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JP7413209B2 - Inspection method - Google Patents

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JP7413209B2
JP7413209B2 JP2020144837A JP2020144837A JP7413209B2 JP 7413209 B2 JP7413209 B2 JP 7413209B2 JP 2020144837 A JP2020144837 A JP 2020144837A JP 2020144837 A JP2020144837 A JP 2020144837A JP 7413209 B2 JP7413209 B2 JP 7413209B2
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Sumitomo Chemical Co Ltd
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Description

本発明は、検査方法に関する。 The present invention relates to an inspection method.

液晶表示装置や有機EL表示装置等に用いられる偏光板は、一般的に偏光子が2枚の保護フィルムに挟まれて構成されている。偏光板を表示装置に貼り付けるため、片方の保護フィルムには粘着剤層が積層され、更に粘着剤層に剥離フィルムが積層される。また、他方の保護フィルムにもその表面を保護する剥離フィルム(表面保護フィルム)が貼合される場合が多い。偏光板はこのように剥離フィルムが積層された状態で流通搬送され、表示装置の製造工程で表示装置に貼合する際に剥離フィルムが剥離される。 Polarizing plates used in liquid crystal display devices, organic EL display devices, and the like are generally configured such that a polarizer is sandwiched between two protective films. In order to attach a polarizing plate to a display device, an adhesive layer is laminated on one of the protective films, and a release film is further laminated on the adhesive layer. Further, a release film (surface protection film) for protecting the surface of the other protective film is often laminated to the other protective film. The polarizing plate is transported in a state in which a release film is laminated in this manner, and the release film is peeled off when it is bonded to a display device in the display device manufacturing process.

ところで、偏光板はその製造段階において、偏光子と保護フィルムとの間に異物が混入したり、気泡が残ったり、あるいは、保護フィルムが位相差フィルムの機能を持つ場合には配向欠陥が内在していることがある(以下、これらの異物、気泡及び配向欠陥をまとめて、「欠陥」ということがある)。欠陥が存在する偏光板を表示装置に貼合した場合、その欠陥の箇所が輝点として視認されたり、欠陥の箇所で画像がゆがんで見えたりすることがある。特に、輝点として視認される欠陥は、当該表示装置の黒表示時に視認されやすい。 By the way, during the manufacturing process of polarizing plates, foreign objects or air bubbles may remain between the polarizer and the protective film, or if the protective film functions as a retardation film, orientation defects may occur. (Hereinafter, these foreign substances, bubbles, and orientation defects may be collectively referred to as "defects"). When a polarizing plate with a defect is attached to a display device, the defective location may be visually recognized as a bright spot, or the image may appear distorted at the defective location. In particular, defects that are visible as bright spots are easily visible when the display device displays black.

そこで、偏光板を表示装置に貼合する前段階(剥離フィルムを備えた状態の偏光板)で、この偏光板の欠陥を検出するための検査が行われる。この欠陥の検査は、一般的には偏光板の偏光軸を利用した光検査である。具体的には、特許文献1に示されているように、被検査物である偏光板と光源との間に偏光フィルタを設けたうえで、この偏光板又は偏光フィルタを平面方向に回転させ、これらのそれぞれの偏光軸方向を特定の関係とする。偏光軸方向同士が互いに直交する場合(すなわちクロスニコルを構成する配置の場合)、偏光フィルタを通過した直線偏光は、偏光板を通過しない。しかしながら、偏光板に欠陥が存在すると、当該箇所では直線偏光が透過してしまうので、その光が検出されることで欠陥の存在が判明する。一方、偏光板と偏光フィルタとの偏光軸方向同士が平行である場合、偏光フィルタを通過した直線偏光は偏光板を透過する。しかしながら、偏光板に欠陥が存在すると、当該箇所では直線偏光が遮断されるので、その光が検出されないことで欠陥の存在が判明する。偏光板を透過してきた光を検査者が目視により検出するか、あるいはCCDカメラと画像処理装置とを組み合わせた画像解析処理値により自動的に検出することで、偏光板の欠陥の有無の検査を行うことができる。 Therefore, before the polarizing plate is bonded to the display device (the polarizing plate is provided with a release film), an inspection is performed to detect defects in the polarizing plate. This defect inspection is generally an optical inspection using the polarization axis of a polarizing plate. Specifically, as shown in Patent Document 1, a polarizing filter is provided between a polarizing plate that is an object to be inspected and a light source, and this polarizing plate or polarizing filter is rotated in a plane direction. The directions of these respective polarization axes are set in a specific relationship. When the directions of polarization axes are orthogonal to each other (that is, in the case of a crossed Nicols arrangement), the linearly polarized light that has passed through the polarizing filter does not pass through the polarizing plate. However, if there is a defect in the polarizing plate, linearly polarized light will be transmitted through that location, and the presence of the defect will be revealed by detecting that light. On the other hand, when the polarization axes of the polarizing plate and the polarizing filter are parallel to each other, the linearly polarized light that has passed through the polarizing filter is transmitted through the polarizing plate. However, if a defect exists in the polarizing plate, linearly polarized light is blocked at that location, so the fact that the light is not detected reveals the presence of the defect. The presence or absence of defects in the polarizing plate can be inspected by visually detecting the light that has passed through the polarizing plate, or by automatically detecting it using image analysis processing using a combination of a CCD camera and an image processing device. It can be carried out.

特開平9-229817号公報Japanese Patent Application Publication No. 9-229817

しかしながら、上述したように偏光板が剥離フィルムを備える場合は、この剥離フィルムが有する複屈折により偏光板の偏光特性が阻害されるため、従来の検査装置では偏光板に存在する輝点等の欠陥を精度よく検出することができなかった。 However, as mentioned above, when a polarizing plate is provided with a release film, the polarizing properties of the polarizing plate are inhibited by the birefringence of this release film, so conventional inspection equipment can detect defects such as bright spots on the polarizing plate. could not be detected accurately.

偏光板が円偏光板であり、且つ、剥離フィルムがポリエチレンテレフタレート系樹脂(PET系樹脂)からなる場合は、当該PET系樹脂の波長分散にある程度合わせた位相差フィルタ(上記偏光フィルタに相当)を用いる。ここで、円偏光板と位相差フィルタとをクロスニコルを構成するように配置した場合、上記原理によれば欠陥は輝点として視認されることになるが、円偏光板が有する位相差膜の配向欠陥やピンホール等の位相差値が低い領域では輝点欠陥が黒点として視認されてしまうことがあり、その場合、輝点として検出するよりも検出判断が難しかった。特に、円偏光板が重合性液晶化合物の硬化物からなる位相差膜を含む場合にはその傾向が顕著である。 If the polarizing plate is a circularly polarizing plate and the release film is made of polyethylene terephthalate resin (PET resin), a retardation filter (equivalent to the above polarizing filter) that matches the wavelength dispersion of the PET resin to some extent is used. use Here, if the circularly polarizing plate and the retardation filter are arranged to form a crossed nicol, defects will be visually recognized as bright spots according to the above principle, but the retardation film of the circularly polarizing plate will In areas where the retardation value is low, such as orientation defects and pinholes, bright spot defects may be visually recognized as black spots, and in this case, detection and judgment were more difficult than detecting them as bright spots. This tendency is particularly noticeable when the circularly polarizing plate includes a retardation film made of a cured product of a polymerizable liquid crystal compound.

