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JPH0572094A - 公害ガスの連続測定システム - Google Patents

公害ガスの連続測定システム

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Publication number
JPH0572094A
JPH0572094A JP30728991A JP30728991A JPH0572094A JP H0572094 A JPH0572094 A JP H0572094A JP 30728991 A JP30728991 A JP 30728991A JP 30728991 A JP30728991 A JP 30728991A JP H0572094 A JPH0572094 A JP H0572094A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
air
measurement
tank
humidity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30728991A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Kato
喜之 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AMENITEC KK
Original Assignee
AMENITEC KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AMENITEC KK filed Critical AMENITEC KK
Priority to JP30728991A priority Critical patent/JPH0572094A/ja
Publication of JPH0572094A publication Critical patent/JPH0572094A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 官能試験で測定される臭気濃度に対応する値
の連続測定ならびに測定ガス中に含まれる水分を自動補
正する公害ガスの連続測定の実現。 【構成】 前処理部1と測定部2で構成され、前処理部
1はシリカゲ充填槽3、増湿槽4、恒温槽5及び乾燥空
気と飽和空気の混合割合を制御する流量制御器6ならび
に乾燥空気と飽和空気を均一に混合する混合槽7で構成
され、測定部2はガス濃度検知センサー8で構成され
る。 【効果】 測定ガスの水分補正が自動的に可能となり、
ガス濃度の連続測定が可能にる。また、ガス濃度検知セ
ンサーとして水晶発振子に二分子構造の有機膜を添着し
たセンサーを用いることにより、人間の嗅覚による官能
試験で測定される臭気濃度に対応する値の連続測定が可
能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は公害ガス、臭気ガスなど
の連続測定、監視に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、官能試験で測定される臭気濃度に
対応する値の機器による連続測定は実現されていない。
また半導体センサーを用いて公害ガスを機器により連続
測定する場合、測定ガス中の水分の影響が全く無視され
ているか測定後計算により水分量の補正をおこなってい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】現在ガスセンサーある
いはニオイセンサーとして一般に半導体センサーあるい
は脂質二分子膜センサーなどが利用されている。水晶発
振子に二分子構造の有機膜を添着したいわゆる脂質二分
子膜センサーにおいては、ナノグラム単位のニオイを重
量として測定可能であり、かつ人間の嗅細胞が二分子構
造であることから人間の嗅覚で測定する官能試験の臭気
濃度に対応する値が測定できる利点がある。しかし、測
定ガス中の数十ppm(ppmは百万分の一の単位)の
ニオイの量を測定する場合にもその測定ガス中には温度
にもよるが数千から数万ppmの水分が含まれ水分補正
なしでニオイを測定することは困難であり、現実にはニ
オイを測定しているというより水分重量を測定している
といっても過言でない。同様に半導体センサーでも公知
の事実として水分の影響が測定値に及ぼす影響が極めて
大きく、ゼロ値を設定する標準空気の絶対湿度が測定ガ
スの絶対湿度と異なればその分誤差となってあらわれ
る。しかし、測定ガス中の水分の影響を考慮した連続測
定方法は実現されておらずゼロ値の設定に用いるべき標
準空気すら使用されていない現実である。本発明は、測
定ガス中に含まれる水分の量を自動的に補正することに
より公害ガスの連続測定、監視を目的とするものであ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
には、測定ガス中の水分量すなわち測定ガスの絶対湿度
と等しい絶対湿度の空気を製造し、それを標準空気とし
てゼロ値の設定に用いれば測定値より水分の影響は自動
的に補正できる。本発明では、上記目的を達成するため
二つの方法を提案するものである。
【0005】第1の方法は、任意の温度・湿度の測定ガ
ス並びに標準空気の温度を恒温槽によってある特定の一
定の温度、本発明では15℃又は25℃に変換し、測定
