JPH0613289A - 照明装置及びそれを用いた露光装置 - Google Patents
照明装置及びそれを用いた露光装置Info
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- JPH0613289A JPH0613289A JP4193123A JP19312392A JPH0613289A JP H0613289 A JPH0613289 A JP H0613289A JP 4193123 A JP4193123 A JP 4193123A JP 19312392 A JP19312392 A JP 19312392A JP H0613289 A JPH0613289 A JP H0613289A
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- G02B3/0006—Arrays
- G02B3/0037—Arrays characterized by the distribution or form of lenses
- G02B3/0056—Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses
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- G02B3/00—Simple or compound lenses
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- G02B3/0062—Stacked lens arrays, i.e. refractive surfaces arranged in at least two planes, without structurally separate optical elements in-between
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70075—Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection
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- G—PHYSICS
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- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70091—Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
- G03F7/701—Off-axis setting using an aperture
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
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- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70091—Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 パターン形状の方向や線幅等により最適な照
明系を選択して高解像力の投影露光が可能な半導体素子
の製造に好適な照明装置及びそれを用いた露光装置を得
ること。 【構成】 光源からの光束を複数の微小レンズを2次元
的に配列した第1、第2オプティカルインテグレーター
を介し第1集光レンズで集光して第3オプティカルイン
テグレーターに入射させ、該第3オプティカルインテグ
レーターからの光束を第2集光レンズで集光して照明し
たパターンを投影光学系により基板面上に投影転写する
際、該第1、第2オプティカルインテグレーターの複数
の微小レンズの相対的位置関係を変更し、該第3オプテ
ィカルインテグレーターの入射面の光強度分布を変更し
たこと。
明系を選択して高解像力の投影露光が可能な半導体素子
の製造に好適な照明装置及びそれを用いた露光装置を得
ること。 【構成】 光源からの光束を複数の微小レンズを2次元
的に配列した第1、第2オプティカルインテグレーター
を介し第1集光レンズで集光して第3オプティカルイン
テグレーターに入射させ、該第3オプティカルインテグ
レーターからの光束を第2集光レンズで集光して照明し
たパターンを投影光学系により基板面上に投影転写する
際、該第1、第2オプティカルインテグレーターの複数
の微小レンズの相対的位置関係を変更し、該第3オプテ
ィカルインテグレーターの入射面の光強度分布を変更し
たこと。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は照明装置及びそれを用い
た露光装置に関し、具体的には半導体素子の製造装置で
ある所謂ステッパーにおいてレチクル面上のパターンを
適切に照明し、高い解像力が容易に得られるようにした
照明装置およびそれを用いた露光装置に関するものであ
る。
た露光装置に関し、具体的には半導体素子の製造装置で
ある所謂ステッパーにおいてレチクル面上のパターンを
適切に照明し、高い解像力が容易に得られるようにした
照明装置およびそれを用いた露光装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】最近の半導体素子の製造技術の進展は目
覚ましく、又それに伴う微細加工技術の進展も著しい。
特に光加工技術は1MDRAMの半導体素子の製造を境
にサブミクロンの解像力を有する微細加工の技術まで達
している。解像力を向上させる手段としてこれまで多く
の場合、露光波長を固定して、光学系のNA(開口数)
を大きくしていく方法を用いていた。しかし最近では露
光波長をg線からi線に変えて、超高圧水銀灯を用いた
露光法により解像力を向上させる試みも種々と行われて
いる。
覚ましく、又それに伴う微細加工技術の進展も著しい。
特に光加工技術は1MDRAMの半導体素子の製造を境
にサブミクロンの解像力を有する微細加工の技術まで達
している。解像力を向上させる手段としてこれまで多く
の場合、露光波長を固定して、光学系のNA(開口数)
を大きくしていく方法を用いていた。しかし最近では露
光波長をg線からi線に変えて、超高圧水銀灯を用いた
露光法により解像力を向上させる試みも種々と行われて
いる。
【0003】露光波長としてg線やi線を用いる方法の
発展と共にレジストプロセスも同様に発展してきた。こ
の光学系とプロセスの両者が相まって、光リソグラフィ
が急激に進歩してきた。
発展と共にレジストプロセスも同様に発展してきた。こ
の光学系とプロセスの両者が相まって、光リソグラフィ
が急激に進歩してきた。
【0004】一般にステッパーの焦点深度はNAの2乗
に反比例することが知られている。この為サブミクロン
の解像力を得ようとすると、それと共に焦点深度が浅く
なってくるという問題点が生じてくる。
に反比例することが知られている。この為サブミクロン
の解像力を得ようとすると、それと共に焦点深度が浅く
なってくるという問題点が生じてくる。
【0005】これに対してエキシマレーザーに代表され
