JPH1012983A - 回路基板、回路付きサスペンション基板及びそれらの製造方法 - Google Patents
回路基板、回路付きサスペンション基板及びそれらの製造方法Info
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- JPH1012983A JPH1012983A JP2877597A JP2877597A JPH1012983A JP H1012983 A JPH1012983 A JP H1012983A JP 2877597 A JP2877597 A JP 2877597A JP 2877597 A JP2877597 A JP 2877597A JP H1012983 A JPH1012983 A JP H1012983A
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- Japan
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- polyimide resin
- circuit
- circuit board
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- Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】金属箔基材上のポリイミド樹脂からなる絶縁層
を有する回路基板において、ポリイミド樹脂が大きい伸
び率を有し、従って、厳しい折り曲げ加工によっても、
ポリイミド樹脂層に割れが発生しない回路基板と、それ
を用いる回路付きサスペンション基板を提供することに
ある。 【解決手段】本発明による回路基板は、金属箔基材上に
ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板におい
て、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリイミド樹脂であること
を特徴とする。本発明による回路付きサスペンション基
板は、このような回路基板上に導体層からなる所要の回
路をパターニング技術によって形成してなる。
を有する回路基板において、ポリイミド樹脂が大きい伸
び率を有し、従って、厳しい折り曲げ加工によっても、
ポリイミド樹脂層に割れが発生しない回路基板と、それ
を用いる回路付きサスペンション基板を提供することに
ある。 【解決手段】本発明による回路基板は、金属箔基材上に
ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板におい
て、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリイミド樹脂であること
を特徴とする。本発明による回路付きサスペンション基
板は、このような回路基板上に導体層からなる所要の回
路をパターニング技術によって形成してなる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回路基板、回路付
きサスペンション基板及びそれらの製造方法に関し、詳
しくは、金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶縁層
を有する回路基板、そのような回路基板上に導体層から
なるパターン回路を設けた回路付きサスペンション基
板、それらの製造方法に関する。
きサスペンション基板及びそれらの製造方法に関し、詳
しくは、金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶縁層
を有する回路基板、そのような回路基板上に導体層から
なるパターン回路を設けた回路付きサスペンション基
板、それらの製造方法に関する。
【0002】例えば、コンピュータ等の外部記憶装置と
して用いられるハードディスク装置等の磁気ディスク装
置において、磁気記録や再生を行なうには、上記磁気デ
ィスクと磁気ヘッドとを相対的に走行させ、これによっ
て生じる空気流に抗して、磁気ヘッドを磁気ディスクに
弾性的に押し付けて、磁気ヘッドと磁気ディスクとの間
に一定の微小な間隔を保つことが必要である。このよう
に、磁気ヘッドを空気流に抗して磁気ディスクに弾性的
に押し付ける磁気ヘッド支持装置がサスペンションであ
る。本発明は、そのような回路付きサスペンション基板
を製造するために好適に用いることができる回路基板、
そのような回路基板上に導体層からなる回路をパターニ
ング技術によって形成してなるパターン回路付きサスペ
ンション基板、及びそれらの製造方法に関する。
して用いられるハードディスク装置等の磁気ディスク装
置において、磁気記録や再生を行なうには、上記磁気デ
ィスクと磁気ヘッドとを相対的に走行させ、これによっ
て生じる空気流に抗して、磁気ヘッドを磁気ディスクに
弾性的に押し付けて、磁気ヘッドと磁気ディスクとの間
に一定の微小な間隔を保つことが必要である。このよう
に、磁気ヘッドを空気流に抗して磁気ディスクに弾性的
に押し付ける磁気ヘッド支持装置がサスペンションであ
る。本発明は、そのような回路付きサスペンション基板
を製造するために好適に用いることができる回路基板、
そのような回路基板上に導体層からなる回路をパターニ
ング技術によって形成してなるパターン回路付きサスペ
ンション基板、及びそれらの製造方法に関する。
【0003】
【従来の技術】近年、半導体の高密度実装や高速信号処
理を目的とした薄膜多層回路基板として、金属箔にポリ
イミド樹脂からなる絶縁層を設けてなる回路基板が用い
られるようになっている。このような回路基板は、場合
によっては、厳しい折り曲げ加工が施されるが、従来よ
り知られている回路基板では、ポリイミド樹脂の伸びが
不十分であることから、折り曲げによって、樹脂層に割
れが生じることがある。
理を目的とした薄膜多層回路基板として、金属箔にポリ
イミド樹脂からなる絶縁層を設けてなる回路基板が用い
られるようになっている。このような回路基板は、場合
によっては、厳しい折り曲げ加工が施されるが、従来よ
り知られている回路基板では、ポリイミド樹脂の伸びが
不十分であることから、折り曲げによって、樹脂層に割
れが生じることがある。
【0004】他方、コンピュータやその周辺機器である
記憶装置は、容量の向上の一方で小型化や低価格が求め
られており、このような要望を背景として、なかでも、
ハードディスクドライブの技術が著しい進歩をみせてい
る。磁気ヘッドにおいても、従来からのメタルインギャ
ップ(MIG)に対して、最近では、コイル部分を薄膜
化した薄膜磁気ヘッド(TFH)や、更には、読み書き
兼用で且つ記憶容量も飛躍的に大きい薄膜−磁気抵抗複
合ヘッド(MR)の開発が急がれている。
記憶装置は、容量の向上の一方で小型化や低価格が求め
られており、このような要望を背景として、なかでも、
ハードディスクドライブの技術が著しい進歩をみせてい
る。磁気ヘッドにおいても、従来からのメタルインギャ
ップ(MIG)に対して、最近では、コイル部分を薄膜
化した薄膜磁気ヘッド(TFH)や、更には、読み書き
兼用で且つ記憶容量も飛躍的に大きい薄膜−磁気抵抗複
合ヘッド(MR)の開発が急がれている。
【0005】しかしながら、従来のように、所要の配線
をサスペンション基板上に導線を引き回して構成する技
術によっては、その導線がサスペンションの弾性率に影
響を与えて、前記浮上量の変動を招来し、場合によって
は、磁気ディスクとの接触によって、磁気ディスク装置
の耐久性を低下させることもある。そこで、近年、ヘッ
ドを実装するサスペンション基板上に直接、電気回路を
形成してなるサスペンションが実用化されるに至ってい
る。しかし、このようなサスペンションの製造におい
て、上述したように、回路基板に折り曲げ加工を行なっ
た場合に、折り曲げ部位において、ポリイミド樹脂に割
れが発生し、絶縁不良を生じ、最終的に得られる製品に
性能不良をもたらすことがある。
をサスペンション基板上に導線を引き回して構成する技
術によっては、その導線がサスペンションの弾性率に影
響を与えて、前記浮上量の変動を招来し、場合によって
は、磁気ディスクとの接触によって、磁気ディスク装置
の耐久性を低下させることもある。そこで、近年、ヘッ
ドを実装するサスペンション基板上に直接、電気回路を
形成してなるサスペンションが実用化されるに至ってい
る。しかし、このようなサスペンションの製造におい
て、上述したように、回路基板に折り曲げ加工を行なっ
た場合に、折り曲げ部位において、ポリイミド樹脂に割
れが発生し、絶縁不良を生じ、最終的に得られる製品に
性能不良をもたらすことがある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の金属
箔上にポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板
や、それを用いる回路付きサスペンション基板における
上述したような問題を解決するためになされたものであ
って、厳しい折り曲げ加工によっても、ポリイミド樹脂
層に割れが発生しない回路基板、それを用いる回路付き
サスペンション基板、及びそれらの製造方法を提供する
ことを目的とする。
箔上にポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板
や、それを用いる回路付きサスペンション基板における
上述したような問題を解決するためになされたものであ
って、厳しい折り曲げ加工によっても、ポリイミド樹脂
層に割れが発生しない回路基板、それを用いる回路付き
サスペンション基板、及びそれらの製造方法を提供する
ことを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明による回路基板
は、金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶縁層を有
する回路基板において、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリイミド樹脂であること
を特徴とする。
は、金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶縁層を有
する回路基板において、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリイミド樹脂であること
を特徴とする。
【0008】より詳細には、上記ポリイミド樹脂は、 (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物より得られるポリイミド樹脂前駆体を感光剤の存在下
で反応して得られるポリイミド樹脂である。
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物より得られるポリイミド樹脂前駆体を感光剤の存在下
で反応して得られるポリイミド樹脂である。
【0009】本発明による回路基板の製造方法は、金属
箔基材上に感光性ポリイミド樹脂前駆体からなる被膜を
形成し、露光させ、露光後加熱し、現像し、加熱してイ
ミド化させて、ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する
回路基板を製造する方法において、上記感光性ポリイミ
ド樹脂前駆体が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリアミド酸に感光剤を配
合してなることを特徴とする。
箔基材上に感光性ポリイミド樹脂前駆体からなる被膜を
形成し、露光させ、露光後加熱し、現像し、加熱してイ
ミド化させて、ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する
回路基板を製造する方法において、上記感光性ポリイミ
ド樹脂前駆体が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリアミド酸に感光剤を配
合してなることを特徴とする。
【0010】この方法によれば、金属箔基材上に感光性
ポリイミド樹脂前駆体からなる被膜を所定のパターンに
従って露光させ、露光後加熱し、現像して、上記前駆体
からなる所定のパターンを形成させ、これを最終的に高
温に加熱してイミド化させることによって、パターン化
したポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板を
得ることができる。
ポリイミド樹脂前駆体からなる被膜を所定のパターンに
従って露光させ、露光後加熱し、現像して、上記前駆体
からなる所定のパターンを形成させ、これを最終的に高
温に加熱してイミド化させることによって、パターン化
したポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板を
得ることができる。
【0011】本発明による回路付きサスペンションは、
金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶縁層を有し、