ガスの絶対湿度と等しい絶対湿度をもった標準空気を造
る方法である。温度が15℃又は25℃のガスあるいは
空気を造るには、15℃又は25℃に制御された恒温槽
へガス又は空気を通すことによって達成できる。する
と、その温度における測定ガスの相対湿度・絶対湿度は
定まる。一方、同じ絶対湿度をもった標準空気を造るに
は、測定ガスの相対湿度がその温度でψ%のとき、同じ
温度の全く水分を含まない乾燥空気の量とこれ以上水分
を含めない飽和空気の量をそれぞれ(1−ψ/100)
とψ/100の割合で混合すれば達成できる。乾燥空気
の量と飽和空気の量を制御するには流量制御器によって
達成できる。また、乾燥空気を造るには十分なシリカゲ
ル充填槽に空気を通すことによって得られる。また、十
分な接触時間のある水中に空気を通すと湿度の飽和した
飽和空気が得られる。このようにして造られた測定ガス
の絶対湿度と等しい絶対湿度の標準空気を用い、水晶発
振子に二分子構造の有機膜を添着したガス濃度検知セン
サーのゼロ値設定を行なうことによって官能試験で測定
される臭気濃度に対応する値を連続測定することが可能
となる。測定部にガス濃度検知センサーとリファレンス
センサーを設置すれば常時連続測定が可能になり、リフ
ァレンスセンーを設置しない場合は測定プログラムにし
たがった間欠連続測定となる。測定ガスの温度を15℃
又は25℃に設定する意義は亜硫酸ガスの測定値が15
℃換算の測定値が規定されていること、さらに人間の嗅
覚は25℃近辺で最も鋭敏であることから25℃の測定
値は大きな意味をもっている。さらに、二分子構造の有
機膜を水晶発振子に添着したいわゆる脂質2分子膜セン
サーは30℃付近に温度変異点があるものもあり、30
℃以下での適用が望ましいからである。
【0006】第2の方法は、任意の温度・湿度をもった
測定ガスの絶対湿度と等しい標準空気を造る方法であ
る。半導体センサーを用いる場合は特に温度制限がな
い。したがって、この場合は測定ガスをなんら変化させ
ることなく、標準空気の温度・湿度を測定ガスの温度・
湿度に変換する方法である。標準空気を造る方法は第1
の方法と全く同じであり、異なる点は恒温槽の温度を測
定ガスの温度に等しく制御することである。また、第1
の方法では測定ガスを恒温槽に導き、恒温槽の温度にお
ける相対湿度の測定が必要であったが、第2の方法で
は、測定ガスを直接測定部に導くことである。したがっ
て、測定ガスの温度・湿度の測定は測定部において測定
してもよく、また全く別の場所例えばガスの発生源で測
定してもよい。第2の方法においても、リファレンスセ
ンサーを設ける場合は常時連続測定が可能であり、リフ
ァレンスセンサーを設置しない場合はプログラムにした
がった間欠連続測定となる。
【0007】
【実施例】本発明の実施例を図によって説明すると、1
図はガス濃度検出センサーが水晶発振子に二分子構造の
有機膜を添着したセンサーで構成され、かつガス濃度が
官能試験で測定される臭気濃度に対応する値を測定する
公害ガスの連続測定システムを示す。
【0008】2図は恒温槽5の温度を測定ガスの温度と
等しく制御する場合の公害ガスの連続測定方システムを
示す。
【0009】1図において、測定ガスはガス吸引ポンプ
11によって前処理部1の測定ガス接続口20より系内
に流入し、15℃又は25℃の一定の温度に保持された
恒温槽5を通過する間に15℃又は25℃に調整され、
温湿度センサー10によって相対湿度ψ%が測定され
る。一方、原料空気はエアポンプ14によって空気取入
接続口21より系内に流入しエアフィルター13を通過
したのち恒温槽5に設けられたシリカゲル充填槽3及び
増湿槽4に送られる。シリカゲル充填槽では乾燥空気が
造られ、増湿槽では飽和空気がつくられる。乾燥空気と
飽和付空気の割合は流量制御器6によって(1−ψ/1
00)とψ/100の割合で制御され、混合槽7で均一
に混合され測定ガスの絶対湿度と常に等しい絶対湿度の
標準空気がつくられ測定部2に送られる。
【0010】測定部2においては、ゼロ値設定・洗浄工
程と測定工程の2工程に分けられる。
【0011】ゼロ値設定・洗浄工程ではガス吸引ポンプ
11及び12が作動すると、電磁弁15、17及び19
が開き電磁弁16及び18は閉じた状態になる。前処理
部1でつくられた測定ガスと絶対湿度の等しい標準空気
はガス濃度検出センサー8及びリファレンスセンサー9
に送られ各センサーを洗浄したのち、ガス吸引ポンプ1
2によって系外に排出される。
【0012】測定工程ではカス吸引ポンプ11は停止、
ガス吸引ポンプ12が作動している。電磁弁15、17
及び19は閉じ、電磁弁16及び18が開く。測定ガス
の絶対湿度と等しい標準空気はエアポンプ14によって
リファレンスセンサー9、電磁弁18を経由して系外に
排出される。測定ガスはガス吸引ポンプ12によって電
磁弁16、ガス濃度検出センサー8を経由して系外に排
出される。
【0013】第1の方法を用いて測定した結果を表1に
示す。
【0014】
【表1】
【0015】第2図において半導体センサーを用いる場
合、測定部2はゼロ値設定工程、測定工程及びパージ工
程の3工程に分かれる。
【0016】ゼロ値設定工程では、電磁弁16、17及
び19が開き、電磁弁15及び18は閉じた状態とな
る。ガス吸引ポンプ11及び12が作動する。測定ガス
はガス吸引ポンプ11によって測定ガス接続口20より
系内に流入し、電磁弁17を経由して温湿度センサー1
0によって温度・湿度が測定されたのち系外に排出され
る。なお温湿度センサーは必ずしも測定部2に設置され
