JP3654069B2 - 光学的記憶媒体及びその処理方法と光学的記憶媒体処理装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光を用いて情報の記録と再生を行う光学的記憶媒体及びその光学的記憶装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、コンピュータの外部記憶媒体として、相変化型、光磁気型等のディスク状あるいはカード／テープ状の光記憶媒体が脚光を浴びている。
【０００３】
特に、光ディスクは、レーザ光を用いて、媒体上にサブミクロンオーダーの記録ピットを作ることにより、これまでの外部記憶媒体であるフロッピーディスクやハードディスクに比べ、格段に記録容量を増大させることが可能となる。
【０００４】
更に、希土類−遷移金属系材料を用いた光磁気ディスクにおいては、情報の書替えが１０万回以上可能であり、今後の発展がますます期待されている。
【０００５】
光ディスクは、最近では、３．５インチ片面で５４０ＭＢや６４０ＭＢの記憶容量を有するものが開発されている。
【０００６】
これは、３．５インチフロッピーディスク１枚の記憶容量が約１ＭＢであり、光ディスク１枚でフロッピーディスク５４０枚又は６４０枚分の記憶容量を持つことを意味する。このように、光ディスクは記録密度の非常に高い書替え可能な記憶媒体である。
【０００７】
しかし、これからのマルチメディア時代に備え、光ディスクの記録密度を現在よりも更に高くする必要がある。記録密度を高くするためには、媒体上に更に多くのマークを記録させなければならない。そのためには、現在よりもマークを更に小さくし、マークとマークの間隔も詰めていく必要がある。
【０００８】
このような方法で記録密度を高くする場合、レーザ光の波長を現在の６８５ｎｍよりも更に短くする必要があるが、実用化を考慮した場合、現行の波長６８５ｎｍでマークサイズを小さくしなければならない。
【０００９】
この場合、記録についてはレーザ光のパワーを制御することによってビーム径よりも小さなマークを形成することは可能である。しかし、再生については、 ビーム径よりも小さなマークを再生すると、隣のマークとのクロストークが大きくなり、最悪の場合、再生ビームの中に隣のマークまで入ってしまい、実用性を考慮した場合、非常に難しい。
【００１０】
現行の波長６８５ｎｍでビーム径よりも小さなマークを再生する方法として光磁気超解像技術（ＭＳＲ：Magnetically induced Super Resolution ）が考案されている。これには、ＦＡＤ(Front Apature Detection) 方式とＲＡＤ(Rear Apature Detection)方式の２つの方法がある。
【００１１】
特に、ＲＡＤ方式は、図１７（Ｂ）のように初期化磁石(Initializing Magne t)２３２を用いて再生層２１６の磁化方向を一定方向に揃える初期化を行い、再生時の再生レーザパワーを若干高くしてリードし、リードビームのレーザスポット２３４による媒体加熱の温度分布に依存し、再生層２１６には初期磁化情報が残っているマスク部２３６と初期磁化情報が消去されて記録層２２０の磁化情報が転写される開口部２３８が形成される。
【００１２】
再生層２１６に転写された記録層２２０の磁化情報は、光学磁気効果（カー効果あるいはファラデー効果）によって光学的な信号に変換されることでデータが再生される。
【００１３】
このとき、レーザビームが追従する現在読み出しているトラック２１４のマーク２２８に対し、次に読み出すマーク２３０は、再生層２１６の初期磁化情報によるマスク部２３６の形成で転写されないため、記録マークがレーザスポット２３４より小さくとも、クロストークは発生せず、ビーム径よりも小さなマークを再生することができる。
【００１４】
更に、この超解像技術を用いると、再生部分以外の記録層２２０の領域は初期化された再生層２１６によってマスクされた状態になっているので、隣のマークからのマーク干渉が発生せず、更にマーク間隔を詰めることができ、また、隣接するトラックからのクロストークを抑えることもできるので、トラックピッチも詰めることができ、現行の波長６８５ｎｍを用いても高密度化を行うことが可能となる。
【００１５】
なお、超解像技術の原理や、再生層、スイッチ層（中間層）、記録層からなる光磁気記録媒体層の希土類−遷移金属系膜材料及び光磁気記憶媒体の製造方法等については、特開平７−２４４８７７号、特開平９−１４７４３６号、特開平１０−１３４４２９号等に詳細が開示されている。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような高密度記録を行う光学的記憶媒体を駆動する光学的記憶装置にあっては、記録時のレーザーパワーを厳密に制御しなければ、適切な記録動作ができないという問題がある。
【００１７】
また、ライト又はイレーズの回数により記憶媒体の感度が変化し、記録時の レーザーパワーの制御がうまくいかず、記録エラーの発生率が大きくなるという問題が判明した。
【００１８】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので、光学的記憶媒体の各領域における記録時のレーザパワーをライトやイレーズの回数に左右されないように厳密に制御可能にして、信頼性の高い高密度記録を可能にする光学的記憶媒体及びその処理方法及び光学的記憶媒体処理装置を提供することを目的とする。
【００１９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光学的記憶媒体の処理方法において、光ビームのパワー調整を行う前記光学的記憶媒体のパワー調整領域に対して、記録又は消去を行うパワーより高いパワーの光ビームを複数回繰り返し照射する高パワー処理を行うことを特徴とする。
【００２０】
さらに、光学的記憶媒体に対して光ビームを照射することでアクセスする光学的記憶媒体処理装置において、前記光学的記憶媒体の所定の位置に所定のパワーの光ビームを照射させる光学ヘッドと、光ビームのパワー調整を行うパワー調整領域に前記光学ヘッドにより光ビームを位置付け、前記パワーを記録又は消去を行うパワーより高いパワーに制御して、高パワーの光ビームを前記光学ヘッドにより前記パワー調整領域に対して照射させる高パワー処理を制御する高パワー処理制御手段とを少なくとも備えてなることを特徴とする。
【００２１】
従って、パワー調整領域を、光学的記憶媒体の製造直後の初期状態における感度特性から、ライトやイレーズを複数回繰り返した後の飽和状態における感度特性に変化させることが可能になる。つまり、ライトやイレーズを複数回繰り返しても感度シフト（最適記録パワーの変動）が生じることがなく、媒体の記録の際の最適記録パワーを厳密に制御することが可能になる。
【００２２】
媒体全体に対して高パワー処理を施している方が良いが、高パワー処理を行う処理時間が数千分とかかる。そこで、本願発明では、特に、光ビームのパワーを調整するパワー調整領域はパワーを厳密に測定するのに使用される事に着目し、感度シフトが発生しないようにパワー調整領域だけに高パワー処理を行って処理時間の短縮を図っている。
【００２３】
また、媒体の基板がポリカーボネート等の樹脂である場合、媒体全体や全ト ラックを長時間加熱すると、クラックが発生し使用できない媒体となってしまうが、本発明は必要最低限の領域に高パワー処理を行うので、クラック発生を防止できる効果がある。
【００２４】
そして、光学的記憶媒体に対して、高パワーにて光ビームを照射すると同時 に、所定方向の磁界を印加することを特徴とする。また、磁界の所定方向は消去方向であり、光学的記憶媒体に対して消去方向の磁界を印加しながら高パワーにて光ビームを照射することにより、高パワーイレーズを行うことを特徴とする。
【００２５】
従って、特に、光磁気記憶媒体に対して、磁界を印加しながら光ビームで加熱することにより、光磁気記憶媒体の磁性膜の磁化状態が記録又は消去状態に変化し、それが複数回繰り返し行われる為に確実に飽和状態に移行させることが可能である。
【００２６】
さらに、本発明は前記光学的記憶媒体のサーティファイを実行する際に高パ ワー処理を行うことを特徴とする。
【００２７】
なお、サーティファイは、媒体の製造時欠陥等の検出を行い初期欠陥リスト情報（ＰＤＬ）を媒体に書き込む処理であり、媒体に情報を最も最初に書き込む処理である。この処理の際に、高パワー処理を行っておけば最適記録パワーを厳密に制御した後にこの書き込み処理を行うことになり、信頼性の高い記録が可能になる。
【００２８】
さらに、本発明は、高パワー処理を行う際に光学的記憶媒体の回転数を通常使用する回転数より低い回転数にすることを特徴とする。従って、媒体加熱時間が長くなり、パワーをそれほど高くしなくてすむ。尚、回転数の設定によっては、所望の媒体加熱温度（記録層のキュリー点以上）が得られれば、通常の記録や消去のパワーと同じ位にしても良い。
【００２９】
高パワー処理を行う際にオフトラック検出機能を通常の設定よりも緩和することを特徴とする。従って、高パワー処理中に生じるオフトラック（エラー）の検出精度を下げて、軽微なエラーによる処理中断を防止し、処理時間の短縮を図 る。データ領域にユーザデータを記録しているわけではないので、多少検出精度を下げても問題は無いという理由からである。
【００３０】
本発明は、光学的記憶媒体の処理方法において、光ビームを照射することで情報の記録を繰り返し行う光学的記記憶媒体に対して、記録又は消去を行うパワーより高いパワーの光ビームを照射すると同時に所定方向の磁界を印加する高パ ワー磁界印加処理を複数回繰り返しを行うことを特徴とする。
【００３１】
従って、光学的記憶媒体の製造直後の初期状態における感度特性から、ライトやイレーズを複数回繰り返した後の飽和状態における感度特性に変化させることが可能になる。特に、光磁気記憶媒体に対して、磁界を印加しながら光ビームで加熱することにより、光磁気記憶媒体の記録層の磁化状態が記録又は消去状態に変化し、それが複数回繰り返し行われる為に確実に飽和状態に移行させることが可能である。
【００３２】
つまり、通常動作時にライトやイレーズを複数回繰り返しても感度シフト（最適記録パワーの変動）が生じることがなく、媒体の記録の際の最適記録パワーを厳密に制御することが可能になる。
【００３３】
また、この高パワー処理は、全トラックに対して実施しても良いし、パワー調整領域等の記録頻度が多い領域に対してのみ実施するものである。
【００３４】
さらに、本発明は、光学的記憶媒体処理装置において、パワー調整領域に高パワー処理がなされた光学的記憶媒体に対する情報の記録に先立って、前記パワー調整領域に対して記録を行って最適記録パワーを決定するパワー調整処理手段 と、前記パワー調整処理手段にて得られた前記パワー調整領域の最適記録パワーを所定の感度補正量にて補正したパワーを、情報記録領域に対して情報の記録を行う際の最適記録パワーとするパワー処理手段とを少なくとも備えてなることを特徴とする。
【００３５】
従って、パワー調整領域（テスト領域）を高パワー処理した記憶媒体に対し て、パワー調整の為のテストライトにより得られた最適記録パワーを、情報を記録する情報記録領域の媒体感度特性や温度特性に応じて定められた感度補正量により補正することで、情報記録領域の最適記録パワーを得ることができ、信頼性の高い記録が可能になる。
【００３６】
また、感度シフトが飽和状態の時の最適記録パワーと初期状態の時の最適記録パワーとの範囲内でかつ所定の条件を満たすパワーが情報記録領域の最適記録パワーになるように、感度補正量は定められてなることを特徴とする。
【００３７】
パワー調整領域は高パワー処理を施されているので、その領域の感度シフトは飽和状態である。情報記録領域はその使用頻度によって感度シフトが初期状態から飽和状態までのものまであり、最適記録パワーもばらついている。
【００３８】
従って、本発明では、感度シフトが初期状態の領域と飽和状態の領域の両方に対して十分なパワーが得られるように情報記録領域の最適記録パワーを決めておく。
【００３９】
これは、記憶媒体の感度シフトが初期状態の時と飽和状態の時の最適記録パ ワーを予めそれぞれ測定しておき、パワー調整領域の最適記録パワーに対するずれ量を求めることができる為である。このずれ量を感度補正量として予め定めておく。
【００４０】
ゆえに、テストライトを行うだけで容易に情報記録領域の最適パワーを求めることができる。
【００４１】
また、感度補正量を厳密に制御する為に、感度補正量を環境温度に応じて変更することも可能である。さらに、感度補正量を厳密に制御する為に、感度補正量を前記光学的記憶媒体の各ゾーンに応じて変更することもできる。感度補正量を厳密に制御する為に、感度補正量を記録エラー時のリトライ時に一定量加算または減算して変更することもできる。
【００４２】
さらに、本発明は、光ビームを照射することで情報の記録を繰り返し行う光学的記憶媒体において、キュリー点を超える温度で複数回繰り返し加熱処理された加熱処理領域が各ゾーンにそれぞれ設けられていることを特徴とする。
【００４３】
従って、各ゾーン毎に感度シフトが飽和状態になっている加熱処理領域が設けられているので、そこを各ゾーンのパワーを決定する為のパワー調整領域として使用したり、記録又は消去が頻繁に行われる特定領域として使用することで、頻繁なエラー発生を防止できる。
【００４４】
尚、ゾーンは、光学的記憶媒体の半径方向に分割管理される複数の領域であ り、ゾーンＣＡＶやゾーンＣＬＶの制御のためのゾーンである。
【００４５】
また、媒体の基板がポリカーボネート等の樹脂である場合、媒体全体や全ト ラックを長時間加熱すると、クラックが発生し使用できない媒体となってしまうが、本発明は媒体全体ではなく加熱処理が必要な領域を加熱処理領域として設けているので、クラック発生を防止でき、効率的に媒体を作成できる効果がある。
【００４６】
さらに、光学的記憶媒体に制御領域を設け、高パワー処理を行った旨を示す情報を記録することを特徴とする。
【００４７】
従って、高パワー処理を何度も行う必要が無くなる。
【００４８】
【実施の形態】
図１は本発明の光学的記憶装置である光ディスクドライブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライブは、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成される。
【００４９】
コントローラ１０には光ディスクドライブの全体的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフェースコント ローラ１６、光ディスク媒体へのライトデータのフォーマット処理とリードデータに対するＥＣＣ処理を行うフォーマッタ１８、ＭＰＵ１４，インタフェースコントローラ１６及びフォーマッタ１８で共用されるバッファメモリ２０を備え る。
【００５０】
フォーマッタ１８に対してはライト系統としてエンコーダ２２とレーザダイ オード制御回路２４が設けられ、レーザダイオード制御回路２４の制御出力はエンクロージャ１２側の光学ユニットに設けたレーザダイオードユニット３０に与えられている。レーザダイオードユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光素子を一体に備える。
【００５１】
この実施形態にあっては、一般に既に市販されている１２８〜６４０ＭＢの光磁気記憶媒体の他、超解像方式の高記録密度の、ＦＡＤ方式光磁気録媒体（以下「ＦＡＤ媒体」という）、やＲＡＤ方式の光磁気記憶媒体（以下ＲＡＤ媒体」という）等を媒体交換により使用することができる。
【００５２】
また、媒体の記録方式は、媒体上のマークの有無に対応してデータを記録するピットポジション記録（ＰＰＭ記録）、又はマークのエッジ即ち前縁と後縁を データに対応させるパルス幅記録（ＰＷＭ記録）を採用している。また媒体の記録フォーマットは、複数ゾーンに分割したＺＣＡＶ（ゾーン角速度一定）とす る。
【００５３】
光ディスクドライブにＭＯカートリッジをローディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリードし、そのエンボスピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別を認識し、種別結果をフォーマッタ１８に通知することで、媒体容量とＰＰＭ又はＰＷＭ記録に対応したフォーマット処理を行うことになる。
【００５４】
フォーマッタ１８に対するリード系統としては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８が設けられる。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エンクロージャ１２に設けたディテクタ３２によるレーザダイオード３０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ３４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力されている。
【００５５】
