JPH01114061A - 半導体パッケージ - Google Patents
半導体パッケージInfo
- Publication number
- JPH01114061A JPH01114061A JP27224887A JP27224887A JPH01114061A JP H01114061 A JPH01114061 A JP H01114061A JP 27224887 A JP27224887 A JP 27224887A JP 27224887 A JP27224887 A JP 27224887A JP H01114061 A JPH01114061 A JP H01114061A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tab
- cap
- semiconductor package
- wiring board
- tabic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 5
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/49105—Connecting at different heights
- H01L2224/49109—Connecting at different heights outside the semiconductor or solid-state body
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子装置等に使用される配線基板にTAB
ICを実装した半導体パッケージに間する。
ICを実装した半導体パッケージに間する。
従来、この種の半導体パッケージは第2図に示すように
配線基板2−1とキャップ2−2とでできる空所2−3
に容量素子2−4を配置しなり、あるいは、第3図に示
すようにキャップ3−1に凹所3−2を設は容量素子3
−3を配置していた。
配線基板2−1とキャップ2−2とでできる空所2−3
に容量素子2−4を配置しなり、あるいは、第3図に示
すようにキャップ3−1に凹所3−2を設は容量素子3
−3を配置していた。
(例えば、実願昭58−41917号)〔発明が解決し
ようとする問題点〕 上述した従来の半導体パッケージは、第2図のように容
量素子2−4を空所2−3に入れるためには容量素子2
−4の大きさだけ空所2−3を大きくする必要があり、
半導体パッケージの大きさが大きくなる。また、第3図
のように容量素子3−3をキャップ3−1の凹所に入れ
るためにはキャップ3−1の厚みを厚くする必要があり
。結局、半導体パッケージの大きさが大きくなってしま
う。
ようとする問題点〕 上述した従来の半導体パッケージは、第2図のように容
量素子2−4を空所2−3に入れるためには容量素子2
−4の大きさだけ空所2−3を大きくする必要があり、
半導体パッケージの大きさが大きくなる。また、第3図
のように容量素子3−3をキャップ3−1の凹所に入れ
るためにはキャップ3−1の厚みを厚くする必要があり
。結局、半導体パッケージの大きさが大きくなってしま
う。
また、キャップ3−1側に容量素子3−3が有るために
、TAB ICのダイを配線基板に接着しなければな
らず、TAB ICの発生する熱をキャップ側から放
出するという効率のよい方法が使えないという欠点があ
る。
、TAB ICのダイを配線基板に接着しなければな
らず、TAB ICの発生する熱をキャップ側から放
出するという効率のよい方法が使えないという欠点があ
る。
本発明の半導体パッケージは、周囲にTABICのり°
−ドが接続されるリード用パッドが形成されたTAB
IC実装部が表面に設けられ裏面に該リード用パッド
と接続された入出力用パッドが形成された配線基板と、
該TAB IC実装部にフェイスダウンで実装される
TAB ICのダイと接着され、かつ、該配線基板と
によって該TAB ICを密封するキャップと、前記
配線基板の裏面の中央部に設けた凹所に配置され該TA
BICの端子に接続される素子とを含んで構成され、ま
た該素子は該TAB IC(7)GND端子と電源端
子間に接続される容量素子であるようにもてきる。
−ドが接続されるリード用パッドが形成されたTAB
IC実装部が表面に設けられ裏面に該リード用パッド
と接続された入出力用パッドが形成された配線基板と、
該TAB IC実装部にフェイスダウンで実装される
TAB ICのダイと接着され、かつ、該配線基板と
によって該TAB ICを密封するキャップと、前記
配線基板の裏面の中央部に設けた凹所に配置され該TA
BICの端子に接続される素子とを含んで構成され、ま
た該素子は該TAB IC(7)GND端子と電源端
子間に接続される容量素子であるようにもてきる。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の縦断面図である。
配線基板1−1の表面のTAB ICl−2の実装部
の周囲にはTAB ICl−2のリード1−3と接続
されるリード用パッド1−4が形成されており、内部配
線1−5によって裏面の入出力用パッド1−6に接続さ
れている。また、配線基板1−1の裏面中央には凹所1
−7が設けられており、凹所1−7の底部には容量素子
用パッド1−8が2個形成されており、内部配線1−5
により一方はTAB IC(7)GND端子に、他方
は電源端子に接続されている。2個の容量素子用パッド
1−8には容量素子1−9の両端の電極がそれぞれ接続
される。次にTAB I C1−2が配線基板1−1
にフェイスダウンで実装され、TABICI−2のリー
ド1−3がリード用パッド1−4に接続される。そして
、TAB ICl−2のダイはキャップ1−10に接
続され、キャップ1−10は配線基板1−1とでTAB
ICl−2を密封する。
の周囲にはTAB ICl−2のリード1−3と接続
されるリード用パッド1−4が形成されており、内部配
線1−5によって裏面の入出力用パッド1−6に接続さ
れている。また、配線基板1−1の裏面中央には凹所1
−7が設けられており、凹所1−7の底部には容量素子
用パッド1−8が2個形成されており、内部配線1−5
により一方はTAB IC(7)GND端子に、他方
は電源端子に接続されている。2個の容量素子用パッド
1−8には容量素子1−9の両端の電極がそれぞれ接続
される。次にTAB I C1−2が配線基板1−1