その上に導体層からなるパターン回路を有する回路付き
サスペンション基板において、ポリイミド樹脂が前記し
た芳香族ジアミンとテトラカルボン酸二無水物との反応
によって得られるポリイミド樹脂であることを特徴とす
る。
金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶縁層を有し、
その上に導体層からなるパターン回路を有する回路付き
サスペンション基板において、ポリイミド樹脂が前記し
た芳香族ジアミンとテトラカルボン酸二無水物との反応
によって得られるポリイミド樹脂であることを特徴とす
る。
【0012】また、本発明による回路付きサスペンショ
ンの製造方法は、前記回路基板のポリイミド樹脂からな
る絶縁層の上に導体層からなるパターン回路を形成する
回路付きサスペンション基板の製造方法において、感光
性ポリイミド樹脂前駆体が前記芳香族ジアミンとテトラ
カルボン酸二無水物との反応によって得られるポリアミ
ド酸に感光剤を配合してなることを特徴とする。
ンの製造方法は、前記回路基板のポリイミド樹脂からな
る絶縁層の上に導体層からなるパターン回路を形成する
回路付きサスペンション基板の製造方法において、感光
性ポリイミド樹脂前駆体が前記芳香族ジアミンとテトラ
カルボン酸二無水物との反応によって得られるポリアミ
ド酸に感光剤を配合してなることを特徴とする。
【0013】即ち、この方法は、所定のパターン化した
ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する前記回路基板を
形成し、次いで、上記絶縁層の上に導体層からなるパタ
ーン回路を形成することによって、回路付きサスペンシ
ョン基板を得るものである。
ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する前記回路基板を
形成し、次いで、上記絶縁層の上に導体層からなるパタ
ーン回路を形成することによって、回路付きサスペンシ
ョン基板を得るものである。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明によれば、金属箔基材上に
ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板におい
て、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン
ポリイミド樹脂からなる絶縁層を有する回路基板におい
て、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン
【0015】
【化9】
【0016】及び(b) 1,3−ビス(4−アミノフェノキ
シ)ベンゼン
シ)ベンゼン
【0017】
【化10】
【0018】及び1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)
ベンゼン
ベンゼン
【0019】
【化11】
【0020】から選ばれる少なくとも1種からなる芳香
族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物(ジフタル酸二無水物)
族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物(ジフタル酸二無水物)
【0021】
【化12】
【0022】との反応によって得られるポリイミド樹脂
である。
である。
【0023】本発明において、金属箔基材は、特に、限
定されるものではないが、通常、ステンレス箔、銅箔、
アルミニウム箔、銅−ベリリウム箔、リン青銅箔、42
アロイ箔等が用いられる。更に、本発明によれば、この
ような金属箔基材は、長尺物が好ましく用いられる。即
ち、長尺の金属箔基材にポリイミド樹脂からなる絶縁層
を一定のパターンを繰り返すようにして設け、それぞれ
パターン化した絶縁層の上にそれぞれ導体層からなる所
要のパターン回路を形成し、かくして、最終的に、個々
のパターン回路ごとに金属箔基材を裁断すれば、個々の
回路付きサスペンション基板を得ることができる。
定されるものではないが、通常、ステンレス箔、銅箔、
アルミニウム箔、銅−ベリリウム箔、リン青銅箔、42
アロイ箔等が用いられる。更に、本発明によれば、この
ような金属箔基材は、長尺物が好ましく用いられる。即
ち、長尺の金属箔基材にポリイミド樹脂からなる絶縁層
を一定のパターンを繰り返すようにして設け、それぞれ
パターン化した絶縁層の上にそれぞれ導体層からなる所
要のパターン回路を形成し、かくして、最終的に、個々
のパターン回路ごとに金属箔基材を裁断すれば、個々の
回路付きサスペンション基板を得ることができる。
【0024】そこで、本発明によれば、回路基板は、好
ましくは、長尺の金属箔基材、通常、長尺のステンレス
箔上に感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を塗布し、乾
燥させて、被膜を形成した後、この被膜を所定のパター
ンを有するマスクを介して、紫外線に露光させ、加熱
(露光後加熱)し、現像し、この後、加熱硬化(ポリア
ミド酸のポリイミド化)を行なって、ポリイミド樹脂か
らなる所定のパターンを形成させて、これを絶縁層とす
ることによって得ることができる。
ましくは、長尺の金属箔基材、通常、長尺のステンレス
箔上に感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を塗布し、乾
燥させて、被膜を形成した後、この被膜を所定のパター
ンを有するマスクを介して、紫外線に露光させ、加熱
(露光後加熱)し、現像し、この後、加熱硬化(ポリア
ミド酸のポリイミド化)を行なって、ポリイミド樹脂か
らなる所定のパターンを形成させて、これを絶縁層とす
ることによって得ることができる。
【0025】上記感光性ポリイミド樹脂前駆体は、上記
芳香族ジアミンとテトラカルボン酸二無水物とを実質的
に等モル比にて適宜の有機溶剤、例えば、N−メチル−
2−ピロリドンやジメチルアセトアミド等の中で反応さ
せて、ポリアミド酸(ポリアミック酸)を生成させ、こ
れに感光剤を配合してなる液状の組成物である。
芳香族ジアミンとテトラカルボン酸二無水物とを実質的
に等モル比にて適宜の有機溶剤、例えば、N−メチル−
2−ピロリドンやジメチルアセトアミド等の中で反応さ
せて、ポリアミド酸(ポリアミック酸)を生成させ、こ
れに感光剤を配合してなる液状の組成物である。
【0026】本発明によれば、上記芳香族ジアミンのう
ち、(a)成分であるm−フェニレンジアミンの割合は
60〜80モル%、好ましくは、65〜75モル%の範
囲であり、(b)成分である1,3−ビス(4−アミノフ
ェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス(4−アミノフェノ
キシ)ベンゼンから選ばれる少なくとも1種の割合は4
0〜20モル%、好ましくは、35〜25モル%の範囲
であり、本発明によれば、このような割合の2種類の芳
香族ジアミンを3,3',4,4' −ビフェニルテトラカルボン
酸二無水物と共に用いることによって、通常、20%以
上の高い伸び率を有するポリイミド樹脂を得ることがで
きる。
ち、(a)成分であるm−フェニレンジアミンの割合は
60〜80モル%、好ましくは、65〜75モル%の範
囲であり、(b)成分である1,3−ビス(4−アミノフ
ェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス(4−アミノフェノ
キシ)ベンゼンから選ばれる少なくとも1種の割合は4
0〜20モル%、好ましくは、35〜25モル%の範囲
であり、本発明によれば、このような割合の2種類の芳
香族ジアミンを3,3',4,4' −ビフェニルテトラカルボン
酸二無水物と共に用いることによって、通常、20%以
上の高い伸び率を有するポリイミド樹脂を得ることがで
きる。
【0027】本発明において、上記芳香族ジアミンにお
ける(a)成分及び(b)成分の割合(モル%)は、
(a)成分及び(b)成分のモル数をそれぞれa及びb
とするとき、それぞれ(a/(a+b))×100及び
(b/(a+b))×100で定義される。
ける(a)成分及び(b)成分の割合(モル%)は、
(a)成分及び(b)成分のモル数をそれぞれa及びb
とするとき、それぞれ(a/(a+b))×100及び
(b/(a+b))×100で定義される。
【0028】更に、本発明によれば、芳香族ジアミンの
うち、m−フェニレンジアミンは、得られるポリイミド
樹脂を紫外線に対して透明とし、後述するように、感光
剤を含む感光性ポリイミド樹脂前駆体を紫外線に対して
高感度とし、他方、1,3−又は1,4−ビス(4−アミノ
フェノキシ)ベンゼンは、感光性ポリイミド樹脂前駆体
を露光させ、加熱し、現像するときに、露光部と未露光
部の現像剤への溶解速度の差を大きくし、高コントラス
トの画像を与え、従って、精密なパターニング加工を行
なうことを可能とする。
うち、m−フェニレンジアミンは、得られるポリイミド
樹脂を紫外線に対して透明とし、後述するように、感光
剤を含む感光性ポリイミド樹脂前駆体を紫外線に対して
高感度とし、他方、1,3−又は1,4−ビス(4−アミノ
フェノキシ)ベンゼンは、感光性ポリイミド樹脂前駆体
を露光させ、加熱し、現像するときに、露光部と未露光
部の現像剤への溶解速度の差を大きくし、高コントラス
トの画像を与え、従って、精密なパターニング加工を行
なうことを可能とする。
【0029】上記感光剤としては、その詳細が特開平6
−75376号公報に記載されているように、一般式
(I)
−75376号公報に記載されているように、一般式
(I)
【0030】
【化13】
【0031】(式中、X1 からX4 はそれぞれ独立に水
素原子、フッ素原子、ニトロ基、メトキシ基、アミノ
基、ジアルキルアミノ基、シアノ基又はフッ化アルキル
基を示し、Y1 はシアノ基又は一般式−COR3 を示
し、Y2 はシアノ基又は一般式−COR4 を示し、ここ
に、R3 及びR4 はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアル
キル基若しくはアルコキシ基、アニリノ基、トルイジノ
基、ベンジルオキシ基、アミノ基又はジアルキルアミノ
基を示し、R1 、R2 及びR5 はそれぞれ独立に水素原
子又は炭素数1〜3のアルキル基を示す。R1 とR3 、
R2 とR4 は、ケト基を含む5員環、6員環又は複素環
の形成可能な員環となることができる。)で表わされる
ジヒドロピリジン誘導体が用いられる。
素原子、フッ素原子、ニトロ基、メトキシ基、アミノ
基、ジアルキルアミノ基、シアノ基又はフッ化アルキル
基を示し、Y1 はシアノ基又は一般式−COR3 を示
し、Y2 はシアノ基又は一般式−COR4 を示し、ここ
に、R3 及びR4 はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアル
キル基若しくはアルコキシ基、アニリノ基、トルイジノ
基、ベンジルオキシ基、アミノ基又はジアルキルアミノ
基を示し、R1 、R2 及びR5 はそれぞれ独立に水素原
子又は炭素数1〜3のアルキル基を示す。R1 とR3 、
R2 とR4 は、ケト基を含む5員環、6員環又は複素環
の形成可能な員環となることができる。)で表わされる
ジヒドロピリジン誘導体が用いられる。
【0032】具体例としては、例えば、4−o−ニトロ
フェニル−3,5−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチ
ル−1,4−ジヒドロピリジン(以下、ニフェジピンとい
う。)、4−o−ニトロフェニル−3,5−ジメトキシカ
ルボニル−2,6−ジメチル−1−メチル−4−ヒドロピ
リジン(以下、N−メチル体という。)、4−o−ニト
ロフェニル−3,5−ジアセチル−1,4−ジヒドロピリジ
ン(以下、単にアセチル体という。)等を挙げることが
できる。これらは単独で、又は2種以上の混合物として
用いられる。必要に応じて、現像剤に対する溶解助剤と
して、イミダゾールが適当量用いられる。
フェニル−3,5−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチ
ル−1,4−ジヒドロピリジン(以下、ニフェジピンとい
う。)、4−o−ニトロフェニル−3,5−ジメトキシカ
ルボニル−2,6−ジメチル−1−メチル−4−ヒドロピ
リジン(以下、N−メチル体という。)、4−o−ニト
ロフェニル−3,5−ジアセチル−1,4−ジヒドロピリジ
ン(以下、単にアセチル体という。)等を挙げることが
できる。これらは単独で、又は2種以上の混合物として
用いられる。必要に応じて、現像剤に対する溶解助剤と
して、イミダゾールが適当量用いられる。
【0033】本発明においては、上記ジヒドロピリジン
誘導体は、芳香族ジアミンと芳香族テトラカルボン酸二
無水物の合計量1モル部に対して、通常、0.05〜0.5
モル部の範囲で用いられる。イミダゾールも、必要に応
じて、芳香族ジアミンを含むジアミンと芳香族テトラカ
ルボン酸二無水物の合計量1モル部に対して、通常、0.