リードＬＳＩ回路２８にはＡＧＣ回路、フィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬＬ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０による媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用していることから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロック周波数の切替制御が行われている。
【００５６】
ここでエンコーダ２２の変調方式及びデコーダ２６の復調方式は、フォーマッタ１８による媒体種別に応じＰＰＭ記録とＰＷＭ記録の変調及び復調方式に切り替えられる。
【００５７】
ＭＰＵ１４に対しては、エンクロージャ１２側に設けた温度センサ３６の検出信号が与えられている。ＭＰＵ１４は、温度センサ３６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイオード制御回路２４におけるリード、ライト、イ レーズの各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵ１４は、ドライバ３８によりエンクロージャ１２側に設けたスピンドルモータ４０を制御する。
【００５８】
ＭＯカートリッジの記録フォーマットはＺＣＡＶであることから、スピンドルモータ４０を例えば３２１４ｒｐｍ、３６００ｒｐｍ、４２００ｒｐｍ、４５００ｒｐｍ等の媒体の種類や容量に応じて定められた一定速度で回転させる。
【００５９】
またＭＰＵ１４は、ドライバ４２を介してエンクロージャ１２側に設けた磁界印加部４４を制御する。磁界印加部４４は装置内にローディングされたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対側に配置されており、記録時、消去時及び再生時に媒体に外部磁界を供給する。磁界印加部４４としては通常、電磁石を使用するが、これ以外に本発明の校正処理により決定された最適磁界が得られる永久磁石でもよいし、更には電磁石と永久磁石を組合わせたものであってもよい。
【００６０】
磁界印加部４４による再生時の外部磁界は、ＦＡＤ媒体については再生磁界Ｈｒであり、ＲＡＤ媒体については初期化磁界Ｈｉである。更に再生時の磁界印加部４４による外部磁界は、本発明にあってはＭＰＵ１４の処理機能として実現される再生磁界校正部により常に最適磁界に校正されている。
【００６１】
ＤＳＰ１５は、媒体に対しレーザダイオード３０からのビームの位置決めを行うためのサーボコントローラとしての機能を有する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユニットに媒体からのビーム戻り光を受光する４分割ディテクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエラー信号検出回路）４８が、４分割 ディテクタ４６の受光出力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ１５に入力している。ここで４分割ディテクタ４６の受光部４６ａ，４６ｂ，４６ ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅｂ，Ｅｃ，Ｅｄとすると、フォーカスエラー信号Ｅ１は、
Ｅ１＝（Ｅａ＋Ｅｃ）−（Ｅｂ＋Ｅｄ）
として検出される。
【００６２】
このフォーカスエラー信号Ｅ１は、ＤＳＰ１５に与えられ、ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御部でフォーカスエラー信号Ｅ１を最小とするフォーカスアクチュエータ５６のフィードバック制御が行われる。
【００６３】
ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御部は、制御ループをオフした状態で対物レンズの位置を順次移動しながら最適フォーカス点となるオフセット値（目標 値）を求め、この最適フォーカス点のオフセット値を自動焦点制御ループに設定し、オフセット値で決まる対物レンズの位置（最適フォーカス点）を基準に フォーカスエラー信号Ｅ１を最小とするようにフィードバック制御される。
【００６４】
この最適フォーカス点を与えるオフセット値の位置決めとしては、トラッキングエラー信号Ｅ２が最大となるレンズ位置、ＲＦ再生信号が最大となるレンズ位置、及び４分割ディテクタ４６の総和信号が最大となるレンズ位置の３つがあ る。
【００６５】
ＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー信号検出回路）５０は、４分割ディテクタ４６の受光出力からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５に入力している。即ち、トラッキングエラー信号Ｅ２は、４分割ディテクタ４６の受光部４６ａ，４６ｂ，４６ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅｂ，Ｅｃ，Ｅｄとすると、
Ｅ２＝（Ｅａ＋Ｅｂ）−（Ｅｃ＋Ｅｄ）
となる。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ回路（トラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に入力している。
【００６６】
更にエンクロージャ１２側には、媒体に対しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力している。
【００６７】
ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めの為、ドライバ５４，５８，６２を介して フォーカスアクチュエータ５６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆動している。
【００６８】
光ディスクドライブにおけるエンクロージャの概略は図２のようになる。図２において、ハウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレットドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入することで、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転軸のハブに装着されるローディングが行われる。
【００６９】
ローディングされたＭＯカートリッジ７０のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けられている。
【００７０】
キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからのビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の媒体面にビームスポットを結像している。
【００７１】
対物レンズ８０は図１のエンクロージャ１２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０により媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラックの範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６に搭載している対物レンズ８０の位置が、図１のレンズ位置センサ５２により検出される。
【００７２】
レンズ位置センサ５２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じたレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。
更にＭＯ媒体７２のビーム照射面の反対側に相対して半径方向に長い磁界印加部４４が配置される。また磁界印加部４４としては、キャッジ７６に搭載され、ＭＯ媒体７２のビーム照射位置に対して外部磁界を印加するスライド構造のものであってもよい。
【００７３】
ここでは、高密度記憶媒体として、図１８のＭＳＲ光磁気記憶媒体のダブルマスクＲＡＤ方式を使用した例で述べる。ＭＳＲ媒体の構成は、特開平１０−１３４４２９号等で開示されているような、ポリカーボネート基板３１１上に、下地層（ＳｉＮ）、再生層３１５（ＧｄＦｅＣｏ）及びスイッチ層（中間層３１ ６）（ＧｄＦｅ又はＧｄＦｅＣｏ）、記録層３２０（ＴｂＦｅＣｏ）、保護層 （ＳｉＮ）が順次形成されたものを用いる。尚、図１８では、下地層、保護層は簡略化して示されている。
【００７４】
矢印で示されるように記録磁界３３３と再生磁界３３１は同じ方向であり、消去磁界３３２はそれと逆方向の磁界が与えられる。それぞれの磁界は、２００〜５００Ｏｅの間で制御される。
【００７５】
最初に、消去パワーの光ビームと消去磁界３３２を媒体に印加し、記録層３２０の磁化方向を下向きに揃えておく。そして、記録パワーの光ビームと記録磁界３３３を印加して記録層３２０の磁化方向を上向きのもの下向きのものを混在させることで信号の記録を行う。
【００７６】
そして、ダブルマスクＲＡＤ方式の再生動作原理は、光磁気記憶媒体に再生パワーの光ビームと再生磁界３３１を印加することで行われる。光ビームの移動方向に対して前方側となる低温領域（略１００℃よりも低い領域）では中間層と記録層の交換結合力が弱く、中間層の磁化が再生磁界の方向（上方向）に揃う。そして、中間層と再生層の交換結合力により再生層の磁化方向に下向きに揃って記録層の磁化方向をマスクする働きをする（フロントマスク）。
【００７７】
また、高温領域（略１８０℃より高い領域）は中間層のキュリー温度を超えた領域であり、中間層と再生層との交換結合力が切れている。これにより、再生層の磁化方向は再生磁界の磁化方向の上向きに揃い、記録層の磁化方向をマスクする働きをする（リアマスク）。
【００７８】
低温領域と高温領域との間の中間温度領域（略１００℃〜略１８０℃の領域）では、中間層を介して記録層と再生層との交換結合力により、記録層の磁化方向が再生層に転写されており、開口部（アパチャー）を形成している。
【００７９】
このように、フロントマスク及びリアマスクのダブルマスクが形成されるの で、磁気光学的出力を検出した場合に、トラック３１４上に位置するレーザス ポット３３４内において温度が低い領域と高い領域とがマスクとして働き、これらの領域では光磁気信号を読出すことはなく、中間の温度領域だけで光磁気信号を読出すことができる。
【００８０】
ここで、前述した記録エラーが生じる問題点を検証したところ、イレーズ、ライトを繰り返していくと、最適な記録レーザーパワーが変化する（以後感度シフトするともいう）現象が生じていることが判明した。
【００８１】
例えば、光記憶媒体がほとんどイレーズ、ライトされていない初期状態には、記録レーザーパワーＰと記録後の記録元データと再生データの不一致の関係が図３（Ａ）の曲線１４０のような特性を示すとする。感度シフトの無い場合はイ レーズ、ライトの回数を重ねても特性１４０は横軸方向の移動は生じない。
【００８２】
しかし、感度シフトが発生する場合は、初期にて記録レーザーパワーＰと再生データの不一致の関係が特性１４０であってもイレーズ、ライト回数が１４３の矢印向きに増えていくに従い特性１４１のようにシフトしていき最終的に特性１４２の状態になり、特性１４２の状態に達するとイレーズ、ライトを繰り返してもこれ以上感度シフトはしなくなる（飽和状態）という挙動を示す。
【００８３】
この感度シフトにより再生データの不一致数が最も少なくなる最適記録レー ザーパワーも初期状態ではＰｉが最適であるがイレーズ、ライトを繰り返すに従い次第に低くなり最終的に約５万回でＰｓの飽和状態に達する。
【００８４】
図３（Ｂ）１５０の特性のように、テストトラックの感度シフトが無い初期状態で、記録レーザーパワー校正処理（以下テストライトとともいう）を行うと最適記録レーザーパワーＰｔ１である。特性１５１のように、感度シフトが飽和したデータトラック、例えばＦＡＴ領域（ファイルアロケーションテーブル領域）では、Ｐｄ１が最適な記録レーザーパワー値となる。
【００８５】
従って、テストトラックの最適記録レーザーパワーＰｔ１から差分ΔＰ１を減算した値が飽和状態のデータトラックの最適記録バワーＰｄ１として計算でき る。そこで、図３（Ｃ）の１６１の特性のように、頻繁に使用され５万回以上イレーズ、ライトを繰り返されたテストトラックでテストライトを行い得られた最適記録レーザーパワーＰｔ２で上記の補正計算をすると、データトラックの最適記録バワーはＰｃ＝Ｐｄ２−ΔＰ１である。
【００８６】
図３（Ｃ）の１６０の特性を持つほぼ未使用で感度シフトが無いデータトラックの記録を行う場合、ベストはＰｄ２であり、最低でもＰｄｍｉn の値で記録しなければ規定の不一致数Ｎｔｈを満足しない。しかし、計算値Ｐｃはそれよりも大幅に小さい記録レーザーパワー値であり、不一致数が大幅に悪化してしまう。
【００８７】
つまり、光磁気記憶媒体のデータトラックを書き込む時の記録レーザーパワーを決定するテストトラックの使用頻度が一律でないため、またデータトラックも特定領域は頻繁に使用される一方でまったく使用されない領域が存在するため に、感度がどの場所でも一定で無いことが原因で記録エラーが発生することが究明された。
【００８８】
また、感度シフトの有る媒体を使って長時間イレーズ、ライト、リードしていると最初のうちは交替領域の増加は少ないがテストライトトラックの感度シフトが進むに連れてテストライトによって得られる最適記録パワー値とデータトラックの最適記録パワー値との間の差が大きくなっていく。
【００８９】
このことは、記録エラーが生じることを意味しエラーリトライが何度も入り、交替処理が生じたりして、交替領域の消耗やアクセス速度の低下が生じるという問題に発展する。
【００９０】
従って、感度シフトが発生する光磁気記憶媒体を使用する時、予め媒体を通常使用時より高いパワーを照射する高パワー処理を繰り返し感度シフトを飽和させておくことで、上記問題を解決する。また、その際に、媒体に所定方向の磁界を印加する。以下の実施例では、イレーズ方向の磁界を媒体に印加しているが、ライト方向の磁界を媒体に印加しても同様である。
【００９１】
感度シフトが生じる原因は究明されていないが、図３のようにＵ字型のカーブを描くということは、媒体自体の最適記録パワーの幅、つまりマージンがあまり無いということである。このマージンを確保する必要から本願は成されたものである。
【００９２】
そして、感度シフトが飽和していく原理は究明されていないが、媒体の記録層のキュリー温度を超える温度に媒体を加熱し、また磁界を印加することで、媒体の記録層の特性に何らかの変化が生じて、それらを繰り返すこと（複数回でな く所定の連続時間であっても良い）で感度シフトが飽和状態に移行していくようである。
【００９３】
従って、高パワーの光ビームを媒体のトラックに照射するだけでなく、媒体の記録層のキュリー温度を超える温度に加熱するような手段、例えば、オーブンを使って温度調整しながら、高パワー処理しても同様の作用効果を得ることができると考えられる。
（感度シフトと記録レーザパワーの関係）
図４（Ａ）はＭＳＲ媒体にてイレーズ、ライトを繰り返した場合の記録感度シフトの様子を示す。曲線１７０は通常使用時のレザーパワー値の場合であり、初期状態で最適記録レーザーパワーはＰｉであったが、イレーズ、ライトを繰り返すに従い感度が高感度側にシフトしていき、最終的には飽和値Ｐｓにて最適記録レーザーパワーのシフトはほぼ無くなる。
【００９４】
このＰｓに達するイレーズ回数はイレーズ時のレーザーパワー値、媒体の回転数等によって変化する。例えば通常のユーザ（ホスト）がイレーズコマンドで行うイレーズ動作時よりも２０％の高パワーでイレーズを行うと図４の特性１７１に示すように２００回でＰｓに達するというように感度シフトを加速することができる。例えば、通常動作時内周で７ｍＷ外周で１０ｍＷとした時、高パワー処理時内周９ｍＷ外周１２ｍＷにパワーを設定すれば、高パワーの光ビームを得 ることができる。
【００９５】
従って、２０％以上にパワーを上げれば上げる程、繰り返し回数を減らすことが予想され、処理時間を短縮することができる。また、記録膜や、基板に対して悪影響を与え、記録特性が劣化しないようために、パワーの上限としては５０％程度が限度である。
【００９６】
また、イレーズ時の媒体の回転数、つまり、スピンドルモータ４０の回転数を通常使用状態（ユーザがリード／ライトする時の回転数）よりも遅くすることでも同様な効果が得られる。例えば、レーザパワーを変えないで行う場合なら、レーザパワーアップの割合分回転数を下げるように制御することで、同様の効果を期待できる。
また、回転数を落としすぎても記録特性が劣化するおそれがあるため、回転数の下限としては、１／２程度が限度である。
【００９７】
本実施例の光ディスクドライブでは、ＭＳＲ媒体の場合通常の記録再生時に３２１４ｒｐｍでスピンドルモータ４０を駆動しているので、高パワー処理時に は、２５７０ｒｐｍに低下させることになる。
【００９８】
つまり、高パワーと低回転数を組わあせれば、繰り返し回数を減らすことが予想され、処理時間を短縮することができる。
【００９９】
これは、ＭＳＲ媒体の記録層のキュリー温度以上に媒体加熱できれば良いの で、回転数を遅くしてレーザの照射時間を長くすれば、レーザパワーを高パワーにしたのと同様な作用があるという原理である。
【０１００】
従って、繰り返し回数を加熱時間で調整することも可能である。
【０１０１】
