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JPH10199064A - データ記録装置及びデータ記録方法 - Google Patents

データ記録装置及びデータ記録方法

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Publication number
JPH10199064A
JPH10199064A JP9013195A JP1319597A JPH10199064A JP H10199064 A JPH10199064 A JP H10199064A JP 9013195 A JP9013195 A JP 9013195A JP 1319597 A JP1319597 A JP 1319597A JP H10199064 A JPH10199064 A JP H10199064A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
recording
period
pit
data
test pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP9013195A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomohiro Koda
朋弘 甲田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP9013195A priority Critical patent/JPH10199064A/ja
Priority to US09/001,172 priority patent/US5982714A/en
Priority to CN98104165A priority patent/CN1198569A/zh
Publication of JPH10199064A publication Critical patent/JPH10199064A/ja
Abandoned legal-status Critical Current

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    • G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G—PHYSICS
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  • Optics & Photonics (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 対物レンズやディスク等の汚れ等による環境
変化や光学部品及びディスク等の経時変化等の影響に対
応して記録レーザパワーを設定できるようにして、信頼
性が確保されたデータ記録装置を提供する。 【解決手段】 先にＳ極の印加磁界により初期化したデ
ィスクに、所定の一定期間ごとに設定された所定のレー
ザパルス出力期間によりＮ極を印加してテストパターン
記録を行う。そして、テストパターンの再生信号に基づ
いて、上記レーザパルス出力期間に対応して形成される
ピット記録領域Ａのトラック方向の長さが適正となるよ
うに調整して、記録レーザパワーを設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体に対する
データ記録装置及びデータ記録方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】可搬性メディアとしての光ディスク、光
磁気ディスクなどのディスク状記録媒体が普及してい
る。特にデータ書換可能な光磁気ディスク（ＭＯディス
ク）などはコンピュータユースのメディアとしても好適
とされている。
【０００３】ところで、光磁気ディスクに対して適正な
データ記録／再生を行うためには、記録時においてディ
スクに照射するレーザ光の出力パワー（以下、単に記録
レーザパワーという）が適切に設定されることが必要と
なるため、記録時において適正とされる記録レーザパワ
ーを設定する必要がある。
【０００４】そして従来においては、光学ピックアップ
内のフォトディテクタにおいて、レーザダイオードから
発光されるレーザ光の光量を電圧値に変換して検出を行
い、、この検出された電圧値に基づいて最適とされる記
録レーザパワーを設定するようにしていた。即ち、記録
レーザパワーの設定は光学ピックアップ内で完結してい
た。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところが、最適とされ
る記録レーザパワーは、例えばディスク上や光学ピック
アップを形成する対物レンズ上に付着する埃等の環境変
化や、光学ピックアップを形成する各種光学部品やディ
スク自体の経時変化等の条件によって変動することが分
かっている。このため、上述したような従来の光学ピッ
クアップ内における記録レーザパワーの設定方法では上
記のような条件変化に対応して常に最適となる記録レー
ザパワーを設定することが非常に困難となる。
【０００６】
【課題を解決するための手段】そこで本発明は、上記の
ような外部の環境変化や光学部品及びディスク等の経時
変化等の影響に対応して記録レーザパワーを設定できる
ようにして、信頼性が確保されたデータ記録装置を提供
することを目的とする。
【０００７】このため、記録データにより変調した変調
磁界を記録媒体に対して印加すると共に、記録媒体に対
して記録タイミングに応じてパルス発光されるレーザ光
を照射することにより記録媒体へのデータ記録を行うこ
とのできるデータ記録装置として、所定の極性の変調磁
界を印加して初期化された上記記録媒体上の記録領域
に、所定期間にわたってレーザ光をパルス発光させる第
１の期間と、所定期間にわたってレーザ光のパルス発光
を停止させる第２の期間とが交互のタイミングとなるよ
うに設定したうえで、上記第１の期間において、初期化