また、表示装置の設計上の理由から、円偏光板を異形形状とする場合がある。例えば、円偏光板の外周に凹部を設けたり、外周の角を丸めたり、貫通孔を設けたりする。異形の円偏光板を上記検査の対象とした場合、異形形状と同じ形の光の遮蔽板を準備する必要があり、欠陥検査時に異形偏光板を移動させた場合に遮蔽板と異形偏光板のずれが生じやすく異形の部分で検査光が強く漏れるので、観察視野が明るくなりすぎて、微小な欠陥を検出することの支障となることがあった。 Furthermore, for reasons of design of the display device, the circularly polarizing plate may have an irregular shape. For example, a concave portion may be provided on the outer periphery of the circularly polarizing plate, the corners of the outer periphery may be rounded, or a through hole may be provided. When a circularly polarizing plate of an irregular shape is subjected to the above inspection, it is necessary to prepare a light shielding plate of the same shape as the irregular shape, and when the irregularly shaped polarizing plate is moved during defect inspection, the shielding plate and the irregularly shaped polarizing plate may be Since the inspection light leaks strongly at irregularly shaped parts where misalignment is likely to occur, the observation field of view becomes too bright, which sometimes becomes a hindrance to detecting minute defects.

そこで本発明は、異形の円偏光板の欠陥の有無を容易に判断することができる検査方法を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide an inspection method that can easily determine the presence or absence of defects in irregularly shaped circularly polarizing plates.

本発明は、円偏光板、及び、ポリエチレンテレフタレート系樹脂(以下、「PET系樹脂」ということがある。)からなる剥離フィルムを備えるフィルム状の被検査物の欠陥の有無を判断する検査方法であって、被検査物は、矩形を基準として矩形の辺から矩形の内側へ向けて凹んだ凹部を有する形状であり、又は、矩形の角部が曲線となった形状であり、又は、矩形の辺から離れた位置に貫通孔を有する形状であり、光源と、第1の位相差フィルタと、第1の位相差板と、被検査物と、波長550nmにおける面内位相差値が剥離フィルムの波長550nmにおける面内位相差値(以下、この波長550nmにおける面内位相差値を「Re(550)」ということがある)と略同一であり、且つ、剥離フィルムが有する複屈折を補償するものである第2の位相差板と、第1の位相差フィルタ及び円偏光板とクロスニコルを構成する第2の位相差フィルタと、を光源が発する光の光路上にこの順に並ぶように配置し、第1の位相差板は、Re(550)が第2の位相差板のRe(550)と略同一であり、且つ、第2の位相差板が有する複屈折を補償するものであり、光源から被検査物に光を入射し、光源の反対側から観察して円偏光板の欠陥の有無を判断し、第1の位相差板及び第2の位相差板を、Re(550)が剥離フィルムのRe(550)よりも50~100nm大きく、且つ、剥離フィルムが有する複屈折を補償するものである第3の位相差板及び第4の位相差板にそれぞれ置き換え、その置き換え後に被検査物に光を入射し、光源の反対側から観察して円偏光板の欠陥の有無を判断する、検査方法を提供する。なお、ここでRe(550)における「略同一」とは、Re(550)の差異が±5nm程度しかないことをいう。 The present invention provides an inspection method for determining the presence or absence of defects in a film-like object to be inspected, which includes a circularly polarizing plate and a release film made of polyethylene terephthalate resin (hereinafter sometimes referred to as "PET resin"). The object to be inspected has a shape with a rectangle as a reference and has a concave portion recessed from the side of the rectangle toward the inside of the rectangle, or has a shape with curved corners of the rectangle, or has a shape of a rectangle with a curved corner. The shape has a through hole at a position away from the side, and the in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm between the light source, the first retardation filter, the first retardation plate, and the object to be inspected is the same as that of the release film. Something that is approximately the same as the in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm (hereinafter, this in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm may be referred to as "Re (550)"), and that compensates for the birefringence that the release film has. A second retardation plate, and a second retardation filter forming a crossed nicol with the first retardation filter and the circularly polarizing plate are arranged in this order on the optical path of the light emitted by the light source. , the first retardation plate has Re (550) that is approximately the same as Re (550) of the second retardation plate, and compensates for the birefringence of the second retardation plate, Light is incident on the object to be inspected from the light source, observed from the opposite side of the light source to determine whether there is a defect in the circularly polarizing plate, and the first retardation plate and the second retardation plate are Replaced with a third retardation plate and a fourth retardation plate that are 50 to 100 nm larger than Re (550) of the release film and compensate for the birefringence of the release film, and after the replacement, the test object To provide an inspection method in which the presence or absence of a defect in a circularly polarizing plate is determined by injecting light into an object and observing it from the opposite side of the light source. Note that "substantially the same" in Re(550) here means that the difference in Re(550) is only about ±5 nm.

この検査方法では、第1の位相差板及び第2の位相差板を用いた検査で黒色欠陥が観察された部位について、これらの位相差板のそれぞれを第3の位相差板及び第4の位相差板に置き換えて検査することによって、これを輝点欠陥として観察できるように位相差を調整することが可能となる。また、この検査方法では、第1の位相差フィルタと第2の位相差フィルタとをクロスニコルを構成するように配置しているので、光路上に被検査物が存在しない場合には光源からの光が第2の位相差フィルタで遮断される。したがって、被検査物の異形部分からの光漏れが大幅に抑制されることとなり、異形部分の近傍を検査するときの支障とならない。以上のことから、本発明の検査方法では異形の円偏光板の欠陥の有無を容易に判断することができる。 In this inspection method, for a portion where a black defect is observed in an inspection using a first retardation plate and a second retardation plate, each of these retardation plates is replaced with a third retardation plate and a fourth retardation plate. By replacing it with a retardation plate and inspecting it, it becomes possible to adjust the retardation so that it can be observed as a bright spot defect. In addition, in this inspection method, the first phase difference filter and the second phase difference filter are arranged so as to form a crossed nicol, so when there is no object to be inspected on the optical path, the light from the light source is The light is blocked by the second phase difference filter. Therefore, light leakage from the irregularly shaped portion of the object to be inspected is significantly suppressed, and does not become a hindrance when inspecting the vicinity of the irregularly shaped portion. From the above, the inspection method of the present invention can easily determine the presence or absence of a defect in an irregularly shaped circularly polarizing plate.

ここで、被検査物は、円偏光板に対して剥離フィルムが設けられている側とは反対側にPET系樹脂からなる表面保護フィルムを更に備え、第1の位相差板と被検査物との間に、Re(550)が5000nm以上である高位相差板を更に配置してもよい。被検査物が表面保護フィルムを備えている場合は、表面保護フィルムが有する面内位相差によって、検査の観察視野に虹色の模様が生じて欠陥観察の支障となる場合がある。この場合に、高い面内位相差を有する高位相差板を用いることで、当該虹色の光を白色の光に変換して観察の支障とならないようにすることができる。 Here, the object to be inspected further includes a surface protection film made of PET resin on the side opposite to the side on which the release film is provided with respect to the circularly polarizing plate, and the first retardation plate and the object to be inspected are connected to each other. A high retardation plate having Re(550) of 5000 nm or more may be further disposed between the two. When the object to be inspected includes a surface protection film, the in-plane retardation of the surface protection film may cause a rainbow-colored pattern to appear in the observation field of view, which may impede defect observation. In this case, by using a high retardation plate having a high in-plane retardation, the iridescent light can be converted into white light so that it does not interfere with observation.

また、そのとき、表面保護フィルムの遅相軸と高位相差板の遅相軸とが略平行となるように配置することが好ましい。面内位相差は加成性があるので、当該遅相軸同士を略平行とすることで、虹色の光を白色の光に確実に変換することができる。 Moreover, at that time, it is preferable to arrange the slow axis of the surface protection film and the slow axis of the high retardation plate to be substantially parallel. Since the in-plane phase difference is additive, by making the slow axes substantially parallel to each other, rainbow-colored light can be reliably converted to white light.

円偏光板は、重合性液晶化合物の硬化物からなる位相差膜を有するものであってもよい。位相差膜が重合性液晶化合物の硬化物からなる場合、その一般的な薄さから、黒点欠陥として観察される可能性が高まる。従って、本発明を適用する対象として好適である。 The circularly polarizing plate may have a retardation film made of a cured product of a polymerizable liquid crystal compound. When the retardation film is made of a cured product of a polymerizable liquid crystal compound, there is a high possibility that it will be observed as a black spot defect due to its general thinness. Therefore, it is suitable as an object to which the present invention is applied.

