JPH06325219A - Ic card control interface inspection device - Google Patents
Ic card control interface inspection deviceInfo
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- JPH06325219A JPH06325219A JP5109243A JP10924393A JPH06325219A JP H06325219 A JPH06325219 A JP H06325219A JP 5109243 A JP5109243 A JP 5109243A JP 10924393 A JP10924393 A JP 10924393A JP H06325219 A JPH06325219 A JP H06325219A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、ICカード制御装置お
よびICカードソケットを有する装置のICカード制御
装置およびICカードソケット検査装置に関するもので
ある。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an IC card control device and an IC card socket inspection device for an apparatus having an IC card socket.
【0002】[0002]
【従来の技術】以下、従来のICカード制御インタフェ
ース検査装置について図面を参照して説明する。2. Description of the Related Art A conventional IC card control interface inspection device will be described below with reference to the drawings.
【0003】図3に従来の一実施例におけるICカード
制御インタフェース検査装置の構成図を示す。図におい
て、情報処理装置300には、中央処理装置(CPU)
301,検査プログラムが記憶されている記憶装置30
2,入力装置303,出力装置304,ICカード制御
装置305,ICカードソケット306より構成されて
おり、ICカードソケット306には市販のICカード
が接続されている。FIG. 3 shows a block diagram of an IC card control interface inspection device in a conventional embodiment. In the figure, an information processing device 300 includes a central processing unit (CPU).
301, storage device 30 in which inspection program is stored
2, an input device 303, an output device 304, an IC card control device 305, and an IC card socket 306. A commercially available IC card is connected to the IC card socket 306.
【0004】以上のように構成されたICカード制御イ
ンタフェース検査装置について、以下その機能実現手順
を図4を参照しながら説明する。With respect to the IC card control interface inspection device configured as described above, the function realizing procedure will be described below with reference to FIG.
【0005】まず、メモリカード挿入処理401にて検
査員が市販のメモリカードをICカードソケット306
に挿入する。次に検査項目選択処理402にて、メモリ
カードに対応した検査項目を選択する。この選択は記憶
装置302に記憶されている情報に従って行ってもよい
し、入力装置303を使用して検査員が検査項目を入力
してもよい。First, in the memory card insertion processing 401, the inspector inserts a commercially available memory card into the IC card socket 306.
To insert. Next, in the inspection item selection processing 402, the inspection item corresponding to the memory card is selected. This selection may be performed according to the information stored in the storage device 302, or the inspector may input the inspection item using the input device 303.
【0006】検査項目選択処理402にてメモリカード
用の検査項目が選択されると、メモリ機能の検査を行な
うメモリ検査処理手段403が実行される。メモリ検査
処理手段403にて期待された検査処理結果が得られる
と、出力装置304へのパス表示等のパス処理404を
行い、期待された検査処理結果が得られない場合は、出
力装置304へのエラー表示等のエラー処理405を実
行する。When the inspection item for the memory card is selected in the inspection item selection processing 402, the memory inspection processing means 403 for inspecting the memory function is executed. When the expected inspection processing result is obtained by the memory inspection processing means 403, the path processing 404 such as the path display to the output device 304 is performed, and when the expected inspection processing result is not obtained, the output device 304 is executed. The error processing 405 such as error display is executed.
【0007】メモリカードに対しての検査処理が終了す
ると、I/Oカード挿入処理406にて検査員はICカ
ードソケット306に挿入された市販のメモリカードを
排出し、市販のI/Oカードを挿入する。次に検査項目
選択処理407にて、I/Oカードに対応した検査項目
を選択する。この選択は記憶装置302に記憶されてい
る情報に従って行ってもよいし、入力装置303を使用
して検査員が検査項目を入力してもよい。When the inspection process for the memory card is completed, the inspector ejects the commercially available memory card inserted in the IC card socket 306 in the I / O card insertion process 406 and removes the commercially available I / O card. insert. Next, in the inspection item selection processing 407, the inspection item corresponding to the I / O card is selected. This selection may be performed according to the information stored in the storage device 302, or the inspector may input the inspection item using the input device 303.
