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JPH08264708A - リードフレーム - Google Patents

リードフレーム

Info

Publication number
JPH08264708A
JPH08264708A JP7067250A JP6725095A JPH08264708A JP H08264708 A JPH08264708 A JP H08264708A JP 7067250 A JP7067250 A JP 7067250A JP 6725095 A JP6725095 A JP 6725095A JP H08264708 A JPH08264708 A JP H08264708A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
lead
leads
lead frame
tie bar
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7067250A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryuichi Fujii
隆一 藤居
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd, Kansai Nippon Electric Co Ltd filed Critical Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority to JP7067250A priority Critical patent/JPH08264708A/ja
Publication of JPH08264708A publication Critical patent/JPH08264708A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
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    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
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    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多数本のリードを多数組タイバにて連結一体
化したリードフレームに関し、特にタイバに樹脂成形の
際の空気抜きとなるエアベントを形成したリードフレー
ムの提供を目的とする。 【構成】 多数本一組のリード14を多数組平行配置し
かつ各リードの中間部を横切るタイバ16にて連結一体
化するとともに前記タイバ16の一部にリード14と平
行にエアベントとなる溝18を形成し、リード14の遊
端部が樹脂モールド金型を用いて樹脂被覆されるリード
フレームにおいて、上記タイバ16の溝18を含む領域
に樹脂溜り19を形成したことを特徴とする。 【効果】 リードの外周に不要な樹脂の付着が防止さ
れ、樹脂ばり取り作業が不要で、リードへの金属めっき
処理が良好に行えるため半田付け性の良好な電子部品を
実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多数本のリードを多数
組タイバにて連結一体化したリードフレームに関し、特
にタイバに樹脂成形の際の空気抜きとなるエアベントを
形成したリードフレームに関する。
【0002】
【従来の技術】樹脂モールド型半導体装置などの電子部
品は一般的に多数本一組のリードを多数組タイバにて連
結したリードフレームを用いて製造される。図7はリー
ドフレームを用い樹脂外装した電子部品の一例を示す。
図において、1は放熱板で、一端側に取付穴1aを穿設
している。2は多数本一組のリードで、その内少なくと
も一本のリード2aは放熱板1の他端に接続され、図示
リード2bと図示しない他のリードとは中間部乃至外端
がリード2aと平行配置され、内端が放熱板1の近傍に
配置されている。3は放熱板1にマウントされた電子部
品本体、例えば半導体ペレット、4は半導体ペレット3
上の電極(図示せず)とリード2bを含むリード遊端部
とを電気的に接続した金属細線、5は放熱板1の取付穴
1a内周を覆い半導体ペレット3を含む主要部分を被覆
し外装した樹脂を示す。
【0003】この樹脂モールド型電子部品は、図8に示
すリードフレームを用いて製造される。図中、図7と同
一符号は同一物を示す。図示したリードフレームは3本
一組のリード2を多数組所定の間隔で平行配列し、各リ
ードの中間部と外端部とをそれぞれタイバ6a及び連結
条6bにて連結一体化し、各組のリードの内、中央のリ
ード2aは放熱板1に接続している。このリードフレー
ムの放熱板1上に半導体ペレット3を固定し、半導体ペ
レット3上の電極とリード2b、2cの遊端とを金属細
線4にて電気的に接続した後、一般的に図9に示すトラ
ンスファ樹脂モールド装置を用いて半導体ペレット3を
含む放熱板1上の主要部分が樹脂被覆される。即ち、7
は下金型で、その上面に流動化した樹脂をガイドするラ
ンナ8を形成している。9はランナ8に沿って形成さ
れ、放熱板1を収容する下キャビティ、
【0004】10は下キャビティ9内に突設したロッド
で、放熱板1の取付穴1aに貫通されている。リードフ
レームはその放熱板1が下金型7の下キャビティ9上に
配置され、取付穴1aにロッド10を挿通した状態で放
熱板1が下キャビティ9内に収容され、リード2が下金
型7の上面(衝合面)に支持される。11はランナ8と
下キャビティ9とを連通しランナ8にガイドされた流動
化樹脂をキャビティ9内に導くゲートを示す。12は下