05〜0.5モル部の範囲で用いられる。
誘導体は、芳香族ジアミンと芳香族テトラカルボン酸二
無水物の合計量1モル部に対して、通常、0.05〜0.5
モル部の範囲で用いられる。イミダゾールも、必要に応
じて、芳香族ジアミンを含むジアミンと芳香族テトラカ
ルボン酸二無水物の合計量1モル部に対して、通常、0.
05〜0.5モル部の範囲で用いられる。
【0034】このような感光性ポリイミド樹脂前駆体
は、その溶液を適宜の基材上に塗布し、乾燥させ、これ
に紫外線を照射して露光(紫外線照射)させた後、加熱
(露光後加熱)することによって、ポジ型又はネガ型の
潜像を形成し、これを現像して、ポジ型又はネガ型の画
像、即ち、所要のパターンを得る。そこで、これを最終
的に高温に加熱して、ポリアミド酸をイミド化すれば、
ポリイミド樹脂からなるパターン被膜を得ることができ
る。
は、その溶液を適宜の基材上に塗布し、乾燥させ、これ
に紫外線を照射して露光(紫外線照射)させた後、加熱
(露光後加熱)することによって、ポジ型又はネガ型の
潜像を形成し、これを現像して、ポジ型又はネガ型の画
像、即ち、所要のパターンを得る。そこで、これを最終
的に高温に加熱して、ポリアミド酸をイミド化すれば、
ポリイミド樹脂からなるパターン被膜を得ることができ
る。
【0035】より詳細には、上記感光性ポリイミド樹脂
前駆体は、用いる感光剤の種類によって幾らか異なるも
のの、露光後加熱の温度が140℃前後の比較的低温で
あるときは、露光部が現像剤に溶解して、ポジ型画像を
形成し、他方、上記露光後加熱の温度が約170℃以上
の比較的高温であるときは、未露光部が現像剤に溶解し
て、ネガ型画像を形成する。
前駆体は、用いる感光剤の種類によって幾らか異なるも
のの、露光後加熱の温度が140℃前後の比較的低温で
あるときは、露光部が現像剤に溶解して、ポジ型画像を
形成し、他方、上記露光後加熱の温度が約170℃以上
の比較的高温であるときは、未露光部が現像剤に溶解し
て、ネガ型画像を形成する。
【0036】ここに、上記現像剤としては、通常、水酸
化テトラメチルアンモニウム等のような有機アルカリの
水溶液や、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等の無機
アルカリの水溶液が用いられる。アルカリ濃度は、通
常、2〜5重量%の範囲が適当である。必要に応じて、
上記アルカリ水溶液には、メタノール、エタノール、n
−プロパノール、イソプロパノール等の低級脂肪族アル
コールを加えてもよい。アルコールの添加量は、通常、
50重量%以下である。また、現像温度は、通常、25
〜50℃の範囲が適当である。
化テトラメチルアンモニウム等のような有機アルカリの
水溶液や、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等の無機
アルカリの水溶液が用いられる。アルカリ濃度は、通
常、2〜5重量%の範囲が適当である。必要に応じて、
上記アルカリ水溶液には、メタノール、エタノール、n
−プロパノール、イソプロパノール等の低級脂肪族アル
コールを加えてもよい。アルコールの添加量は、通常、
50重量%以下である。また、現像温度は、通常、25
〜50℃の範囲が適当である。
【0037】本発明において用いる感光性ポリイミド樹
脂前駆体によれば、露光後加熱の温度が140℃前後の
比較的低温であるときは、未露光部においては、前記ジ
ヒドロピリジン誘導体の1位置のイミノ基水素とポリア
ミド酸のカルボキシル基との間に水素結合を形成して、
ポリイミド樹脂の親水性と被膜の現像液への拡散速度と
が低下し、結果として、被膜の現像剤への溶解速度が低
下し、他方、露光部においては、露光によって、中性化
合物である前記ジヒドロピリジン誘導体が塩基性のピリ
ジン化合物に変化し、これがポリアミド酸と弱い塩構造
を形成し、その結果として、被膜の親水性が増大し、現
像剤への溶解速度が増す。このように、露光部の現像剤
への溶解速度が未露光部よりも大きいために、露光、露
光後加熱及び現像後の被膜は、ポジ型画像を与える。
脂前駆体によれば、露光後加熱の温度が140℃前後の
比較的低温であるときは、未露光部においては、前記ジ
ヒドロピリジン誘導体の1位置のイミノ基水素とポリア
ミド酸のカルボキシル基との間に水素結合を形成して、
ポリイミド樹脂の親水性と被膜の現像液への拡散速度と
が低下し、結果として、被膜の現像剤への溶解速度が低
下し、他方、露光部においては、露光によって、中性化
合物である前記ジヒドロピリジン誘導体が塩基性のピリ
ジン化合物に変化し、これがポリアミド酸と弱い塩構造
を形成し、その結果として、被膜の親水性が増大し、現
像剤への溶解速度が増す。このように、露光部の現像剤
への溶解速度が未露光部よりも大きいために、露光、露
光後加熱及び現像後の被膜は、ポジ型画像を与える。
【0038】他方、本発明において用いる感光性ポリイ
ミド樹脂前駆体によれば、露光後加熱の温度が約170
℃以上の比較的高温であるときは、未露光部は、露光後
加熱の温度が140℃前後の比較的低温であるときと同
様に、被膜の現像剤への溶解速度が低下するが、他方、
露光部においては、前記ジヒドロピリジン誘導体が露光
によって塩基性のピリジン化合物に変化し、これがポリ
アミド酸のポリイミド化を促進し、被膜の現像剤への溶
解速度を低下させると同時に、上記ピリジン化合物自身
も露光後加熱によって更に不溶性の環化化合物に変化す
ると共に、ポリアミド酸のポリイミド化を促進し、その
結果として、露光部の被膜の現像剤に対する溶解性が上
記未露光部に比べて一層低下する。このように、露光後
の上記加熱温度が約170℃以上の比較的高温であると
きは、露光部の現像剤への溶解速度が未露光部に比べて
著しく小さいので、露光、露光後加熱及び現像後の被膜
は、ネガ型画像を与える。
ミド樹脂前駆体によれば、露光後加熱の温度が約170
℃以上の比較的高温であるときは、未露光部は、露光後
加熱の温度が140℃前後の比較的低温であるときと同
様に、被膜の現像剤への溶解速度が低下するが、他方、
露光部においては、前記ジヒドロピリジン誘導体が露光
によって塩基性のピリジン化合物に変化し、これがポリ
アミド酸のポリイミド化を促進し、被膜の現像剤への溶
解速度を低下させると同時に、上記ピリジン化合物自身
も露光後加熱によって更に不溶性の環化化合物に変化す
ると共に、ポリアミド酸のポリイミド化を促進し、その
結果として、露光部の被膜の現像剤に対する溶解性が上
記未露光部に比べて一層低下する。このように、露光後
の上記加熱温度が約170℃以上の比較的高温であると
きは、露光部の現像剤への溶解速度が未露光部に比べて
著しく小さいので、露光、露光後加熱及び現像後の被膜
は、ネガ型画像を与える。
【0039】本発明によれば、長尺の金属箔基材上に上
述したような感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を塗布
し、加熱乾燥させて、前駆体被膜を形成し、これにマス
クを介して紫外線を照射して所定のパターンを露光さ
せ、露光後加熱し、現像し、好ましくは、所定のパター
ンを有するネガ画像を形成した後、これを加熱硬化し
て、イミド化反応を起こさせることによって、ポリイミ
ド樹脂からなる絶縁層を形成して、本発明による回路基
板を得ることができる。
述したような感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を塗布
し、加熱乾燥させて、前駆体被膜を形成し、これにマス
クを介して紫外線を照射して所定のパターンを露光さ
せ、露光後加熱し、現像し、好ましくは、所定のパター
ンを有するネガ画像を形成した後、これを加熱硬化し
て、イミド化反応を起こさせることによって、ポリイミ
ド樹脂からなる絶縁層を形成して、本発明による回路基
板を得ることができる。
【0040】このように、ポリイミド樹脂前駆体を加熱
してポリイミド化するには、好ましくは、その被膜を真
空下又は不活性ガス雰囲気下に350〜400℃程度に
数時間、加熱するのが好ましい。この後、この絶縁層の
上に常法に従って所定のパターンを有する導体層からな
る所定の回路を形成すると共に、所要の端子を形成し、
次いで、長尺の金属箔基材を所要の形状に化学的に切り
抜くことによって、本発明による回路付きサスペンショ
ン基板を得ることができる。
してポリイミド化するには、好ましくは、その被膜を真
空下又は不活性ガス雰囲気下に350〜400℃程度に
数時間、加熱するのが好ましい。この後、この絶縁層の
上に常法に従って所定のパターンを有する導体層からな
る所定の回路を形成すると共に、所要の端子を形成し、
次いで、長尺の金属箔基材を所要の形状に化学的に切り
抜くことによって、本発明による回路付きサスペンショ
ン基板を得ることができる。
【0041】本発明によれば、得られるポリイミド樹脂
の基材に対する接着性を向上させるために、必要に応じ
て、ジアミン成分の一部として、アミノ基含有2官能性
ポリシロキサンを用いてもよい。このようなアミノ基含
有2官能性ポリシロキサンの具体例として、例えば、一
般式(II)
の基材に対する接着性を向上させるために、必要に応じ
て、ジアミン成分の一部として、アミノ基含有2官能性
ポリシロキサンを用いてもよい。このようなアミノ基含
有2官能性ポリシロキサンの具体例として、例えば、一
般式(II)
【0042】
【化14】
【0043】(式中、R1 は炭素数1〜18のアルキレ
ン基、R2 は炭素数1〜18のアルキル基を示し、nは
1〜100の整数である。)で表わされるポリシロキサ
ンを挙げることができる。このようなアミノ基含有2官
能性ポリシロキサンは、ジアミン成分の10モル%以下
の範囲で用いられる。
ン基、R2 は炭素数1〜18のアルキル基を示し、nは
1〜100の整数である。)で表わされるポリシロキサ
ンを挙げることができる。このようなアミノ基含有2官
能性ポリシロキサンは、ジアミン成分の10モル%以下
の範囲で用いられる。
【0044】本発明において、上記アミノ基含有2官能
性ポリシロキサンの割合(モル%)は、前記芳香族ジア
ミン(a)成分及び(b)成分のモル数をそれぞれa及
びbとし、アミノ基含有2官能性ポリシロキサンのモル
数をcとするとき、(c/(a+b+c))×100で
定義される。
性ポリシロキサンの割合(モル%)は、前記芳香族ジア
ミン(a)成分及び(b)成分のモル数をそれぞれa及
びbとし、アミノ基含有2官能性ポリシロキサンのモル
数をcとするとき、(c/(a+b+c))×100で
定義される。
【0045】特に、本発明においては、上記一般式
(I)において、R1 は炭素数1〜7のアルキレン基で
あることが好ましく、具体例として、例えば、メチレ
ン、エチレン、プロピレン、ブチレン、ヘキシレン等の
アルキレン基を挙げることができる。R2 は炭素数1〜
7のアルキル基であることが好ましく、具体例として、
例えば、メチル、エチル、プロピル、ブチル、ヘキシル
等のアルキル基を挙げることができる。また、nは好ま
しくは1〜40である。なかでも、アミノ基含有2官能
性ポリシロキサンとして、ビス(アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサンが好ましく用いられる。
(I)において、R1 は炭素数1〜7のアルキレン基で
あることが好ましく、具体例として、例えば、メチレ
ン、エチレン、プロピレン、ブチレン、ヘキシレン等の
アルキレン基を挙げることができる。R2 は炭素数1〜
7のアルキル基であることが好ましく、具体例として、
