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JPH01172563A - 高純度膜の形成方法 - Google Patents

高純度膜の形成方法

Info

Publication number
JPH01172563A
JPH01172563A JP33117287A JP33117287A JPH01172563A JP H01172563 A JPH01172563 A JP H01172563A JP 33117287 A JP33117287 A JP 33117287A JP 33117287 A JP33117287 A JP 33117287A JP H01172563 A JPH01172563 A JP H01172563A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum
deposited
purity
metal
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33117287A
Other languages
English (en)
Inventor
Masato Kiuchi
正人 木内
Mamoru Sato
守 佐藤
Kaneyoshi Fujii
藤井 兼栄
Korekazu Yoshida
吉田 云一
Yoichi Hashimoto
陽一 橋本
Noritaka Maeyama
前山 能孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP33117287A priority Critical patent/JPH01172563A/ja
Publication of JPH01172563A publication Critical patent/JPH01172563A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、被加工物表面に、混入不純物が極めて少な
く、しかも強い付着力を有する高純度膜を形成する方法
に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は例えば、金属表面技術第30巻第5号225頁
〜231頁(1979年)に示された真空蒸着法の概要
図で、図において1は基板、即ち被加工物、2は基板支
持台、4はるつぼ、5は蒸着用原料、10は排気系、1
1は各部材を収容する真空容器、12はヒータである。
次に動作について説明する。
まず真空容器11内を排気系10にて真空にした後、る
つぼ4を加熱し、蒸着用原料5を蒸発させて被加工物1
上に堆積させる。この時必要に応じてヒータ12にて被
加工物1を加熱して膜形成することもある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の方法では、真空容器内の雰囲気中に残留している
不純物質を巻込みながら蒸着が行われるため膜形成中に
不純物が取り込まれ、形成膜の純度が高くならないとい
う問題が゛あった。また蒸着粒子の基板に対する衝突エ
ネルギーが低く、膜の付着力が弱いことにより、形成膜
が基板から剥離するという問題があった。さらに−付着
力を増すために蒸着中の基板温度を上げると、形成膜中
の残留応力が増加したり、基板自体の材質が変化したり
して形状精度を保つことが困難になる、物理的特性が低
下する等の問題があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、強い付着力を有する高純度膜の形成方法を得
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明にかかる高純度膜の形成方法は、真空中で金属
を被加工物表面に1〜200Å/sec等の速度で蒸着
すると同時に、蒸着している被加工物表面に不活性元素
イオンを加速電圧5〜80に■で加速し、照射itl 
X 10′2〜3 X 10”ton/mmzsecで
照射し、高純度の膜を形成するようにしたものである。
〔作用〕
この発明においては、金属の蒸着と同時に、不活性元素
イオンを被加工物表面に照射することにより、成長途上
にある膜表面に存在する酸素等の不純物質をイオンビー
ムのスパッタ効果によって除去しながら膜形成を行うの
で、高純度の金属被膜を形成することができる。
〔実施例〕
、以下この発明の一実施例を図とともに説明する。
第1図はこの発明の一実施例による高純度膜の形成方法
を実施するための成膜装置の断面構成図で、図において
1,2,4.5.10及び11は第2図で示した従来装
置と同−又は相当部分である。3は蒸着用原料5の加熱
用E B (ElectronBeam)ガン、6はイ
オン加速電極、7は不活性元素をイオン化するための電
子放射源である。
次に上記装置を用いた高純度膜の形成方法について、チ
タンの蒸着を例にとって説明する。
まず真空容器11内を10−hTo r rオーダにま
で真空引きした後、ガス導入口8からアルゴンガスを導
入し、10−’To r rオーダに保つ。このアルゴ
ンガス粒子を電子放射源7からの電子シャワーを浴びせ
ることによってプラスイオン化した後、加速電極6に負
電圧を印加することによって加速して基板1表面に照射
する。この時るつぼ4内に収容されたチタン材料5をE
Bガン3を使って加熱・蒸発させて基板1の表面に堆積
させることによって、チタンの蒸着とアルゴンの照射と
を同時に行う。−例として、チタンの蒸着速度を30Å
/sec、アルゴンイオン照射量を2.2X10 ”t
ons/mm2sec 、アルゴンイオンの加速電圧を
10kVとすると、被加工物表面部に形成されるチタン
膜中に含まれる酸素濃度はアルゴンイオンの照射を行わ
