JPH05274814A - 光ディスク装置及び光ディスクの欠陥セクタ検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、光ディスク装置及び光ディスクの欠
陥セクタ検出方法に関し、再生時に二次欠陥セクタの発
生する確率を小さくして、二次欠陥セクタの発生による
データの喪失を少なくした光ディスク装置及び光ディス
クの欠陥セクタ検出方法を提供することを目的とする。 【構成】光ディスク１に対してデータを記録／再生する
光ヘッド２を有する光ディスク装置において、欠陥セク
タの検出をスライス検出法により行うスライス検出手段
４と、欠陥セクタの検出を微分ゼロクロス検出法により
行う微分ゼロクロス検出手段６、８とを有し、フォーマ
ットする際はスライス検出手段４により一次欠陥セクタ
を検出させ、データを記録する際はスライス検出手段４
により二次欠陥セクタを検出させ、データを再生する際
は微分ゼロクロス検出手段６、８により二次欠陥セクタ
を検出させるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置及び光
ディスクの欠陥セクタ検出方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の光磁気ディスク装置における、光
磁気ディスクの欠陥セクタ検出方法について説明する。
まず、光磁気ディスクの記録領域の構成について図２を
用いて説明する。光磁気ディスクは第０トラックから第
１８７５０トラックまでの１８７５１本のトラックで構
成され、各トラックは第０セクタから第１６セクタまで
の１７個のセクタにより構成されている。

【０００３】光磁気ディスクの記録領域の最内周及び最
外周には欠陥セクタを管理するためのＤＭＡ(Defect Ma
nagement Area)領域が設けられ、記録領域の残りがユー
ザ領域である。光磁気ディスクの記録領域の最内周のＤ
ＭＡ領域は第０トラックから第２トラックまでの３トラ
ックの領域である。第０トラック第０セクタはＤＤＳ(D
isk Definition Structure) の記録領域であり、光磁気
ディスクの構造に関する情報が記録されている。第０ト
ラック第１セクタから第１トラック第７セクタまではＰ
ＤＬ(Primary Defect List) とＳＤＬ(Secondary Defec
t List) の記録領域である。ＰＤＬは光磁気ディスクの
フォーマット時に検出された欠陥である一次欠陥（ＰＤ
＝Primary Defect）のあるセクタのリストであり、ＳＤ
Ｌは光磁気ディスクの実際の記録／再生時に検出された
欠陥である二次欠陥（ＳＤ＝Secondary Defect）のある
セクタのリストである。また、第１トラック第８セクタ
はＤＤＳの記録領域で、第１トラック第９セクタから第
２トラック第１５セクタまではＰＤＬとＳＤＬの記録領
域である。ＤＭＡ領域の最終の第２トラック第１６セク
タは予備（Ｒｅｓ=Reserve）セクタである。

【０００４】光磁気ディスクの記録領域の最外周のＤＭ
Ａ領域は第１８７４８トラックから第１８７５０トラッ
クまでの３トラックの領域である。ＤＭＡ領域と同様に
ＤＤＳ、ＰＤＬ、ＳＤＬの記録領域が設けられ、最終セ
クタが予備セクタとなっている。記録領域のユーザ領域
は、１又は２以上のグループに分割されている。各グル
ープは、データを記録するために設けられたユーザデー
タ領域と、ユーザデータ領域中の二次欠陥（ＳＤ）セク
タの交替セクタの領域として設けられたスペアセクタ領
域により構成されている。スペアセクタ領域の容量は最
大２０４８セクタ（最大２ＭＢ）である。ユーザデータ
領域中に二次欠陥セクタがあると、その二次欠陥セクタ
の代わりにスペアセクタ領域内の所定のスペアセクタに
データが記録される。

【０００５】このように構成された光磁気ディスクにお
ける従来の欠陥セクタ検出方法を説明する。まず、光磁
気ディスクのフォーマット時に一次欠陥セクタが検出さ
れると、その一次欠陥セクタは論理空間から排除され、
あたかも存在しなかったかのように取り扱われる。一次
欠陥セクタに関する情報はＤＭＡ領域にＰＤＬとして既
に記録されている。

【０００６】実際の記録／再生時に二次欠陥セクタが検
出されると、この二次欠陥セクタを論理空間から排除す
ることはできないので、同じグループのスペアセクタに
データが記録される。例えば、光磁気ヘッドが、あるト
ラック内のセクタに対して順次データの記録を行ってい
た場合、次に記録を行うセクタが二次欠陥セクタとして
検出されてデータの記録ができなくなると、光磁気ヘッ
ドはスペアセクタ領域の所定の交替セクタにシークし
て、交替セクタにデータを記録してから再びシークして
二次欠陥セクタの次のセクタにデータを記録する。再生
時においても光磁気ヘッドは同様なシーク動作を行う。
二次欠陥セクタに関する情報は、二次欠陥セクタに交替
セクタを設定する度に光磁気ヘッドによりＤＭＡ領域の
ＳＤＬに記録される。

