電駆動電極に接続された請求項 41記載のマイクロビーム構造。 43.前記回路がインバータである請求項42記載のマイクロビーム構造。 44.前記インバータが: 前記回路の前記入力に接続された第1の端子、前記回路の前記出力に接続 された第2の端子、及び前記複数のビームに電気的に接続された第3の端子を有 するトランジスタと; そのトランジスタの第2の端子に接続された第1の端子を有し、かつ電圧 端子に接続された第2の端子を有する負荷インピーダンスと; 前記トランジスタの第1の端子に接続された第1の端子を有し、かつその トランジスタの第2の端子に接続された第2の端子を有するフィードバックイン ピーダンスと; を具備する請求項43記載のマイクロビーム構造。 45.前記トランジスタがn‐チャンネル電界効果トランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がそれぞれゲート、ドレイ ン及びソースである請求項44記載のマイクロビーム構造。 46.前記トランジスタがバイポーラトランジスタであり; そのトランジスタの第1、第2及び第3の端子がベース、コレクタ及びエ ミッタである; 請求項44記載のマイクロビーム構造。 47.前記回路が前記複数のビーム中の少なくとも1本のビームに近接した少な くとも1つの静電駆動電極に駆動電圧を供給し、その駆動電圧がその複数のビー ムの中のその少なくとも1本のビームの速度と同相の成分を有する請求項42記 載のマイクロビーム構造。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/357,943 | 1994-12-16 | ||
US08/357,943 US5550516A (en) | 1994-12-16 | 1994-12-16 | Integrated resonant microbeam sensor and transistor oscillator |
PCT/US1995/016441 WO1996018873A1 (en) | 1994-12-16 | 1995-12-15 | Integrated resonant microbeam sensor and transistor oscillator |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10512046A true JPH10512046A (ja) | 1998-11-17 |
JP3694028B2 JP3694028B2 (ja) | 2005-09-14 |
Family
ID=23407670
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP51930196A Expired - Lifetime JP3694028B2 (ja) | 1994-12-16 | 1995-12-15 | 一体化共振マイクロビームセンサ及びトランジスタ発振器 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5550516A (ja) |
EP (3) | EP1132728A3 (ja) |
JP (1) | JP3694028B2 (ja) |
CA (1) | CA2205904C (ja) |
DE (1) | DE69528284T2 (ja) |
WO (1) | WO1996018873A1 (ja) |
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- 1995-12-15 JP JP51930196A patent/JP3694028B2/ja not_active Expired - Lifetime
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---|---|
US5550516A (en) | 1996-08-27 |
EP1132728A2 (en) | 2001-09-12 |
EP0797758B1 (en) | 2002-09-18 |
DE69528284D1 (de) | 2002-10-24 |
WO1996018873A1 (en) | 1996-06-20 |
EP1026491A3 (en) | 2001-01-31 |
EP1026491A2 (en) | 2000-08-09 |
EP0797758A1 (en) | 1997-10-01 |
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CA2205904A1 (en) | 1996-06-20 |
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CA2205904C (en) | 2009-05-26 |
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Date | Code | Title | Description |
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A02 | Decision of refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080701 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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