しかし、長時間にわたって同じ箇所を加熱すると媒体にクラックが生じる場合がある。そこで、本実施例では、通常の光ディスクドライブの使用条件を変えるだけで高パワー処理を行い実現している。
【０１０２】
つまり、光ディスクの螺旋状のトラックに光ビームを追従させ、高パワー処理を行う最終トラックの最終のセクタに対するアクセスが終了したら、トラック ジャンプを行って高パワー処理を行う最初のトラック最初のセクタに戻るという動作を繰り返し行うことで達成している。
【０１０３】
また、両者を組み合わせれば、レーザダイオードユニット３０をそれほど大きなパワーで駆動する必要が無く、レーザダイオードユニット３０の負荷を減らすことも可能になる。
【０１０４】
（高パワーイレーズ処理）
この様な感度シフトをもつ光記憶媒体を使用する場合は、製造時または媒体の不良個所を調べるサーティファイ時に、最適記録レーザーパワーが図３（Ａ）のＰｓの値になる迄の回数テストトラックまたはテストトラックＴとデータトラックＤの両方を通常使用時より高パワーにてイレーズを、情報の記録に先立って行う。この時のイレーズ条件はＤＣイレーズ、高周波重畳イレーズかは問わない。
【０１０５】
サーティファイは媒体メーカがフォーマットを行う際に実行するものであり、ユーザ（ホスト）が通常行うフォーマット処理やリード／ライトコマンドとは、別の特殊コマンドで光ディスクドライブが高パワー処理を行うことになる。
【０１０６】
また、光ディスクドライブを媒体メーカ用に高パワー処理可能な機能を入れてカスタマイズした記憶媒体製造装置として構成しても良い。
【０１０７】
さらに、ドライブ自身の独自機能として、ユーザ（ホスト）の指示によらず に、高パワー処理を行うようにＭＰＵの処理ファームを構成しても良い。
【０１０８】
ここでは、光ディスクドライブのＭＰＵの処理機能で高パワー処理が行えるようにした装置で実現した例を述べている。
【０１０９】
本実施例では、テストトラックとデータトラックの媒体全体に対して高パワー処理を行うと数千時間を要してしまう為、処理時間短縮の為、各ゾーン毎に数トラックしかないテストトラックだけ行うことにする。
【０１１０】
尚、媒体全体に対して高パワー処理を行った方が、媒体全体の領域で感度シフトが無くなるという効果があることは言うまでもない。
【０１１１】
図５は、媒体のサーティファイ時に高パワーイレーズ処理を行う場合のフローチャートである。サーティファイとは、媒体の製造時における不良個所を調べ、その場所を媒体上の初期欠陥リスト（ＰＤＬ）領域に記録することである。その後、検出された不良箇所はその場所を媒体上の２次欠陥リスト（ＳＤＬ）領域に記録する。
【０１１２】
先ず、ステップＳ１にて媒体をリード、ライト可能な状態にするためのロード処理を行い、ステップＳ２でロードされた媒体の特定領域をリードしてステップＳ３でこのデータ中の予め決められた場所の値によって、以前に高パワーイレーズが行われたかどうか判断する。
【０１１３】
尚、特定領域は、ユーザが通常使用しない領域、例えば、媒体のフォーマット情報やＰＤＬ、ＳＤＬ等のコントロール情報が記録されるコントロールトラック（図１７（Ａ）Ｃ）の所定のセクタに記録しておく。
【０１１４】
テストトラックの高パワーイレーズが行われていないと判断された場合はス テップＳ４で全テストトラックの高パワーイレーズを行い、テストトラックの高パワーイレーズが行われていると判断された場合はステップＳ７のサーティファイのみを実行し終了する。
【０１１５】
ステップＳ４を終了してステップＳ５でこのテストトラックの高パワーイレーズ処理が正常終了か判断して、正常終了でない場合は終了する。ステップＳ５で正常終了と判断された場合は、ステップＳ６でテストトラックの高パワーイレーズを実行した情報を媒体に残すために、前記の特定領域に前もって定められた値を書き込み、Ｓ７にて媒体のサーティファイ動作を行い本動作を終了する。
【０１１６】
従って、本発明により、テストトラックの使用頻度が異なることで記録パワー感度が異なりテストライトを行う場所によって異なる最適パワーが得られる場合があったが、テストライトを行う場所によらずほぼ同じ最適パワーが求められるようになった。ゆえに、テストライトにより得られる最適パワーの信頼性が向上できる。
【０１１７】
尚、この図５では媒体のサーティファイ時の処理について記述しているが、通常の媒体のロード時、コマンド待ち時間や記録エラー検出の際のリトライ時等にこの高パワー処理を行っても良い。
【０１１８】
この高パワー処理を行うことによって最低限データトラックの記録レーザーパワーを決定するテストライトに使用するテストトラックの感度シフトによる影響は無くすことができる。
【０１１９】
また、この高パワー処理を行ったことは媒体のユーザが通常使用しない特定領域（図１７（Ａ）のコントロール領域Ｃ等）に残しておき、何度もこの処理が行われないようにする判断等に使用する。
【０１２０】
なお、この高パワー処理を行う場合はサーボ制御でのエラーが発生するとイ レーズ処理ができなくなるので最も発生頻度の高く、かつ媒体の傷、光ディスクドライブ間の検出レベル差が有るトラッキングエラー検出規格を通常使用時よりも緩和しておく。ここでは、ＭＰＵが、高パワー処理を行う時に、ＴＥＳ検出回路５０のオフトラックスライスレベルを高めに（振幅の半値の５３％を７５％ へ）設定する。
【０１２１】
高パワー処理を行った場合、テストトラックの感度シフトが無くなるので図４（Ｂ）の曲線１８１の状態にあり、記録するのに最適な記録レーザーパワーはＰｓなのでテストライトを行った場合この値が求められる。
【０１２２】
一方データトラックを書き込むのに最適なレーザーパワーは図４の曲線１８０のように感度シフトが無い場所と特性１８１のように感度シフトが飽和している場所が有るのでＰｉからＰｓの範囲である。
【０１２３】
また、図４（Ｂ）特性１８０に示すように感度シフトが無い場合と、特性１８０に示すように感度シフトがある場合で不一致数の所定の閾値Ｎｔｈを満足するＰａが存在する。
【０１２４】
そして、テストライトして得られた最適記録レーザーパワーＰｓにＰａとＰｓの差分（感度補正量）ΔＰａを加算することで、データトラックの感度シフト無し、また飽和している両方の場所（データトラックの使用頻度による感度の異なる場所）で、不一致数の所定の閾値Ｎｔｈを満足するデータトラックの記録レーザーパワーを得ることができる。
（記録レーザパワー校正処理）
図６は、図１７（Ａ）、（Ｂ）のＲＡＤ媒体を例にとって図１の光ディスクドライブのＭＰＵ１４の処理機能として実現される記録レーザーパワー設定部の駆動で発生される記録レーザーパワーを最適値に校正するための記録レーザーパ ワー校正処理の機能ブロック図である。
【０１２５】
図６において、ＭＰＵの処理機能によって実現される記録レーザーパワー校正部１００には、校正タイミング判定部１０２、校正処理部１０４、記録レーザーパワー格納テーブル１０６、及び記録レーザーパワー設定部１０８が設けられている。校正タイミング判定部１０２は、レジスタ群１１０に格納されている設定内容に応じて記録レーザーパワー校正処理の処理タイミングを設定して校正処理部１０４を起動する。
【０１２６】
レジスタ群１１０には初期化診断指示、媒体投入検出、装置内温度、上位割込要求、リトライ指示のレジスタ登録が行われており、これらレジスタ内容を校正タイミング判定部１０２で読み込んで校正処理部１０４を起動する。例えば校正タイミング判定部１０２にあっては、装置の電源投入に伴う初期化診断時、処理記憶媒体の装置投入によるローディング検出時、装置内温度の変化が所定値以上となった時、全体の校正処理からの経過時間を監視して所定の校正有効時間を経過した時、再生エラーが発生してリトライ処理を行う時などである。
【０１２７】
これ以外に、例えば装置を工場段階で完成して出荷する際の工場立上げ時に ディップスイッチ等のセットで校正タイミング判定部１０２により校正処理部１０４の校正処理を起動しても良い。また上位装置からのコマンド指示により、校正タイミング判定部１０２は校正処理部１０４を起動できる。
【０１２８】
更にまた、校正タイミング判定部１０２は上位装置からリードまたはライトなどの上位割り込み要求を受けると、そのとき校正処理部１０４が処理中か否か チェックし、もし校正処理中であれば校正処理を一旦中断し、上位割込要求によるアクセスを優先させ、割込要求処理終了後に再び校正処理部１０４を中断した時点から再開させるようになる。
【０１２９】
校正処理部１０４は、校正タイミング判定部１０２より校正処理の起動要求を受けて動作し、レーザーダイオードユニット３０に流す駆動電流を段階的に変化させることで記録レーザーパワーを変えながら、再生部から得られる再生信号より再生状態を判定し、記録可能状態となった最適記録レーザーパワーを求めて、記録レーザーパワー格納テーブル１０６に格納する。
【０１３０】
この校正処理部１０４による記録レーザーパワーの校正処理は光記憶媒体の ゾーン毎または数ゾーン毎に行われ、ゾーン毎に最適な記録レーザーパワーを記録レーザーパワー格納テーブル１０６に登録する。
【０１３１】
図７は記録レーザーパワー格納テーブル１０６であり、例えば光記憶媒体は ゾーン番号ｉに示すように１１ゾーンに分けられており、各ゾーン毎に記録レーザーパワー校正処理で求めた最適記録レーザーパワーＰｚ1 〜Ｐｚ11が格納されている。この最適記録レーザーパワー校正処理を行うトラックは、各ゾーンの境界の最先頭トラックもしくは最終トラックとすることが望ましい。
【０１３２】
このようにゾーンの先頭または最終トラックで記録レーザーパワーの校正処理を行うことは、図６の記録レーザーパワー設定部１０８で記録レーザーパワー格納テーブル１０６を参照して任意のゾーンの中の特定トラックの最適記録レー ザーパワーを与える記録レーザーパワーを直線補間により算出する際の演算処理を簡単にするためである。
【０１３３】
図８は図６の校正処理部１０４による記録レーザーパワー校正処理の手順であり、横軸に段階的に変化させる記録レーザーパワーＰをとっており、縦軸に再生データのビット比較による不一致数をとっている。
【０１３４】
まず記録レーザーパワーＰの変化に対する再生データの不一致数は、直線１１４に示す形を持つ。即ち記録レーザーパワーＰが低いと不一致数が大きく、この状態で記録レーザーパワーＰを増加し記録、再生すると不一致数が減少し、下向きの肩となる部分を過ぎると記録レーザーパワーＰの変化に対し略一定の不一致数を維持する。
【０１３５】
この状態で更に記録レーザーパワーを増加させ記録、再生するとある値を越えた時点から再び不一致数が増加を始める。このような記録レーザーパワーＰに対する不一致数の特性曲線１１４に対し、記録レーザーパワーとしては、不一致数が最低値を保っているフラットな部分の略中央の点１２４付近に設定することが望ましい。
【０１３６】
この図８の特性１１４は、装置内の環境温度を例えば室温２５℃に設定して実験的に得られ、この特性１１４における記録レーザーパワーＰを増加しながら記録、再生し得られた不一致数の所定の閾値Ｎｔｈに低下する点１１８の記録レーザーパワーＰ２を記録レーザーパワーの初期値として設定しておく。
【０１３７】
ここで記録レーザーパワーＰの増加は特性１１４の肩の手前の点１１８に対応して設定した記録レーザーパワー初期値Ｐから所定値ずつ段階的に増加させていけばよいが、特性１１４は温度により横軸方向にシフトすることから、そのときの装置温度によっては記録レーザーパワー初期値Ｐ２は必ずしも特性１１４の肩の点１１８に対応していない。
【０１３８】
そこで本発明の記録レーザーパワー校正処理にあっては、記録レーザーパワー初期値Ｐ２に対し所定値ｄＰだけ低くした記録レーザーパワーＰ１を最低値として段階的（ｄｐずつ）に記録レーザーパワーＰを増加させる。
【０１３９】
このように記録レーザーパワー初期値Ｐ２に対しｄP だけ低い値を記録レー ザーパワー校正処理の最低値とすることで、温度により特性１１４が記録レー ザーパワー方向にシフトしても記録レーザーパワーの校正処理の開始位置を特性の肩を過ぎた不一致数が閾値Ｎｔｈより多い部分に設定でき、ここから記録レーザーパワーを段階的に増加させることで確実に特性１１４における肩の部分を検出することができる。
【０１４０】
図８にあっては、最低記録レーザーパワーＰ１より段階的に記録レーザーパ ワーを増加させ記録、再生を行いながらそのときの不一致数を求め、不一致数が閾値Ｎｔｈ以下となる点と、また閾値Ｎｔｈ以上となる点直前の点を検出し、その時の記録レーザーパワーの加算平均を取ることで与えられる点Ｐｇを特性曲線１１４の最適記録レーザーパワーとする。
【０１４１】
Ｐｇ＝（Ｐｎ−１−Ｐ２）／２
この値Ｐｇを、テストトラックの最適記録レーザーパワーとして図６の記録レーザーパワー格納テーブル１０６に登録する。
【０１４２】
ここで、記録レーザーパワー校正処理の際に記録レーザーパワーを強くし過ぎるとレーザーダイオード素子を破壊してしまう恐れが有ることから、校正処理に使用する記録レーザーパワーＰには上限記録レーザーパワーＰmax が設定されている。
【０１４３】
図９は、図６の記録レーザーパワー設定部１０８で校正処理が終了した後に行われる通常の記録処理で実行される記録レーザーパワー格納テーブル１０６に ゾーン単位に格納した記録レーザーパワーから実際のアクセストラックに対応した記録レーザーパワーを直線補間により求める処理を表している。
【０１４４】
図６の記録レーザーパワー設定部１０８に対しては、レジスタ郡１１２によって媒体種別、装置内温度Ｔ、ライトコマンドに基づいたトラック番号ＨＨ、セクタ番号ＳＳ、更にゾーン番号Ｚｉがレジスタ設定しており、記録レーザーパワー設定部１０８はこれらのレジスタ郡１１２の設定情報に基づいた直線補間によりアクセス位置に必要な最適記録レーザーパワーを演算して、記録レーザーパワー信号Ｅ１３を出力する。
【０１４５】
図９はゾーンＺｉの中のトラック番号ＴＲｊが指定されたときの最適記録レーザーパワーＰｊの直線補間による算出原理である。まずこの実施形態にあって は、アクセス対象となったゾーンＺｉの先頭トラック番号ＴＲｉについて記録 レーザーパワー格納テーブル１０６に最適記録レーザーパワーＰｉが登録されており、次のゾーンＺi+1 の先頭位置のトラック番号ＴＲi+1 についても同様にして最適記録レーザーパワーＰi+1 が登録されている。
【０１４６】
この時のゾーンＺｉに属するトラック番号ＴＲｊの最適記録レーザーパワーＰｊは、次の直線補間の式により算出できる。ｍはゾーンＺｉの先頭トラックＴＲｉから最終トラックＴＲｉｅまでのディファレンス（トラック本数）である。
Ｐj ＝Ｐi ＋｛（Ｐｉ＋１−Ｐi ）｝・｛（ＴＲj −ＴＲi ）／ｍ｝
・・・（１）なお図９にあっては、各ゾーンの先頭トラック番号における最適記録レーザーパワーを記録レーザーパワー格納テーブル１０６に登録しているが、各ゾーンの最終トラックであってもよいし、もしくはゾーンの中央トラックであってもよ い。
【０１４７】
図１０は、図６の記録レーザーパワー設定部１０８により求められる媒体のアクセス位置に対応した最適記録レーザーパワーを与える装置内温度Ｔによる補正処理の特性図である。図１０は、横軸の装置内温度Ｔに対し図９の直線補間で求めたアクセス位置に対応した最適記録レーザーパワーを補正する温度補正係数Ｋｔの特性である。この温度補正係数Ｋｔは、
Ｋｔ＝Ａ・Ｔ＋Ｂ
で与えられ、負の温度係数を一般に持っている。そして温度補正係数Ｋｔは装置内温度２５℃のときをＫｔ＝１．０としている。この図１０で与えられる補正温度係数Ｋｔを用いた最適記録レーザーパワーＰの補正は、
Ｐ＝Ｐ｛１−Ｋｔ×（Ｔ−２５℃）｝
として算出する。
【０１４８】
最後にデータ領域の感度シフトに対応する為の補正値ΔＰａを加算してデータ領域を記録する最適パワーに設定する。
【０１４９】
Ｐ＝Ｐ＋ΔＰａ
なお、この補正量ΔＰａも記録トラック位置や温度に依存する場合は前記の記録レーザーパワーの記録トラックによる直線近似や装置温度による補正を行っても良い。
【０１５０】
次に図６の記録レーザーパワー校正部１００の処理機能を備えた本発明の光学的記憶装置の処理を説明する。図１１は本発明の光学的記憶装置の全体的な処理のフローチャートである。まず装置電源を投入すると、ステップＳ１で初期化及び自己診断処理を行い、ステップＳ２で媒体の投入を待つ。この状態で媒体を投入すると、ステップＳ３に進み、ディスク起動処理を行う。
【０１５１】
ステップＳ３のディスク起動処理は、図１２のフローチャートに示すようになる。まずステップＳ１で媒体のロードを行って、図２に示したようにスピンドルモータにセットして一定速度で回転する。続いてステップＳ２で校正要求フラグＦＬをセットする。続いてステップＳ３で現在時刻を初期化し、更にステップＳ４で現在の装置内温度Ｔを検出して起動時にレーザダイオードの発光パワーや磁界印加部による再生磁界を決めるために必要な処理を終了する。
【０１５２】
再び図１１を参照するに、ステップＳ３のディスク起動処理が済むと、ステップＳ４に進み、上位装置からのアクセス要求の有無をチェックする。
【０１５３】
この実施形態にあっては、媒体のローディングによりディスク起動処理を行っても、その時点では発光パワー及び再生磁界の校正処理は行わず、ディスク起動処理の通知を受けた上位装置から最初に発行される校正指示コマンドを受けて最初の発光パワー及び再生磁界の校正処理を行うようにしている。
【０１５４】
