JPH02169760A - 延反機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、原反の延反に使用される延反機に関し、特に
原反に織りむら、シミ等があった場合に原反のカットロ
スを最小にするように自動的に延反処理を行う延反機に
関するものである。

〔従来の技術〕

従来、原反の延反工程は作業員各人の経験に基づいて行
われていた。即ち、延反に先立ちｙＫ及を作業員が検査
し、原反の織りむら、シミ、キズ等（以下、本明細書で
「欠点」と称す）を検出し、該検出した欠点をシール等
で覆って印を付ける残反作業が行われる。この残反作業
で印が付された原反が延反機にセットされ、原反の延反
・裁断工程が行われる。延友時に該欠点を示す印が検出
されると、縫製パターンが北録されたマーキングシート
を原反の上に乗せ、該欠点が縫製パターン内にあるか否
かを作業員が目視で判断する。該欠点が縫製パターン内
にある場合には、作業員がこの原反の欠点部分を縫製品
から除くために原反カットの有無、原反カット位置の決
定、再延反位置決定あるいは残反の使用判断等の処理（
以下、本明細書で「欠点処理」と言う）を自分の経験に
基づいて行っている。

〔発明が解決しようとする課題〕

したがって、従来装置では欠点を示す原反上の印の検出
作業、該欠点位置と縫製パターンとの比較作業、原反の
欠点処理等を全て作業員が行わなければならない欠点が
あり、作業員の負担が非常に大きい欠点がある。また、
作業員個人の経験に基づく作業が多い為に原反の欠点処
理において原反カットロスが大きくなる欠点がある。

本発明はこの点を改良するもので、原反の延反工程を自
動化することができ、作業員の負担を軽減することがで
き、原反の欠点処理を正確に行うことができ、しかも原
反のカットロスを軽減することができる延反機を提供す
ることを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、残反作業で原反上に付された印から原反上の
欠点の位置（座標値）を判別する第１の手段と、衣服の
各パーツの裁断パターンを座標値で記憶する第２の手段
と、この第１および第２の手段の出力に基づいて欠点が
裁断パターン内に有るか否かを判別する第３の手段と、
第３の手段で裁断パターンに欠点があると判別された時
に裁断パターン内の欠点の位置および大きさ、該裁断パ
ターンの大きさ、該裁断パターンの周囲の裁断パターン
の大きさに基づいて原反カットロス量を最小にする為の
欠点処理データを判別する第４の手段と、この第４の手
段で判別され、出力された欠点処理データにしたがって
原反の欠点処理を行う第５の手段とを備えることを特徴
とする。

〔作用〕

しかって、欠点の位置座標値と予め記憶された裁断パタ
ーンの座標値とを比較して欠点が裁断パターン内に有る
か否かが自動的に瞬時に判別され、この結果に基づいて
欠点の位置や回りの裁断パターンの種類等に対応した欠
点処理が正確にしかも原反のカットロスを最小にする様
に自動的に行われる。

（実施例〕 本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は本発明一実施例の延反機の概略図を示す。第１
図において、１は上述の作業員による残反作業により各
々の欠点位置に印２が付された原反を示す。図から明ら
かな様に原反１はロール状に巻かれて延反機本体３に搭
載される。延反機本体３はガイドレール５に従ってロー
ル状の原反１を延反開始位置Ａから矢印の方向に移動さ
せ、原反１を延反テーブル６上に延反させ、所定量の（
例えば、衣服−着分の原反）延反が終了するＢ点に達す
ると原反カッタ７で原反１をカットして１枚分の原反の
延反を終了する。　−枚分の延反が終了すると、延反機
本体３はＢ点からＡ点に復帰し、Ａ点からＢ点に向（づ
て次ぎの延反を行う。第１図中、８は延反テーブル６上
に延反され積層された各原反を示し、９は電気的手段で
構成された延反機の制御回路を示す。