【０００７】また、光磁気ヘッドが、あるトラック内の
あるセクタからデータの再生を行おうとした場合、再生
を行うセクタが二次欠陥セクタとして検出されてしまう
と、もはや、このセクタのデータは失われてしまうこと
になり、データの再生はできなくなる。フォーマットの
際のベリファイ時、或いはデータ再生時に光磁気ヘッド
から読み込まれる再生信号は、微分ゼロクロス検出法に
より、データに変換される。微分ゼロクロス法は、光磁
気ディスクからデータを再生する際の、光磁気ヘッドで
得られたアナログ再生信号を微分回路に入力して微分
し、微分された再生信号の立ち下がりのゼロクロス点
（即ち原再生信号の極大値）を検出して、１、０のデジ
タルデータとして出力するものである。この方法を用い
ると、光磁気記録面の劣化によるアナログ再生信号のピ
ークレベルの減少等が生じても、その影響を抑えること
ができ、正しいデータが再生できるようになる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】従って、従来は、微分
ゼロクロス法を用いても、あるセクタの再生信号を正し
いデータに変換ができないときには、そのセクタを欠陥
セクタとしてＤＭＡ領域のＰＤＬ又はＳＤＬに登録して
いた。光磁気ディスクのフォーマット時に微分ゼロクロ
ス法により検出された欠陥セクタは一次欠陥セクタとし
て、実際のデータの記録の際のベリファイ時、又は再生
時に微分ゼロクロス法により検出された欠陥セクタは二
次欠陥セクタとして処理していた。つまり、光磁気ディ
スクの欠陥セクタの検出は、微分ゼロクロス法で正しい
データに変換されるか否かで決められていた。

【０００９】欠陥セクタ検出方法としての面から微分ゼ
ロクロス法をみると、光磁気ディスクのフォーマット時
のベリファイ信号（再生信号）が多少劣化しているセク
タでも再生できることは、逆にいえば、将来経時変化等
によりセクタの劣化が進行し、実際のデータの記録／再
生時には微分ゼロクロス法を用いても再生することがで
きない二次欠陥セクタとなるおそれのあるセクタを一次
欠陥セクタとして登録することができないということに
なる。フォーマット後、光磁気ディスクのデータ再生時
に二次欠陥セクタが発生すると、そのセクタのデータは
もはや再生できなくなる。二次欠陥セクタの交替セクタ
は、替わりの記憶領域が確保されたということであっ
て、失われたデータが修復されるわけではない。

【００１０】また、二次欠陥セクタが発生して、その後
交替セクタが割当てられて使用するとしても、光磁気ヘ
ッドが交替セクタまでシークするための時間がかかって
しまい、アクセス時間が長くなってしまう。従って、二
次欠陥セクタの発生が増加すればするほど光磁気ヘッド
のシーク時間の記録／再生に要する時間に占める割合が
増大するという問題も生じる。

【００１１】本発明の目的は、再生時に二次欠陥セクタ
の発生する確率を小さくして、二次欠陥セクタの発生に
よるデータの喪失を少なくした光ディスク装置及び光デ
ィスクの欠陥セクタ検出方法を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的は、データを保
持する光ディスクと、前記光ディスクとに対してデータ
を記録又は再生する光ヘッドを有する光ディスク装置に
おいて、欠陥セクタの検出をスライス検出法により行う
スライス検出手段と、欠陥セクタの検出を微分ゼロクロ
ス検出法により行う微分ゼロクロス検出手段と、前記光
ディスクをフォーマットする際は前記スライス検出手段
により一次欠陥セクタを検出させ、前記光ディスクにデ
ータを記録する際は前記スライス検出手段により二次欠
陥セクタを検出させ、前記光ディスクのデータを再生す
る際は前記微分ゼロクロス検出手段により二次欠陥セク
タを検出させる制御手段とを有することを特徴とする光
ディスク装置によって達成される。

【００１３】また、上記目的は、光ディスクをフォーマ
ットする際はスライス検出法により一次欠陥セクタを検
出し、前記光ディスクにデータを記録する際はスライス
検出法により二次欠陥セクタを検出し、前記光ディスク
のデータを再生する際は微分ゼロクロス検出法により二
次欠陥セクタを検出することを特徴とする光ディスクの
欠陥セクタ検出方法によって達成される。

