JPH04176186A - Manufacture of double sided wiring board - Google Patents
Manufacture of double sided wiring boardInfo
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- JPH04176186A JPH04176186A JP30319890A JP30319890A JPH04176186A JP H04176186 A JPH04176186 A JP H04176186A JP 30319890 A JP30319890 A JP 30319890A JP 30319890 A JP30319890 A JP 30319890A JP H04176186 A JPH04176186 A JP H04176186A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電子部品に実装される両面配線板の製造方法に
係り、さらに詳しくは絶縁性樹脂基体の両面に配線を有
するフレキシブル配線基体の製造方法に関するものであ
る。Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for manufacturing a double-sided wiring board to be mounted on an electronic component, and more specifically to manufacturing a flexible wiring board having wiring on both sides of an insulating resin base. It is about the method.
(従来の技術)
近年、エレクトロニクス産業界においては低価格、高信
頼度を有する多機能装置の開発か急速に進められており
、これによる高機能、高密度素子の出現に伴って高信頼
性、多機能を有し、かつ軽量、薄型の小型デバイスに対
する要求が高まってきている。これに従って、新しい素
子実装技術の開発が日増しに重要さを加えており、プリ
ン1〜配線基板においても以前のガラスエポキシ基板や
フエノール樹脂基板のような厚みのある、しかもリジッ
ドな配線基板では軽量、薄型のデバイスに対する要求に
応じることが出来なくなり、エンジニアリングプラスチ
ック等の高性能でしかもフレキシビリティの高いフィル
ム状の基板に配線を形成したいわゆるフレキシブル配線
板か主流を占めるようになってきている。(Prior Art) In recent years, the electronics industry has been rapidly developing multifunctional devices with low cost and high reliability. There is an increasing demand for small devices that have multiple functions, are lightweight, and thin. Accordingly, the development of new element mounting technology is becoming more important day by day, and even for wiring boards, thick and rigid wiring boards such as previous glass epoxy boards and phenolic resin boards are lighter. , it is no longer possible to meet the demand for thin devices, and so-called flexible wiring boards, in which wiring is formed on high-performance and highly flexible film-like substrates such as engineering plastics, have become mainstream.
しかしたがら、フレキシビリティの高いプラスチックフ
ィルムに直接的に配線材料である銅のパターンを効率よ
く形成することは技術的に極めて困難であるために、そ
の代替技術として、予め銅箔を接着剤を使用してプラス
チックフィルムに接着し、以後レジストパターン処理技
術とエツチング技術を用いてプラスチックフィルム上に
配線パターンを形成する方法が一般的に採られていた。However, it is technically extremely difficult to efficiently form a copper pattern, which is a wiring material, directly on a highly flexible plastic film, so an alternative technique is to use an adhesive to attach copper foil in advance. The commonly used method was to bond the wire to a plastic film, and then form a wiring pattern on the plastic film using resist pattern processing technology and etching technology.
しかし、使用するプラスチックとして例えばポリイミド
フィルムを使用した場合などにおいては接着剤の耐熱特
性が著しく低いなめに、これを製品として使用する場合
に、ポリイミドフィルムの持つ優れた耐熱特性を効果的
に発揮することが出来なかった。However, when using polyimide film as the plastic, for example, the heat resistance of the adhesive is extremely low, so when using this as a product, it is difficult to effectively utilize the excellent heat resistance properties of polyimide film. I couldn't do it.
ところが最近に至り、以下に示すようにプラスチックフ
ィルムに接着剤に依らずに直接的に金属層を形成させる
幾つかの方法が開発されるに至った。その方法としては
、
(1)プラスチックフィルム上にスパッタリング法、真
空蒸着法、CVD法などの乾式金属膜形成法によって金
属膜を被覆する方法。However, recently, several methods have been developed for directly forming a metal layer on a plastic film without relying on an adhesive, as described below. The methods include: (1) A method of coating a plastic film with a metal film using a dry metal film forming method such as sputtering, vacuum evaporation, or CVD.
(2)プラスデックフィルム上に無電解めっきなどの湿
式金属膜形成法によって金属膜を被覆する方法。(2) A method of coating a metal film on the Plus Deck film by a wet metal film forming method such as electroless plating.
(3)金属箔上にプラスチックフィルj\を形成する樹
脂成分の前駆体を層状に形成しておいて加熱処理を施す
ことによって該前駆体をプラスチックフィルムに変える
方法。(3) A method in which a precursor of a resin component for forming a plastic film is formed into a layer on a metal foil and then heated to convert the precursor into a plastic film.
などがある。そしてこれらの方法を実施することによっ
て要求に応じたフレキシブル配線板の製造が可能になっ
た。and so on. By implementing these methods, it has become possible to manufacture flexible wiring boards that meet demand.
しかしたがら、近年益々実装技術の高密度化傾向が顕著
となるに至り、基板両面の配線化および両面配線の一部
をスルーポールによって接続することにより多機能化す
ることが求められている。However, in recent years, the trend toward higher density mounting technology has become more and more pronounced, and there is a demand for multifunctionality by wiring both sides of the board and connecting some of the wiring on both sides using through poles.
またさらに基板に対する高密度化の要求の高まりによっ
て、配線板における配線パターンにおけるリード幅の一
層の極小化も要求されている。Furthermore, with the increasing demand for high-density substrates, there is also a demand for further minimization of lead widths in wiring patterns on wiring boards.
〈発明が解決しようとする課題)
以上のようなリード幅の極小化の要求は今後型々激しく
なることが予想されるかこのようなリード幅の極小化に
よって両面の配線間にスルーホールを機械的に形成する
ことは極めて困難となる。<Problems to be Solved by the Invention> It is expected that the demand for miniaturization of lead widths as described above will become more intense in the future. It is extremely difficult to form a
従って、スルーホールを精度よく形成することができる
化学的な手法による加工技術を確立することが要望され
ている。Therefore, it is desired to establish a chemical processing technique that can form through holes with high precision.
本発明は上記の要望に基づきなされたものであって、化
学的な手法によって基板両面の配線を微小なスルーホー
ルによって接続させた両面配線板を得るための新規な方
法を提供することを目的とするものである。The present invention was made based on the above-mentioned needs, and an object of the present invention is to provide a new method for obtaining a double-sided wiring board in which wiring on both sides of the board is connected by a minute through hole using a chemical method. It is something to do.
(課題を解決するための手段)
上記の目的を達成するための本発明は、次に示すような
基本工程により構成される。(Means for Solving the Problems) The present invention for achieving the above object is constituted by the following basic steps.
即ち本発明による両面配線板の製造方法は、ポリイミド
等の電気絶縁性合成樹脂(以下「絶縁性樹脂」という)
フィルムの両面に接着剤を用いることなく金属層を形成
したものを基体とし、該基体両面の金属層上に感光性レ
ジスト層を形成した後、基体上面におけるレジスト層に
は主として所定の配線パターンを有するフォトマスクを
、また基体下面におけるレジスト層には主として所定の
ビアホールパターンを有するフォトマスクを施して、光
を照射した後両面のレジスト層を現像し、該基体の両面
にそれぞれの形状のレジストパターンを形成せしめる工
程と、基体上面に形成したレジストパターンに従って基
体上面に配線形成処理を施すことによって基体上面に所
定の配線を形成する工程と、基体下面に形成したレジス
トパターンに従って下面のビアホールに相当する部分の
金属層を溶解して絶縁性樹脂を露出させた後、該絶縁性
樹脂の露出部を溶解して所定のビアホールを形成する工
程と、ビアホール形成後の基体下面に金属薄膜層を形成
した後、該金属薄膜層上に再び感光性レジスト層を形成
し、該レジスI−層上に所定の配線パターンを有するフ
ォトマスクを施して光を照射した後現像して基体下面に
レジストパターンを形成し、該レジストパターンに従っ
て配線形成処理を施すことによって基体下面に所定の配
線を形成する工程とよりなり、基体上下面に形成した所
定の配線を絶縁性樹脂基体に形成したビアホールによっ
て電気的に導通させることによってスルーホールの形成
を行なうことを特徴としたものである。That is, the method for manufacturing a double-sided wiring board according to the present invention uses an electrically insulating synthetic resin (hereinafter referred to as "insulating resin") such as polyimide.
The base is a film with metal layers formed on both sides without using an adhesive. After forming a photosensitive resist layer on the metal layers on both sides of the base, a predetermined wiring pattern is mainly formed on the resist layer on the top surface of the base. A photomask having a predetermined via hole pattern is applied to the resist layer on the lower surface of the substrate, and after irradiation with light, the resist layers on both sides are developed, and a resist pattern of each shape is formed on both sides of the substrate. A step of forming a predetermined wiring on the upper surface of the substrate by performing a wiring forming process on the upper surface of the substrate according to the resist pattern formed on the upper surface of the substrate, and a step of forming a predetermined wiring on the lower surface of the substrate according to the resist pattern formed on the lower surface of the substrate. A step of melting a portion of the metal layer to expose an insulating resin, and then melting the exposed portion of the insulating resin to form a predetermined via hole, and forming a metal thin film layer on the bottom surface of the substrate after the via hole is formed. After that, a photosensitive resist layer is formed again on the metal thin film layer, a photomask having a predetermined wiring pattern is applied on the resist I-layer, irradiated with light, and then developed to form a resist pattern on the lower surface of the substrate. The process consists of forming a predetermined wiring on the bottom surface of the substrate by carrying out a wiring formation process according to the resist pattern, and electrically conducting the predetermined wiring formed on the top and bottom surfaces of the substrate through via holes formed in the insulating resin substrate. The feature is that through-holes are formed by
本発明において、基体上面に施される配線の形成処理は
予め基体上面に施される金属層の厚みによって異なる方
法が採用される。In the present invention, different methods are used for forming the wiring on the upper surface of the substrate depending on the thickness of the metal layer applied on the upper surface of the substrate in advance.
即ち基体上面に施される金属層を薄層のいわゆる下地金
属層とした場合には、基体上面に形成したレジストパタ
ーンに従って露出した該下地金属層上に電気めっきによ
って金属めっき層を積層させて、該積層金属層に、よる
配線面形体を形成した後、該基体上面のレジストおよび
その下に存在する下地金属層を溶解して配線を形成する
いわゆるセミアデイティブ法が適用され、まな基体上面
に施される金属層の厚さを最初から所望される配線の高
さに匹敵するような厚さにして形成した場合には、基体
上面に形成したレジストパターンに従って露出した金属
層をエツチングした後、非エツチング金属層上のレジス
トを溶解除去するのみで配線が形成されるいわゆるサブ
トラクティブ法が採用される。That is, when the metal layer applied to the upper surface of the substrate is a thin so-called base metal layer, a metal plating layer is laminated by electroplating on the exposed base metal layer according to a resist pattern formed on the upper surface of the base. After forming a wiring surface shape on the laminated metal layer, a so-called semi-additive method is applied to form wiring by dissolving the resist on the top surface of the substrate and the underlying metal layer existing thereunder, and then forming a wiring surface on the top surface of the substrate. If the thickness of the metal layer to be applied is initially formed to be comparable to the height of the desired wiring, after etching the exposed metal layer according to the resist pattern formed on the top surface of the substrate, A so-called subtractive method is used in which wiring is formed by simply dissolving and removing the resist on the non-etched metal layer.
また絶縁性樹脂基体に対するビアホールの形成は、基体
下面に形成したレジストパターンに従って露出した金属
層をエツチングして絶縁性樹脂部を露出させ、該絶縁性
樹脂の露出部を溶解除去するいわゆるエツチング法によ
るか、またはレジストパターンに従って露出した金属層
上に電気めっきによって金属めっき層を積層させて該積
層金属による金属パターンを形成させた後、該レジスト
およびレジスト下に存在する金属層を溶解除去して、こ
れによって露出した絶縁性樹脂を溶解除去するいわゆる
セミアデイティブ法によるが、さら−11,−
に他の方法として、下面に形成したレジストパターンに
従って露出した金属層をエツチングして絶縁性樹脂部を
露出させた後、レジストパターンを除去してレジスト下
の金属層を露出させ該露出金属層上に電気めっきによっ
て金属めっき層を積層し、絶縁性樹脂の露出部を溶解除
去するエツチング法とセミアデイティブ法との併用法に
よるかのいずれかの方法を採用して行なうことができる
。In addition, via holes are formed in the insulating resin substrate by a so-called etching method in which the exposed metal layer is etched according to a resist pattern formed on the bottom surface of the substrate to expose the insulating resin portion, and the exposed portion of the insulating resin is dissolved and removed. Alternatively, a metal plating layer is laminated by electroplating on the exposed metal layer according to the resist pattern to form a metal pattern of the laminated metal, and then the resist and the metal layer existing under the resist are dissolved and removed, A so-called semi-additive method is used to dissolve and remove the exposed insulating resin, but another method is to etch the exposed metal layer according to a resist pattern formed on the bottom surface to remove the insulating resin part. After exposure, the resist pattern is removed to expose the metal layer under the resist, a metal plating layer is deposited on the exposed metal layer by electroplating, and the exposed portion of the insulating resin is dissolved and removed using an etching method and a semi-adhesive method. This can be carried out by using either a combined method with a multilayer method.