また、この検査方法では、被検査物、第1の位相差板、第2の位相差板、第3の位相差板、第4の位相差板、第1の位相差フィルタ、第2の位相差フィルタ、第1の位相差板、及び、第2の位相差板の少なくとも一つを、互いに対面する角度が異なるように傾けてもよく、又は、前記光路に垂直な方向に回転させてもよい。これらを傾けることで、剥離フィルムや第1及び第2の位相差板等の位相差を微調整できることから、より広範囲の検査が可能となる。また、これらを回転させることで各構成の軸合わせが容易となる。 In addition, in this inspection method, the inspection object, the first retardation plate, the second retardation plate, the third retardation plate, the fourth retardation plate, the first retardation filter, and the second retardation plate are used. At least one of the retardation filter, the first retardation plate, and the second retardation plate may be tilted so that they face each other at different angles, or may be rotated in a direction perpendicular to the optical path. good. By tilting these, the retardation of the release film, the first and second retardation plates, etc. can be finely adjusted, making it possible to inspect a wider range. Moreover, by rotating these, it becomes easy to align the axes of each component.

第1の位相差板及び第3の位相差板は、同一の部材内に配置されて構成されたものであってもよい。 The first retardation plate and the third retardation plate may be arranged and configured in the same member.

本発明によれば、異形の円偏光板の欠陥の有無を容易に判断することができる検査方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an inspection method that can easily determine the presence or absence of a defect in an irregularly shaped circularly polarizing plate.

第1の実施形態の検査装置を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an inspection device according to a first embodiment. 被検査物の平面図である。FIG. 3 is a plan view of the object to be inspected. 被検査物のIII-III断面図である。FIG. 3 is a sectional view taken along III-III of the object to be inspected. 位相差板の一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of a retardation plate. 第2の実施形態の検査装置を示す図である。It is a figure showing the inspection device of a 2nd embodiment.

以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において同一部分又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明は省略する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, in each figure, the same parts or corresponding parts are given the same reference numerals, and overlapping explanations will be omitted.

<第1の実施形態>
第1の実施形態の検査方法ついて説明する。
<First embodiment>
The inspection method of the first embodiment will be explained.

(検査装置と被検査物)
本実施形態の検査装置は、円偏光板の表面欠陥の有無を検査するものである。図1に示されているとおり、検査装置100Aは、光源2、第1の位相差フィルタ3A、第1の位相差板4A、第2の位相差板4B、及び、第2の位相差フィルタ3Bがこの順に配置されてなるものである。
(Inspection equipment and inspected object)
The inspection device of this embodiment inspects the presence or absence of surface defects on a circularly polarizing plate. As shown in FIG. 1, the inspection apparatus 100A includes a light source 2, a first phase difference filter 3A, a first phase difference plate 4A, a second phase difference plate 4B, and a second phase difference filter 3B. are arranged in this order.

図2に示されているとおり、検査対象であるフィルム状の被検査物10は、矩形を基準とする異形の円偏光板であり、矩形の一辺から被検査物10の内側へ向けて凹んだ凹部Rを有している。ここで「矩形を基準とする」とは、凹部Rが存在しないと仮定した場合に、被検査物10の形状が矩形を成しているということを意味する。また、被検査物10の角部は曲線となるように加工されている。本明細書において、「異形」とは、多角形、正円、楕円等の形状の一部が変形した形状を指すものとする。変形とは、外周に凹部を設けたり、角を丸めたり、曲線を直線にしたり、貫通孔を設けたりすることをいう。 As shown in FIG. 2, the film-like object 10 to be inspected is an irregularly shaped circularly polarizing plate with a rectangular shape as a reference, and a concave portion is formed from one side of the rectangle toward the inside of the object 10. It has a recess R. Here, "based on a rectangle" means that the shape of the object to be inspected 10 is rectangular, assuming that the recess R does not exist. Further, the corners of the object to be inspected 10 are processed into curves. In this specification, the term "abnormal shape" refers to a partially deformed shape such as a polygon, a perfect circle, or an ellipse. Deformation refers to providing a recess on the outer periphery, rounding a corner, making a curve straight, or providing a through hole.

図3に示されているとおり、被検査物10は、検査対象の本体である円偏光板1と、円偏光板1に対して粘着剤層15を介して積層された剥離フィルム16aとを備えている。円偏光板1は、偏光フィルム11の両面に保護フィルム12a,12bが貼合されており、更に、剥離フィルム16aを備える側の保護フィルム12a上に粘着剤層13を介して位相差膜14が形成されてなるものである。そして、円偏光板1のうち剥離フィルム16aを備えていない側の面には表面保護フィルム16bが積層されている。円偏光板1は、一般的に表示装置、例えば液晶表示装置や有機EL表示装置に用いられるものであり、使用時には剥離フィルム16aを剥がして、粘着剤層15を介して表示装置に貼り付けられる。 As shown in FIG. 3, the inspected object 10 includes a circularly polarizing plate 1, which is the main body to be inspected, and a release film 16a laminated to the circularly polarizing plate 1 via an adhesive layer 15. ing. In the circularly polarizing plate 1, protective films 12a and 12b are laminated on both sides of a polarizing film 11, and a retardation film 14 is further placed on the protective film 12a on the side provided with the release film 16a via an adhesive layer 13. It is something that is formed. A surface protection film 16b is laminated on the side of the circularly polarizing plate 1 that is not provided with the release film 16a. The circularly polarizing plate 1 is generally used in a display device, such as a liquid crystal display device or an organic EL display device, and when used, the release film 16a is peeled off and the plate is attached to the display device via the adhesive layer 15. .

なお、本明細書において「円偏光板」とは、円偏光板及び楕円偏光板を含むものとする。また、「円偏光」は、円偏光と楕円偏光を含むものとする。 Note that in this specification, the term "circularly polarizing plate" includes a circularly polarizing plate and an elliptically polarizing plate. Furthermore, "circularly polarized light" includes circularly polarized light and elliptically polarized light.

偏光フィルム11は、検査装置100Aにおいては、表面保護フィルム16b側から入射した光を直線偏光に変換するフィルムである。偏光フィルム11としては、例えば、ポリビニルアルコールフィルムにヨウ素や二色性色素が吸着・配向されたものや、重合性液晶化合物を配向・重合したものに、二色性色素が吸着・配向したものが挙げられる。 In the inspection apparatus 100A, the polarizing film 11 is a film that converts light incident from the surface protection film 16b side into linearly polarized light. The polarizing film 11 may be, for example, a polyvinyl alcohol film on which iodine or a dichroic dye is adsorbed and oriented, or a polyvinyl alcohol film on which a dichroic dye is adsorbed and oriented on a polymerizable liquid crystal compound oriented and polymerized. Can be mentioned.

保護フィルム12a,12bは、偏光フィルム11を保護するためのものである。保護フィルム12a,12bとしては、適度な機械的強度を有する偏光板を得る目的で、偏光板の技術分野で汎用されているものが用いられる。典型的には、トリアセチルセルロース(TAC)フィルム等のセルロースエステル系フィルム;環状オレフィン系フィルム;ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム等のポリエステル系フィルム:ポリメチルメタクリレート(PMMA)フィルム等の(メタ)アクリル系フィルム等である。また、偏光板の技術分野で汎用されている添加剤が、保護フィルムに含まれていてもよい。 The protective films 12a and 12b are for protecting the polarizing film 11. As the protective films 12a and 12b, those commonly used in the technical field of polarizing plates are used for the purpose of obtaining polarizing plates having appropriate mechanical strength. Typically, cellulose ester films such as triacetyl cellulose (TAC) films; cyclic olefin films; polyester films such as polyethylene terephthalate (PET) films; (meth)acrylic films such as polymethyl methacrylate (PMMA) films; Film, etc. Further, additives commonly used in the technical field of polarizing plates may be included in the protective film.