また、第１図中ｌＯは前記残反作業で原反上に付された
印のＹ座標値を検出する為のライン検出器を示し、１１
は前記の印のＸ座標値を検出する為のエンコーダを示す
。

第２図は前記制御回路９のブロックを示す。第２図にお
いて、エンコーダ１１の出力はカウンタ１２に接続され
いる。このカウンタ１２の出力およびライン検出器１０
の出力は欠点位置検出回路１３に接続され、この欠点位
置検出回路１３の出力は欠点位置比較回路１５に接続さ
れている。また、この欠点位置比較回路１５には、衣服
の各パーツの裁断パターンデータを記憶するお憶回路１
６の出力が接続されている。この記憶回路１６は本実施
例では７０ツピ等の外部記憶装置で構成されている。こ
の欠点位置比較回路１５の出力は欠点処理データ判別回
路１７に接続され、この欠点処理データ判別回路１７の
出力は本延反機の駆動回路１８に接続されている。ここ
で、駆動回路１８は一般的な回路で、モータ、動力伝達
用のチェーン等で構成されている。また、前記欠点処理
データ判別回路１７の出力は延反枚数、延反時間、欠点
個数、欠点処理時間、原反カットロス長等の延反実績を
記憶する延反実績記憶回路１９に接続されている。

第３図は本発明一実施例のフローチャートを示す。

〔動作〕

この様に構成した本発明一実施例の特徴ある動作を説明
する。

残反作業で原反上の各欠点をシール等で覆って印２が付
されたロール状の原反１が、延反機本体３に搭載され、
−枚の延反量等が初期設定さると第１図で説明した様な
延反作業が自動的に行われる（７０−チャート第３図ブ
ロック２５．２６、以下単にブロックと言う）。この延
反作業で前記欠点が検出されなければ、前記延反作業が
繰り返される（ブロック２７のＮｏ）。

延反作業中に前記欠点が検出されると延反作業が一時中
断、即ち延反機本体３の延反方向への移動が一時停止さ
れる（ブロック２７．２８）。

本実施例では、この欠点検出動作は一般的な光学的な方
法を用いて行われている。即ち、印２は原反１と異なる
明度を有するものが使用される。これにより、−膜内な
光学的手段を備えた前記ライン検出器１０において前記
中２が検出され。前記ライン検出器１０は印２のＹ　座
標値を欠点位置検出回路に出力する。この時に、前記ラ
イン検出器ｌＯと一体に移動するエンコーダ１１からは
延反方向への移動距離に相当するパルスが発生されてお
り、カウンタ１２がこのパルスを計数して前記欠点のＸ
座標値を前記欠点位置検出回路１３に出力する。これに
より、欠点位置検出回路１１において、前記欠点の延反
された原反上の位置（即ち、座標値）が決定される。

次に、この欠点が裁断パターン内に有るか否かが欠点位
置比較回路１５で判別される（ブロック２９）。即ち、
前記記憶回路１６には第４図に示す様な裁断パターン３
５が座標値データで記憶されており、この裁断パターン
の座標値が欠点位置比較回路１５に読出される。この状
態で、欠点位置比較回路１５は裁断パターン３５の原点
位置と前記欠点の位置を判別しｔ；延反された原反上の
座標系の原点位置とを一致させ、前記欠点が裁断パター
ン内にあるかを判別する。

この状態を第４図に概念的に示す。第４図中、各々示さ
れたている型が各パーツの裁断パターンであり、本実施
例では延反される１枚分の原反量と第４図に示した裁断
パターン３５の大きさを等しくした例を示している為、
欠点の座標系は裁断パターン３５の座標系と対応してい
る。欠点が裁断パターン内に有るか否かは第４図の示し
た様に両者の座標値を比較することにより判別される。