本発明は上述したように基体の上面および下面の両面に
配線を形成し、上面の配線と下面の配線とをビアホール
を介して部分的に導通させるものであるが、基体下面に
おける配線の形成は、ビアホール形成後の基体下面に金
属薄膜層を形成し、該金属薄膜層上に再度感光性レジス
ト層を形成して、該レジスト層上に所定の配線パターン
を有するフォトマスクを施して露光、感光を行なうこと
によって再度レジストパターンを形成し、このようにし
て再度形成したレジストパターンに従って露出した金属
薄膜層上に電気めっきによって金属めっき層を積層した
後レジスト層を溶解除去し、これによって露出したレジ
スト下の金属薄膜層およびその下に存在する金属層を溶
解除去するセミアデイティブ法によるか、またはビアホ
ール形成後の基体下面に形成した金属薄膜層上に直ちに
電気めっきによる金属めっき層を積層して積層金属層を
形成し、しかる後上記と同様の手順で再度レジストパタ
ーンを形成し、該レジストパターンに従って露出した積
層金属層を溶解除去し、さらに残存するレジストを溶解
除去するサブトラクティブ法によるかのいずれかの方法
か採用される。As described above, in the present invention, wiring is formed on both the upper and lower surfaces of the substrate, and the wiring on the upper surface and the wiring on the lower surface are partially electrically connected through via holes. After forming the via hole, a metal thin film layer is formed on the lower surface of the substrate, a photosensitive resist layer is again formed on the metal thin film layer, a photomask having a predetermined wiring pattern is applied on the resist layer, and exposed and exposed. A resist pattern is formed again by performing this process, and a metal plating layer is deposited by electroplating on the exposed metal thin film layer according to the resist pattern formed again in this way, and then the resist layer is dissolved and removed. Either by a semi-additive method that dissolves and removes the underlying metal thin film layer and the metal layer existing thereunder, or by laminating a metal plating layer by electroplating immediately on the metal thin film layer formed on the bottom surface of the substrate after the via hole is formed. A subtractive method is used in which a laminated metal layer is formed, a resist pattern is then formed again in the same manner as above, the exposed laminated metal layer is dissolved and removed according to the resist pattern, and the remaining resist is further dissolved and removed. Either method will be adopted.
上記したように、基体上下面における配線の形成、絶縁
性樹脂に対するビアホールの形成にはそれぞh幾つかの
形成手段があるが、本発明においてはこれらの各手段を
適宜組み合わせることによって所期の性能を有する両面
配線板を容易に得ることができる。As mentioned above, there are several methods for forming wiring on the upper and lower surfaces of the substrate and forming via holes in the insulating resin, but in the present invention, the desired results can be achieved by appropriately combining these methods. A double-sided wiring board with high performance can be easily obtained.
(作用)
次に本発明による両面配線板の製造方法についての詳細
とその作用を図面に基づいて説明する。(Function) Next, details of the method for manufacturing a double-sided wiring board according to the present invention and its function will be explained based on the drawings.
第1図は本発明の両面配線板の製造方法についての基本
工程図を示したものである。FIG. 1 shows a basic process diagram of the method for manufacturing a double-sided wiring board of the present invention.
第1図に示したように本発明の工程は絶縁性樹脂フィル
ムの両面に接着剤によらずに金属層を形成してこれを基
体として、該基体の両面にそれぞれの配線の形成および
ビアホール形成のための各レジストパターンを形成する
工程、基体上面に形成されたレジストパターンに従って
行なわれる上面配線の形成工程、基体下面に形成された
レジストパターンに従って行なわれるビアホールの形成
工程およびビアホール形成後の基体下面に対して行なわ
れる下面配線の形成工程の各工程よりなるものであり、
また各工程中において行なわれる配線形成手段としては
セミアデイティブ法およびサブトラクティブ法の何れか
を、またビアホール形成手段にはエツチング法、セミア
デイティブ法、またはこれら両者の併用法の何れかを選
択して行なうものである。As shown in FIG. 1, the process of the present invention involves forming a metal layer on both sides of an insulating resin film without using an adhesive, using this as a base, and forming respective wiring and via holes on both sides of the base. A step of forming each resist pattern for the substrate, a step of forming upper surface wiring according to the resist pattern formed on the upper surface of the substrate, a step of forming a via hole according to the resist pattern formed on the lower surface of the substrate, and a step of forming the lower surface of the substrate after forming the via hole. It consists of each step of the bottom wiring formation process performed on the
In addition, the wiring formation method used in each process is either a semi-additive method or a subtractive method, and the via hole formation method is an etching method, a semi-additive method, or a combination of both. This is what we do.
第2図(a)、(b)および第3図(a)、(b)はそ
れぞれ本発明による両面配線板において上面配線をセミ
アデイティブ法およびサブトラクティブ法によって実施
した場合における加工工程の概略を工程順を追って図示
した工程説明図であり、第4図は本発明によって得られ
た両面配線板の1例を示すものの外観を示す部分平面図
である。FIGS. 2(a), (b) and 3(a), (b) are schematic diagrams of processing steps in the case where upper surface wiring is performed by semi-additive method and subtractive method, respectively, on a double-sided wiring board according to the present invention. FIG. 4 is a step-by-step diagram illustrating the process step by step, and FIG. 4 is a partial plan view showing the appearance of one example of a double-sided wiring board obtained by the present invention.
第2図および第3図における(a)は第4図におけるX
−Y断面に、また(b)はX=Y′断面に相当する部分
の断面図である。(a) in Figures 2 and 3 is X in Figure 4.
-Y section, and (b) is a sectional view of a portion corresponding to the X=Y' section.
第2図および第3図における(a)、(b)の左右同列
に示される(伺乃至(ト)は同一工程での材料断面の状
態を表したものである。In FIGS. 2 and 3, (a) and (b) are shown on the same side on the left and right ((g) to (g) represent the state of the cross section of the material in the same process.
また、工程説明図中第2段目における(口)はビアホー
ル形成のための基体下面の銅層パターンをエツチング法
によった場合の、(口゛)はセミアデイティブ法によっ
た場合の、また(口“)はエツチング法とセミアデイテ
ィブ法とを併用した場合の断面図を、また、第5および
第6段目における(ホ)および(へ)は下面配線の形成
をセミアデイティブ法で行なった場合の、(ホ“)およ
び(へ°)はサブトラクティブ法で行なった場合の断面
を示すものである。In addition, the (opening) in the second stage of the process explanatory diagram indicates the case where the copper layer pattern on the bottom surface of the substrate for forming via holes was formed by the etching method, and the (opening) indicates the case when the semi-additive method was used. In addition, () shows a cross-sectional view when both the etching method and the semi-additive method are used, and (e) and (f) in the fifth and sixth rows show the semi-additive method for forming the bottom wiring. (H") and (H°) show the cross-sections when the subtractive method was used.
第5図は本発明において基体上面に施される配線パター
ン形成用フォトマスクの一例を、また第6図および第7
図はそれぞれビアホールパターン形成用のフォトマスク
の例を示したものである。FIG. 5 shows an example of a photomask for forming a wiring pattern applied to the upper surface of a substrate in the present invention, and FIGS.
Each figure shows an example of a photomask for forming a via hole pattern.
またさらに第8図および第9図はそれぞれ本発明におい
て基体下面に施される配線パターン形成用のフォトマス
クの例を示したものである。Furthermore, FIGS. 8 and 9 each show an example of a photomask for forming a wiring pattern applied to the lower surface of a substrate in the present invention.
第2図および第3図において1は上面金属層、2は下面
金属層、3は絶縁性樹脂基体、4および5はそれぞれ上
面金属層1および下面金属層2に形成された感光性レジ
スト層である。In FIGS. 2 and 3, 1 is an upper metal layer, 2 is a lower metal layer, 3 is an insulating resin substrate, and 4 and 5 are photosensitive resist layers formed on the upper metal layer 1 and the lower metal layer 2, respectively. be.
6および7は、それぞれ上下面のレジスト層4および5
上に所定の目的に従ってマスキングを施して露光および
現像処理を施すことにより形成した各種のレジストパタ
ーンである。6 and 7 are resist layers 4 and 5 on the upper and lower surfaces, respectively.
These are various resist patterns formed by masking, exposing and developing according to a predetermined purpose.
8は上面のレジストパターン6に従って形成した所望の
パターンを有する配線、9は配線8形成後の上面全体に
亘って被覆した有機樹脂被膜層である。10は下面のレ
ジストパターン7に従って形成した金属層パターンであ
る。8 is a wiring having a desired pattern formed according to the resist pattern 6 on the upper surface, and 9 is an organic resin coating layer that covers the entire upper surface after the wiring 8 is formed. 10 is a metal layer pattern formed according to the resist pattern 7 on the lower surface.
11は基体下面における金属層パターン10の形成=
16−
によって露出した絶縁性樹脂を溶解することによって得
られたビアホールである。11 is the formation of the metal layer pattern 10 on the lower surface of the substrate=
This is a via hole obtained by melting the insulating resin exposed by 16-.
12は上記ビアポール形成後の基体下面全体に被着した
金属薄膜層である。13は金属薄膜層12形成後の基体
下面に形成したレジスト層、14は該レジスト層13を
露光、現像して得られたレジストパターンである。Reference numeral 12 denotes a metal thin film layer deposited on the entire lower surface of the substrate after the via poles are formed. 13 is a resist layer formed on the lower surface of the substrate after forming the metal thin film layer 12, and 14 is a resist pattern obtained by exposing and developing the resist layer 13.
まな15は基体下面において、ビアホール12を介して
上面の配線8の一部と電気的な導通が図られるように形
成された下面の配線である。The pin 15 is a lower wiring formed on the lower surface of the substrate so as to be electrically connected to a part of the wiring 8 on the upper surface via the via hole 12.
次に本発明の両面配線板の製造方法について、基体両面
における金属層およびレジストパターンの形成工程、基
体上面における配線の形成工程、基体下面におけるビア
ホールの形成工程および基体下面における配線の形成工
程の各工程について順を追って説明する。Next, regarding the manufacturing method of the double-sided wiring board of the present invention, each of the steps of forming metal layers and resist patterns on both sides of the substrate, forming wiring on the upper surface of the substrate, forming via holes on the lower surface of the substrate, and forming wiring on the lower surface of the substrate will be described. The process will be explained step by step.
金属層およびレジストパターンの形成工程:本発明にお
いては基本的に上下両面に、金属層1および金属層2を
接着剤によらずに被着形成したテープ状の絶縁性樹脂フ
ィルムが基体3として使用される。本発明において使用
に供される絶縁性樹脂としてはポリイミド樹脂、アクリ
ル樹脂、ポリアミド樹脂、フッ化炭素樹脂、ポリスルフ
ォン樹脂、ポリイミドアミド樹脂、シリコン樹脂等が挙
げられる。Formation process of metal layer and resist pattern: In the present invention, basically, a tape-shaped insulating resin film is used as the base 3, with metal layer 1 and metal layer 2 formed on both upper and lower surfaces without using an adhesive. be done. Insulating resins that can be used in the present invention include polyimide resins, acrylic resins, polyamide resins, fluorocarbon resins, polysulfone resins, polyimide amide resins, silicone resins, and the like.
絶縁性樹脂フィルム基体3の上下両面に形成する金属層
1および2は該基体表面にスパッタ法、真空蒸着法、ま
たは無電解めっき法によるか或いはこれらの方法を組み
合わせて金属層を形成させるか、これらの方法にさらに
電解めっき法を組み合わせてもよく、要は絶縁性樹脂基
体に接着剤を施すことなく直接的に金属層を形成せしめ
る方法ならば何れの方法でも採用することができる。The metal layers 1 and 2 to be formed on both the upper and lower surfaces of the insulating resin film base 3 may be formed on the surface of the base by sputtering, vacuum evaporation, electroless plating, or a combination of these methods. These methods may be further combined with an electrolytic plating method, and in short, any method can be employed as long as it forms a metal layer directly on the insulating resin substrate without applying an adhesive.
また、基体3上に形成する金属層は電気的性能およびコ
スト面から一般には銅が採用されるが、ポリイミド基体
と銅の間にクロム、ニッケル等の他の金属薄膜層が存在
しても何等差し支えない。Furthermore, copper is generally used as the metal layer formed on the substrate 3 from the viewpoint of electrical performance and cost, but even if there is a thin film layer of other metals such as chromium or nickel between the polyimide substrate and the copper, there will be no problem. No problem.
また基体上面に形成する金属層1の厚みは配線の形成が
セミアデイティブ法によって行なわれる場合には、配線
の形成に際して行なわれる電気めっき層の形成時におけ
る前処理でのソフトエツチングに耐え得る厚みであれば
よく、特に制限はないが後述するような配線の独立のた
めの上面金属1の部分的な溶解工程の作業性に鑑みて0
.5〜2μmの範囲にあることが望ましい。In addition, when the wiring is formed by a semi-additive method, the thickness of the metal layer 1 formed on the top surface of the substrate is such that it can withstand soft etching in the pre-treatment during the formation of the electroplated layer that is performed when forming the wiring. There is no particular restriction, but in view of the workability of the partial melting process of the upper surface metal 1 for independent wiring as will be described later.
.. The thickness is preferably in the range of 5 to 2 μm.
また配線の形成がサブトラクティブ法によって行なわれ
る場合には、上面金属層1の厚さはレジスト類似4か形
成される前に所望の配線厚さと同等にしておく必要があ
る。従って金属層]−は前述したスパッタ法等で、絶縁
性樹脂基体上面にまず金属薄膜層を形成した後、さらに
その上面に電気めっきによって所定厚さになるまでめっ
き金属を被着させて肉盛りするのがよい。通常要求され
る配線の厚さは約35μm程度までである。Further, when the wiring is formed by a subtractive method, the thickness of the upper metal layer 1 must be made equal to the desired wiring thickness before the resist layer 4 is formed. Therefore, the metal layer is formed by first forming a metal thin film layer on the top surface of the insulating resin substrate using the sputtering method described above, and then depositing plated metal on the top surface by electroplating until a predetermined thickness is reached. It is better to do so. The thickness of the wiring normally required is up to about 35 μm.
また、基体下面に形成される金属層2の厚さは絶縁性樹
脂に対する所定のビアホール形成のための金属層パター
ンの形成がエツチング法によって行なわれる場合には、
金属層2はその後に行なわれる絶縁性樹脂の溶解工程に
おいてレジスト類似の役割を果たすものであるから、該
絶縁性樹脂温−1,9−
解のための溶解液に耐えられること、ピンポール欠陥等
による不要部分の絶縁性樹脂の溶解や金属層2の基体か
らの剥離防止を考慮する必要があること、およびレジス
トパターン形成後の金属層2の溶解工程における溶解の
し易さ等を考慮すると2〜5μm程度の範囲にすること
が望ましい。In addition, the thickness of the metal layer 2 formed on the lower surface of the substrate is determined by etching when forming a metal layer pattern for forming a predetermined via hole in an insulating resin.