金型7と衝合する上金型で、下キャビティ9と対向する
部分に上キャビティ13を形成している。この樹脂モー
ルド装置はリード2を金型7、12で挟持し、放熱板1
に沿う他の部分を金型7、12を直接衝合させることに
より、キャビティ9、13を閉じているが、ゲート11
から注入される樹脂をキャビティ9、13内に充填させ
るためには、キャビティ9、13内に残留した空気を追
い出す必要があり、図示しないが一般的に、ゲート11
と対向するキャビティの一部に空気抜き(エアベント)
を形成している。
【0005】このエアベントは外装樹脂の容量にもよる
が、数百μm〜数mm、深さ数10乃至数百μmに設定
され、樹脂がキャビティに充填されると充填樹脂によっ
てエアベントは閉塞され余分な樹脂が漏れ出ないように
している。樹脂外装後、金型から取り出されたリードフ
レームはランナやゲート部分の不要な樹脂が一体に付着
しているため、これらの不要な樹脂を除去し、電子部品
の中間構体を得る。さらにこの中間構体は樹脂から露呈
したリードフレーム1の不要部分、即ちタイバ6a、連
結条6bが切断除去され、個々に分離され図7に示す電
子部品が得られる。この後、電子部品の印刷配線基板へ
の実装性を良好にするためにリード2を金属めっき処理
し、ユーザの要求に応じてリードの曲げ加工がなされ
る。
【0006】ところで、リードフレームには厚みのばら
つきがあり、リードフレームが薄いと樹脂モールドの際
に、金型間に隙間ができ、樹脂が漏れ出る。この樹脂漏
れの内、キャビティ間の樹脂漏れは中間構体を個々に分
離する際に容易に除去できるが、リード2上にしみ出た
樹脂は薄い膜(樹脂ばり)となってリード表面を覆い、
金属めっき処理の障害となるため、サンドブラスト法、
電解法などにより樹脂ばりを除去しているが、特に銅を
用いたリードフレームでは表面に形成された酸化銅が樹
脂との密着を強固にするため、樹脂ばり除去作業が困難
で、時間がかかるという問題があった。そのため、金型
のリードフレーム挟持部分に微細突起を形成して、リー
ドフレームに食い込ませ、金型とリードフレームの密着
性を完全にし樹脂漏れを防止するようにしている。しか
しながら、前記微小突起は摩耗し易く、摩耗すると樹脂
漏れ防止効果がなくなるため、金型を交換する必要があ
り、金型の寿命が短いという問題があった。
【0007】そのため、リードフレームの形状を考慮し
て樹脂漏れを防止するようにしたものがある。例えば、
図10に示すように、リード間のタイバ3aにリード遊
端側に延在する舌片Aを形成し、この舌片A部分を金型
で挟持することにより、キャビティからタイバへ向かう
樹脂の開口径を小さくし樹脂の流動性を低下させ、金型
と舌片Aとの間に隙間が形成されたとしてもタイバ3a
外端迄の沿面距離を長くして加熱された舌片A上で樹脂
の硬化を促進させ樹脂漏れを防止するようにしている。
【0008】このような技術は特開昭48−56064
号公報、特開昭50−128466号公報、実開昭56
−32461号公報、実開昭63−10567号公報な
どに開示されているが、舌片Aを設けることにより、エ
アベントの長さが長くなりリードフレームと金型間に隙
間があるとエアベントから外れた部分に樹脂が流れやす
く、却ってリード表面に樹脂ばりが発生しやすくなると
いう問題があった。ところで、樹脂にはベース樹脂に充
填材を添加しているが、この充填材として熱伝導性を良
好にするためシリカやアルミナの微細粉を用いたもので
は、研磨性が高く、樹脂成形作業を繰り返すうちにエア
ベントが摩耗し樹脂漏れが顕著になって、金型の寿命が
短くなるという問題があるため、図11に示すようにタ
イバ3aを横断する溝Bを形成しこれをエアベントとし
たリードフレームが知られている。(例えば実開昭63
−172147号公報参照) このようにリードフレームにエアベントBを設けると、
リードフレームは順次交換されるためエアベント部分の
摩耗の問題は軽減され金型を長期間にわたって使用する
ことができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところが、リードフレ
ームのタイバ3aにエアベントとなる溝Bを形成する
と、樹脂は溝Bにガイドされタイバ3aの外壁側に導か
れ、さらにこの外壁に沿って移動してタイバ3aと隣接
するリード2側壁部分に樹脂が付着する。リード間隔よ
りやや狭い巾でタイバ3aを除去した後にリード2の中
間部に樹脂が残留し、リードの金属めっきが部分的にで
きないという問題があった。タイバ3aの切断巾をリー
ド2間の間隔よりやや狭く設定するのはリードの中間部
にタイバの残留部を突出させ、この残留部を印刷配線基
板へ実装する際のストッパとして利用するためであり、
印刷配線基板のリード挿通穴を這い上がった半田がこの
ストッパの一部にかかって、リード全周を濡らす状態に
半田付けできることが望ましいといわれているが、リー
ドに樹脂片が残留していると、この部分で半田がとぎれ
るため、半田付けの信頼性にも大きな影響を与える虞が
あった。
【0010】そのため、実開昭63−172147号公
報には図11に示すようにタイバの中央部を肉薄にする
とともにこの肉薄部と隣接するリード部分に幅広の堰堤
部Cを形成し、この堰堤部Cの一部をタイバ3aととも
に切断除去して、リード2に樹脂ばりが残留しないよう
にしているが、リードフレームの樹脂が付着した部分を
切断すると、樹脂に含まれる充填材によって、切断金型
の摩耗が著しくなるという問題があった。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題の解決
を目的として提案されたもので、多数本一組のリードを
多数組平行配置しかつ各リードの中間部を横切るタイバ
にて連結一体化するとともに前記タイバの一部にリード
と平行にエアベントとなる溝を形成し、リードの遊端部
