JPH09285958A - ウェーハの研磨装置システム - Google Patents
ウェーハの研磨装置システムInfo
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Abstract
維持することによってウェーハの研磨精度を向上できる
ウェーハの研磨装置システムを提供する。 【解決手段】 キャリアプレート12を加熱する加熱装
置10と、ウェーハを接着させる接着装置14と、第1
搬送装置34と、キャリアプレート12を接着剤の軟化
点温度以下まで冷却する第1冷却装置36と、第2搬送
装置38と、第1冷却装置36で冷却されたキャリアプ
レート12を室温程度まで冷却する第2冷却装置42
と、第3搬送装置46と、ウェーハ表面を鏡面に研磨す
る少なくとも一つの研磨装置50と、第4搬送装置57
と、ウェーハをキャリアプレート12から剥離する剥離
装置64と、第5搬送装置62と、キャリアプレートを
洗浄する第1洗浄装置76と、第6搬送装置74と、キ
ャリアプレートを高清浄度に洗浄する第2洗浄装置82
と、第7搬送装置86と、第8搬送装置90とを具備
し、以上の各装置によって以上の記載の順に配列された
閉ループが形成され、該閉ループ内で前記キャリアプレ
ート12が循環される。
Description
システムに関する。
ンウェーハ等のウェーハの表面を鏡面研磨する場合、キ
ャリアプレートにウェーハを複数枚接着する接着装置
と、ウェーハが接着されたキャリアプレートを研磨定盤
面と相対的に運動させてウェーハを研磨するポリッシン
グ装置(研磨装置)と、研磨されたウェーハをキャリア
プレートから剥離する剥離装置と、ウェーハが剥離され
たプレートを洗浄する洗浄装置とが、それぞれ独立した
装置として設けられていた。ところで、特にシリコンウ
ェーハの表面研磨においては、半導体装置の高集積化お
よび微細化が進んでおり、非常に精度の高い研磨精度が
要求されている。このため、空気中の微細粒子が研磨精
度を低下させる要因になり、その対策としてシリコンウ
ェーハの研磨作業はクリーンルーム内で行われている。
また、キャリアプレートは、シリコンウェーハの大径化
に伴って外径が次第に大きくなり、重量物となったた
め、人手で取り扱うことが困難になってきている。
が独立した装置を形成しているため、キャリアプレート
は、人手によって各装置間を搬送されると共に各装置に
搬出入されていた。従って、多くの人手を要すると共
に、人が多く介在することによってクリーンルーム内の
清浄度が悪化し、接着精度、しいては研磨精度が低下す
るという悪循環な状態となっている。
することをなくすよう自動化でき、クリーンルーム内を
高清浄度に維持することによってウェーハの研磨精度を
向上できるウェーハの研磨装置システムを提供すること
にある。
成するに次の構成を備える。すなわち、本発明は、ウェ
ーハを接着するキャリアプレートが載置され、該キャリ
アプレートを加熱する加熱装置と、該加熱装置によって
加熱されたキャリアプレート上に接着剤を介してウェー
ハを接着させる接着装置と、前記キャリアプレートを前
記加熱装置から前記接着装置へ搬送する第1搬送装置
と、加熱され、ウェーハが接着された前記キャリアプレ
ートを接着剤の軟化点温度以下まで冷却する第1冷却装
置と、前記ウェーハが接着されたキャリアプレートを前
記接着装置から前記第1冷却装置へ搬送する第2搬送装
置と、前記第1冷却装置で冷却されたウェーハが接着さ
れたキャリアプレートを室温程度まで冷却する第2冷却
装置と、前記ウェーハが接着されたキャリアプレートを
前記第1冷却装置から前記第2冷却装置へ搬送する第3
搬送装置と、前記キャリアプレートに接着されたウェー
ハを研磨定盤面に当接させ、キャリアプレートと研磨定
盤面とを相対的に運動させて、ウェーハ表面を鏡面に研
磨する少なくとも一つの研磨装置と、前記ウェーハが接
着されたキャリアプレートを前記第2冷却装置から前記
研磨装置へ搬送する第4搬送装置と、該研磨装置によっ
