JPH03283012A - Production of thin-film magnetic head - Google Patents
Production of thin-film magnetic headInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、薄膜磁気ヘッドの製造法に関し、製造工程
でのギャップ層の侵蝕を防止して、所定の記録再生特性
が得られるようにしたものである。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for manufacturing a thin-film magnetic head, and provides a method for preventing erosion of a gap layer during the manufacturing process so as to obtain predetermined recording and reproducing characteristics. It is something.
薄膜磁気ヘッドの製造工程の概要を第2図に示す。この
工程を説明する。FIG. 2 shows an outline of the manufacturing process of the thin film magnetic head. This process will be explained.
■ 鏡面研磨された清浄な基板10として、例えばAN
203−TiC系セラミック板等を用意する。■ As a mirror-polished clean substrate 10, for example, an AN
Prepare a 203-TiC ceramic plate or the like.
■ 基板10上にスパッタ法によりS iO2+AR2
03等の絶縁膜12を10数μm付着する。■ SiO2+AR2 is deposited on the substrate 10 by sputtering.
An insulating film 12 of 03 or the like is deposited to a thickness of about 10 μm.
■ 下部磁性層14を電気メッキにより形成する。(2) Form the lower magnetic layer 14 by electroplating.
■ ギャップ層16をスパッタ法により付着する。(2) Deposit the gap layer 16 by sputtering.
ギャップ層16には下地絶縁膜12と同じSiO、AN
203等を用いる。The gap layer 16 is made of the same SiO and AN as the base insulating film 12.
203 etc. is used.
■ 第1絶縁層18を形成する。通常、ポジ型のホトレ
ジストを用い、熱処理を加えて安定に硬化させる。(2) Forming the first insulating layer 18. Usually, a positive photoresist is used and is stably cured by heat treatment.
■ 第1コイル層20をCu等で電気メッキにより数μ
mの厚さに形成する。■ The first coil layer 20 is electroplated with Cu etc. to several μm.
Form to a thickness of m.
■ 第2絶縁層22を第1絶縁層と同しくポジ型ホトレ
ジストに熱処理を加えて安定に硬化させる。(2) As with the first insulating layer, the second insulating layer 22 is stably cured by applying heat treatment to the positive photoresist.
■ 第2コイル層24をCu等で電気メッキにより数μ
mの厚さに形成する。■ The second coil layer 24 is electroplated with Cu, etc. to several μm.
Form to a thickness of m.
■ 第3絶縁層26をポジ型ホトレジストに熱処理を加
えて安定に硬化させる。(2) The third insulating layer 26 is made of positive photoresist and is stably cured by heat treatment.
[相] 上部磁性層28を電気メッキで形成する。[Phase] The upper magnetic layer 28 is formed by electroplating.
O保護層30をSiO2,A11203等でスパッタ法
により付着して、全体を覆う。An O protective layer 30 of SiO2, A11203, etc. is deposited by sputtering to cover the entire structure.
第2図の製造工程において、■の第1コイル層20の形
成は、従来においては詳しくは第3図に示す工程で行な
われる。第3図の工程について説明する。In the manufacturing process shown in FIG. 2, the formation of the first coil layer 20 (2) is conventionally performed in detail in the process shown in FIG. 3. The process shown in FIG. 3 will be explained.
■−1ギャップ層16の上に第1絶縁層18を形成する
(第2図■の状態)。(2) A first insulating layer 18 is formed on the -1 gap layer 16 (state shown in FIG. 2).
■−2メッキ下地金属層(Cu等)32をスパッタ法で
形成する。(2) A plating base metal layer (Cu, etc.) 32 is formed by sputtering.
■−3ホトレジスト34を塗布する。■-3 Apply photoresist 34.
■−4ホトマスクを用いて露光し、コイルバタン形状に
レジストフレーム36を形成する。(2) Exposure is performed using a photomask-4 to form a resist frame 36 in the shape of a coil baton.
■−5メ・ツキ下地金属層32が露出した部分に電気メ
ッキで第1コイル層20を形成する。(2) The first coil layer 20 is formed by electroplating on the exposed portion of the -5-metal base metal layer 32.
■−6ホトレジスト34を除去すると、第1コイル層2
0ができる。■-6 When the photoresist 34 is removed, the first coil layer 2
0 is possible.