る更に短い波長の光を用いることにより解像力の向上を
図る方法が種々と提案されている。短波長の光を用いる
効果は一般に波長に反比例する効果を持っていることが
知られており、波長を短くした分だけ焦点深度は深くな
る。
る更に短い波長の光を用いることにより解像力の向上を
図る方法が種々と提案されている。短波長の光を用いる
効果は一般に波長に反比例する効果を持っていることが
知られており、波長を短くした分だけ焦点深度は深くな
る。
【0006】短波長化の光を用いる他に解像力を向上さ
せる方法として位相シフトマスクを用いる方法(位相シ
フト法)が種々と提案されている。この方法は従来のマ
スクの一部分に他の部分とは通過光に対しテレセントリ
ック80度の位相差を与える薄膜を形成し、解像力を向
上させようとするものであり、IBM社(米国)のLeve
nsonらにより提案されている。解像力RPは波長をλ、
パラメータをk1 、開口数をNAとすると一般に式 RP=k1 λ/NA で示される。通常0.7〜0.8が実用域とされるパラ
メータk1 は、位相シフト法によれば0.35ぐらい迄
大幅に改善できることが知られている。
せる方法として位相シフトマスクを用いる方法(位相シ
フト法)が種々と提案されている。この方法は従来のマ
スクの一部分に他の部分とは通過光に対しテレセントリ
ック80度の位相差を与える薄膜を形成し、解像力を向
上させようとするものであり、IBM社(米国)のLeve
nsonらにより提案されている。解像力RPは波長をλ、
パラメータをk1 、開口数をNAとすると一般に式 RP=k1 λ/NA で示される。通常0.7〜0.8が実用域とされるパラ
メータk1 は、位相シフト法によれば0.35ぐらい迄
大幅に改善できることが知られている。
【0007】位相シフト法には種々のものが知られてお
り、それらは例えば日系マイクロデバイス1990年7
月号108ページ以降の福田等の論文に詳しく記載され
ている。
り、それらは例えば日系マイクロデバイス1990年7
月号108ページ以降の福田等の論文に詳しく記載され
ている。
【0008】しかしながら実際に空間周波数変調型の位
相シフトマスクを用いて解像力を向上させるためには未
だ多くの問題点が残っている。例えば現状で問題点とな
っているものとして以下のものがある。 (イ).位相シフト膜を形成する技術が未確立。 (ロ).位相シフト膜用の最適なCADの開発が未確
立。 (ハ).位相シフト膜を付けれないパターンの存在。 (ニ).(ハ)に関連してネガ型レジストを使用せざる
を得ないこと。 (ホ).検査、修正技術が未確立。
相シフトマスクを用いて解像力を向上させるためには未
だ多くの問題点が残っている。例えば現状で問題点とな
っているものとして以下のものがある。 (イ).位相シフト膜を形成する技術が未確立。 (ロ).位相シフト膜用の最適なCADの開発が未確
立。 (ハ).位相シフト膜を付けれないパターンの存在。 (ニ).(ハ)に関連してネガ型レジストを使用せざる
を得ないこと。 (ホ).検査、修正技術が未確立。
【0009】このため実際に、この位相シフトマスクを
利用して半導体素子を製造するには様々な障害があり、
現在のところ大変困難である。
利用して半導体素子を製造するには様々な障害があり、
現在のところ大変困難である。
【0010】これに対して、本出願人は、より解像力を
高めた露光方法及びそれを用いた露光装置を特願平3−
28631号公報(平成3年2月22日出願)で提案し
ている。
高めた露光方法及びそれを用いた露光装置を特願平3−
28631号公報(平成3年2月22日出願)で提案し
ている。
【0011】そこでは照明光(有効光源)を4つの部分
に分割し、4重極状の照明光とすることにより高解像度
の投影を行っている。
に分割し、4重極状の照明光とすることにより高解像度
の投影を行っている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本出願人が先に提案し
た露光装置においては主としてk1 ファクターが0.5
付近の空間周波数が高い領域に注目した照明系を用いて
いる。この照明系は空間周波数が高いところでは焦点深
度が深い。
た露光装置においては主としてk1 ファクターが0.5
付近の空間周波数が高い領域に注目した照明系を用いて
いる。この照明系は空間周波数が高いところでは焦点深
度が深い。
【0013】実際の半導体集積回路の製造工程はパター
ンの高い解像性能が必要とされる工程、それほどパター
ンの解像性能は必要とされない工程と種々様々である。
従って現在求められているのは各工程独自に求められる
解像性能への要求に対応できる露光装置である。
ンの高い解像性能が必要とされる工程、それほどパター
ンの解像性能は必要とされない工程と種々様々である。
従って現在求められているのは各工程独自に求められる
解像性能への要求に対応できる露光装置である。
【0014】本発明は投影焼き付けを行なう対象とする
パターン形状および解像線幅に応じて適切なる照明方法
をその都度適用し、即ち最大20を越える工程数を有す
る集積回路製造工程に対応する為、従来型の照明系と高
解像型の照明系を目的に応じて光束の有効利用を図りつ
つ容易に切り替えることができ、高い解像力が容易に得
られる照明装置及びそれを用いた露光装置の提供を目的
とする。
パターン形状および解像線幅に応じて適切なる照明方法
をその都度適用し、即ち最大20を越える工程数を有す
る集積回路製造工程に対応する為、従来型の照明系と高
解像型の照明系を目的に応じて光束の有効利用を図りつ
つ容易に切り替えることができ、高い解像力が容易に得
られる照明装置及びそれを用いた露光装置の提供を目的
とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】(1−1)本発明の露光
装置は、光源からの光束を複数の微小レンズを2次元的
に所定のピッチで配列した第1オプティカルインテグレ
ータと該第1オプティカルインテグレータと実質的に同
じ配列ピッチの第2オプティカルインテグレータを介し
第1集光レンズで集光して第3オプティカルインテグレ
ータに入射させ、該第3オプティカルインテグレータか
らの光束を第2集光レンズで集光して被照射面上のパタ
ーンを照明し、該パターンを投影光学系により基板面上
に投影転写する際、変更手段により該第1オプティカル
インテグレータと第2オプティカルインテグレータの複
数の微小レンズの相対的位置関係を変更することにより
該第3オプティカルインテグレータの入射面の光強度分
布を変更するようにしたことを特徴としている。
装置は、光源からの光束を複数の微小レンズを2次元的
に所定のピッチで配列した第1オプティカルインテグレ
ータと該第1オプティカルインテグレータと実質的に同
じ配列ピッチの第2オプティカルインテグレータを介し
第1集光レンズで集光して第3オプティカルインテグレ
ータに入射させ、該第3オプティカルインテグレータか
らの光束を第2集光レンズで集光して被照射面上のパタ
ーンを照明し、該パターンを投影光学系により基板面上
に投影転写する際、変更手段により該第1オプティカル
インテグレータと第2オプティカルインテグレータの複
数の微小レンズの相対的位置関係を変更することにより
該第3オプティカルインテグレータの入射面の光強度分
