JPH0613850A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPH0613850A JPH0613850A JP4170991A JP17099192A JPH0613850A JP H0613850 A JPH0613850 A JP H0613850A JP 4170991 A JP4170991 A JP 4170991A JP 17099192 A JP17099192 A JP 17099192A JP H0613850 A JPH0613850 A JP H0613850A
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- flop
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 28
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 17
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 シフト・レジスタのクロック信号に対するデ
ータ信号の保持時間不足による誤動作を防止する。 【構成】 フリップ・フロップ105のクロック入力端
子102に入力したクロック信号をバッファ106で増
幅して、これをクロック出力端子COに出力する。フリ
ップ・フロップ105,バッファ106の組を複数段組
合せてシフト・レジスタを構成した場合、後段から前段
に向けてクロック信号を順次入力させることにより、デ
ータ保持時間に必要な遅延時間を確保して誤動作を防止
する。
ータ信号の保持時間不足による誤動作を防止する。 【構成】 フリップ・フロップ105のクロック入力端
子102に入力したクロック信号をバッファ106で増
幅して、これをクロック出力端子COに出力する。フリ
ップ・フロップ105,バッファ106の組を複数段組
合せてシフト・レジスタを構成した場合、後段から前段
に向けてクロック信号を順次入力させることにより、デ
ータ保持時間に必要な遅延時間を確保して誤動作を防止
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路に関
し、特にフリップ・フロップを含む半導体集積回路に関
する。
し、特にフリップ・フロップを含む半導体集積回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体集積回路は、図8に示すフ
リップ・フロップ105のように、クロック信号出力端
子を持たない。従って、図9に示すように、このフリッ
プ・フロップを使用してシフト・レジスタを構成する場
合、全てのフリップ・フロップ414,415,416
のクロック信号入力端子にクロック信号入力端子112
より同一のクロック信号を共通に与え、全てのフリップ
・フロップ414,415,416を同時に動作させる
必要がある。111はデータ信号入力端子、113はデ
ータ信号出力端子である。
リップ・フロップ105のように、クロック信号出力端
子を持たない。従って、図9に示すように、このフリッ
プ・フロップを使用してシフト・レジスタを構成する場
合、全てのフリップ・フロップ414,415,416
のクロック信号入力端子にクロック信号入力端子112
より同一のクロック信号を共通に与え、全てのフリップ
・フロップ414,415,416を同時に動作させる
必要がある。111はデータ信号入力端子、113はデ
ータ信号出力端子である。
【0003】しかし、スタンダード・セル、又はゲート
・アレイ等の自動配置、及び配線の自動化によってマス
ク・レイアウトを行う半導体集積回路では、配線の引き
回しにより配線の寄生容量及び配線抵抗が、クロック信
号入力端子112から各フリップ・フロップ414,4
15,416のクロック信号入力端子まで、同じ値にな
らない。従って各フリップ・フロップ414,415,
416は同時に動作することはできない。前段フリップ
・フロップのクロック信号に対して、後段フリップ・フ
ロップのクロック信号の配線の容量、及び抵抗による遅
延時間が大きくなった場合、フリップ・フロップに入力
されるデータ信号とクロック信号との間に必要なデータ
保持時間が不足し誤動作を引き起こす。このデータ保持
時間不足による誤動作を防ぐため、従来は図10に示す
ようにフリップ・フロップ414と415,415と4
16間に遅延素子421,422を挿入することによ
り、後段フリップ・フロップのデータ信号入力端子への
データ信号伝搬時間を大きくし、データ保持時間を作り
込んでいた。
・アレイ等の自動配置、及び配線の自動化によってマス
ク・レイアウトを行う半導体集積回路では、配線の引き
回しにより配線の寄生容量及び配線抵抗が、クロック信