が樹脂モールド金型を用いて樹脂被覆されるリードフレ
ームにおいて、上記タイバの溝を含む領域に樹脂溜りを
形成したことを特徴とするリードフレームを提供する。
上記樹脂溜りはリードの外端側に面するタイバの側壁で
かつ溝を含む領域に凹部を形成することにより実現でき
る。また、リードの外端側に面するタイバの側壁でかつ
溝を含む領域をリード外端側に延長させることによって
樹脂溜りとすることもできる。
【0012】
【作用】本発明はタイバに形成したエアベントとして機
能する溝を含む領域に樹脂溜りを形成したことにより、
エアベントを通った樹脂が樹脂溜りに留められ、リード
側壁に接近しない。
【0013】
【実施例】以下に本発明の実施例を図1から説明する。
図において、14は多数本、図示例では3本一組のリー
ドで、中央のリード14aの一端に電子部品本体を固定
する放熱板15が接続され、他のリード14b、14c
はリード14aの両側に配置されて多数組、所定の間隔
で平行配列され、各リードの中間部と外端部とがタイバ
16と連結条17によって一体に連結されている。本発
明によるリードフレームの特徴は、リードを連結するタ
イバ16にある。即ち、タイバ16の放熱板15と対向
しリード間に位置する部分に樹脂モールドの際にエアベ
ントとして機能する溝18をリード2と平行に形成し、
リード外端側に面するタイバ16外壁と隣接する部分で
溝18を含む領域に切欠き(凹部)19による樹脂溜り
を形成している。図中、20は電子部品本体、21は電
子部品本体20とリード14b、14cの遊端とを接続
した金属細線を示す。
【0014】このリードフレームは、溝18の外端から
リードまでの沿面距離が長く、図2に示すように樹脂モ
ールドの際にエアベントからしみ出た樹脂22が樹脂溜
り19内に留まり、溢れるまで、タイバ16の外端に出
ないから樹脂モールドが完了した時点でリード14の外
壁まで到達せず、リードに樹脂が付着しない状態でリー
ド切断が可能となる。そのため、リードの金属めっきが
良好に行え、半田付け性の良好な電子部品を実現でき
る。また、タイバ16の切断予定部にも樹脂ばりが形成
されないため、切断金型の摩耗も抑えられ金型が長寿命
化する。さらには、樹脂モールドの際に挟持した金型と
リードフレームとの間に隙間が形成され、溝18から溢
れた樹脂がタイバ表面を移動してリード上に拡がろうと
しても、タイバ16の中途で樹脂溜り18に流れ込むた
め、タイバ16の外端と隣接するリード側壁への付着が
防止される。
【0015】図1実施例の樹脂溜り19は矩形状の切欠
きだけでなく、図3に示すように溝18から樹脂の流動
方向に拡開するテーパ状に形成してもよく、図4に示す
ように溝18の中間部分から樹脂の流動方向に縮径する
逆テーパ状に形成してもよい。さらには、図5に示すよ
うに、溝18の中間部に樹脂溜りとなる径大の穴19を
形成してもよい。これらの樹脂溜り19はリードフレー
ムを製造する際に、エッチングやプレス加工により形成
できる。また図6は本発明の他の実施例を示す。図にお
いて、図1と同一符号は同一物を示し詳細な説明は省略
する。図中相違するのは、タイバ16で、このタイバ1
6はリード14の外端側に舌片23を延在させ、溝18
は舌片23を縦断して形成されている。
【0016】この舌片23は基部から遊端に向かって平
行でも良いし、リード相互の間隔が充分とれない場合に
は、基部から遊端に向かって縮径するように形成しても
よい。この実施例では溝18が開口した舌片23の遊端
が樹脂溜りとなる。即ち、溝18の長さが延長されたた
め、溝を流れる樹脂は金型間で加熱され、流動性が低下
して、溝開口端である舌片23の遊端に到達した時点で
流動性が低下し、舌片23の先端から舌片23の側壁に
沿って流動せず、図示したように舌片23の遊端部分で
膨出しそのまま硬化する。この実施例では、舌片23が
タイバ16の実質的な巾を拡げるため、タイバ切断パン
チが広範囲に当接し、タイバ16を捻れ変形させること
なく切断することができる。尚、本発明は上記実施例に
限定されることなく、例えば、樹脂溜り19は切欠きや
打抜きだけでなく、プレスやエッチングなどにより、溝
18部分よりテーパ状または階段状に肉薄に形成しても
よい。また、溝18も始端から終端まで平行に形成する
だけでなく、樹脂の流動方向に異なる巾に設定してもよ
い。また、電子部品本体は半導体ペレットだけに限定さ
れるものではなく、電子部品本体を適宜選択することに
より所望の電子部品に本発明を適用可能であることはい
うまでもない。
【0017】
【発明の効果】以上のように本発明によればリードの外
周に不要な樹脂の付着が防止され、樹脂ばり取り作業が
不要で、リードへの金属めっき処理が良好に行えるため
半田付け性の良好な電子部品を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例を示すリードフレームの部分
平面図
【図2】 図1リードフレームの樹脂モールド後の状態
を示す要部平面図
【図3】 本発明の変形例を示す要部平面図
【図4】 本発明の変形例を示す要部平面図
【図5】 本発明の変形例を示す要部平面図
【図6】 本発明の他の実施例を示す要部平面図
【図7】 樹脂モールド型電子部品の一例を示す側断面
【図8】 図7電子部品の製造に用いられるリードフレ
ームの部分平面図
【図9】 図7電子部品の樹脂外装に用いられる樹脂モ
ールド装置の要部側断面図
【図10】 樹脂ばりを防止したリードフレームの一例
を示す要部平面図
【図11】 樹脂ばりを防止したリードフレームの他の
例を示す要部平面図
【符号の説明】
14 リード 16 タイバ 18 溝 19 樹脂溜り(切欠き) 23 樹脂溜り(舌片)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B29L 31:34