時とは逆極性の変調磁界を印加するようにしてテストパ
ターンの記録を行うテストパターン記録手段と、テスト
パターンの再生信号に基づいて、第１の期間の記録動作
により連続的に形成される物理的データ領域長、あるい
は特定の第１の期間の記録動作により形成される記録領
域の終了位置から次の第１の期間の記録動作により形成
される記録領域の開始位置までの物理的データ領域長を
検出可能な検出手段と、この検出手段の検出情報に基づ
いて物理的データ領域長が適正となるように記録時のレ
ーザ出力パワーを設定することのできる記録レーザパワ
ー設定手段とを備えて構成することとした。
【０００８】また、記録データにより変調した変調磁界
を記録媒体に対して印加すると共に、記録媒体に対して
記録タイミングに応じてパルス発光されるレーザ光を照
射することにより記録媒体へのデータ記録を行うことの
できるデータ記録方法として、所定の極性の変調磁界を
印加して初期化された上記記録媒体上の記録領域に、所
定期間にわたってレーザ光をパルス発光させる第１の期
間と、所定期間にわたってレーザ光のパルス発光を停止
させる第２の期間とが交互のタイミングとなるように設
定したうえで、上記第１の期間において、初期化時とは
逆極性の変調磁界を印加するようにしてテストパターン
の記録を行うテストパターン記録手順と、テストパター
ンの再生信号に基づいて、第１の期間の記録動作により
連続的に形成される物理的データ領域長、あるいは特定
の第１の期間の記録動作により形成される記録領域の終
了位置から次の第１の期間の記録動作により形成される
記録領域の開始位置までの物理的データ領域長を検出す
る検出手順と、この検出手順による検出情報に基づい
て、上記物理的データ領域長が適正となるように記録時
のレーザ出力パワーを設定することのできる記録レーザ
パワー設定手順と、この記録レーザパワー設定手順によ
り設定されたレーザ出力パワーにより、記録媒体に対す
るデータ記録を実行するようにされた記録手順とが実行
されるように構成することとした。
【０００９】上記構成によれば、実際に記録媒体に記録
したテストパターンにより得られる物理的データ領域長
を再生信号から検出し、検出した物理的データ領域長に
基づいて最適とされる記録レーザパワーを設定するよう
にされるが、これにより、外部の環境変化や光学部品及
びディスク等の経時変化等の条件変化を吸収したうえで
記録レーザパワーが設定されることになる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態とし
て、光磁気ディスクを記録媒体として用いる記録／再生
装置を例に挙げて説明する。なお、以降の説明は次の順
序で行うこととする。 ＜１．記録再生装置の構成＞ ＜２．本実施の形態の記録レーザパワー設定＞ （ａ．レーザストローブ磁界変調方式による通常記録動
作例） （ｂ．テストパターン記録動作例） （ｃ．再生信号時間長情報検出例） （ｄ．記録レーザパワー設定のための処理動作） （ｅ．他の実施の形態としてのテストパターン記録動作
例）
【００１１】＜１．記録再生装置の構成＞図１は記録再
生装置のブロック図である。この図に示す光磁気ディス
ク１は、スピンドルモータ２によって所定の回転数で回
転駆動される。スピンドルモータ２の回転速度サーボ制
御はスピンドル制御部３によって行なわれる。例えばス
ピンドル制御部３はスピンドルモータ２からのＦＧパル
ス（回転速度に同期した周波数信号）などによりスピン
ドルモータ２の回転速度を検出するとともに、コントロ
ーラ６から基準速度情報ＳＫが供給され、基準速度情報
ＳＫとスピンドルモータ２の回転速度を比較して、その
誤差情報に基づいてスピンドルモータ２の加減速を行な
うことで所要の回転速度でのディスク回転動作を実現さ
せる。
【００１２】回転されている光磁気ディスク１に対して
は、光学ピックアップ４からのレーザ光が照射される。
光学ピックアップ４には、例えばレーザダイオードやレ
ーザカプラなどによるレーザ光源４ｃ、各種レンズやビ
ームスプリッタなどによる光学系４ｅ、レーザ光の出力
端となる対物レンズ４ａ、ディスクからの反射光を検出
するディテクタ４ｄ、対物レンズ４ａをトラッキング方
向及びフォーカス方向に移動可能に保持する２軸機構４
ｂ等が設けられる。光学ピックアップ４においてレーザ
光源４ｃからのレーザ出力のオン／オフ及び出力レベル
はレーザ制御部５によって制御される。
【００１３】この記録再生装置は、そのインターフェー
ス部１９によりホストコンピュータ９０と接続される
が、データの記録／再生動作はコントローラ６がホスト
コンピュータ９０からの記録要求、再生要求を受け取る
ことにより実行されることになる。記録時にはホストコ
ンピュータ９０から、記録要求とともに記録すべきデー
タが供給される。記録データＤREC はインターフェース
部１９からエンコーダ２５に供給され、所要のエンコー
ド処理が行なわれる。
【００１４】本実施の形態の記録再生装置は、記録方式
としてレーザストローブ磁界変調方式が採用される。こ
の記録方式の場合には、記録時においてコントローラ６
はレーザ制御部５に対してレーザ光源４ｃからのレーザ
出力をパルス発光させるように制御を行なう。そしてエ
ンコーダ２５でエンコードされた記録データは、磁気ヘ
ッドドライバ２６に供給され、磁気ヘッドドライバ２６
は、記録データに応じて磁気ヘッド２７からＮ又はＳの
磁界を印加する。これによって記録データが磁界情報と
してディスク１に記録される。なお、その記録動作の具
体例については後述する。
【００１５】光学ピックアップ４によるデータ読取位置
は半径方向に移動可能とされている。具体的には図示し
ていないが、光学ピックアップ４の全体をディスク半径
方向に移動可能とするスレッド機構が設けられ、これに
よって読取位置の大きい移動が行なわれるとともに、対
物レンズ４ａが２軸機構４ｂにディスク半径方向に移動
される、即ちトラッキングサーボ動作により読取位置の
小さい移動が行なわれる。
【００１６】なお、光学ピックアップ４を移動させるス