Since the metal layer 2 plays a role similar to a resist in the subsequent melting process of the insulating resin, it must be able to withstand the solution for dissolving the insulating resin at a temperature of -1,9- and avoid pin-pole defects. Considering that it is necessary to take into account the dissolution of the insulating resin in unnecessary parts and the prevention of peeling of the metal layer 2 from the base, and the ease of dissolution in the dissolution process of the metal layer 2 after forming the resist pattern, etc. It is desirable that the thickness be in the range of about 5 μm.
また金属層パターンの形成をセミアデイティブ法で行な
うときには、後述するようにレジストパターン形成後、
金属層2上に電気めっきによる肉盛りを行なうので、金
属層2の厚さは電気めっきの前処理に際してのソフトエ
ツチングに耐え得る厚さであればよく、特に制限はない
が電気めっき後に行なわれる金属層2の溶解工程におけ
る溶解のし易さを考慮すれば]9μm未満であることが
望ましく、0.2〜1μmの厚さが適当である。In addition, when forming a metal layer pattern by a semi-additive method, as described later, after forming a resist pattern,
Since overlay is performed on the metal layer 2 by electroplating, the thickness of the metal layer 2 only needs to be thick enough to withstand soft etching during pre-treatment of electroplating, and there is no particular restriction, but the thickness may be applied after electroplating. Considering the ease with which the metal layer 2 can be dissolved in the melting process], the thickness is preferably less than 9 μm, and the appropriate thickness is 0.2 to 1 μm.
またさらに、エツチング法とセミアデイティブ法とを併
用する場合にも、同様の理由により金属層2の厚さは0
.1〜1μmの範囲とすることが望ましい。Furthermore, when using both the etching method and the semi-additive method, the thickness of the metal layer 2 is reduced to 0 for the same reason.
.. It is desirable to set it as the range of 1-1 micrometer.
基体上面に形成するレジスト層4の厚さは配線の形成が
セミアデイティブ法で行なわれる場合には、配線の厚さ
が35μm以上であることが要求されていることからそ
れ以上の厚さにする必要がある。また配線の形成がサブ
トラクティブ法により行なわれる場合には特に厚さの制
限はないが、レジストパターン6形成後の金属層1の溶
解後のパターン精度を考慮すると1〜10μm程度が適
当である。The thickness of the resist layer 4 formed on the top surface of the substrate must be greater than 35 μm since the wiring is required to have a thickness of 35 μm or more when the wiring is formed by a semi-additive method. There is a need to. Further, when the wiring is formed by a subtractive method, there is no particular limitation on the thickness, but in consideration of the pattern accuracy after dissolving the metal layer 1 after forming the resist pattern 6, a thickness of about 1 to 10 μm is appropriate.
レジストの種類は上記の厚さに塗布し得るものであって
、且つ上面における配線の形成に際して行なわれる電気
めっきまたは金属層1の溶解および下面の金属層パター
ンの形成に際して行なわれる金属層2の溶解等に使用さ
れるめっき液や金属溶解液に耐え得るものであれば一般
市販のもので充分であり、アクリル樹脂等に感光性の官
能基を付与することによって、光照射部分が現像時に未
溶解部として残るネガ型レジスト、ノボラック樹脂等に
感光性の官能基を付与することによって、光照射部分が
現像時に溶解するポジ型レジストがあるが、フォトマス
クのパターンを反転することによって、何れの型のレジ
ストでも使用可能である。また、状態としては液状のも
のでも固形化してドライフィルムとしたものでもその何
れをも使用できる。The type of resist is one that can be applied to the above thickness, and is suitable for electroplating or melting of metal layer 1 when forming wiring on the upper surface and melting of metal layer 2 when forming a metal layer pattern on the lower surface. General commercially available products are sufficient as long as they can withstand the plating solutions and metal solutions used in acrylic resins, etc. By adding photosensitive functional groups to acrylic resins, etc., the light-irradiated areas can be undissolved during development. There are negative-tone resists that remain as parts, and positive-tone resists in which the light-irradiated areas dissolve during development by adding a photosensitive functional group to the novolac resin, etc. However, by reversing the pattern of the photomask, it is possible to It can also be used with other resists. In addition, either a liquid state or a solidified dry film state can be used.
液状レジストを使用する場合には基体の下地金属層上へ
の塗布はバー1ド法、デイツプ1ト法、スピン1ド法等
の一般的塗布方法のほか、レジスト液を帯電させ噴霧状
に塗布する静電塗布法を採用してもよい。When using a liquid resist, coating onto the base metal layer of the substrate can be done by general coating methods such as bard method, dip method, spin method, etc., or by charging the resist liquid and applying it in a spray form. An electrostatic coating method may also be used.
なお、金属層1および2の溶解液としては、−般的には
塩酸、硫酸、硝酸などの酸性溶液、塩化鉄溶液、塩化銅
溶液等の金属塩化物溶液、過硫酸アンモニウム溶液等の
過酸化物溶液が用いられるのであるから、レジストはこ
れらの溶液に耐え得るものであればよいということにな
る。The solution for the metal layers 1 and 2 is generally an acidic solution such as hydrochloric acid, sulfuric acid, or nitric acid, a metal chloride solution such as an iron chloride solution or a copper chloride solution, or a peroxide solution such as an ammonium persulfate solution. Since solutions are used, the resist only needs to be able to withstand these solutions.
またときには溶解液としてアルカリ性溶液を使用するこ
ともあるが、この場合においては耐アルカリ性のレジス
トを用いればよい。Further, an alkaline solution is sometimes used as the dissolving solution, but in this case, an alkali-resistant resist may be used.
一般的にレジストによってパターンを形成するにはレジ
ストを塗布後レジストに含まれる溶剤を除去する必要が
ある。これはレジスト自体の強度を向上させると同時に
レジストと下地金属との密着性を高めるために行なわれ
るものであり、溶剤の除去は通常乾燥処理によって行な
われるが、この際における処理温度はレジストの解像度
を低下させない範囲で高めにするのがよい。Generally, in order to form a pattern using a resist, it is necessary to remove the solvent contained in the resist after applying the resist. This is done to improve the strength of the resist itself and at the same time to increase the adhesion between the resist and the underlying metal.The solvent is usually removed by drying, but the processing temperature at this time depends on the resolution of the resist. It is best to set it as high as possible without lowering the value.
また、露光、現像後に形成したパターンをより強固にす
るために加熱処理を行なうこともあるがこの場合には前
述の溶剤乾燥処理のときの温度よりも高い温度が採用さ
れる。Further, in order to make the formed pattern stronger after exposure and development, a heat treatment is sometimes performed, but in this case, a temperature higher than that used in the above-mentioned solvent drying treatment is employed.
次に、金属層上に形成したレジスト層4および5に対し
て所望のパターンのフォトマスクを施して、それぞれに
適量の光を照射しこれを現像して、下地金属層]−上に
レジストパターン6を、また下地金属層2上にレジスト
パターン7を形成するのであるが、基体上面のレジスト
層4には現像後生として配線パターンが形成されるよう
なフ第1へマスクを、下面のレジスト層5には主として
ビアホールパターンが形成されるようなフォトマスクが
使用される。Next, a photomask with a desired pattern is applied to the resist layers 4 and 5 formed on the metal layer, each is irradiated with an appropriate amount of light and developed, and a resist pattern is formed on the base metal layer. 6, and a resist pattern 7 is formed on the base metal layer 2. A first mask is applied to the resist layer 4 on the upper surface of the substrate so that a wiring pattern will be formed after development, and a mask is applied to the resist layer 4 on the lower surface. 5, a photomask on which a via hole pattern is mainly formed is used.
基体上面の配線パターンを形成するためのフォトマスク
は例えば第5図に示すようなものが挙げられるが、この
他スプロケットホールの如きホールパターンを併有して
もよい。The photomask for forming the wiring pattern on the upper surface of the substrate includes, for example, the one shown in FIG. 5, but it may also have a hole pattern such as a sprocket hole.
また、基体下面のビアホールパターン形成のためのフォ
トマスクは、例えば第6図またはこれを反転させて得ら
れる第7図に示されるものを例として挙げることができ
る。Further, as a photomask for forming a via hole pattern on the lower surface of the substrate, for example, a photomask shown in FIG. 6 or an inverted version of the photomask shown in FIG. 7 can be cited.
レジストの感光のために照射する光の波長等はレジスト
の特性によって決定されるが、一般的には紫外線が使用
される。またここで云うフォトマスクとはガラスや透光
性のプラスチックフィルムに銀等を含む乳剤やクロム等
の金属を焼き付けたものを云う。Although the wavelength of the light irradiated to expose the resist is determined by the characteristics of the resist, ultraviolet rays are generally used. Furthermore, the photomask referred to herein refers to one in which an emulsion containing silver or a metal such as chromium is baked onto glass or a translucent plastic film.
露光方法としてはレジスト面とフォトマスクを密着させ
て行なう密着露光法と、レジスト面とフォトマスクを一
定の距離を隔てて平行に並べて行なう投影露光法とがあ
るが、本発明においては何れの方法を採用してもよい。There are two types of exposure methods: a contact exposure method in which the resist surface and a photomask are brought into close contact with each other, and a projection exposure method in which the resist surface and the photomask are arranged parallel to each other at a certain distance. may be adopted.
(以上第2図および第3図(イ) 、(o) 、(0“
)および(口゛)参照〉
基体上面における配線の形成工程:
基体上面における配線の形成にはセミアデイティブ法ま
たはサブトラクティブ法のいずれかの方法が探られる。(See Figure 2 and Figure 3 (a), (o), (0“
) and (2) Formation process of wiring on the upper surface of the substrate: Either a semi-additive method or a subtractive method is explored for forming wiring on the upper surface of the substrate.
配線の形成をセミアデイティブ法で行なうには基体上面
に形成したレジストパターン6に従って生じた金属層1
の露出部分に電気めっきによって積層後の金属層が所望
の配線厚さ、即ち35μm以上の厚さになるように金属
めっき層を積層して配線前形体を形成した後、レジスト
パターン6を溶解除去し、さらにレジストパターン除去
後の基体上面の金属層1を溶解除去して配線8を電気的
に独立した状態にする。In order to form wiring by a semi-additive method, a metal layer 1 formed according to a resist pattern 6 formed on the upper surface of the substrate is used.
After forming a wiring preform by laminating a metal plating layer on the exposed portion of the metal layer by electroplating so that the metal layer after lamination has the desired wiring thickness, that is, a thickness of 35 μm or more, the resist pattern 6 is dissolved and removed. Furthermore, the metal layer 1 on the upper surface of the substrate after the resist pattern has been removed is dissolved and removed to make the wiring 8 electrically independent.
また、配線形成をサブトラクティブ法によって行なう場
合には基体上面に形成したレジストパターン6に従って
生ずる金属層1の露出部分を溶解することによって配線
8を形成する。金属層1の溶解は浸漬法、スプレー法い
ずれを使用してもよくまたこれらの方法を組合わせて行
なってもよい。Further, when wiring is formed by a subtractive method, the wiring 8 is formed by dissolving the exposed portion of the metal layer 1 that is generated according to the resist pattern 6 formed on the upper surface of the substrate. The metal layer 1 may be dissolved using either a dipping method or a spray method, or a combination of these methods may be used.
配線の形成後、基体上面全体に亘って有機樹脂被膜9を
被覆する。この有機樹脂被膜9による被覆はこれに続く
工程において表面に露出した絶縁性樹脂の保護をする役
割を有する。この有機樹脂の被覆工程に用いられる有機
樹脂は、以後に行なわれるビアポール形成処理に際して
の絶縁性樹脂の所定部分の溶解処理に際して使用される
絶縁性樹脂の溶解液に耐え得るものであればよく、絶縁
性樹脂にポリイミド樹脂を使用する場合には、その溶解
液には強アルカリ性溶液が使用されるのでゴム系、エポ
キシ系、シリコン系等の有機樹脂を使用すればよい。After the wiring is formed, an organic resin film 9 is applied over the entire upper surface of the substrate. This coating with the organic resin film 9 has the role of protecting the insulating resin exposed on the surface in the subsequent process. The organic resin used in this organic resin coating step may be any material as long as it can withstand the insulating resin solution used in dissolving a predetermined portion of the insulating resin in the subsequent via pole forming process. When polyimide resin is used as the insulating resin, a strong alkaline solution is used as the solution thereof, so organic resins such as rubber-based, epoxy-based, silicone-based, etc. may be used.
(以上第2図および第3図(ロ) 、(D’)、(口゛
)および(ハ)参照)
ビアホールの3成工程:
絶縁性樹脂における所定部分を溶解してビアホール11
を形成するための基体下面の金属層パターンの形成には
エツチング法、セミアデイティブ法およびその両者の併
用法の何れか採用される。(See Figures 2 and 3 (B), (D'), (C) and (C) above) Three forming steps for via holes: A predetermined portion of the insulating resin is melted to form via holes 11.
For forming the metal layer pattern on the lower surface of the substrate, an etching method, a semi-additive method, or a combination of both methods is employed.
ビアホール形成のための金属層パターン10の形成をエ
ツチング法によって行なう場合には、先ず基体下面に形
成したレジストパターン7に従って生じた金属層2の露
出部分を溶解することによって金属層パターン10を形
成し、該金属層パターン10の形成によって生じた絶縁
性樹脂3の露出部分を溶解することによってビアホール
11が所定の位置に形成される。When the metal layer pattern 10 for forming via holes is formed by etching, the metal layer pattern 10 is first formed by dissolving the exposed portion of the metal layer 2 formed according to the resist pattern 7 formed on the lower surface of the substrate. Via holes 11 are formed at predetermined positions by melting the exposed portions of the insulating resin 3 resulting from the formation of the metal layer pattern 10.