保護フィルム12a,12bは、円偏光板1の構成要素として偏光フィルム11とともに表示装置に貼合されるものであるので、位相差値の厳密な管理等が要求される。保護フィルム12aとしては,典型的には、位相差値が極めて小さいものが好ましく用いられる。また、保護フィルム12bとしては、例えば、偏光サングラスを介して表示装置を視認したときの見易さのため、λ/4の位相差を有するものや位相差値の小さいものが用いられる。保護フィルム12a,12bは、接着剤を介して偏光フィルム11に貼合される。 Since the protective films 12a and 12b are attached to the display device together with the polarizing film 11 as constituent elements of the circularly polarizing plate 1, strict control of the retardation value is required. Typically, a protective film 12a having an extremely small retardation value is preferably used. Further, as the protective film 12b, for example, a film having a retardation of λ/4 or a film having a small retardation value is used for ease of viewing when viewing the display device through polarized sunglasses. The protective films 12a and 12b are bonded to the polarizing film 11 via an adhesive.

位相差膜14は、検査装置100Aにおいては、偏光フィルム11によって直線偏光とされた光を円偏光に変換する膜である。位相差膜14は、位相差を有する膜であれば特に制限はないが、λ/2膜とλ/4膜とが積層されたものであってもよい。この場合、偏光フィルム11から近いほうからλ/2膜、λ/4膜の順にしてもよい。 In the inspection apparatus 100A, the retardation film 14 is a film that converts the light linearly polarized by the polarizing film 11 into circularly polarized light. The retardation film 14 is not particularly limited as long as it has a retardation, but may be a laminate of a λ/2 film and a λ/4 film. In this case, the λ/2 film and the λ/4 film may be arranged in that order from the one closest to the polarizing film 11.

また、位相差膜14は、重合性液晶化合物の硬化物からなるものであることが好ましい。重合性液晶化合物の硬化物からなる位相差膜14は、通常厚さが0.2μm~10μm程度と薄く、異物等を含む場合にその部分で位相差値が低下しやすい。このような部位では、後述するとおり、位相差板4で剥離フィルム16aの複屈折を補償したときに本来は輝点欠陥として観察されるべきものであるにも関わらず、黒点となって観察される場合がある。 Moreover, it is preferable that the retardation film 14 is made of a cured product of a polymerizable liquid crystal compound. The retardation film 14 made of a cured product of a polymerizable liquid crystal compound is usually thin, about 0.2 μm to 10 μm, and when it contains foreign matter, the retardation value tends to decrease in that part. As will be described later, in such areas, when the birefringence of the release film 16a is compensated for by the retardation plate 4, the defect is observed as a black spot, even though it should originally be observed as a bright spot defect. There may be cases where

位相差膜14を形成し得る重合性液晶化合物は、例えば、特開2009-173893号公報、特開2010-31223号公報、WO2012/147904号公報、WO2014/10325号公報及びWO2017-43438号公報に開示されたものを挙げることができる。これらの公報に記載の重合性液晶化合物は、広い波長域において一様の偏光変換が可能な、いわゆる逆波長分散性を有する位相差膜を形成可能である。例えば、当該重合性液晶化合物を含む溶液(重合性液晶化合物溶液)を適当な基材上に塗布して光重合させることで、上述のように極めて薄い位相差膜を形成することができるので、かかる位相差膜を有する円偏光板は、厚みが極めて薄い円偏光板を形成することができる。このように厚みが極めて薄い円偏光板は、近年着目されているフレキシブル表示材料用の円偏光板として有利である。 Polymerizable liquid crystal compounds that can form the retardation film 14 are described in, for example, JP2009-173893A, JP2010-31223A, WO2012/147904, WO2014/10325, and WO2017-43438. Those disclosed can be mentioned. The polymerizable liquid crystal compounds described in these publications can form a retardation film having so-called reverse wavelength dispersion, which is capable of uniform polarization conversion in a wide wavelength range. For example, by applying a solution containing the polymerizable liquid crystal compound (polymerizable liquid crystal compound solution) onto a suitable base material and photopolymerizing it, an extremely thin retardation film can be formed as described above. A circularly polarizing plate having such a retardation film can be extremely thin. A circularly polarizing plate having such a very thin thickness is advantageous as a circularly polarizing plate for flexible display materials, which have been attracting attention in recent years.

重合性液晶化合物溶液を塗布する基材としては、上述の公報に記載されたものを挙げることができる。かかる基材には、重合性液晶化合物を配向させるために配向膜が設けられていてもよい。配向膜は偏光照射により光配向させるものや、ラビング処理により機械的に配向させたもののいずれでもよい。なお、かかる配向膜に関しても、上記公報に記載されている。 Examples of the base material to which the polymerizable liquid crystal compound solution is applied include those described in the above-mentioned publications. Such a base material may be provided with an alignment film for aligning the polymerizable liquid crystal compound. The alignment film may be one that is optically aligned by polarized light irradiation or one that is mechanically aligned by rubbing treatment. Note that such an alignment film is also described in the above publication.

しかしながら、重合性液晶化合物溶液を塗布する基材に異物等が存在していたり、基材自体に傷等があったりする場合に、重合性液晶化合物溶液を塗布して得られる塗布膜自体に欠陥が生じることがある。また、配向膜をラビング処理した場合には、ラビング布の屑が配向膜上に残り、これが重合性液晶化合物溶液(液晶硬化膜形成用組成物)の塗布膜に欠陥を生じさせることもある。このように、重合性液晶化合物から形成される位相差膜は、厚みが極めて薄い位相差膜を形成可能であるが、欠陥を生じる要因がある。そして、位相差膜の欠陥は後述するとおり、黒点となって観察される欠陥が生じることがある。このような欠陥を有する位相差膜を備えた円偏光板及び剥離フィルムを有する被検査物の欠陥の有無を判定する検出において、本実施形態の検査装置、検査方法は特に有用である。 However, if there are foreign substances on the substrate to which the polymerizable liquid crystal compound solution is applied, or if the substrate itself has scratches, defects may occur in the coating film itself obtained by applying the polymerizable liquid crystal compound solution. may occur. Furthermore, when the alignment film is subjected to a rubbing treatment, scraps of the rubbing cloth remain on the alignment film, which may cause defects in the coating film of the polymerizable liquid crystal compound solution (composition for forming a cured liquid crystal film). As described above, a retardation film formed from a polymerizable liquid crystal compound can be extremely thin, but there are factors that cause defects. As described later, defects in the retardation film may be observed as black spots. The inspection apparatus and inspection method of this embodiment are particularly useful in detecting the presence or absence of a defect in an object to be inspected that includes a circularly polarizing plate and a release film having a retardation film having such defects.

位相差膜14は、基材上に配向膜形成用組成物を塗布し、更にその上に重合性液晶化合物を含んだ液晶硬化膜形成用組成物を塗布することによって作製することができる。そうして作成した位相差膜14を、保護フィルム12a上に形成された粘着剤層13に対して基材ごと貼合し、その後、基材を剥がすことで、位相差膜14を保護フィルム12a上に転写することができる。 The retardation film 14 can be produced by applying a composition for forming an alignment film onto a base material, and further applying a composition for forming a liquid crystal cured film containing a polymerizable liquid crystal compound thereon. The retardation film 14 created in this way is laminated together with the base material to the adhesive layer 13 formed on the protective film 12a, and then the base material is peeled off to attach the retardation film 14 to the protective film 12a. can be transferred onto.