号入力端子112から各フリップ・フロップ414,4
15,416のクロック信号入力端子まで、同じ値にな
らない。従って各フリップ・フロップ414,415,
416は同時に動作することはできない。前段フリップ
・フロップのクロック信号に対して、後段フリップ・フ
ロップのクロック信号の配線の容量、及び抵抗による遅
延時間が大きくなった場合、フリップ・フロップに入力
されるデータ信号とクロック信号との間に必要なデータ
保持時間が不足し誤動作を引き起こす。このデータ保持
時間不足による誤動作を防ぐため、従来は図10に示す
ようにフリップ・フロップ414と415,415と4
16間に遅延素子421,422を挿入することによ
り、後段フリップ・フロップのデータ信号入力端子への
データ信号伝搬時間を大きくし、データ保持時間を作り
込んでいた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の半導体
集積回路では、シフト・レジスタの回路構成とした場
合、予めどのくらいフリップ・フロップ414,41
5,416の動作時間差があるか予想して、遅延素子4
21,422の遅延時間を決定しなければならない。ま
た遅延時間が不足した場合は、誤動作を起こす。さらに
配置,配線のバラツキを考慮して遅延時間は大きめにし
なければならないため、遅延素子数が増加して、その分
だけ素子数が増えるという欠点がある。
集積回路では、シフト・レジスタの回路構成とした場
合、予めどのくらいフリップ・フロップ414,41
5,416の動作時間差があるか予想して、遅延素子4
21,422の遅延時間を決定しなければならない。ま
た遅延時間が不足した場合は、誤動作を起こす。さらに
配置,配線のバラツキを考慮して遅延時間は大きめにし
なければならないため、遅延素子数が増加して、その分
だけ素子数が増えるという欠点がある。
【0005】本発明の目的は、シフト・レジスタのクロ
ック信号に対するデータ信号の保持時間不足による誤動
作を防止した半導体集積回路を提供することにある。
ック信号に対するデータ信号の保持時間不足による誤動
作を防止した半導体集積回路を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体集積回路は、フリップ・フロッ
プと、バッファ又はインバータとを有する半導体集積回
路であって、フリップ・フロップは、データ入力信号と
クロック信号とが入力され、クロック信号の入力を検出
してデータ信号を出力するものであり、バッファ又はイ
ンバータは、フリップ・フロップに入力されたクロック
信号を増幅して、これをフリップ・フロップ以外の出力
端子に出力するものである。
め、本発明に係る半導体集積回路は、フリップ・フロッ
プと、バッファ又はインバータとを有する半導体集積回
路であって、フリップ・フロップは、データ入力信号と
クロック信号とが入力され、クロック信号の入力を検出
してデータ信号を出力するものであり、バッファ又はイ
ンバータは、フリップ・フロップに入力されたクロック
信号を増幅して、これをフリップ・フロップ以外の出力
端子に出力するものである。
【0007】
【作用】フリップ・フロップとバッファ或いはインバー
タとを組合せた半導体集積回路を複数段設けてシフト・
レジスタを構成した場合に、クロック信号を最終段のも
のから初段のものに向けて順次入力して、データ保持時
間として必要な遅延時間を確保する。
タとを組合せた半導体集積回路を複数段設けてシフト・
レジスタを構成した場合に、クロック信号を最終段のも
のから初段のものに向けて順次入力して、データ保持時
間として必要な遅延時間を確保する。
【0008】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0009】(実施例1)図1は、本発明の実施例1を
示す回路図であり、図2は、本実施例のフリップ・フロ
ップを使用して構成したシフト・レジスタの回路図であ
る。
示す回路図であり、図2は、本実施例のフリップ・フロ
ップを使用して構成したシフト・レジスタの回路図であ
る。
【0010】図1において、本実施例は、フリップ・フ
ロップ105とバッファ106とを備えて構成されてい
る。
ロップ105とバッファ106とを備えて構成されてい
る。
【0011】フリップ・フロップ105は、クロック信
号入力端子102より入力されたクロック信号の立ち上
がりエッジを検出して、データ信号入力端子101から
のデータ信号をデータ信号出力端子103に出力するも
のである。
号入力端子102より入力されたクロック信号の立ち上
がりエッジを検出して、データ信号入力端子101から
のデータ信号をデータ信号出力端子103に出力するも
のである。
【0012】また、バッファ106は、クロック信号入