る必要はなく、全く別の場所ガス発生源等に設置されて
いてもよい。測定された温度・湿度は電気信号として前
処理部1に伝達される。前処理部1では 測定ガスの温
度と等しくなるよう恒温槽5の温度が制御され、同時に
測定ガスの相対湿度ψ%にしたがって乾燥空気と飽和空
気の量が(1−ψ/100)とψ/100の割合で流量
制御器6によって制御され混合槽7で均一に混合されて
測定ガスの絶対湿度と等しい標準空気が造られ 測定部
2へ送られ、電磁弁16、ガス濃度検知センサー8、電
磁弁19を経由して系外に排出される。
【0017】測定工程では ガス吸引ポンプ11及びエ
アポンプ14は停止し、ガス吸引ポンプ12が作動す
る。電磁弁16、17及び18は閉じ、電磁弁15及び
19は開いた状態となる。測定ガスはガス吸引ポンプ1
2によって、電磁弁15、19を経由して系外に排出さ
れる。
【0018】パージ工程ではガス吸引ポンプ11及び1
2は停止し、エアポンプ14が作動する。電磁弁15、
17及び19が閉じ、電磁弁16及び18が開いた状態
となる。前処理部1では飽和空気の流量が流量制御器6
によりゼロとなり、すべての流量が乾燥空気として製造
され、測定部2に送られ、電磁弁16、ガス濃度検知セ
ンサー8、電磁弁18を経由して系外に排出される。リ
ファレンスセンサー9を設置する場合は常時連続測定が
可能であり、リファレンスセンサーを設置しない場合は
測定プログラムによる間欠連続測定となる。
【0019】
【作用】前処理部1を設けることにより常に測定ガスの
絶対湿度と等しい標準空気が製造でき、測定ガス中の水
分を自動補正できる。前処理部におけるシリカゲル充填
槽は湿度ゼロの乾燥空気をつくる作用し、増湿槽は飽和
湿度の空気をつくる作用をする。恒温槽は取入空気を測
定ガスの温度と等しくする作用があり、流量制御器は測
定ガスの絶対湿度と等しい標準空気を製造するための混
合割合を決める作用があり、混合槽は測定ガスの絶対湿
度と等しい標準空気をつくる作用がある。また、恒温槽
の温度を15℃の一定の温度に制御し測定ガスの温度を
15℃にすることは亜硫酸ガスの測定値が常に15℃に
換算した値を求める規定に対応できる作用がある。また
恒温槽の温度を25℃の一定の温度に制御し、測定ガス
の温度を25℃にすることは官能試験で臭気を最も鋭敏
に感じる温度であり、かつガス濃度検出センサーとして
水晶発振子に二分子構造の有機膜を添着したセンサーを
用いることは、官能試験で測定される臭気濃度に対応す
る値が得られる作用をする。
【0020】
【効果】測定ガスの水分に影響されない公害ガスの連続
測定が可能となる。
【0021】
【図面の簡単な説明】
【図1】水晶発振子に二分子構造の有機膜を添着したセ
ンサーを用い、官能試験で測定される臭気濃度に対応す
る値を測定する公害ガスの連続測定方システムである。
【図2】半導体センサを利用し測定ガスの水分に影響さ
れない公害ガスの連続測定システムである。
【符号の説明】
1 前処理部 2 測定部 3 シリカゲル充填槽 4 増湿槽 5 恒温槽 6 流量制御器 7 混合槽 8 ガス濃度検知センサー 9 リファレンスセンサー 10 温湿度センサー 11 12 ガス吸引ポンプ 13 エアフィルター 14 エアポンプ 15 16、17、18、19 電磁弁 20 測定ガス接続口 21 空気取入接続口 22 連絡配管

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定ガスの絶対湿度と等しい絶対湿度を
    もった空気を製造するための前処理部1と測定ガスのガ
    ス濃度を検出する測定部2で構成されることを特徴とし
    た公害ガスの連続測定システム。
  2. 【請求項2】 前処理部1は乾燥空気を製造するシリカ
    ゲル充填槽3、飽和湿度の空気を製造する増湿槽4、温
    度を一定に保つための恒温槽5、乾燥空気と飽和湿度の
    空気の量を制御する流量制御器6ならびに乾燥空気と飽
    和湿度の空気を均一に混合する混合槽7で構成され、シ
    リカゲル充填槽3で造られる乾燥空気の量と増湿槽4で
    造られる飽和湿度の空気の量の混合割合が測定ガスの相
    対湿度をψ%とするとき流量制御器6によって(1−ψ
    /100)とψ/100の割合で自動制御され、混合槽
    7で均一に混合されたのち、測定部2に設けられたガス
    濃度検知センサー8に送られることを特徴とした請求項
    1記載の公害ガスの連続測定システム。
  3. 【請求項3】 前処理部1の恒温槽5の温度が15℃又
    は25℃の一定の温度に制御されることを特徴とした請
    求項2記載の公害ガスの連続測定システム。
  4. 【請求項4】 測定部2のガス濃度検知センサー8が水
    晶発振子に二分子構造の有機膜を添着したセンサーで構
    成され、かつガス濃度が官能試験で測定される臭気濃度
    に対応する値を測定することを特徴とした請求項3記載
    の公害ガスの連続測定システム。
  5. 【請求項5】 前処理部1の恒温槽5の温度が測定ガス
    の温度と等しく制御されることを特徴とした請求項2記
    載の公害ガスの連続測定システム。
JP30728991A 1991-09-10 1991-09-10 公害ガスの連続測定システム Pending JPH0572094A (ja)

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