剥離フィルム16aは、表示装置に貼合するときに円偏光板1から剥がされるものであり、通常は、剥がされた剥離フィルム16aは廃棄される。したがって、保護フィルム12a,12bとは異なり、位相差値の厳密な管理が要求されることはない。そのため、市販されているフィルムを剥離フィルム16aとして採用する場合に、その位相差値を補償しないと、欠陥の検査において誤動作を招きかねない。すなわち、このように位相差値が厳密に管理されていない剥離フィルム16aが貼合された円偏光板1の欠陥検査では、当該剥離フィルム16aの位相差が検査装置100Aの検査精度を低下させる原因になり得る。 The release film 16a is peeled off from the circularly polarizing plate 1 when it is attached to a display device, and the peeled release film 16a is normally discarded. Therefore, unlike the protective films 12a and 12b, strict control of the retardation value is not required. Therefore, when a commercially available film is used as the release film 16a, if the retardation value is not compensated for, malfunctions may occur during defect inspection. That is, in the defect inspection of the circularly polarizing plate 1 to which the release film 16a whose retardation value is not strictly controlled is bonded, the retardation of the release film 16a is the cause of reducing the inspection accuracy of the inspection device 100A. It can be.

なお、上記背景技術に記したように、円偏光板1において、剥離フィルム16aの反対面には、剥離フィルムの一種である表面保護フィルム16bが設けられることが多い。図3に示されている円偏光板1では保護フィルム12b側に表面保護フィルム16bが貼合されている。この表面保護フィルム16bも通常、表示装置に貼合するときに円偏光板1から剥がされるものであり、保護フィルム12a,12bとは異なり、位相差値の厳密な管理が要求されることはない。さらに、表面保護フィルム16bの位相差値によって生じる光の干渉による観察光の色付きを抑制する場合については、後述する第2の実施形態で説明する。なお、図3において、保護フィルム12bと表面保護フィルム16bとは、適当な接着剤層又は粘着剤層を介して貼合されていてもよい(図3においては、この接着剤層又は粘着剤層は、図示はしていない)。 Note that, as described in the above background art, in the circularly polarizing plate 1, a surface protection film 16b, which is a type of release film, is often provided on the opposite surface of the release film 16a. In the circularly polarizing plate 1 shown in FIG. 3, a surface protection film 16b is bonded to the protection film 12b side. This surface protection film 16b is also usually peeled off from the circularly polarizing plate 1 when it is attached to a display device, and unlike the protection films 12a and 12b, strict control of the retardation value is not required. . Furthermore, a case in which coloring of observation light due to light interference caused by the retardation value of the surface protection film 16b is suppressed will be described in a second embodiment described later. In addition, in FIG. 3, the protective film 12b and the surface protection film 16b may be bonded together via a suitable adhesive layer or pressure-sensitive adhesive layer (in FIG. 3, this adhesive layer or pressure-sensitive adhesive layer (not shown).

本実施形態において、剥離フィルム16aはPET系樹脂からなるものである。また、表面保護フィルム16bについてもPET系樹脂からなるものを用いる。PET系樹脂からなるフィルム(PET系樹脂フィルム)は、剥離フィルムとして汎用であり、且つ安価であるという利点がある。一方、安価なPET系樹脂フィルムは上記のとおり、位相差値の厳密な管理が要求されることはない。そのため、例えば、製品ロットごとに位相差値にバラツキがあることがある。また、同一のPET樹脂系フィルムであっても、面内に位相差値のバラツキがあることもある。このような安価なPET樹脂系フィルムを剥離フィルムとして貼合した円偏光板であっても、本実施形態の検査方法により、その欠陥の有無を精度よく検出することができる。なお、被検査物10において、剥離フィルム16aの遅相軸と表面保護フィルム16bの遅相軸とが略平行になるようにこれらが貼合されていることが好ましい。 In this embodiment, the release film 16a is made of PET resin. Furthermore, the surface protection film 16b is also made of PET resin. A film made of PET resin (PET resin film) has the advantage of being versatile as a release film and being inexpensive. On the other hand, as mentioned above, the inexpensive PET resin film does not require strict control of the retardation value. Therefore, for example, there may be variations in phase difference values from product lot to product lot. Further, even if the PET resin film is the same, there may be variations in the retardation value within the plane. Even in the case of a circularly polarizing plate in which such an inexpensive PET resin film is laminated as a release film, the presence or absence of defects can be accurately detected by the inspection method of this embodiment. In addition, in the test object 10, it is preferable that the slow axis of the release film 16a and the slow axis of the surface protection film 16b are bonded together so that they are substantially parallel to each other.

ここで、剥離フィルム16aのRe(550)の求め方を示しておく。上記のとおり、これら剥離フィルムはPET系樹脂フィルムであり、このようなフィルムは市場から容易に入手できる。このフィルムから例えば、40mm×40mm程度の大きさの片を分取(長尺フィルムから、適当な切断具を用いて分取する等)する。この片のRe(550)を3回測定し、Re(550)の平均値を求める。片のRe(550)は、位相差測定装置KOBRA-WPR(王子計測機器株式会社製)を用い、測定温度室温(25℃程度)で測定することができる。なお、表面保護フィルム16bのRe(550)を求める場合にも、同様の試験を行えばよい。 Here, how to obtain Re(550) of the release film 16a will be explained. As mentioned above, these release films are PET resin films, and such films are easily available on the market. For example, pieces of about 40 mm x 40 mm are separated from this film (eg, separated from a long film using an appropriate cutting tool). The Re(550) of this piece is measured three times and the average value of Re(550) is determined. The Re(550) of the piece can be measured at room temperature (about 25° C.) using a phase difference measuring device KOBRA-WPR (manufactured by Oji Scientific Instruments Co., Ltd.). Note that a similar test may be performed when determining Re(550) of the surface protection film 16b.

光源2は、種々の市販品を用いることができるが、例えばレーザ光等の直線光(直線光に近似するものも含む)であることが有利である。光源2が発する光は無偏光であり、後述する第1の位相差フィルタ3Aを通過し所定方向の偏光となる。 Although various commercially available products can be used as the light source 2, it is advantageous to use a straight light beam (including one that approximates a straight light beam) such as a laser beam, for example. The light emitted by the light source 2 is non-polarized, passes through a first phase difference filter 3A, which will be described later, and becomes polarized in a predetermined direction.

第1の位相差フィルタ3A、及び、第2の位相差フィルタ3Bは、いずれも円偏光板である。第2の位相差フィルタ3Bは、被検査物10を検査する場面では、常に第1の位相差フィルタ3Aとクロスニコルを構成するようにその向きが調整される。そして、この第1及び第2の位相差フィルタ3A,3Bを構成する偏光板及び位相差板(位相差を有する層を構成する)は、いわゆる無欠陥のものが採用される。 The first phase difference filter 3A and the second phase difference filter 3B are both circularly polarizing plates. When the object to be inspected 10 is inspected, the direction of the second phase difference filter 3B is always adjusted so that it forms a crossed nicol configuration with the first phase difference filter 3A. The polarizing plate and the retardation plate (constituting a layer having a retardation) constituting the first and second retardation filters 3A and 3B are so-called defect-free ones.

