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JP7498891B2 - ガラス粉末、誘電体材料、焼結体及び高周波用回路部材 - Google Patents

ガラス粉末、誘電体材料、焼結体及び高周波用回路部材 Download PDF

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Description

本発明は、10GHz以上の高周波領域において、低い比誘電率及び誘電正接を有するガラス粉末、誘電体材料、焼結体及び高周波用回路部材に関する。
アルミナセラミックは、配線基板や回路部品として広く使用されている。しかし、アルミナセラミックは、比誘電率が10と高く、信号処理の速度が遅いという欠点がある。また、アルミナセラミックは、導体材料として高融点金属のタングステンが使用されるため、導体損失が大きくなるという欠点もある。
アルミナセラミックの欠点を補うために、ガラス粉末とセラミックフィラー粉末を含有する誘電体材料が開発、使用されるに至っている。例えば、アルカリホウケイ酸ガラスからなるガラス粉末を含む誘電体材料は、比誘電率が6~8であり、アルミナセラミックの比誘電率よりも低い。また、この誘電体材料は、1000℃以下の温度で焼成し得るため、導体損失の低いAg、Cu等の低融点金属との同時焼成が可能であり、これらを内層導体として使用し得るという長所がある(特許文献1、2参照)。
特開平11-116272号公報 特開平9-241068号公報
現在、第五世代移動通信システム(5G)への対応に向けた開発が進められており、システムの高速化、高伝送容量化、低遅延化のための技術検討がなされている。5G通信は、高周波数の電波が使用される。そして、5G通信の高周波デバイスに用いる材料には、伝送信号の低損失化のため、低誘電率、低誘電正接が求められる。
しかし、上記特許文献で開示されている誘電体材料は、高周波領域における誘電特性が不十分であるため、信号処理の速度が遅くなるという問題がある。
本発明の目的は、1000℃以下の温度で焼成でき、しかも高周波領域において、低い比誘電率及び誘電正接を有するガラス粉末、誘電体材料、焼結体及び高周波用回路部材を提供することである。
本発明者は、種々の実験を重ねた結果、アルカリホウケイ酸ガラスからなるガラス粉末において、アルカリ金属酸化物の含有量と含有比率を厳密に規制すると、比誘電率と誘電正接が顕著に低下することを見出し、本発明として提案するものである。すなわち、本発明のガラス粉末は、アルカリホウケイ酸ガラスからなるガラス粉末において、ガラス組成中にLiO+NaO+KOを0.1~1.0モル%(但し1.0モル%を含まず)含み、モル比LiO/(LiO+NaO+KO)が0.35~0.65、モル比NaO/(LiO+NaO+KO)が0.25~0.55、モル比KO/(LiO+NaO+KO)が0.025~0.20であり、且つ25℃、16GHzでの比誘電率が3.5~4.0であり、25℃、16GHzでの誘電正接が0.0020以下であることを特徴とする。ここで、「アルカリホウケイ酸ガラス」は、ガラス組成中にアルカリ金属酸化物、SiO、Bを含むガラスである。「LiO+NaO+KO」は、LiO、NaO及びKOの合量を指す。「LiO/(LiO+NaO+KO)」は、LiOの含有量をLiO、NaO及びKOの合量で除した値を指す。「NaO/(LiO+NaO+KO)」は、NaOの含有量をLiO、NaO及びKOの合量で除した値を指す。「KO/(LiO+NaO+KO)」は、KOの含有量をLiO、NaO及びKOの合量で除した値を指す。「25℃、16GHzでの比誘電率」と「25℃、16GHzでの誘電正接」は、両端短絡形誘電体共振器法(JIS R1627)に準拠して測定した値を指す。
本発明のガラス粉末は、ホウケイ酸ガラスを基本組成とし、LiO+NaO+KOを0.1モル%以上含むため、1000℃以下の温度で焼成可能である。また、アルカリホウケイ酸ガラスにおいて、アルカリ金属酸化物は、比誘電率や誘電正接を上昇させる原因となるが、その含有量を1モル%未満に規制すると、高周波領域での比誘電率や誘電正接の上昇を実用上問題のないレベルまで抑えることができる。更に、本発明のガラス粉末は、アルカリ金属酸化物の含有比率を上記のように規制しているため、アルカリ混合効果が最適化されて、誘電正接を大幅に低下させることができる。