したがって、ステップＳ４で上位装置の最初に受けるアクセス要求は校正指示コマンドであり、ステップＳ５で校正の必要性を判断し、ステップＳ６で必要性有りとなったら、ステップＳ７でライトパワー、イレーズパワー、リードパワーなどの発光パワーの校正処理を行い、ステップＳ８で再生磁界校正処理を行う。
【０１５５】
上位装置からライトのアクセス要求を受けた場合には、ステップＳ１０に進んでライト要求が判別され、ステップＳ１１以降のライト処理を行う。このライト処理にあっては、ステップＳ１１でまず校正処理中か否かチェックする。校正処理中であればステップＳ１２で校正処理を一旦中断し、ステップＳ１３でライト処理を行う。
【０１５６】
ライト処理が済んだならば、ライトエラーの有無をチェックする。もしライトエラーがあれば、記録レーザーパワー校正処理を実行した後に、リトライ処理を行う。なお、この時にデータトラックの記録レーザーパワーの感度シフト補正分ΔＰａの値を一定の範囲で加算、減算してリトライを行っても良い。リトライ処理にてライトエラーがなければ、校正処理中断を行ったか否かチェックし、もし校正処理を中断していれば、中断した時点から校正処理を再開する。
【０１５７】
一方、ステップＳ４でアクセス要求無しと判断されれば、ステップＳ１６で媒体排出の有無をチェックし、媒体排出の要求を確認し排出要求が有れば媒体を排出後ステップＳ２に戻って次の媒体投入を待って同様な処理を繰り返す。ステップＳ１６にて媒体排出がなければ、ステップＳ１７で装置停止指示の有無を チェックした後、ステップＳ４に戻り、次の上位のアクセス要求を待って同様な処理を繰り返す。
【０１５８】
一方、上位装置からリードアクセスの要求があった場合には、ステップＳ１４に進んでリード要求を判断し、ステップＳ１５でリード処理を行うようになる。
【０１５９】
図１３は図１１のステップＳ５における校正の必要性判断処理のフローチャートである。校正の必要性判断処理にあっては、まずステップＳ１で現在時刻を読み込み、ステップＳ２で光ディスクドライブの起動から前回の校正処理までの時間Ａを算出する。ステップＳ３では、起動からの時間Ａを予め定めた一定時間例えば２０秒で割ることで、単位時間数Ｂに変換する。
【０１６０】
ステップＳ４にあっては、単位時間数Ｂが８未満、即ち起動から最初のテストライトまでの時間Ａが１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満であればステップＳ５に進み、単位時間数Ｂは４未満か、即ち時間Ａは８０秒未満か否かチェックする。
【０１６１】
時間Ａが８０秒から１６０秒の間であった場合には、ステップＳ６で単位時間数Ｂを３、即ち時間Ａを６０秒にクリップして、ステップＳ７に進む。ステップＳ５で時間Ａが８０秒未満であった場合には、そのままステップＳ７に進む。ステップＳ７では、前回の校正処理で決定されている最適値（発光パワー及び記録レーザーパワー）の使用を保証する有効時間Ｃを算出する。
【０１６２】
この場合、有効時間Ｃは２０秒×２B （単位時間数）とする。但し、有効時間の最大値は１６０秒にリミットされる。この結果、校正処理で決定された最適値を保証する有効時間Ｃは、起動から最初の校正処理までの時間Ａが１６０秒未満であれば２B に対応した時間に設定される。１６０秒を超えた場合には、一定の有効時間Ｃ＝１６０秒に固定される。
【０１６３】
このような有効時間Ｃの算出は、光ディスクドライブにローディングした媒体の媒体温度が装置内温度に安定するまでに掛かる時間に応じて可変させている。即ち、媒体をローディングした直後の初期段階にあっては、媒体と装置内の温度の間には差があることから、この段階では装置内温度に基づいた校正は有効にできないことから、起動時には校正処理は行わない。
【０１６４】
ローディングした媒体の温度は１〜２分程度経過すると装置内の温度に平衡してくる。そこで光ディスクドライブ起動後の最初に上位装置からライトコマンドが発行されたタイミングに同期して最初の校正処理を行う。起動後、上位装置からライトコマンドが発行されるタイミングは様々であることから、図１３のス テップＳ１〜Ｓ７において、起動から最初の発光調整までの時間Ａを求め、この時間Ａから次回以降の校正タイミング判別のための有効時間Ｃを決めるようにしている。
【０１６５】
ステップＳ７で有効時間Ｃが算出できたならば、ステップＳ８で、有効判定時刻Ｄを前回のテストライト時刻に算出した有効時間Ｃを加えた時刻として算出する。そしてステップＳ９で、現在時刻が有効判定時刻Ｄを超えたか否か判定す る。現在時刻が有効判定時刻Ｄを超えていれば、ステップＳ１４に進んで校正処理フラグをオンし、図１１のステップＳ６にリターンする。
【０１６６】
ステップＳ９で現在時刻が有効判定時刻Ｄに達していない場合には、ステップＳ１３で校正処理フラグをオフとする。またステップＳ４で単位時間Ｂが８以上即ち１６０秒以上の場合には、ステップＳ１０に進み、現在時刻から前回の校正処理時刻を引いた時間が１時間未満か否かチェックする。
【０１６７】
１時間未満であればステップＳ１１で現在温度を読み込み、ステップＳ１２で前回温度に対し現在温度が±３℃の範囲内か否かチェックする。３℃以内であれば、ステップＳ１３で校正処理フラグをオフし、校正処理は行わない。
【０１６８】
前回温度に対し±３℃の範囲を超える温度変動があった場合には、ステップＳ１４で校正調整フラグをオンし、校正処理を実行する。またステップＳ１０で現在時刻と前回の校正処理時刻との差が１時間以上の場合には、ステップＳ１４で強制的に校正処理フラグをオンして校正処理を実行する。なお、この校正処理の必要性判断処理で設定されている各閾値時間は必要に応じて適宜に定めることができる。
【０１６９】
図１４は図１１のステップＳ８で行われる図６の記録レーザーパワー校正部１００の校正処理部１０４による記録レーザーパワー校正処理のフローチャートである。まずステップＳ１で、ゾーン番号Ｚ＝０、トラック番号ＴＲ＝０に初期化した後、ステップＳ２で測定トラックにシークし、ステップＳ３で記録レーザーパワーの初期値に対応したＰをセットする。
【０１７０】
続いてステップＳ４で、開始値を低めにセットする。この記録レーザーパワーの低めのセットは、記録レーザーパワーの初期値Ｐから所定値ｄＰを差し引く。その結果、図８の記録レーザーパワーＰ１を最初にレーザーダイオード制御回路２４にセットして校正処理を開始することになる。
続いてステップＳ５で、記録レーザーパワーを変化させて測定する回数を確認する為の変数ｉに１をセットする。
【０１７１】
続いてステップＳ６で、設定された記録レーザーパワーでテストパターンをテストトラックの測定位置に記録し、レーザダイオードに対し再生パワーを、再生磁界に所定の再生磁界を発生する電流値を設定してテストライトしたテストパ ターンを読み出す。そしてステップＳ７で再生確認処理を行う。
【０１７２】
この再生確認処理は、次の２つのいずれかとする。
【０１７３】
再生データと予め判明している再生位置の記録データ（テストパターン）とをビット単位に比較した不一致数（ビット誤り個数）が所定値以下となったことを検出して再生可能と判断する。
【０１７４】
図１のフォーマッタ１８に設けているＥＣＣ処理部において、再生データに対するＥＣＣ誤り訂正数が所定値以下となったことを検出して再生可能と判断す る。
【０１７５】
もちろん、これ以外にも適宜の再生可能とする判断方法、例えばエラーレートの計測等であってもよい。ステップＳ７で再生確認処理を行ったならば、ステップＳ８で記録レーザーパワーＰｉと不一致数Ｅｒｉを図１５に示す再生確認テーブルに格納し、ステップＳ９で記録レーザーパワーＰにｄＰを加算、ｉに１を加算する。
【０１７６】
ステップ１０で、もし増加した記録レーザーパワーＰが限界パワーを超えた場合には異常終了とする。ステップ１１でｉが測定測定する回数ｎを超えていない場合はステップ６からの動作を繰り返す。
【０１７７】
ステップ１１でｉが測定する回数ｎを超えている場合はステップ１２で前記再生確認テーブルの不一致数からテストトラックでの最適記録レーザーパワーを算出する。この計算をする時には図１５の再生確認テーブルを使う。
【０１７８】
図１５は再生確認テーブルであり、例えば測定番号ｉに示すように１１回に分けられており、ステップ６からステップ１１の繰り返しの処理にて各記録レー ザーパワーＰｉとその記録レーザーパワーにて記録した後再生した場合の不一致数Ｅｒｉが格納されている。
【０１７９】
この再生確認テーブル測定番号１から不一致数が減少して閾値Ｎth以下となる点と、例えばＥｒ２、再び増加して閾値Ｎth以上となる直前の点、例えばＥｒ ９、を求めこのそれぞれの不一致数に対応する記録レーザーパワーの相加平均Ｐｇは
Ｐｇ＝（Ｐ９＋Ｐ２）／２
を計算することで求められ、これがテストトラックを記録するのに最適な記録 レーザーパワーである。この最適記録レーザーパワーＰｇを図７の記録レーザーパワー格納テーブルのＰｚＺに記憶する。
【０１８０】
このような処理をステップＳ１４で最終ゾーンが判別されるまで、ステップＳ１５でゾーン番号とトラック番号を更新し、これを繰り返す。即ち、ゾーン番号はＺ＝Ｚ＋１と１つ増やし、またそのときトラック番号ＴＲは１ゾーン当たりのトラック数ｍを加えて次のゾーンの先頭トラック番号に更新して、ステップＳ２で測定トラックにシークすることになる。
【０１８１】
図１６は図１４の記録レーザーパワーの校正処理が終了した後に通常のライト処理で行われる図６の記録レーザーパワー設定部１０８によるアクセス位置に対応した最適記録レーザーパワー設定処理のフローチャートである。
【０１８２】
まず、ステップＳ１で、アクセス位置となるトラック番号ＴＲｊからゾーン番号Ｚｉを算出し、ステップＳ２で、ゾーン番号Ｚｉより記録レーザーパワー格納テーブル１０６を参照して対応するゾーンのゾーン先頭トラック番号ＴＲｉの記録レーザーパワーＰｉを取り込む。
【０１８３】
続いてステップＳ３でそのゾーン番号Ｚｉの最終トラック番号ＴＲｉｅの記録レーザーパワーＰｉｅを取り込み、ステップＳ４で先頭トラックから最終トラックまでのトラック本数を求め、（１）式に従った直線補間により記録レーザーパワーＰｊを算出する。
【０１８４】
続いてステップＳ５で装置温度Ｔから図１０の特性に従って温度補正係数Ｋｔを算出する。続いてステップＳ６で、記録レーザーパワーＰｊを温度係数Ｋｔで補正する。そしてステップＳ７で、データ領域の感度シフト補正分のΔＰａを加算する。
【０１８５】
この時感度シフトの補正分ΔＰａがトラック位置また装置温度により影響される場合は前述の記録レーザパワーと同様に記録レーザパワーと同様に前記トラック位置の直線補間や温度補正を行っても良い。このようにすれば、より厳密な記録レーザバワーを得ることができ、高密度記録における信頼性が向上する。
【０１８６】
ステップＳ８で、それぞれの補正の済んだデータ領域の記録レーザーパワーＰｊを記録レーザーパワー設定部に出力する。
【０１８７】
尚、本発明によるテストトラックのイレーズ処理及びテストトラックのテストライトから得られた記録レーザーパワーをデータトラックの記録レーザーパワーを算出する際の補正方法は、図１７（Ａ）（Ｂ）のＲＡＤ媒体を例にとっているが、図１８のダブルマスクＲＡＤ媒体やＦＡＤ媒体にあっても同様である。
【０１８８】
また、超解像技術（ＭＳＲ）が適用される媒体は基本的には記録層と再生層を持つものであるが、それ以外に適宜の補助層を設けた各種のものがあり、いずれについてもイレーズ、ライトを繰り返す場合に最適記録レーザーパワーのシフトが発生する場合は本発明により最適なデーター領域の記録レーザーパワーを求めることができる。
【０１８９】
また、ＭＳＲ媒体や他の光磁気記憶媒体に限らず、磁界を必要としない相変化型光記憶媒体等においても高パワーをかける点だけを利用することで同様に応用可能である。
【０１９０】
本願では、情報記憶領域は、テスト領域を区別する為に使用し、テスト領域 （パワー測定領域）を除く、コントロール領域、データ領域等の情報の書き換えを行う領域を示す広義で使用するものである。尚、テスト領域はゾーン毎に設けておき、ゾーン毎にテストライトを行っても良いし、テストライトは一か所とか使用頻度の高いゾーンのテスト領域のみにして近似により記録パワーを求めて良い。
【０１９１】
また、ユーザデータ領域のトラックやセクタをデータ記録領域兼パワー測定用のテスト領域として扱うようにしても良い。さらに、テスト領域だけでなく、 データ領域で使用頻度の多いセクタやトラック（ＦＡＴ領域等）に対して高パ ワー処理を施しても良い。
【０１９２】
特に、データ領域で使用頻度が高い領域は、使用回数に比例してエラーの発生が多くなるので、高パワー処理により感度シフトによるエラーの発生を低下できる。ただし、この場合は、前述したような感度補正計算をせずに、感度シフトが飽和状態の領域としてテスト領域で求めた最適パワーを使用するように制御するのが良い。
【０１９３】
本発明は、前述した実施例に限られず適宜変形可能である。
【０１９４】
以上説明したように、本実施例では、媒体がイレーズ、ライトを繰り返すことで最適記録レーザーパワーが変化する（感度シフトする）場合には、媒体を通常使用時よりも高パワーにてイレーズして感度シフトを飽和させることができる 為、通常使用時の感度シフトを無くす、または小さくすることができる。
【０１９５】
また、テストトラックを通常使用時よりも高パワーにてイレーズしてテストトラックの感度シフトを飽和させておくため、テストトラックの通常使用時の感度シフトを無くす、または小さくすることができる。
【０１９６】
このため、テストトラックの感度シフトがほぼ無視できるようになるので、テストトラックのテストライトによって得られた最適パワーに感度補正量ΔＰａを加算することでデータトラックの感度シフト有り、無しに関わらず再生データ ビットの不一致数が閾値Ｎｔｈを満足するデータトラックの記録レーザーパワー値を求めることができる。
【０１９７】
【発明の効果】
以上、説明してきたように本発明によれば、光記憶媒体の各領域において、記録／消去の使用頻度が異なっても信頼性の高い記録パワーを得ることが可能になる。
【０１９８】
ゆえに、高精度なパワー制御により記録エラーの発生率が低下し、エラーリトライが何度も入り、交替処理が生じたりして、交替領域の消耗やアクセス速度の低下が生じるということを防止できる。
【０１９９】
つまり、本発明により光学的記憶媒体に対する信頼性の高い高密度記録を可能とし、一層の高密度記録が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光ディスクドライブのブロック図である。
【図２】ＭＯカートリッジをローディングした装置内部構造の説明図である。
【図３】感度シフトによる最適記録レーザーパワーの変化である。
【図４】イレーズ回数による最適記録レーザーパワー変化及び感度シフト補正方法である。
【図５】媒体のサーティファイ時に高パワーイレーズ処理を行う場合のフローチャートである。
【図６】ＭＰＵで実現される記録レーザーパワー処理部の機能ブロック図である。
【図７】記録レーザーパワー格納テーブルの説明図である。
【図８】図６の記録レーザーパワー校正処理における記録レーザーパワーの変化に対する不一致数（再生状態）の特性図である。
【図９】図６の記録レーザーパワー設定部による直線補間の説明図である。
【図１０】図６の記録レーザーパワー設定部による温度補正係数の説明図である。
【図１１】記録レーザーパワー校正処理を含む本発明の処理動作のフローチャートであ る。
【図１２】図１１の記録レーザーパワー校正処理に先立つディスク起動処理のフロー チャートである。
【図１３】図１１の校正処理の必要性判断のフローチャートである。
【図１４】記録レーザーパワー校正処理のフローチャートである。
【図１５】図１４の再生確認テーブルの説明図である。
【図１６】図６の記録レーザーパワー設定部による直接補間、温度補正処理、感度シフト分補正のフローチャートである。
【図１７】（Ａ）本発明の一実施例光学的記憶媒体の説明図である。
（Ｂ）ＲＡＤ方式の再生動作の説明図である。
【図１８】ダブルマスクＲＡＤ媒体の再生原理図である。
【符号の説明】
１０：コントローラ
１２：エンクロージャ
１４：ＭＰＵ
１５：ＤＳＰ
１６：インタフェースコントローラ
１８：フォーマッタ
２０：バッファメモリ
２２：エンコーダ
２４：レーザダイオード制御回路
２６：デコーダ
２８：リードＬＳＩ回路
３０：レーザダイオードユニット
３２：ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５４，５８，６２：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：磁界印加部（電磁石等）
４６：４分割ディテクタ
４８：ＦＥＳ検出回路
５０：ＴＥＳ検出回路
５２：レンズ位置センサ
５６：フォーカスアクチュエータ
６０：レンズアクチェータ
６４：ＶＣＭ（キャリッジアクチュエータ）
６６：ハウジング
６８：インレットドア
７０：ＭＯカートリッジ
７２：ＭＯ媒体
７６：キャリッジ
７８：固定光学系
８０：対物レンズ
１００：記録レーザーパワー校正部
１０２：校正タイミング判定部
１０４：校正処理部
１０６：記録レーザーパワー格納テーブル
１０８：記録レーザーパワー設定部
１１０，１１２：レジスタ群
Ｃ：コントロール領域
Ｔ：テスト領域
Ｄ：データ領域（ユーザ領域）