て研磨されたウェーハを前記キャリアプレートから剥離
する剥離装置と、前記ウェーハが接着されたキャリアプ
レートを前記研磨装置から前記剥離装置へ搬送する第5
搬送装置と、該剥離装置によってウェーハが剥離された
後に前記キャリアプレート表面に残った接着剤を除去す
べく、キャリアプレートを洗浄する第1洗浄装置と、前
記キャリアプレートを前記剥離装置から前記第1洗浄装
置へ搬送する第6搬送装置と、第1洗浄装置で洗浄され
たキャリアプレートを清浄水槽に浸漬して高清浄度に洗
浄する第2洗浄装置と、前記キャリアプレートを前記第
1洗浄装置から前記第2洗浄装置へ搬送する第7搬送装
置と、前記キャリアプレートを前記第2洗浄装置から前
記加熱装置へ搬送する第8搬送装置とを具備し、以上の
各装置によって以上の記載の順に配列された閉ループが
形成され、該閉ループ内で前記キャリアプレートが循環
されることを特徴とする。
置の間に前記キャリアプレートを滞留可能なストック部
を設けたことで、トラブルが発生した際にもキャリアプ
レートを好適に滞留させることができる。ここで滞留さ
れたキャリアプレートは、第2洗浄装置によって高度に
洗浄されて次工程(加熱装置)に供給されるので、循環
工程を好適に復帰させることができる。
トを起立させる機構を備え、前記第2冷却装置が起立さ
れたキャリアプレートを下降冷却空気流によって冷却す
ることで、空気中の微粒子(微細粉塵)がキャリアプレ
ートの表面に接着されたウェーハ上に付着しないよう
に、キャリアプレートと接着剤によって接着されたウェ
ーハを効率良く冷却することが可能になる。また、キャ
リアプレートを起立させた状態で取り扱うことができる
ため、冷却装置の占有面積を小さくすることができる。
トを起立させる機構を備え、前記第2洗浄装置が起立さ
れたキャリアプレートを清浄水槽に浸漬することで高清
浄度に洗浄することで、下降清浄空気(ダウンフロー)
を好適に流すことができるので、洗浄装置内の空気清浄
度を向上させることができる。また、キャリアプレート
を起立させた状態で取り扱うことができるため、洗浄装
置の占有面積を小さくすることができる。
度等の形状精度を検査する検査手段と、前記検査手段に
よって前記キャリアプレートが基準精度を満足していな
いときには該キャリアプレートを前記閉ループから排出
する排出手段と、排出されたキャリアプレートに代わる
キャリアプレートを前記閉ループへ導入する導入手段と
を具備することで、システムを好適に連続稼働できる。
例を添付図面と共に詳細に説明する。図1は本発明によ
るシリコンウェーハ(以下単に「ウェーハ」という)の
研磨装置システムの一実施例を示す平面図である。10
は加熱装置であり、ウェーハ11を接着するキャリアプ
レート12が載置され、そのキャリアプレート12を加
熱する。キャリアプレート12は、第1ヒータ10a、
第2ヒータ10bによって2段階に加熱される。この加
熱装置10には、後述する第2洗浄装置82によって高
清浄度に清浄されたキャリアプレート12が、後述する
第8搬送装置90によって供給される。
って加熱されたキャリアプレート12に接着剤を介して
ウェーハ11を接着させる。以下に、接着装置14の実
施例について図1に基づいて詳述する。16はウェーハ
の取出装置であり、ウェーハ11が収納されたカセット
18からウェーハ11を取り出して隣接されて設けられ
た第1センタリング装置20に送る。このウェーハの取
出装置16では、ウェーハ11が収納されたカセット1
8を、ウェーハ11を移送するアーム16aの旋回軸を
中心に円弧状に配置してある。これにより、効率良くウ
ェーハ11を取り出して送ることができる。なお、この
ウェーハの取出装置16と第1センタリング装置20の
間には、ウェーハ11を洗浄するウェーハの洗浄装置を
配設することができる。ウェーハの洗浄装置としては、
ウェーハを浸漬して洗浄するための超純水を満たした水
槽を備え、スピンニングで水を切る機能および乾燥させ
る機能等を備えた装置を利用できる。