第４図は欠点が裁断パターン内にある場合を示す。

欠点が裁断パターン内になければ、欠点個数が更新され
（延反実績の更新）延反作業が継続される（ブロック２
９．３０）。

欠点が裁断パターン内にあれば、原反のカットロスを最
小にする為に、以下の動作が欠点処理データ判別回路１
７で行われる（ブロック３１．３２．３３）。

即ち、裁断パターン内に欠点がある場合にはその欠点に
ついて以下の４種類のロ、ス長ａ、ｂ、ｃ。

ｄが判別される。

ａ、欠点を含む裁断パターンの最大Ｘ座標値と最小Ｘ座
標値の差を求め、ロス長ａとする。欠点が複数の裁断パ
ターンに及ぶ場合は、それぞれの裁断パターンの最大Ｘ
座標値の最大のＸ座標値と、それぞれの裁断パターンの
最小Ｘ座標値の最小のＸ座標値との差を求め、ロス長ａ
とする。

ｂ、欠点の最大Ｘ座標値と、この位置で原反をカットす
ることによりカットされることになる各裁断パターンの
各最小Ｘ座標値および欠点を含む裁断パターンの最小Ｘ
座標値の内の最小のＸ座標値と、の差を求め、ロス長す
とする。

Ｃ０欠点の最大Ｘ座標値でカットすることによりカット
される裁断パターンの個々について、その裁断パターン
の最大Ｘ座標値と、その裁断パターンの最大Ｘ座標値位
置でさらにカットすることによりカットされるそれぞれ
の裁断パターンの最小Ｘ座標値および欠点を含む裁断パ
ターンの最小Ｘ座標値のうち最も小さなＸ座標値と、の
差を求め、この差の最小のものをロス長Ｃとする。

ｄ、欠点をＸ方向にスライドして、欠点が裁断パターン
からはずれたときのスライド量をロス長ｄとする。

この動作を第５図乃至第８図に概念的に示す。

ここで、実際はブロック２７で欠点が判別されブロック
２９で欠点が裁断パターン内にあることが判別されると
、その欠点について第５図乃至第８図を用い説明する上
述のａ−ｄの判別動作がそれぞれ行われる。しかし、第
５図乃至第８図においては、この欠点処理動作を理解し
やすい様に欠点位置が異なって描がかれている。また、
第５図乃至第８図は各パーツの裁断パターンを全て示し
ているが、上述の如く欠点が検出されると延反作業は中
断され、欠点の座標値と裁断パターンの座標値を用いて
前記欠点処理データ判別回路１７てこのａ−ｄの判別動
作がそれぞれ行われる。また、以下の説明においてはＸ
の添字は最大または最小を示すもので具体的な座標値を
示すものでない。

第５図を用いてロス長ａの判別動作を説明する。

第５図は欠点を示す印２が複数の裁断パターン４０およ
び４１に及ぶ場合である。第５図（ｃ）は欠点の回りを
拡大して示した図である。この場合には、それぞれの裁
断パターン４０及び４１の最大Ｘ座標値Ｘ、、Ｘ、の内
の最大Ｘ座標値Ｘ１と、それぞれの裁断パターン４０．
４１の最小Ｘ座標値Ｘ８、Ｘ、の内の最小Ｘ座標値Ｘ、
との差Ｉｘ＋ｘ　ｓ　Ｉを求め、ロス長ａとする。ここ
で、前記最大Ｘ座標値、最小Ｘ座標値は記憶回路１６に
記憶された裁断パターンの座標値から瞬時に判別される
ことは明らかである。

第６図を用いてロス長すの判別動作を説明する。

第６図（ｃ）は欠点の回りを拡大して示した図である。

欠点の最大Ｘ座標値ｘｌと、この座標値Ｘ。

の位置で原反をカットすることによりカットされること
になる各パターン４２〜４６の各最小Ｘ座標値Ｘ　２−
　Ｘ　ｓ、Ｘ　４＋　Ｘ　ａおよび欠点を示す印２を含
む裁断パターン４７の最小Ｘ座標値Ｘ、の内の最小のＸ
座標値Ｘ４との差ｌＸｌ−Ｘ４１を求め、ロス長すとす
る。