力端子102より入力されたクロック信号を増幅して、
これをクロック信号出力端子104に同相で出力するも
のである。これらの機能を備えた半導体集積回路107
を使用したシフト・レジスタが図2のものである。
力端子102より入力されたクロック信号を増幅して、
これをクロック信号出力端子104に同相で出力するも
のである。これらの機能を備えた半導体集積回路107
を使用したシフト・レジスタが図2のものである。
【0013】図2において、第1のフリップ・フロップ
114,第2のフリップ・フロップ115、及び第3の
フリップ・フロップ116は、図1の半導体集積回路1
07を使用している。
114,第2のフリップ・フロップ115、及び第3の
フリップ・フロップ116は、図1の半導体集積回路1
07を使用している。
【0014】データ信号入力端子111より入力された
データ信号は、第1のフリップ・フロップ114のデー
タ信号入力端子Dに入力され、該フリップ・フロップ1
14のデータ信号出力端子Qより出力される。同様に、
フリップ・フロップ114からのデータ信号は、後段の
第2のフリップ・フロップ115,第3のフリップ・フ
ロップ116に伝えられ、最終的に終段のフリップ・フ
ロップ116のデータ信号出力端子Qより、データ信号
出力端子113に出力される。
データ信号は、第1のフリップ・フロップ114のデー
タ信号入力端子Dに入力され、該フリップ・フロップ1
14のデータ信号出力端子Qより出力される。同様に、
フリップ・フロップ114からのデータ信号は、後段の
第2のフリップ・フロップ115,第3のフリップ・フ
ロップ116に伝えられ、最終的に終段のフリップ・フ
ロップ116のデータ信号出力端子Qより、データ信号
出力端子113に出力される。
【0015】次に、これらのフリップ・フロップに与え
られるクロック信号について説明する。クロック信号
は、クロック信号入力端子112より、最終段の第3の
フリップ・フロップ116のクロック信号入力端子Cに
入力される。入力されたクロック信号は、フリップ・フ
ロップ116内のバッファ106を通過する際に増幅さ
れ、バッファ106は、増幅したクロック信号をクロッ
ク信号出力端子COより出力する。
られるクロック信号について説明する。クロック信号
は、クロック信号入力端子112より、最終段の第3の
フリップ・フロップ116のクロック信号入力端子Cに
入力される。入力されたクロック信号は、フリップ・フ
ロップ116内のバッファ106を通過する際に増幅さ
れ、バッファ106は、増幅したクロック信号をクロッ
ク信号出力端子COより出力する。
【0016】クロック信号出力端子COからのクロック
信号は、1段手前の第2のフリップ・フロップ115の
クロック信号入力端子Cに入力してバッファ106に通
されて、同様にクロック信号出力端子COから初段の第
1のフリップ・フロップ114に入力される。
信号は、1段手前の第2のフリップ・フロップ115の
クロック信号入力端子Cに入力してバッファ106に通
されて、同様にクロック信号出力端子COから初段の第
1のフリップ・フロップ114に入力される。
【0017】このように、本実施例によるフリップ・フ
ロップでシフト・レジスタを構成した場合、クロック信
号入力端子112からのクロック信号は、まず最終段の
フリップ・フロップに入力され、最終段のフリップ・フ
ロップ116から順次初段のフリップ・フロップに向け
て伝えられる。
ロップでシフト・レジスタを構成した場合、クロック信
号入力端子112からのクロック信号は、まず最終段の
フリップ・フロップに入力され、最終段のフリップ・フ
ロップ116から順次初段のフリップ・フロップに向け
て伝えられる。
【0018】これにより、遅延素子を用いることなく、
データ保持時間を確保することができる。
データ保持時間を確保することができる。
【0019】(実施例2)図3は本発明の実施例2を示
す回路図、図4は本発明の実施例3のを示す回路図であ
る。また、図5は、本発明の実施例2,3に係るフリッ
プ・フロップを使用して構成したシフト・レジスタの回
路図である。
す回路図、図4は本発明の実施例3のを示す回路図であ
る。また、図5は、本発明の実施例2,3に係るフリッ
プ・フロップを使用して構成したシフト・レジスタの回
路図である。
【0020】図3において、実施例2は、フリップ・フ
ロップ105、及びインバータ206とを備えて構成さ
れる。
ロップ105、及びインバータ206とを備えて構成さ
れる。
【0021】フリップ・フロップ105は、クロック信
号入力端子102より入力されたクロック信号の立ち上
がりエッジを検出してデータ信号入力端子101からの
データ信号をデータ信号出力端子103に出力するもの
である。また、インバータ206は、クロック信号入力
端子102より入力されたクロック信号を増幅してクロ