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】多数本一組のリードを多数組平行配置しか
    つ各リードの中間部を横切るタイバにて連結一体化する
    とともに前記タイバの一部にリードと平行にエアベント
    となる溝を形成し、リードの遊端部が樹脂モールド金型
    を用いて樹脂被覆されるリードフレームにおいて、 上記タイバの溝を含む領域に樹脂溜りを形成したことを
    特徴とするリードフレーム。
  2. 【請求項2】リードの外端側と面するタイバの側壁でか
    つ溝を含む領域に樹脂溜りとなる凹部を形成したことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のリードフレー
    ム。
  3. 【請求項3】リードの外端側と面するタイバの側壁でか
    つ溝を含む領域をリード外端側に延長させ樹脂溜りを形
    成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    リードフレーム。
JP7067250A 1995-03-27 1995-03-27 リードフレーム Pending JPH08264708A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7067250A JPH08264708A (ja) 1995-03-27 1995-03-27 リードフレーム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7067250A JPH08264708A (ja) 1995-03-27 1995-03-27 リードフレーム

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JPH08264708A true JPH08264708A (ja) 1996-10-11

Family

ID=13339499

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7067250A Pending JPH08264708A (ja) 1995-03-27 1995-03-27 リードフレーム

Country Status (1)

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JP (1) JPH08264708A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7029256B2 (en) * 2001-10-02 2006-04-18 Micron Technology, Inc. Leadframe and method for removing cleaning compound flash from mold vents
KR100646495B1 (ko) * 2005-09-14 2006-11-14 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 리드프레임 및 이를 봉지하기 위한 몰드
US7264456B2 (en) 2001-10-10 2007-09-04 Micron Technology, Inc. Leadframe and method for reducing mold compound adhesion problems
JP2023536011A (ja) * 2021-06-28 2023-08-23 ヘソン・ディーエス・カンパニー・リミテッド 溝が形成されたリードを含むリードフレーム

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