第７図を用いてロス長Ｃの判別動作を説明する。

第７図（ｃ）は欠点の回りを拡大して示した図である。

欠点を示す印２の最大Ｘ座標値Ｘ１でカットすることに
よりカットされる裁断パターン４２〜４６の各々につい
て、その裁断パターンの最大Ｘ座標値と、その裁断パタ
ーンの最大Ｘ座標値位置でさらにカットすることにより
カットされるそれぞれの裁断パターンの最小Ｘ座標値お
よび欠点を含む裁断パターンの最小Ｘ座標値のうち最も
小さなＸ座標値と、の差を求めこの差の最小のものをロ
ス長Ｃとする。

いま、欠点を示す印２の最大Ｘ座標値ｘｌでカットする
ことによりカットされる裁断パターン４５について説明
すると、裁断パターン４５の最大Ｘ座標値Ｘ２と、裁断
パターン４５の最大Ｘ座標値ｘ２の位置でさらにカット
することによりカットされるそれぞれの裁断パターン４
２．４３．４８．４９の最小Ｘ座標値Ｘ　３．Ｘ　４．
Ｘ　ｓ、　Ｘ　ｓ“および欠点を示す印２を含む裁断パ
ターン４７の最小Ｘ座標値Ｘ、のうち最も小さなＸ座標
値Ｘ３と、の差Ｉｘ２−ｘｚｌを求める。以下、この動
作を各裁断パターン４２〜４４および４６について行い
、その差の最小ものをロス長Ｃとする。第７図は裁断パ
ターン４５の最大Ｘ座標値Ｘ２と裁断パターン４２の最
小Ｘ座標値Ｘ、との差がロス長Ｃとなる場合を示す。

第８図を用いてロス長ｄの判別動作を説明する。

欠点を示す印２をＸ座標方向にスライドさせ、欠点を示
す印２が裁断パターン４７の外になるときのスライド量
をロス長ｄとする。

以上説明した様に検出された欠点に対しての各ロス長が
決定されると、最小のロス長が表に示す様なテーブルに
従って欠点処理データ判別回路１７で決定される（ブロ
ック３２）。

表 最小ロス長が判別されると、この判別された最小ロス長
に対応した欠点処理に従って延反機本体３が駆動回路１
８により駆動され欠点処理が行われる（ブロック３３）
。

即ち、ロス長ａが最小のときには、第５図（ａ）および
（ｂ）に示す様に、原反をカットせずに延反を継続し延
反終了する。その後に、最後に延反された生地５０の欠
点を含む裁断パターン４０．４１の位置に残反５１を乗
せる。これにより、裁断工程において欠点の無い残反５
１により裁断パターン４０１４１が裁断され、原反のカ
ットロスは最小になる。

ロス長すが最小のときには、第６図（ａ）および（ｂ）
に示す様に、欠点を示す印２の最大Ｘ座標値ＸＩで原反
をカットし上述の最小Ｘ座標値Ｘ。

まで戻り、再度延反する様に延反機本体３が駆動される
。即ち、ロス長すが演算された最大Ｘ座標値Ｘ、まで原
反１が延反開始位置Ａから延反され、この点で原反１は
ロス長すが演算された最小Ｘ座標値Ｘ４まで戻されこの
位置から延反終了点Ｂまで再度延反される様に駆動され
る。

ロス長Ｃが最小のときには、第７図（ａ）および（ｂ）
に示す様に、ロス長Ｃを演算した最大Ｘ座標値Ｘ２まで
原反１が延反開始位置Ａから延反され、この点で原反１
はロス長Ｃを演算した最小Ｘ座標値Ｘ、まで戻されこの
位置から延反終了点Ｂまで再度延反されるように延反機
本体３が駆動される。

