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JPH08236665A - 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置及びその製造方法

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JPH08236665A
JPH08236665A JP3951495A JP3951495A JPH08236665A JP H08236665 A JPH08236665 A JP H08236665A JP 3951495 A JP3951495 A JP 3951495A JP 3951495 A JP3951495 A JP 3951495A JP H08236665 A JPH08236665 A JP H08236665A
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JP
Japan
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chip
circuit board
hole
resin
surface side
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JP3951495A
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Yoshihiro Ishida
芳弘 石田
Hiroyuki Kaneko
博幸 金子
Shingo Ichikawa
新吾 市川
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Citizen Watch Co Ltd
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    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は放熱特性を改良した樹脂封止型半導
体装置及びその製造方法に関する。 【構成】 樹脂基板1の上面側に設けたICチップ9の
接続電極2と、下面側に設けた外部接続用のパッド電極
3とをスル−ホ−ル4を介して接続し、前記パッド電極
には半田パンプ13を設けると共に前記樹脂基板の上面
を樹脂封止してなる半導体装置に於いて、前記樹脂基板
のICチップ搭載部に貫通穴50を設けると共に、該貫
通穴内に前記ICチップを配設し、ICチップの下面に
放熱用の半田バンプを設けた。 【効果】 放熱特性の改善とコストダウンと薄型化が可
能となった。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、放熱特性を改善した樹
脂封止型半導体装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、樹脂基板の上面側に設けたICチ
ップの接続電極と、下面側に設けた外部接続用のパッド
電極とをスル−ホ−ルを介して接続し、前記パッド電極
には半田パンプを設けると共に前記樹脂基板の上面を樹
脂封止してなる樹脂封止型半導体装置が開発され、これ
らの半導体装置はプラスチック・ボ−ルグリッドアレイ
(以後PBGAと略記する)の名称にて商品化されてい
る。然るに、上記PBGAは従来のセラミックBGAに
比較して低価格にて製造出来るというメリットがある反
面、放熱特性が悪い為、端子数が少なく放熱特性が問題
にならない小型のPBGAにその用途が限定されるとい
う欠点があった。
【0003】上記の欠点を解決する方法としては従来よ
り各種の提案があるが、特に回路基板の下面側に放熱す
る方式としては米国特許5、285、352号に開示が
ありその構成を図3により説明する。
【0004】図3は回路基板の下面側に放熱機構を設け
たPBGAの断面図で、1は樹脂基板であり該樹脂基板
1の上面には接続電極2が、又下面側には外部接続用の
パッド電極3が形成され、前記樹脂基板1の上面側の接
続電極2と下面側のパッド電極3とはスル−ホ−ル4を
介して接続されている。更に樹脂基板1のICチップ搭
載部には貫通穴5が形成され、該貫通穴5には熱伝導の
良い金属よりなる放熱ブロック6が埋設される事により
回路基板7が構成されている。
【0005】そして前記回路基板1の上面側のICチッ
プ搭載部にはICチップ9が熱伝導の良い接着材10に
より固着されると共に前記ICチップ9の各電極はボン
ディング・ワイヤ−11によって前記接続電極2に接続
されている。更に回路基板7の上面側を封止樹脂12に
より封止した後、回路基板7の下面側のパッド電極3と
前記放熱ブロック6の下面とに半田バンプ13を形成す
る事によりPBGA15が完成する。
【0006】上記構成を有するPBGA15は、図示し
ないマザ−ボ−ドに前記半田ボ−ル13を溶融して実装
される事により、前記ICチップ9に発生した発熱は熱
伝導の良い接着剤10、放熱ブロック6、半田ボ−ル1
3を介してマザ−ボ−ド側に放出される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前記PBGA15の構
成はICチップの発熱を回路基板側に放出できる、とい
う点に於いて優れているが構成的には樹脂基板1の貫通
穴5に放熱ブロック6を整合して位置決めする方式であ
る為、樹脂基板1の厚さのバラツキや貫通穴5の加工制
度のバラツキの影響を受けやすく回路基板7の上面側及
び下面側の位置制度が安定せず、ICチップ9の接着位
置や半田バンプ13の形成高さが安定しないという問題
がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の要旨は下記の通りである。両面銅張りした樹
脂基板の上面側に設けたICチップの接続電極と、下面
側に設けた外部接続用のパッド電極とをスル−ホ−ルを
介して接続し、前記パッド電極には半田パンプを設ける
と共に前記樹脂基板の上面を樹脂封止してなる半導体装
置に於いて、前記樹脂基板のICチップ搭載部に貫通穴
を設けると共に、該貫通穴内に前記ICチップを配設
し、該ICチップの下面に放熱用の半田バンプを設けた
事を特徴とする。
【0009】又、両面銅張りした樹脂基板の上面側に設