例えば、メチル、エチル、プロピル、ブチル、ヘキシル
等のアルキル基を挙げることができる。また、nは好ま
しくは1〜40である。なかでも、アミノ基含有2官能
性ポリシロキサンとして、ビス(アミノプロピル)テト
ラメチルジシロキサンが好ましく用いられる。
【0046】次に、本発明による回路付きサスペンショ
ン基板は、前述したようにして、回路基板を製造した
後、パターニング技術の常法に従って、ポリイミド樹脂
からなる絶縁層の上に導体層からなるパターン回路を形
成すると共に、所要の端子を形成した後、最終的に前記
絶縁層を含む所要の形状にステンレス箔を化学的に切り
抜くことによって、個々の回路付きサスペンション基板
を得ることができる。
ン基板は、前述したようにして、回路基板を製造した
後、パターニング技術の常法に従って、ポリイミド樹脂
からなる絶縁層の上に導体層からなるパターン回路を形
成すると共に、所要の端子を形成した後、最終的に前記
絶縁層を含む所要の形状にステンレス箔を化学的に切り
抜くことによって、個々の回路付きサスペンション基板
を得ることができる。
【0047】このようにして、本発明によれば、前述し
たような高い伸び率を有するポリイミド樹脂からなる絶
縁層を有する回路基板上に所要の加工を行なって、回路
付きサスペンション基板とするので、厳しい折り曲げ加
工によっても、ポリイミド樹脂に割れが発生せず、従っ
て、絶縁不良等を起こすことがない。しかも、本発明に
よれば、前述したように、高感度高コントラストにて精
密なパターニング加工を行なうことができるので、回路
付きサスペンション基板の高容量小型化が可能である。
たような高い伸び率を有するポリイミド樹脂からなる絶
縁層を有する回路基板上に所要の加工を行なって、回路
付きサスペンション基板とするので、厳しい折り曲げ加
工によっても、ポリイミド樹脂に割れが発生せず、従っ
て、絶縁不良等を起こすことがない。しかも、本発明に
よれば、前述したように、高感度高コントラストにて精
密なパターニング加工を行なうことができるので、回路
付きサスペンション基板の高容量小型化が可能である。
【0048】以下に、図面に基づいて本発明による回路
付きサスペンション基板及びその製造について詳細に説
明する。
付きサスペンション基板及びその製造について詳細に説
明する。
【0049】図1は、本発明による回路付きサスペンシ
ョン基板1の一例を示す斜視図であり、ステンレス箔基
材2の上にポリイミド樹脂からなる絶縁層(図示せず)
を有し、その上に導体層3からなる所定のパターン回路
が薄膜として形成されている。先端には、基材への切込
みによって、ジンバル4が基材に一体に形成されてお
り、この上に磁気ヘッドを有するスライダ(図示せず)
が固定される。前後の端部にはそれぞれ所要の端子5及
び6が形成されている。但し、図1においては、基板の
表面を被覆保護する被覆層(カバー・レイ)が剥離され
ている状態を示す。
ョン基板1の一例を示す斜視図であり、ステンレス箔基
材2の上にポリイミド樹脂からなる絶縁層(図示せず)
を有し、その上に導体層3からなる所定のパターン回路
が薄膜として形成されている。先端には、基材への切込
みによって、ジンバル4が基材に一体に形成されてお
り、この上に磁気ヘッドを有するスライダ(図示せず)
が固定される。前後の端部にはそれぞれ所要の端子5及
び6が形成されている。但し、図1においては、基板の
表面を被覆保護する被覆層(カバー・レイ)が剥離され
ている状態を示す。
【0050】図2は、図1において、A−A線に沿う断
面図であり、ステンレス箔基材2の上にポリイミド樹脂
からなる絶縁層7を有し、その上にクロム薄膜23を介
して銅導体層3からなる所定のパターン回路が薄膜とし
て形成されている。この導体層は、ニッケル薄膜28か
らなる被覆にて保護されており、更に、その上に端子5
が形成されている。端子を除く全表面は、被覆層8によ
って被覆保護されている。
面図であり、ステンレス箔基材2の上にポリイミド樹脂
からなる絶縁層7を有し、その上にクロム薄膜23を介
して銅導体層3からなる所定のパターン回路が薄膜とし
て形成されている。この導体層は、ニッケル薄膜28か
らなる被覆にて保護されており、更に、その上に端子5
が形成されている。端子を除く全表面は、被覆層8によ
って被覆保護されている。
【0051】図3は、図1において、B−B線に沿う断
面図であり、ステンレス箔基材2の上にポリイミド樹脂
からなる絶縁層7を有し、その上にクロム薄膜23を介
して銅導体層3からなる所定のパターン回路が薄膜とし
て形成されている。この導体層は、ニッケル薄膜28か
らなる被覆にて保護されており、更に、被覆層8によっ
て被覆保護されている。長尺のステンレス箔基材2とし
ては、通常、その厚みが10〜60μm、好ましくは、
振動特性の観点から、15〜30μmで、幅が50〜5
00mm、好ましくは、125〜300mmの範囲のも
のが用いられる。しかし、これらに限定されるものでは
ない。
面図であり、ステンレス箔基材2の上にポリイミド樹脂
からなる絶縁層7を有し、その上にクロム薄膜23を介
して銅導体層3からなる所定のパターン回路が薄膜とし
て形成されている。この導体層は、ニッケル薄膜28か
らなる被覆にて保護されており、更に、被覆層8によっ
て被覆保護されている。長尺のステンレス箔基材2とし
ては、通常、その厚みが10〜60μm、好ましくは、
振動特性の観点から、15〜30μmで、幅が50〜5
00mm、好ましくは、125〜300mmの範囲のも
のが用いられる。しかし、これらに限定されるものでは
ない。
【0052】図4から図5は、本発明による回路基板の
製造工程を示し、図6から図16は、本発明による回路
付きサスペンションの製造工程を示す。
製造工程を示し、図6から図16は、本発明による回路
付きサスペンションの製造工程を示す。
【0053】先ず、図4に示すように、上述したような
ステンレス箔基材2の全面に、得られる樹脂層の厚みが
2〜20μm、好ましくは、5〜10μmとなるよう
に、感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を塗布し、60
〜150℃、好ましくは、80〜120℃で加熱して、
上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜21を形成す
る。
ステンレス箔基材2の全面に、得られる樹脂層の厚みが
2〜20μm、好ましくは、5〜10μmとなるよう
に、感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を塗布し、60
〜150℃、好ましくは、80〜120℃で加熱して、
上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜21を形成す
る。
【0054】次に、この感光性ポリイミド樹脂前駆体の
被膜に適宜のマスクを介して紫外線を照射し、所定のパ
ターンに露光させる。ここに、露光積算光量は、100
〜1000mJ/cm2 、好ましくは、200〜700
mJ/cm2 の範囲であり、露光波長は、通常、300
〜450nm、好ましくは、350〜420nmの範囲
である。この露光の後、被膜を80〜200℃、好まし
くは、120〜180℃の温度で約2〜10分程度加熱
(露光後加熱)し、次いで、現像処理を行なう。本発明
においては、ネガ型画像を得るのが好ましい。この後、
このようにして得られたポリイミド樹脂前駆体のパター
ン被膜を高温に加熱して、ポリイミド化し、かくして、
図5に示すように、ステンレス箔基材2上にポリイミド
樹脂からなるパターン化した絶縁層22を形成して、本
発明による回路基板を得る。
被膜に適宜のマスクを介して紫外線を照射し、所定のパ
ターンに露光させる。ここに、露光積算光量は、100
〜1000mJ/cm2 、好ましくは、200〜700
mJ/cm2 の範囲であり、露光波長は、通常、300
〜450nm、好ましくは、350〜420nmの範囲
である。この露光の後、被膜を80〜200℃、好まし
くは、120〜180℃の温度で約2〜10分程度加熱
(露光後加熱)し、次いで、現像処理を行なう。本発明
においては、ネガ型画像を得るのが好ましい。この後、
このようにして得られたポリイミド樹脂前駆体のパター
ン被膜を高温に加熱して、ポリイミド化し、かくして、
図5に示すように、ステンレス箔基材2上にポリイミド
樹脂からなるパターン化した絶縁層22を形成して、本
発明による回路基板を得る。
【0055】次いで、図6に示すように、パターン化し
たポリイミドの絶縁層22を有するステンレス箔基材2
の全面にクロム薄膜23と銅薄膜24とをスパッタリン
グにて連続して順次に形成する。クロム薄膜23は、ポ
リイミドからなる絶縁層22上に銅薄膜24を密着させ
るのに有用である。ここに、膜厚は、クロム薄膜が10
0〜600オングストローム、銅薄膜が500〜200
0オングストロームの範囲が好ましい。このようにして
得られる銅薄膜の表面抵抗は、通常、0.6Ω/□以下で
ある。
たポリイミドの絶縁層22を有するステンレス箔基材2
の全面にクロム薄膜23と銅薄膜24とをスパッタリン
グにて連続して順次に形成する。クロム薄膜23は、ポ
リイミドからなる絶縁層22上に銅薄膜24を密着させ
るのに有用である。ここに、膜厚は、クロム薄膜が10
0〜600オングストローム、銅薄膜が500〜200
0オングストロームの範囲が好ましい。このようにして
得られる銅薄膜の表面抵抗は、通常、0.6Ω/□以下で
ある。
【0056】この後、図7に示すように、上記銅薄膜2
4の上に厚さ2〜15μm程度の電解銅めっきを行なっ
て、銅からなる導体層25を形成する。図7において
は、前記クロム薄膜は図示されていない。
4の上に厚さ2〜15μm程度の電解銅めっきを行なっ
て、銅からなる導体層25を形成する。図7において
は、前記クロム薄膜は図示されていない。
【0057】次いで、図8及び図9に示すように、常法
に従って、フォトレジスト26又はドライフィルムラミ
ネートを用いるパターニング技術によって、露光及び現
像処理を行なった後、非パターン部の銅導体層25をエ
ッチングにて除去し、かくして、前記ポリイミド樹脂か
らなる絶縁層22の上に上記銅からなる所定の導体パタ
ーン27を形成する。ここに、銅のエッチングにはアル
カリエッチングによることが好ましい。
に従って、フォトレジスト26又はドライフィルムラミ
ネートを用いるパターニング技術によって、露光及び現
像処理を行なった後、非パターン部の銅導体層25をエ
ッチングにて除去し、かくして、前記ポリイミド樹脂か
らなる絶縁層22の上に上記銅からなる所定の導体パタ
ーン27を形成する。ここに、銅のエッチングにはアル
カリエッチングによることが好ましい。
【0058】このような非パターン部の銅導体層のエッ
チング除去の後、更に、前記クロム薄膜23をエッチン
グ除去して、図10に示すように、前記ポリイミド樹脂
からなる絶縁層22の上に所定の導体パターン27を得
る。クロム薄膜23のエッチングには、例えば、フェリ
シアン化カリウム系のエッチング液や、このほか、過マ
ンガン酸カリウム、メタケイ酸ナトリウム系等のエッチ
ング液が用いられる。
チング除去の後、更に、前記クロム薄膜23をエッチン
グ除去して、図10に示すように、前記ポリイミド樹脂
からなる絶縁層22の上に所定の導体パターン27を得
る。クロム薄膜23のエッチングには、例えば、フェリ
シアン化カリウム系のエッチング液や、このほか、過マ