11を回転させつつ接着面にワックス等の接着剤をディ
スペンサーで滴下して接着剤を塗布するスピナー式の塗
布手段である。この接着剤の塗布装置22の直前に、ウ
ェーハ11の中心を直線的移動軌跡上に一致させる前記
第1センタリング装置20を設けたことで、ウェーハ1
1の中心をスピナーの回転軸に好適に合わせることがで
きる。24はベーキング装置であり、ウェーハ11の接
着面に塗布された接着剤を加熱し、溶剤を蒸発させる。
26は第2センタリング装置であり、キャリアプレート
12にウェーハ11を接着する前にウェーハ11をセン
タリングする。また、28はオリフラ検出装置であり、
ウェーハ11のオリフラ位置を検出する。これにより、
ウェーハ11を、キャリアプレート12上の所定位置に
正確に接着可能に準備することができる。30は接着台
であり、キャリアプレート12が載置される。この接着
台30上でウェーハ11がキャリアプレート12上へ接
着される。32は反転搬送装置であり、この反転搬送装
置32によって、上面に接着剤が塗布されると共に第2
センタリング装置26およびオリフラ検出装置28で位
置決めされたウェーハ11が、反転されてキャリアプレ
ート12上へ接着される。この際、キャリアプレート1
2上へ載置されたウェーハ11は所定の力で押圧されて
接着されるのである。また、34は第1搬送装置であ
り、キャリアプレート12を加熱装置10から接着装置
14へ搬送する。
ェーハ11が接着されたキャリアプレート12を接着剤
の軟化点温度以下まで冷却する。この第1冷却装置36
は、キャリアプレート12が載置されて冷却される冷却
載置台36aを備え、その冷却載置台36aは循環する
冷却水によって水冷されている。本実施例の第1冷却装
置36は複数の冷却載置台36aが直列に配設されてお
り、キャリアプレート12は順次送られて、段階的に強
制的に冷却するように構成されている。38は第2搬送
装置であり、ウェーハが接着されたキャリアプレート1
2を接着装置14の接着台30から前記第1冷却装置3
6へ搬送する。40は第1冷却装置内搬送装置であり、
ウェーハが接着されたキャリアプレート12を第1冷却
装置36内に直列に配設された複数の冷却載置台36a
に順送りする。
36で冷却されたウェーハが接着されたキャリアプレー
ト12をさらに室温程度まで冷却する。本実施例では、
第2冷却装置42内において、ウェーハが接着されたキ
ャリアプレート12が、コンベア44で送られると共
に、冷却空気を吹きつけられることで効率良く冷却され
ている。このようにウェーハが接着されたキャリアプレ
ート12を冷却する部位を第1冷却装置36および第2
冷却装置42に分割することによって、システムのタク
トタイムを好適に設定することができ、ウェーハの研磨
装置システムの自動化を好適に実現できる。すなわち、
研磨装置システムのバランス(各工程の時間的調整)を
好適にすることが可能となり、システムを連続的に好適
に稼働できる。46は第3搬送装置であり、ウェーハが
接着されたキャリアプレート12を第1冷却装置36か
ら第2冷却装置42へ搬送する。なお、上記加熱装置1
0、接着装置14、第1冷却装置36および第2冷却装
置の領域にあっても、周辺機器等から発生したダスト
が、接着層の中に混入したり、ウェーハの表面に付着し
てウェーハの研磨精度を悪化させる原因とならないよう
に、清浄空気のダウンフロー等によって高い室内空気清
浄度が維持されている。
ート12が、第2冷却装置42内を、ウェーハ11の接
着された面を上面にして水平状態で送られるものである
が、本実施例はこれに限らず、キャリアプレート12を
起立させて搬送してもよい。すなわち、キャリアプレー
ト12面が水平面に直交する面と平行になるように立て
た状態で搬送される。その場合には、第3搬送装置46
にキャリアプレート12を起立させる機構を備えればよ
い。また、第2冷却装置42を、起立されたキャリアプ
レート12が、下降する清浄度の高い冷却空気流によっ
て冷却されるように構成すれば、空気中の微粒子(微細