ロス長ｄが最小のときには、原反１をＸ原点方向（即ち
、延反開始方向）にロス長ｄ分だけスライドしてから再
延反が行われる様に延反機本体３を駆動する。また、延
反作業中の延反枚数、延反時間、欠点個数、欠点処理時
間、原反カットロス長等の値は延反実績として延反実績
記憶回路１９にその都度更新記憶される。

また、本実施例では裁断パターン原点と、１枚の延反さ
れた生地の原点が一致した例を示したが、装置原点に対
して延反原点、裁断原点の設計が制御回路により自由に
おこなえる（オフセットがＸ。

Ｙ共に自由にかけられる）。

また、原点の値、延反実績等必要な値を別電源で保持さ
れた記憶装置、又は書換可能な記憶媒体に記録すること
により、トラブルの際、値を再利用できる。

また、上記実施例では欠点位置検出手段として、ライン
検出器を用いる例を示したが、第９図に概略図で示す様
にライン検出器の代わりに、バーコード５５とバーコー
ド・リーダ５６を用いることも出来る。第９図において
第１図と同一の符号は第１図と同一のものをそれぞれ示
す。

即ち、残反作業中にそれぞれの欠点２の識別コードをバ
ーコード５５に書込み、このバーコード５５を欠点２と
対応する原反８の耳に貼り付けると共に、このバーコー
ド５５で識別される欠点２のＹ座標値をそれぞれ記憶す
る。また、前記バーコードの貼り付は位置に位置合わせ
してバーコード・リーダ５６を前記延反機本体３と共に
移動するスライダ５７に取付ける。

この様に構成した第２実施例では、欠点２に対応するバ
ーコード５５がバーコード・リーダ５６で検出されと、
エンコーダ１１およびカウンタ１２から第１図と同様に
得られるＸ座標値と、バーコード５５に対応して予め記
憶されたＹ座標値とから欠点２の座標値が検出される。

〔効果〕

以上説明した様に本発明は、残反作業で原反上の付され
た印から判別し原反上の欠点の座標値を判別する第１の
手段と、衣服の各パーツの裁断パターンを座標値で記憶
する第２の手段と、この第１および第２の手段の出力に
基づいて欠点が裁断パターン内に有るか否かを判別する
第３の手段と、第３の手段で裁断パターンに欠点がある
と判別された時に裁断パターン内の欠点の位置および大
きさ、該裁断パターンの大きさ、該裁断パターンの周囲
の裁断パターンの大きさに基づいて原反カットロス量を
最小にする為の欠点処理データを判別する第４の手段と
、この第４の手段で判別され、出力された欠点処理デー
タにしたがって原反の欠点処理を行う第５の手段とを備
えるものである。

したがって、原反の延反工程を人手を介さすに自動的に
行う事ができ、従来装置に比較して作業員の負担を軽減
することができ、しかも原反の欠点処理を正確に行うこ
とができ、原反のカットロスも軽減することができる等
の優れた効果を有する。また、延反枚数、延反時間、欠
点個数、欠点処理時間、原反カットロス長等の延反実績
を正確に記憶し、管理する事ができる優れた効果を有す
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明一実施例の外観図。 第２図は本発明一実施例の電気的なブロック図。 第３図は本発明一実施例のフローチャート。 第４図は本発明一実施例における裁断パターンの説明図
。 第５図（ａ）〜（ｃ）はロス長さａの判別および処理の
説明図。 第６図（ａ）〜（ｃ）はロス長すの判別および処理の説
明図。 第７図（ａ）〜（ｃ）はロス長Ｃの判別および処理の説
明図。 第８図（ａ）および（ｂ）はロス長ｄの判別および処理
の説明図。 第９図は本発明の欠点検出手段の他の実施例の構成図。 １　　　　原反 ２印 ３　　　　延反機本体 ５　　　　ガイドレール ６　　　　延反テーブル ７　　　　原反カッタ ８　　　　延反された原反 ９　　　　延反機の制御回路 １０　　　ライン検出器 １１　　　エンコーダ １２　　　カウンタ １３　　　欠点位置検出回路 １５　　　欠点位置比較回路 １６　　　記憶回路 １７　　　欠点処理データ判別回路 １８　　　駆動回路