この絶縁性樹脂としてボワイミド樹脂を用いる場合の溶
解は抱水しドラジン、水酸化アルカリ等の強アルカリ性
溶液を単独もしくは混合し、さらにはメチルアル1ル、
エチルアル1ル、プロピルアル1ル等を混合した溶液で
行なえばよい。When Voymide resin is used as this insulating resin, it can be dissolved by hydrating it and using a strong alkaline solution such as drazine, alkali hydroxide alone or in combination, and methyl alkaline,
This may be carried out using a mixed solution of ethyl alyl, propyl alyl, etc.
また金属層パターン10の形成をセミアデイティブ法に
よって行なう場合には基体下面に形成されたレジストパ
ターンに従って生じた金属層2の露出部分に電気めっき
を施してめっき金属による肉盛りを行なう。When the metal layer pattern 10 is formed by a semi-additive method, the exposed portion of the metal layer 2 formed in accordance with the resist pattern formed on the lower surface of the substrate is electroplated to build up the plating metal.
この電気めっきを行なった後の金属層は後述する絶縁性
樹脂の溶解工程においてレジスト類似の役割を果たすも
のであるから、当然のことながら絶縁性樹脂の溶解液に
耐えることが必要であり、またさらにピンホール等の欠
陥による絶縁性樹脂の不必要部分の溶解や、溶解作業の
実施に際しての金属層2の剥離防止等を考慮してその厚
さを定めなければならない。この意味から電気めっきに
よるめっき金属積層後の金属層の厚さは、2μm以上、
好ましくは2〜5μm程度の範囲にするのが適当て゛あ
る。しかる後、レジストパターン7およびその下に存在
する金属層2を溶解して金属層パターン10を形成する
。次いで、該金属層パターン10の形成によって生じた
絶縁性樹脂3の露出部分を溶解してビアホール11を形
成することができる。The metal layer after this electroplating plays a role similar to a resist in the insulating resin melting process described later, so it naturally needs to be able to withstand the insulating resin solution. Furthermore, the thickness must be determined in consideration of melting of unnecessary portions of the insulating resin due to defects such as pinholes, and prevention of peeling of the metal layer 2 during melting work. In this sense, the thickness of the metal layer after lamination of plated metal by electroplating is 2 μm or more,
Preferably, the thickness is in the range of about 2 to 5 μm. Thereafter, the resist pattern 7 and the metal layer 2 existing thereunder are dissolved to form the metal layer pattern 10. Next, the exposed portion of the insulating resin 3 resulting from the formation of the metal layer pattern 10 can be dissolved to form the via hole 11.
また、ビアホール形成のための金属層パターン10の形
成をエツチング法およびセミアデイティブ法を併用して
行なう場合には、基体下面に形成したレジストパターン
に従って露出した金属層2の露出部分を溶解し、次いで
レジストパターン7のレジストを溶解してその下に存在
する金属層2を露出させ、その上に電気めっきによって
金属層を肉盛りして金属層パターンを形成する。このと
きの積層後の金属層パターン10の厚さは2〜5μm程
度とするのが適当であることは前述した通りである。金
属層パターン10形成後、絶縁性樹脂3の露出部分を溶
解してビアホール11を形成するものであることも前述
した場合と変りない。In addition, when forming the metal layer pattern 10 for forming via holes by using a combination of etching method and semi-additive method, the exposed portion of the metal layer 2 is melted according to the resist pattern formed on the lower surface of the substrate. Next, the resist of the resist pattern 7 is dissolved to expose the underlying metal layer 2, and a metal layer is deposited thereon by electroplating to form a metal layer pattern. As mentioned above, it is appropriate that the thickness of the metal layer pattern 10 after lamination at this time is about 2 to 5 μm. It is also the same as the case described above that after forming the metal layer pattern 10, the exposed portion of the insulating resin 3 is melted to form the via hole 11.
また、金属層パターン10の形成によって露出した絶縁
性樹脂を除去して所定のビアホール11を形成する方法
としては、基体を露出絶縁性樹脂が溶解可能な溶液中に
浸漬し、該露出部分を溶解除去するいわゆる湿式エツチ
ングの外に、露出絶縁性樹脂にレーザー光線を照射して
、該露出部分を光学的に除去する方法がある。Further, as a method of forming a predetermined via hole 11 by removing the insulating resin exposed by forming the metal layer pattern 10, the substrate is immersed in a solution that can dissolve the exposed insulating resin, and the exposed portion is dissolved. In addition to so-called wet etching, there is a method of optically removing the exposed portions by irradiating the exposed insulating resin with a laser beam.
このレーザー光線を使用する方法では、炭酸ガスレーザ
ーやエキシマレーザ−を用いることが可能であるが、こ
の場合においてはマスクと類似の役目を果たす金属層パ
ターン10に損傷を与えないように注意してレーザーパ
ワーの調節を行なう必要がある。なお、ビアホール11
をレーザーによって形成する方法を採用する場合には、
基体上面における配線8形成直後の有機樹脂被膜9の形
成を省略することができる。In this method of using a laser beam, it is possible to use a carbon dioxide laser or an excimer laser, but in this case, care must be taken not to damage the metal layer pattern 10, which plays a similar role as a mask. It is necessary to adjust the power. In addition, beer hall 11
When using a method of forming by laser,
Formation of the organic resin film 9 immediately after the formation of the wiring 8 on the upper surface of the base body can be omitted.
これらビアホール形成工程によって形成されるビアホー
ル11の形状は真円、楕円、正方形、長方形等の形状が
考えられるが、このビアホールは基体上面に形成された
配線と基体下面側の配線ととの間の導通をはかるスルー
ホール形成が目的であるからその形状は特にこだわるも
のでない。The shape of the via hole 11 formed in these via hole forming steps can be a perfect circle, ellipse, square, rectangle, etc., but this via hole is formed between the wiring formed on the top surface of the substrate and the wiring on the bottom surface of the substrate. Since the purpose is to form a through hole for electrical conduction, its shape is not particularly important.
次に導電処理方法を用いてビアホール11の側面の露出
部をメタライズしつつ、基体下面全面に亘って金属薄膜
層12を形成する。この金属薄膜層12の形成は其の後
の基体下面における配線15の形成に必要であってその
形成に当たってはスパッタ法、真空蒸着法、等の乾式金
属被着法や無電解めっき法等の湿式金属被着法の何れも
採用することができる。Next, a metal thin film layer 12 is formed over the entire lower surface of the substrate while metalizing the exposed side surface of the via hole 11 using a conductive treatment method. The formation of this metal thin film layer 12 is necessary for the subsequent formation of the wiring 15 on the lower surface of the substrate, and its formation can be performed using a dry metal deposition method such as a sputtering method, a vacuum evaporation method, or a wet method such as an electroless plating method. Any metal deposition method can be employed.
(以上第2図および第3図(ハ)、仁)および(ホ)、
(ホ゛)参照)
基体下面における配線の形成工程:
基体下面における配線15の形成にはセミアディティブ
法またはザブI・ラクティブ法とが用いられる。(The above figures 2 and 3 (c), jin) and (e),
(See (v)) Step of forming wiring on the lower surface of the substrate: A semi-additive method or a sub-lactic method is used to form the wiring 15 on the lower surface of the substrate.
配線15の形成をセミアデイティブ法によって行なうに
は、先ず金属薄膜層12の上にレジスト層13を形成し
、配線パターンを有するフォトマスクを施して露光、現
像してビアホール11上にレジストが残らないようにレ
ジストパターン14を形成する。To form the wiring 15 by a semi-additive method, first, a resist layer 13 is formed on the metal thin film layer 12, and a photomask having a wiring pattern is applied, exposed and developed so that no resist remains on the via hole 11. The resist pattern 14 is formed so that there is no trace.
該フォトマスクの例としては例えば第7図に示すような
パターンを挙げることができる。An example of the photomask is a pattern as shown in FIG. 7, for example.
上記の如くしてレジストパターン14を形成することに
よって生じた金属薄膜層12の露出部分に金属電気めっ
き層を積層することによって、基体下面における配線部
を形成した後、レジストパターン14によるレジストを
除去し、次いでその下に存在する金属薄膜層12および
その下の金属層を溶解することによって、基体下面に配
線15を形成した基体を得ることができる。After forming a wiring section on the lower surface of the substrate by laminating a metal electroplating layer on the exposed portion of the metal thin film layer 12 created by forming the resist pattern 14 as described above, the resist formed by the resist pattern 14 is removed. Then, by melting the metal thin film layer 12 existing thereunder and the metal layer thereunder, it is possible to obtain a base body with wiring 15 formed on the lower surface of the base body.
なお基体下面の配線15を形成するために電気めっきに
よる金属めっき層の厚さは5〜30μm程度とするのが
適当て゛ある。In order to form the wiring 15 on the lower surface of the base, it is appropriate that the thickness of the metal plating layer formed by electroplating is about 5 to 30 μm.
= 31−
また、基体下面の配線をサブトラクティブ法によって行
なうときは、先ず金属薄膜層12上に電気めっきによっ
て金属めっき層を形成する。この厚さは同様に5〜35
μm程度が適当である。= 31- When wiring on the lower surface of the substrate is performed by a subtractive method, a metal plating layer is first formed on the metal thin film layer 12 by electroplating. This thickness is similarly 5 to 35
Approximately μm is appropriate.
次に、上記金属めっき層上にレジスト層13を形成した
後、これにレジストパターン14を形成する。Next, after forming a resist layer 13 on the metal plating layer, a resist pattern 14 is formed thereon.
レジストパターン14の形成によって露出した金属めっ
き層の露出部分、およびその下に存在する金属層を溶解
することによって基体下面に配線15を形成する。なお
、基体下面の配線形成のために用いられるフォトマスク
は、例えば第9図に示すようなパターンを挙げることが
できる。Wiring 15 is formed on the lower surface of the substrate by dissolving the exposed portion of the metal plating layer exposed by the formation of resist pattern 14 and the underlying metal layer. The photomask used for forming the wiring on the lower surface of the substrate may have a pattern as shown in FIG. 9, for example.
なお、これら基体下面における配線の形成工程において
使用されるレジストはさきにレジスト層4および5の形
成に際して使用されたものと同様のものが使用され、レ
ジストパターン14形成のための露光および現像や金属
層の溶解等の手順等も先のレジストパターン6および7
形成に際に行なわれた手順に準じて行なえばよい。Note that the resist used in the process of forming wiring on the lower surface of the substrate is the same as that used previously in forming the resist layers 4 and 5, and is used for exposure and development for forming the resist pattern 14, and for metallization. Procedures such as layer dissolution etc. are also the same as those for resist patterns 6 and 7.
It may be carried out in accordance with the procedure followed during formation.
最後に基体上面に被覆された有機樹脂被膜9を除去して
両面配線板製品が完成する。Finally, the organic resin film 9 coated on the top surface of the substrate is removed to complete the double-sided wiring board product.
(以上第2図および第3図(ホ)、(ホ“)、(へ)、
(へ°)、および(ト)参照)
以上の各工程を経て得られた本発明による両面配線板は
用途に応じ、金属露出部にさらに金または銀等によるめ
っきを全面的にまたは部分的に施して実用に供される。(See Figure 2 and Figure 3 (e), (e), (e),
(See (F) and (G)) The double-sided wiring board according to the present invention obtained through the above steps is further plated with gold or silver on the exposed metal portion, either entirely or partially, depending on the application. and put it into practical use.
以上述べたように本発明によるときは、各工程において
状況に応じ種々の手段を活用することによって的確に所
定の設計に基づく基体上下面における配線の形成、絶縁
性樹脂へのビアホールの形成による上下配線に対するス
ルーホールの形成を確実に行なうことができる。As described above, according to the present invention, wiring is formed on the upper and lower surfaces of the base body based on a predetermined design, and the upper and lower surfaces are formed by forming via holes in the insulating resin, by utilizing various means depending on the situation in each process. Through holes for wiring can be reliably formed.
(実施例) 次に本発明の実施例について述べる。(Example) Next, examples of the present invention will be described.
実施例においては、基体上面の配線の形成、ビアホール
の形成および基体下面の配線形成の各工程において施さ
れる手段を種々変えて網羅的に行ない、これを下記の記
号表示によって各実施例番号の横に工程順に手段別に示
した。In the examples, the steps of forming wiring on the top surface of the substrate, forming via holes, and forming wiring on the bottom surface of the substrate were performed comprehensively by changing various methods, and these were carried out comprehensively by using the symbols shown below to indicate each example number. The steps are shown next to each other in order of process.
上面配線の形成 A:セミアディティブ法B二すフ゛
トラクテイフ゛法
ビアホール形成 A;エツチング法
B;セミアデイティブ法
C;併用法
下面配線の形成 A:セミアディティブ法B:サブI
ヘラクチイブ法
実施例1 (A・A・A)
15c+uX15cmの大きさのポリイミド樹脂フィル
ム状基体(東し・デュポン社製、カプト7200■、厚
さ50μm )の両面に対し、硫酸銅10g/、1)
、EDTA60g/、(! 、ボルフ9フ6me/Lジ
ピリジル30■/ρ、ポリエチレングリ1ル0.5g/
fJの組成を有する無電解銅めっき液を用いてpH12
,5として70°Cで10分間の浸漬処理を行ない、銅
の無電解めっき被膜を形成した後、さらに硫酸銅100
g/、Q、硫酸180g/、1) 、の組成を有する電
気銅めっき液を用いて電流密度2A/dm2で電解を行
ない上面厚さ1μ…、下面厚さ2μmの銅による下地金
属層を形成させた。Formation of upper surface wiring A: Semi-additive method B Two-layer fabrication method Via hole formation A; Etching method B; Semi-additive method C; Combined method Formation of lower surface wiring A: Semi-additive method B: Sub-I
Herakutiib method Example 1 (A・A・A) Copper sulfate 10g/1) was applied to both sides of a polyimide resin film-like substrate (manufactured by Toshi DuPont, Caputo 7200, thickness 50μm) with a size of 15c + u x 15cm.