レッド機構に代えて、スピンドルモータ２とともにディ
スク１をスライド移動させる機構を設けてもよい。ま
た、対物レンズ４ａが２軸機構４ｂにディスク１に対し
て接離する方向に移動されることで、レーザスポットＬ
ＳＰのフォーカス制御が行なわれる。
【００１７】光学ピックアップ４のディテクタ４ｄとし
ては例えば４分割の受光領域を有する４分割ディテクタ
や、磁界データを磁気カー効果による偏光成分ごとの検
出を行ない、光磁気データとしてのＲＦ信号を得るディ
テクタ等が設けられる。
【００１８】このディテクタ４ｄの各受光領域からは、
それぞれ受光光量に応じた電流信号Ｓ１が出力される
が、これらはＩ／Ｖ変換マトリクスアンプ７に供給され
る。Ｉ／Ｖ変換マトリクスアンプ７では、受光光量信号
Ｓ１について電流−電圧変換を行なうとともに、各受光
領域からの信号の演算処理でＲＦ信号、プッシュプル信
号、フォーカスエラー信号ＦＥ等の必要な信号を生成す
る。
【００１９】フォーカス状態の誤差情報となるフォーカ
スエラー信号ＦＥはサーボコントローラ８に供給され
る。サーボコントローラ８にはフォーカス系の処理部と
してフォーカス位相補償回路やフォーカスドライバなど
が搭載されており、フォーカスエラー信号ＦＥに基づい
たフォーカスドライブ信号を発生させて２軸機構４ｂの
フォーカスコイルに印加する。これによって対物レンズ
４ａをジャストフォーカスポイントに収束させるフォー
カスサーボ系が構成される。
【００２０】Ｉ／Ｖ変換マトリクスアンプ７からは、サ
ーボクロックＳＣＫやデータクロックＤＣＫの生成のた
めに用いるＲＦ信号が信号Ｓ２として出力される。上記
信号Ｓ２はクランプ回路９でＲＦ信号の低周波数変動が
除去され、Ａ／Ｄ変換器１０でデジタル化された信号Ｓ
３となる。この信号Ｓ３はコントローラ６、ＰＬＬ回路
１１、及びトラッキングエラー生成部１６に供給され
る。
【００２１】ＰＬＬ回路１１では信号Ｓ３と発振出力の
位相誤差に基づいて内部発振器の発振周波数を制御する
こと、及び所定の分周処理を行なうことで、ＲＦ信号に
同期したサーボクロックＳＣＫを発生させる。このサー
ボクロックＳＣＫはＡ／Ｄ変換器１０でのサンプリング
クロックとして用いられるとともに、タイミングコント
ローラ１７に供給される。またＰＬＬ回路１１ではサー
ボクロックＳＣＫを分周してデータクロックＤＣＫが生
成され、タイミングコントローラ１７、レーザ制御部５
に供給される。またＡ／Ｄ変換器１３でのサンプリング
クロックとして用いられる。
【００２２】タイミングコントローラ１７はサーボクロ
ックＳＣＫ、データクロックＤＣＫに基づいて、各部に
対して必要なタイミング信号を発生させる。例えば３相
トラッキング動作のためのサーボピットを抽出するサン
プリングタイミングＰｓ、データ検出部１４でのデコー
ド動作のための同期タイミングＤＳＹ等を発生させる。
【００２３】ＰＬＬ回路１１、タイミングコントローラ
１７、トラッキングエラー生成部１６により、いわゆる
３相トラッキング制御によるトラッキングエラー信号Ｔ
Ｅが生成され、サーボコントローラ８に説明する。
【００２４】Ｉ／Ｖ変換マトリクスアンプ７からは、デ
ータ抽出のために用いるＲＦ信号やプッシュプル信号が
信号Ｓ４として出力される。この信号Ｓ４はクランプ回
路１２でＲＦ信号の低周波数変動が除去され、Ａ／Ｄ変
換器１３でデジタル化された信号Ｓ５となる。また、本
実施の形態においては、信号Ｓ４は、積分回路３０に対
しても分岐して供給される。積分回路３０においては、
後述するようにして記録されるテストパターンの再生Ｒ
Ｆ信号を入力して、例えばその再生信号の値が「１（こ
の場合はＮ極）」とされているデータ部分、若しくはそ
の値が「０（この場合Ｓ極）」とされているデータ部分
の積分出力を得て、これを再生信号時間長情報信号Ｓ・
ｄH としてコントローラ６に出力する。
【００２５】また、信号Ｓ５はデータ検出部（即ちデコ
ーダ）１４に供給される。データ検出部１４ではタイミ
ングコントローラ１７がデータクロックＤＣＫに基づい
て発生させる同期タイミングＤＳＹに基づいてデータデ
コード処理を行ない、再生データＤPBを得る。例えば波
形等化処理、記録フォーマットとして採用されている変
調処理に対する復調処理、エラー訂正処理等が行なわれ
再生データＤPBとしてエンコードされる。この再生デー
タＤPBはインターフェース部１９を介してホストコンピ
ュータ９０に供給されることになる。
【００２６】＜２．本実施の形態の記録レーザパワー設
定＞ （ａ．レーザストローブ磁界変調方式による通常記録動
作例）次に、本実施の形態の記録レーザパワーの設定動
作について説明する。ところで、本実施の形態において
は、前述のように記録方式としてレーザストローブ磁界
変調方式が採用されていることから、これより説明する
本実施の形態の記録レーザパワーの設定に際しても、レ
ーザストローブ磁界変調方式に基づいてテストパターン
を記録することが行われる。そこで、先にレーザストロ
ーブ磁界変調方式による通常記録動作例について図２を
参照して説明する。
【００２７】例えば、図２（ａ）に示す期間ｔ１〜ｔ１
２による時間経過のタイミングに従って、図２（ｂ）に
示すパターンにより記録データＤREC が得られていると
すると、この記録データＤREC に基づいて磁気ヘッド２
７から出力される変調磁界としては、例えば、図２
（ｄ）に示すような波形により示されることになる。こ
の場合には「１」のデータがＮ極に対応し、「０」のデ
ータがＳ極に対応するように変調されている。
【００２８】そして、上記図２（ｄ）に示す変調磁界に
対して、図２（ｃ）に示すタイミングでレーザ光がパル
ス出力されるごとに、光磁気ディスク１のトラック上に
は図２（ｅ）に示すようにして記録ピットＰ１〜Ｐ１２
が順次形成されていくことになる。 図２（ｅ）に示す
記録ピットＰ１〜Ｐ１２は、それぞれ期間ｔ１〜ｔ１２
に記録された記録ピットであることを示している。つま
り、記録ピットＰ１〜Ｐ１２は、各期間ｔ１〜ｔ１２に
出力されている記録データに対応して記録されたもので