ック信号出力端子204に逆相で出力するものである。
号入力端子102より入力されたクロック信号の立ち上
がりエッジを検出してデータ信号入力端子101からの
データ信号をデータ信号出力端子103に出力するもの
である。また、インバータ206は、クロック信号入力
端子102より入力されたクロック信号を増幅してクロ
ック信号出力端子204に逆相で出力するものである。
【0022】次に、図4において、実施例3は、フリッ
プ・フロップ205、及びインバータ206とを備えて
構成される。
プ・フロップ205、及びインバータ206とを備えて
構成される。
【0023】フリップ・フロップ205は、クロック信
号入力端子202より入力されたクロック信号の立ち下
がりエッジを検出してデータ信号入力端子101からの
データ信号をデータ信号出力端子103に出力するもの
である。
号入力端子202より入力されたクロック信号の立ち下
がりエッジを検出してデータ信号入力端子101からの
データ信号をデータ信号出力端子103に出力するもの
である。
【0024】インバータ206は、クロック信号入力端
子202より入力されたクロック信号を増幅してクロッ
ク信号出力端子104に逆相で出力するものである。
子202より入力されたクロック信号を増幅してクロッ
ク信号出力端子104に逆相で出力するものである。
【0025】これら実施例2,3に示す機能を備えた半
導体集積回路を使用したシフト・レジスタの回路図が図
5である。
導体集積回路を使用したシフト・レジスタの回路図が図
5である。
【0026】図5において、第1のフリップ・フロップ
214、及び第3のフリップ・フロップ216は図4の
半導体集積回路208である。また、第2のフリップ・
フロップ215、及び第4のフリップ・フロップ217
は図3の半導体集積回路207である。
214、及び第3のフリップ・フロップ216は図4の
半導体集積回路208である。また、第2のフリップ・
フロップ215、及び第4のフリップ・フロップ217
は図3の半導体集積回路207である。
【0027】データ入力端子111より入力されたデー
タ信号は第1のフリップ・フロップ214のデータ信号
入力端子Dに入力され、同フリップ・フロップのデータ
信号出力端子Qより出力される。同様に、第2のフリッ
プ・フロップ215,第3のフリップ・フロップ21
6,第4のフリップ・フロップ217へとデータ信号が
伝えられ、最終段の第4のフリップ・フロップ217の
データ信号出力端子Qより、データ信号出力端子113
へと出力される。
タ信号は第1のフリップ・フロップ214のデータ信号
入力端子Dに入力され、同フリップ・フロップのデータ
信号出力端子Qより出力される。同様に、第2のフリッ
プ・フロップ215,第3のフリップ・フロップ21
6,第4のフリップ・フロップ217へとデータ信号が
伝えられ、最終段の第4のフリップ・フロップ217の
データ信号出力端子Qより、データ信号出力端子113
へと出力される。
【0028】次に、これらのフリップ・フロップに与え
られるクロック信号について説明する。クロック信号入
力端子112より、第4のフリップ・フロップ217の
クロック信号入力端子Cへクロック信号が入力される。
フリップ・フロップ217内のインバータ206を通過
した逆相のクロック信号が、クロック信号出力端子CO
Bより出力され、1段手前の第3のフリップ・フロップ
216のクロック信号入力端子へと伝えられ、同様に、
フリップ・フロップ216のクロック信号出力端子CO
から第2のフリップ・フロップ215、第2のフリップ
・フロップ215から初段の第1のフリップ・フロップ
214へと伝えられる。
られるクロック信号について説明する。クロック信号入
力端子112より、第4のフリップ・フロップ217の
クロック信号入力端子Cへクロック信号が入力される。
フリップ・フロップ217内のインバータ206を通過
した逆相のクロック信号が、クロック信号出力端子CO
Bより出力され、1段手前の第3のフリップ・フロップ
216のクロック信号入力端子へと伝えられ、同様に、
フリップ・フロップ216のクロック信号出力端子CO
から第2のフリップ・フロップ215、第2のフリップ
・フロップ215から初段の第1のフリップ・フロップ
214へと伝えられる。
【0029】これら実施例2,3の半導体集積回路を使
用してシフト・レジスタを構成した場合、実施例1と比
較し、クロック信号を増幅するバッファがインバータに
なった分だけ素子数が減少する。
用してシフト・レジスタを構成した場合、実施例1と比
較し、クロック信号を増幅するバッファがインバータに
なった分だけ素子数が減少する。
【0030】(実施例4)図6は、本発明の実施例4を
示す回路図であり、図7は、本実施例の4ビット・シフ
ト・レジスタを使用して構成した8ビット・シフト・レ