, EDTA 60g/, (!, Volf 9f 6me/L dipyridyl 30/ρ, Polyethylene glycol 1 0.5g/
pH 12 using an electroless copper plating solution having a composition of fJ
, 5 was immersed at 70°C for 10 minutes to form an electroless copper plating film, and then immersed in 100% copper sulfate.
Electrolysis is performed at a current density of 2 A/dm2 using an electrolytic copper plating solution having a composition of g/, Q, sulfuric acid 180 g/, 1) to form a base metal layer of copper with a top surface thickness of 1 μm and a bottom surface thickness of 2 μm. I let it happen.
次に、基体上面における下地金属層上に、感光性レジス
トとしてPHER、HC600(東京応化社製、ネガ型
フォトレジス1−)を用いて約40μmの厚さに、また
下面の下地銅層にも同様のレジストを用いて約5μmの
厚さにそれぞれバー1ターを用いて塗布し、それぞれ7
0℃に30分間乾燥処理を行なった後、上面のレジ21
〜層に50mm X 50mmの大きさで、配線ピッチ
200μm、配線幅100μm、配線数200本の配線
パターンを田の字形に配列して形成したガラス製のフ第
1へマスクをレジスト面に密着させ、該フォトマスクを
介して900mJの紫外線を照射し、下面のレジスト層
には上面と同様の大きさのガラス製で、上面の配線パタ
ーンに対応してビアホール100個を有するフォトマス
クをレジスト面に密着させ、該フォトマスクを介して1
00 mJの紫外線を照射して露光を行なった。Next, PHER, HC600 (manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd., negative photoresist 1-) was used as a photosensitive resist on the underlying metal layer on the upper surface of the substrate to a thickness of about 40 μm, and also on the underlying copper layer on the lower surface. A similar resist was applied to a thickness of approximately 5 μm using a barter, and each
After drying at 0°C for 30 minutes, the upper register 21
-A glass mask was formed by arranging a wiring pattern of 50 mm x 50 mm in size, a wiring pitch of 200 μm, a wiring width of 100 μm, and 200 wires in a cross-shaped pattern.The first mask was brought into close contact with the resist surface. , 900 mJ of ultraviolet rays were irradiated through the photomask, and a photomask made of glass and having 100 via holes corresponding to the wiring pattern on the upper surface was attached to the lower resist layer, and the photomask had the same size as the upper surface. 1 through the photomask.
Exposure was performed by irradiating 00 mJ of ultraviolet light.
なお、紫外線の照射は超高圧水銀灯(オーク製作所社製
)を使用した。Note that an ultra-high pressure mercury lamp (manufactured by Oak Seisakusho Co., Ltd.) was used for ultraviolet irradiation.
次に露光後の両面のレジスト層に対して現像液としてP
HER現像液(東京応化社製)を用いて上面側は25℃
で7分間、下面側は25°Cで2分間現像した後、それ
ぞれに110℃で30分間の乾燥処理を施して所定のレ
ジストパターンを形成した。Next, P as a developer is applied to the resist layers on both sides after exposure.
The upper surface was heated to 25°C using HER developer (manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.).
After developing for 7 minutes at 25° C. on the lower side and 2 minutes at 25° C., each was subjected to drying treatment at 110° C. for 30 minutes to form a predetermined resist pattern.
次に、下面側は塩化銅200g/、Q溶液を用いて50
°Cで3分間浸漬処理を行なうことにより露出した下地
銅層を溶解し、一方、上面側は前述の電気銅めっき液を
用いて電流密度2A/dm2で50分間電解を行ない、
厚さ35μmの銅層として配線部形体を形成した。Next, on the lower side, use 200 g of copper chloride and 50 g of Q solution.
The exposed underlying copper layer was dissolved by dipping at °C for 3 minutes, while the upper surface was electrolyzed for 50 minutes at a current density of 2 A/dm2 using the electrolytic copper plating solution mentioned above.
A wiring part shape was formed as a copper layer having a thickness of 35 μm.
しかる後に基体を水酸化すI・リウム4%溶液を用いて
50°Cで1分間処理して両面のレジストを除去し、上
面の下地銅層を塩化銅100g/、Q 、塩化アンモニ
ウム100g/ρ、炭酸アンモニウム110g/、Qお
よびアンモニア水400+J/Ωからなる組成を有する
アンモニア系アルカリ性溶液で溶解して各配線を電気的
に独立した状態に形成し、次いで、有機樹脂膜形成剤と
してFSR(富士薬品社製)を使用して基体上面全体に
亘り約10μmの厚さに塗布して、130’Cで30分
間加熱処理を施すことによって有機樹脂膜を被覆した。Thereafter, the substrate was treated with a 4% solution of hydroxide I and lium at 50°C for 1 minute to remove the resist on both sides, and the underlying copper layer on the upper surface was coated with copper chloride 100 g/Q, ammonium chloride 100 g/ρ. , ammonium carbonate 110g/Ω, Q and ammonia water 400+J/Ω to form each wiring in an electrically independent state by dissolving it in an ammonia-based alkaline solution, and then using FSR (Fuji) as an organic resin film forming agent. (manufactured by Yakuhin Co., Ltd.) to a thickness of about 10 μm over the entire upper surface of the substrate, and heat-treated at 130'C for 30 minutes to coat the organic resin film.
−36=
次に基体をエチルアル1ルと水酸化カリウム1規定溶液
を容量比で1:〕に混合した液を用いて、50°Cで4
分間浸漬処理することによって、基体下面におけるポリ
イミド樹脂の露出部を溶解して下面に所定のビアホール
を形成した。-36= Next, the substrate was heated to 40°C at 50°C using a solution containing 1:1 ethylalyl and 1N potassium hydroxide mixed in a volume ratio of 1:1.
By dipping for a minute, the exposed portion of the polyimide resin on the bottom surface of the substrate was dissolved and a predetermined via hole was formed on the bottom surface.
次に、前述の無電解銅めっき液を用いて下面全体に銅薄
膜層を形成後、感光性レジストとしてP)iER、HC
600をバー1ターを使用して約20μmの厚さに塗布
し、70℃で30分間乾燥処理した後に配線ピッチ20
0μm、配線幅100μm、配線数100本の配線パタ
ーンを有し、各配線が上面の配線と直交するように形成
したフォトマスクを使用してレジスト面に密着させ、該
フォトマスクを介して400 mJの紫外線を照射し露
光を行なった後、前述の現像液を使用して25℃で3分
間処理し、次いで110°Cで30分間乾燥処理して所
定のレジストパターンを得な。Next, after forming a copper thin film layer on the entire lower surface using the electroless copper plating solution mentioned above, P)iER, HC as a photosensitive resist
600 was applied to a thickness of approximately 20 μm using a barter, and after drying at 70°C for 30 minutes, the wiring pitch was 20.
0 μm, a wiring width of 100 μm, and a wiring pattern of 100 wires, each wire was formed so as to be perpendicular to the upper surface wire, and was brought into close contact with the resist surface using a photomask, and 400 mJ was applied through the photomask. After exposure by irradiation with ultraviolet rays, the resist is treated with the developer described above at 25°C for 3 minutes, and then dried at 110°C for 30 minutes to obtain a predetermined resist pattern.
次に、前述の電気銅めっき液を用いて電流密度2A/d
m2で25分間電解を行ない、下面に露出した銅薄膜層
上に18μmの下面配線何形体を形成した後、残留する
レジストを水酸化ナトリウム4%溶液中において50’
Cで1−分間処理して除去し、さらに塩化銅200g/
、Q溶液を用いて50℃で3分間処理することによって
、基体下面の銅層を溶解除去して下面の各配線を電気的
に独立した状態に形成した。Next, using the electrolytic copper plating solution described above, a current density of 2 A/d was applied.
After electrolyzing at m2 for 25 minutes to form a 18 μm bottom wiring shape on the copper thin film layer exposed on the bottom surface, the remaining resist was soaked in a 4% sodium hydroxide solution for 50'
C for 1 minute to remove it, and then add 200 g of copper chloride/
, Q solution at 50° C. for 3 minutes to dissolve and remove the copper layer on the lower surface of the substrate, thereby forming each wiring on the lower surface in an electrically independent state.
最後に基体上面に施された有機樹脂膜を樹脂剥離剤とし
てFSR剥離液(富士薬品社製)を用いて70℃で15
分間の処理を行なうことによって剥離除去し、基体上下
面に所定の配線を有し、且つ上下の配線をビアホールに
よって導通させた両面配線板を得ることができな。Finally, the organic resin film applied to the top surface of the substrate was removed using FSR stripping solution (manufactured by Fuji Yakuhin Co., Ltd.) as a resin stripping agent at 70°C for 15 minutes.
It is not possible to obtain a double-sided wiring board that has predetermined wiring on the upper and lower surfaces of the substrate and conducts the upper and lower wiring through via holes by peeling and removing the substrate by performing a treatment for 1 minute.
実施例2 (A・A・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを使用し、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0.
25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっきに
よって上面の厚さを1μm、下面の厚さを2μmに調整
したものを基体として用い、実施例]、と同様の手順で
各処理を行なったところ、実施例]−と同様な両面配線
板を得ることができた。Example 2 (A・A・A) The same polyimide resin film as in Example 1 was used as the starting material, and both sides were coated with 0.00% by sputtering method.
A copper layer with a thickness of 25 μm was formed, and the upper surface thickness was adjusted to 1 μm and the lower surface thickness to 2 μm by electrolytic copper plating, and each treatment was performed in the same manner as in Example]. As a result, a double-sided wiring board similar to Example]- could be obtained.
実施例3 (A・A・B)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、基体両面における下地銅層の形成から、基
体下面における銅薄膜層の形成までの工程を実施例コ=
と同様の手順にて行なった。Example 3 (A・A・B) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as a starting material, the steps from forming the base copper layer on both sides of the substrate to forming the copper thin film layer on the bottom surface of the substrate were described in this example. Ko =
The same procedure was followed.
その後、実施例1と同様の電気めっき液を用いて電流密
度2A/dm2で25分間の電解処理を行ない下面全体
に約20μmの銅層を形成した。Thereafter, electrolytic treatment was performed for 25 minutes at a current density of 2 A/dm2 using the same electroplating solution as in Example 1 to form a copper layer of approximately 20 μm on the entire lower surface.
この銅層上に感光性レジストとしてPHER・11c
Booを約5μmの厚さにバー1ターを使用して塗布し
、乾燥処理を行なった後、得られたレジスト層上に実施
例1で使用したフ第1・マスクと反転した配線パターン
を有するフォトマスクを密着させ、フォトマスクを介し
て200 mJの紫外線を照射して露光を行なった後、
実施例1と同様の手順によって現像および乾燥処理を行
ない、所定のレジストパターンを得な。PHER・11c was applied as a photosensitive resist on this copper layer.
After applying Boo to a thickness of about 5 μm using a barter and drying, the resist layer thus obtained has a wiring pattern that is inverted from the first mask used in Example 1. After applying a photomask and exposing it to 200 mJ of ultraviolet light through the photomask,
A predetermined resist pattern was obtained by performing development and drying treatment in the same manner as in Example 1.
次に、実施例]、と同様の塩化銅溶液を用いて50℃で
15分間処理して下面の露出した銅層を溶解し= 39
−
て下面の配線を形成し、次いで実施例1と同様のレジス
ト除去液を使用して残留レジストの除去を行なった。Next, the exposed copper layer on the bottom surface was dissolved by treatment at 50° C. for 15 minutes using the same copper chloride solution as in [Example] = 39
- Wiring on the lower surface was formed, and then the remaining resist was removed using the same resist removal solution as in Example 1.
最後に上面に施された有機樹脂膜を実施例1と同様の手
順で剥離除去することによって、基体上下面に所定の配
線を有し、上下の配線をビアホールによって導通させた
両面配線板を得ることができた。Finally, the organic resin film applied to the top surface is peeled off and removed in the same manner as in Example 1 to obtain a double-sided wiring board that has predetermined wiring on the upper and lower surfaces of the substrate and conducts the upper and lower wiring through via holes. I was able to do that.
実施例4 (A・A・B)
出発材料として実施例コ−と同様のポリイミド樹脂フィ
ルムを用い、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0.
25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっきに
よって上面銅層の厚さを1μmに、また下面の銅層の厚
さを2μmに調整した基体を用い、実施例3と同様の手
順で各工程処理を行なうことによって実施例3と同様な
両面配線板を得ることができた。Example 4 (A・A・B) The same polyimide resin film as in Example C was used as the starting material, and both sides of the film were coated with 0.0% by sputtering method.
The same procedure as in Example 3 was carried out using a substrate on which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed, and the thickness of the upper copper layer was adjusted to 1 μm and the thickness of the lower surface copper layer was adjusted to 1 μm and 2 μm, respectively, by electrolytic copper plating. A double-sided wiring board similar to that of Example 3 could be obtained by carrying out each step.
実施例5 fA・B・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、基体両面に対し実施例1と同様の手順によ
る無電解めっきによって約0.2μmの銅皮膜を形成し
た後、さらに実施例]−と同様の電気銅めっき液を用い
電流密度2A/dm2で電解を行ない上面に厚さ1μm
の下地銅層を形成した。Example 5 fA・B・A) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as a starting material, a copper film of approximately 0.2 μm was formed on both sides of the substrate by electroless plating according to the same procedure as in Example 1. After that, electrolysis was carried out at a current density of 2 A/dm2 using the same electrolytic copper plating solution as in [Example]- to form a layer with a thickness of 1 μm on the top surface.
A base copper layer was formed.