本発明の誘電体材料は、ガラス粉末 50~100質量%と、セラミックフィラー粉末 0~50質量%と、を含有する誘電体材料であって、該ガラス粉末が、上記のガラス粉末であり、該セラミックフィラー粉末が、α-石英、α-クリストバライト、β-トリジマイト、α-アルミナ、ムライト、ジルコニア、コージエライトの群から選ばれる1種又は2種以上であることが好ましい。
本発明の焼結体は、誘電体材料を焼結させてなる焼結体であって、該誘電体材料が上記の誘電体材料であることが好ましい。
また、本発明の焼結体は、25℃、16GHzでの比誘電率が3.5~6.0であり、25℃、16GHzでの誘電正接が0.0030以下であることが好ましい。
本発明の高周波用回路部材は、誘電体層を有する高周波用回路部材であって、該誘電体層が上記の焼結体であることが好ましい。
本発明の誘電体材料は、1000℃以下の温度で焼成可能であるため、Ag、Cu等の低融点金属材料を内層導体として使用することができる。更に、本発明の誘電体材料は、高周波領域において、低い比誘電率及び誘電正接を有する。よって、本発明の誘電体材料は、高周波用回路部材として好適である。
モル比LiO/(LiO+NaO+KO)、モル比NaO/(LiO+NaO+KO)、モル比KO/(LiO+NaO+KO)の範囲を三角図で示したものである。
本発明のガラス粉末は、アルカリホウケイ酸ガラスからなるガラス粉末において、ガラス組成中にLiO+NaO+KOを0.1~1.0モル%(但し1.0モル%を含まず)含み、モル比LiO/(LiO+NaO+KO)が0.35~0.65、モル比NaO/(LiO+NaO+KO)が0.25~0.55、モル比KO/(LiO+NaO+KO)が0.025~0.20である。各成分の含有量及び含有比率を上記のように限定した理由を以下に示す。なお、ガラス組成の説明において、%表示は、モル%を意味する。
アルカリホウケイ酸ガラスは、焼成しても結晶が析出しない非晶質のガラスであることが望ましい。これは、非晶質のガラスの方が、結晶性のガラスに比べて、焼成時における軟化流動性が良好であり、緻密な焼結体が得られ易いためである。
アルカリ金属酸化物(LiO、NaO、KO)は、溶融性を高める成分であると共に、誘電体材料の焼成温度を低下させる成分である。LiO+NaO+KOの含有量が多くなると、誘電正接が大きくなり、伝送信号の損失が大きくなり易い。一方、LiO+NaO+KOの含有量が少なくなると、溶融性が低下し易くなると共に、誘電体材料の低温焼成が困難となる。よって、LiO+NaO+KOの含有量は0.1~1.0%未満であり、好ましくは0.5~0.98%である。なお、LiOの含有量は0.05~0.55%、特に0.2~0.5%が好ましく、NaOの含有量は0.05~0.5%、特に0.1~0.4%が好ましく、KOの含有量は0.01~0.3%、特に0.05~0.2%が好ましい。
モル比LiO/(LiO+NaO+KO)は0.35~0.65であり、0.4~0.6が好ましい。モル比NaO/(LiO+NaO+KO)は0.25~0.55であり、0.3~0.5が好ましい。モル比KO/(LiO+NaO+KO)が0.025~0.20であり、0.025~0.15が好ましい。上記モル比が範囲外になると、アルカリ混合効果を享受し難くなり、誘電正接が上昇し易くなる。
なお、モル比LiO/(LiO+NaO+KO)、モル比NaO/(LiO+NaO+KO)、モル比KO/(LiO+NaO+KO)の範囲を三角図で表すと、図1に示す通り、(LiO/(LiO+NaO+KO)、NaO/(LiO+NaO+KO)、KO/(LiO+NaO+KO))が、点A(0.65、0.325、0.025)、点B(0.65、0.25、0.1)、点C(0.55、0.25、0.2)、点D(0.35、0.45、0.2)、点E(0.35、0.55、0.1)、点F(0.425、0.55、0.025)で囲まれた領域内となる。好ましい領域は、点A′(0.60、0.375、0.025)、点B′(0.60、0.30、0.10)、点C′(0.55、0.30、0.15)、点D′(0.40、0.45、0.15)、点E′(0.40、0.50、0.1)、点F′(0.475、0.50、0.025)で囲まれた領域である。なお、図1中でROは、LiO、NaO及びKOの合量を意味する。
SiOは、ガラスのネットワークフォーマーとなる成分である。SiOの含有量が多くなると、焼成温度が高くなる傾向にあり、導体や電極としてAgやCuを使用できなくなる虞がある。一方、SiOの含有量が少なくなると、比誘電率が上昇し易くなり、信号処理の速度が遅くなる虞がある。よって、SiOの含有量は65~85%、特に70~80%が好ましい。