にフェイスダウンで実装され、TABICI−2のリー
ド1−3がリード用パッド1−4に接続される。そして
、TAB ICl−2のダイはキャップ1−10に接
続され、キャップ1−10は配線基板1−1とでTAB
ICl−2を密封する。
また、容量素子用パッド1−8のかわりに、あるいは、
くわえて、内部配線1−5により任意の端子に接続され
たパッドを設は抵抗素子を接続してもよい。
くわえて、内部配線1−5により任意の端子に接続され
たパッドを設は抵抗素子を接続してもよい。
以上説明したように本発明の半導体パッケージは、元々
厚みのある配線基板の配線等に使ってい、ないところに
凹所を設は容量素子を入れるため、半導体パッケージを
厚くしたり、大きくしたりする必要がまったくない。ま
た、TAB ICをフェイスダウンで実装しTAB
rcのダイをキャップと接着しているためTAB
ICの発生する熱をキャップを通して効率良く放出する
ことができる。
厚みのある配線基板の配線等に使ってい、ないところに
凹所を設は容量素子を入れるため、半導体パッケージを
厚くしたり、大きくしたりする必要がまったくない。ま
た、TAB ICをフェイスダウンで実装しTAB
rcのダイをキャップと接着しているためTAB
ICの発生する熱をキャップを通して効率良く放出する
ことができる。
第1図は本発明の一実施例を示す縦断面、第2図は従来
の一例を示す断面図であり、第3図は第2図の従来例の
変形態様に用いるキャップの縦断面図である。 1−1・・・配線基板、■−2・・・TAB IC1
1−3・・・リード、1−4・・・リード用パッド、1
−5・・・内部配線、1−6・・・入出力用パッド、1
−7・・・凹所、1−8・・・容量素子用パッド、1−
9・・・容量素子、1−10・・・キャップ、2−1・
・・配線基板、2−2・・・キャップ、2−3・・・空
所、−2−4・・・容量素子、3−1・・・キャップ、
3−2・・・凹所、3−3・・・容量素子。
の一例を示す断面図であり、第3図は第2図の従来例の
変形態様に用いるキャップの縦断面図である。 1−1・・・配線基板、■−2・・・TAB IC1
1−3・・・リード、1−4・・・リード用パッド、1
−5・・・内部配線、1−6・・・入出力用パッド、1
−7・・・凹所、1−8・・・容量素子用パッド、1−
9・・・容量素子、1−10・・・キャップ、2−1・
・・配線基板、2−2・・・キャップ、2−3・・・空
所、−2−4・・・容量素子、3−1・・・キャップ、
3−2・・・凹所、3−3・・・容量素子。
Claims (2)
- (1)周囲にTAB ICのリードが接続されるリード
用パッドが形成されたTAB IC実装部が表面に設け
られ裏面に該リード用パッドと接続された入出力用パッ
ドが形成された配線基板と、該TAB IC実装部にフ
ェイスダウンで実装されるTAB ICのダイと接着さ
れ、かつ、該配線基板とによって該TAB ICを密封
するキャップと、前記配線基板の裏面の中央部に設けた
凹所に配置され該TAB ICの端子に接続される素子
とを含むことを特徴とする半導体パッケージ。 - (2)素子はTAB IC(7)GND端子と電源端子
間に接続される容量素子である特許請求の範囲第1項記
載の半導体パッケージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27224887A JPH01114061A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 半導体パッケージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27224887A JPH01114061A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 半導体パッケージ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01114061A true JPH01114061A (ja) | 1989-05-02 |
Family
ID=17511198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27224887A Pending JPH01114061A (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 半導体パッケージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01114061A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5701033A (en) * | 1995-03-20 | 1997-12-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
JP2005212016A (ja) * | 2004-01-28 | 2005-08-11 | Kyocera Corp | 電子部品封止用基板および多数個取り用電子部品封止用基板ならびに電子装置の製造方法 |
JP2005262382A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Kyocera Corp | 電子装置およびその製造方法 |
-
1987
- 1987-10-27 JP JP27224887A patent/JPH01114061A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5701033A (en) * | 1995-03-20 | 1997-12-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
JP2005212016A (ja) * | 2004-01-28 | 2005-08-11 | Kyocera Corp | 電子部品封止用基板および多数個取り用電子部品封止用基板ならびに電子装置の製造方法 |
JP2005262382A (ja) * | 2004-03-18 | 2005-09-29 | Kyocera Corp | 電子装置およびその製造方法 |
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