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、延反されている原反上の欠点を検出し、その座標値
   を出力する欠点位置検出手段と、原反を裁断するための
   裁断パターンを座標 値で予め記憶した記憶回路と、 前記欠点位置検出手段の出力と前記記憶回 路の出力とに基づいて前記欠点が前記裁断パターン内に
   有るか否かを判別する欠点位置比較回路と、 前記欠点位置比較回路で前記欠点が前記裁 断パターン内に有ると判別されたときに、前記欠点の位
   置および大きさ、前記欠点が存在する前記裁断パターン
   の大きさ、前記欠点が存在する前記裁断パターンの回り
   の前記裁断パターンの大きさに基づいて前記原反のカッ
   トロスが最小となる様に欠点処理データを判別する欠点
   処理データ判別回路と、 前記欠点処理データ判別回路の出力に基づ いて前記原反の前記欠点の処理を行う欠点処理手段と を含む延反機。 ２、前記欠点処理データ判別回路が、欠点を含むそれぞ
   れの裁断パターンの内の最大のＸ座標値と最小のＸ座標
   値の差を求めて出力する回路であり、 前記欠点処理手段が前記差に基づく大きさ の残反を延反された原反の前記欠点位置に積載する手段 である請求項１に記載の延反機。 ３、前記欠点処理データ判別回路が、欠点の最大のＸ座
   標値と、この位置で前記原反をカットすることによりカ
   ットされることになる前記各裁断パターンの各最小Ｘ座
   標値および前記欠点を含む裁断パターンの最小Ｘ座標値
   の内の最小のＸ座標値との差を求める回路であり、 前記欠点処理手段が、前記原反を前記欠点 の最大のＸ座標値でカットし、前記差分だけ前記原反を
   延反開始方向に戻してから再度延反を行う手段 である請求項１に記載の延反機。 ４、前記欠点処理データ判別回路が、欠点の最大のＸ座
   標値でカットすることによりカットされる前記裁断パタ
   ーンの個々について、その裁断パターンの最大Ｘ座標値
   と、この裁断パターンの最大Ｘ座標値位置でさらにカッ
   トすることによりカットされるそれぞれの前記裁断パタ
   ーンの最小Ｘ座標値および前記欠点を含む裁断パターン
   の最小Ｘ座標値のうち最も小さなＸ座標値との差を求め
   、この差の内で最小の差を求める回路であり、 前記欠点処理手段が、前記原反を前記最小 の差を求めた裁断パターンの最大Ｘ座標値でカットし前
   記最小の差分だけ前記原反を延反開始方向に戻してから
   再度延反を行う手段 である請求項１に記載の延反機。 ５、前記欠点処理データ判別回路が、欠点をＸ座標方向
   にスライドして、前記欠点が前記裁断パターンからはず
   れたときのスライド量を求める回路であり、 前記欠点処理手段が、前記原反を前記求め たスライド量だけ延反開始方向にスライドしてから再度
   延反を行う手段 である請求項１に記載の延反機。 ６、前記欠点処理データ判別回路が、 欠点を含むそれぞれの裁断パターンの内の 最大のＸ座標値と最小のＸ座標値との第１の差と、 前記欠点の最大のＸ座標値と、この位置で 前記原反をカットすることによりカットされることにな
   る前記各裁断パターンの各最小Ｘ座標値および前記欠点
   を含む裁断パターンの最小Ｘ座標値の内の最小のＸ座標
   値との第２の差とを求め、この第１および第２の差の内
   の小さい方を判断する回路であり、 前記欠点処理手段が、 前記第１の差が小さい場合には、前記第１ の差に基づく大きさの残反を延反された原反の前記欠点