第2の位相差板4Bは、被検査物10が備える剥離フィルム16aによる光の複屈折を補償するものである。第2の位相差板4Bを構成する材料としては、PET系樹脂からなる剥離フィルム16aによる光の複屈折を補償するものであれば特に限定されない。市販の100~200nmを有する位相差板を準備し、これらを複数枚積層して所望の位相差値となるようにして第2の位相差板4Bを形成することもできる。Re(550)は通常、加成性を有するため、積層した位相差板のRe(550)から所望のRe(550)の第2の位相差板4Bを得ることができる。第1の位相差板4Aは、第2の位相差板4Bの位相差を相殺するものであり、第2の位相差板4Bと同じ構成のものを用いることが好ましい。PET系樹脂からなる剥離フィルム16aは、通常、面内方向の位相差値や遅相軸のばらつきが大きいため、検査時に位相差値を複数選択できるように複数種の位相差板を準備しておくことが好ましい。本実施形態では、剥離フィルム16aのRe(550)と略同一の位相差値をもつ第1の位相差板4A及び第2の位相差板4Bの二枚組と、剥離フィルム16aのRe(550)よりも50~100nm大きなRe(550)の第3の位相差板及び第4の位相差板の二枚組との少なくとも二種類の位相差板を用いる。ここで、対にして用いる第1の位相差板4Aと第2の位相差板4Bとは同一のRe(550)を有しており、第3の位相差板と第4の位相差板とは同一のRe(550)を有している。なお、剥離フィルム16aのRe(550)と略同一の位相差値とは、剥離フィルム16aのRe(550)と、位相差板のRe(550)との差分の絶対値が20nm以下であることをいう。 The second retardation plate 4B compensates for the birefringence of light caused by the release film 16a of the object to be inspected 10. The material constituting the second retardation plate 4B is not particularly limited as long as it compensates for the birefringence of light caused by the release film 16a made of PET resin. The second retardation plate 4B can also be formed by preparing a commercially available retardation plate having a wavelength of 100 to 200 nm and stacking a plurality of these to obtain a desired retardation value. Since Re(550) usually has additivity, the second retardation plate 4B having a desired Re(550) can be obtained from the Re(550) of the laminated retardation plates. The first retardation plate 4A cancels out the phase difference of the second retardation plate 4B, and preferably has the same configuration as the second retardation plate 4B. Since the release film 16a made of PET resin usually has large variations in retardation values and slow axes in the in-plane direction, multiple types of retardation plates are prepared so that multiple retardation values can be selected during inspection. It is preferable to leave it there. In this embodiment, a two-sheet set of a first retardation plate 4A and a second retardation plate 4B having substantially the same retardation value as Re(550) of the release film 16a, and a Re(550) of the release film 16a are used. ) At least two types of retardation plates are used: a third retardation plate and a fourth retardation plate having a Re (550) larger than that of 50 to 100 nm. Here, the first retardation plate 4A and the second retardation plate 4B used as a pair have the same Re (550), and the third retardation plate and the fourth retardation plate have the same Re(550). Note that a retardation value that is substantially the same as Re (550) of the release film 16a means that the absolute value of the difference between Re (550) of the release film 16a and Re (550) of the retardation plate is 20 nm or less. means.

更に、剥離フィルムの位相差値のばらつきを考慮すると、上記第1及び第2の位相差板4A,4Bは、剥離フィルムのRe(550)に対して、±300nm程度の範囲の位相差を示すものとすることが好ましい。この位相差の範囲内では更に、剥離フィルムの面内方向において50nm~100nm刻みで変化させることが好ましい。これらの位相差を示す位相差板を種々準備しておくことが好ましい。すなわち、位相差を変化させる一連の位相差板として、第1の位相差板4A、第3の位相差板に加え、更に位相差の異なる位相差板を準備しておくことが好ましい。次に、この位相差板の様子について説明する。 Furthermore, considering the variation in the retardation value of the release film, the first and second retardation plates 4A and 4B exhibit a retardation in the range of about ±300 nm with respect to Re (550) of the release film. It is preferable that Within this range of retardation, it is further preferable to change the retardation in increments of 50 nm to 100 nm in the in-plane direction of the release film. It is preferable to prepare various types of retardation plates that exhibit these phase differences. That is, as a series of retardation plates that change the retardation, it is preferable to prepare a retardation plate having a different retardation in addition to the first retardation plate 4A and the third retardation plate. Next, the state of this retardation plate will be explained.

図4に位相差の異なる位相差板が集積された一連の位相差板4の概略を示す。図4に示されているとおり、位相差板4は、一枚の位相差板部材の中に、面内方向の位相差値が異なる領域が一方向に連なって構成されたものであってもよい。すなわち、端に位置する領域(第1の領域a;第1の位相差板に相当)は、Re(550)が例えば1720nmである領域であり、その隣に接している領域(第2の領域a;第3の位相差板に相当)は、Re(550)が1790nmである領域であり、更にその隣に接している領域(第3の領域a;第5の位相差板に相当)は、Re(550)が1860nmである領域である。位相差板4において、当該領域の数は任意であり、図4ではn番目の領域aまでを示している。なお、それぞれの領域において、厚さ方向の位相差値は、一領域で観察しようとする視野領域の広さにより調節することができる。 FIG. 4 schematically shows a series of retardation plates 4 in which retardation plates having different phase differences are integrated. As shown in FIG. 4, the retardation plate 4 may be configured such that regions having different in-plane retardation values are continuous in one direction in a single retardation plate member. good. That is, the region located at the end (first region a 1 ; corresponding to the first retardation plate) is a region in which Re (550) is, for example, 1720 nm, and the region adjacent to it (second region a 1 ; corresponding to the first retardation plate) The region a 2 ; corresponding to the third retardation plate) is a region with Re (550) of 1790 nm, and the region adjacent to it (the third region a 3 ; corresponding to the fifth retardation plate) is a region where Re (550) is 1790 nm. (equivalent) is a region where Re (550) is 1860 nm. In the retardation plate 4, the number of regions is arbitrary, and FIG. 4 shows up to the nth region a n . Note that in each region, the retardation value in the thickness direction can be adjusted depending on the width of the visual field to be observed in one region.

この位相差板4は、光源2の側から見て第1の位相差フィルタ3Aの次に配置する第1の位相差板4Aとして用いることができるだけでなく、第2の位相差フィルタ3Bの手前に配置する第2の位相差板4Bとして同時に用いる。第2の位相差板4Bの側では、上記第1の領域a、第2の領域a、第3の領域aはそれぞれ第2の位相差板、第4の位相差板、第6の位相差板となる。そして、第1及び第2の位相差板4A,4Bとして二枚の位相差板4,4を用いる場合は、同じRe(550)を有する領域同士(例えば第1の領域a同士、第2の領域a同士)を対にして用いる。 This retardation plate 4 can be used not only as a first retardation plate 4A disposed next to the first retardation filter 3A when viewed from the light source 2 side, but also as a first retardation plate 4A disposed next to the first retardation filter 3A when viewed from the light source 2 side. It is simultaneously used as the second retardation plate 4B disposed in . On the side of the second retardation plate 4B, the first area a 1 , the second area a 2 , and the third area a 3 are the second retardation plate, the fourth retardation plate, and the sixth retardation plate, respectively. It becomes a retardation plate. When two retardation plates 4, 4 are used as the first and second retardation plates 4A, 4B, regions having the same Re (550) (for example, the first region a1 , the second area a2 ) are used as a pair.

被検査物10を通過した光を観察するために、光路9上、且つ、第2の位相差フィルタ3Bの両側のうち光源2がある側とは反対側の位置に、CCDカメラ等を含む検出手段5を配置してもよい。例えば、CCDカメラと画像処理装置を組み合わせた画像処理解析により自動的に検出し、これによって被検査物の検査を行うことができる。或いは、検出手段5は部材ではなく、人間が第2の位相差フィルタ3Bを人が目視観察することであってもよい。 In order to observe the light that has passed through the object to be inspected 10, a detection device including a CCD camera or the like is installed on the optical path 9 and at a position opposite to the side where the light source 2 is located on both sides of the second phase difference filter 3B. Means 5 may be arranged. For example, the object to be inspected can be inspected by automatically detecting it by image processing analysis using a combination of a CCD camera and an image processing device. Alternatively, the detection means 5 may not be a member, but may be a person who visually observes the second phase difference filter 3B.