ある。この場合には、Ｎ極として形成された記録ピット
（即ち「１」のデータである）を斜線により示してい
る。
【００２９】この図から分かるように、通常の記録状態
において記録ピットが形成される場合には、直前に形成
された記録ピットの一部を上書きするようにして次の記
録ピットを記録していくようにされている。また、例え
ば期間ｔ１２が最後の記録動作であるとすると、このと
きに対応して光磁気ディスク１に記録された記録ピット
Ｐ１２は、図のように記録ピットとしての全体形状が上
書きされずに残る状態となる。
【００３０】（ｂ．テストパターン記録動作例）次に、
図３及び図４を参照して、記録レーザパワー設定のため
にディスクに対して記録するテストパターンについて説
明する。このテストパターンの記録は、例えばディスク
１において所要のテスト記録／再生を行うためのテスト
領域に対して行われるものとされる。テストパターンの
記録に際しては、先ず、ディスクのテスト領域内におけ
る所定領域（トラック）をすべて同一極性によるデータ
により連続記録する初期化動作が行われる。この状態を
図３に示す。この場合には、図３（ａ）に示すようにし
て期間ｔ１〜ｔ１１が経過するのに従って形成される記
録ピットＰ１〜Ｐ１１が、図３（ｂ）に示すようにすべ
てＳ極となるようにしてトラックに対する記録が行われ
ている。
【００３１】上記のようにして初期化を行った後は、こ
の初期化を行った記録トラックに対して、図４に示すよ
うにしてテストパターンを記録するための記録動作に移
行する。この際の記録動作としては、例えば図４（ａ）
に示す期間ｔ１，ｔ２においてはレーザパルスを出力せ
ずに、期間ｔ３においてレーザパルスの出力を開始し
て、続く期間ｔ４，ｔ５まで、そのレーザパルスの出力
を継続する。つまり、この場合には期間ｔ３〜ｔ５にわ
たってレーザパルスを３回連続して出力するようにされ
る。そして、この場合には、続く期間ｔ６〜ｔ８にわた
っては、レーザパルスの出力を停止するようにしてい
る。つまり３回分のレーザパルスの出力が連続して停止
されることになる。以降は、上記期間ｔ３〜ｔ８におけ
るレーザパルスの出力動作を、所定回数繰り返すように
される。
【００３２】そして、この際、磁気ヘッド２７からディ
スク１に印加される変調磁界（記録磁界）としては、図
４（ｃ）に示す波形によるものを印加するようにされ
る。つまり、レーザ光をパルス出力する期間ｔ３〜ｔ５
及び、期間ｔ９〜ｔ１１において、先に初期化した時に
与えた変調磁界とは逆極性のＮ極を印加するようにして
いる。
【００３３】この結果、トラックに記録される記録ピッ
トとしては、図３（ｂ）に示す状態から図４（ｅ）に示
す状態に変化することになる。この場合、記録ピットＰ
１及びＰ２は、図３にて説明した初期化時に記録された
Ｓ極のままとされ、続く記録ピットＰ３〜Ｐ５は、期間
ｔ３〜ｔ５において出力されたレーザパルスにより、連
続してＮ極が記録されることになる。そして、期間ｔ６
〜ｔ８において新たなピットの記録が行われなかったこ
とにより、期間ｔ５に記録された記録ピットＰ５は、そ
の全体形状が上書きされずに残った状態となっている。
また、記録ピットＰ６〜Ｐ８は、期間ｔ６〜ｔ８におい
てレーザパルスが出力されずに記録が行われなかったこ
とで、初期化時にＳ極として記録されたままの状態とな
る。ただし、図によれば記録ピットＰ６及びＰ７の一部
は、記録ピットＰ５により上書き消去されている。続く
記録ピットＰ９〜Ｐ１１は、期間ｔ３〜ｔ５と同様に、
レーザ光がパルス出力されて記録が行われたことによ
り、連続してＮ極の記録ピットが形成されている。
【００３４】本実施の形態においては、記録ピットＰ３
〜Ｐ５（及び記録ピットＰ９〜Ｐ１１）により形成され
るＮ極の連続記録領域をピット記録領域Ａということに
し、記録ピットＰ６〜Ｐ８において、上記ピット記録領
域Ａにより消去されなかったＳ極としての残りの領域を
ピット未記録領域Ｂともいうことにする。これまでの説
明から分かるように、本実施の形態のテストパターンと
しては、図４（ｅ）に示すピット記録領域Ａ及びピット
未記録領域Ｂが交互に繰り返される物理的記録状態が、
所定回数繰り返されることになる。
【００３５】なお、上記のようなテストパターンを得る
ためには、図４における期間ｔ３〜ｔ５及び期間ｔ９〜
ｔ１１に対応する期間において、変調磁界としてＮ極が
印加されていればよいことになり、他の期間においては
変調磁界の極性は無関係となる。従って、例えば図４
（ｃ）に示す波形による変調磁界に代えて、図４（ｄ）
に示すような変調磁界を印加しても構わないことにな
る。また、この図においてはテストパターン記録時にお
けるレーザパルスの連続出力期間及び停止期間は、それ
ぞれレーザパルスの出力タイミングとして３回分に相当
する期間が設定されているがこれに限定されるものでは
ない。つまり、後述するように、記録レーザパワーが相
当に大きくなってピット記録領域Ａが拡大したとして
も、隣り合うピット記録領域Ａが重複しないように考慮
したうえで、レーザパルスの連続出力期間と停止期間の
それぞれが、各種条件等の変更に応じて適宜設定されれ
ばよいものである。
【００３６】（ｃ．再生信号時間長情報検出例）次に、
上記テストパターンを再生することにより検出される再
生信号時間長情報について説明する。この再生信号時間
長情報は、後述するようにしてコントローラ６が最適な
記録レーザパワーを設定するのに利用される。ところ
で、記録ピットのサイズ（ピッチ）は、記録レーザパワ
ーの強度に対応して変化する。従って、適正な記録／再
生結果が得られるときの記録レーザパワーに対応して形
成される記録ピットのサイズも一義的に決定されること
になる。そこで本実施の形態においては、適正な記録／
再生結果が得られるときの記録ピットのサイズに対応す
る記録レーザパワーを最適なレーザパワーとして定義す
るようにされる。そして本実施の形態では、以降説明す
るようにして、テストパターンを再生して得られる再生
信号における所定の波形パターンの再生時間長を、記録
ピットのサイズに対応するものとして検出するものであ