【0008】検査項目選択処理407にてI/Oカード
用の検査項目が選択されると、入出力機能の検査を行な
うI/O検査処理手段408が実行される。I/O検査
処理手段408にて期待された検査処理結果が得られる
と、出力装置304へのパス表示等のパス処理409を
行い、期待された検査処理結果が得られない場合は、出
力装置304へのエラー表示等のエラー処理410を実
行する。When the inspection item for the I / O card is selected in the inspection item selection processing 407, the I / O inspection processing means 408 for inspecting the input / output function is executed. When the expected inspection processing result is obtained by the I / O inspection processing means 408, the path processing 409 such as displaying the path to the output device 304 is performed. If the expected inspection processing result is not obtained, the output device is output. An error process 410 such as displaying an error in 304 is executed.
【0009】次に、プロテクトスイッチ操作処理411
にて検査員は、ICカードソケット306に挿入されて
いる市販のI/Oカードのプロテクトスイッチを書き込
み禁止状態にする。そして、検査項目選択処理412に
て、書き込み禁止状態の確認を行なう検査項目を選択す
る。この選択は記憶装置302に記憶されている情報に
従って行ってもよいし、入力装置303を使用して検査
員が検査項目を入力してもよい。Next, protect switch operation processing 411
At, the inspector sets the protect switch of the commercially available I / O card inserted in the IC card socket 306 to the write-protected state. Then, in the inspection item selection processing 412, an inspection item for confirming the write-protected state is selected. This selection may be performed according to the information stored in the storage device 302, or the inspector may input the inspection item using the input device 303.
【0010】検査項目選択処理412にて検査項目が選
択されると、書き込み禁止状態の確認を行なう書き込み
禁止状態検査処理413が実行される。書き込み禁止状
態検査処理413にて期待された検査処理結果が得られ
ると、出力装置304へのパス表示等のパス処理414
を行い、期待された検査処理結果が得られない場合は、
出力装置304へのエラー表示等のエラー処理415を
実行する。When an inspection item is selected in the inspection item selection process 412, a write-prohibited state inspection process 413 for confirming the write-prohibited state is executed. When the expected inspection processing result is obtained in the write protection state inspection processing 413, a path processing 414 such as a path display to the output device 304 is performed.
If you do not get the expected inspection processing results,
An error process 415 such as displaying an error on the output device 304 is executed.
【0011】I/Oカードに対しての検査処理が終了す
ると、モデムカード挿入処理416にて検査員はICカ
ードソケット306に挿入された市販のI/Oカードを
排出し、市販のモデムカードを挿入する。次に検査項目
選択処理417にて、モデムカードに対応した検査項目
を選択する。この選択は記憶装置302に記憶されてい
る情報に従って行ってもよいし、入力装置303を使用
して検査員が検査項目を入力してもよい。When the inspection process for the I / O card is completed, the inspector ejects the commercially available I / O card inserted in the IC card socket 306 in the modem card insertion process 416, and removes the commercially available modem card. insert. Next, in the inspection item selection processing 417, the inspection item corresponding to the modem card is selected. This selection may be performed according to the information stored in the storage device 302, or the inspector may input the inspection item using the input device 303.
【0012】検査項目選択処理417にて検査項目が選
択されると、モデムの機能検査を行なうモデム検査処理
手段418が実行される。モデム検査処理手段418に
て、期待した検査処理結果が得られると、出力装置30
4へのパス表示等へのパス処理419を行い、期待され
た検査結果が得られない場合は、出力装置304へのエ
ラー表示等のエラー処理420を実行する。When the inspection item is selected in the inspection item selection processing 417, the modem inspection processing means 418 for executing the function inspection of the modem is executed. When the modem inspection processing means 418 obtains the expected inspection processing result, the output device 30
The path processing 419 for displaying the path to No. 4 is performed, and when the expected inspection result is not obtained, the error processing 420 such as displaying the error on the output device 304 is executed.