布を変更するようにしたことを特徴としている。
【0016】特に、前記変更手段は前記第1オプティカ
ルインテグレータと第2オプティカルインテグレータの
うち少なくとも一方を光軸と垂直方向に偏心させている
ことや、前記変更手段は前記第1オプティカルインテグ
レータと第2オプティカルインテグレータとの光軸方向
の間隔を変えていることや、前記第1集光レンズを構成
する光学部品の少なくとも1つを光軸方向に移動するこ
とにより前記第3オプティカルインテグレータの入射面
の光強度分布を変更すること等を特徴としている。
ルインテグレータと第2オプティカルインテグレータの
うち少なくとも一方を光軸と垂直方向に偏心させている
ことや、前記変更手段は前記第1オプティカルインテグ
レータと第2オプティカルインテグレータとの光軸方向
の間隔を変えていることや、前記第1集光レンズを構成
する光学部品の少なくとも1つを光軸方向に移動するこ
とにより前記第3オプティカルインテグレータの入射面
の光強度分布を変更すること等を特徴としている。
【0017】又、前記第1オプティカルインテグレータ
の入射面と前記第2オプティカルインテグレータの射出
面と前記第3オプティカルインテグレータの射出面とは
互いに略共役関係となっており、該第2オプティカルイ
ンテグレータの入射面と該第3オプティカルインテグレ
ータの入射面とは略共役関係となっており、該第1オプ
ティカルインテグレータの複数の微小レンズは各々該第
2オプティカルインテグレータの入射面近傍に前記光源
に基づく複数の光源像を形成していることを特徴として
いる。
の入射面と前記第2オプティカルインテグレータの射出
面と前記第3オプティカルインテグレータの射出面とは
互いに略共役関係となっており、該第2オプティカルイ
ンテグレータの入射面と該第3オプティカルインテグレ
ータの入射面とは略共役関係となっており、該第1オプ
ティカルインテグレータの複数の微小レンズは各々該第
2オプティカルインテグレータの入射面近傍に前記光源
に基づく複数の光源像を形成していることを特徴として
いる。
【0018】この他、前記第1オプティカルインテグレ
ータと第2オプティカルインテグレータの複数の微小レ
ンズは正方形開口により成っていることや、前記第3オ
プティカルインテグレータは複数の微小レンズを2次元
的に所定のピッチで配列して構成していること等を特徴
としている。
ータと第2オプティカルインテグレータの複数の微小レ
ンズは正方形開口により成っていることや、前記第3オ
プティカルインテグレータは複数の微小レンズを2次元
的に所定のピッチで配列して構成していること等を特徴
としている。
【0019】(1−2)本発明の照明装置は、光源から
の光束を複数の微小レンズを2次元的に所定のピッチで
配列した第1オプティカルインテグレータと該第1オプ
ティカルインテグレータと実質的に同じ配列ピッチの第
2オプティカルインテグレータを介し第1集光レンズで
集光して第3オプティカルインテグレータに入射させ、
該第3オプティカルインテグレータからの光束を第2集
光レンズで集光して被照射面上のパターンを照明する
際、変更手段により該第1オプティカルインテグレータ
と第2オプティカルインテグレータの複数の微小レンズ
の相対的位置関係を変更することにより該第3オプティ
カルインテグレータの入射面の光強度分布を変更するよ
うにしたことを特徴としている。
の光束を複数の微小レンズを2次元的に所定のピッチで
配列した第1オプティカルインテグレータと該第1オプ
ティカルインテグレータと実質的に同じ配列ピッチの第
2オプティカルインテグレータを介し第1集光レンズで
集光して第3オプティカルインテグレータに入射させ、
該第3オプティカルインテグレータからの光束を第2集
光レンズで集光して被照射面上のパターンを照明する
際、変更手段により該第1オプティカルインテグレータ
と第2オプティカルインテグレータの複数の微小レンズ
の相対的位置関係を変更することにより該第3オプティ
カルインテグレータの入射面の光強度分布を変更するよ
うにしたことを特徴としている。
【0020】(1−3)本発明の半導体素子の製造方法
としては、光源からの光束を複数の微小レンズを2次元
的に所定のピッチで配列した第1オプティカルインテグ
レータと実質的に該第1オプティカルインテグレータと
同じ配列ピッチの第2オプティカルインテグレータを介
し第1集光レンズで集光して第3オプティカルインテグ
レータに入射させ、該第3オプティカルインテグレータ
からの光束を第2集光レンズで集光してレチクル面上の
回路パターンを照明し、該回路パターンを投影光学系に
よりウエハ面上に投影転写し半導体素子を製造する際、
変更手段により該第1オプティカルインテグレータと第
2オプティカルインテグレータの複数の微小レンズの相
対的位置関係を変更することにより該第3オプティカル
インテグレータの入射面の光強度分布を変更するように
したことを特徴としている。
としては、光源からの光束を複数の微小レンズを2次元
的に所定のピッチで配列した第1オプティカルインテグ
レータと実質的に該第1オプティカルインテグレータと
同じ配列ピッチの第2オプティカルインテグレータを介
し第1集光レンズで集光して第3オプティカルインテグ
レータに入射させ、該第3オプティカルインテグレータ
からの光束を第2集光レンズで集光してレチクル面上の
回路パターンを照明し、該回路パターンを投影光学系に
よりウエハ面上に投影転写し半導体素子を製造する際、
変更手段により該第1オプティカルインテグレータと第
2オプティカルインテグレータの複数の微小レンズの相
対的位置関係を変更することにより該第3オプティカル
インテグレータの入射面の光強度分布を変更するように
したことを特徴としている。
【0021】
【実施例】図1は本発明の実施例1の要部概略図、図2
は図1の一部分の説明図である。
は図1の一部分の説明図である。
【0022】図中2は楕円鏡である。1は光源としての
発光管であり、紫外線及び遠紫外線等を放射する高輝度
の発光部1aを有している。発光部1aは楕円鏡2の第
1焦点近傍に配置している。3はコールドミラーであ
り、多層膜より成り、大部分の赤外光を透過すると共に
大部分の紫外光を反射させている。楕円鏡2はコールド
ミラー3を介して第2焦点4近傍に発光部1aの発光部
像(光源像)1bを形成している。
発光管であり、紫外線及び遠紫外線等を放射する高輝度
の発光部1aを有している。発光部1aは楕円鏡2の第
1焦点近傍に配置している。3はコールドミラーであ
り、多層膜より成り、大部分の赤外光を透過すると共に
大部分の紫外光を反射させている。楕円鏡2はコールド
ミラー3を介して第2焦点4近傍に発光部1aの発光部
像(光源像)1bを形成している。
【0023】5は光学系であり、発光部像1bからの光
束を第1オプティカルインテグレータ6の入射面6aに
入射させている。光学系5は楕円鏡2の開口部2aと第
1オプティカルインテグレータ6の入射面6aとが共役
関係となるようにしている。第1オプティカルインテグ
レータ6は図8に示すように複数の微小レンズ6−i
(i=1〜N)を2次元的に所定のピッチで配列して構
成しており、図2に示すようにその射出面6bから所定
の位置(後述する第2オプティカルインテグレータ7の
入射面7a近傍)に2次光源を形成している。