次に、基体上面における下地銅層上に感光性レジストと
してPHER・I]c 600を用い、バー1ターを使
用して約40μmの厚さに塗布し、また下面の下地銅層
上にも上記と同様にして該レジストを約5μmの厚さに
塗布し、70°Cで30分間加熱乾燥した後、上面のレ
ジスト層には実施例1で用いたと同様の配線パターンを
有するフォトマスクをレジスト面に密着させ、該フォト
マスクを介して900mJの紫外線を照射し、下面のレ
ジスト層には実施例1で用いたビアホールパターンの反
転パターンを有するフォトマスクをレジスト面に密着さ
せて、該フォトマスクを介して200 mJの紫外線を
照射して露光を行なった。Next, PHER・I]c 600 was used as a photosensitive resist on the underlying copper layer on the upper surface of the substrate, and was applied to a thickness of about 40 μm using a barter, and the above-mentioned photoresist was applied on the underlying copper layer on the lower surface. The resist was applied to a thickness of about 5 μm in the same manner as above, and after heating and drying at 70°C for 30 minutes, a photomask having a wiring pattern similar to that used in Example 1 was applied to the upper resist layer on the resist surface. 900 mJ of ultraviolet rays was irradiated through the photomask, and a photomask having an inverted pattern of the via hole pattern used in Example 1 was brought into close contact with the resist surface, and the photomask was Exposure was performed by irradiating 200 mJ of ultraviolet rays through the film.
次に両面のレジストを現像して110’Cで30分間乾
燥処理し所定のレジストパターンを得た。Next, the resists on both sides were developed and dried at 110'C for 30 minutes to obtain a predetermined resist pattern.
= A 1 −
次に上面側は前述と同様の電気銅めっきによって厚さ約
35μmの配線何形体を形成した。= A 1 − Next, on the upper surface side, a wiring shape having a thickness of about 35 μm was formed by electrolytic copper plating similar to that described above.
一方、下面側も前述の電気銅めっき液を使用して電流密
度2 A/dm2で13分間電解することにより下面銅
層の厚さが約3μmになるように調整した。On the other hand, the thickness of the lower surface copper layer was adjusted to about 3 μm by electrolyzing the lower surface side using the electrolytic copper plating solution described above at a current density of 2 A/dm 2 for 13 minutes.
しかる後、両面の残留レジストを除去し上面の下地鋼層
を実施例1と同様のアンモニア系アルカリ性溶液によっ
て溶解して各配線を独立した状態にし、次いで基体上面
全体に亘ってFSRによる有機樹脂膜で被覆した。After that, the residual resist on both sides was removed, and the base steel layer on the top surface was dissolved with the same ammonia-based alkaline solution as in Example 1 to make each wiring independent, and then an organic resin film was applied over the entire top surface of the substrate by FSR. coated with.
下面側は実施例1と同様の塩化鋼溶液を用いて50℃で
30秒間の処理を行ない、レジストパターン間に存在す
る下地銅層を溶解除去してポリイミド樹脂を露出させた
。その後の工程、即ち、ポリイミド樹脂に対するビアホ
ールの形成から基体下面における配線の形成、基体上面
の有機樹脂膜の剥離除去までを実施例1と同様の手順で
行ない、上下面に所定の配線を有し、且つ上下面の配線
をビアホールによって導通させた両面配線板を得ること
ができた。The lower surface side was treated with the same chlorinated steel solution as in Example 1 at 50° C. for 30 seconds to dissolve and remove the underlying copper layer existing between the resist patterns and expose the polyimide resin. The subsequent steps, that is, the formation of via holes in the polyimide resin, the formation of wiring on the bottom surface of the substrate, and the peeling and removal of the organic resin film on the top surface of the substrate, were performed in the same manner as in Example 1, and the predetermined wiring was formed on the upper and lower surfaces. Moreover, it was possible to obtain a double-sided wiring board in which the wiring on the upper and lower surfaces were electrically connected through via holes.
実施例6 (A・B・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0.
25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっきに
よって上面の銅層の厚さを1μmに調整した基体を用い
、実施例5と同様の手順で各処理を行なったところ、実
施例5と同様の両面配線板を得ることができな。Example 6 (A・B・A) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as the starting material, both sides of the film were coated with 0.00% by sputtering method.
Using a substrate on which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed and the thickness of the copper layer on the upper surface was adjusted to 1 μm by electrolytic copper plating, each treatment was performed in the same manner as in Example 5. It is not possible to obtain a double-sided wiring board similar to
実施例7 (A−B・B)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、基体両面における銅層の形成から、基体下
面における所定のビアポールの形成までを実施例5と同
様の手順で行なった後、続、く基体下面における銅薄膜
層の形成から、基体上楠の有機樹脂膜の剥離除去までを
実施例3と同様に行なうことによって基体の上下面に所
定の配線を有し、上下の配線をビアポールによって導通
させた両面配線板を得ることができな。Example 7 (A-B・B) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as the starting material, the steps from forming copper layers on both sides of the substrate to forming predetermined via poles on the lower surface of the substrate were carried out in the same manner as in Example 5. After performing the above steps, the steps from forming a copper thin film layer on the lower surface of the substrate to peeling off the organic resin film on the upper surface of the substrate were carried out in the same manner as in Example 3, thereby forming the prescribed wiring on the upper and lower surfaces of the substrate. However, it is not possible to obtain a double-sided wiring board in which the upper and lower wirings are electrically connected by via poles.
実施例8 (A−B・B)
= 43−
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0.
25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっきに
よって上面の銅層の厚さを1μmに調整した基体を用い
、実施例7と同様の手順で各処理を行なったところ、実
施例7と同様の両面配線板を得ることができた。Example 8 (A-B・B) = 43- Using the same polyimide resin film as in Example 1 as the starting material, both sides were coated with 0.000000000000000000000000000 yen by sputtering method, respectively.
Using a substrate on which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed and the thickness of the copper layer on the upper surface was adjusted to 1 μm by electrolytic copper plating, each treatment was performed in the same manner as in Example 7. A double-sided wiring board similar to that was obtained.
実施例9 (A・C・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、基体両面に対し実施例1と同様の無電解銅
めっきによって約0.2μmの銅皮膜を形成後、さらに
実施例1と同様の手順で電解銅めっきによって上面に厚
さ]−μmの下地銅層を形成した。Example 9 (A・C・A) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as a starting material, a copper film of approximately 0.2 μm was formed on both sides of the substrate by electroless copper plating in the same manner as in Example 1. Thereafter, a base copper layer having a thickness of -μm was formed on the upper surface by electrolytic copper plating in the same manner as in Example 1.
次に、その上面に形成した下地銅層上に感光性レジスト
としてPMER−HC600をバー1ターを使用して約
40μmの厚さに塗布し、また下面における下地銅層上
にも同様にしてレジストを約5μmの厚さに塗布し、乾
燥処理後上面のレジスト層には実施例1で用いたものと
同様の配線パターンを有するフォトマスクをレジスト面
に密着させて、該フォI・マスクを介して900…Jの
紫外線を照射し、下面のレジスト層には実施例1で用い
たものと同様なビアホールパターンを有するフォトマス
クを密着させて、該フォトマスクを介して200 mJ
の紫外線を照射することによって露光を行なった。Next, PMER-HC600 was applied as a photosensitive resist to a thickness of about 40 μm on the underlying copper layer formed on the upper surface using a barter, and a resist was applied in the same manner on the underlying copper layer on the lower surface. After drying, a photomask having a wiring pattern similar to that used in Example 1 was brought into close contact with the resist surface, and a photomask was applied to the upper resist layer to a thickness of about 5 μm. A photomask having a via hole pattern similar to that used in Example 1 was attached to the lower resist layer, and 200 mJ was irradiated through the photomask.
Exposure was performed by irradiating with ultraviolet light.
次に両面のレジストを現像後乾燥処理を施して両面に所
定の配線パターンを形成した。Next, the resists on both sides were developed and then dried to form a predetermined wiring pattern on both sides.
次に、下面側は実施例1と同様の塩化銅溶液を用いて5
0℃で1−分間処理を行なって露出した下地銅層を溶解
し、一方、上面側は前述の電気銅めっきによって厚さ約
35μmの配線前形態を形成した。Next, the lower surface side was treated with the same copper chloride solution as in Example 1.
A 1-minute treatment at 0 DEG C. dissolved the exposed underlying copper layer, while the top side was electrolytically plated as described above to form a pre-wiring feature approximately 35 .mu.m thick.
しかる後に両面のレジストを溶解し、上面の下地銅層を
実施例1と同様のアンモニア系アルカリ性溶液で溶解し
て各配線を独立した状態とした後基体上面全体に亘って
有機樹脂膜を被覆した。Thereafter, the resists on both sides were dissolved, and the underlying copper layer on the top surface was dissolved in the same ammonia-based alkaline solution as in Example 1 to make each wiring independent, and then the entire top surface of the substrate was covered with an organic resin film. .
、 ・次に下面全体に亘って前述の電気銅めっき液を
用いて電流密度2A、/d…2で3分間電解を行ない、
基体下面の下地銅層パターンの厚みを3μmとした。, ・Next, electrolysis was performed for 3 minutes at a current density of 2A, /d...2 using the electrolytic copper plating solution mentioned above over the entire lower surface,
The thickness of the underlying copper layer pattern on the lower surface of the substrate was 3 μm.
−A”、 −
その後基体下面における所定のビアホールの形成から、
基体上面に施した有機樹脂膜の剥離除去までの工程を実
施例1と同様の手順で行ない、上下面に所定の配線を有
し、且つ上下の配線をビアポールによって導通させた両
面配線板を得ることができた。-A'', - After that, from the formation of a predetermined via hole on the lower surface of the substrate,
The steps up to peeling and removal of the organic resin film applied to the upper surface of the substrate are carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a double-sided wiring board having predetermined wiring on the upper and lower surfaces and in which the upper and lower wirings are electrically connected by via poles. I was able to do that.
実施例10 (A・C・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0,
25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっきに
よって上面の銅層の厚さを1μmに調整した基体を用い
、実施例つと同様の手順で各処理を行なったところ、実
施例つと同様の両面配線板を得ることができた。Example 10 (A・C・A) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as the starting material, 0 and 0 were applied to both sides of the film by sputtering, respectively.
Using a substrate on which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed and the thickness of the copper layer on the top surface adjusted to 1 μm by electrolytic copper plating, each treatment was performed in the same manner as in Example 1, and the results were the same as in Example 1. We were able to obtain a double-sided wiring board.
実施例11(A・C−B)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂ライル
ムを用いて、基体両面における銅層の形成から、基体下
面における所定のビアホールの形成までの工程を実施例
つと同様の手順で行ない、さらに、続く基体下面におけ
る銅薄膜層の形成から、基体上面に施された有機樹脂膜
の剥離除去までの工程を実施例3と同様の手順で行なっ
たところ、基体の上下面に所定の配線を有し、且つ上下
の配線をビアホールによって導通させた両面配線板を得
ることができな。Example 11 (A/C-B) Using the same polyimide resin Lylum as in Example 1 as a starting material, the steps from forming a copper layer on both sides of the substrate to forming a predetermined via hole on the bottom surface of the substrate will be described as an example. The same procedure was followed, and the subsequent steps from forming a copper thin film layer on the bottom surface of the substrate to peeling off the organic resin film applied to the top surface of the substrate were performed in the same manner as in Example 3. It is not possible to obtain a double-sided wiring board that has a predetermined wiring on the lower surface and conducts the upper and lower wiring through via holes.
実施例12(A・C・B)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0.
25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっきに
よって上面の銅層の厚さを18μmに調整した基体を用
い実施例11と同様の手順で各処理を行なったところ、
実施例11と同様の両面配線板を得ることができた。Example 12 (A, C, B) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as the starting material, both sides of the film were coated with 0.00% by sputtering method.
Each treatment was performed in the same manner as in Example 11 using a substrate on which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed and the thickness of the copper layer on the upper surface was adjusted to 18 μm by electrolytic copper plating.
A double-sided wiring board similar to that of Example 11 could be obtained.
実施例13(B・A・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹膜を形成
した後、さらに実施例1と同様の電気銅めっき液を使用
して電解を行ない、上面に厚さ35μmの銅層を、下面
に厚さ2μmの下地銅層を形成した。Example 13 (B・A・A) After forming the same polyimide resin film as in Example 1 as a starting material, electrolysis was further performed using the same electrolytic copper plating solution as in Example 1, and a thickness was formed on the upper surface. A 35 μm thick copper layer was formed on the lower surface, and a 2 μm thick base copper layer was formed on the lower surface.
次にその上下面における銅層上に感光性レジストとして
PMER・HC600を約5μmの厚さにバー1ターを
用いて塗布しそれぞれ70°Cで30分乾燥後、上面の
レジスト層には実施例1で用いた配線パターンを反転し
たパターンを有するフ方I・マスクをレジスト面に密着
させて、該フォトマスクを介して200 mJの紫外線
を照射し、下面のレジスト層には実施例1で用いたもの
と同様のビアホールパターンを有するフォトマスクを密
着させて、該フォトマスクを介して200 mJの紫外
線を照射して露光を行なった。Next, PMER HC600 was applied as a photosensitive resist on the copper layer on the upper and lower surfaces using a bar tarter to a thickness of about 5 μm, and after drying at 70°C for 30 minutes, the resist layer on the upper surface was coated with the example A photomask having a wiring pattern inverted from that used in Example 1 was brought into close contact with the resist surface, and 200 mJ of ultraviolet light was irradiated through the photomask. A photomask having a via hole pattern similar to that used in the test was placed in close contact with the photomask, and 200 mJ of ultraviolet rays were irradiated through the photomask to perform exposure.
次に両面のレジスl〜をP)IER現像液を用いて25
℃で3分間現像した後、110℃で30分間乾燥処理を
施して、所定のレジストパターンを得た。Next, remove the resist l~ on both sides using P) IER developer.
After developing at 110° C. for 3 minutes, drying treatment was performed at 110° C. for 30 minutes to obtain a predetermined resist pattern.
次に、下面側は実施例1と同様の塩化銅溶液を用い”、
”(5o℃で3分間浸漬処理を行なって露出部の銅を一
溶解し、一方、上面側は同様の塩化銅溶液を用いて50
℃で20分間の浸漬処理を行なうことによって厚さ約3
5μmの配線を形成した。Next, on the lower side, use the same copper chloride solution as in Example 1.