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光を用いて情報の記録と再生を行う光学的記憶媒体及びその光学的記憶装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、コンピュータの外部記憶媒体として、相変化型、光磁気型等のディスク状あるいはカード／テープ状の光記憶媒体が脚光を浴びている。
【０００３】
特に、光ディスクは、レーザ光を用いて、媒体上にサブミクロンオーダーの記録ピットを作ることにより、これまでの外部記憶媒体であるフロッピーディスクやハードディスクに比べ、格段に記録容量を増大させることが可能となる。
【０００４】
更に、希土類−遷移金属系材料を用いた光磁気ディスクにおいては、情報の書替えが１０万回以上可能であり、今後の発展がますます期待されている。
【０００５】
光ディスクは、最近では、３．５インチ片面で５４０ＭＢや６４０ＭＢの記憶容量を有するものが開発されている。
【０００６】
これは、３．５インチフロッピーディスク１枚の記憶容量が約１ＭＢであり、光ディスク１枚でフロッピーディスク５４０枚又は６４０枚分の記憶容量を持つことを意味する。このように、光ディスクは記録密度の非常に高い書替え可能な記憶媒体である。
【０００７】
しかし、これからのマルチメディア時代に備え、光ディスクの記録密度を現在よりも更に高くする必要がある。記録密度を高くするためには、媒体上に更に多くのマークを記録させなければならない。そのためには、現在よりもマークを更に小さくし、マークとマークの間隔も詰めていく必要がある。
【０００８】
このような方法で記録密度を高くする場合、レーザ光の波長を現在の６８５ｎｍよりも更に短くする必要があるが、実用化を考慮した場合、現行の波長６８５ｎｍでマークサイズを小さくしなければならない。
【０００９】
この場合、記録についてはレーザ光のパワーを制御することによってビーム径よりも小さなマークを形成することは可能である。しかし、再生については、 ビーム径よりも小さなマークを再生すると、隣のマークとのクロストークが大きくなり、最悪の場合、再生ビームの中に隣のマークまで入ってしまい、実用性を考慮した場合、非常に難しい。
【００１０】
現行の波長６８５ｎｍでビーム径よりも小さなマークを再生する方法として光磁気超解像技術（ＭＳＲ：Magnetically induced Super Resolution ）が考案されている。これには、ＦＡＤ(Front Apature Detection) 方式とＲＡＤ(Rear Apature Detection)方式の２つの方法がある。
【００１１】
特に、ＲＡＤ方式は、図１７（Ｂ）のように初期化磁石(Initializing Magne t)２３２を用いて再生層２１６の磁化方向を一定方向に揃える初期化を行い、再生時の再生レーザパワーを若干高くしてリードし、リードビームのレーザスポット２３４による媒体加熱の温度分布に依存し、再生層２１６には初期磁化情報が残っているマスク部２３６と初期磁化情報が消去されて記録層２２０の磁化情報が転写される開口部２３８が形成される。
【００１２】
再生層２１６に転写された記録層２２０の磁化情報は、光学磁気効果（カー効果あるいはファラデー効果）によって光学的な信号に変換されることでデータが再生される。
【００１３】
このとき、レーザビームが追従する現在読み出しているトラック２１４のマーク２２８に対し、次に読み出すマーク２３０は、再生層２１６の初期磁化情報によるマスク部２３６の形成で転写されないため、記録マークがレーザスポット２３４より小さくとも、クロストークは発生せず、ビーム径よりも小さなマークを再生することができる。
【００１４】
更に、この超解像技術を用いると、再生部分以外の記録層２２０の領域は初期化された再生層２１６によってマスクされた状態になっているので、隣のマークからのマーク干渉が発生せず、更にマーク間隔を詰めることができ、また、隣接するトラックからのクロストークを抑えることもできるので、トラックピッチも詰めることができ、現行の波長６８５ｎｍを用いても高密度化を行うことが可能となる。
【００１５】
なお、超解像技術の原理や、再生層、スイッチ層（中間層）、記録層からなる光磁気記録媒体層の希土類−遷移金属系膜材料及び光磁気記憶媒体の製造方法等については、特開平７−２４４８７７号、特開平９−１４７４３６号、特開平１０−１３４４２９号等に詳細が開示されている。
【００１６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような高密度記録を行う光学的記憶媒体を駆動する光学的記憶装置にあっては、記録時のレーザーパワーを厳密に制御しなければ、適切な記録動作ができないという問題がある。
【００１７】
また、ライト又はイレーズの回数により記憶媒体の感度が変化し、記録時の レーザーパワーの制御がうまくいかず、記録エラーの発生率が大きくなるという問題が判明した。
【００１８】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので、光学的記憶媒体の各領域における記録時のレーザパワーをライトやイレーズの回数に左右されないように厳密に制御可能にして、信頼性の高い高密度記録を可能にする光学的記憶媒体及びその処理方法及び光学的記憶媒体処理装置を提供することを目的とする。
【００１９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光学的記憶媒体の処理方法において、光ビームのパワー調整を行う前記光学的記憶媒体のパワー調整領域に対して、記録又は消去を行うパワーより高いパワーの光ビームを複数回繰り返し照射する高パワー処理を行うことを特徴とする。
【００２０】
さらに、光学的記憶媒体に対して光ビームを照射することでアクセスする光学的記憶媒体処理装置において、前記光学的記憶媒体の所定の位置に所定のパワーの光ビームを照射させる光学ヘッドと、光ビームのパワー調整を行うパワー調整領域に前記光学ヘッドにより光ビームを位置付け、前記パワーを記録又は消去を行うパワーより高いパワーに制御して、高パワーの光ビームを前記光学ヘッドにより前記パワー調整領域に対して照射させる高パワー処理を制御する高パワー処理制御手段とを少なくとも備えてなることを特徴とする。
【００２１】
従って、パワー調整領域を、光学的記憶媒体の製造直後の初期状態における感度特性から、ライトやイレーズを複数回繰り返した後の飽和状態における感度特性に変化させることが可能になる。つまり、ライトやイレーズを複数回繰り返しても感度シフト（最適記録パワーの変動）が生じることがなく、媒体の記録の際の最適記録パワーを厳密に制御することが可能になる。
【００２２】
媒体全体に対して高パワー処理を施している方が良いが、高パワー処理を行う処理時間が数千分とかかる。そこで、本願発明では、特に、光ビームのパワーを調整するパワー調整領域はパワーを厳密に測定するのに使用される事に着目し、感度シフトが発生しないようにパワー調整領域だけに高パワー処理を行って処理時間の短縮を図っている。
【００２３】
また、媒体の基板がポリカーボネート等の樹脂である場合、媒体全体や全ト ラックを長時間加熱すると、クラックが発生し使用できない媒体となってしまうが、本発明は必要最低限の領域に高パワー処理を行うので、クラック発生を防止できる効果がある。
【００２４】
そして、光学的記憶媒体に対して、高パワーにて光ビームを照射すると同時 に、所定方向の磁界を印加することを特徴とする。また、磁界の所定方向は消去方向であり、光学的記憶媒体に対して消去方向の磁界を印加しながら高パワーにて光ビームを照射することにより、高パワーイレーズを行うことを特徴とする。
【００２５】
従って、特に、光磁気記憶媒体に対して、磁界を印加しながら光ビームで加熱することにより、光磁気記憶媒体の磁性膜の磁化状態が記録又は消去状態に変化し、それが複数回繰り返し行われる為に確実に飽和状態に移行させることが可能である。
【００２６】
さらに、本発明は前記光学的記憶媒体のサーティファイを実行する際に高パ ワー処理を行うことを特徴とする。
【００２７】
なお、サーティファイは、媒体の製造時欠陥等の検出を行い初期欠陥リスト情報（ＰＤＬ）を媒体に書き込む処理であり、媒体に情報を最も最初に書き込む処理である。この処理の際に、高パワー処理を行っておけば最適記録パワーを厳密に制御した後にこの書き込み処理を行うことになり、信頼性の高い記録が可能になる。
【００２８】
さらに、本発明は、高パワー処理を行う際に光学的記憶媒体の回転数を通常使用する回転数より低い回転数にすることを特徴とする。従って、媒体加熱時間が長くなり、パワーをそれほど高くしなくてすむ。尚、回転数の設定によっては、所望の媒体加熱温度（記録層のキュリー点以上）が得られれば、通常の記録や消去のパワーと同じ位にしても良い。
【００２９】
高パワー処理を行う際にオフトラック検出機能を通常の設定よりも緩和することを特徴とする。従って、高パワー処理中に生じるオフトラック（エラー）の検出精度を下げて、軽微なエラーによる処理中断を防止し、処理時間の短縮を図 る。データ領域にユーザデータを記録しているわけではないので、多少検出精度を下げても問題は無いという理由からである。
【００３０】
本発明は、光学的記憶媒体の処理方法において、光ビームを照射することで情報の記録を繰り返し行う光学的記記憶媒体に対して、記録又は消去を行うパワーより高いパワーの光ビームを照射すると同時に所定方向の磁界を印加する高パ ワー磁界印加処理を複数回繰り返しを行うことを特徴とする。
【００３１】
従って、光学的記憶媒体の製造直後の初期状態における感度特性から、ライトやイレーズを複数回繰り返した後の飽和状態における感度特性に変化させることが可能になる。特に、光磁気記憶媒体に対して、磁界を印加しながら光ビームで加熱することにより、光磁気記憶媒体の記録層の磁化状態が記録又は消去状態に変化し、それが複数回繰り返し行われる為に確実に飽和状態に移行させることが可能である。
【００３２】
つまり、通常動作時にライトやイレーズを複数回繰り返しても感度シフト（最適記録パワーの変動）が生じることがなく、媒体の記録の際の最適記録パワーを厳密に制御することが可能になる。
【００３３】
また、この高パワー処理は、全トラックに対して実施しても良いし、パワー調整領域等の記録頻度が多い領域に対してのみ実施するものである。
【００３４】
さらに、本発明は、光学的記憶媒体処理装置において、パワー調整領域に高パワー処理がなされた光学的記憶媒体に対する情報の記録に先立って、前記パワー調整領域に対して記録を行って最適記録パワーを決定するパワー調整処理手段 と、前記パワー調整処理手段にて得られた前記パワー調整領域の最適記録パワーを所定の感度補正量にて補正したパワーを、情報記録領域に対して情報の記録を行う際の最適記録パワーとするパワー処理手段とを少なくとも備えてなることを特徴とする。
【００３５】
従って、パワー調整領域（テスト領域）を高パワー処理した記憶媒体に対し て、パワー調整の為のテストライトにより得られた最適記録パワーを、情報を記録する情報記録領域の媒体感度特性や温度特性に応じて定められた感度補正量により補正することで、情報記録領域の最適記録パワーを得ることができ、信頼性の高い記録が可能になる。
【００３６】
また、感度シフトが飽和状態の時の最適記録パワーと初期状態の時の最適記録パワーとの範囲内でかつ所定の条件を満たすパワーが情報記録領域の最適記録パワーになるように、感度補正量は定められてなることを特徴とする。
【００３７】
パワー調整領域は高パワー処理を施されているので、その領域の感度シフトは飽和状態である。情報記録領域はその使用頻度によって感度シフトが初期状態から飽和状態までのものまであり、最適記録パワーもばらついている。
【００３８】
従って、本発明では、感度シフトが初期状態の領域と飽和状態の領域の両方に対して十分なパワーが得られるように情報記録領域の最適記録パワーを決めておく。
【００３９】
これは、記憶媒体の感度シフトが初期状態の時と飽和状態の時の最適記録パ ワーを予めそれぞれ測定しておき、パワー調整領域の最適記録パワーに対するずれ量を求めることができる為である。このずれ量を感度補正量として予め定めておく。
【００４０】
ゆえに、テストライトを行うだけで容易に情報記録領域の最適パワーを求めることができる。
【００４１】
また、感度補正量を厳密に制御する為に、感度補正量を環境温度に応じて変更することも可能である。さらに、感度補正量を厳密に制御する為に、感度補正量を前記光学的記憶媒体の各ゾーンに応じて変更することもできる。感度補正量を厳密に制御する為に、感度補正量を記録エラー時のリトライ時に一定量加算または減算して変更することもできる。
【００４２】
さらに、本発明は、光ビームを照射することで情報の記録を繰り返し行う光学的記憶媒体において、キュリー点を超える温度で複数回繰り返し加熱処理された加熱処理領域が各ゾーンにそれぞれ設けられていることを特徴とする。
【００４３】
従って、各ゾーン毎に感度シフトが飽和状態になっている加熱処理領域が設けられているので、そこを各ゾーンのパワーを決定する為のパワー調整領域として使用したり、記録又は消去が頻繁に行われる特定領域として使用することで、頻繁なエラー発生を防止できる。
【００４４】
尚、ゾーンは、光学的記憶媒体の半径方向に分割管理される複数の領域であ り、ゾーンＣＡＶやゾーンＣＬＶの制御のためのゾーンである。
【００４５】
また、媒体の基板がポリカーボネート等の樹脂である場合、媒体全体や全ト ラックを長時間加熱すると、クラックが発生し使用できない媒体となってしまうが、本発明は媒体全体ではなく加熱処理が必要な領域を加熱処理領域として設けているので、クラック発生を防止でき、効率的に媒体を作成できる効果がある。
【００４６】
さらに、光学的記憶媒体に制御領域を設け、高パワー処理を行った旨を示す情報を記録することを特徴とする。
【００４７】
従って、高パワー処理を何度も行う必要が無くなる。
【００４８】
【実施の形態】
図１は本発明の光学的記憶装置である光ディスクドライブの回路ブロック図である。本発明の光ディスクドライブは、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成される。
【００４９】
コントローラ１０には光ディスクドライブの全体的な制御を行うＭＰＵ１４、上位装置との間でコマンド及びデータのやり取りを行うインタフェースコント ローラ１６、光ディスク媒体へのライトデータのフォーマット処理とリードデータに対するＥＣＣ処理を行うフォーマッタ１８、ＭＰＵ１４，インタフェースコントローラ１６及びフォーマッタ１８で共用されるバッファメモリ２０を備え る。
【００５０】
フォーマッタ１８に対してはライト系統としてエンコーダ２２とレーザダイ オード制御回路２４が設けられ、レーザダイオード制御回路２４の制御出力はエンクロージャ１２側の光学ユニットに設けたレーザダイオードユニット３０に与えられている。レーザダイオードユニット３０はレーザダイオードとモニタ用の受光素子を一体に備える。
【００５１】
この実施形態にあっては、一般に既に市販されている１２８〜６４０ＭＢの光磁気記憶媒体の他、超解像方式の高記録密度の、ＦＡＤ方式光磁気録媒体（以下「ＦＡＤ媒体」という）、やＲＡＤ方式の光磁気記憶媒体（以下ＲＡＤ媒体」という）等を媒体交換により使用することができる。
【００５２】
また、媒体の記録方式は、媒体上のマークの有無に対応してデータを記録するピットポジション記録（ＰＰＭ記録）、又はマークのエッジ即ち前縁と後縁を データに対応させるパルス幅記録（ＰＷＭ記録）を採用している。また媒体の記録フォーマットは、複数ゾーンに分割したＺＣＡＶ（ゾーン角速度一定）とす る。
【００５３】
光ディスクドライブにＭＯカートリッジをローディングした際には、まず媒体のＩＤ部をリードし、そのエンボスピット間隔からＭＰＵ１４において媒体の種別を認識し、種別結果をフォーマッタ１８に通知することで、媒体容量とＰＰＭ又はＰＷＭ記録に対応したフォーマット処理を行うことになる。
【００５４】
フォーマッタ１８に対するリード系統としては、デコーダ２６、リードＬＳＩ回路２８が設けられる。リードＬＳＩ回路２８に対しては、エンクロージャ１２に設けたディテクタ３２によるレーザダイオード３０からのビームの戻り光の受光信号が、ヘッドアンプ３４を介してＩＤ信号及びＭＯ信号として入力されている。
【００５５】
リードＬＳＩ回路２８にはＡＧＣ回路、フィルタ、セクタマーク検出回路、シンセサイザ及びＰＬＬ等の回路機能が設けられ、入力したＩＤ信号及びＭＯ信号よりリードクロックとリードデータを作成し、デコーダ２６に出力している。またスピンドルモータ４０による媒体の記録方式としてゾーンＣＡＶを採用していることから、リードＬＳＩ回路２８に対してはＭＰＵ１４より、内蔵したシンセサイザに対しゾーン対応のクロック周波数の切替制御が行われている。
【００５６】
ここでエンコーダ２２の変調方式及びデコーダ２６の復調方式は、フォーマッタ１８による媒体種別に応じＰＰＭ記録とＰＷＭ記録の変調及び復調方式に切り替えられる。
【００５７】
ＭＰＵ１４に対しては、エンクロージャ１２側に設けた温度センサ３６の検出信号が与えられている。ＭＰＵ１４は、温度センサ３６で検出した装置内部の環境温度に基づき、レーザダイオード制御回路２４におけるリード、ライト、イ レーズの各発光パワーを最適値に制御する。ＭＰＵ１４は、ドライバ３８によりエンクロージャ１２側に設けたスピンドルモータ４０を制御する。
【００５８】