また、検査装置100Aは、被検査物10、第1及び第2の位相差板4A,4B、並びに、第1及び第2の位相差フィルタ3A,3Bの少なくとも一つを、互いに対面する角度が異なるように傾ける、又は、光の光路9に垂直な方向に回転させることを可能とする可動装置(図示していない。)を備えていることが好ましい。これらを傾けることで、PET系樹脂からなる剥離フィルム16aや第1及び第2の位相差板4A,4Bの位相差を微調整できることから、より広範囲の検査が可能となる。また、これらを回転させることでPET系樹脂からなる剥離フィルム16aと第1及び第2の位相差板4A,4Bとの軸合わせが容易となる。 The inspection apparatus 100A also arranges at least one of the object to be inspected 10, the first and second retardation plates 4A and 4B, and the first and second retardation filters 3A and 3B such that the angle at which they face each other is Preferably, it is provided with a movable device (not shown) which allows it to be tilted differently or rotated in a direction perpendicular to the optical path 9 of the light. By tilting these, the retardation of the release film 16a made of PET resin and the first and second retardation plates 4A, 4B can be finely adjusted, making it possible to inspect a wider range. Moreover, by rotating these, it becomes easy to align the axes of the release film 16a made of PET resin and the first and second retardation plates 4A, 4B.

(検査方法)
検査装置100Aを用いた検査方法は、以下のとおりである。はじめに、検査装置100Aの内部のうち、第1の位相差板4Aと第2の位相差板4Bとの間に被検査物10を挿入する。このとき、これら各フィルムの面がいずれも平行となるように、且つ、被検査物10中の剥離フィルム16aを備える側が光源2とは反対側を向くとともに円偏光板1と第2の位相差フィルタ3Bとがクロスニコルを構成するように配置する。ここで、第1の位相差板4A及び第2の位相差板4Bとしては、いずれも図4に示された位相差板4を用いており、いずれも第1の領域aが光路9上に位置するように配置している。
(Inspection method)
The inspection method using the inspection device 100A is as follows. First, the object to be inspected 10 is inserted between the first retardation plate 4A and the second retardation plate 4B inside the inspection apparatus 100A. At this time, the surfaces of each of these films are parallel to each other, and the side of the object to be inspected 10 provided with the release film 16a faces the side opposite to the light source 2, and the circularly polarizing plate 1 and the second retardation are The filter 3B is arranged so as to form a crossed nicol structure. Here, as the first retardation plate 4A and the second retardation plate 4B, the retardation plate 4 shown in FIG. 4 is used. It is located so that it is located at

そして、第1の位相差フィルタ3Aが第2の位相差フィルタ3Bとクロスニコルを構成するように調整する。検査装置100Aが上記可動装置を備えている場合は、被検査物10を任意の向きに挿入した後に、各フィルムの相対的な位置関係を可動装置によって変化させてクロスニコルとしてもよい。 Then, the first phase difference filter 3A and the second phase difference filter 3B are adjusted so as to form a crossed nicol configuration. When the inspection apparatus 100A is equipped with the movable device described above, after inserting the object 10 to be inspected in an arbitrary direction, the relative positional relationship of each film may be changed by the movable device to form a crossed nicol configuration.

光源2が発した光は第1の位相差フィルタ3Aに入射し、これを通過して円偏光となり、続けて第1の位相差板4Aを通過する。検査のために、被検査物10を面内方向の任意の方向に動かすと、被検査物10のうち凹部Rの箇所では、第1の位相差フィルタ3A及び第1の位相差板4Aを通過した光はそのまま第2の位相差板4Bに入射し、第1の位相差フィルタ3Aとクロスニコルとされた第2の位相差フィルタ3Bで遮断される。これを検出手段5側から観察すると、第2の位相差フィルタ3Bの面は暗い。 The light emitted by the light source 2 enters the first phase difference filter 3A, passes through this, becomes circularly polarized light, and then passes through the first phase difference plate 4A. When the inspected object 10 is moved in any in-plane direction for inspection, the portion of the inspected object 10 at the recess R passes through the first phase difference filter 3A and the first phase difference plate 4A. The light enters the second retardation plate 4B as it is, and is blocked by the first retardation filter 3A and the second retardation filter 3B, which is in a crossed nicol configuration. When this is observed from the detection means 5 side, the surface of the second phase difference filter 3B is dark.

他方、被検査物10のうち凹部以外の部分では、第1の位相差フィルタ3A及び第1の位相差板4Aを通過した光が被検査物10に入射し、透過し、そして第2の位相差板4Bに入射し、被検査物10とクロスニコルとされた第2の位相差フィルタ3Bで遮断される。このとき、被検査物10中の円偏光板1に欠陥が存在すると、この欠陥部分では正規の遮断が行えず、これを検出手段5側から観察すると、欠陥部分が輝点として観察される。 On the other hand, in a portion of the object to be inspected 10 other than the concave portion, the light that has passed through the first phase difference filter 3A and the first phase difference plate 4A enters the object to be inspected 10, is transmitted, and then passes through the second phase difference filter 3A and the first phase difference plate 4A. The light enters the retardation plate 4B and is blocked by the second phase difference filter 3B, which is in a crossed nicol configuration with the object to be inspected 10. At this time, if there is a defect in the circularly polarizing plate 1 in the object to be inspected 10, proper blocking cannot be performed at this defective portion, and when this is observed from the detection means 5 side, the defective portion is observed as a bright spot.

ここで、剥離フィルム16aが位相差を有する場合、被検査物10を通過した円偏光が影響を受け、第2の位相差フィルタ3Bを透過する光量が多くなり(例えば光源の光量の5%又は10%を超えるようになり)、円偏光板1に存在する輝点等の欠陥の検出精度が低下する。ここで、被検査物10と第2の位相差フィルタ3Bとの間に第2の位相差板4Bが配置されていることによって、被検査物10中の剥離フィルム16aの位相差値がキャンセルされ、剥離フィルム16aによる光の複屈折を補償する。 Here, if the release film 16a has a phase difference, the circularly polarized light that has passed through the object to be inspected 10 is affected, and the amount of light that passes through the second phase difference filter 3B increases (for example, 5% or 5% of the amount of light from the light source). (exceeds 10%), and the detection accuracy of defects such as bright spots present in the circularly polarizing plate 1 decreases. Here, by disposing the second retardation plate 4B between the object to be inspected 10 and the second phase difference filter 3B, the retardation value of the release film 16a in the object to be inspected 10 is canceled. , to compensate for the birefringence of light due to the release film 16a.

また、第2の位相差板4Bは、剥離フィルム16aによる光の複屈折を効果的に補償するために剥離フィルム16aが有する位相差値と波長分散特性とにできる限り一致するように設計するが、剥離フィルム16aの位相差値の面内ばらつきにより検査視野全体で光を十分に遮断して検査することは困難である。このような場合には、円偏光板1のうち、位相差膜14の位相差値が低下している部分で光学補償がマッチングし、本来輝点として観察されるべき欠陥が黒点として観察されてしまうことが起こりうる。通常、黒点欠陥は輝点欠陥と比較して、視認性に与える影響が小さいため欠陥サイズについても輝点欠陥より大きくても許容されることが多いことから、結果的に問題なしと判断されてしまうことがある。しかし、その黒点欠陥が本来位相差膜14の位相差値低下部位に起因する輝点欠陥として観察されるべきものであった場合には、視認性に与える影響が大きく、問題となってしまう。 Further, the second retardation plate 4B is designed to match the retardation value and wavelength dispersion characteristics of the release film 16a as much as possible in order to effectively compensate for the birefringence of light caused by the release film 16a. Due to in-plane variations in the retardation value of the release film 16a, it is difficult to perform an inspection while sufficiently blocking light over the entire inspection field. In such a case, the optical compensation is matched in the portion of the circularly polarizing plate 1 where the retardation value of the retardation film 14 is decreased, and defects that should originally be observed as bright spots are observed as black spots. Things can happen. Normally, black spot defects have a smaller effect on visibility than bright spot defects, so it is often accepted that the defect size is larger than that of bright spot defects, so in the end it is determined that there is no problem. Sometimes I put it away. However, if the black spot defect should originally be observed as a bright spot defect caused by a portion of the retardation film 14 where the retardation value decreases, the influence on visibility is large and becomes a problem.