【００１４】

【作用】本発明によれば、光ディスクをフォーマットす
る際のベリファイによる一次欠陥セクタの検出、及び光
ディスクにデータを記録する際のベリファイによる二次
欠陥セクタの検出をスライス検出法により行うので、再
生時に二次欠陥セクタが発生する確率を小さくして、二
次欠陥セクタの発生によるデータの喪失を少なくするこ
とができる。

【００１５】

【実施例】本発明の一実施例による光ディスク装置及び
光ディスクの欠陥セクタ検出方法を図１を用いて説明す
る。図１は本発明の一実施例による光ディスクの欠陥セ
クタ検出方法を実施する光ディスク装置のブロック図で
ある。本実施例は、光ディスク装置のうち、光磁気ディ
スク装置について本発明を適用したものである。本実施
例は、光磁気ディスクをフォーマットする際にスライス
検出法により一次欠陥セクタを検出し、光磁気ディスク
にデータを記録する際にもスライス検出法により二次欠
陥セクタを検出し、光磁気ディスクからデータを再生す
る際には微分ゼロクロス検出法を用いるようにしたこと
に特徴を有する。

【００１６】この光磁気ディスク装置において、記録／
再生されるデータを保持する光磁気ディスク１はモータ
１０により駆動される。光磁気ディスク１の記録面にア
クセスする記録／再生／消去用の光磁気ヘッド２及びバ
イアス磁界印加装置（図示せず）が光磁気ディスク１の
記録面に近接して設けられている。光磁気ディスク１の
記録面にアクセスする光磁気ヘッド２により再生された
アナログ再生信号は、信号切換手段１２を制御する制御
手段１４により切替えられてスライス検出回路４又は微
分回路６に入力される。微分回路６の出力はゼロクロス
検出回路８に入力される。

【００１７】スライス検出回路４も、微分回路６及びゼ
ロクロス検出回路８も共に、アナログ再生信号からデジ
タルデータを再生するために用いられるが、スライス検
出回路４は、光磁気ディスク１をフォーマットする際の
ベリファイ時に一次欠陥セクタを検出するため、及び光
磁気ディスク１にデータを記録する際のベリファイ時に
二次欠陥セクタを検出するためにも用いられる。微分回
路６及びゼロクロス検出回路８は、光磁気ディスク１の
データを再生する際の二次欠陥セクタを検出するために
も用いられる。スライス検出回路４又はゼロクロス検出
回路８の出力が、光磁気ヘッド２による再生信号を２値
化に変換したデータとなる。

【００１８】図１（ａ）〜（ｄ）に示す各波形を用い
て、光磁気ディスクの欠陥セクタ検出方法について説明
する。各波形とも、縦軸は電圧Ｖであり、横軸は時間ｔ
である。図１（ａ）は、光磁気ヘッド２により再生され
た再生信号である。この再生信号は、説明の都合上、フ
ォーマットの際のベリファイによる再生信号、データ記
録の際のベリファイによる再生信号、及びデータ再生時
の再生信号の３種類の信号をその都度表しているものと
する。

【００１９】まず、光磁気ディスク１をフォーマットす
る場合の欠陥セクタ検出方法について説明する。この場
合は光磁気ヘッド２からフォーマットの際のベリファイ
の再生信号を信号切替え手段（図示せず）によりスライ
ス検出回路４に入力させるようにする。図１（ｂ）は、
図１（ａ）の再生信号をスライス検出回路４で処理した
出力信号である。

【００２０】スライス検出回路４は、図１（ａ）の再生
信号の入力に対して一定のスライスレベル（Ｖ）を設定
し、スライスレベル以上の電圧に対して１をその出力端
に出力し、スライスレベル以下の電圧に対しては０を出
力する回路である。従って、図１（ａ）のアナログ再生
信号が、あるセクタのベリファイ用再生信号であるとす
ると、図中の表示枠内において、本来１００１００のデ
ータが再生されるべきであるのに対して、下位３ビット
目に対応するアナログ再生信号のピークがスライスレベ
ルに達していないため、スライス検出回路４の出力が図
１（ｂ）のように、１０００００となって出力されてし
まう。即ち、フォーマットにおけるベリファイでこのセ
クタは欠陥セクタとして認識され、一次欠陥セクタとし
てＰＤＬに登録される。

【００２１】スライス検出回路４により欠陥セクタであ
ると認識されたセクタでも、微分回路６、及びゼロクロ
ス検出回路８を用いる微分ゼロクロス検出法によれば、
欠陥とはみなされない場合がある。しかし、このような
セクタは、将来ユーザが記録／再生するときに二次欠陥
セクタになる可能性が高いものである。従って、フォー
マット時にスライス検出回路４のスライス検出法により
このようなセクタをユーザ領域から除去しておくことが
望ましい。