束を第1オプティカルインテグレータ6の入射面6aに
入射させている。光学系5は楕円鏡2の開口部2aと第
1オプティカルインテグレータ6の入射面6aとが共役
関係となるようにしている。第1オプティカルインテグ
レータ6は図8に示すように複数の微小レンズ6−i
(i=1〜N)を2次元的に所定のピッチで配列して構
成しており、図2に示すようにその射出面6bから所定
の位置(後述する第2オプティカルインテグレータ7の
入射面7a近傍)に2次光源を形成している。
【0024】7は第2オプティカルインテグレータであ
り、第1オプティカルインテグレータ6の複数の微小レ
ンズと同じ配列ピッチの複数の微小レンズ7−i(i=
1〜N)より成っている。第2オプティカルインテグレ
ータ7はその入射面7aに形成された2次光源からの光
束を射出面7bより略平行光束として射出している。
り、第1オプティカルインテグレータ6の複数の微小レ
ンズと同じ配列ピッチの複数の微小レンズ7−i(i=
1〜N)より成っている。第2オプティカルインテグレ
ータ7はその入射面7aに形成された2次光源からの光
束を射出面7bより略平行光束として射出している。
【0025】20は変更手段であり、第1オプティカル
インテグレータ6と第2オプティカルインテグレータ7
のうち少なくとも一方を変位させて複数の微小レンズの
相対的位置関係を変更している。
インテグレータ6と第2オプティカルインテグレータ7
のうち少なくとも一方を変位させて複数の微小レンズの
相対的位置関係を変更している。
【0026】8は第1集光レンズであり、第2オプティ
カルインテグレータ7からの光束を集光し、第3オプテ
ィカルインテグレータ9に入射している。第1オプティ
カルインテグレータ6により第2オプティカルインテグ
レータ7の入射面7aに形成した2次光源を第2オプテ
ィカルインテグレータ7と第1集光レンズ8とにより、
第3オプティカルインテグレータ9の入射面9aに再結
像している。第3オプティカルインテグレータ9の射出
面9bには入射面9aの光強度分布に対応した光強度分
布の2次光源像が形成されるようにしている。
カルインテグレータ7からの光束を集光し、第3オプテ
ィカルインテグレータ9に入射している。第1オプティ
カルインテグレータ6により第2オプティカルインテグ
レータ7の入射面7aに形成した2次光源を第2オプテ
ィカルインテグレータ7と第1集光レンズ8とにより、
第3オプティカルインテグレータ9の入射面9aに再結
像している。第3オプティカルインテグレータ9の射出
面9bには入射面9aの光強度分布に対応した光強度分
布の2次光源像が形成されるようにしている。
【0027】本実施例では図2に示すように第2オプテ
ィカルインテグレータ7の入射面7aと第3オプティカ
ルインテグレータ9の入射面9aとが略共役関係となる
ように各要素(7,8)を設定している。
ィカルインテグレータ7の入射面7aと第3オプティカ
ルインテグレータ9の入射面9aとが略共役関係となる
ように各要素(7,8)を設定している。
【0028】又、第1オプティカルインテグレータ6の
入射面6aと第2オプティカルインテグレータ7の射出
面7bと第3オプティカルインテグレータ9の射出面9
bとが互いに略共役関係となるように各要素(6,7,
8,9)を設定している。
入射面6aと第2オプティカルインテグレータ7の射出
面7bと第3オプティカルインテグレータ9の射出面9
bとが互いに略共役関係となるように各要素(6,7,
8,9)を設定している。
【0029】10は絞り部材であり、複数の開口部を有
しており、第3オプティカルインテグレータ9の射出面
9b近傍に設けている。絞り部材10はその開口形状が
光路中で切り替えられる機能を有しており、これにより
第3オプティカルインテグレータ9の射出面9bに形成
される2次光源像10aの形状を任意に変えている。
しており、第3オプティカルインテグレータ9の射出面
9b近傍に設けている。絞り部材10はその開口形状が
光路中で切り替えられる機能を有しており、これにより
第3オプティカルインテグレータ9の射出面9bに形成
される2次光源像10aの形状を任意に変えている。
【0030】11はハーフミラーである。絞り部材10
からの大部分の光束はハーフミラー11で反射し、残り
の光束はハーフミラー11を透過して光検出器12に入
射している。13は第2集光レンズであり、ハーフミラ
ー11で反射した光束を集光し、レチクルステージ15
に載置した被照射面であるレチクル14の回路パターン
を照明している。尚以上の各要素(1〜13)は照明装
置の一要素を構成している。
からの大部分の光束はハーフミラー11で反射し、残り
の光束はハーフミラー11を透過して光検出器12に入
射している。13は第2集光レンズであり、ハーフミラ
ー11で反射した光束を集光し、レチクルステージ15
に載置した被照射面であるレチクル14の回路パターン
を照明している。尚以上の各要素(1〜13)は照明装
置の一要素を構成している。
【0031】16は投影光学系であり、レチクル14面
上の回路パターンをウエハチャック18に載置したウエ
ハ17面上に縮小投影している。ここでオプティカルイ
ンテグレータ9の射出面9bの2次光源は第2集光レン
ズ13により投影光学系16の瞳16aに形成してい
る。19はウエハステージである。
上の回路パターンをウエハチャック18に載置したウエ
ハ17面上に縮小投影している。ここでオプティカルイ
ンテグレータ9の射出面9bの2次光源は第2集光レン
ズ13により投影光学系16の瞳16aに形成してい
る。19はウエハステージである。
【0032】本実施例ではレチクル14の回路パターン
の方向性及び解像線幅等に応じて、変更手段20により
図2の状態(通常照明)より図3に示すように第2オプ
ティカルインテグレータ7を光軸と垂直方向に移動(偏
心)させている。
の方向性及び解像線幅等に応じて、変更手段20により
図2の状態(通常照明)より図3に示すように第2オプ
ティカルインテグレータ7を光軸と垂直方向に移動(偏
心)させている。
【0033】これにより第1オプティカルインテグレー
タ6と第2オプティカルインテグレータ7の複数の微小
レンズの相対的位置関係を変更して高解像度照明を行な
っている。そして必要に応じて光学系5と第1集光レン
ズ8の位置又は/及び絞り部材10の開口形状を変化さ
せている。
タ6と第2オプティカルインテグレータ7の複数の微小
レンズの相対的位置関係を変更して高解像度照明を行な
っている。そして必要に応じて光学系5と第1集光レン
ズ8の位置又は/及び絞り部材10の開口形状を変化さ
せている。
【0034】これにより投影光学系16の瞳面16aに
形成される2次光源像の光強度分布を変更して、前述の
特願平3−28631号で提案したのと同様の照明方法
(高解像度照明)を採ることにより高解像度の回路パタ
ーンの投影露光を行なっている。
形成される2次光源像の光強度分布を変更して、前述の
特願平3−28631号で提案したのと同様の照明方法
(高解像度照明)を採ることにより高解像度の回路パタ
ーンの投影露光を行なっている。
【0035】尚、光検出器12はハーフミラー11を透
過した光束を受光し、レチクル14への照射光量と第3
オプティカルインテグレータ9の射出面9b近傍に形成