ンガン酸カリウム、メタケイ酸ナトリウム系等のエッチ
ング液が用いられる。
【0059】このようにして、基材上の不必要なクロム
薄膜を除去した後、無電解ニッケルめっきを行なって、
図11に示すように、上記銅導体層27とステンレス箔
基材2の表面に硬質のニッケル薄膜28を形成して、銅
導体層の表面を被覆、保護する。従って、このニッケル
めっきの膜厚は、下層の銅導体層が露出しない程度であ
ればよく、通常、0.05〜0.1μmの範囲である。この
後、配線部分の導体パターン27を前記した感光性ポリ
イミド樹脂前駆体を用いて被覆保護すると共に、所要の
端子部には端子を形成し、これを残して、表面を同様に
被覆保護して、被覆層(カバー・レイ)を形成する。図
12以下において、基材の左側は配線部の形成を示し、
右側は端子部の形成を示す。
薄膜を除去した後、無電解ニッケルめっきを行なって、
図11に示すように、上記銅導体層27とステンレス箔
基材2の表面に硬質のニッケル薄膜28を形成して、銅
導体層の表面を被覆、保護する。従って、このニッケル
めっきの膜厚は、下層の銅導体層が露出しない程度であ
ればよく、通常、0.05〜0.1μmの範囲である。この
後、配線部分の導体パターン27を前記した感光性ポリ
イミド樹脂前駆体を用いて被覆保護すると共に、所要の
端子部には端子を形成し、これを残して、表面を同様に
被覆保護して、被覆層(カバー・レイ)を形成する。図
12以下において、基材の左側は配線部の形成を示し、
右側は端子部の形成を示す。
【0060】即ち、図12に示すように、配線部では、
ポリイミド樹脂29にて導体パターン27を被覆し、端
子部では、パターニングによって、端子部を残すと共
に、端子を電解めっきにて形成するためのリード部30
を残して、前記感光性ポリイミド樹脂前駆体を用いて、
前記同様の塗布、露光、露光後加熱、現像及び加熱硬化
(イミド化)を行なって、ポリイミド樹脂にて被覆し、
被覆層31を形成する。
ポリイミド樹脂29にて導体パターン27を被覆し、端
子部では、パターニングによって、端子部を残すと共
に、端子を電解めっきにて形成するためのリード部30
を残して、前記感光性ポリイミド樹脂前駆体を用いて、
前記同様の塗布、露光、露光後加熱、現像及び加熱硬化
(イミド化)を行なって、ポリイミド樹脂にて被覆し、
被覆層31を形成する。
【0061】次いで、図13に示すように、端子部にお
いては、先ず、導体パターン27の表面を保護していた
無電解ニッケルめっき薄膜28(図11参照)を剥離
し、同時に、ステンレス箔基材2上の無電解ニッケルめ
っき薄膜28も除去する。この後に、常法に従って、通
常のフォトレジストを用いる方法によって、端子部のみ
を残して、ステンレス箔基材、導体パターン27及びポ
リイミド樹脂被覆層31をレジストにて被覆した後、上
記端子部に電解ニッケルめっき32と電解金めっき33
を順次に行なって、端子34を形成する。ここに、電解
ニッケルめっきと電解金めっきの厚さは、いずれも、1
〜5μm程度が適当である。この後、上記レジストを除
去する。
いては、先ず、導体パターン27の表面を保護していた
無電解ニッケルめっき薄膜28(図11参照)を剥離
し、同時に、ステンレス箔基材2上の無電解ニッケルめ
っき薄膜28も除去する。この後に、常法に従って、通
常のフォトレジストを用いる方法によって、端子部のみ
を残して、ステンレス箔基材、導体パターン27及びポ
リイミド樹脂被覆層31をレジストにて被覆した後、上
記端子部に電解ニッケルめっき32と電解金めっき33
を順次に行なって、端子34を形成する。ここに、電解
ニッケルめっきと電解金めっきの厚さは、いずれも、1
〜5μm程度が適当である。この後、上記レジストを除
去する。
【0062】次いで、図14に示すように、端子34を
形成した導体パターン27において、上記電解めっきに
用いたリード部30(図12参照)を化学エッチングに
て除去する。リード部の銅及びクロムの除去は、前述し
たと同じ方法によればよい。このようにして、リード部
を除去した後、ステンレス箔基材2を化学エッチングに
よって所要の形状に切り抜くために、常法に従って、フ
ォトレジスト35又はドライフィルムラミネートを用い
て、露光、現像を行なって、図15に示すように、ステ
ンレス箔基材2上に所要のパターンを形成した後、ステ
ンレス箔基材をエッチングにて所要の形状に切り抜く。
ここに、エッチング液としては、例えば、塩化第二鉄、
塩化第二銅等の水溶液が用いられる。
形成した導体パターン27において、上記電解めっきに
用いたリード部30(図12参照)を化学エッチングに
て除去する。リード部の銅及びクロムの除去は、前述し
たと同じ方法によればよい。このようにして、リード部
を除去した後、ステンレス箔基材2を化学エッチングに
よって所要の形状に切り抜くために、常法に従って、フ
ォトレジスト35又はドライフィルムラミネートを用い
て、露光、現像を行なって、図15に示すように、ステ
ンレス箔基材2上に所要のパターンを形成した後、ステ
ンレス箔基材をエッチングにて所要の形状に切り抜く。
ここに、エッチング液としては、例えば、塩化第二鉄、
塩化第二銅等の水溶液が用いられる。
【0063】このエッチング処理の後、純水にて洗浄
し、乾燥すれば、図16に示すように、本発明による回
路付きサスペンション基板1を得ることができる。即
ち、この回路付きサスペンション基板は、ステンレス箔
基材2上にポリイミド樹脂からなる絶縁層22を有し、
その上に導体層の薄膜からなる導体パターン27、即
ち、パターン回路を有し、端子34を除いて、全表面が
ポリイミド樹脂からなる被覆層31にて被覆保護されて
いる。
し、乾燥すれば、図16に示すように、本発明による回
路付きサスペンション基板1を得ることができる。即
ち、この回路付きサスペンション基板は、ステンレス箔
基材2上にポリイミド樹脂からなる絶縁層22を有し、
その上に導体層の薄膜からなる導体パターン27、即
ち、パターン回路を有し、端子34を除いて、全表面が
ポリイミド樹脂からなる被覆層31にて被覆保護されて
いる。
【0064】
【発明の効果】以上のように、本発明による回路基板
は、金属箔基材の上に、所定の割合の2種類の芳香族ジ
アミンとジフタル酸二無水物との反応によって得られる
ポリイミド樹脂層を絶縁層として有し、このポリイミド
樹脂が20%以上の高い伸び率を有するので、厳しい折
り曲げ加工によっても、樹脂層に割れが発生することが
なく、絶縁不良を起こすことがない。
は、金属箔基材の上に、所定の割合の2種類の芳香族ジ
アミンとジフタル酸二無水物との反応によって得られる
ポリイミド樹脂層を絶縁層として有し、このポリイミド
樹脂が20%以上の高い伸び率を有するので、厳しい折
り曲げ加工によっても、樹脂層に割れが発生することが
なく、絶縁不良を起こすことがない。
【0065】従って、本発明による回路付きサスペンシ
ョン基板においても、他の部材への取付けや接続に際し
て、厳しい折り曲げを行なっても、樹脂層に割れが発生
することがなく、よく追随するので、歩留りよく、製品
に組み込むことができるうえに、性能不良を起こすこと
がない。
ョン基板においても、他の部材への取付けや接続に際し
て、厳しい折り曲げを行なっても、樹脂層に割れが発生
することがなく、よく追随するので、歩留りよく、製品
に組み込むことができるうえに、性能不良を起こすこと
がない。
【0066】
【実施例】以下に実施例を挙げて本発明を説明するが、
本発明はこれら実施例により何ら限定されるものではな
い。
本発明はこれら実施例により何ら限定されるものではな
い。
【0067】実施例1 m−フェニレンジアミン0.492kg(4.55モル)と
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.570
kg(1.95モル)(ジアミン成分合計6.5モル)と3,
4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(ジフ
タル酸二無水物)1.912kg(6.5モル)とをN−メ
チル−2−ピロリドン7.65kgに溶解させ、室温で2
4時間攪拌した。この後、75℃に昇温し、粘度が50
00センチポイズに達したとき、加熱を止め、室温まで
放置、冷却した。次いで、これにN−メチル体0.446
1kg(1.2モル)を加えて、感光性ポリイミド樹脂前
駆体の溶液を調製した。
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.570
kg(1.95モル)(ジアミン成分合計6.5モル)と3,
4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(ジフ
タル酸二無水物)1.912kg(6.5モル)とをN−メ
チル−2−ピロリドン7.65kgに溶解させ、室温で2
4時間攪拌した。この後、75℃に昇温し、粘度が50
00センチポイズに達したとき、加熱を止め、室温まで
放置、冷却した。次いで、これにN−メチル体0.446
1kg(1.2モル)を加えて、感光性ポリイミド樹脂前
駆体の溶液を調製した。
【0068】厚み25μmのステンレス(SUS30
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
【0069】この回路基板をポリイミド樹脂層が外側と
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、その伸び率を測定したとこ
ろ、40%であった。ここに、伸び率は、テンシロン式
引張試験機(東洋ボールドウィン社製)を用い、試験片
の幅2mm、チャック間距離5mm、引張速度5mm/
分の条件下に測定した値であって、破断時までの伸び
(破断伸び)を初期長さで除した値である。
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、その伸び率を測定したとこ
ろ、40%であった。ここに、伸び率は、テンシロン式
引張試験機(東洋ボールドウィン社製)を用い、試験片
の幅2mm、チャック間距離5mm、引張速度5mm/
分の条件下に測定した値であって、破断時までの伸び
(破断伸び)を初期長さで除した値である。
【0070】次に、このような回路基板のポリイミドか
らなる絶縁層上に連続スパッタリング処理によってクロ
ムと銅をそれぞれ500オングストローム及び1000
オングストロームの膜厚で薄膜形成した。銅薄膜の表面
抵抗は0.3〜0.4Ω/□であった。次いで、ステンレス
基材の裏面に軽粘着シートをめっきマスクとして貼着し
た後、上記銅薄膜の全面に硫酸銅電解めっきを行なっ
て、膜厚10μmの銅めっきからなる導体層を形成し
た。
らなる絶縁層上に連続スパッタリング処理によってクロ
ムと銅をそれぞれ500オングストローム及び1000
オングストロームの膜厚で薄膜形成した。銅薄膜の表面
抵抗は0.3〜0.4Ω/□であった。次いで、ステンレス
基材の裏面に軽粘着シートをめっきマスクとして貼着し
た後、上記銅薄膜の全面に硫酸銅電解めっきを行なっ
て、膜厚10μmの銅めっきからなる導体層を形成し
た。
【0071】この後、常法に従って、市販のドライフィ
ルムラミネートを110℃導体層上にラミネートした
後、露光量80mJ/cm2 にてこれを露光させ、現像
し、非パターン部の銅導体層をアルカリエッチングし
て、配線部と端子部と共に電解めっきのリード部を残す
ように導体層をパターン化し、この後、レジストを除去
した。
ルムラミネートを110℃導体層上にラミネートした
後、露光量80mJ/cm2 にてこれを露光させ、現像