【００２２】次に、光磁気ディスク１にデータを記録す
る場合の欠陥セクタ検出方法についてであるが、この場
合は光磁気ヘッド２から記録の際のベリファイの再生信
号をスライス検出回路４に入力させるようにする。処理
は上記の光磁気ディスク１をフォーマットする場合と同
様である。スライス検出回路４により、データ記録の際
のベリファイで二次欠陥セクタであると認識された場合
は、改めて別のユーザ領域のセクタ、若しくはスペアセ
クタの交替セクタにデータを記録させることにより、将
来、当該セクタのデータの再生時に、二次欠陥セクタと
してデータを喪失してしまうという可能性は少なくな
る。

【００２３】次に、光磁気ディスク１からデータを再生
する場合の欠陥セクタ検出方法について説明する。この
場合は光磁気ヘッド２から再生データの再生信号を微分
回路６、ゼロクロス検出回路８に入力させるようにす
る。即ち、本実施例による光磁気ディスク装置において
は、すでに記録されたデータを再生するときにのみ、微
分ゼロクロス法を用いる。データの再生は、再生信号が
劣化していてもできるだけ読み取る必要があるから、微
分ゼロクロス法を用いるのである。

【００２４】図１（ｃ）は、図１（ａ）の再生信号を微
分回路６により微分した結果の信号である。この微分さ
れたアナログ再生信号をゼロクロス検出回路８に入力す
ると、波形の立ち下がり部分が０Ｖをよぎるときに１が
出力され、それ以外では０を出力するデジタルデータが
得られる。図１（ｄ）はゼロクロス検出回路８の出力で
ある。こうすることにより、光磁気ヘッド２から再生さ
れた再生信号が多少劣化していても、正しいデータを読
み取ることができるようになる。

【００２５】微分ゼロクロス法により二次欠陥セクタと
認識されたセクタからデータを再生することはできな
い。この場合には、交替セクタを割当てて新たにデータ
を記録し直してやる必要が生じる。以上説明したよう
に、将来二次欠陥セクタとなる可能性の高い領域を、予
め一次欠陥セクタとして登録することにより、フォーマ
ット後の二次欠陥セクタの発生を極力抑えることができ
る。また、記録時のベリファイと再生時の欠陥検出方法
をスライス検出と微分ゼロクロスに使い分けることによ
り、将来不良となる可能性の高いセクタに対して、予め
交替セクタを割当て、読出しエラーの発生を抑えること
ができる。

【００２６】本発明は、上記実施例に限らず種々の変形
が可能である。例えば、上記実施例では、光磁気ディス
ク装置について本発明を適用したが、他の光ディスク、
例えば、追記型光ディスク等に本発明を適用することも
もちろん可能である。

【００２７】

【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、光ディス
クをフォーマットする際のベリファイによる一次欠陥セ
クタの検出、及び光ディスクにデータを記録する際のベ
リファイによる二次欠陥セクタの検出をスライス検出法
により行うので、再生時に二次欠陥セクタが発生する確
率を小さくして、二次欠陥セクタの発生によるデータの
喪失を少なくすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による光ディスクの欠陥セク
タ検出方法を実施する光ディスク装置のブロック図であ
る。

【図２】光磁気ディスクの記録領域の構成を示す図であ
る。

【符号の説明】

１…光ディスク ２…光ヘッド ４…スライス検出回路 ６…微分回路 ８…ゼロクロス検出回路 １０…モータ １２…信号切替手段 １４…制御手段

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 データを保持する光ディスクと、前記光
   ディスクに対してデータを記録又は再生する光ヘッドを
   有する光ディスク装置において、 欠陥セクタの検出をスライス検出法により行うスライス
   検出手段と、 欠陥セクタの検出を微分ゼロクロス検出法により行う微
   分ゼロクロス検出手段と、 前記光ディスクをフォーマットする際は前記スライス検
   出手段により一次欠陥セクタを検出させ、前記光ディス
   クにデータを記録する際は前記スライス検出手段により
   二次欠陥セクタを検出させ、前記光ディスクのデータを
   再生する際は前記微分ゼロクロス検出手段により二次欠
   陥セクタを検出させる制御手段とを有することを特徴と
   する光ディスク装置。
2. 【請求項２】 光ディスクをフォーマットする際はスラ
   イス検出法により一次欠陥セクタを検出し、 前記光ディスクにデータを記録する際はスライス検出法
   により二次欠陥セクタを検出し、 前記光ディスクのデータを再生する際は微分ゼロクロス
   検出法により二次欠陥セクタを検出することを特徴とす
   る光ディスクの欠陥セクタ検出方法。