ずにチタンの蒸着のみを蒸着速度30Å/secで行っ
て形成したチタン膜中に含まれる酸素濃度の5分の1以
下という低い値であることを確認した。なお、チタンの
蒸着速度は、水晶振動子式の膜厚計によって常時モニタ
し、るつぼ入熱量の調整を行うことによって常に一定値
に保ちながら膜形成を行った。また、成膜開始直前の真
空容器11内の到達真空度は3×10−’Torrであ
った。このときのアルゴンイオンの照射量(電子放射源
7の調整により制御できる)は1×10 ”〜3 X 
1014tons/mm”sec 、 7 /L/ゴン
イオンの加速電圧は5〜60kV程度が適当である。
アルゴンイオンの照射量を1×10′2以下にするとア
ルゴンイオンの絶対量が少ないことからアルゴンイオン
による清浄化の効果が薄れ、高純度化が達成されない。
逆に照射量を3×10′4以上にすると基板温度が上が
り過ぎ、基板の形状精度を損なうことになり、また材料
の変質、劣化、膜の付着力の低下を招き好ましくない。
アルゴンイオンの加速電圧を5kV以下にすると、アル
ゴンイオンによるスパッタ効率が低下し、蒸着表面清浄
化の効果が薄れ、膜の高純度化が達成できない。
逆に加速電圧を60kV以上にすると被加工物の温度上
昇による形状精度の低下、材料の変質、劣化、および堆
積したチタンを激しくスパッタすることによる膜表面の
荒れをひき起こし、また大規模なイオン源が必要となり
、実用的ではない。
なお、上記実施例では蒸着用原料にチタンを用いる場合
を示したが、これはアルミニウムや銅などの他の金属を
使用しても同様の効果が得られる。
また不活性元素ガスとしてアルゴン100%ガスを使用
する場合を示したが、他の不活性元素ガス(N、、に、
、Xe)や、それらの混合ガスを用いても良い。また蒸
着用原料の蒸着には、真空蒸着法、スパッタ蒸着法、イ
オンブレーティング法。
原料をクラスタイオン化させるイオンガンを使用する方
法などを利用しても良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明にかかる高純度膜の形成
方法によれば、真空中で金属を被加工物表面に蒸着する
と同時に、蒸着している被加工物表面に不活性元素イオ
ンを、加速電圧5〜60に■で加速し、照射量1×10
′2〜3×10目ion/mm2secで照射するよう
にしたので、非常に純度の高い金属被膜を形成すること
ができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による高純度膜の形成方法
に使用する成膜装置の断面構成図、第2図は従来の成膜
装置の断面構成図である。 1は被加工物、3はEBガン、4はるつぼ、5は蒸着用
原料、6は加速電極、7は電子放射源、8はガス導入口
、11は真空容器である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空中で金属を被加工物表面に蒸着すると同時に
    、蒸着している被加工物表面に不活性元素イオンを加速
    電圧5〜60kVで加速し、照射量1×10^1^2〜
    3×10^1^4ions/mm^2secで照射する
    ことを特徴とする高純度膜の形成方法。
  2. (2)上記金属の蒸着を1〜200Å/secの速度で
    行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の高純
    度膜の形成方法。
  3. (3)蒸着金属としてTi、Alを、不活性元素イオン
    としてNa、Ar、Kr、Xeを用いたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項または第2項に記載の高純度膜
    の形成方法。
  4. (4)金属の蒸着に、真空蒸着法、スパッタ蒸着法、イ
    オンブレーティング法のいずれかを用いたことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれかに記
    載の高純度膜の形成方法。
  5. (5)金属の蒸着に金属をクラスタイオン化させるイオ
    ンガンを使用したことを特徴とする特許請求の範囲第1
    項ないし第3項のいずれかに記載の高純度膜の形成方法
JP33117287A 1987-12-26 1987-12-26 高純度膜の形成方法 Pending JPH01172563A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0389201A (ja) * 1989-08-31 1991-04-15 Toshiba Glass Co Ltd 多層光干渉膜
JPH03279294A (ja) * 1990-03-29 1991-12-10 Mitsubishi Materials Corp エピタキシャル層の成長方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6196721A (ja) * 1984-10-17 1986-05-15 Agency Of Ind Science & Technol 被膜形成方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6196721A (ja) * 1984-10-17 1986-05-15 Agency Of Ind Science & Technol 被膜形成方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0389201A (ja) * 1989-08-31 1991-04-15 Toshiba Glass Co Ltd 多層光干渉膜
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