(Immersion treatment was performed at 5oC for 3 minutes to dissolve the copper in the exposed area, while the upper surface was immersed for 50 minutes in the same copper chloride solution.
By soaking for 20 minutes at
A 5 μm wiring was formed.
しかる後、基体を水酸化ナトリウム溶液4%溶液中にお
いて50°Cで1分間処理して両面のレジストを除去し
、次に有機樹脂膜としてFR3を使用して基体上面全体
に亘って約10μmの厚さに塗布して130’Cに30
分間加熱乾燥を行なうことによって被覆した。Thereafter, the substrate was treated in a 4% sodium hydroxide solution at 50°C for 1 minute to remove the resist on both sides, and then a coating of about 10 μm was applied over the entire upper surface of the substrate using FR3 as an organic resin film. Apply to a thickness of 30 to 130'C.
It was coated by heating and drying for a minute.
続く、基体下面におけるビアホールの形成から基体上面
に施した有機樹脂膜の剥離除去までの工程を実施例]、
と同様の手順にて行ない、基体の上下面に所定の配線を
有し、上下の配線をビアホールによって導通させた両面
配線板を得ることができた。Next, the process from forming a via hole on the bottom surface of the substrate to peeling and removing the organic resin film applied to the top surface of the substrate is described as an example],
By following the same procedure as above, it was possible to obtain a double-sided wiring board having predetermined wiring on the upper and lower surfaces of the substrate and having the upper and lower wirings electrically connected through via holes.
実施例14(B・A・A)
出発材料として実施例]、と同様のポリイミド樹脂フィ
ルムを用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0
.25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電翠銅めっき
によって上面の銅層の厚さを35μmに、また下面の下
地銅層の厚さを2μmに調整した基体を用い、実施例1
3と同様の手順で各処理を行なったところ、実施例13
と同様な両面配線板を得ることができた。Example 14 (B・A・A) Using the same polyimide resin film as in Example] as the starting material, 0 was applied to both sides of the film by sputtering.
.. Example 1 was carried out using a substrate on which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed, and the thickness of the copper layer on the upper surface was adjusted to 35 μm by electroplating, and the thickness of the underlying copper layer on the lower surface was adjusted to 2 μm.
When each process was performed in the same manner as in Example 13,
A double-sided wiring board similar to that was obtained.
実施例15(B・A・B)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、基体両面における銅層の形成から、基体下
面における所定のビアホールの形成までの工程を実施例
13と同様の手順で行なった。Example 15 (B・A・B) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as a starting material, the steps from forming a copper layer on both sides of the substrate to forming a predetermined via hole on the bottom surface of the substrate were carried out in Example 13. The same procedure was followed.
引き続き、基体下面における銅薄膜層の形成から、基体
上面に施された有機樹脂膜の剥離除去よでの工程を実施
例3と同様の手順で行なうことによって、基体の上下面
に所定の配線を有し、且つ上下面の配線をビアポールに
よって導通させた両面配線板を得ることができな。Subsequently, the steps from forming a copper thin film layer on the bottom surface of the substrate to peeling off the organic resin film applied to the top surface of the substrate were carried out in the same manner as in Example 3, thereby forming predetermined wiring on the top and bottom surfaces of the substrate. However, it is not possible to obtain a double-sided wiring board in which the wiring on the upper and lower surfaces is electrically connected by via poles.
実施例16(B・A・B)
出発材料として実施例]、と同様のポリイミド樹脂フィ
ルムを用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0
,25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっき
によって上面の銅層の厚さを35μmに、また下面の下
地銅層の厚さを2μmに調整した基体を用い、実施例1
5と同様の手順で各処理を行なったところ、実施例15
と同様の両面配線板を得ることができた。Example 16 (B・A・B) Using the same polyimide resin film as in Example] as the starting material, 0 was applied to both sides of the film by sputtering.
, a copper layer with a thickness of 25 μm was formed, and the thickness of the copper layer on the upper surface was adjusted to 35 μm on the upper surface and the thickness of the underlying copper layer on the lower surface was adjusted to 2 μm by electrolytic copper plating.
When each process was performed in the same manner as in Example 15,
A double-sided wiring board similar to that was obtained.
実施例17(B・B・A)
出発材料として実施例]−と同様のポリイミド樹脂フィ
ルムを用いて、基体両面に対して、実施例]、と同様の
無電解めっきによって、約0.2μmの銅皮膜を形成後
、さらに実施例1と同様の電解銅めっきによって基体上
面の銅層の厚さを35μmにした。Example 17 (B・B・A) Using the same polyimide resin film as in Example] as a starting material, a film of about 0.2 μm was applied to both sides of the substrate by electroless plating in the same manner as in Example]. After forming the copper film, electrolytic copper plating was performed in the same manner as in Example 1 to make the thickness of the copper layer on the upper surface of the substrate 35 μm.
次にその上下面における銅層上に感光性レジストとして
P14ER・HC600を約5μmの厚さに塗布し、乾
燥処理後上面のレジスト層には実施例13で用いたもの
と同様の配線パターンを有するフォI・マスクをレジス
ト面に密着させ、該フォトマスクを介して200 mJ
の紫外線を照射し、下面のレジスト層には実施例5で用
いたものと同様のビアホールパターンを有するフォトマ
スクをレジスI〜面に密着させ袷、該フォトマスクを介
して200 mJの紫外線を照射することによって露光
を行なった。Next, P14ER/HC600 is applied as a photosensitive resist to a thickness of about 5 μm on the copper layer on the upper and lower surfaces, and after drying, the resist layer on the upper surface has a wiring pattern similar to that used in Example 13. A photo mask was brought into close contact with the resist surface, and 200 mJ was applied through the photomask.
A photomask having a via hole pattern similar to that used in Example 5 was placed on the lower resist layer in close contact with the resist I surface, and 200 mJ of ultraviolet rays was irradiated through the photomask. Exposure was carried out by doing this.
次に両面のレジスI〜を実施例子と同様の手順によって
現像した後乾燥処理を施して所定のレジストパターンを
得な。Next, the resists I~ on both sides were developed in the same manner as in the example, and then dried to obtain a predetermined resist pattern.
次いで上面側は実施例13と同様の手順で塩化銅溶液で
厚さ約35μmの配線を形成した。Next, on the upper surface side, a wiring having a thickness of about 35 μm was formed using a copper chloride solution in the same manner as in Example 13.
一方、下面側は前述の電気めっき液を用いて電流密度2
A/dm2で13分間電解して下面の銅層の厚さを約3
μmに調整した。しかる後、両面のレジストを除去し、
次に基体上面全体に亘ってFSRによる有機樹脂膜の被
覆処理を行なった。On the other hand, the lower surface side was plated with a current density of 2 using the electroplating solution mentioned above.
Electrolyze at A/dm2 for 13 minutes to reduce the thickness of the bottom copper layer to about 3
Adjusted to μm. After that, remove the resist on both sides,
Next, the entire upper surface of the substrate was coated with an organic resin film using FSR.
引き続き基体下面における銅層の溶解によるポリイミド
樹脂の露出から基体上面に施された有機樹脂膜の剥離除
去までの工程を実施例5と同様の手順で行ない、基体上
下面に所定の配線を有し、上下の配線をビアホールによ
って導通させた両面配線板を得ることができな。Subsequently, the steps from exposing the polyimide resin by dissolving the copper layer on the bottom surface of the substrate to peeling off the organic resin film applied to the top surface of the substrate were performed in the same manner as in Example 5, and a predetermined wiring was formed on the top and bottom surfaces of the substrate. However, it is not possible to obtain a double-sided wiring board in which the upper and lower wirings are electrically connected through via holes.
実施例18(B・B・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フ!゛
ルj・を用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ
0,25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっ
きによって上面の銅層の厚さを35μmに調整した基体
を用い、実施例17と同様の手= 52−
順で各処理を行なったところ、実施例17と同様の両面
配線板を得ることができた。Example 18 (B・B・A) The same polyimide resin foam as in Example 1 was used as the starting material! A copper layer with a thickness of 0.25 μm was formed on both sides by sputtering, and the thickness of the copper layer on the top surface was adjusted to 35 μm by electrolytic copper plating. When each treatment was carried out in the same order as in Example 17, a double-sided wiring board similar to that in Example 17 could be obtained.
実施例19 (B−B・B)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、基体両面における銅層の形成から基体上面
における有機樹脂膜の形成までの工程を実施例17と同
様の手順で行ない、引き続いて基体下面の下地銅層の溶
解によるポリイミド樹脂の露出から基体上面に施された
有機樹脂の剥離除去までの工程を実施例7と同様の手順
で行なうことによって、基体上下面に所定の配線を有し
、」二下面の配線かビアホールによって導通された両面
配線板を得ることかできな。Example 19 (B-B・B) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as a starting material, the steps from forming a copper layer on both sides of the substrate to forming an organic resin film on the upper surface of the substrate were performed as in Example 17. By following the same procedure as in Example 7 and subsequently performing the steps from exposing the polyimide resin by dissolving the underlying copper layer on the bottom surface of the substrate to peeling off and removing the organic resin applied to the top surface of the substrate, the substrate was It is not possible to obtain a double-sided wiring board that has predetermined wiring on the top and bottom surfaces and is electrically connected by wiring or via holes on the two bottom surfaces.
実施例20 (B−B・B)
出発材料として実施例]−と同様のポリイミド樹脂フィ
ルムを用いて、その両面にスパッタ法によりそ斤ぞれ0
.25μmの厚さの銅層を形成し、さらに電気銅めっき
によって上面の銅層の厚さを35μmに調整した基体を
用い、実施例19と同様の手順で各処理を行なったとこ
ろ、実施例19と同様の両面配線板を得ることができな
。Example 20 (B-B・B) Using the same polyimide resin film as in Example]- as a starting material, a 0.0 lb.
.. Using a substrate on which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed and the thickness of the copper layer on the upper surface was adjusted to 35 μm by electrolytic copper plating, each treatment was performed in the same manner as in Example 19. It is not possible to obtain a double-sided wiring board similar to
実施例21(B・C・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、基体両面に実施例1.と同様の無電解めっ
き液を使用して約20μmの銅層を形成し、さらに実施
例1と同様の電気銅めっき液によって上面の銅層の厚さ
を35μmにした。Example 21 (B, C, A) Using the same polyimide resin film as in Example 1 as a starting material, Example 1. A copper layer of about 20 μm was formed using the same electroless plating solution as in Example 1, and the thickness of the copper layer on the top surface was made 35 μm using the same electrolytic copper plating solution as in Example 1.
次にその上下面における銅層上に感光性レジストとして
PHER・HC40を用いて約5μmの厚さに塗布し、
乾燥処理を行なった後、上面のレジスト層には実施例1
3で用いたものと同様の配線パターンを有するフォトマ
スクをレジスト面に密着させて、該フォトマスクを介し
て200 mJの紫外線を照射し、下面のレジスト層に
は実施例1で用いたものと同様なビアホールパターンを
有するフォトマスクをレジスト面に密着させて、該フォ
I・マスクを介して20011mの紫外線を照射するこ
とによって露光を行なった。Next, PHER HC40 was applied as a photosensitive resist to a thickness of about 5 μm on the copper layer on the upper and lower surfaces.
After drying, the upper resist layer was coated with Example 1.
A photomask having a wiring pattern similar to that used in Example 3 was brought into close contact with the resist surface, and 200 mJ of ultraviolet light was irradiated through the photomask, and the resist layer on the lower surface was coated with the same pattern as that used in Example 1. A photomask having a similar via hole pattern was brought into close contact with the resist surface, and exposure was performed by irradiating ultraviolet rays of 20011 m through the photo mask.
次に両面のレジストを現像した後、乾燥処理を施して所
定の配線パターンを得た。Next, after developing the resist on both sides, a drying process was performed to obtain a predetermined wiring pattern.
次いで、下面側は実施例1と同様の塩化鋼溶液を用いて
50°Cで1分間の処理を行なって露出した銅層を溶解
し、一方、上面側は同様の塩化銅溶液を用いて溶解して
露出銅層を溶解して厚さ35μmの配線を形成した。し
かる後、両面のレシス1へを溶解し、次に基体上面全体
に頁ってFSRによる有機樹脂膜を被覆した。Then, the lower surface side was treated with the same chlorinated steel solution as in Example 1 at 50 °C for 1 minute to dissolve the exposed copper layer, while the upper surface side was dissolved using the same copper chloride solution. Then, the exposed copper layer was melted to form a wiring having a thickness of 35 μm. Thereafter, the resin on both sides was dissolved in Resis 1, and then the entire upper surface of the substrate was covered with an organic resin film by FSR.
引き続いて基体下面への電気銅めっきによる下地銅層の
厚さ調整から基体上面に施された有機樹脂膜の剥離除去
までの工程を実施例つと同様の手順で行なうことによっ
て、基体上下面に所定の配線を有し、」−下面の配線を
ビアホールによって導通した両面配線板を得ることがで
きな。Subsequently, the steps from adjusting the thickness of the base copper layer by electrolytic copper plating on the bottom surface of the substrate to peeling off and removing the organic resin film applied to the top surface of the substrate are carried out in the same manner as in Example 1, thereby forming a predetermined pattern on the top and bottom surfaces of the substrate. It is not possible to obtain a double-sided wiring board that has wiring on the bottom surface and conducts the wiring on the lower surface through via holes.
実施例22(B・C・A)
出発材料として実施例1と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、その両面にスパッタ法によりそれぞれ0.
25μmの厚さの銅層を形成−さらに電気鋼めっきによ
って上面の銅層の厚さを35μmに調整した基体を用い
実施例?1と同様の手順で各処理を行なったところ、実
施例21と同様の両−55−一
面配線板を得ることができな。Example 22 (B, C, A) The same polyimide resin film as in Example 1 was used as the starting material, and both sides of the film were coated with 0.00% by sputtering method.
An example using a substrate in which a copper layer with a thickness of 25 μm was formed and the thickness of the copper layer on the upper surface was adjusted to 35 μm by electrical steel plating? When each process was carried out in the same manner as in Example 1, it was not possible to obtain a double-sided 55-sided wiring board similar to that in Example 21.