される2次光源像10aの形状をモニターしている。
過した光束を受光し、レチクル14への照射光量と第3
オプティカルインテグレータ9の射出面9b近傍に形成
される2次光源像10aの形状をモニターしている。
【0036】次に本実施例の第1オプティカルインテグ
レータ6から第3オプティカルインテグレータ9に至る
光学系の特徴について説明する。
レータ6から第3オプティカルインテグレータ9に至る
光学系の特徴について説明する。
【0037】図2に示すように第1オプティカルインテ
グレータ6の複数の微小レンズ6−iの射出側(後側)
の焦点位置と第2オプティカルインテグレータ7の複数
の微小レンズ7−iの入射側(前側)の焦点位置とは面
Bで略一致している。この面Bは第2オプティカルイン
テグレータ7の入射面7aと略一致している。面Aは第
1オプティカルインテグレータ6の入射面6a、面Cは
第3オプティカルインテグレータ9の入射面9aを示し
ている。第1オプティカルインテグレータ6の入射面6
aと微小レンズ6−iの入射側の焦点位置とは略一致し
ている。又第2オプティカルインテグレータ7の射出面
7bと微小レンズ7−iの射出側の焦点位置Dとは略一
致している。
グレータ6の複数の微小レンズ6−iの射出側(後側)
の焦点位置と第2オプティカルインテグレータ7の複数
の微小レンズ7−iの入射側(前側)の焦点位置とは面
Bで略一致している。この面Bは第2オプティカルイン
テグレータ7の入射面7aと略一致している。面Aは第
1オプティカルインテグレータ6の入射面6a、面Cは
第3オプティカルインテグレータ9の入射面9aを示し
ている。第1オプティカルインテグレータ6の入射面6
aと微小レンズ6−iの入射側の焦点位置とは略一致し
ている。又第2オプティカルインテグレータ7の射出面
7bと微小レンズ7−iの射出側の焦点位置Dとは略一
致している。
【0038】今、微小レンズ6−iの焦点距離をf1 、
微小レンズ7−iの焦点距離をf2、第1集光レンズ8
の焦点距離をf1 とする。
微小レンズ7−iの焦点距離をf2、第1集光レンズ8
の焦点距離をf1 とする。
【0039】図9は第1オプティカルインテグレータ6
の入射面6a(面A)から第3オプティカルインテグレ
ータ9の入射面(面C)に至る光学系の近軸配置を模式
的に示している。
の入射面6a(面A)から第3オプティカルインテグレ
ータ9の入射面(面C)に至る光学系の近軸配置を模式
的に示している。
【0040】本実施例ではf1 ≧f2 を満足するように
し、第1オプティカルインテグレータ6に入射した光束
が微小レンズ6−iの側面でケラれることなく第2オプ
ティカルインテグレータ7に入射し、射出するようにし
ている。
し、第1オプティカルインテグレータ6に入射した光束
が微小レンズ6−iの側面でケラれることなく第2オプ
ティカルインテグレータ7に入射し、射出するようにし
ている。
【0041】次に本実施例において変更手段20により
第2オプティカルインテグレータ7を光軸と垂直方向に
移動させて(平行偏心させて)第3オプティカルインテ
グレータ9の入射面9aの光強度分布を変更し、これに
より投影光学系16の瞳面16a近傍に形成される2次
光源像の光強度分布を変更する光学作用について説明す
る。
第2オプティカルインテグレータ7を光軸と垂直方向に
移動させて(平行偏心させて)第3オプティカルインテ
グレータ9の入射面9aの光強度分布を変更し、これに
より投影光学系16の瞳面16a近傍に形成される2次
光源像の光強度分布を変更する光学作用について説明す
る。
【0042】本実施例では図1において光学系5により
楕円ミラー2の開口形状2aが第1オプティカルインテ
グレータ6の入射面6aに結像するようにしている。第
1オプティカルインテグレータ6の入射面6aでの光強
度分布の強い領域は図4(A)の斜線部のようになって
いる。以下、表示方法は同様である。図4(A)の点線
で示す格子は複数の微小レンズ6−iの配列を示してい
る。
楕円ミラー2の開口形状2aが第1オプティカルインテ
グレータ6の入射面6aに結像するようにしている。第
1オプティカルインテグレータ6の入射面6aでの光強
度分布の強い領域は図4(A)の斜線部のようになって
いる。以下、表示方法は同様である。図4(A)の点線
で示す格子は複数の微小レンズ6−iの配列を示してい
る。
【0043】即ち、本実施例の微小レンズの外形は正方
形状より成っている。図2に示すように第1オプティカ
ルインテグレータ6と第2オプティカルインテグレータ
7の複数の微小レンズが互いに同軸上にあり偏心してい
ない場合(通常照明の場合)には第1オプティカルイン
テグレータ6により複数の光源像が第2オプティカルイ
ンテグレータ7の入射面7a(面B)に図4(B)に示
すように形成される。図4(B)の点線による格子は第
2オプティカルインテグレータ7の複数の微小レンズ7
−iの配列を示している。
形状より成っている。図2に示すように第1オプティカ
ルインテグレータ6と第2オプティカルインテグレータ
7の複数の微小レンズが互いに同軸上にあり偏心してい
ない場合(通常照明の場合)には第1オプティカルイン
テグレータ6により複数の光源像が第2オプティカルイ
ンテグレータ7の入射面7a(面B)に図4(B)に示
すように形成される。図4(B)の点線による格子は第
2オプティカルインテグレータ7の複数の微小レンズ7
−iの配列を示している。
【0044】第2オプティカルインテグレータ7の入射
面7aに形成した複数の光源像は微小レンズ7−iと第
1集光レンズ8により第3オプティカルインテグレータ
9の入射面9aに図4(c)のように重ね合わせられ
る。図4(c)の光強度分布はガウス分布に近いものと
なっている。図4(c)の点線に示す格子は第3オプテ
ィカルインテグレータ9の複数の微小レンズ9−i(i
=1〜N)の配列を示している。
面7aに形成した複数の光源像は微小レンズ7−iと第
1集光レンズ8により第3オプティカルインテグレータ
9の入射面9aに図4(c)のように重ね合わせられ
る。図4(c)の光強度分布はガウス分布に近いものと
なっている。図4(c)の点線に示す格子は第3オプテ
ィカルインテグレータ9の複数の微小レンズ9−i(i
=1〜N)の配列を示している。
【0045】第3オプティカルインテグレータ9の入射
面9aでの光強度分布は投影光学系16の瞳面16aに
形成される有効光源像の光強度分布に対応している。こ
の結果、投影光学系16の瞳面16aに形成される2次
光源像の光強度分布はガウス分布に近い形状となってい
る。このような光強度分布の照明方法(通常照明)はレ
チクル14の回路パターンの線幅が比較的太い回路パタ
ーンのときに用いている。
面9aでの光強度分布は投影光学系16の瞳面16aに
形成される有効光源像の光強度分布に対応している。こ
の結果、投影光学系16の瞳面16aに形成される2次
光源像の光強度分布はガウス分布に近い形状となってい
る。このような光強度分布の照明方法(通常照明)はレ
チクル14の回路パターンの線幅が比較的太い回路パタ
ーンのときに用いている。
【0046】次にレチクル14の回路パターンの線幅が
比較的細い高解像度が要求される高解像度照明のときに
は変更手段20で第2オプティカルインテグレータ7を
図3に示すように第1オプティカルインテグレータ6に