■−7ドライエツチング(例えばイオンエツチング)に
より、露出しているメッキ下地金属層32を除去する。(2)-7 The exposed plating base metal layer 32 is removed by dry etching (for example, ion etching).
前記第3図のコイル層の製造工程においては、■−7の
メッキ下地金属層32をドライエツチングで除去する工
程において、ギャップ層16もエツチングされてしまう
ため、第4図に示すようにギャップ層16の厚みが減少
する問題があった。In the manufacturing process of the coil layer shown in FIG. 3, the gap layer 16 is also etched in the process of removing the plating base metal layer 32 by dry etching in (1)-7, so the gap layer 16 is removed as shown in FIG. There was a problem that the thickness of No. 16 was reduced.
このため、第5図に示すように、ヘッドで重要なパラメ
ータであるギャップ長が不安定に変化し、記録再生特性
に重大な影響を与え、極端にギャップが減少した場合に
は、記録再生が不可能となるため、歩留りが悪かった。For this reason, as shown in Figure 5, the gap length, which is an important parameter in the head, changes unstablely, which has a serious effect on the recording and reproduction characteristics, and when the gap decreases extremely, the recording and reproduction become difficult. Since this was impossible, the yield was poor.
この発明は、従来の技術におけるこのような欠点を解決
して、製造工程でのギャップ層の侵蝕を防止して、所定
の記録再生が得られ、歩留りのよい薄膜磁気ヘッドの製
造法を提供しようとするものである。The present invention solves these drawbacks in the conventional technology, and provides a method for manufacturing a thin-film magnetic head that prevents erosion of the gap layer during the manufacturing process, provides desired recording and reproduction, and has a high yield. That is.
この発明は、コイルを電気メッキで作成して、そのメッ
キ下地金属層をドライエツチングで除去する工程におい
て、予め下ポール上のギャップ層をマスキング層でマス
キングした状態で前記メッキ下地金属層をドライエツチ
ングで除去するとともに、上部磁性層を形成する前にこ
のマスキング層を除去することを特徴とするものである
。In the process of creating a coil by electroplating and removing the plating base metal layer by dry etching, the plating base metal layer is dry etched with the gap layer on the lower pole being masked in advance with a masking layer. This masking layer is also removed before forming the upper magnetic layer.
この発明によれば、予め下ポール上のギャップ層をマス
キング層でマスキングした状態で前記メッキ下地金属層
をドライエツチングで除去するようにしたので、製造工
程におけるギャップ層の侵蝕か防止され、所定の記録再
生特性を得ることかでき、歩留りを向上させることがで
きる。According to this invention, since the plating base metal layer is removed by dry etching while the gap layer on the lower pole is masked in advance with a masking layer, erosion of the gap layer during the manufacturing process is prevented, and a predetermined etching process is prevented. Recording/reproducing characteristics can be obtained, and yield can be improved.
この発明の製造法の一実施例を第1A図、第1B図に示
す。第1A図、第1B図の工程について説明する。なお
、前記第2図、第3図と共通する部分には同一の符号を
用いる。An embodiment of the manufacturing method of the present invention is shown in FIGS. 1A and 1B. The steps shown in FIGS. 1A and 1B will be explained. Note that the same reference numerals are used for parts common to those in FIGS. 2 and 3 above.
■ ギャップ層16の上に第1絶縁層18を形成する。(2) A first insulating layer 18 is formed on the gap layer 16.
この段階までは、前記第2図に■〜■で示した工程と同
じである。この時の平面形状を第1A図■中右に示す。Up to this stage, the steps are the same as those shown by ■ to ■ in FIG. 2 above. The planar shape at this time is shown in the middle right of Figure 1A.
■ コイル用の銅を電気メッキするための通電下地層と
しての銅等のメッキ下地金属層32をスパッタ法で形成
する。(2) A plating base metal layer 32 of copper or the like is formed by sputtering as a current-carrying base layer for electroplating copper for the coil.
■ ポジ型のホトレジスト34をスピナーでスピンコー
ドする。■ Spin code the positive photoresist 34 using a spinner.
■ ホトマスクを用いてコイル形状にホトレジスト34
を露光現像して、レジストフレーム36を形成すると同
時に、下ポール14a上のギャップ層16上にマスキン
グ層を形成するために、その部分38のレジスト34を
露光現像してカットする。■ Photoresist 34 in the coil shape using a photomask
is exposed and developed to form a resist frame 36, and at the same time, in order to form a masking layer on the gap layer 16 on the lower pole 14a, the resist 34 in that portion 38 is exposed and developed and cut.