けたICチップの接続電極と、下面側に設けた外部接続
用のパッド電極とをスル−ホ−ルを介して接続すると共
にICチップ搭載部に貫通穴を設けた回路基板とICチ
ップとを、前記回路基板の貫通穴内にICチップを位置
決めした状態にて治具板に仮固定する工程と、前記IC
チップの電極と回路基板の接続電極とを接続する工程
と、前記回路基板の上面側を樹脂封止する工程と、前記
治具板を剥離する工程と、前記回路基板下面のパッド電
極と前記ICチップの下面とに半田バンプを形成する工
程とを有する事を特徴とする。
【0010】
【実施例】図1は本発明の樹脂封止型半導体装置の実施
例であるPBGAの断面図であり図3に示すPBGAと
同一部材には同一番号を付し説明を省略する。図1に示
すPBGA150に於いて図3にしめすPBGA15と
の違いは樹脂基板1の貫通穴50をICチップ9の径よ
りも大きく形成し、その貫通穴50の中にICチップ9
を直接配置すると共に、該ICチップ9の裏面に放熱用
の半田バンプ13を直接形成したことである。尚20は
ICチップ9の裏面と半田バンプ13との密着力を改善
する為に塗布された銀ペ−スト層、21は半田バンプ1
3の形成と回路基板7の防湿処理を兼ねたレジスト・フ
ィルムである。
【0011】次に図1に示すPBGA50の製造方法を
説明する。図2は図1に示すPBGA50の製造工程を
示す工程図であり、図1(a)は前記回路基板7の貫通
穴50内に前記ICチップ9を位置決めした状態にて、
前記回路基板7とICチップ9とを熱可塑性のフィルム
状接着材41により金属性の治具板40に仮接着した状
態を示す仮接着工程であり、この状態では回路基板7の
下面側のパッド電極3はフィルム状接着材41のなかに
食い込んだ状態となっている。
【0012】図1(b)はワイヤ−ボンデング工程とモ
−ルド工程とを示すものであり、前記ICチップ9の電
極をボンデング・ワイヤ−11により前記接続電極2に
接続した後、前記治具板40ごと金型内にセットして射
出成形により封止樹脂12を形成する。
【0013】図1(c)は治具板剥離工程と、ICチッ
プ裏面処理工程とを示すものであり加熱処理によって熱
可塑性のフィルム状接着材41を軟化させた状態にて前
記治具板40を剥離し、しかる後ICチップ9の裏面に
半田バンプとの密着力を良くする為の銀ペ−スト層20
を塗布する。尚、前記ICチップ9の裏面が金メッキ処
理されている場合は、金メッキ層が半田バンプとの密着
力が良い為、前記銀ペ−スト層20の塗布工程を省略す
る事ができる。
【0014】更に前記図1に示す如く、回路基板7の下
面側に各パッド電極3及びICチップ9の半田バンプ形
成部に円形の窓穴を有する耐熱性のレジスト・フィルム
21を張り、該レジスト・フィルム21の各窓穴に半田
ボ−ルを供給した後、加熱処理を行って半田バンプ13
を形成する事によりPBGA150が完成する。
【0015】図4は本発明の他の実施例を示すPBGA
の断面図であり、図1に示すPBGAと異なるのは、前
記封止樹脂12に上放熱板60をインサ−トモ−ルドし
た構成である。この構成によってICチップ9より発生
した発熱は下面側の放熱用半田バンプ13と上放熱板6
0との上下両方向に発散される為、更に放熱特性は改善
される。
【0016】尚、前記各実施例ではモ−ルド工程として
射出成形による樹脂封止を示したが本願はこれに限定さ
れる物ではなく、例えば熱可塑性樹脂によるポッティン
グ等の技術によって封止樹脂を形成する事も本願の範囲
に含まれるものである。
【0017】
【発明の効果】上記のごとく本発明によれば、ICチッ
プが発生する発熱を回路基板の下面側より放出する方式
に於いて、従来の様な放熱ブロックを設けずに、ICチ
ップの裏面より直接放熱する構成となっている為極めて
優れた放熱効果を奏すると共に放熱ブロックの廃止によ
るコストダウンができる。又、回路基板とICチップと
の位置決めは治具板を用いて両者の底面位置をそろえる
事が出来る為、各位置精度を高めると共にその製造工程
を簡素化する事ができる。更に、ICチップを回路基板
の貫通穴に完全に埋設する構造である為、その分だけP
BGAの薄型化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の樹脂封止型半導体装置を示す断面図で
ある。
【図2】本発明の樹脂封止型半導体装置の製造工程を示
す工程図である。
【図3】従来の樹脂封止型半導体装置を示す断面図であ
る。
【図4】本発明の樹脂封止型半導体装置の他の実施例を
示す断面図である。
【符号の説明】
1 樹脂基板 3 パッド電極 5、50 貫通穴 7 回路基板 9 ICチップ 12 封止樹脂 13 半田バンプ 15、150 樹脂封止型半導体装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 両面銅張りした樹脂基板の上面側に設け
    たICチップの接続電極と、下面側に設けた外部接続用
    のパッド電極とをスル−ホ−ルを介して接続し、前記パ
    ッド電極には半田パンプを設けると共に前記樹脂基板の
    上面を樹脂封止してなる半導体装置に於いて、前記樹脂
    基板のICチップ搭載部に貫通穴を設けると共に、該貫
    通穴内に前記ICチップを配設し、該ICチップの下面
    に放熱用の半田バンプを設けた事を特徴とする樹脂封止
    型半導体装置。
  2. 【請求項2】 両面銅張りした樹脂基板の上面側に設け
    たICチップの接続電極と、下面側に設けた外部接続用
    のパッド電極とをスル−ホ−ルを介して接続すると共に
    ICチップ搭載部に貫通穴を設けた回路基板とICチッ
    プとを、前記回路基板の貫通穴内にICチップを位置決
    めした状態にて治具板に仮固定する工程と、前記ICチ
    ップの電極と回路基板の接続電極とを接続する工程と、
    前記回路基板の上面側を樹脂封止する工程と、前記治具
    板を剥離する工程と、前記回路基板下面のパッド電極と
    前記ICチップの下面とに半田バンプを形成する工程と
    を有する事を特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方
    法。
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