   位置に積載し、 前記第２の差の方が小さい場合には、前記 原反を前記欠点の最大のＸ座標値でカットし、前記第２
   の差分だけ前記原反を延反開始方向に戻してから再度延
   反を行う手段 である請求項１に記載の延反機。 ７、前記欠点処理データ判別回路が、 欠点を含むそれぞれの裁断パターンの内の 最大のＸ座標値と最小のＸ座標値の第１の差と、 前記欠点の最大のＸ座標値と、この位置で 前記原反をカットすることによりカットされることにな
   る前記各裁断パターンの各最小Ｘ座標値および前記欠点
   を含む裁断パターンの最小Ｘ座標値の内の最小のＸ座標
   値との第２の差と、 前記欠点の最大のＸ座標値でカットするこ とによりカットされる前記裁断パターンの個々について
   、その裁断パターンの最大Ｘ座標値と、この裁断パター
   ンの最大Ｘ座標値位置でさらにカットすることによりカ
   ットされるそれぞれの前記裁断パターンの最小Ｘ座標値
   および前記欠点を含む裁断パターンの最小Ｘ座標値のう
   ち最も小さなＸ座標値との差を求め、この差の内の最小
   の第３の差とを求め、この第１、第２及び第３の差の内
   で最小のものを判別する回路であり、 前記欠点処理手段が、 前記第１の差が最小の場合には、前記第１ の差に基づく大きさの残反を延反された原反の前記欠点
   位置に積載し、 前記第２の差が最小の場合には、前記原反 を前記欠点の最大のＸ座標値でカットし、前記第２の差
   分だけ前記原反を延反開始方向に戻してから再度延反を
   行い、 前記第３の差が最小の場合には、前記原反 を前記第３の差を求めた裁断パターンの最大Ｘ座標値で
   カットし前記求めた第３の差分だけ前記原反を延反開始
   方向に戻してから再度延反を行う手段 である請求項１に記載の延反機。 ８、前記欠点処理データ判別回路が、 欠点を含むそれぞれの裁断パターンの内の 最大のＸ座標値と最小のＸ座標値の第１の差と、 前記欠点の最大のＸ座標値と、この位置で 前記原反をカットすることによりカットされることにな
   る前記各裁断パターンの各最小Ｘ座標値および前記欠点
   を含む裁断パターンの最小Ｘ座標値の内の最小のＸ座標
   値との第２の差と、 前記欠点の最大のＸ座標値でカットするこ とによりカットされる前記裁断パターンの個々について
   、その裁断パターンの最大Ｘ座標値と、この裁断パター
   ンの最大Ｘ座標値位置でさらにカットすることによりカ
   ットされるそれぞれの前記裁断パターンの最小Ｘ座標値
   および前記欠点を含む裁断パターンの最小Ｘ座標値のう
   ち最も小さなＸ座標値との差を求め、この差の内の最小
   の第３の差と、 前記欠点をＸ座標方向にスライドして、前 記欠点が前記裁断パターンからはずれたときのスライド
   量とを求め、これらの内の最小のものを判別する回路で
   あり、 前記欠点処理手段が、 前記第１の差が最小の場合には、前記第１ の差に基づく大きさの残反を延反された原反の前記欠点
   位置に積載し、 前記第２の差が最小の場合には、前記原反 を前記欠点の最大のＸ座標値でカットし、前記第２の差
   分だけ前記原反を延反開始方向に戻してから再度延反を
   行い、 前記第３の差が最小の場合には、前記原反 を前記第３の差を求めた裁断パターンの最大Ｘ座標値で
   カットし前記求めた第３の差分だけ前記原反を延反開始
   方向に戻してから再度延反を行い、 前記スライド量が最小の場合には、前記原 反を前記求めたスライド量だけ延反開始方向にスライド
   してから再度延反を行う手段 である請求項１に記載の延反機。