対して光軸と垂直方向に微小レンズ7−iの半ピッチ分
(微小レンズが直交配列されている方向に半ピッチ分)
だけ偏心させている。(尚、第1オプティカルインテグ
レータ6の入射面6aの光強度分布は図5(A)に示す
ように前述した図4(A)と同じである。)このとき第
1オプティカルインテグレータ6により複数の光源像が
第2オプティカルインテグレータ7の入射面7a(面
B)に図5(B)に示すように形成される。図5(B)
に示すように各光源像は第2オプティカルインテグレー
タ7の入射面7aにおいて複数の微小レンズ7−iにま
たがって形成される。この為、それらの光源像は分割さ
れて第1集光レンズ8により第3オプティカルインテグ
レータ9の入射面9a(面C)に図5(C)に示すよう
に重ね合わされる。
比較的細い高解像度が要求される高解像度照明のときに
は変更手段20で第2オプティカルインテグレータ7を
図3に示すように第1オプティカルインテグレータ6に
対して光軸と垂直方向に微小レンズ7−iの半ピッチ分
(微小レンズが直交配列されている方向に半ピッチ分)
だけ偏心させている。(尚、第1オプティカルインテグ
レータ6の入射面6aの光強度分布は図5(A)に示す
ように前述した図4(A)と同じである。)このとき第
1オプティカルインテグレータ6により複数の光源像が
第2オプティカルインテグレータ7の入射面7a(面
B)に図5(B)に示すように形成される。図5(B)
に示すように各光源像は第2オプティカルインテグレー
タ7の入射面7aにおいて複数の微小レンズ7−iにま
たがって形成される。この為、それらの光源像は分割さ
れて第1集光レンズ8により第3オプティカルインテグ
レータ9の入射面9a(面C)に図5(C)に示すよう
に重ね合わされる。
【0047】本実施例では図5(C)に示す4重極状の
光強度分布に対応した2次光源像を投影光学系16の瞳
面16aに形成している。これにより高解像度照明を行
っている。
光強度分布に対応した2次光源像を投影光学系16の瞳
面16aに形成している。これにより高解像度照明を行
っている。
【0048】本実施例ではこのような照明方法をとるこ
とにより先の特願平3−28631号と同様にして高解
像度照明の投影露光を可能としている。これによりレチ
クル14面上の回路パターンを投影光学系16によりウ
エハ17面上に投影露光し、公知の現像処理等の各種の
工程を経て、半導体素子を製造している。
とにより先の特願平3−28631号と同様にして高解
像度照明の投影露光を可能としている。これによりレチ
クル14面上の回路パターンを投影光学系16によりウ
エハ17面上に投影露光し、公知の現像処理等の各種の
工程を経て、半導体素子を製造している。
【0049】尚、本実施例においては図3に示す高解像
度照明の状態で、変更手段20により第1オプティカル
インテグレータ6と第2オプティカルインテグレータ7
との光軸方向の間隔を変えても良い。
度照明の状態で、変更手段20により第1オプティカル
インテグレータ6と第2オプティカルインテグレータ7
との光軸方向の間隔を変えても良い。
【0050】図6はこのときの各要素(6,7,8,
9)を示す説明図である。図6においては第2オプティ
カルインテグレータ7の入射面7aには第1オプティカ
ルインテグレータ6により形成した複数の光源像が図7
(B)に示すようにボケた状態(図5(B)に比べて)
で形成される。図7(A)は第1オプティカルインテグ
レータ6の入射面6a上の光強度分布であり、図5
(A)と同じである。そして第3オプティカルインテグ
レータ9の入射面9aにおいても図7(C)に示すよう
に図5(C)に比べて光強度分布が4重極状の拡がった
状態となる。
9)を示す説明図である。図6においては第2オプティ
カルインテグレータ7の入射面7aには第1オプティカ
ルインテグレータ6により形成した複数の光源像が図7
(B)に示すようにボケた状態(図5(B)に比べて)
で形成される。図7(A)は第1オプティカルインテグ
レータ6の入射面6a上の光強度分布であり、図5
(A)と同じである。そして第3オプティカルインテグ
レータ9の入射面9aにおいても図7(C)に示すよう
に図5(C)に比べて光強度分布が4重極状の拡がった
状態となる。
【0051】このように図3の状態より更に第1オプテ
ィカルインテグレータ6と第2オプティカルインテグレ
ータ7との光軸方向の間隔を変えて投影光学系16の瞳
面16aに形成される2次光源像の光強度分布(有効光
源像の大きさ)を調整しても良く、これによれば、更に
任意の高解像度照明を行うことができる。
ィカルインテグレータ6と第2オプティカルインテグレ
ータ7との光軸方向の間隔を変えて投影光学系16の瞳
面16aに形成される2次光源像の光強度分布(有効光
源像の大きさ)を調整しても良く、これによれば、更に
任意の高解像度照明を行うことができる。
【0052】本実施例においては、図3に示す高解像度
照明の状態で第1集光レンズ8を構成するレンズの配置
を変え、図12に示すように第1集光レンズ8′とし、
第2オプティカルインテグレータ7を構成する微小レン
ズ7−i(i=1〜N)の入射面と第3オプティカルイ
ンテグレータ9の入射面9aの結像倍率を変えてもよ
い。
照明の状態で第1集光レンズ8を構成するレンズの配置
を変え、図12に示すように第1集光レンズ8′とし、
第2オプティカルインテグレータ7を構成する微小レン
ズ7−i(i=1〜N)の入射面と第3オプティカルイ
ンテグレータ9の入射面9aの結像倍率を変えてもよ
い。
【0053】図12はこのときの各要素(6,7,
8′,9)を示している。図13(A)は第1オプティ
カルインテグレータ6の入射面6a上の光強度分布であ
り、図5(A)と同じである。図13(B)は第2オプ
ティカルインテグレータ7の入射面7a上の光強度分布
であり、図5(B)と同じである。そして第3オプティ
カルインテグレータ9の入射面9a上の光強度分布は、
図13(C)のように図5(C)の光強度分布を変倍し
たものとなる。
8′,9)を示している。図13(A)は第1オプティ
カルインテグレータ6の入射面6a上の光強度分布であ
り、図5(A)と同じである。図13(B)は第2オプ
ティカルインテグレータ7の入射面7a上の光強度分布
であり、図5(B)と同じである。そして第3オプティ
カルインテグレータ9の入射面9a上の光強度分布は、
図13(C)のように図5(C)の光強度分布を変倍し
たものとなる。
【0054】又、本実施例においては、図3に示す高解
像度照明の状態で、図14に示すプリズム21,22を
第3オプティカルインテグレータ9の前に図15(A)
のように配置し、プリズム21,11の間隔を変えるこ
とにより図15(B)に示すように第3オプティカルイ
ンテグレータ9の入射面9aにおける光強度分布を変え
てもよい。
像度照明の状態で、図14に示すプリズム21,22を
第3オプティカルインテグレータ9の前に図15(A)
のように配置し、プリズム21,11の間隔を変えるこ
とにより図15(B)に示すように第3オプティカルイ
ンテグレータ9の入射面9aにおける光強度分布を変え
てもよい。
【0055】尚、本実施例において高解像度照明を行な
う際に第2オプティカルインテグレータ7を光軸と直交
する方向に偏心駆動させる代わりに第1オプティカルイ