粉塵)がキャリアプレート12の表面に接着されたウェ
ーハ11上に付着しないように効率良く冷却することが
可能になる。これは、清浄空気の流れが層流状のダウン
フローとなるため、微細粉塵があってもウェーハの表面
に重力落下によって積もって付着することなどを防止で
き、その清浄空気を効率良く循環することが可能になる
ためである。また、キャリアプレート12を起立させた
状態で取り扱うことができるため、第2冷却装置42の
占有面積を小さくすることができる。なお、第1冷却装
置36でウェーハ11が接着されたキャリアプレート1
2は接着剤の軟化点温度以下まで冷却されているので、
キャリアプレート12を起立してもウェーハ11が位置
ずれる等の心配はない。
ト12に接着されたウェーハ11を研磨定盤面に当接さ
せ、キャリアプレート12と研磨定盤面とを相対的に運
動させて、ウェーハ11表面を鏡面に研磨するポリッシ
ング装置(以下、「研磨装置」という)が、本実施例で
は4台並べられて構成されている。以下に研磨装置50
と研磨装置列48の構成およびその動作について詳細に
説明する。52は定盤であり、上面に研磨クロスを貼り
付けて研磨定盤面が設けられており、回転駆動する。5
4はセンターローラであり、定盤52の中央に設けられ
ている。56はガイドローラであり、定盤52の周辺に
所定間隔をおいて複数個配置され、ウェーハ11を下面
に貼り付けた状態のキャリアプレート12を、定盤52
上でセンターローラ54との間で挟持する位置およびフ
リーとする位置との間にわたって移動可能に設けられて
いる。
キャリアプレート12搬入位置に対して定盤52回転方
向の最奥部のガイドローラ56をキャリアプレート12
の挟持位置に移動して、搬入位置に搬入されたキャリア
プレート12を定盤52の回転によりセンターローラ5
4とガイドローラ56との間で挟持する位置まで搬送す
る。次いで同様にして最奥部から2番目のガイドローラ
56とセンターローラ54との間でキャリアプレート1
2を挟持するというように順次定盤52の奥側からキャ
リアプレート12をセンターローラ54と各複数のガイ
ドローラ56との間でセットする。次いでキャリアプレ
ート12をトップリング(図示せず)により定盤52に
押圧しつつ定盤52を回転させてウェーハ11を研磨す
る。
置50の定盤52上のキャリアプレート12の前記搬入
位置にキャリアプレート12を搬入する。また、59は
反転搬送装置であり、第2冷却装置42で冷却されたキ
ャリアプレート12を反転してウェーハ11の接着した
面を下面にすると共に、キャリアプレート12を搬入装
置58がキャリアプレート12を保持できる位置へスラ
イドできる。上記搬入装置58および反転搬送装置59
とによって、ウェーハが接着されたキャリアプレート1
2を第2冷却装置42から研磨装置50(研磨装置列4
8)へ搬送する第4搬送装置57が構成されている。6
0は研磨装置列内搬送装置であり、各研磨装置50、5
0間にそれぞれ配され、上流側の研磨装置のキャリアプ
レート12の排出位置からキャリアプレート12を受け
取り、下流側の研磨装置50のキャリアプレート12の
搬入位置にキャリアプレート12を順次搬入する。
着されたキャリアプレート12を最下流の研磨装置50
のキャリアプレート12の排出位置から順次排出する排
出装置として作動すると共に、キャリアプレート12を
研磨装置50から後述する剥離装置64へ搬送する。す
なわち、第5搬送装置62は最下流の研磨装置50に隣
接して設けられ、研磨装置例48で鏡面加工されたウェ
ーハ11が接着されたキャリアプレート12の上下面を
反転させた反転状態で剥離装置64へ供給する。
円板の下面に毛を植設したブラシ(図示せず)を、各研
磨装置50の定盤52上に供給すれば、各研磨装置50
の定盤52上に貼られた研磨クロスの目詰まりを除去す
ることができる。定盤52上に供給されたブラシは、セ
ンターローラ54と所定位置のガイドローラ56とによ
り挟持され、トップリング(図示せず)により定盤50