■ メッキ下地金属層32か露出した部分に銅等を電気
メッキして第1コイル層20を形成する。(2) The exposed portion of the plating base metal layer 32 is electroplated with copper or the like to form the first coil layer 20.
この時、同時に銅等の電気メッキによるマスキング層4
0が下ポール14a上のギャップ層16上に形成される
。At this time, a masking layer 4 of copper or the like is formed by electroplating.
0 is formed on the gap layer 16 above the bottom pole 14a.
■ ホトレジスト34を除去すると、第1コイル層20
およびマスキング層40ができる。この時の平面形状を
第1A図■中右に示す。■ When the photoresist 34 is removed, the first coil layer 20
And a masking layer 40 is formed. The planar shape at this time is shown in the middle right of Figure 1A.
■ ドライエツチング(例えばイオンエツチング等)に
より、露出しているメッキ下地金属層32を除去する。(2) Remove the exposed plating base metal layer 32 by dry etching (for example, ion etching).
このとき、下ポール14a上のギャップ層16はマスキ
ング層40でマスキングされているため、侵蝕されず、
厚みは変化しない。At this time, the gap layer 16 on the lower pole 14a is masked with the masking layer 40, so it is not eroded.
The thickness does not change.
■ 第1コイル層20が形成されたら、続いて第2絶縁
層22の形成、メッキ下地金属層42の形成、ホトレジ
スト塗布、レジストフレーム形成、第2コイル層24の
形成、ホトレジスト除去、ドライエツチング(例えばイ
オンエツチング)によるメッキ下地金属層42の除去、
第3絶縁層26の形成の工程を順次経て、第2コイル層
24を形成する。この各工程においてもマスキング層4
0は付着したままになっているので、メッキ下地金属層
42の除去の際に下ポール14a上のギャップ層16は
侵蝕されず、厚みは変化しない。(1) After the first coil layer 20 is formed, the second insulating layer 22 is formed, the plating base metal layer 42 is formed, photoresist is applied, a resist frame is formed, the second coil layer 24 is formed, the photoresist is removed, and dry etching ( Removal of the plating base metal layer 42 by, for example, ion etching),
The second coil layer 24 is formed by sequentially performing the steps of forming the third insulating layer 26. In each of these steps, the masking layer 4
Since the layer 0 remains attached, the gap layer 16 on the lower pole 14a is not eroded when the plating base metal layer 42 is removed, and its thickness does not change.
■ 上部磁性層形成前にマスキング層40およびその下
のメッキ下地金属層32を硫酸、硝酸などの酸にて溶か
すなどして除去する。(2) Before forming the upper magnetic layer, the masking layer 40 and the underlying plating metal layer 32 are removed by dissolving them with an acid such as sulfuric acid or nitric acid.
■ 磁性層と同じ性質をもつFe−Ni合金等をスパッ
タ法により数千人付着し、その上に上部磁性層28を電
気メッキで形成する。最後に保護層30で覆って完成す
る。(2) Several thousand Fe--Ni alloys having the same properties as the magnetic layer are deposited by sputtering, and the upper magnetic layer 28 is formed thereon by electroplating. Finally, it is covered with a protective layer 30 to complete the process.
以上のようにして第6図に示すように、侵蝕がなく所定
のギャップ長に形成された磁気ヘッドを作ることができ
る。As described above, a magnetic head having a predetermined gap length without corrosion can be manufactured as shown in FIG. 6.
前記実施例では、下ポール14aのギャップ層16の上
のマスキング層40を銅メッキにて第1コイル層20と
同時に作成するようにしたが、このマスキング層は銅で
なく他のメッキ金属であってもよく、またホトレジスト
その他の材料で作ることもできる。In the embodiment described above, the masking layer 40 on the gap layer 16 of the lower pole 14a was formed by copper plating at the same time as the first coil layer 20, but this masking layer was made of other plated metal instead of copper. It can also be made of photoresist or other materials.
ホトレジストを用いて構成した例を第7図に示す。この
ホトレジストによるマスキング層40′は、メッキ下地
金属層32をイオンエツチング等で除去する前に塗布し
て形成することができる。FIG. 7 shows an example constructed using photoresist. This photoresist masking layer 40' can be formed by applying it before removing the plating base metal layer 32 by ion etching or the like.