ＭＯカートリッジの記録フォーマットはＺＣＡＶであることから、スピンドルモータ４０を例えば３２１４ｒｐｍ、３６００ｒｐｍ、４２００ｒｐｍ、４５００ｒｐｍ等の媒体の種類や容量に応じて定められた一定速度で回転させる。
【００５９】
またＭＰＵ１４は、ドライバ４２を介してエンクロージャ１２側に設けた磁界印加部４４を制御する。磁界印加部４４は装置内にローディングされたＭＯカートリッジのビーム照射側と反対側に配置されており、記録時、消去時及び再生時に媒体に外部磁界を供給する。磁界印加部４４としては通常、電磁石を使用するが、これ以外に本発明の校正処理により決定された最適磁界が得られる永久磁石でもよいし、更には電磁石と永久磁石を組合わせたものであってもよい。
【００６０】
磁界印加部４４による再生時の外部磁界は、ＦＡＤ媒体については再生磁界Ｈｒであり、ＲＡＤ媒体については初期化磁界Ｈｉである。更に再生時の磁界印加部４４による外部磁界は、本発明にあってはＭＰＵ１４の処理機能として実現される再生磁界校正部により常に最適磁界に校正されている。
【００６１】
ＤＳＰ１５は、媒体に対しレーザダイオード３０からのビームの位置決めを行うためのサーボコントローラとしての機能を有する。このため、エンクロージャ１２側の光学ユニットに媒体からのビーム戻り光を受光する４分割ディテクタ４６を設け、ＦＥＳ検出回路（フォーカスエラー信号検出回路）４８が、４分割 ディテクタ４６の受光出力からフォーカスエラー信号Ｅ１を作成してＤＳＰ１５に入力している。ここで４分割ディテクタ４６の受光部４６ａ，４６ｂ，４６ ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅｂ，Ｅｃ，Ｅｄとすると、フォーカスエラー信号Ｅ１は、
Ｅ１＝（Ｅａ＋Ｅｃ）−（Ｅｂ＋Ｅｄ）
として検出される。
【００６２】
このフォーカスエラー信号Ｅ１は、ＤＳＰ１５に与えられ、ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御部でフォーカスエラー信号Ｅ１を最小とするフォーカスアクチュエータ５６のフィードバック制御が行われる。
【００６３】
ＤＳＰ１５で実現される自動焦点制御部は、制御ループをオフした状態で対物レンズの位置を順次移動しながら最適フォーカス点となるオフセット値（目標 値）を求め、この最適フォーカス点のオフセット値を自動焦点制御ループに設定し、オフセット値で決まる対物レンズの位置（最適フォーカス点）を基準に フォーカスエラー信号Ｅ１を最小とするようにフィードバック制御される。
【００６４】
この最適フォーカス点を与えるオフセット値の位置決めとしては、トラッキングエラー信号Ｅ２が最大となるレンズ位置、ＲＦ再生信号が最大となるレンズ位置、及び４分割ディテクタ４６の総和信号が最大となるレンズ位置の３つがあ る。
【００６５】
ＴＥＳ検出回路（トラッキングエラー信号検出回路）５０は、４分割ディテクタ４６の受光出力からトラッキングエラー信号Ｅ２を作成し、ＤＳＰ１５に入力している。即ち、トラッキングエラー信号Ｅ２は、４分割ディテクタ４６の受光部４６ａ，４６ｂ，４６ｃ，４６ｄの受光信号をＥａ，Ｅｂ，Ｅｃ，Ｅｄとすると、
Ｅ２＝（Ｅａ＋Ｅｂ）−（Ｅｃ＋Ｅｄ）
となる。トラッキングエラー信号Ｅ２はＴＺＣ回路（トラックゼロクロス検出回路）４５に入力され、トラックゼロクロスパルスＥ３を作成してＤＳＰ１５に入力している。
【００６６】
更にエンクロージャ１２側には、媒体に対しレーザビームを照射する対物レンズのレンズ位置を検出するレンズ位置センサ５２が設けられ、そのレンズ位置検出信号（ＬＰＯＳ）Ｅ４をＤＳＰ１５に入力している。
【００６７】
ＤＳＰ１５は、ビーム位置決めの為、ドライバ５４，５８，６２を介して フォーカスアクチュエータ５６、レンズアクチュエータ６０及びＶＣＭ６４を制御駆動している。
【００６８】
光ディスクドライブにおけるエンクロージャの概略は図２のようになる。図２において、ハウジング６６内にはスピンドルモータ４０が設けられ、スピンドルモータ４０の回転軸のハブに対しインレットドア６８側よりＭＯカートリッジ７０を挿入することで、内部のＭＯ媒体７２がスピンドルモータ４０の回転軸のハブに装着されるローディングが行われる。
【００６９】
ローディングされたＭＯカートリッジ７０のＭＯ媒体７２の下側には、ＶＣＭ６４により媒体トラックを横切る方向に移動自在なキャリッジ７６が設けられている。
【００７０】
キャリッジ７６上には対物レンズ８０が搭載され、固定光学系７８に設けている半導体レーザからのビームをプリズム８２を介して入射し、ＭＯ媒体７２の媒体面にビームスポットを結像している。
【００７１】
対物レンズ８０は図１のエンクロージャ１２に示したフォーカスアクチュエータ５６により光軸方向に移動制御され、またレンズアクチュエータ６０により媒体トラックを横切る半径方向に例えば数十トラックの範囲内で移動することができる。このキャリッジ７６に搭載している対物レンズ８０の位置が、図１のレンズ位置センサ５２により検出される。
【００７２】
レンズ位置センサ５２は対物レンズ８０の光軸が直上に向かう中立位置でレンズ位置検出信号を０とし、アウタ側への移動とインナ側への移動に対しそれぞれ異なった極性の移動量に応じたレンズ位置検出信号Ｅ４を出力する。
更にＭＯ媒体７２のビーム照射面の反対側に相対して半径方向に長い磁界印加部４４が配置される。また磁界印加部４４としては、キャッジ７６に搭載され、ＭＯ媒体７２のビーム照射位置に対して外部磁界を印加するスライド構造のものであってもよい。
【００７３】
ここでは、高密度記憶媒体として、図１８のＭＳＲ光磁気記憶媒体のダブルマスクＲＡＤ方式を使用した例で述べる。ＭＳＲ媒体の構成は、特開平１０−１３４４２９号等で開示されているような、ポリカーボネート基板３１１上に、下地層（ＳｉＮ）、再生層３１５（ＧｄＦｅＣｏ）及びスイッチ層（中間層３１ ６）（ＧｄＦｅ又はＧｄＦｅＣｏ）、記録層３２０（ＴｂＦｅＣｏ）、保護層 （ＳｉＮ）が順次形成されたものを用いる。尚、図１８では、下地層、保護層は簡略化して示されている。
【００７４】
矢印で示されるように記録磁界３３３と再生磁界３３１は同じ方向であり、消去磁界３３２はそれと逆方向の磁界が与えられる。それぞれの磁界は、２００〜５００Ｏｅの間で制御される。
【００７５】
最初に、消去パワーの光ビームと消去磁界３３２を媒体に印加し、記録層３２０の磁化方向を下向きに揃えておく。そして、記録パワーの光ビームと記録磁界３３３を印加して記録層３２０の磁化方向を上向きのもの下向きのものを混在させることで信号の記録を行う。
【００７６】
そして、ダブルマスクＲＡＤ方式の再生動作原理は、光磁気記憶媒体に再生パワーの光ビームと再生磁界３３１を印加することで行われる。光ビームの移動方向に対して前方側となる低温領域（略１００℃よりも低い領域）では中間層と記録層の交換結合力が弱く、中間層の磁化が再生磁界の方向（上方向）に揃う。そして、中間層と再生層の交換結合力により再生層の磁化方向に下向きに揃って記録層の磁化方向をマスクする働きをする（フロントマスク）。
【００７７】
また、高温領域（略１８０℃より高い領域）は中間層のキュリー温度を超えた領域であり、中間層と再生層との交換結合力が切れている。これにより、再生層の磁化方向は再生磁界の磁化方向の上向きに揃い、記録層の磁化方向をマスクする働きをする（リアマスク）。
【００７８】
低温領域と高温領域との間の中間温度領域（略１００℃〜略１８０℃の領域）では、中間層を介して記録層と再生層との交換結合力により、記録層の磁化方向が再生層に転写されており、開口部（アパチャー）を形成している。
【００７９】
このように、フロントマスク及びリアマスクのダブルマスクが形成されるの で、磁気光学的出力を検出した場合に、トラック３１４上に位置するレーザス ポット３３４内において温度が低い領域と高い領域とがマスクとして働き、これらの領域では光磁気信号を読出すことはなく、中間の温度領域だけで光磁気信号を読出すことができる。
【００８０】
ここで、前述した記録エラーが生じる問題点を検証したところ、イレーズ、ライトを繰り返していくと、最適な記録レーザーパワーが変化する（以後感度シフトするともいう）現象が生じていることが判明した。
【００８１】
例えば、光記憶媒体がほとんどイレーズ、ライトされていない初期状態には、記録レーザーパワーＰと記録後の記録元データと再生データの不一致の関係が図３（Ａ）の曲線１４０のような特性を示すとする。感度シフトの無い場合はイ レーズ、ライトの回数を重ねても特性１４０は横軸方向の移動は生じない。
【００８２】
しかし、感度シフトが発生する場合は、初期にて記録レーザーパワーＰと再生データの不一致の関係が特性１４０であってもイレーズ、ライト回数が１４３の矢印向きに増えていくに従い特性１４１のようにシフトしていき最終的に特性１４２の状態になり、特性１４２の状態に達するとイレーズ、ライトを繰り返してもこれ以上感度シフトはしなくなる（飽和状態）という挙動を示す。
【００８３】
この感度シフトにより再生データの不一致数が最も少なくなる最適記録レー ザーパワーも初期状態ではＰｉが最適であるがイレーズ、ライトを繰り返すに従い次第に低くなり最終的に約５万回でＰｓの飽和状態に達する。
【００８４】
図３（Ｂ）１５０の特性のように、テストトラックの感度シフトが無い初期状態で、記録レーザーパワー校正処理（以下テストライトとともいう）を行うと最適記録レーザーパワーＰｔ１である。特性１５１のように、感度シフトが飽和したデータトラック、例えばＦＡＴ領域（ファイルアロケーションテーブル領域）では、Ｐｄ１が最適な記録レーザーパワー値となる。
【００８５】
従って、テストトラックの最適記録レーザーパワーＰｔ１から差分ΔＰ１を減算した値が飽和状態のデータトラックの最適記録バワーＰｄ１として計算でき る。そこで、図３（Ｃ）の１６１の特性のように、頻繁に使用され５万回以上イレーズ、ライトを繰り返されたテストトラックでテストライトを行い得られた最適記録レーザーパワーＰｔ２で上記の補正計算をすると、データトラックの最適記録バワーはＰｃ＝Ｐｄ２−ΔＰ１である。
【００８６】
図３（Ｃ）の１６０の特性を持つほぼ未使用で感度シフトが無いデータトラックの記録を行う場合、ベストはＰｄ２であり、最低でもＰｄｍｉn の値で記録しなければ規定の不一致数Ｎｔｈを満足しない。しかし、計算値Ｐｃはそれよりも大幅に小さい記録レーザーパワー値であり、不一致数が大幅に悪化してしまう。
【００８７】
つまり、光磁気記憶媒体のデータトラックを書き込む時の記録レーザーパワーを決定するテストトラックの使用頻度が一律でないため、またデータトラックも特定領域は頻繁に使用される一方でまったく使用されない領域が存在するため に、感度がどの場所でも一定で無いことが原因で記録エラーが発生することが究明された。
【００８８】
また、感度シフトの有る媒体を使って長時間イレーズ、ライト、リードしていると最初のうちは交替領域の増加は少ないがテストライトトラックの感度シフトが進むに連れてテストライトによって得られる最適記録パワー値とデータトラックの最適記録パワー値との間の差が大きくなっていく。
【００８９】
このことは、記録エラーが生じることを意味しエラーリトライが何度も入り、交替処理が生じたりして、交替領域の消耗やアクセス速度の低下が生じるという問題に発展する。
【００９０】
従って、感度シフトが発生する光磁気記憶媒体を使用する時、予め媒体を通常使用時より高いパワーを照射する高パワー処理を繰り返し感度シフトを飽和させておくことで、上記問題を解決する。また、その際に、媒体に所定方向の磁界を印加する。以下の実施例では、イレーズ方向の磁界を媒体に印加しているが、ライト方向の磁界を媒体に印加しても同様である。
【００９１】
感度シフトが生じる原因は究明されていないが、図３のようにＵ字型のカーブを描くということは、媒体自体の最適記録パワーの幅、つまりマージンがあまり無いということである。このマージンを確保する必要から本願は成されたものである。
【００９２】
そして、感度シフトが飽和していく原理は究明されていないが、媒体の記録層のキュリー温度を超える温度に媒体を加熱し、また磁界を印加することで、媒体の記録層の特性に何らかの変化が生じて、それらを繰り返すこと（複数回でな く所定の連続時間であっても良い）で感度シフトが飽和状態に移行していくようである。
【００９３】
従って、高パワーの光ビームを媒体のトラックに照射するだけでなく、媒体の記録層のキュリー温度を超える温度に加熱するような手段、例えば、オーブンを使って温度調整しながら、高パワー処理しても同様の作用効果を得ることができると考えられる。
（感度シフトと記録レーザパワーの関係）
図４（Ａ）はＭＳＲ媒体にてイレーズ、ライトを繰り返した場合の記録感度シフトの様子を示す。曲線１７０は通常使用時のレザーパワー値の場合であり、初期状態で最適記録レーザーパワーはＰｉであったが、イレーズ、ライトを繰り返すに従い感度が高感度側にシフトしていき、最終的には飽和値Ｐｓにて最適記録レーザーパワーのシフトはほぼ無くなる。
【００９４】
このＰｓに達するイレーズ回数はイレーズ時のレーザーパワー値、媒体の回転数等によって変化する。例えば通常のユーザ（ホスト）がイレーズコマンドで行うイレーズ動作時よりも２０％の高パワーでイレーズを行うと図４の特性１７１に示すように２００回でＰｓに達するというように感度シフトを加速することができる。例えば、通常動作時内周で７ｍＷ外周で１０ｍＷとした時、高パワー処理時内周９ｍＷ外周１２ｍＷにパワーを設定すれば、高パワーの光ビームを得 ることができる。
【００９５】
従って、２０％以上にパワーを上げれば上げる程、繰り返し回数を減らすことが予想され、処理時間を短縮することができる。また、記録膜や、基板に対して悪影響を与え、記録特性が劣化しないようために、パワーの上限としては５０％程度が限度である。
【００９６】
また、イレーズ時の媒体の回転数、つまり、スピンドルモータ４０の回転数を通常使用状態（ユーザがリード／ライトする時の回転数）よりも遅くすることでも同様な効果が得られる。例えば、レーザパワーを変えないで行う場合なら、レーザパワーアップの割合分回転数を下げるように制御することで、同様の効果を期待できる。
また、回転数を落としすぎても記録特性が劣化するおそれがあるため、回転数の下限としては、１／２程度が限度である。
【００９７】
本実施例の光ディスクドライブでは、ＭＳＲ媒体の場合通常の記録再生時に３２１４ｒｐｍでスピンドルモータ４０を駆動しているので、高パワー処理時に は、２５７０ｒｐｍに低下させることになる。
【００９８】
つまり、高パワーと低回転数を組わあせれば、繰り返し回数を減らすことが予想され、処理時間を短縮することができる。
【００９９】
これは、ＭＳＲ媒体の記録層のキュリー温度以上に媒体加熱できれば良いの で、回転数を遅くしてレーザの照射時間を長くすれば、レーザパワーを高パワーにしたのと同様な作用があるという原理である。
【０１００】
従って、繰り返し回数を加熱時間で調整することも可能である。
【０１０１】
しかし、長時間にわたって同じ箇所を加熱すると媒体にクラックが生じる場合がある。そこで、本実施例では、通常の光ディスクドライブの使用条件を変えるだけで高パワー処理を行い実現している。
【０１０２】
つまり、光ディスクの螺旋状のトラックに光ビームを追従させ、高パワー処理を行う最終トラックの最終のセクタに対するアクセスが終了したら、トラック ジャンプを行って高パワー処理を行う最初のトラック最初のセクタに戻るという動作を繰り返し行うことで達成している。
【０１０３】
また、両者を組み合わせれば、レーザダイオードユニット３０をそれほど大きなパワーで駆動する必要が無く、レーザダイオードユニット３０の負荷を減らすことも可能になる。
【０１０４】
（高パワーイレーズ処理）
この様な感度シフトをもつ光記憶媒体を使用する場合は、製造時または媒体の不良個所を調べるサーティファイ時に、最適記録レーザーパワーが図３（Ａ）のＰｓの値になる迄の回数テストトラックまたはテストトラックＴとデータトラックＤの両方を通常使用時より高パワーにてイレーズを、情報の記録に先立って行う。この時のイレーズ条件はＤＣイレーズ、高周波重畳イレーズかは問わない。
【０１０５】
サーティファイは媒体メーカがフォーマットを行う際に実行するものであり、ユーザ（ホスト）が通常行うフォーマット処理やリード／ライトコマンドとは、別の特殊コマンドで光ディスクドライブが高パワー処理を行うことになる。
【０１０６】
また、光ディスクドライブを媒体メーカ用に高パワー処理可能な機能を入れてカスタマイズした記憶媒体製造装置として構成しても良い。
【０１０７】
さらに、ドライブ自身の独自機能として、ユーザ（ホスト）の指示によらず に、高パワー処理を行うようにＭＰＵの処理ファームを構成しても良い。
【０１０８】
ここでは、光ディスクドライブのＭＰＵの処理機能で高パワー処理が行えるようにした装置で実現した例を述べている。
【０１０９】
本実施例では、テストトラックとデータトラックの媒体全体に対して高パワー処理を行うと数千時間を要してしまう為、処理時間短縮の為、各ゾーン毎に数トラックしかないテストトラックだけ行うことにする。
【０１１０】
尚、媒体全体に対して高パワー処理を行った方が、媒体全体の領域で感度シフトが無くなるという効果があることは言うまでもない。
【０１１１】
図５は、媒体のサーティファイ時に高パワーイレーズ処理を行う場合のフローチャートである。サーティファイとは、媒体の製造時における不良個所を調べ、その場所を媒体上の初期欠陥リスト（ＰＤＬ）領域に記録することである。その後、検出された不良箇所はその場所を媒体上の２次欠陥リスト（ＳＤＬ）領域に記録する。