の研磨クロスに押圧されつつ定盤50が回転されること
で、研磨クロスの目詰まりを除去できる。なお、研磨ク
ロスの目詰まりを除去するにはこの方法に限らず、定盤
50に隣接位置から出入できるように配設されたブラシ
等を用いて行ってもよい。
置50によって研磨されたウェーハ11をキャリアプレ
ート12から剥離する。この剥離装置64の詳細を以下
に説明する。66は浸漬部であり、第5搬送装置62に
より排出されたキャリアプレート12を収納する棚体を
有し、棚体と共にキャリアプレート12を水槽内の清浄
水に浸漬する。68はバーコード検出部であり、浸漬部
66に載せられたキャリアプレート12が送り込まれ
て、そのキャリアプレート12の下面にあるバーコード
を検出するバーコード検出装置を有する。このバーコー
ド検出部68は、ウェーハのサイズの相違、ウェーハの
貼付数量の相違、またはノッチタイプ若しくはオリフラ
タイプ等のウェーハの種類の相違によるキャリアプレー
ト12の使い分けを管理するため、または使用回数をカ
ウントしてキャリアプレート12の寿命(形状精度に関
する寿命)を管理するために利用できる。なお、このバ
ーコード検出部68は、本実施例の設置位置に限らず、
閉ループ状のシステム内の任意の位置に設置できるのは
勿論である。
8に隣接して設けられ、バーコード検出部68から取り
出したキャリアプレート12を載置する載置台を有す
る。この剥離部70では、キャリアプレート12を吸着
する吸着盤を設けるとともに、その吸着盤を回転可能と
している。72はウェーハ収納部であり、剥離部70で
キャリアプレート12から剥離したウェーハ11をカセ
ットに収納する。ウェーハ11が満杯に収納されたカセ
ットは、カセット収納装置(図示せず)によって、ウェ
ーハ収納部72から排出されてストック部に純水に浸漬
された状態で収納される。また、そのカセット収納装置
によって、空きになったウェーハ収納部72へは、空の
カセットが供給される。そのカセットを給排する給排装
置の構成は、例えば、カセットを保持する保持装置を並
列して備え、ウェーハ収納部72とカセット収納装置の
ストック部との間を往復動できるものを利用できる。そ
の給排装置は次のように作用する。先ず、先端側の保持
装置に空のカセットを保持して後端側の保持装置は空の
状態で、先端の保持装置を行き過ぎさせて後端側の保持
装置をウェーハ収納部72上に位置させる。そして、後
端側の保持装置でウェーハ11が収納されたカセットを
保持して排出し、カセットが排出されて空になったウェ
ーハ収納部72へは、先端側の保持装置によって行き過
ぎてから若干戻されるようにして搬送される空のカセッ
トが供給される。次に、後端側の保持装置によってウェ
ーハ11が収納されたカセットを前記ストック部に搬送
し、そして、後端側の保持装置は空の状態になり、先端
側の保持装置は空のカセットを保持した最先の状態に戻
る。これによって、カセットを給排する1サイクルが終
了し、これを順次繰り返すことによってカセットを順次
自動的に交換でき、本システムの長時間の自動化が可能
になる。
は、浸漬部66とバーコード検出部68とを隣接して設
け、浸漬部66とバーコード検出部68を結ぶライン上
で、かつバーコード検出部68と隣接して剥離部70を
配置し、収納部72をバーコード検出部68と剥離部7
0を結ぶラインの延長上に剥離部70に隣接して配置す
る一方、剥離部70でウェーハ11を剥離した後のキャ
リアプレート12を排出する排送装置(第6搬送装置7
4)を、バーコード検出部68と剥離部70を結ぶライ
ンと直交する方向にキャリアプレート12を排出可能に
設けられている。
によってウェーハ11が剥離された後にキャリアプレー
ト12表面に残った接着剤を除去すべく、キャリアプレ
ート12を洗浄する。この第1洗浄装置76としては、
キャリアプレート12が載置される載置台が回転駆動さ
れ、ブラシの植設された上盤が回転駆動すると共に揺動
駆動するように設けられている。これにより、キャリア