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来のICカード制御インタフェース検査装置では、I
Cカード制御装置およびICカードソケットの全ての機
能を使用するICカードが市販されておらず、1枚のI
CカードによりICカード制御装置およびICカードソ
ケットのほとんどの機能を検査することは不可能であっ
た。従って、ICカード制御装置およびICカードソケ
ットの多くの機能を検査するには複数のICカードが必
要であり、検査の種類によってICカードを検査員が交
換しなければならず工数がかかり省人化は不可能であっ
た。However, in the above-mentioned conventional IC card control interface inspection device, I
There is no IC card on the market that uses all the functions of the C card control device and the IC card socket.
It was not possible to test most functions of the IC card controller and IC card socket with the C card. Therefore, in order to inspect many functions of the IC card control device and the IC card socket, a plurality of IC cards are required, and the inspector must replace the IC card depending on the type of inspection, resulting in a lot of man-hours and labor saving. Was impossible.
【0014】本発明のICカード制御インタフェース検
査装置は、従来の課題を解消するものであり、ICカー
ド制御装置およびICカードソケットのほとんどの機能
を短時間にかつ自動で検査でき、不良発見率の向上が図
られ、かつ検査の工数の削減を実現する検査装置を提供
するものである。The IC card control interface inspection device of the present invention solves the problems of the prior art. Most of the functions of the IC card control device and the IC card socket can be automatically inspected in a short time, and the defect detection rate can be improved. (EN) Provided is an inspection device which is improved and reduces the number of inspection steps.
【0015】[0015]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、ICカード制御インタフェース検査装置
と、検査出力処理手段と、検査入力処理手段と、検査制
御手段を用いるものである。In order to achieve the above object, the present invention uses an IC card control interface inspection device, inspection output processing means, inspection input processing means, and inspection control means.
【0016】[0016]
【作用】上記した手段では、検査項目毎のICカードを
必要とすることなしに、ICカード入出力検査装置に対
する入出力操作で、ICカード制御装置および、ICカ
ードソケットの検査が短時間に、かつ、自動で検査が実
現される。With the above-mentioned means, the IC card control device and the IC card socket can be inspected in a short time by the input / output operation to / from the IC card input / output inspection device without requiring an IC card for each inspection item. Moreover, the inspection is automatically realized.
【0017】[0017]
【実施例】以下、本発明の一実施例のICカード制御イ
ンタフェース検査装置について図面を参照して説明す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An IC card control interface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0018】図1に、本発明の一実施例におけるICカ
ード制御インタフェース検査装置の構成図を示す。図に
おいて、情報処理装置100には、中央処理装置(CP
U)101,検査プログラムが記憶されている記憶装置
102,入力装置103,出力装置104,ICカード
制御装置105,ICカードソケット106より構成さ
れており、ICカードソケット106にはICカード入
出力検査装置110が接続されている。FIG. 1 shows a block diagram of an IC card control interface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. In the figure, the information processing device 100 includes a central processing unit (CP
U) 101, a storage device 102 storing an inspection program, an input device 103, an output device 104, an IC card control device 105, and an IC card socket 106. The IC card socket 106 has an IC card input / output test. The device 110 is connected.
【0019】以上のように構成されたICカード制御イ
ンタフェース検査装置について、以下この機能実現手順
を図2を参照しながら説明する。With respect to the IC card control interface inspection device configured as described above, the procedure for realizing this function will be described below with reference to FIG.
【0020】図2は、中央処理装置100が実行する、
記憶装置102に記憶された検査の処理を示すフローチ
ャート200である。FIG. 2 is executed by the central processing unit 100.
6 is a flowchart 200 showing the inspection process stored in the storage device 102.
【0021】まず、検査項目選択処理201にて、検査
項目を選択する。この選択は記憶装置102に記憶され
ている情報に従って行われる。この場合は検査員の操作
が不要であるので量産工程に適している。なお、入力装
置103を使用して検査項目を入力することもできる。
この場合は修理・解析を行なう際に適している。First, in the inspection item selection processing 201, an inspection item is selected. This selection is made according to the information stored in the storage device 102. In this case, no operation by an inspector is required, which is suitable for a mass production process. It is also possible to input an inspection item using the input device 103.