ジスタの回路図である。
示す回路図であり、図7は、本実施例の4ビット・シフ
ト・レジスタを使用して構成した8ビット・シフト・レ
ジスタの回路図である。
【0031】図6において、本実施例は、シフト・レジ
スタ305、及びバッファ106とを備えて構成され
る。
スタ305、及びバッファ106とを備えて構成され
る。
【0032】シフト・レジスタ305は、クロック信号
入力端子102より入力されたクロック信号の立ち上が
りエッジを検出して、データ信号入力端子101からの
データ信号を第1のデータ信号出力端子301,第2の
データ信号出力端子302,第3のデータ信号出力端子
303,第4のデータ信号出力端子304へとシフトし
て出力するものである。
入力端子102より入力されたクロック信号の立ち上が
りエッジを検出して、データ信号入力端子101からの
データ信号を第1のデータ信号出力端子301,第2の
データ信号出力端子302,第3のデータ信号出力端子
303,第4のデータ信号出力端子304へとシフトし
て出力するものである。
【0033】また、バッファ106は、クロック信号入
力端子102より入力されたクロック信号を増幅してク
ロック信号出力端子104へ同相で出力する。これら機
能を備えた半導体集積回路307を使用した8ビット・
シフト・レジスタの回路図が図7である。
力端子102より入力されたクロック信号を増幅してク
ロック信号出力端子104へ同相で出力する。これら機
能を備えた半導体集積回路307を使用した8ビット・
シフト・レジスタの回路図が図7である。
【0034】図7において、第1の4ビット・シフト・
レジスタ314、及び第2の4ビット・シフト・レジス
タ315は、図6の半導体集積回路307である。デー
タ入力端子111より入力されたデータ信号は第1の4
ビット・シフト・レジスタのデータ入力端子Dに入力さ
れ、同4ビット・シフト・レジスタの第4のデータ信号
出力端子Q3より出力される。同様に、第2のフリップ
・フロップ315へとデータ信号が伝えられ、第4のデ
ータ信号出力端子Q3より、データ信号出力端子113
へと出力される。
レジスタ314、及び第2の4ビット・シフト・レジス
タ315は、図6の半導体集積回路307である。デー
タ入力端子111より入力されたデータ信号は第1の4
ビット・シフト・レジスタのデータ入力端子Dに入力さ
れ、同4ビット・シフト・レジスタの第4のデータ信号
出力端子Q3より出力される。同様に、第2のフリップ
・フロップ315へとデータ信号が伝えられ、第4のデ
ータ信号出力端子Q3より、データ信号出力端子113
へと出力される。
【0035】次に、これらの4ビット・シフト・レジス
タに与えられるクロック信号について説明する。クロッ
ク信号入力端子112より、第2の4ビット・シフト・
レジスタ315のクロック信号入力端子Cへクロック信
号が入力される。同4ビット・シフト・レジスタ内のバ
ッファ106を通過した同相のクロック信号が、同4ビ
ット・シフト・レジスタのクロック信号出力端子COよ
り出力され、1段手前の第1の4ビット・シフト・レジ
スタ314のクロック信号入力端子Cへと伝えられる。
タに与えられるクロック信号について説明する。クロッ
ク信号入力端子112より、第2の4ビット・シフト・
レジスタ315のクロック信号入力端子Cへクロック信
号が入力される。同4ビット・シフト・レジスタ内のバ
ッファ106を通過した同相のクロック信号が、同4ビ
ット・シフト・レジスタのクロック信号出力端子COよ
り出力され、1段手前の第1の4ビット・シフト・レジ
スタ314のクロック信号入力端子Cへと伝えられる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように本発明の半導体集積
回路を使うことによって、クロック信号を後段のブロッ
クより前段のブロックへと伝えて行くため、前段のブロ
ックへ入力されるクロック信号は、後段のブロックへ入
力されるクロック信号に対して必ず遅れる。これによ
り、データ保持時間確保のための遅延素子が不要とな
り、素子数の増大が防止できる。また、フリップ・フロ
ップの動作時間差を予想して決定していた遅延時間の妥
当性の不明に起因する回路設計上の負担を排除すること
ができるという効果がある。
回路を使うことによって、クロック信号を後段のブロッ
クより前段のブロックへと伝えて行くため、前段のブロ
ックへ入力されるクロック信号は、後段のブロックへ入
力されるクロック信号に対して必ず遅れる。これによ
り、データ保持時間確保のための遅延素子が不要とな
り、素子数の増大が防止できる。また、フリップ・フロ
ップの動作時間差を予想して決定していた遅延時間の妥
当性の不明に起因する回路設計上の負担を排除すること
ができるという効果がある。