プレート12表面(上面)をブラッシングして洗浄する
ことができる。また、第1洗浄装置76の前記載置台の
側方には、載置台に載置されたキャリアプレート12の
周側面に当接し、その周側面をブラッシングするブラシ
が配設されている。また、78は裏面ブラシ部であり、
ローラー状に形成されたブラシがキャリアプレート12
の裏面をブラッシングして洗浄する。80はラインシャ
ワー部であり、清浄水が噴出してキャリアプレート12
の汚れを洗い流すように設けられている。また、74は
第6搬送装置であり、キャリアプレート12を剥離装置
64から第1洗浄装置76へ搬送する。
76で洗浄されたキャリアプレート12を洗浄用の水槽
84に浸漬して高清浄度に洗浄する。洗浄用の水槽84
としては、超音波洗浄槽、超音波すすぎ槽、温純水槽が
あり、それらの水槽84が所要の数配設されている。8
6は第7搬送装置であり、キャリアプレート12を第1
洗浄装置76から第2洗浄装置82へ搬送する。本実施
例では、この第7搬送装置86がキャリアプレート12
を起立させる機構を備え、第2洗浄装置82が、起立さ
れたキャリアプレート12を清浄水槽84に浸漬するこ
とで高清浄度に洗浄する。このように、キャリアプレー
ト12を起立させた状態で取り扱うことができるため、
洗浄装置の占有面積を小さくすることができる。また、
下降清浄空気(ダウンフロー)を好適に流すことができ
るので、第2洗浄装置82室内の空気清浄度を向上させ
ることができ、キャリアプレート12の表面清浄度を向
上できる。第2洗浄装置82内の搬送装置は、いわゆる
ボックス送り機構を用いればよい。すなわち、前記水槽
84の数に対応し、複数のキャリアプレート12を同時
に保持可能に並設された複数の保持装置と、その複数の
保持装置を同期させて水平方向へ隣合う水槽84間の距
離を往復動させる往復装置と、前記複数の保持装置を同
期させて上下方向へ往復動させる昇降装置とを備え、複
数のキャリアプレート12を順送できる送り機構を用い
ることができる。
6と第2洗浄装置82の間に前記キャリアプレートを滞
留可能に設けられている。これにより、トラブルが発生
した際にもキャリアプレート12を好適に滞留させるこ
とができる。ここで滞留されたキャリアプレート12
は、第2洗浄装置82によって高度に洗浄されて次工程
(加熱装置10)に供給されるので、循環工程を好適に
復帰させることができる。
ート12を第2洗浄装置82から加熱装置10へ搬送す
る。以上に説明した各装置が、図にも明らかなように順
に配列され、ウェーハの研磨装置システムを構成する閉
ループが形成されている。これによれば、その閉ループ
内でキャリアプレート12を好適に循環させることがで
きる。詳しくは、加熱接着されたウェーハ11とキャリ
プレート12を第1冷却装置36と第2冷却装置42で
冷却するなどによって、各工程の時間的なバランスを好
適に設定することができ、好適なタクトタイムを設定で
るうため、ウェーハの研磨装置をシステムとして好適に
自動化できる。
ート12の表面の平面度等の形状精度を検査する検査手
段と、その検査手段によってキャリアプレート12が基
準精度を満足していないときには、そのキャリアプレー
ト12を本発明のシステムの閉ループから排出する排出
手段と、排出されたキャリアプレート12に代わるキャ
リアプレート12を前記閉ループへ導入する導入手段と
を具備してもよい。これにより、不具合のあるキャリア
プレートを自動的に交換することができ、本発明にかか
るシステムを好適に連続稼働できる。以上、本発明につ
き好適な実施例を挙げて種々説明してきたが、本発明は
この実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸
脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのは勿論のこと
である。
却装置を備えるなど、各工程装置およびその装置間に配
設される搬送装置が好適に設けられたため、人手が多く