ンテグレータ6を光軸と直交する方向に偏心駆動させて
も良い。又偏心量は第1オプティカルインテグレータと
第2オプティカルインテグレータの微小レンズの半ピッ
チに限定されるものではなく、必要に応じた量を偏心さ
せて有効光源分布を任意に調整しても良い。尚、このと
きの有効光源分布は、例えば図1の光検出器12により
モニターして調整しても良い。
う際に第2オプティカルインテグレータ7を光軸と直交
する方向に偏心駆動させる代わりに第1オプティカルイ
ンテグレータ6を光軸と直交する方向に偏心駆動させて
も良い。又偏心量は第1オプティカルインテグレータと
第2オプティカルインテグレータの微小レンズの半ピッ
チに限定されるものではなく、必要に応じた量を偏心さ
せて有効光源分布を任意に調整しても良い。尚、このと
きの有効光源分布は、例えば図1の光検出器12により
モニターして調整しても良い。
【0056】図10、図11は本発明の実施例2の通常
照明と高解像度照明に係る各オプティカルインテグレー
タの入射面における光強度分布の説明図である。
照明と高解像度照明に係る各オプティカルインテグレー
タの入射面における光強度分布の説明図である。
【0057】本実施例の基本構成は図1の実施例と同じ
であるが異なる点は光学系5によって光源像1bを第1
オプティカルインテグレータ6の入射面6aに結像して
いることである。
であるが異なる点は光学系5によって光源像1bを第1
オプティカルインテグレータ6の入射面6aに結像して
いることである。
【0058】図10(A),(B),(C)は順に通常
照明のときの第1オプティカルインテグレータ6の入射
面6a、第2オプティカルインテグレータ7の入射面7
a、そして第3オプティカルインテグレータ9の入射面
9a上での光強度分布を示している。
照明のときの第1オプティカルインテグレータ6の入射
面6a、第2オプティカルインテグレータ7の入射面7
a、そして第3オプティカルインテグレータ9の入射面
9a上での光強度分布を示している。
【0059】図11(A),(B),(C)は第1オプ
ティカルインテグレータ6と第2オプティカルインテグ
レータ7の複数の微小レンズの相対的位置関係を変更し
て(図3に相当)、高解像度照明を行ったときの第1オ
プティカルインテグレータ6の入射面6a、第2オプテ
ィカルインテグレータ7の入射面7a、そして第3オプ
ティカルインテグレータ9の入射面9a上の光強度分布
を示している。
ティカルインテグレータ6と第2オプティカルインテグ
レータ7の複数の微小レンズの相対的位置関係を変更し
て(図3に相当)、高解像度照明を行ったときの第1オ
プティカルインテグレータ6の入射面6a、第2オプテ
ィカルインテグレータ7の入射面7a、そして第3オプ
ティカルインテグレータ9の入射面9a上の光強度分布
を示している。
【0060】本実施例ではこれにより実施例1と同様に
高解像度照明の投影露光を可能としている。
高解像度照明の投影露光を可能としている。
【0061】
【発明の効果】本発明によれば、投影露光するレチクル
面上のパターンの細かさ、方向性などを考慮して、該パ
ターンに適合した照明系を選択することによって最適な
高解像力の投影露光が可能な照明装置及びそれを用いた
投影露光装置を達成している。
面上のパターンの細かさ、方向性などを考慮して、該パ
ターンに適合した照明系を選択することによって最適な
高解像力の投影露光が可能な照明装置及びそれを用いた
投影露光装置を達成している。
【0062】又、本発明によればそれほど細かくないパ
ターンを露光する場合には、従来の照明系そのままで用
いることができるとともに、細かいパターンを露光する
場合には光量の損傷が少ない高解像を容易に発揮できる
照明装置を用いて大きな焦点深度が得られるという効果
が得られる。
ターンを露光する場合には、従来の照明系そのままで用
いることができるとともに、細かいパターンを露光する
場合には光量の損傷が少ない高解像を容易に発揮できる
照明装置を用いて大きな焦点深度が得られるという効果
が得られる。
【0063】又、照明系のみの変形で像性能がコントロ
ールでき、投影光学系に対しては制約を加えないため、
ディストーション、像面の特性等の光学系の主要な性質
が照明系で種々変形を加えるのにも変わらず、安定して
いるという効果を有した照明装置及びそれを用いた投影
露光装置を達成することができる。
ールでき、投影光学系に対しては制約を加えないため、
ディストーション、像面の特性等の光学系の主要な性質
が照明系で種々変形を加えるのにも変わらず、安定して
いるという効果を有した照明装置及びそれを用いた投影
露光装置を達成することができる。
【図1】 本発明の実施例1の要部概略図
【図2】 図1の一部分の説明図
【図3】 図1の一部分の説明図
【図4】 図2の各オプティカルインテグレータの入
射面での光強度分布の説明図
射面での光強度分布の説明図
【図5】 図3の各オプティカルインテグレータの入
射面での光強度分布の説明図
射面での光強度分布の説明図
【図6】 図3の一部分を変更したときの一実施例の
説明図
説明図
【図7】 図6の各オプティカルインテグレータの入
射面での光強度分布の説明図
射面での光強度分布の説明図
【図8】 図1の一部分の説明図
【図9】 図2の各要素の近軸屈折力配置の説明図
【図10】 本発明の実施例2に係る各オプティカルイ
ンテグレータの入射面の光強度分布の説明図
ンテグレータの入射面の光強度分布の説明図
【図11】 本発明の実施例2に係る各オプティカルイ
ンテグレータの入射面の光強度分布の説明図
ンテグレータの入射面の光強度分布の説明図
【図12】 本発明の実施例3の一部分の説明図
【図13】 図12の各オプティカルインテグレータの
入射面での光強度分布の説明図
入射面での光強度分布の説明図
【図14】 本発明で用いるプリズムの説明図
【図15】 本発明の実施例4の一部分の説明図
1 光源 2 楕円鏡 3 コールドミラー 5 光学系 6 第1オプティカルインテグレータ 7 第2オプティカルインテグレータ 8 第1集光レンズ 9 第3オプティカルインテグレータ 10 絞り部材 13 第2集光レンズ 14 レチクル 16 投影光学系 17 ウエハ
Claims (9)
- 【請求項1】 光源からの光束を複数の微小レンズを2
次元的に所定のピッチで配列した第1オプティカルイン
テグレータと該第1オプティカルインテグレータと実質
的に同じ配列ピッチの第2オプティカルインテグレータ
を介し第1集光レンズで集光して第3オプティカルイン
テグレータに入射させ、該第3オプティカルインテグレ
ータからの光束を第2集光レンズで集光して被照射面上
のパターンを照明し、該パターンを投影光学系により基
板面上に投影転写する際、変更手段により該第1オプテ
ィカルインテグレータと第2オプティカルインテグレー
タの複数の微小レンズの相対的位置関係を変更すること
により該第3オプティカルインテグレータの入射面の光
強度分布を変更するようにしたことを特徴とする露光装
置。 - 【請求項2】 前記変更手段は前記第1オプティカルイ
ンテグレータと第2オプティカルインテグレータのうち
少なくとも一方を光軸と垂直方向に偏心させていること
を特徴とする請求項1の露光装置。 - 【請求項3】 前記変更手段は前記第1オプティカルイ