る。
【００３７】図５（ａ）（ｂ）（ｃ）は、それぞれ異な
る記録レーザパワーによってテストパターンを記録した
際に得られる記録ピットＰ１〜Ｐ１１が示されている。
この記録ピットＰ１〜Ｐ１１は、先に図３及び図４によ
り説明したテストパターンの記録動作により記録される
ものである。図５（ａ）は最適とされる記録レーザパワ
ーＰ0 により記録されたとされる記録ピットＰ１〜Ｐ１
１のパターンが示されている。これに対して、図５
（ｂ）には最適な記録レーザパワーＰ0 よりも弱い記録
レーザパワーＰL により記録された記録ピットＰ１〜Ｐ
１１のパターンが示され、図５（ｃ）には記録レーザパ
ワーＰ0 よりも強い記録レーザパワーＰH により記録さ
れた記録ピットＰ１〜Ｐ１１のパターンが示されてい
る。
【００３８】これらの図から分かるように、Ｎ極として
のデータが連続して記録された記録ピットＰ３〜Ｐ６に
より形成されるピット記録領域Ａのトラック方向に添っ
た長さ（ピット記録領域長）ＬH 及び、図４におけるテ
ストパターンの記録段階で記録が行われなかったことに
より、結果的に初期化時のＳ極が記録されている記録ピ
ットＰ６の終了位置と記録ピットＰ９の開始位置間（ピ
ット未記録領域Ｂ）の長さ（ピット未記録領域長）ＬL
は、記録レーザパワーにより異なってくることが理解さ
れる。具体的には、ピット記録領域長ＬH は記録レーザ
パワーが強くなるのに従って拡大していく。これは、記
録レーザパワーが強くなるのに応じて、記録ピットのサ
イズが拡大していくことに起因する。これに対して、ピ
ット未記録領域長ＬLは、記録レーザパワーが強くなる
のに従って短縮されていく。これは、記録レーザパワー
が強くなるのに応じて、例えば、Ｎ極の記録ピットＰ５
及び記録ピットＰ９により、ピット未記録領域Ｂを上書
きする領域がトラック方向にも伸長していくことに起因
する。
【００３９】図６（ｂ）（ｃ）（ｄ）は、それぞれ上記
図５（ａ）（ｂ）（ｃ）に示したテストパターンを再生
して得られる再生ＲＦ信号の状態を時間経過と共に示す
波形図であり、図６（ａ）は、時間軸について記録時の
期間ｔ１〜ｔ１１（図４参照）に対応するようにして示
している。図６（ｂ）（ｃ）（ｄ）に示すようにして得
られるテストパターンの再生信号波形に対して、それぞ
れ所定の直流レベルＶ0 を設定したとすると、この再生
信号を時間軸的にみた場合には、テストパターンの再生
信号が直流レベルＶ0 以上となる区間に相当するピット
記録領域再生時間ｄH と、再生信号が直流レベルＶ0 以
下となる区間に相当するピット未記録領域再生時間ｄL
とが繰り返される信号波形と見ることが出来る。そし
て、図５（ａ）（ｂ）（ｃ）に示したピット記録領域長
ＬH 及びピット未記録領域長ＬL は、それぞれ図６
（ｂ）（ｃ）（ｄ）に示すピット記録領域再生時間ｄH
と、ピット未記録領域再生時間ｄL に対応するものとみ
ることができる。即ち、ピット記録領域再生時間ｄH
は、ピット記録領域長ＬH を再生して得られる区間に相
当し、ピット未記録領域再生時間ｄL はピット未記録領
域長ＬL を再生して得られる区間に相当することにな
る。
【００４０】そして、図６（ｂ）（ｃ）（ｄ）から分か
るように、ピット記録領域再生時間ｄH は、ピット記録
領域長ＬH と同様に、記録レーザパワーが強くなるのに
対応して拡大していく性質を有している。また、ピット
未記録領域再生時間ｄL は記録レーザパワーが強くなる
のに従って短縮していく性質を有していることになる。
この記録レーザパワーＰに対するピット記録領域再生時
間ｄH ，ピット未記録領域再生時間ｄL の関係を、それ
ぞれ図６（ｅ）及び図６（ｆ）に示す。なお、本実施の
形態においては、ピット記録領域再生時間ｄH あるいは
ピット未記録領域再生時間ｄL （即ち再生時間長情報）
について、この区間の信号を積分回路３０（図１参照）
に入力して得られる積分値により求めるようにされる
が、ピット記録領域再生時間ｄH 及びピット未記録領域
再生時間ｄL についての積分値と、記録レーザパワーＰ
との関係も、それぞれ図６（ｅ）及び図６（ｆ）と同様
の特性が得られることになる。
【００４１】そして、本実施の形態においては、記録時
において最適とされる記録レーザパワーを次のようにし
て設定する。例えば、ピット記録領域長ＬH に対応する
ピット記録領域再生時間ｄH を再生時間長情報として設
定した場合を例に採ると、本実施の形態においては、予
め試験などにより最適な記録／再生動作が期待されると
される記録ピットのサイズに対応して得られるピット記
録領域再生時間ｄH0を求めておくようにされる。
【００４２】図７は、図６（ｅ）と同様の記録レーザパ
ワーＰに対するピット記録領域再生時間ｄH との関係を
示しているが、例えば図の縦軸において破線により示す
位置が最適なピット記録領域再生時間ｄH0であるとした
場合、本実施の形態ではこのピット記録領域再生時間ｄ
H0が得られた時の記録レーザパワーＰ0 を、最適な記録
レーザパワーとして設定するようにされる。なお、ピッ
ト未記録領域再生時間ｄL を再生時間長情報として設定
した場合については、詳しい説明は省略するが、ピット
記録領域再生時間ｄH の場合と同様に、最適な記録／再
生動作が期待される記録ピットのサイズに対応したピッ
ト未記録領域再生時間ｄL を予め求めておき、この最適
とされるピット未記録領域再生時間ｄL が得られた時の
記録レーザパワーＰ0 を、最適な記録レーザパワーとし
て設定することになる。
【００４３】（ｄ．記録レーザパワー設定のための処理
動作）図８は、本実施の形態の記録レーザパワー設定の
ための処理動作を示すフローチャートである。なお、こ
こでは図５に示したピット記録領域Ａの部分を再生する
ことにより得られるピット記録領域再生時間ｄH を再生
時間長情報として利用した場合について説明する。ま
た、この処理はコントローラ６により実行される。この
図に示すルーチンにおいては、先ずステップＳ１０１に
おいて記録レーザパワー設定モードにが設定される。こ