介在することをなくすよう、ウェーハの研磨装置システ
ムを好適に自動化できる。そして、人手が多く介在しな
いことから、人間の活動によって発生する微細粉塵を大
幅に低減でき、クリーンルーム内を高清浄度に維持する
ことが可能であり、これにより、ウェーハの研磨精度を
向上できるという著効を奏する。また、装置間に停滞し
ていた仕掛品を最小限に管理することができ、ロット混
入等のトラブルをなくすことができるという効果もあ
る。
実施例を示す平面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 ウェーハを接着するキャリアプレートが
載置され、該キャリアプレートを加熱する加熱装置と、 該加熱装置によって加熱されたキャリアプレート上に接
着剤を介してウェーハを接着させる接着装置と、 前記キャリアプレートを前記加熱装置から前記接着装置
へ搬送する第1搬送装置と、 加熱され、ウェーハが接着された前記キャリアプレート
を接着剤の軟化点温度以下まで冷却する第1冷却装置
と、 前記ウェーハが接着されたキャリアプレートを前記接着
装置から前記第1冷却装置へ搬送する第2搬送装置と、 前記第1冷却装置で冷却されたウェーハが接着されたキ
ャリアプレートを室温程度まで冷却する第2冷却装置
と、 前記ウェーハが接着されたキャリアプレートを前記第1
冷却装置から前記第2冷却装置へ搬送する第3搬送装置
と、 前記キャリアプレートに接着されたウェーハを研磨定盤
面に当接させ、キャリアプレートと研磨定盤面とを相対
的に運動させて、ウェーハ表面を鏡面に研磨する少なく
とも一つの研磨装置と、 前記ウェーハが接着されたキャリアプレートを前記第2
冷却装置から前記研磨装置へ搬送する第4搬送装置と、 該研磨装置によって研磨されたウェーハを前記キャリア
プレートから剥離する剥離装置と、 前記ウェーハが接着されたキャリアプレートを前記研磨
装置から前記剥離装置へ搬送する第5搬送装置と、 該剥離装置によってウェーハが剥離された後に前記キャ
リアプレート表面に残った接着剤を除去すべく、キャリ
アプレートを洗浄する第1洗浄装置と、 前記キャリアプレートを前記剥離装置から前記第1洗浄
装置へ搬送する第6搬送装置と、 第1洗浄装置で洗浄されたキャリアプレートを清浄水槽
に浸漬して高清浄度に洗浄する第2洗浄装置と、 前記キャリアプレートを前記第1洗浄装置から前記第2
洗浄装置へ搬送する第7搬送装置と、 前記キャリアプレートを前記第2洗浄装置から前記加熱
装置へ搬送する第8搬送装置とを具備し、 以上の各装置によって以上の記載の順に配列された閉ル
ープが形成され、該閉ループ内で前記キャリアプレート
が循環されることを特徴とするウェーハの研磨装置シス
テム。 - 【請求項2】 前記第1洗浄装置と前記第2洗浄装置の
間に前記キャリアプレートを滞留可能なストック部を設
けたことを特徴とする請求項1記載のウェーハの研磨装
置システム。 - 【請求項3】 前記第3搬送装置がキャリアプレートを
起立させる機構を備え、前記第2冷却装置が起立された
キャリアプレートを下降冷却空気流によって冷却するこ
とを特徴とする請求項1または2記載のウェーハの研磨
装置システム。 - 【請求項4】 前記第7搬送装置がキャリアプレートを
起立させる機構を備え、前記第2洗浄装置が起立された
キャリアプレートを清浄水槽に浸漬することで高清浄度
に洗浄することを特徴とする請求項1、2または3記載
のウェーハの研磨装置システム。 - 【請求項5】 前記キャリアプレートの表面の平面度等
の形状精度を検査する検査手段と、 前記検査手段によって前記キャリアプレートが基準精度
を満足していないときには該キャリアプレートを前記閉
ループから排出する排出手段と、 排出されたキャリアプレートに代わるキャリアプレート
を前記閉ループへ導入する導入手段とを具備することを
特徴とする請求項1、2、3または4記載のウェーハの
研磨装置システム。
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