This case is suitable for repair and analysis.
【0022】次に、ICカード制御装置105に検査出
力処理手段202を実行すると、ICカードソケット1
06を介してICカード入出力検査装置110に出力処
理がなされ、ICカード入出力検査装置110は、検査
出力処理手段202に対応する検査処理を行なう。Next, when the inspection output processing means 202 is executed in the IC card control device 105, the IC card socket 1
Output processing is performed to the IC card input / output inspection device 110 via 06, and the IC card input / output inspection device 110 performs inspection processing corresponding to the inspection output processing means 202.
【0023】そして、ICカード制御装置105に検査
入力処理手段203を実行すると、ICカードソケット
106を介してICカード入出力装置110よりデータ
が入力できる。When the inspection input processing means 203 is executed in the IC card control device 105, data can be input from the IC card input / output device 110 via the IC card socket 106.
【0024】そこで、記憶装置102に記憶された検査
プログラムは、検査入力処理手段203より入力された
データに基づいて検査制御処理手段204を実行し期待
された値であるかを確認する。入力されたデータが期待
された値であれば、出力装置103へのパス表示等のパ
ス処理205を行い、検査終了確認処理207へ移る。
期待された値でなければ、出力装置104へのエラー表
示等のエラー処理206を実行し、次の検査終了確認処
理207へ移る。Therefore, the inspection program stored in the storage device 102 executes the inspection control processing means 204 based on the data input from the inspection input processing means 203 and confirms whether or not the expected value is obtained. If the input data is the expected value, the path processing 205 such as path display to the output device 103 is performed, and the process proceeds to the inspection end confirmation processing 207.
If it is not the expected value, error processing 206 such as error display on the output device 104 is executed, and the process proceeds to the next inspection end confirmation processing 207.
【0025】そして、検査終了確認処理207におい
て、ICカード制御装置105およびICカードソケッ
ト106に対する検査がすべて終了した場合は、検査処
理を終了する。ICカード制御装置105およびICカ
ードソケット106に対する検査が終了していない場合
には、検査項目選択201に処理を移し、検査処理を続
行する。Then, in the inspection end confirmation processing 207, when all the inspections on the IC card control device 105 and the IC card socket 106 are completed, the inspection processing is ended. When the inspection of the IC card control device 105 and the IC card socket 106 is not completed, the process is moved to the inspection item selection 201 and the inspection process is continued.
【0026】以上のように本実施例によれば、ICカー
ド入出力検査装置110を使用することにより、ICカ
ード制御装置105に対しての出力処理202,入力処
理203を行なうことにより、ICカード制御装置10
5およびICカードソケット106の全ての機能を自動
で検査でき、不良発見率の向上が図られ、かつ工数削減
が可能となる。As described above, according to the present embodiment, by using the IC card input / output inspection device 110, the output process 202 and the input process 203 to the IC card control device 105 are performed, whereby the IC card Control device 10
5 and all the functions of the IC card socket 106 can be automatically inspected, the defect detection rate can be improved, and the number of steps can be reduced.
【0027】なお、上記ではICカード制御装置とIC
カードソケットが情報処理装置上に搭載され、情報処理
装置上の中央処理装置が検査プログラムを実行する場合
を一実施例で記したが、中央処理装置が搭載されていな
い装置上に搭載されたICカード制御装置とICカード
ソケットの検査を、他の検査システムから検査プログラ
ムを実行することで実現することも可能である。In the above, the IC card control device and the IC
Although the case where the card socket is mounted on the information processing apparatus and the central processing unit on the information processing apparatus executes the inspection program is described in the embodiment, the IC mounted on the apparatus without the central processing unit is described. It is also possible to implement the inspection of the card control device and the IC card socket by executing the inspection program from another inspection system.