し、非パターン部の銅導体層をアルカリエッチングし
て、配線部と端子部と共に電解めっきのリード部を残す
ように導体層をパターン化し、この後、レジストを除去
した。
【0072】次いで、このように処理したステンレス箔
をフエリシアン化カリウムと水酸化ナトリウムの混合水
溶液に25℃で浸漬し、不必要な前記クロム薄膜を除去
した。この後、このステンレス基材に通常の無電解めっ
きを施し、膜厚約0.5μmのニッケル薄膜を導体層及び
絶縁層を含むステンレス箔の全面上に形成した。
をフエリシアン化カリウムと水酸化ナトリウムの混合水
溶液に25℃で浸漬し、不必要な前記クロム薄膜を除去
した。この後、このステンレス基材に通常の無電解めっ
きを施し、膜厚約0.5μmのニッケル薄膜を導体層及び
絶縁層を含むステンレス箔の全面上に形成した。
【0073】次いで、前述したように、ステンレス箔上
の導体層の配線部及び端子部に、前記と同様にして、感
光性ポリイミド樹脂前駆体を用いて、所要の被覆層を形
成した。次いで、基材を硝酸系剥離剤に室温で浸漬し
て、端子部及びステンレス箔上の前記無電解めっき薄膜
を除去した。
の導体層の配線部及び端子部に、前記と同様にして、感
光性ポリイミド樹脂前駆体を用いて、所要の被覆層を形
成した。次いで、基材を硝酸系剥離剤に室温で浸漬し
て、端子部及びステンレス箔上の前記無電解めっき薄膜
を除去した。
【0074】この後、常法に従って、上記端子部を除い
て、通常のフォトレジストて被覆した後、上記端子部に
電解ニッケルめっきと電解金めっきを順次に行なって、
それぞれ膜厚1μmのめっき層を形成し、端子を形成し
た。この後、上記レジストを剥離した。このめっき処理
に続いて、めっきに用いたリード部を導体層から除去す
るために、銅アルカリエッチングとクロムエッチングを
前述したのと同様の方法で行なった。
て、通常のフォトレジストて被覆した後、上記端子部に
電解ニッケルめっきと電解金めっきを順次に行なって、
それぞれ膜厚1μmのめっき層を形成し、端子を形成し
た。この後、上記レジストを剥離した。このめっき処理
に続いて、めっきに用いたリード部を導体層から除去す
るために、銅アルカリエッチングとクロムエッチングを
前述したのと同様の方法で行なった。
【0075】このようにして、導体層からめっきリード
部を除去した後、ステンレス箔基材を所要の形状に切り
抜くために、常法に従って、フォトレジスト又はドライ
フィルムラミネートを用いて、露光、現像を行なって、
ステンレス箔上に所要のパターンを形成した後、ステン
レス箔基材を塩化第二鉄エッチング液に45℃で浸漬し
て、所要の形状に切り抜いた。これを純水にて十分に洗
浄した後、乾燥して、個々に切り抜かれた回路付きサス
ペンション基板を得た。このようにして得られた回路付
きサスペンション基板によれば、ポリイミド樹脂が高い
伸び率を有するので、厳しい折り曲げにも、樹脂に割れ
が発生せず、よく追随した。
部を除去した後、ステンレス箔基材を所要の形状に切り
抜くために、常法に従って、フォトレジスト又はドライ
フィルムラミネートを用いて、露光、現像を行なって、
ステンレス箔上に所要のパターンを形成した後、ステン
レス箔基材を塩化第二鉄エッチング液に45℃で浸漬し
て、所要の形状に切り抜いた。これを純水にて十分に洗
浄した後、乾燥して、個々に切り抜かれた回路付きサス
ペンション基板を得た。このようにして得られた回路付
きサスペンション基板によれば、ポリイミド樹脂が高い
伸び率を有するので、厳しい折り曲げにも、樹脂に割れ
が発生せず、よく追随した。
【0076】実施例2 m−フェニレンジアミン0.562kg(5.20モル)と
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.380
kg(1.30モル)(ジアミン成分合計6.5モル)と3,
4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(ジフ
タル酸二無水物)1.912kg(6.5モル)とをN−メ
チル−2−ピロリドン7.65kgに溶解させ、室温で2
4時間攪拌した。この後、75℃に昇温し、粘度が50
00センチポイズに達したとき、加熱を止め、室温まで
放置、冷却した。次いで、これにN−メチル体0.446
1kg(1.2モル)を加えて、感光性ポリイミド樹脂前
駆体の溶液を調製した。
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.380
kg(1.30モル)(ジアミン成分合計6.5モル)と3,
4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(ジフ
タル酸二無水物)1.912kg(6.5モル)とをN−メ
チル−2−ピロリドン7.65kgに溶解させ、室温で2
4時間攪拌した。この後、75℃に昇温し、粘度が50
00センチポイズに達したとき、加熱を止め、室温まで
放置、冷却した。次いで、これにN−メチル体0.446
1kg(1.2モル)を加えて、感光性ポリイミド樹脂前
駆体の溶液を調製した。
【0077】厚み25μmのステンレス(SUS30
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
【0078】この回路基板をポリイミド樹脂層が外側と
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、これについて、実施例1と
同様にして、その伸び率を測定したところ、35%であ
った。
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、これについて、実施例1と
同様にして、その伸び率を測定したところ、35%であ
った。
【0079】次いで、この回路基板を用いて、実施例1
と同じ手順によって、回路付きサスペンション基板を得
た。この回路付きサスペンション基板においては、ポリ
イミド樹脂が高い伸び率を有するので、厳しい折り曲げ
にも、樹脂に割れが発生せず、よく追随した。
と同じ手順によって、回路付きサスペンション基板を得
た。この回路付きサスペンション基板においては、ポリ
イミド樹脂が高い伸び率を有するので、厳しい折り曲げ
にも、樹脂に割れが発生せず、よく追随した。
【0080】実施例3 m−フェニレンジアミン0.421kg(3.90モル)と
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.759
kg(2.60モル)(ジアミン成分合計6.5モル)と3,
4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(ジフ
タル酸二無水物)1.912kg(6.5モル)とをN−メ
チル−2−ピロリドン7.65kgに溶解させ、室温で2
4時間攪拌した。この後、75℃に昇温し、粘度が50
00センチポイズに達したとき、加熱を止め、室温まで
放置、冷却した。次いで、これにN−メチル体0.446
1kg(1.2モル)を加えて、感光性ポリイミド樹脂前
駆体の溶液を調製した。
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.759
kg(2.60モル)(ジアミン成分合計6.5モル)と3,
4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水物(ジフ
タル酸二無水物)1.912kg(6.5モル)とをN−メ
チル−2−ピロリドン7.65kgに溶解させ、室温で2
4時間攪拌した。この後、75℃に昇温し、粘度が50
00センチポイズに達したとき、加熱を止め、室温まで
放置、冷却した。次いで、これにN−メチル体0.446
1kg(1.2モル)を加えて、感光性ポリイミド樹脂前
駆体の溶液を調製した。
【0081】厚み25μmのステンレス(SUS30
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
【0082】この回路基板をポリイミド樹脂層が外側と
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、これについて、実施例1と
同様にして、その伸び率を測定したところ、45%であ
った。
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、これについて、実施例1と
同様にして、その伸び率を測定したところ、45%であ
った。
【0083】次いで、この回路基板を用いて、実施例1
と同じ手順によって、回路付きサスペンション基板を得
た。この回路付きサスペンション基板においては、ポリ
イミド樹脂が高い伸び率を有するので、厳しい折り曲げ
にも、樹脂に割れが発生せず、よく追随した。
と同じ手順によって、回路付きサスペンション基板を得
た。この回路付きサスペンション基板においては、ポリ
イミド樹脂が高い伸び率を有するので、厳しい折り曲げ
にも、樹脂に割れが発生せず、よく追随した。
【0084】実施例4 m−フェニレンジアミン0.492kg(4.55モル)と
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.473
kg(1.62モル)とビス(アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサン0.081kg(0.33モル)(ジアミ
ン成分合計6.5モル)と3,4,3',4' −ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物(ジフタル酸二無水物)1.912k
g(6.5モル)とをN−メチル−2−ピロリドン7.65
kgに溶解させ、室温で24時間攪拌した。この後、7
5℃に昇温し、粘度が5000センチポイズに達したと
き、加熱を止め、室温まで放置、冷却した。次いで、こ
れにN−メチル体0.4461kg(1.2モル)を加え
て、感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を調製した。
1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン0.473
kg(1.62モル)とビス(アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサン0.081kg(0.33モル)(ジアミ
ン成分合計6.5モル)と3,4,3',4' −ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物(ジフタル酸二無水物)1.912k
g(6.5モル)とをN−メチル−2−ピロリドン7.65
kgに溶解させ、室温で24時間攪拌した。この後、7
5℃に昇温し、粘度が5000センチポイズに達したと
き、加熱を止め、室温まで放置、冷却した。次いで、こ
れにN−メチル体0.4461kg(1.2モル)を加え
て、感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を調製した。
【0085】厚み25μmのステンレス(SUS30
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
4)箔上に上記感光性ポリイミド樹脂前駆体の溶液を連
続コーターにて長尺塗布した後、120℃で2分間加熱
乾燥して、感光性ポリイミド樹脂前駆体の被膜を形成し
た。次いで、マスクを介して、露光量700mJ/cm