【図1】本発明の実施例1を示す回路図である。
【図2】本発明の実施例1に係る半導体集積回路を使用
したシフト・レジスタの回路図である。
したシフト・レジスタの回路図である。
【図3】本発明の実施例2を示す回路図である。
【図4】本発明の実施例3を示す回路図である。
【図5】本発明の実施例2,3に係る半導体集積回路を
使用したシフト・レジスタの回路図である。
使用したシフト・レジスタの回路図である。
【図6】本発明の実施例4を示す回路図である。
【図7】本発明の実施例4に係る半導体集積回路を使用
したシフト・レジスタの回路図である。
したシフト・レジスタの回路図である。
【図8】従来のフリップ・フロップのシンボル図であ
る。
る。
【図9】従来のフリップ・フロップを使用したシフト・
レジスタの回路図である。
レジスタの回路図である。
【図10】従来のフリップ・フロップを使用したシフト
・レジスタの回路図である。
・レジスタの回路図である。
101 データ信号入力端子 102 クロック信号入力端子 103 データ信号出力端子 104 クロック信号出力端子 105 フリップ・フロップ 106 バッファ 107 半導体集積回路 111 データ信号入力端子 112 クロック信号入力端子 113 データ信号出力端子 114 第1のフリップ・フロップ 115 第2のフリップ・フロップ 116 第3のフリップ・フロップ 202 クロック信号入力端子 204 クロック信号出力端子 206 インバータ 207 半導体集積回路 208 半導体集積回路 214 第1のフリップ・フロップ 215 第2のフリップ・フロップ 216 第3のフリップ・フロップ 217 第4のフリップ・フロップ 301 第1のデータ信号出力端子 302 第2のデータ信号出力端子 303 第3のデータ信号出力端子 304 第4のデータ信号出力端子 305 4ビット・シフト・レジスタ 307 半導体集積回路 314 第1の4ビット・シフト・レジスタ 315 第2の4ビット・シフト・レジスタ 414 第1のフリップ・フロップ 415 第2のフリップ・フロップ 416 第3のフリップ・フロップ 421 第1の遅延素子 422 第2の遅延素子
Claims (1)
- 【請求項1】 フリップ・フロップと、バッファ又はイ
ンバータとを有する半導体集積回路であって、 フリップ・フロップは、データ入力信号とクロック信号
とが入力され、クロック信号の入力を検出してデータ信
号を出力するものであり、 バッファ又はインバータは、フリップ・フロップに入力
されたクロック信号を増幅して、これをフリップ・フロ
ップ以外の出力端子に出力するものであることを特徴と
する半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4170991A JPH0613850A (ja) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4170991A JPH0613850A (ja) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0613850A true JPH0613850A (ja) | 1994-01-21 |
Family
ID=15915098
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4170991A Pending JPH0613850A (ja) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0613850A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9174006B2 (en) | 2010-02-02 | 2015-11-03 | Hahn-Schickard-Gesellschaft Fur Angewandte Forschung E.V. | Dermal access device |
-
1992
- 1992-06-29 JP JP4170991A patent/JPH0613850A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9174006B2 (en) | 2010-02-02 | 2015-11-03 | Hahn-Schickard-Gesellschaft Fur Angewandte Forschung E.V. | Dermal access device |
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Legal Events
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