は、ガラスの粘度を低下させる成分である。Bの含有量が多くなると、ガラスが分相し易くなり、また耐水性が低下し易くなる。一方、Bの含有量が少なくなると、焼成温度が高くなる傾向にあり、導体や電極としてAgやCuを使用できなくなる虞がある。よって、B含有量は15~40%、特に15~30%が好ましい。
上記成分以外にも、誘電特性を損なわない範囲でAl、MgO、CaO等の成分をそれぞれ3モル%まで添加してもよい。
本発明のガラス粉末において、25℃、16GHzでの比誘電率は3.5~4.0、特に3.6~3.9であることが好ましく、25℃、16GHzでの誘電正接は0.0020以下、0.0015以下、特に0.0012以下であることが好ましい。比誘電率や誘電正接が高くなると、伝送信号の損失が大きくなり易く、また信号処理の速度が遅くなり易い。
本発明の誘電体材料は、上記のアルカリホウケイ酸ガラスからなるガラス粉末のみで構成されていてもよいが、ガラス粉末に対して、セラミックフィラー粉末を添加して、混合粉末とすることが好ましい。その混合割合は、ガラス粉末 50~80質量(好ましくは55~80質量%)、セラミックフィラー粉末 20~50質量%(好ましくは20~45質量%)であることが好ましい。セラミックフィラー粉末の割合をこのように限定した理由は、セラミックフィラー粉末が多くなると、焼成体の緻密化が困難になり、セラミックフィラー粉末が少なくなると、焼成体の曲げ強度が低下し易くなるためである。
セラミックフィラー粉末としては、1GHz以上の高周波領域での比誘電率16以下、誘電正接が0.010以下であるセラミックフィラー粉末を用いることが好ましく、例えばα-石英、α-クリストバライト、β-トリジマイト、α-アルミナ、ムライト、ジルコニア、コージエライトの一種又は二種以上を使用することができる。このようにすれば、高周波領域において、誘電体材料の比誘電率、誘電正接を低下させることができる。
本発明の誘電体材料(焼成体)において、25℃、16GHzでの比誘電率は3.5~6.0、特に4.0~5.0であることが好ましく、25℃、16GHzでの誘電正接は0.0030以下、特に0.0020以下であることが好ましい。比誘電率や誘電正接が高くなると、伝送信号の損失が大きくなり易く、また信号処理の速度が遅くなり易い。
本発明の焼結体は、誘電体材料を焼結させてなる焼結体であって、該誘電体材料が、上記の誘電体材料であることが好ましい。以下、本発明の焼結体の製造方法を説明する。
まず、上記のガラス粉末とセラミックフィラー粉末の混合粉末に対して、所定量の結合剤、可塑剤及び溶剤を添加してスラリーを調製する。結合剤としては、例えばポリビニルブチラール樹脂、メタアクリル酸樹脂等が好適に使用可能であり、可塑剤としては、例えばフタル酸ジブチル等が好適に使用可能であり、溶剤としては、例えばトルエン、メチルエチルケトン等が好適に使用可能である。
次いで、ドクターブレード法によって、上記のスラリーをグリーンシートに成形する。更に、このグリーンシートを乾燥させ、所定寸法に切断し、機械的加工でバイアホールを形成、例えば銀導体や電極となる低抵抗金属材料をバイアホール及びグリーンシート表面に印刷する。その後、このようなグリーンシートの複数枚を積層し、熱圧着によって一体化する。
得られた積層グリーンシートを焼成して、焼結体を得る。このようにして作製された焼結体は、内部や表面に導体や電極を備えている。焼成温度は1000℃以下、特に800~950℃の温度であることが望ましい。
ここまでグリーンシートを用いる例を用いて、焼結体の製造方法を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、セラミックの製造に用いられる各種の方法、例えばバインダーを含む顆粒を作製して、プレス成型を行う等の方法を適用することができる。
本発明の高周波用回路部材は、誘電体層を有する高周波用回路部材であって、該誘電体層が、上記の焼結体であることが好ましい。更に、高周波用回路部材は、更に配線でコイルを形成することが好ましく、また誘電体層(焼結体)の表面上にSi系、GaAs系等の半導体素子のチップを接続することも好ましい。
以下、実施例に基づいて本発明を説明する。なお、本発明は以下の実施例に何ら限定されない。以下の実施例は単なる例示である。
本発明の実施例(試料No.1~4、7~12)及び比較例(試料No.5、6)を表1、2に示す。なお、表中のROは、LiO+NaO+KOを意味する。