2 にて紫外線照射し、160℃で3分間加熱した後、現
像処理して、ネガ型画像を形成し、更に、0.01tor
rの真空下、400℃に加熱して、パターン化したポリ
イミド樹脂からなる絶縁層(膜厚6μm)を形成して、
回路基板を得た。
【0086】この回路基板をポリイミド樹脂層が外側と
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、これについて、実施例1と
同様にして、その伸び率を測定したところ、40%であ
った。
なるように90°の角度に折り曲げたが、樹脂層におい
て、割れの発生はみられなかった。また、回路基板から
ステンレス箔を塩化第二鉄にてエッチング除去して、ポ
リイミド樹脂フィルムを得、これについて、実施例1と
同様にして、その伸び率を測定したところ、40%であ
った。
【0087】次いで、この回路基板を用いて、実施例1
と同じ手順によって、回路付きサスペンション基板を得
た。この回路付きサスペンション基板においては、ポリ
イミド樹脂が高い伸び率を有するので、厳しい折り曲げ
にも、樹脂に割れが発生せず、よく追随した。
と同じ手順によって、回路付きサスペンション基板を得
た。この回路付きサスペンション基板においては、ポリ
イミド樹脂が高い伸び率を有するので、厳しい折り曲げ
にも、樹脂に割れが発生せず、よく追随した。
【図1】は、本発明による回路付きサスペンション基板
の一例を示す斜視図である。
の一例を示す斜視図である。
【図2】は、図1において、A−A線に沿う断面図であ
る。
る。
【図3】は、図1において、B−B線に沿う断面図であ
る。
る。
【図4】、
【図5】、
【図6】、
【図7】、
【図8】、
【図9】、
【図10】、
【図11】、
【図12】、
【図13】、
【図14】、
【図15】及び
【図16】は、本発明による回路付きサスペンション基
板の製造工程を示す要部部分断面図である。
板の製造工程を示す要部部分断面図である。
1…回路付きサスペンション基板、2…ステンレス箔基
材、3…導体層、4…ジンバル、5及び6…端子、7…
絶縁層、8…被覆層、21…感光性ポリイミド樹脂前駆
体からなる被膜、22…ポリイミド樹脂からなる絶縁
層、23…クロム薄膜、24…銅薄膜、25…導体層、
26…フォトレジスト、27…導体パターン、28…ニ
ッケル薄膜、29…ポリイミド樹脂、30…リード部、
31…ポリイミド樹脂被覆層、33…電解金めっき薄
膜、34…端子、35…フォトレジスト。
材、3…導体層、4…ジンバル、5及び6…端子、7…
絶縁層、8…被覆層、21…感光性ポリイミド樹脂前駆
体からなる被膜、22…ポリイミド樹脂からなる絶縁
層、23…クロム薄膜、24…銅薄膜、25…導体層、
26…フォトレジスト、27…導体パターン、28…ニ
ッケル薄膜、29…ポリイミド樹脂、30…リード部、
31…ポリイミド樹脂被覆層、33…電解金めっき薄
膜、34…端子、35…フォトレジスト。
Claims (22)
- 【請求項1】金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶
縁層を有する回路基板において、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリイミド樹脂であること
を特徴とする回路基板。 - 【請求項2】金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる絶
縁層を有する回路基板において、上記ポリイミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物より得られるポリイミド樹脂前駆体を感光剤の存在下
で反応して得られるポリイミド樹脂であることを特徴と
する回路基板。 - 【請求項3】感光剤が一般式(I) 【化1】 (式中、X1 からX4 はそれぞれ独立に水素原子、フッ
素原子、ニトロ基、メトキシ基、アミノ基、ジアルキル
アミノ基、シアノ基又はフッ化アルキル基を示し、Y1
はシアノ基又は一般式−COR3 を示し、Y2 はシアノ
基又は一般式−COR4 を示し、ここに、R3 及びR4
はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアルキル基若しくはア
ルコキシ基、アニリノ基、トルイジノ基、ベンジルオキ
シ基、アミノ基又はジアルキルアミノ基を示し、R1 、
R2 及びR5 はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜
3のアルキル基を示す。R1 とR3 、R2 とR4 は、ケ
ト基を含む5員環、6員環又は複素環の形成可能な員環
となることができる。)で表わされる請求項2に記載の
回路基板。 - 【請求項4】感光剤が4−o−ニトロフェニル−3,5−
ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−1,4−ジヒド
ロピリジン、4−o−ニトロフェニル−3,5−ジアセチ
ル−1,4−ジヒドロピリジン及び4−o−ニトロフェニ
ル−3,5−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−1
−メチル−4−ヒドロピリジンから選ばれる少なくとも
1種のジヒドロピリジン誘導体である請求項2に記載の
回路基板。 - 【請求項5】芳香族ジアミン(A)のうち、(a)成分
が60〜80モル%、(b)成分が40〜20モル%で
ある請求項1から4のいずれかに記載の回路基板。 - 【請求項6】一般式(II) 【化2】 (式中、R1 は炭素数1〜18のアルキレン基、R2 は
炭素数1〜18のアルキル基を示し、nは1〜100の
整数である。)で表わされるアミノ基含有2官能性ポリ
シロキサンを芳香族ジアミンとこのアミノ基含有2官能
性ポリシロキサンとからなる全ジアミン成分の10モル
%以下の範囲で用いてなる請求項1から5のいずれかに
記載の回路基板。 - 【請求項7】金属箔基材上に感光性ポリイミド樹脂前駆
体からなる被膜を形成し、露光させ、露光後加熱し、現
像し、この後、加熱してイミド化させて、ポリイミド樹
脂からなる絶縁層を有する回路基板を製造する方法にお
いて、上記感光性ポリイミド樹脂前駆体が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリアミド酸に感光剤を配
合してなることを特徴とする回路基板の製造方法。 - 【請求項8】感光剤が一般式(I) 【化3】 (式中、X1 からX4 はそれぞれ独立に水素原子、フッ
素原子、ニトロ基、メトキシ基、アミノ基、ジアルキル
アミノ基、シアノ基又はフッ化アルキル基を示し、Y1
はシアノ基又は一般式−COR3 を示し、Y2 はシアノ
基又は一般式−COR4 を示し、ここに、R3 及びR4
はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアルキル基若しくはア
ルコキシ基、アニリノ基、トルイジノ基、ベンジルオキ
シ基、アミノ基又はジアルキルアミノ基を示し、R1 、
R2 及びR5 はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜
3のアルキル基を示す。R1 とR3 、R2 とR4 は、ケ
ト基を含む5員環、6員環又は複素環の形成可能な員環
となることができる。)で表わされる請求項7に記載の
回路基板の製造方法。 - 【請求項9】感光剤が4−o−ニトロフェニル−3,5−
ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−1,4−ジヒド
ロピリジン、4−o−ニトロフェニル−3,5−ジアセチ
ル−1,4−ジヒドロピリジン及び4−o−ニトロフェニ
ル−3,5−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−1
−メチル−4−ヒドロピリジンから選ばれる少なくとも
1種のジヒドロピリジン誘導体である請求項7に記載の
回路基板の製造方法。 - 【請求項10】芳香族ジアミン(A)のうち、(a)成
分が60〜80モル%、(b)成分が40〜20モル%
である請求項7から9のいずれかに記載の回路基板の製
造方法。 - 【請求項11】一般式(II) 【化4】 (式中、R1 は炭素数1〜18のアルキレン基、R2 は
炭素数1〜18のアルキル基を示し、nは1〜100の
整数である。)で表わされるアミノ基含有2官能性ポリ
シロキサンを芳香族ジアミンとこのアミノ基含有2官能
性ポリシロキサンとからなる全ジアミン成分の10モル
%以下の範囲で用いる請求項7から10のいずれかに記
載の回路基板の製造方法。 - 【請求項12】金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる
絶縁層を有し、その上に導体層からなるパターン回路を
有する回路付きサスペンション基板において、上記ポリ
イミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリイミド樹脂であること
を特徴とする回路付きサスペンション基板。 - 【請求項13】金属箔基材上にポリイミド樹脂からなる
絶縁層を有し、その上に導体層からなるパターン回路を
有する回路付きサスペンション基板において、上記ポリ
イミド樹脂が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物より得られるポリイミド樹脂前駆体を感光剤の存在下
で反応して得られるポリイミド樹脂であることを特徴と
する回路付きサスペンション基板。 - 【請求項14】感光剤が一般式(I) 【化5】 (式中、X1 からX4 はそれぞれ独立に水素原子、フッ
素原子、ニトロ基、メトキシ基、アミノ基、ジアルキル
アミノ基、シアノ基又はフッ化アルキル基を示し、Y1
はシアノ基又は一般式−COR3 を示し、Y2 はシアノ
基又は一般式−COR4 を示し、ここに、R3 及びR4
はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアルキル基若しくはア
ルコキシ基、アニリノ基、トルイジノ基、ベンジルオキ
シ基、アミノ基又はジアルキルアミノ基を示し、R1 、
R2 及びR5 はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜
3のアルキル基を示す。R1 とR3 、R2 とR4 は、ケ
ト基を含む5員環、6員環又は複素環の形成可能な員環
となることができる。)で表わされる請求項13に記載
の回路付きサスペンション基板。 - 【請求項15】感光剤が4−o−ニトロフェニル−3,5
−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−1,4−ジヒ
ドロピリジン、4−o−ニトロフェニル−3,5−ジアセ
チル−1,4−ジヒドロピリジン及び4−o−ニトロフェ
ニル−3,5−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−
1−メチル−4−ヒドロピリジンから選ばれる少なくと
も1種のジヒドロピリジン誘導体である請求項13に記
載の回路付きサスペンション基板。 - 【請求項16】芳香族ジアミン(A)のうち、(a)成
分が60〜80モル%、(b)成分が40〜20モル%
である請求項12から15のいずれかに記載の回路付き
サスペンション基板。 - 【請求項17】一般式(II) 【化6】 (式中、R1 は炭素数1〜18のアルキレン基、R2 は