の記録レーザパワー設定モードに移行する条件として
は、例えば当該記録再生装置に対して光磁気ディスク１
が装填されるごと（あるいは所定回数ごと）に行うこと
も考えられるし、一定期間ごとにおいて記録レーザパワ
ーの設定を行うようにすることも考えられる。なお、ス
テップＳ１０１においては、既に光磁気ディスク１が装
填されているものとする。
【００４４】続くステップＳ１０２においては、図３及
び図４に示した手順によりテストパターンを記録するた
めに、光磁気ディスク１のテスト領域に対してアクセス
するための制御処理を実行する。ステップＳ１０２によ
るアクセス処理が完了すると、続くステップＳ１０３に
おいて、図３にて説明した０パターン（Ｓ極としてのデ
ータパターン）を記録する、ディスク初期化のための制
御処理を実行する。
【００４５】次に、コントローラ６は、ステップＳ１０
４において記録レーザパワーＰについて予め規定された
初期値に設定し、続くステップＳ１０５において図４に
て説明したテストパターンの記録を実行する。この後コ
ントローラ６は、ステップＳ１０６の処理としてテスト
パターンを再生する。このテストパターンを再生した場
合には、その再生ＲＦ信号である信号Ｓ４が積分回路３
０に供給される。この場合、積分回路３０においては、
入力されたテストパターンの再生信号のうち、ピット記
録領域Ａ（図４参照）に対応して得られる再生信号の区
間について積分を行い、この積分値によりピット記録領
域再生時間ｄH を示す再生信号時間長情報信号Ｓ・ｄH
を出力する。なお、積分回路３０においては、例えば、
ピット記録領域Ａの再生信号の１区間のみについて積分
を行うようにすることも考えられるが、繰り返し入力さ
れるピット記録領域の再生信号の区間ごとに積分を行
い、この積分値についての平均値を取るようにすること
も考えられ、この場合には検出精度が向上する。
【００４６】ステップＳ１０６に続くステップＳ１０７
において、コントローラ６は、積分回路３０から入力し
た再生信号時間長情報信号Ｓ・ｄH から、先にステップ
Ｓ１０３にて記録されたピット記録領域についてのピッ
ト記録領域再生時間ｄH を識別してステップＳ１０８に
進む。ステップＳ１０８においては、上記ステップＳ１
０７にて識別されたピット記録領域再生時間ｄH と、予
め設定された最適ピット記録領域再生時間ｄH0とについ
て比較を行い、 ｄH ＞ｄH0−Δｄ・・・（式１） とされているか否かについて判別を行う。ここで値Δｄ
は、最適ピット記録領域再生時間ｄH0を基準として予め
設定された所定のマージン値とされる。
【００４７】ステップＳ１０８において、上記（式１）
が成立しないと判別された場合、即ち、ステップＳ１０
７にて識別されたピット記録領域再生時間ｄH が、最適
とされるピット記録領域再生時間（ｄH0−Δｄ）を下回
ると判別された場合には、ステップＳ１０９に進む。ス
テップＳ１０８において否定結果が得られた場合とは、
記録レーザパワーが適正値よりも低いために、ピット記
録領域長が適性状態よりも小さい（例えば図５（ｂ）に
示す状態に相当する）場合である。このため、ステップ
Ｓ１０９においては、現在の記録レーザパワーＰについ
て、 Ｐ＝Ｐ＋ΔＰ・・・（式２） で表されるように、所定値ΔＰ分のパワーアップを行う
ように設定する処理を実行し、この後ステップ１０５に
戻るようにされる。このようにして、ステップＳ１０９
を経てステップＳ１０５以降の処理が実行されることに
より、ステップＳ１０８において（式１）が成立すると
判別されるまで、値ΔＰ分づつパワーアップされたレー
ザパワーＰによるテストパターンの記録動作と、これに
続く再生動作及びピット記録領域再生時間ｄH の検出動
作が繰り返されることになる。そして、ステップＳ１０
８において（式１）が成立したと判別された場合には、
ステップＳ１１０に進むことになる。
【００４８】ステップＳ１１０においては、先のステッ
プＳ１０７にて識別されたピット記録領域再生時間ｄH
と、予め設定された最適ピット記録領域再生時間ｄH0と
について比較を行い、 ｄH ＜ｄH0＋Δｄ・・・（式３） とされているか否かについて判別を行う。ここでも値Δ
ｄは、最適ピット記録領域再生時間ｄH0を基準として予
め設定された所定のマージン値とされる。
【００４９】ステップＳ１１０において、上記（式３）
が成立しないと判別された場合には、ステップＳ１０７
にて識別されたピット記録領域再生時間ｄH が、最適ピ
ット記録領域再生時間（ｄH0＋Δｄ）を上回ると判別さ
れたことになる。このようにステップＳ１１０において
否定結果が得られた場合とは、記録レーザパワーが適正
値よりも高いために、ピット記録領域長が適性状態より
も大きい（例えば図５（ｃ）に示す状態に相当する）場
合である。この場合にはコントローラ６はステップＳ１
１１に進み、現在の記録レーザパワーＰについて、 Ｐ＝Ｐ−ΔＰ・・・（式４） で表されるように、所定値ΔＰ分のパワーダウンを行う
ように設定する処理を行い、この後にステップ１０５に
戻るようにされる。この場合には、ステップＳ１０５以
降の処理が実行されるされることにより、ステップＳ１
１０において（式１）が成立すると判別されるまで、値
ΔＰ分づつパワーダウンされた記録レーザパワーＰによ
るテストパターンの記録動作と、これに続く再生動作及
びピット記録領域再生時間ｄH の検出動作が繰り返され
ることになる。そして、ステップＳ１１０において（式
１）が成立したと判別された場合には、ステップＳ１１
２に進むことになる。本実施の形態では、ステップＳ１
０８及びＳ１１０の両者において肯定結果が得られるこ
とにより、現在の記録レーザパワーＰにより記録された
ピット記録領域についてのピット記録領域再生時間ｄH
は、 ｄH0−Δｄ＜ｄH ＜ｄH0＋Δｄ・・・（式５） の範囲内にあることになる。即ち、現在の記録レーザパ
ワーＰにより記録されたピット記録領域長ＬH が適正な
ものであると判断されることになる。
【００５０】そして、ステップＳ１１２においては、現
在の記録レーザパワーＰについて最適記録レーザパワー