実施例23(B・C・B)
出発材料として実施例1−と同様のポリイミド樹脂フィ
ルムを用いて、基体両面における銅層の形成から基体上
面における有機樹脂膜の被覆までの工程を実施例21と
同様の手順で行ない、次いで引き続く基体下面の下地銅
層の溶解によるポリイミド樹脂の露出から基体上面に施
された有機樹脂の剥離除去までの工程を実施例9と同様
の手順で行なうことによって、基体上下面に所定の配線
を有し、上下面の配線がビアホールによって導通された
両面配線板を得ることができた。Example 23 (B, C, B) Using the same polyimide resin film as in Example 1- as a starting material, the steps from forming a copper layer on both sides of the substrate to coating the top surface of the substrate with an organic resin film were carried out in Example 21. By carrying out the same procedure as in Example 9, the subsequent steps from exposing the polyimide resin by dissolving the underlying copper layer on the lower surface of the substrate to peeling off and removing the organic resin applied to the upper surface of the substrate were carried out in the same manner as in Example 9. It was possible to obtain a double-sided wiring board that had predetermined wiring on the upper and lower surfaces of the base and in which the wiring on the upper and lower surfaces were electrically connected through via holes.
実施例?4(B・C1B)
出発材料として実施測子と同様のポリイミド樹脂フィル
ムを用いて、その両面(、こスパッタ法によりそれぞれ
0.25μmの厚さの銅層を形成し、さら順で各処理を
行なったところ、実施例23と同様の両面配線板を得る
ことができた。Example? 4 (B/C1B) Using the same polyimide resin film as the actual probe as a starting material, a copper layer with a thickness of 0.25 μm was formed on each side by this sputtering method, and each treatment was applied in sequence. As a result, a double-sided wiring board similar to that of Example 23 could be obtained.
(発明の効果)
以上述べたように本発明の両面配線板の製造方法による
ときは、接着剤によらずに絶縁性樹脂フィルムの両面に
銅層などによる金属層を形成したものを基体とし、その
上下面に絶縁性樹脂本来の性能を損なうことなく、確実
に所定の配線を形成し、且つ該上下面に形成した配線を
絶縁性樹脂に形成したビアホールによって電気的に導通
させた両面配線板を得ることができるものであり、I楽
曲にずぐれな発明であるといえる。(Effects of the Invention) As described above, when using the method for manufacturing a double-sided wiring board of the present invention, the substrate is formed by forming a metal layer such as a copper layer on both sides of an insulating resin film without using an adhesive. A double-sided wiring board in which prescribed wiring is reliably formed on the upper and lower surfaces of the insulating resin without impairing its original performance, and the wiring formed on the upper and lower surfaces is electrically connected through via holes formed in the insulating resin. This can be said to be an invention far superior to that of I-music.
第1図は本発明の両面配線板の製造方法における製造工
程を順を追って示した工程図、第2図(a) 、(b)
および第3図(a) 、(b)は、それぞれ基体上面の
配線をセミアデイティブ法およびサブトラクティブ法を
採用した場合の両面配線板の製造工程における基体の概
略状況を工程(イ)〜(ト)順に示した説明図、第4図
は本発明を実施することによって得られた両面配線図の
一例の外観を示す平面図、第5図は基体上面に施される
所定の配線パターンを有するフォトマスクを示す平面図
、第6図および第7図はそれぞれ基体下面に施されるビ
アホールパターンを有するフォトマスクを例示した平面
図、第8図および第9図はビアホール形成後の基体下面
に再度施される所定の配線パターンを有するフォトマス
クを示す平面図である。
1・・・上面金属層、2・・・下面金属層、3・・・絶
縁性樹脂基体、/1..5,13・・・レジスI−層、
6.7.1!1・・・レジストパターン、8・・・」−
面配線、9・・・有機樹脂膜、10・・・金属層パター
ン、11・・・ビアホール、12・・・金属薄膜層、1
5・・・下面配線。
特許出願人 住友金属鉱山株式会社
・「1
第1図
両面配線板製造工程図
絶縁性樹脂基体
金属層・レジストパターン形成
セミ
配線の形成(上面)
サ一
アディティブ法
プトラクティブ法
ッチング法
ミアディティブ法
用法
ミアディティブ法
ブトラクテイブ法
第5図
第6図
第7図
第8図FIG. 1 is a step-by-step process diagram showing the manufacturing process of the double-sided wiring board manufacturing method of the present invention, and FIGS. 2(a) and (b)
Figures 3(a) and 3(b) show the schematic state of the substrate in the manufacturing process of a double-sided wiring board when the semi-additive method and subtractive method are used for wiring on the top surface of the substrate, respectively. g) Explanatory drawings shown in order; FIG. 4 is a plan view showing the appearance of an example of a double-sided wiring diagram obtained by implementing the present invention; FIG. 6 and 7 are plan views illustrating a photomask having a via hole pattern formed on the bottom surface of a substrate, respectively. FIGS. FIG. 3 is a plan view showing a photomask having a predetermined wiring pattern applied thereto. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Top metal layer, 2...Bottom metal layer, 3...Insulating resin base, /1. .. 5, 13... Regis I-layer,
6.7.1!1...Resist pattern, 8...''-
Surface wiring, 9... Organic resin film, 10... Metal layer pattern, 11... Via hole, 12... Metal thin film layer, 1
5... Bottom wiring. Patent applicant: Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. ・1 Figure 1 Double-sided circuit board manufacturing process diagram Insulating resin base Metal layer/resist pattern formation Formation of semi-wiring (top surface) Additive method Practical method Touching method Medial additive method Usage Mere additive method Buttractive method Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8
Claims (9)
なく金属層を形成したものを基体とし、該基体両面の金
属層上に感光性レジスト層を形成した後、基体上面にお
けるレジスト層には主として所定の配線パターンを有す
るフォトマスクを、また基体下面におけるレジスト層に
は主として所定のビアホールパターンを有するフォトマ
スクを施して、光を照射した後両面のレジスト層を現像
し、該基体の両面にそれぞれの形状のレジストパターン
を形成せしめる工程と、基体上面に形成したレジストパ
ターンに従って配線形成処理を行なうことによって基体
上面に配線を形成する工程と、基体下面に形成したレジ
ストパターンに従って下面のビアホールに相当する部分
の金属層を溶解して絶縁性樹脂を露出させた後、該絶縁
性樹脂の露出部を溶解し所定のビアホールを形成する工
程と、ビアホール形成後の基体下面に金属薄膜層を形成
した後、該金属薄膜層上に再び感光性レジスト層を形成
し、該レジスト層上に所定の配線パターンを有するフォ
トマスクを施して光を照射した後現像して基体下面にレ
ジストパターンを形成し、該レジストパターンに従って
基体下面に配線形成処理を施すことによって所定の配線
を形成する工程とよりなることを特徴とする両面配線板
の製造方法。(1) The base is an insulating resin film with metal layers formed on both sides without using an adhesive, and after forming a photosensitive resist layer on the metal layers on both sides of the base, the resist layer on the top surface of the base is A photomask mainly having a predetermined wiring pattern is applied, and a photomask mainly having a predetermined via hole pattern is applied to the resist layer on the lower surface of the substrate, and after irradiation with light, the resist layers on both sides are developed, and the resist layers on both sides of the substrate are coated. The process of forming a resist pattern of each shape, the process of forming wiring on the top surface of the substrate by performing wiring formation processing according to the resist pattern formed on the top surface of the substrate, and the process of forming wiring on the bottom surface of the substrate according to the resist pattern formed on the bottom surface of the substrate. After melting the metal layer in the part to be exposed to expose the insulating resin, melting the exposed part of the insulating resin to form a predetermined via hole, and forming a metal thin film layer on the bottom surface of the substrate after forming the via hole. After that, a photosensitive resist layer is again formed on the metal thin film layer, a photomask having a predetermined wiring pattern is applied on the resist layer, irradiated with light, and then developed to form a resist pattern on the lower surface of the substrate, A method for manufacturing a double-sided wiring board, comprising the step of forming a predetermined wiring by performing a wiring formation process on the lower surface of the substrate according to the resist pattern.
ストパターンに従って露出した金属層上に電気めっきに
より金属めっき層を積層させて、配線前形体を形成した
後、基体上面のレジストおよびレジスト下に存在する金
属層を溶解除去することによって行なう請求項1記載の
両面配線板の製造方法。(2) The wiring on the top surface of the substrate is formed by laminating a metal plating layer by electroplating on the exposed metal layer according to the resist pattern formed on the top surface of the substrate to form a pre-wiring shape, and then applying the resist on the top surface of the substrate and the bottom of the resist. 2. The method for manufacturing a double-sided wiring board according to claim 1, wherein the method is carried out by dissolving and removing a metal layer present in the double-sided wiring board.
ストパターンに従って露出した金属層をエッチングした
後、非エッチング金属層上のレジストを溶解除去するこ
とによって行なう請求項1記載の両面配線板の製造方法
。(3) The double-sided wiring board according to claim 1, wherein the wiring on the upper surface of the substrate is formed by etching the exposed metal layer according to a resist pattern formed on the upper surface of the substrate, and then dissolving and removing the resist on the non-etched metal layer. Production method.
は基体下面に形成したレジストパターンに従って露出し
た金属層をエッチングして絶縁性樹脂部を露出させた後
、基体下面のレジストを除去して、該絶縁性樹脂の露出
部を溶解除去することによって行なう請求項1乃至3の
いずれか1項記載の両面配線板の製造方法。(4) To form a predetermined via hole in the insulating resin substrate, the exposed metal layer is etched according to the resist pattern formed on the bottom surface of the substrate to expose the insulating resin portion, and then the resist on the bottom surface of the substrate is removed. 4. The method for manufacturing a double-sided wiring board according to claim 1, wherein the method is carried out by dissolving and removing exposed portions of the insulating resin.
は基体下面に形成したレジストパターンに従って露出し
た金属層上に電気めっきにより金属めっき層を積層して
金属パターンを形成した後、レジストおよびレジスト下
に存在する金属層を溶解除去し、これによって露出した
絶縁性樹脂を溶解除去することによって行なう請求項1
乃至3のいずれか1項記載の両面配線板の製造方法。(5) To form a predetermined via hole in an insulating resin substrate, a metal plating layer is laminated by electroplating on the exposed metal layer according to the resist pattern formed on the bottom surface of the substrate to form a metal pattern, and then a metal plating layer is formed on the resist and under the resist. Claim 1: The method is carried out by dissolving and removing the existing metal layer and thereby dissolving and removing the exposed insulating resin.
4. The method for manufacturing a double-sided wiring board according to any one of 3 to 3.
は基体下面に形成したレジストパターンに従って露出し
た金属層をエッチングして絶縁性樹脂部を露出させた後
、基体下面のレジストパターンを除去し、これによって
露出した金属層上に電気めっきにより金属めっき層を積
層し、該絶縁性樹脂の露出部を溶解除去することによっ
て行なう請求項1乃至3のいずれか1項記載の両面配線
板の製造方法。(6) To form a predetermined via hole in the insulating resin substrate, the exposed metal layer is etched according to the resist pattern formed on the bottom surface of the substrate to expose the insulating resin part, and then the resist pattern on the bottom surface of the substrate is removed. The method for manufacturing a double-sided wiring board according to any one of claims 1 to 3, wherein a metal plating layer is laminated by electroplating on the metal layer exposed by the above process, and the exposed portion of the insulating resin is dissolved and removed.
形成したレジストパターンに従って露出した金属薄膜層
上に電気めっきにより金属めっき層を積層し、次いでレ
ジストを溶解除去し、レジスト下に存在する金属薄膜層
およびその下に存在する金属層を溶解除去することによ
って行なう請求項1乃至6のいずれか1項記載の両面配
線板の製造方法。(7) To form wiring on the bottom surface of the substrate, a metal plating layer is deposited by electroplating on the exposed metal thin film layer according to the resist pattern formed again on the bottom surface of the substrate, then the resist is dissolved and removed, and the metal layer existing under the resist is 7. The method for manufacturing a double-sided wiring board according to claim 1, wherein the method is carried out by dissolving and removing the thin film layer and the metal layer existing thereunder.
薄膜層上に電気めっきによって金属めっき層を積層した
後、基体下面に再度形成したレジストパターンに従って
露出した金属めつき層とその下に存在する金属薄膜層お
よびその下に存在する金属層を溶解除去することによっ
て行なう請求項1乃至6のいずれか1項記載の両面配線
板の製造方法。(8) The wiring on the bottom surface of the substrate is formed by laminating a metal plating layer by electroplating on the metal thin film layer on the bottom surface of the substrate, and then following the resist pattern formed again on the bottom surface of the substrate, the exposed metal plating layer and the metal plating layer below it are formed. 7. The method for manufacturing a double-sided wiring board according to claim 1, wherein the method for manufacturing a double-sided wiring board is carried out by dissolving and removing the metal thin film layer and the metal layer existing thereunder.
ける配線の形成完了までの間、基体上面全体に亘り有機
樹脂膜層で被覆する請求項1乃至8のいずれか1項記載
の両面配線板の製造方法。(9) The double-sided wiring board according to any one of claims 1 to 8, wherein the entire upper surface of the substrate is coated with an organic resin film layer from the time the wiring is formed on the upper surface of the substrate until the completion of the formation of the wiring on the lower surface of the substrate. Production method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30319890A JPH04176186A (en) | 1990-11-08 | 1990-11-08 | Manufacture of double sided wiring board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30319890A JPH04176186A (en) | 1990-11-08 | 1990-11-08 | Manufacture of double sided wiring board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04176186A true JPH04176186A (en) | 1992-06-23 |
Family
ID=17918062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30319890A Pending JPH04176186A (en) | 1990-11-08 | 1990-11-08 | Manufacture of double sided wiring board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04176186A (en) |
-
1990
- 1990-11-08 JP JP30319890A patent/JPH04176186A/en active Pending
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