また、このフォトレジストは、その後、第2絶縁層22
の形成時に熱硬化して不溶化してしまうため、第2絶縁
層形成前には除去する必要があるか、以降のコイル形成
過程に対しては、そのつと塗り直せばよい。そして、最
上層のコイル層のメッキ下地金属層をイオンエツチング
等で除去した後にマスキング層40′を除去すればよい
。Moreover, this photoresist is then applied to the second insulating layer 22.
Because it heat-cures and becomes insolubilized during the formation of the second insulating layer, it is necessary to remove it before forming the second insulating layer, or it can be reapplied for the subsequent coil forming process. Then, the masking layer 40' may be removed after the plating base metal layer of the uppermost coil layer is removed by ion etching or the like.
以上説明したように、この発明によれば、予め下ポール
上のギャップ層をマスキング層でマスキングした状態で
前記メッキ下地金属層をドライエツチングで除去するよ
うにしたので、製造工程におけるギャップ層の侵蝕が防
止され、所定の記録再生特性を得ることができ、歩留り
を向上させることができる。As explained above, according to the present invention, the plating base metal layer is removed by dry etching while the gap layer on the lower pole is previously masked with a masking layer, so that the gap layer is not eroded during the manufacturing process. is prevented, predetermined recording and reproducing characteristics can be obtained, and yield can be improved.
第1A図、第1B図は、この発明の一実施例を示す工程
図である。
第2図は、薄膜磁気ヘッドの製造工程の概要を示す工程
図である。
第3図は、第2図の製造工程における■の第1コイル層
20の従来のおける製造工程の詳細を示す工程図である
。
第4図は、第3図の従来の工程において、ドライエツチ
ングによるメッキ下地金属層32の除去によりギャップ
層16の厚みが減少した状態を示す断面図である。
第5図は、第3図の従来の工程により製造された磁気ヘ
ッドを示す一部拡大断面図である。
第6図は、第1A図、第1B図の工程により製造された
磁気ヘッドを示す一部拡大断面図である。
第7図は、マスキング層をフォトレジストで構成したこ
の発明の他の実施例を示す断面図である。
14・・下部磁性層、14a・・・下ポール、16・・
・ギャップ層、20.24・・・コイル層、28・・・
上部磁性層、40.40’・・・マスキング層、32゜
42・・・メッキ下地金属層。FIG. 1A and FIG. 1B are process diagrams showing one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a process diagram showing an outline of the manufacturing process of the thin film magnetic head. FIG. 3 is a process diagram showing details of the conventional manufacturing process of the first coil layer 20 shown in (1) in the manufacturing process of FIG. FIG. 4 is a sectional view showing a state in which the thickness of the gap layer 16 is reduced by removing the plating base metal layer 32 by dry etching in the conventional process shown in FIG. FIG. 5 is a partially enlarged sectional view showing a magnetic head manufactured by the conventional process shown in FIG. FIG. 6 is a partially enlarged sectional view showing the magnetic head manufactured by the steps shown in FIGS. 1A and 1B. FIG. 7 is a sectional view showing another embodiment of the present invention in which the masking layer is made of photoresist. 14... Lower magnetic layer, 14a... Lower pole, 16...
・Gap layer, 20.24... Coil layer, 28...
Upper magnetic layer, 40.40'... Masking layer, 32°42... Plating base metal layer.
Claims (1)
をドライエッチングで除去する工程において、予め下ポ
ール上のギャップ層をマスキング層でマスキングした状
態で前記メッキ下地金属層をドライエッチングで除去す
るとともに、上部磁性層を形成する前にこのマスキング
層を除去することを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造法
。In the process of creating a coil by electroplating and removing the plating base metal layer by dry etching, the gap layer on the lower pole is previously masked with a masking layer, and the plating base metal layer is removed by dry etching. , a method for manufacturing a thin film magnetic head, characterized in that the masking layer is removed before forming the upper magnetic layer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8217090A JPH03283012A (en) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | Production of thin-film magnetic head |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP8217090A JPH03283012A (en) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | Production of thin-film magnetic head |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03283012A true JPH03283012A (en) | 1991-12-13 |
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ID=13766958
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP8217090A Pending JPH03283012A (en) | 1990-03-29 | 1990-03-29 | Production of thin-film magnetic head |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03283012A (en) |
-
1990
- 1990-03-29 JP JP8217090A patent/JPH03283012A/en active Pending
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