Ｐ0 として設定するための処理を実行して記録レーザパ
ワー設定モードを終了するようにされる。そして以降の
通常記録動作時においては、上記ステップＳ１１２にお
いて設定された最適記録レーザパワーＰ0 によるディス
クへの記録が行われることになる。
【００５１】このように本実施の形態では、実際にディ
スクに記録されるピット記録領域長ＬH （あるいはピッ
ト未記録領域長ＬL ）が最適となるようにして記録レー
ザパワーを設定するようにしていることから、この際に
設定される記録レーザパワーは、例えばディスクや対物
レンズなどに付着したごみ等による環境変化や、光学ピ
ックアップやディスク等の経時変化などの条件の変動を
吸収して設定されたものとなっている。この結果、本実
施の形態では上記のような条件変化に対応して常に最適
とされる記録レーザパワーを設定することが可能とな
る。
【００５２】なお、詳しい説明は省略するが、ピット未
記録領域Ｂの部分を再生することにより得られるピット
未記録領域再生時間ｄL を再生時間長情報として利用し
た場合も、上記図８に示したフローチャートに準ずる処
理動作によって実現することが可能である。具体的に
は、積分回路３０についてピット未記録領域再生時間ｄ
L の積分出力が得られるように構成した上で、ステップ
Ｓ１０７においてピット未記録領域再生時間ｄL を識別
するようにする。また、ピット未記録領域再生時間ｄL
は、先に図６（ｆ）により示したように、記録レーザパ
ワーが強くなるのに応じてその値が小さくなるように変
化することから、ステップＳ１０８においては、 ｄL ＜ｄL0＋Δｄ（値ｄL0は所定のマージン値）・・・（式６） について成立するか否かが判別されることになり、ステ
ップＳ１１０においては、 ｄL ＞ｄL0−Δｄ・・・（式７） について成立するか否かが判別されることになる。
【００５３】（ｅ．他の実施の形態としてのテストパタ
ーン記録動作例）図９は、本発明の他の実施の形態とし
てのテストパターン記録動作例を示すものであり、図４
と同一部分については同一符号を付して説明を省略す
る。この場合には、例えば、レーザパルスを出力する期
間ｔ３〜ｔ６、及びｔ９〜ｔ１１の各直前期間である期
間ｔ２、ｔ８において、図９（ｂ）に示すようにレーザ
パルスを出力するようにしている。ただし、この期間ｔ
２、ｔ８において磁気ヘッド２７から印加される変調磁
界の極性は、図９（ｃ）に示すようにＳ極とされる。こ
のような、図９（ｂ）に示すようにレーザパルスの出力
タイミングと、図９（ｃ）に示す変調磁界により記録さ
れるテストパターンは、結果的には、図４（ｅ）に示す
テストパターンと変わることはない。ただし、この場合
には、期間ｔ２、ｔ８に対応するＳ極データに対応する
記録ピットＰ２、Ｐ８は、テストパターン記録時におい
て再度、強制的に記録されることになる。
【００５４】例えば、通常記録時においてはレーザパル
スが連続してパルス出力されるために、レーザ光が照射
されたディスク記録面には、レーザ光照射後もある程度
の余熱を持つことになる。これに対して、例えば、図４
に示したレーザパルスの出力タイミングによりテストパ
ターンの記録を行った場合、レーザパルスが連続してパ
ルス出力されない期間（例えば期間ｔ１〜ｔ２，期間ｔ
６〜ｔ８）があるが、この期間のディスク記録面は、通
常記録時よりも相当に低い温度状態にあることになる。
そして、図４に示すテストパターンの記録方法では、こ
の低温度の状態のディスク記録面に対して、例えば期間
ｔ３及び期間ｔ９においてＮ極の記録ピットＰ３，Ｐ９
を記録することになる。このため、記録ピットＰ３，Ｐ
９の記録時にはディスク記録面の温度が通常時よりも低
い状態にあることになって、結果的に記録ピットＰ３，
Ｐ９は通常よりも小さいものとなる可能性がある。これ
に対して、図９に示すようにしてテストパターンを記録
した場合には、記録ピットＰ３，Ｐ９を記録する直前の
期間に於いてレーザパルスを出力してＳ極のデータを記
録するようにしているため、上記のような低温度の状態
からＳ極の記録ピットを記録することが防止されること
になる。これにより、記録ピットＰ３，Ｐ９が適正なサ
イズで記録される可能性が非常に高くなり、それだけピ
ット記録領域長ＬH 又はピット未記録領域長ＬL の検出
精度も容易に向上させることが可能となる。なお、図９
では、ピット記録領域Ａを記録する直前において、Ｎ極
の記録ピットを１つ記録するようにしているが、これは
あくまでも一例であり、２つ以上のＮ極の記録ピットを
連続的に記録するようにしても構わない。
【００５５】また、本発明は上記各実施の形態として具
体的に示したものに限定されず、諸条件に応じて適宜変
更可能である。例えば、上記実施の形態においては、ピ
ット記録領域長ＬH 又はピット未記録領域長ＬL を再生
信号時間長として検出するために積分回路３０を設け、
この積分回路３０により得られる再生信号の積分値を利
用するようにしているが、上記積分回路３０の代わり
に、例えば、ピット記録領域長ＬH 又はピット未記録領
域長ＬL の区間を再生した再生信号をカウンタやタイマ
に入力するようにし、このカウンタやタイマの出力に基
づいて、その再生信号時間長を検出するようにしても構
わない。また、本発明としては、レーザストローブ磁界
変調方式により各種記録媒体に対して記録を行うように
構成された他の種類の記録装置に適用することは当然可
能である。
【００５６】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、実際に記
録媒体に記録したテストパターンにおける特定の物理的
なデータ領域長が適正となるようにして記録レーザパワ
ーを設定するようにしたことで、例えばディスクやレン
ズに付着した埃等による環境変化や、光学部品及びディ
スク等の経時変化、感度の固体差等の影響を吸収するよ
うにして記録レーザパワーを設定できることになる。つ
まり、上記のような条件変化による適正な記録レーザパ
ワーの変動に対応して補正を行うことが可能となる。そ
して、これによって信頼性が確保されたデータ記録装置