次のようにして各試料を作製した。まず、表中のガラス組成になるように、各種酸化物のガラス原料を調合し、均一に混合した後、白金坩堝に入れて1550~1650℃で3~8時間溶融し、得られた溶融ガラスを水冷ローラーで薄板状に成形した。次いで、得られたガラスフィルムを粗砕した後、アルコールを加えてボールミルにより湿式粉砕し、平均粒径が1.5~3μmとなるように分級して、ガラス粉末を得た。
次に、上記のガラス粉末に対して、表中に示すセラミックフィラー粉末(平均粒径2~3μm)を均一に混合して、誘電体材料を得た。
続いて、上記の誘電体材料に対して、結合剤としてポリビニルブチラールを15質量%、可塑剤としてブチルベンジルフタレートを4質量%、溶剤としてトルエンを30質量%添加して、スラリーを調整した。次いで、上記のスラリーをドクターブレード法によってグリーンシートに成形し、乾燥させ、所定寸法に切断した後、複数枚を積層し、熱圧着によって一体化した。更に、得られた積層グリーンシートを焼成することによって焼結体を得た。
このようにして得られた各試料について、ガラスの誘電特性、誘電体材料の焼成温度、誘電特性及び熱膨張係数を測定した。その結果を表1、2に示す。
ガラスの比誘電率と誘電正接は、溶融ガラスを薄板状に成形する際に、溶融ガラスの一部を金型に流し出して棒状に成形し、徐冷した後、直径13mm、高さ6.5mmの大きさに加工し、両端短絡形誘電体共振器法(JIS R1627)に基づいて、温度25℃、測定周波数16GHzで測定した値である。
誘電体材料の焼成温度は、種々の温度で焼成した焼結体にインクを塗布した後に拭き取り、インクが残らない(=緻密に焼結した)試料の内、最低の温度で焼成したものの焼成温度を記載した。
焼結体(誘電体材料)の比誘電率と誘電正接は、粉末状の誘電体材料を直径13mm、高さ6.5mmの円柱にプレス成形した後、830~920℃で焼成したものを測定試料とし、両端短絡形誘電体共振器法(JIS R1627)に基づいて、温度25℃、測定周波数16GHzで測定した値である。
焼結体(誘電体材料)の熱膨張係数は、30~300℃の温度範囲で測定した値であり、熱機械分析装置で測定した値である。
表1、2から明らかなように、試料No.1~4、7~12は、ガラス粉末の比誘電率が3.7~3.9、誘電正接が0.0008~0.0017であるため、焼結体(誘電体材料)の比誘電率が3.8~5.2、誘電損失は0.0011~0.0027であった。また、試料No.1~4、7~12は、焼成温度が920℃以下であり、熱膨張係数が4.6~6.3ppm/℃であった。
これに対し、試料No.5は、モル比LiO/(LiO+NaO+KO)が大きく、モル比NaO/(LiO+NaO+KO)が小さいため、誘電正接が0.0045であった。試料No.6は、LiO+NaO+KOの含有量が2モル%であり、誘電正接が0.0050であった。

Claims (5)

  1. アルカリホウケイ酸ガラスからなるガラス粉末において、ガラス組成中にLiO+NaO+KOを0.1~1.0モル%(但し1.0モル%を含まず)含み、モル比LiO/(LiO+NaO+KO)が0.35~0.65、モル比NaO/(LiO+NaO+KO)が0.25~0.55、モル比KO/(LiO+NaO+KO)が0.025~0.20であり、且つ25℃、16GHzでの比誘電率が3.5~4.0であり、25℃、16GHzでの誘電正接が0.0020以下であることを特徴とするガラス粉末。
  2. ガラス粉末 50~100質量%と、セラミックフィラー粉末 0~50質量%と、を含有する誘電体材料であって、
    該ガラス粉末が、請求項1に記載のガラス粉末であり、
    該セラミックフィラー粉末が、α-石英、α-クリストバライト、β-トリジマイト、α-アルミナ、ムライト、ジルコニア、コージエライトの群から選ばれる1種又は2種以上であることを特徴とする誘電体材料。
  3. 誘電体材料を焼結させてなる焼結体であって、
    該誘電体材料が、請求項2に記載の誘電体材料であることを特徴とする焼結体。
  4. 25℃、16GHzでの比誘電率が3.5~6.0であり、25℃、16GHzでの誘電正接が0.0030以下であることを特徴とする請求項3に記載の焼結体。
  5. 誘電体層を有する高周波用回路部材であって、
    該誘電体層が、請求項3又は4に記載の焼結体であることを特徴とする高周波用回路部材。
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