ンテグレータと第2オプティカルインテグレータとの光
軸方向の間隔を変えていることを特徴とする請求項2の
露光装置。 - 【請求項4】 前記第1集光レンズを構成する光学部品
の少なくとも1つを光軸方向に移動することにより前記
第3オプティカルインテグレータの入射面の光強度分布
を変更することを特徴とする請求項2の露光装置。 - 【請求項5】 前記第1オプティカルインテグレータと
第2オプティカルインテグレータの複数の微小レンズは
正方形開口により成っていることを特徴とする請求項1
の露光装置。 - 【請求項6】 前記第1オプティカルインテグレータの
入射面と前記第2オプティカルインテグレータの射出面
と前記第3オプティカルインテグレータの射出面とは互
いに略共役関係となっており、該第2オプティカルイン
テグレータの入射面と該第3オプティカルインテグレー
タの入射面とは略共役関係となっており、該第1オプテ
ィカルインテグレータの複数の微小レンズは各々該第2
オプティカルインテグレータの入射面近傍に前記光源に
基づく複数の光源像を形成していることを特徴とする請
求項1の露光装置。 - 【請求項7】 前記第3オプティカルインテグレータは
複数の微小レンズを2次元的に所定のピッチで配列して
構成していることを特徴とする請求項1の露光装置。 - 【請求項8】 光源からの光束を複数の微小レンズを2
次元的に所定のピッチで配列した第1オプティカルイン
テグレータと該第1オプティカルインテグレータと実質
的に同じ配列ピッチの第2オプティカルインテグレータ
を介し第1集光レンズで集光して第3オプティカルイン
テグレータに入射させ、該第3オプティカルインテグレ
ータからの光束を第2集光レンズで集光して被照射面上
のパターンを照明する際、変更手段により該第1オプテ
ィカルインテグレータと第2オプティカルインテグレー
タの複数の微小レンズの相対的位置関係を変更すること
により該第3オプティカルインテグレータの入射面の光
強度分布を変更するようにしたことを特徴とする照明装
置。 - 【請求項9】 光源からの光束を複数の微小レンズを2
次元的に所定のピッチで配列した第1オプティカルイン
テグレータと該第1オプティカルインテグレータと実質
的に同じ配列ピッチの第2オプティカルインテグレータ
を介し第1集光レンズで集光して第3オプティカルイン
テグレータに入射させ、該第3オプティカルインテグレ
ータからの光束を第2集光レンズで集光してレチクル面
上の回路パターンを照明し、該回路パターンを投影光学
系によりウエハ面上に投影転写し半導体素子を製造する
際、変更手段により該第1オプティカルインテグレータ
と第2オプティカルインテグレータの複数の微小レンズ
の相対的位置関係を変更することにより該第3オプティ
カルインテグレータの入射面の光強度分布を変更するよ
うにしたことを特徴とする半導体素子の製造方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP4193123A JP2946950B2 (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 照明装置及びそれを用いた露光装置 |
DE69329317T DE69329317D1 (de) | 1992-06-25 | 1993-06-25 | Vorrichtung zur Senkrechten oder Schrägeinfallenden Beleuchtung einer Maske |
EP93304986A EP0576297B1 (en) | 1992-06-25 | 1993-06-25 | Device for normal or oblique illumination of a mask |
US08/081,194 US5459547A (en) | 1992-06-25 | 1993-06-25 | Illumination device |
AT93304986T ATE196018T1 (de) | 1992-06-25 | 1993-06-25 | Vorrichtung zur senkrechten oder schrägeinfallenden beleuchtung einer maske |
US08/517,681 US5684567A (en) | 1992-06-25 | 1995-08-22 | Exposure apparatus and device manufacturing method for projecting light from a secondary light source onto a mask or pattern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4193123A JP2946950B2 (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 照明装置及びそれを用いた露光装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH0613289A true JPH0613289A (ja) | 1994-01-21 |
JP2946950B2 JP2946950B2 (ja) | 1999-09-13 |
Family
ID=16302648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4193123A Expired - Fee Related JP2946950B2 (ja) | 1992-06-25 | 1992-06-25 | 照明装置及びそれを用いた露光装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5459547A (ja) |
EP (1) | EP0576297B1 (ja) |
JP (1) | JP2946950B2 (ja) |
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DE (1) | DE69329317D1 (ja) |
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- 1995-08-22 US US08/517,681 patent/US5684567A/en not_active Expired - Fee Related
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---|---|
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EP0576297B1 (en) | 2000-08-30 |
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DE69329317D1 (de) | 2000-10-05 |
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JP2946950B2 (ja) | 1999-09-13 |
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