炭素数1〜18のアルキル基を示し、nは1〜100の
整数である。)で表わされるアミノ基含有2官能性ポリ
シロキサンを芳香族ジアミンとこのアミノ基含有2官能
性ポリシロキサンとからなる全ジアミン成分の10モル
%以下の範囲で用いる請求項12から16のいずれかに
記載の回路付きサスペンション基板。 - 【請求項18】金属箔基材上に感光性ポリイミド樹脂前
駆体からなる被膜を形成し、露光させ、現像し、この
後、加熱してイミド化させて、ポリイミド樹脂からなる
絶縁層を有する回路基板を形成し、次いで、上記絶縁層
の上に導体層からなるパターン回路を形成する回路付き
サスペンション基板の製造方法において、上記感光性ポ
リイミド樹脂前駆体が (A)(a) m−フェニレンジアミン、及び(b) 1,3−ビ
ス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン及び1,4−ビス
(4−アミノフェノキシ)ベンゼンから選ばれる少なく
とも1種からなる芳香族ジアミンと、 (B)3,4,3',4' −ビフェニルテトラカルボン酸二無水
物との反応によって得られるポリアミド酸に感光剤を配
合してなることを特徴とする回路付きサスペンション基
板の製造方法。 - 【請求項19】感光剤が一般式(I) 【化7】 (式中、X1 からX4 はそれぞれ独立に水素原子、フッ
素原子、ニトロ基、メトキシ基、アミノ基、ジアルキル
アミノ基、シアノ基又はフッ化アルキル基を示し、Y1
はシアノ基又は一般式−COR3 を示し、Y2 はシアノ
基又は一般式−COR4 を示し、ここに、R3 及びR4
はそれぞれ独立に炭素数1〜4のアルキル基若しくはア
ルコキシ基、アニリノ基、トルイジノ基、ベンジルオキ
シ基、アミノ基又はジアルキルアミノ基を示し、R1 、
R2 及びR5 はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜
3のアルキル基を示す。R1 とR3 、R2 とR4 は、ケ
ト基を含む5員環、6員環又は複素環の形成可能な員環
となることができる。)で表わされる請求項18に記載
の回路付きサスペンション基板の製造方法。 - 【請求項20】感光剤が4−o−ニトロフェニル−3,5
−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−1,4−ジヒ
ドロピリジン、4−o−ニトロフェニル−3,5−ジアセ
チル−1,4−ジヒドロピリジン及び4−o−ニトロフェ
ニル−3,5−ジメトキシカルボニル−2,6−ジメチル−
1−メチル−4−ヒドロピリジンから選ばれる少なくと
も1種のジヒドロピリジン誘導体である請求項18に記
載の回路付きサスペンション基板の製造方法。 - 【請求項21】芳香族ジアミン(A)のうち、(a)成
分が60〜80モル%、(b)成分が40〜20モル%
である請求項18から20のいずれかに記載の回路付き
サスペンション基板の製造方法。 - 【請求項22】一般式(II) 【化8】 (式中、R1 は炭素数1〜18のアルキレン基、R2 は
炭素数1〜18のアルキル基を示し、nは1〜100の
整数である。)で表わされるアミノ基含有2官能性ポリ
シロキサンを芳香族ジアミンとこのアミノ基含有2官能
性ポリシロキサンとからなる全ジアミン成分の10モル
%以下の範囲で用いる請求項18から21のいずれかに
記載の回路付きサスペンション基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2877597A JPH1012983A (ja) | 1996-02-13 | 1997-02-13 | 回路基板、回路付きサスペンション基板及びそれらの製造方法 |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2561696 | 1996-02-13 | ||
JP8-100251 | 1996-04-22 | ||
JP10025196 | 1996-04-22 | ||
JP8-25616 | 1997-01-22 | ||
JP2877597A JPH1012983A (ja) | 1996-02-13 | 1997-02-13 | 回路基板、回路付きサスペンション基板及びそれらの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1012983A true JPH1012983A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=27285079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2877597A Pending JPH1012983A (ja) | 1996-02-13 | 1997-02-13 | 回路基板、回路付きサスペンション基板及びそれらの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1012983A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1651021A1 (en) | 2004-10-25 | 2006-04-26 | Nitto Denko Corporation | Suspension board with circuit |
JP2006210416A (ja) * | 2005-01-25 | 2006-08-10 | Nitto Denko Corp | 配線回路基板の製造方法 |
JP2007073643A (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Nitto Denko Corp | 配線回路基板 |
EP1968364A1 (en) | 2007-03-05 | 2008-09-10 | Nitto Denko Corporation | Wired circuit board and producing method thereof |
EP1995724A1 (en) * | 2007-01-11 | 2008-11-26 | Nitto Denko Corporation | Suspension board with circuit |
US7495178B2 (en) | 2006-03-02 | 2009-02-24 | Nitto Denko Corporation | Suspension board with circuit |
US7923644B2 (en) | 2008-11-10 | 2011-04-12 | Nitto Denko Corporation | Printed circuit board and method of manufacturing the same |
US8138427B2 (en) | 2008-11-10 | 2012-03-20 | Nitto Denko Corporation | Printed circuit board and method of manufacturing the same |
JP2012221539A (ja) * | 2011-04-13 | 2012-11-12 | Dainippon Printing Co Ltd | サスペンション用基板、サスペンション、素子付サスペンション、ハードディスクドライブおよびサスペンション用基板の製造方法 |
CN112201407A (zh) * | 2020-09-14 | 2021-01-08 | 北京遥感设备研究所 | 一种金属结构表面制备曲面电路方法及结构 |
-
1997
- 1997-02-13 JP JP2877597A patent/JPH1012983A/ja active Pending
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1651021A1 (en) | 2004-10-25 | 2006-04-26 | Nitto Denko Corporation | Suspension board with circuit |
JP2006210416A (ja) * | 2005-01-25 | 2006-08-10 | Nitto Denko Corp | 配線回路基板の製造方法 |
JP4566760B2 (ja) * | 2005-01-25 | 2010-10-20 | 日東電工株式会社 | 配線回路基板の製造方法 |
US7586046B2 (en) | 2005-09-05 | 2009-09-08 | Nitto Denko Corporation | Wired circuit board |
JP2007073643A (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Nitto Denko Corp | 配線回路基板 |
US7495178B2 (en) | 2006-03-02 | 2009-02-24 | Nitto Denko Corporation | Suspension board with circuit |
US7924529B2 (en) | 2007-01-11 | 2011-04-12 | Nitto Denko Corporation | Suspension board with circuit |
EP1995724A1 (en) * | 2007-01-11 | 2008-11-26 | Nitto Denko Corporation | Suspension board with circuit |
EP1968364A1 (en) | 2007-03-05 | 2008-09-10 | Nitto Denko Corporation | Wired circuit board and producing method thereof |
US8030576B2 (en) | 2007-03-05 | 2011-10-04 | Nitto Denko Corporation | Wired circuit board with interposed metal thin film and producing method thereof |
US7923644B2 (en) | 2008-11-10 | 2011-04-12 | Nitto Denko Corporation | Printed circuit board and method of manufacturing the same |
US8138427B2 (en) | 2008-11-10 | 2012-03-20 | Nitto Denko Corporation | Printed circuit board and method of manufacturing the same |
JP2012221539A (ja) * | 2011-04-13 | 2012-11-12 | Dainippon Printing Co Ltd | サスペンション用基板、サスペンション、素子付サスペンション、ハードディスクドライブおよびサスペンション用基板の製造方法 |
CN112201407A (zh) * | 2020-09-14 | 2021-01-08 | 北京遥感设备研究所 | 一种金属结构表面制备曲面电路方法及结构 |
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