【０１１２】
先ず、ステップＳ１にて媒体をリード、ライト可能な状態にするためのロード処理を行い、ステップＳ２でロードされた媒体の特定領域をリードしてステップＳ３でこのデータ中の予め決められた場所の値によって、以前に高パワーイレーズが行われたかどうか判断する。
【０１１３】
尚、特定領域は、ユーザが通常使用しない領域、例えば、媒体のフォーマット情報やＰＤＬ、ＳＤＬ等のコントロール情報が記録されるコントロールトラック（図１７（Ａ）Ｃ）の所定のセクタに記録しておく。
【０１１４】
テストトラックの高パワーイレーズが行われていないと判断された場合はス テップＳ４で全テストトラックの高パワーイレーズを行い、テストトラックの高パワーイレーズが行われていると判断された場合はステップＳ７のサーティファイのみを実行し終了する。
【０１１５】
ステップＳ４を終了してステップＳ５でこのテストトラックの高パワーイレーズ処理が正常終了か判断して、正常終了でない場合は終了する。ステップＳ５で正常終了と判断された場合は、ステップＳ６でテストトラックの高パワーイレーズを実行した情報を媒体に残すために、前記の特定領域に前もって定められた値を書き込み、Ｓ７にて媒体のサーティファイ動作を行い本動作を終了する。
【０１１６】
従って、本発明により、テストトラックの使用頻度が異なることで記録パワー感度が異なりテストライトを行う場所によって異なる最適パワーが得られる場合があったが、テストライトを行う場所によらずほぼ同じ最適パワーが求められるようになった。ゆえに、テストライトにより得られる最適パワーの信頼性が向上できる。
【０１１７】
尚、この図５では媒体のサーティファイ時の処理について記述しているが、通常の媒体のロード時、コマンド待ち時間や記録エラー検出の際のリトライ時等にこの高パワー処理を行っても良い。
【０１１８】
この高パワー処理を行うことによって最低限データトラックの記録レーザーパワーを決定するテストライトに使用するテストトラックの感度シフトによる影響は無くすことができる。
【０１１９】
また、この高パワー処理を行ったことは媒体のユーザが通常使用しない特定領域（図１７（Ａ）のコントロール領域Ｃ等）に残しておき、何度もこの処理が行われないようにする判断等に使用する。
【０１２０】
なお、この高パワー処理を行う場合はサーボ制御でのエラーが発生するとイ レーズ処理ができなくなるので最も発生頻度の高く、かつ媒体の傷、光ディスクドライブ間の検出レベル差が有るトラッキングエラー検出規格を通常使用時よりも緩和しておく。ここでは、ＭＰＵが、高パワー処理を行う時に、ＴＥＳ検出回路５０のオフトラックスライスレベルを高めに（振幅の半値の５３％を７５％ へ）設定する。
【０１２１】
高パワー処理を行った場合、テストトラックの感度シフトが無くなるので図４（Ｂ）の曲線１８１の状態にあり、記録するのに最適な記録レーザーパワーはＰｓなのでテストライトを行った場合この値が求められる。
【０１２２】
一方データトラックを書き込むのに最適なレーザーパワーは図４の曲線１８０のように感度シフトが無い場所と特性１８１のように感度シフトが飽和している場所が有るのでＰｉからＰｓの範囲である。
【０１２３】
また、図４（Ｂ）特性１８０に示すように感度シフトが無い場合と、特性１８０に示すように感度シフトがある場合で不一致数の所定の閾値Ｎｔｈを満足するＰａが存在する。
【０１２４】
そして、テストライトして得られた最適記録レーザーパワーＰｓにＰａとＰｓの差分（感度補正量）ΔＰａを加算することで、データトラックの感度シフト無し、また飽和している両方の場所（データトラックの使用頻度による感度の異なる場所）で、不一致数の所定の閾値Ｎｔｈを満足するデータトラックの記録レーザーパワーを得ることができる。
（記録レーザパワー校正処理）
図６は、図１７（Ａ）、（Ｂ）のＲＡＤ媒体を例にとって図１の光ディスクドライブのＭＰＵ１４の処理機能として実現される記録レーザーパワー設定部の駆動で発生される記録レーザーパワーを最適値に校正するための記録レーザーパ ワー校正処理の機能ブロック図である。
【０１２５】
図６において、ＭＰＵの処理機能によって実現される記録レーザーパワー校正部１００には、校正タイミング判定部１０２、校正処理部１０４、記録レーザーパワー格納テーブル１０６、及び記録レーザーパワー設定部１０８が設けられている。校正タイミング判定部１０２は、レジスタ群１１０に格納されている設定内容に応じて記録レーザーパワー校正処理の処理タイミングを設定して校正処理部１０４を起動する。
【０１２６】
レジスタ群１１０には初期化診断指示、媒体投入検出、装置内温度、上位割込要求、リトライ指示のレジスタ登録が行われており、これらレジスタ内容を校正タイミング判定部１０２で読み込んで校正処理部１０４を起動する。例えば校正タイミング判定部１０２にあっては、装置の電源投入に伴う初期化診断時、処理記憶媒体の装置投入によるローディング検出時、装置内温度の変化が所定値以上となった時、全体の校正処理からの経過時間を監視して所定の校正有効時間を経過した時、再生エラーが発生してリトライ処理を行う時などである。
【０１２７】
これ以外に、例えば装置を工場段階で完成して出荷する際の工場立上げ時に ディップスイッチ等のセットで校正タイミング判定部１０２により校正処理部１０４の校正処理を起動しても良い。また上位装置からのコマンド指示により、校正タイミング判定部１０２は校正処理部１０４を起動できる。
【０１２８】
更にまた、校正タイミング判定部１０２は上位装置からリードまたはライトなどの上位割り込み要求を受けると、そのとき校正処理部１０４が処理中か否か チェックし、もし校正処理中であれば校正処理を一旦中断し、上位割込要求によるアクセスを優先させ、割込要求処理終了後に再び校正処理部１０４を中断した時点から再開させるようになる。
【０１２９】
校正処理部１０４は、校正タイミング判定部１０２より校正処理の起動要求を受けて動作し、レーザーダイオードユニット３０に流す駆動電流を段階的に変化させることで記録レーザーパワーを変えながら、再生部から得られる再生信号より再生状態を判定し、記録可能状態となった最適記録レーザーパワーを求めて、記録レーザーパワー格納テーブル１０６に格納する。
【０１３０】
この校正処理部１０４による記録レーザーパワーの校正処理は光記憶媒体の ゾーン毎または数ゾーン毎に行われ、ゾーン毎に最適な記録レーザーパワーを記録レーザーパワー格納テーブル１０６に登録する。
【０１３１】
図７は記録レーザーパワー格納テーブル１０６であり、例えば光記憶媒体は ゾーン番号ｉに示すように１１ゾーンに分けられており、各ゾーン毎に記録レーザーパワー校正処理で求めた最適記録レーザーパワーＰｚ1 〜Ｐｚ11が格納されている。この最適記録レーザーパワー校正処理を行うトラックは、各ゾーンの境界の最先頭トラックもしくは最終トラックとすることが望ましい。
【０１３２】
このようにゾーンの先頭または最終トラックで記録レーザーパワーの校正処理を行うことは、図６の記録レーザーパワー設定部１０８で記録レーザーパワー格納テーブル１０６を参照して任意のゾーンの中の特定トラックの最適記録レー ザーパワーを与える記録レーザーパワーを直線補間により算出する際の演算処理を簡単にするためである。
【０１３３】
図８は図６の校正処理部１０４による記録レーザーパワー校正処理の手順であり、横軸に段階的に変化させる記録レーザーパワーＰをとっており、縦軸に再生データのビット比較による不一致数をとっている。
【０１３４】
まず記録レーザーパワーＰの変化に対する再生データの不一致数は、直線１１４に示す形を持つ。即ち記録レーザーパワーＰが低いと不一致数が大きく、この状態で記録レーザーパワーＰを増加し記録、再生すると不一致数が減少し、下向きの肩となる部分を過ぎると記録レーザーパワーＰの変化に対し略一定の不一致数を維持する。
【０１３５】
この状態で更に記録レーザーパワーを増加させ記録、再生するとある値を越えた時点から再び不一致数が増加を始める。このような記録レーザーパワーＰに対する不一致数の特性曲線１１４に対し、記録レーザーパワーとしては、不一致数が最低値を保っているフラットな部分の略中央の点１２４付近に設定することが望ましい。
【０１３６】
この図８の特性１１４は、装置内の環境温度を例えば室温２５℃に設定して実験的に得られ、この特性１１４における記録レーザーパワーＰを増加しながら記録、再生し得られた不一致数の所定の閾値Ｎｔｈに低下する点１１８の記録レーザーパワーＰ２を記録レーザーパワーの初期値として設定しておく。
【０１３７】
ここで記録レーザーパワーＰの増加は特性１１４の肩の手前の点１１８に対応して設定した記録レーザーパワー初期値Ｐから所定値ずつ段階的に増加させていけばよいが、特性１１４は温度により横軸方向にシフトすることから、そのときの装置温度によっては記録レーザーパワー初期値Ｐ２は必ずしも特性１１４の肩の点１１８に対応していない。
【０１３８】
そこで本発明の記録レーザーパワー校正処理にあっては、記録レーザーパワー初期値Ｐ２に対し所定値ｄＰだけ低くした記録レーザーパワーＰ１を最低値として段階的（ｄｐずつ）に記録レーザーパワーＰを増加させる。
【０１３９】
このように記録レーザーパワー初期値Ｐ２に対しｄP だけ低い値を記録レー ザーパワー校正処理の最低値とすることで、温度により特性１１４が記録レー ザーパワー方向にシフトしても記録レーザーパワーの校正処理の開始位置を特性の肩を過ぎた不一致数が閾値Ｎｔｈより多い部分に設定でき、ここから記録レーザーパワーを段階的に増加させることで確実に特性１１４における肩の部分を検出することができる。
【０１４０】
図８にあっては、最低記録レーザーパワーＰ１より段階的に記録レーザーパ ワーを増加させ記録、再生を行いながらそのときの不一致数を求め、不一致数が閾値Ｎｔｈ以下となる点と、また閾値Ｎｔｈ以上となる点直前の点を検出し、その時の記録レーザーパワーの加算平均を取ることで与えられる点Ｐｇを特性曲線１１４の最適記録レーザーパワーとする。
【０１４１】
Ｐｇ＝（Ｐｎ−１−Ｐ２）／２
この値Ｐｇを、テストトラックの最適記録レーザーパワーとして図６の記録レーザーパワー格納テーブル１０６に登録する。
【０１４２】
ここで、記録レーザーパワー校正処理の際に記録レーザーパワーを強くし過ぎるとレーザーダイオード素子を破壊してしまう恐れが有ることから、校正処理に使用する記録レーザーパワーＰには上限記録レーザーパワーＰmax が設定されている。
【０１４３】
図９は、図６の記録レーザーパワー設定部１０８で校正処理が終了した後に行われる通常の記録処理で実行される記録レーザーパワー格納テーブル１０６に ゾーン単位に格納した記録レーザーパワーから実際のアクセストラックに対応した記録レーザーパワーを直線補間により求める処理を表している。
【０１４４】
図６の記録レーザーパワー設定部１０８に対しては、レジスタ郡１１２によって媒体種別、装置内温度Ｔ、ライトコマンドに基づいたトラック番号ＨＨ、セクタ番号ＳＳ、更にゾーン番号Ｚｉがレジスタ設定しており、記録レーザーパワー設定部１０８はこれらのレジスタ郡１１２の設定情報に基づいた直線補間によりアクセス位置に必要な最適記録レーザーパワーを演算して、記録レーザーパワー信号Ｅ１３を出力する。
【０１４５】
図９はゾーンＺｉの中のトラック番号ＴＲｊが指定されたときの最適記録レーザーパワーＰｊの直線補間による算出原理である。まずこの実施形態にあって は、アクセス対象となったゾーンＺｉの先頭トラック番号ＴＲｉについて記録 レーザーパワー格納テーブル１０６に最適記録レーザーパワーＰｉが登録されており、次のゾーンＺi+1 の先頭位置のトラック番号ＴＲi+1 についても同様にして最適記録レーザーパワーＰi+1 が登録されている。
【０１４６】
この時のゾーンＺｉに属するトラック番号ＴＲｊの最適記録レーザーパワーＰｊは、次の直線補間の式により算出できる。ｍはゾーンＺｉの先頭トラックＴＲｉから最終トラックＴＲｉｅまでのディファレンス（トラック本数）である。
Ｐj ＝Ｐi ＋｛（Ｐｉ＋１−Ｐi ）｝・｛（ＴＲj −ＴＲi ）／ｍ｝
・・・（１）なお図９にあっては、各ゾーンの先頭トラック番号における最適記録レーザーパワーを記録レーザーパワー格納テーブル１０６に登録しているが、各ゾーンの最終トラックであってもよいし、もしくはゾーンの中央トラックであってもよ い。
【０１４７】
図１０は、図６の記録レーザーパワー設定部１０８により求められる媒体のアクセス位置に対応した最適記録レーザーパワーを与える装置内温度Ｔによる補正処理の特性図である。図１０は、横軸の装置内温度Ｔに対し図９の直線補間で求めたアクセス位置に対応した最適記録レーザーパワーを補正する温度補正係数Ｋｔの特性である。この温度補正係数Ｋｔは、
Ｋｔ＝Ａ・Ｔ＋Ｂ
で与えられ、負の温度係数を一般に持っている。そして温度補正係数Ｋｔは装置内温度２５℃のときをＫｔ＝１．０としている。この図１０で与えられる補正温度係数Ｋｔを用いた最適記録レーザーパワーＰの補正は、
Ｐ＝Ｐ｛１−Ｋｔ×（Ｔ−２５℃）｝
として算出する。
【０１４８】
最後にデータ領域の感度シフトに対応する為の補正値ΔＰａを加算してデータ領域を記録する最適パワーに設定する。
【０１４９】
Ｐ＝Ｐ＋ΔＰａ
なお、この補正量ΔＰａも記録トラック位置や温度に依存する場合は前記の記録レーザーパワーの記録トラックによる直線近似や装置温度による補正を行っても良い。
【０１５０】
次に図６の記録レーザーパワー校正部１００の処理機能を備えた本発明の光学的記憶装置の処理を説明する。図１１は本発明の光学的記憶装置の全体的な処理のフローチャートである。まず装置電源を投入すると、ステップＳ１で初期化及び自己診断処理を行い、ステップＳ２で媒体の投入を待つ。この状態で媒体を投入すると、ステップＳ３に進み、ディスク起動処理を行う。
【０１５１】
ステップＳ３のディスク起動処理は、図１２のフローチャートに示すようになる。まずステップＳ１で媒体のロードを行って、図２に示したようにスピンドルモータにセットして一定速度で回転する。続いてステップＳ２で校正要求フラグＦＬをセットする。続いてステップＳ３で現在時刻を初期化し、更にステップＳ４で現在の装置内温度Ｔを検出して起動時にレーザダイオードの発光パワーや磁界印加部による再生磁界を決めるために必要な処理を終了する。
【０１５２】
再び図１１を参照するに、ステップＳ３のディスク起動処理が済むと、ステップＳ４に進み、上位装置からのアクセス要求の有無をチェックする。
【０１５３】
この実施形態にあっては、媒体のローディングによりディスク起動処理を行っても、その時点では発光パワー及び再生磁界の校正処理は行わず、ディスク起動処理の通知を受けた上位装置から最初に発行される校正指示コマンドを受けて最初の発光パワー及び再生磁界の校正処理を行うようにしている。
【０１５４】
したがって、ステップＳ４で上位装置の最初に受けるアクセス要求は校正指示コマンドであり、ステップＳ５で校正の必要性を判断し、ステップＳ６で必要性有りとなったら、ステップＳ７でライトパワー、イレーズパワー、リードパワーなどの発光パワーの校正処理を行い、ステップＳ８で再生磁界校正処理を行う。
【０１５５】
上位装置からライトのアクセス要求を受けた場合には、ステップＳ１０に進んでライト要求が判別され、ステップＳ１１以降のライト処理を行う。このライト処理にあっては、ステップＳ１１でまず校正処理中か否かチェックする。校正処理中であればステップＳ１２で校正処理を一旦中断し、ステップＳ１３でライト処理を行う。
【０１５６】
ライト処理が済んだならば、ライトエラーの有無をチェックする。もしライトエラーがあれば、記録レーザーパワー校正処理を実行した後に、リトライ処理を行う。なお、この時にデータトラックの記録レーザーパワーの感度シフト補正分ΔＰａの値を一定の範囲で加算、減算してリトライを行っても良い。リトライ処理にてライトエラーがなければ、校正処理中断を行ったか否かチェックし、もし校正処理を中断していれば、中断した時点から校正処理を再開する。
【０１５７】
一方、ステップＳ４でアクセス要求無しと判断されれば、ステップＳ１６で媒体排出の有無をチェックし、媒体排出の要求を確認し排出要求が有れば媒体を排出後ステップＳ２に戻って次の媒体投入を待って同様な処理を繰り返す。ステップＳ１６にて媒体排出がなければ、ステップＳ１７で装置停止指示の有無を チェックした後、ステップＳ４に戻り、次の上位のアクセス要求を待って同様な処理を繰り返す。
【０１５８】
一方、上位装置からリードアクセスの要求があった場合には、ステップＳ１４に進んでリード要求を判断し、ステップＳ１５でリード処理を行うようになる。
【０１５９】
図１３は図１１のステップＳ５における校正の必要性判断処理のフローチャートである。校正の必要性判断処理にあっては、まずステップＳ１で現在時刻を読み込み、ステップＳ２で光ディスクドライブの起動から前回の校正処理までの時間Ａを算出する。ステップＳ３では、起動からの時間Ａを予め定めた一定時間例えば２０秒で割ることで、単位時間数Ｂに変換する。
【０１６０】
ステップＳ４にあっては、単位時間数Ｂが８未満、即ち起動から最初のテストライトまでの時間Ａが１６０秒未満か否かチェックする。１６０秒未満であればステップＳ５に進み、単位時間数Ｂは４未満か、即ち時間Ａは８０秒未満か否かチェックする。
【０１６１】