【0028】[0028]
【発明の効果】以上のように本発明のICカード制御イ
ンタフェース検査装置は、ICカード入出力検査装置と
検査出力処理手段と検査入力処理手段と検査制御手段を
適応することにより、ICカード制御装置とICカード
ソケットのほとんどの機能の検査を短時間で、かつ自動
検査を実現し、飛躍的に検査工数を削減するとともに、
検査精度を高めることができるものである。As described above, the IC card control interface inspection device of the present invention is adapted to the IC card input / output inspection device, the inspection output processing means, the inspection input processing means, and the inspection control means, so that And most of the functions of the IC card socket can be automatically inspected in a short time, dramatically reducing the inspection man-hour.
The inspection accuracy can be improved.
【図1】本発明の一実施例におけるICカード制御イン
タフェース検査装置を適用したシステム構成図FIG. 1 is a system configuration diagram to which an IC card control interface inspection device according to an embodiment of the present invention is applied.
【図2】ICカード制御インタフェース検査装置の検査
プログラムの処理を示すフローチャートFIG. 2 is a flowchart showing processing of an inspection program of the IC card control interface inspection device.
【図3】従来のICカード制御インタフェース検査装置
のシステム構成図FIG. 3 is a system configuration diagram of a conventional IC card control interface inspection device.
【図4】同装置の検査プログラムの処理を示すフローチ
ャートFIG. 4 is a flowchart showing the processing of the inspection program of the apparatus.
【図5】同装置の出力装置へのエラー処理実行後の動作
を示すフローチャートFIG. 5 is a flowchart showing an operation after execution of error processing to the output device of the same device.
100 情報処理装置(CPU) 101 中央処理装置 102 記憶装置 103 入力装置 104 出力装置 105 ICカード制御装置 106 ICカードソケット 110 ICカード入出力検査装置 200 フローチャート 201 検査項目選択 202 検査出力処理手段 203 検査入力処理手段 204 検査制御処理手段 205 パス処理 206 エラー処理 207 検査終了処理 100 Information processing device (CPU) 101 Central processing unit 102 Storage device 103 Input device 104 Output device 105 IC card control device 106 IC card socket 110 IC card input / output inspection device 200 Flow chart 201 Inspection item selection 202 Inspection output processing means 203 Inspection input Processing means 204 Inspection control processing means 205 Pass processing 206 Error processing 207 Inspection end processing
Claims (1)
力装置及びICカード制御装置を有する情報処理装置
と、前記情報処理装置に接続されるICカード入出力検
査装置とを備え、前記ICカード入出力検査装置はIC
カード制御装置をICカードソケットを通して、前記I
Cカード制御装置および前記ICカードソケットを検査
するための検査出力処理手段と、前記検査出力処理手段
に対応する検査入力処理手段とを有するICカード検査
装置と、前記検査出力処理手段および前記検査入力手段
の制御を行う検査制御処理手段を具備したことを特徴と
するICカード制御インタフェース検査装置。1. An IC card comprising: an information processing device having a central processing unit, a storage device, an input device, an output device, and an IC card control device; and an IC card input / output inspection device connected to the information processing device. I / O inspection device is IC
Pass the card control device through the IC card socket
An IC card inspection device having a C card control device and inspection output processing means for inspecting the IC card socket, and inspection input processing means corresponding to the inspection output processing means, the inspection output processing means and the inspection input An IC card control interface inspection device comprising inspection control processing means for controlling the means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5109243A JPH06325219A (en) | 1993-05-11 | 1993-05-11 | Ic card control interface inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5109243A JPH06325219A (en) | 1993-05-11 | 1993-05-11 | Ic card control interface inspection device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06325219A true JPH06325219A (en) | 1994-11-25 |
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ID=14505248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5109243A Pending JPH06325219A (en) | 1993-05-11 | 1993-05-11 | Ic card control interface inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06325219A (en) |
-
1993
- 1993-05-11 JP JP5109243A patent/JPH06325219A/en active Pending
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