が得られることにもなる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態としての記録再生装置の構成を示
すブロック図である。
【図２】レーザストローブ磁界変調方式による通常記録
動作を説明するための説明図である。
【図３】本実施の形態のテストパターンの記録動作とし
て、ディスク初期化時の記録動作を示す説明図である。
【図４】本実施の形態のテストパターンの記録動作を示
す説明図である。
【図５】物理的なテストパターンの記録状態を記録レー
ザパワーごとに示す説明図である。
【図６】テストパターンの再生信号波形、記録レーザパ
ワーに対するピット記録領域再生時間の変化特性、及び
記録レーザパワーに対するピット未記録領域再生時間の
変化特性を示す図である。
【図７】適正とされるピット記録領域再生時間と記録レ
ーザパワーとの関係を示す説明図である。
【図８】本実施の形態の記録レーザパワー設定処理を示
すフローチャートである。
【図９】他の実施の形態としてのテストパターンの記録
動作を示す説明図である。
【符号の説明】
１ ディスク、２ スピンドルモータ、３ スピンドル
制御部、４ 光学ピックアップ、４ａ 対物レンズ、４
ｂ ２軸機構、４ｃレーザ光源、４ｄ ディテクタ、４
ｅ 光学系、５ レーザ制御部、６ コントローラ、７
Ｉ／Ｖ変換マトリクスアンプ、８ サーボコントロー
ラ、８ａ 位相補償回路、８ｂ ２軸ドライバ、９，１
２ クランプ回路、１０，１３ Ａ／Ｄ変換器、１１
ＰＬＬ回路、１４ データ検出部、１６ トラッキング
エラー生成部、１６ａ サンプルホールド回路、１６ｂ
エラー信号生成回路、１７ タイミングコントロー
ラ、１９ インターフェース部、２５ エンコーダ、２
６ 磁気ヘッドドライバ、２７ 磁気ヘッド、３０ 積
分回路、９０ ホストコンピュータ、再生信号時間長情
報信号 Ｓ・ｄH 、Ｐ１〜Ｐ１２ 記録ピット、Ａ ピ
ット記録領域、Ｂ ピット未記録領域

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 記録データにより変調した変調磁界を記
    録媒体に対して印加すると共に、記録媒体に対して記録
    タイミングに応じてパルス発光されるレーザ光を照射す
    ることにより記録媒体へのデータ記録を行うことのでき
    るデータ記録装置として、 所定の極性の変調磁界を印加して初期化された上記記録
    媒体上の記録領域に、所定期間にわたってレーザ光をパ
    ルス発光させる第１の期間と、所定期間にわたってレー
    ザ光のパルス発光を停止させる第２の期間とが交互のタ
    イミングとなるように設定したうえで、上記第１の期間
    において、上記初期化時とは逆極性の変調磁界を印加す
    るようにしてテストパターンの記録を行うテストパター
    ン記録手段と、 上記テストパターンの再生信号に基づいて、上記第１の
    期間の記録動作により連続的に形成される物理的データ
    領域長、あるいは特定の第１の期間の記録動作により形
    成される記録領域の終了位置から次の第１の期間の記録
    動作により形成される記録領域の開始位置までの物理的
    データ領域長を検出可能な検出手段と、上記検出手段の
    検出情報に基づいて、上記物理的データ領域長が適正と
    なるように記録時のレーザ出力パワーを設定することの
    できる記録レーザパワー設定手段と、 を備えていることを特徴とするデータ記録装置。
  2. 【請求項２】 上記テストパターン記録手段は、上記第
    ２の期間から第１の期間に移行する間に、所定期間にわ
    たって、第１の期間において印加される変調磁界の極性
    とは逆極性を印加して記録媒体に記録を行う第３の期間
    を設定するように構成されていることを特徴とする請求
    項１に記載のデータ記録装置。
  3. 【請求項３】 記録データにより変調した変調磁界を記
    録媒体に対して印加すると共に、記録媒体に対して記録
    タイミングに応じてパルス発光されるレーザ光を照射す
    ることにより記録媒体へのデータ記録を行うことのでき
    るデータ記録方法として、 所定の極性の変調磁界を印加して初期化された上記記録
    媒体上の記録領域に、所定期間にわたってレーザ光をパ
    ルス発光させる第１の期間と、所定期間にわたってレー
    ザ光のパルス発光を停止させる第２の期間とが交互のタ
    イミングとなるように設定したうえで、上記第１の期間
    において、上記初期化時とは逆極性の変調磁界を印加す
    るようにしてテストパターンの記録を行うテストパター
    ン記録手順と、 上記テストパターンの再生信号に基づいて、上記第１の
    期間の記録動作により連続的に形成される物理的データ
    領域長、あるいは特定の第１の期間の記録動作により形
    成される記録領域の終了位置から次の第１の期間の記録
    動作により形成される記録領域の開始位置までの物理的
    データ領域長を検出する検出手順と、 上記検出手順による検出情報に基づいて、上記物理的デ
    ータ領域長が適正となるように記録時のレーザ出力パワ
    ーを設定することのできる記録レーザパワー設定手順
    と、 上記記録レーザパワー設定手順により設定されたレーザ
    出力パワーにより、記録媒体に対するデータ記録を実行
    するようにされた記録手順と、 が実行されることを特徴とするデータ記録方法。
  4. 【請求項４】 上記テストパターン記録手順として、上
    記第２の期間から第１の期間に移行する間の所定期間に
    おいて、第１の期間において印加される変調磁界の極性
    とは逆極性を印加して記録媒体に記録を行う第３の期間
    を設定するように構成したことを特徴とする請求項３に
    記載のデータ記録方法。
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