時間Ａが８０秒から１６０秒の間であった場合には、ステップＳ６で単位時間数Ｂを３、即ち時間Ａを６０秒にクリップして、ステップＳ７に進む。ステップＳ５で時間Ａが８０秒未満であった場合には、そのままステップＳ７に進む。ステップＳ７では、前回の校正処理で決定されている最適値（発光パワー及び記録レーザーパワー）の使用を保証する有効時間Ｃを算出する。
【０１６２】
この場合、有効時間Ｃは２０秒×２B （単位時間数）とする。但し、有効時間の最大値は１６０秒にリミットされる。この結果、校正処理で決定された最適値を保証する有効時間Ｃは、起動から最初の校正処理までの時間Ａが１６０秒未満であれば２B に対応した時間に設定される。１６０秒を超えた場合には、一定の有効時間Ｃ＝１６０秒に固定される。
【０１６３】
このような有効時間Ｃの算出は、光ディスクドライブにローディングした媒体の媒体温度が装置内温度に安定するまでに掛かる時間に応じて可変させている。即ち、媒体をローディングした直後の初期段階にあっては、媒体と装置内の温度の間には差があることから、この段階では装置内温度に基づいた校正は有効にできないことから、起動時には校正処理は行わない。
【０１６４】
ローディングした媒体の温度は１〜２分程度経過すると装置内の温度に平衡してくる。そこで光ディスクドライブ起動後の最初に上位装置からライトコマンドが発行されたタイミングに同期して最初の校正処理を行う。起動後、上位装置からライトコマンドが発行されるタイミングは様々であることから、図１３のス テップＳ１〜Ｓ７において、起動から最初の発光調整までの時間Ａを求め、この時間Ａから次回以降の校正タイミング判別のための有効時間Ｃを決めるようにしている。
【０１６５】
ステップＳ７で有効時間Ｃが算出できたならば、ステップＳ８で、有効判定時刻Ｄを前回のテストライト時刻に算出した有効時間Ｃを加えた時刻として算出する。そしてステップＳ９で、現在時刻が有効判定時刻Ｄを超えたか否か判定す る。現在時刻が有効判定時刻Ｄを超えていれば、ステップＳ１４に進んで校正処理フラグをオンし、図１１のステップＳ６にリターンする。
【０１６６】
ステップＳ９で現在時刻が有効判定時刻Ｄに達していない場合には、ステップＳ１３で校正処理フラグをオフとする。またステップＳ４で単位時間Ｂが８以上即ち１６０秒以上の場合には、ステップＳ１０に進み、現在時刻から前回の校正処理時刻を引いた時間が１時間未満か否かチェックする。
【０１６７】
１時間未満であればステップＳ１１で現在温度を読み込み、ステップＳ１２で前回温度に対し現在温度が±３℃の範囲内か否かチェックする。３℃以内であれば、ステップＳ１３で校正処理フラグをオフし、校正処理は行わない。
【０１６８】
前回温度に対し±３℃の範囲を超える温度変動があった場合には、ステップＳ１４で校正調整フラグをオンし、校正処理を実行する。またステップＳ１０で現在時刻と前回の校正処理時刻との差が１時間以上の場合には、ステップＳ１４で強制的に校正処理フラグをオンして校正処理を実行する。なお、この校正処理の必要性判断処理で設定されている各閾値時間は必要に応じて適宜に定めることができる。
【０１６９】
図１４は図１１のステップＳ８で行われる図６の記録レーザーパワー校正部１００の校正処理部１０４による記録レーザーパワー校正処理のフローチャートである。まずステップＳ１で、ゾーン番号Ｚ＝０、トラック番号ＴＲ＝０に初期化した後、ステップＳ２で測定トラックにシークし、ステップＳ３で記録レーザーパワーの初期値に対応したＰをセットする。
【０１７０】
続いてステップＳ４で、開始値を低めにセットする。この記録レーザーパワーの低めのセットは、記録レーザーパワーの初期値Ｐから所定値ｄＰを差し引く。その結果、図８の記録レーザーパワーＰ１を最初にレーザーダイオード制御回路２４にセットして校正処理を開始することになる。
続いてステップＳ５で、記録レーザーパワーを変化させて測定する回数を確認する為の変数ｉに１をセットする。
【０１７１】
続いてステップＳ６で、設定された記録レーザーパワーでテストパターンをテストトラックの測定位置に記録し、レーザダイオードに対し再生パワーを、再生磁界に所定の再生磁界を発生する電流値を設定してテストライトしたテストパ ターンを読み出す。そしてステップＳ７で再生確認処理を行う。
【０１７２】
この再生確認処理は、次の２つのいずれかとする。
【０１７３】
再生データと予め判明している再生位置の記録データ（テストパターン）とをビット単位に比較した不一致数（ビット誤り個数）が所定値以下となったことを検出して再生可能と判断する。
【０１７４】
図１のフォーマッタ１８に設けているＥＣＣ処理部において、再生データに対するＥＣＣ誤り訂正数が所定値以下となったことを検出して再生可能と判断す る。
【０１７５】
もちろん、これ以外にも適宜の再生可能とする判断方法、例えばエラーレートの計測等であってもよい。ステップＳ７で再生確認処理を行ったならば、ステップＳ８で記録レーザーパワーＰｉと不一致数Ｅｒｉを図１５に示す再生確認テーブルに格納し、ステップＳ９で記録レーザーパワーＰにｄＰを加算、ｉに１を加算する。
【０１７６】
ステップ１０で、もし増加した記録レーザーパワーＰが限界パワーを超えた場合には異常終了とする。ステップ１１でｉが測定測定する回数ｎを超えていない場合はステップ６からの動作を繰り返す。
【０１７７】
ステップ１１でｉが測定する回数ｎを超えている場合はステップ１２で前記再生確認テーブルの不一致数からテストトラックでの最適記録レーザーパワーを算出する。この計算をする時には図１５の再生確認テーブルを使う。
【０１７８】
図１５は再生確認テーブルであり、例えば測定番号ｉに示すように１１回に分けられており、ステップ６からステップ１１の繰り返しの処理にて各記録レー ザーパワーＰｉとその記録レーザーパワーにて記録した後再生した場合の不一致数Ｅｒｉが格納されている。
【０１７９】
この再生確認テーブル測定番号１から不一致数が減少して閾値Ｎth以下となる点と、例えばＥｒ２、再び増加して閾値Ｎth以上となる直前の点、例えばＥｒ ９、を求めこのそれぞれの不一致数に対応する記録レーザーパワーの相加平均Ｐｇは
Ｐｇ＝（Ｐ９＋Ｐ２）／２
を計算することで求められ、これがテストトラックを記録するのに最適な記録 レーザーパワーである。この最適記録レーザーパワーＰｇを図７の記録レーザーパワー格納テーブルのＰｚＺに記憶する。
【０１８０】
このような処理をステップＳ１４で最終ゾーンが判別されるまで、ステップＳ１５でゾーン番号とトラック番号を更新し、これを繰り返す。即ち、ゾーン番号はＺ＝Ｚ＋１と１つ増やし、またそのときトラック番号ＴＲは１ゾーン当たりのトラック数ｍを加えて次のゾーンの先頭トラック番号に更新して、ステップＳ２で測定トラックにシークすることになる。
【０１８１】
図１６は図１４の記録レーザーパワーの校正処理が終了した後に通常のライト処理で行われる図６の記録レーザーパワー設定部１０８によるアクセス位置に対応した最適記録レーザーパワー設定処理のフローチャートである。
【０１８２】
まず、ステップＳ１で、アクセス位置となるトラック番号ＴＲｊからゾーン番号Ｚｉを算出し、ステップＳ２で、ゾーン番号Ｚｉより記録レーザーパワー格納テーブル１０６を参照して対応するゾーンのゾーン先頭トラック番号ＴＲｉの記録レーザーパワーＰｉを取り込む。
【０１８３】
続いてステップＳ３でそのゾーン番号Ｚｉの最終トラック番号ＴＲｉｅの記録レーザーパワーＰｉｅを取り込み、ステップＳ４で先頭トラックから最終トラックまでのトラック本数を求め、（１）式に従った直線補間により記録レーザーパワーＰｊを算出する。
【０１８４】
続いてステップＳ５で装置温度Ｔから図１０の特性に従って温度補正係数Ｋｔを算出する。続いてステップＳ６で、記録レーザーパワーＰｊを温度係数Ｋｔで補正する。そしてステップＳ７で、データ領域の感度シフト補正分のΔＰａを加算する。
【０１８５】
この時感度シフトの補正分ΔＰａがトラック位置また装置温度により影響される場合は前述の記録レーザパワーと同様に記録レーザパワーと同様に前記トラック位置の直線補間や温度補正を行っても良い。このようにすれば、より厳密な記録レーザバワーを得ることができ、高密度記録における信頼性が向上する。
【０１８６】
ステップＳ８で、それぞれの補正の済んだデータ領域の記録レーザーパワーＰｊを記録レーザーパワー設定部に出力する。
【０１８７】
尚、本発明によるテストトラックのイレーズ処理及びテストトラックのテストライトから得られた記録レーザーパワーをデータトラックの記録レーザーパワーを算出する際の補正方法は、図１７（Ａ）（Ｂ）のＲＡＤ媒体を例にとっているが、図１８のダブルマスクＲＡＤ媒体やＦＡＤ媒体にあっても同様である。
【０１８８】
また、超解像技術（ＭＳＲ）が適用される媒体は基本的には記録層と再生層を持つものであるが、それ以外に適宜の補助層を設けた各種のものがあり、いずれについてもイレーズ、ライトを繰り返す場合に最適記録レーザーパワーのシフトが発生する場合は本発明により最適なデーター領域の記録レーザーパワーを求めることができる。
【０１８９】
また、ＭＳＲ媒体や他の光磁気記憶媒体に限らず、磁界を必要としない相変化型光記憶媒体等においても高パワーをかける点だけを利用することで同様に応用可能である。
【０１９０】
本願では、情報記憶領域は、テスト領域を区別する為に使用し、テスト領域 （パワー測定領域）を除く、コントロール領域、データ領域等の情報の書き換えを行う領域を示す広義で使用するものである。尚、テスト領域はゾーン毎に設けておき、ゾーン毎にテストライトを行っても良いし、テストライトは一か所とか使用頻度の高いゾーンのテスト領域のみにして近似により記録パワーを求めて良い。
【０１９１】
また、ユーザデータ領域のトラックやセクタをデータ記録領域兼パワー測定用のテスト領域として扱うようにしても良い。さらに、テスト領域だけでなく、 データ領域で使用頻度の多いセクタやトラック（ＦＡＴ領域等）に対して高パ ワー処理を施しても良い。
【０１９２】
特に、データ領域で使用頻度が高い領域は、使用回数に比例してエラーの発生が多くなるので、高パワー処理により感度シフトによるエラーの発生を低下できる。ただし、この場合は、前述したような感度補正計算をせずに、感度シフトが飽和状態の領域としてテスト領域で求めた最適パワーを使用するように制御するのが良い。
【０１９３】
本発明は、前述した実施例に限られず適宜変形可能である。
【０１９４】
以上説明したように、本実施例では、媒体がイレーズ、ライトを繰り返すことで最適記録レーザーパワーが変化する（感度シフトする）場合には、媒体を通常使用時よりも高パワーにてイレーズして感度シフトを飽和させることができる 為、通常使用時の感度シフトを無くす、または小さくすることができる。
【０１９５】
また、テストトラックを通常使用時よりも高パワーにてイレーズしてテストトラックの感度シフトを飽和させておくため、テストトラックの通常使用時の感度シフトを無くす、または小さくすることができる。
【０１９６】
このため、テストトラックの感度シフトがほぼ無視できるようになるので、テストトラックのテストライトによって得られた最適パワーに感度補正量ΔＰａを加算することでデータトラックの感度シフト有り、無しに関わらず再生データ ビットの不一致数が閾値Ｎｔｈを満足するデータトラックの記録レーザーパワー値を求めることができる。
【０１９７】
【発明の効果】
以上、説明してきたように本発明によれば、光記憶媒体の各領域において、記録／消去の使用頻度が異なっても信頼性の高い記録パワーを得ることが可能になる。
【０１９８】
ゆえに、高精度なパワー制御により記録エラーの発生率が低下し、エラーリトライが何度も入り、交替処理が生じたりして、交替領域の消耗やアクセス速度の低下が生じるということを防止できる。
【０１９９】
つまり、本発明により光学的記憶媒体に対する信頼性の高い高密度記録を可能とし、一層の高密度記録が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による光ディスクドライブのブロック図である。
【図２】ＭＯカートリッジをローディングした装置内部構造の説明図である。
【図３】感度シフトによる最適記録レーザーパワーの変化である。
【図４】イレーズ回数による最適記録レーザーパワー変化及び感度シフト補正方法である。
【図５】媒体のサーティファイ時に高パワーイレーズ処理を行う場合のフローチャートである。
【図６】ＭＰＵで実現される記録レーザーパワー処理部の機能ブロック図である。
【図７】記録レーザーパワー格納テーブルの説明図である。
【図８】図６の記録レーザーパワー校正処理における記録レーザーパワーの変化に対する不一致数（再生状態）の特性図である。
【図９】図６の記録レーザーパワー設定部による直線補間の説明図である。
【図１０】図６の記録レーザーパワー設定部による温度補正係数の説明図である。
【図１１】記録レーザーパワー校正処理を含む本発明の処理動作のフローチャートであ る。
【図１２】図１１の記録レーザーパワー校正処理に先立つディスク起動処理のフロー チャートである。
【図１３】図１１の校正処理の必要性判断のフローチャートである。
【図１４】記録レーザーパワー校正処理のフローチャートである。
【図１５】図１４の再生確認テーブルの説明図である。
【図１６】図６の記録レーザーパワー設定部による直接補間、温度補正処理、感度シフト分補正のフローチャートである。
【図１７】（Ａ）本発明の一実施例光学的記憶媒体の説明図である。
（Ｂ）ＲＡＤ方式の再生動作の説明図である。
【図１８】ダブルマスクＲＡＤ媒体の再生原理図である。
【符号の説明】
１０：コントローラ
１２：エンクロージャ
１４：ＭＰＵ
１５：ＤＳＰ
１６：インタフェースコントローラ
１８：フォーマッタ
２０：バッファメモリ
２２：エンコーダ
２４：レーザダイオード制御回路
２６：デコーダ
２８：リードＬＳＩ回路
３０：レーザダイオードユニット
３２：ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５４，５８，６２：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：磁界印加部（電磁石等）
４６：４分割ディテクタ
４８：ＦＥＳ検出回路
５０：ＴＥＳ検出回路
５２：レンズ位置センサ
５６：フォーカスアクチュエータ
６０：レンズアクチェータ
６４：ＶＣＭ（キャリッジアクチュエータ）
６６：ハウジング
６８：インレットドア
７０：ＭＯカートリッジ
７２：ＭＯ媒体
７６：キャリッジ
７８：固定光学系
８０：対物レンズ
１００：記録レーザーパワー校正部
１０２：校正タイミング判定部
１０４：校正処理部
１０６：記録レーザーパワー格納テーブル
１０８：記録レーザーパワー設定部
１１０，１１２：レジスタ群
Ｃ：コントロール領域
Ｔ：テスト領域
Ｄ：データ領域（ユーザ領域）
Claims (7)
- 光ビームを照射することで情報の記録を繰り返し行う光磁気記録媒体において、光ビームのパワー調整を行う前記光学的記憶媒体のパワー調整領域だけに対して、記録又は消去を行うパワーより高いパワーの光ビームを前記光磁気記録媒体の感度が飽和するまで複数回繰り返し照射する高パワー処理を行うことを特徴とする光磁気記録媒体の処理方法。
- 光ビームを照射することで情報の記録を繰り返し行う光磁気記録媒体に対して、記録又は消去を行うパワーより高いパワーの光ビームを照射すると同時に所定方向の磁界を印加する高パワー磁界印加処理を複数回繰り返しを行うことを特徴とする光学的記憶媒体の処理方法。
- 光磁気記録媒体に対して光ビームを照射することでアクセスする光磁気記録媒体処理装置において、
前記光磁気記録媒体の所定の位置に所定のパワーの光ビームを照射させる光学ヘッドと、 光ビームのパワー調整を行うパワー調整領域に前記光学ヘッドにより光ビームを位置付け、前記パワーを記録又は消去を行うパワーより高いパワーに制御して、高パワーの光ビームを媒体に情報を最も最初に書き込む処理であるサーティファイを実行する際に前記光学ヘッドにより前記パワー調整領域だけに対して照射させる高パワー処理を制御する高パワー処理制御手段と、を少なくとも備えてなることを特徴とする光磁気記録媒体処理装置。 - 前記高パワー処理制御手段は、前記パワー調整領域だけに対して、高パワーにて光ビームを照射すると同時に所定方向の磁界を印加する制御を行うことを特徴とする請求項３記載の光磁気記録媒体処理装置。
- 前記高パワー処理制御手段は、高パワー処理を行う際に光ビームのトラック追従状態を検出するオフトラック検出機能を通常動作時の設定よりも緩和させる制御を行うことを特徴とする請求項３記載の光磁気記録処理装置。
- 光磁気記録媒体に対して光ビームを照射することでアクセスする光磁気記録媒体処理装置において、パワー調整領域だけに高パワー処理がなされた光磁気記録媒体に対する情報の記録に先立って、前記パワー調整領域に対して記録を行って最適記録パワーを決定するパワー調整処理手段と、前記パワー調整処理手段にて得られた前記パワー調整領域の最適記録パワーを所定の感度補正量にて補正したパワーを、情報記録領域に対して情報の記録を行う際の最適記録パワーとするパワー処理手段と、を少なくとも備えてなることを特徴とする光磁気記録媒体処理装置。
- 前記感度シフトが飽和状態の時の最適記録パワーと初期状態の時の最適記録パワーとの範囲内でかつ所定の条件を満たすパワーが光磁気記録
媒体の情報記録領域の最適記録パワーになるように、前記感度補正量は定められてなる ことを特徴とする請求項６記載の光磁気記録媒体処理装置。
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