このため、本実施形態では、黒点と視認された欠陥部位に対して、第1の位相差板4A及び第2の位相差板4Bとは異なる面内位相差を有する第3の位相差板及び第4の位相差板を用いる。具体的には、位相差板4,4をいずれも面内方向にスライドさせ、いずれも第2の領域a(第3の位相差板,第4の位相差板)が光路9上に位置するようにする。この配置にて二回目の検査を行う。 For this reason, in this embodiment, a third retardation plate having an in-plane retardation different from that of the first retardation plate 4A and the second retardation plate 4B is used for a defect site visually recognized as a black spot. A fourth retardation plate is used. Specifically, both the retardation plates 4 and 4 are slid in the in-plane direction, and in both cases, the second region a 2 (third retardation plate, fourth retardation plate) is positioned on the optical path 9. I'll do what I do. A second inspection will be conducted with this arrangement.

このように、面内位相差値が異なる位相差板を用いて複数回にわたって検査することで、欠陥が輝点欠陥として観察される可能性が高まり、欠陥を正しく認識しやすい。なお、第2の領域a(第3の位相差板,第4の位相差板)を用いた検査でも再度黒点と視認された場合は、二枚の位相差板4,4を更に第3の領域a(第5の位相差板,第6の位相差板)へスライドさせ、三回目の検査を行う。 In this way, by performing multiple inspections using retardation plates with different in-plane retardation values, the possibility that defects will be observed as bright spot defects increases, making it easier to correctly recognize defects. Note that if a black spot is visually recognized again even in the inspection using the second area a 2 (third retardation plate, fourth retardation plate), the two retardation plates 4 and 4 are further replaced with the third retardation plate. The third retardation plate is slid to area a 3 (fifth retardation plate, sixth retardation plate), and a third inspection is performed.

検査中、被検査物10、第1及び第2の位相差板4A,4B、並びに、第1及び第2の位相差フィルタ3A,3Bの少なくとも一つを、互いに対面する角度が異なるように傾けてもよいし、光の光路9に垂直な方向に回転させてもよい。傾けることによって、剥離フィルム16aや第1及び第2の位相差板4A,4Bの位相差を微調整できることから、より広範囲の検査が可能となる。また、これらを回転させることでPET系樹脂からなる剥離フィルム16aと第1及び第2の位相差板4A,4Bとの軸合わせが容易となる。これらの操作は、検査装置100Aが可動装置を備えている場合に特に容易に行うことができる。 During the inspection, at least one of the inspected object 10, the first and second phase difference plates 4A, 4B, and the first and second phase difference filters 3A, 3B are tilted so that they face each other at different angles. Alternatively, it may be rotated in a direction perpendicular to the optical path 9 of the light. By tilting, it is possible to finely adjust the retardation of the release film 16a and the first and second retardation plates 4A and 4B, thereby enabling inspection over a wider range. Moreover, by rotating these, it becomes easy to align the axes of the release film 16a made of PET resin and the first and second retardation plates 4A, 4B. These operations can be performed particularly easily when the inspection device 100A is equipped with a movable device.

以上に示した検査方法によれば、第1の位相差板4A及び第2の位相差板4Bの対を用いた検査で黒色欠陥が観察された部位を第3の位相差板(a)及び第4の位相差板(a)を用いて検査することによって、これを輝点欠陥として観察できるように位相差を調整することが可能となる。また、この検査方法では、第1の位相差フィルタ3Aと第2の位相差フィルタ3Bとをクロスニコルを構成するように配置しているので、光路上に被検査物10が存在しない場合には光源からの光が第2の位相差フィルタで遮断される。したがって、被検査物10の異形部分からの光漏れが大幅に抑制されることとなり、異形部分の近傍を検査するときの支障とならない。以上のことから、本実施形態の検査方法では異形の円偏光板1の欠陥の有無を容易に判断することができる。 According to the above-described inspection method, a portion where a black defect is observed in an inspection using a pair of the first retardation plate 4A and the second retardation plate 4B is transferred to the third retardation plate (a 2 ). By inspecting using the fourth retardation plate (a 2 ), it is possible to adjust the retardation so that this can be observed as a bright spot defect. In addition, in this inspection method, the first phase difference filter 3A and the second phase difference filter 3B are arranged so as to form a crossed nicol, so that when the object to be inspected 10 is not present on the optical path, Light from the light source is blocked by the second phase difference filter. Therefore, light leakage from the irregularly shaped portion of the object to be inspected 10 is significantly suppressed, and does not become a hindrance when inspecting the vicinity of the irregularly shaped portion. From the above, the inspection method of this embodiment can easily determine whether there is a defect in the irregularly shaped circularly polarizing plate 1.

<第2の実施形態>
第2の実施形態の検査方法ついて説明する。第2の実施形態の検査方法が第1の実施形態の検査方法と異なる点は、図5に示されているとおり、検査装置100Bにおいて、第1の位相差板4Aと被検査物10との間に高位相差板20を配置する点である。
<Second embodiment>
The inspection method of the second embodiment will be explained. The difference between the inspection method of the second embodiment and the inspection method of the first embodiment is that, as shown in FIG. The point is that a high retardation plate 20 is placed between them.

高位相差板20は、被検査物10と同形のフィルムであり、被検査物10の凹部Rに対応する位置に同様の凹部R’を有している。高位相差板20は、表面保護フィルム16bの位相差値を補完するものであるので、表面保護フィルム16bと同様の材料からなることが好ましく、ポリエチレンテレフタレート系樹脂からなることが好ましい。 The high retardation plate 20 is a film having the same shape as the object 10 to be inspected, and has a similar recess R' at a position corresponding to the recess R of the object 10 to be inspected. Since the high retardation plate 20 complements the retardation value of the surface protection film 16b, it is preferably made of the same material as the surface protection film 16b, and preferably made of polyethylene terephthalate resin.

高位相差板20は、Re(550)が5000nm以上であることが好ましく、7000nm以上であることがより好ましく、8000nm以上であることが更に好ましく、10000nm以上であることが特に好ましい。また、高位相差板20は、その遅相軸が表面保護フィルム16bの遅相軸と略平行となるように配置することが好ましい。 The Re(550) of the high retardation plate 20 is preferably 5000 nm or more, more preferably 7000 nm or more, even more preferably 8000 nm or more, and particularly preferably 10000 nm or more. Moreover, it is preferable that the high retardation plate 20 is arranged so that its slow axis is substantially parallel to the slow axis of the surface protection film 16b.

高位相差板20を用いた検査によれば、第1の実施形態の検査方法で奏される効果に加え、表面保護フィルムの16bが有する位相差によって生じる光の干渉による観察光の色付きを抑制することができる。すなわち、表面保護フィルム16bが有する面内位相差によって、検査の観察視野に虹色の模様が生じて欠陥観察の支障となる場合があるが、高位相差板20は面内位相差値が高いので、当該虹色の光を白色の光に変換して観察の支障とならないようにすることができる。特に、高位相差板20の遅相軸と表面保護フィルム16bの遅相軸とを略平行に配置した場合は、面内位相差の加成性により当該虹色の光を可視光外の光に確実に変換することができる。 According to the inspection using the high retardation plate 20, in addition to the effects produced by the inspection method of the first embodiment, coloring of observation light due to light interference caused by the retardation of the surface protection film 16b is suppressed. be able to. That is, due to the in-plane retardation of the surface protection film 16b, a rainbow-colored pattern may appear in the observation field of inspection, which may hinder defect observation, but since the high retardation plate 20 has a high in-plane retardation value, , it is possible to convert the rainbow-colored light into white light so that it does not interfere with observation. In particular, when the slow axis of the high retardation plate 20 and the slow axis of the surface protection film 16b are arranged substantially parallel, the iridescent light is converted into light outside of visible light due to the additivity of the in-plane retardation. can be converted reliably.

以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に何ら限定されるものではない。例えば、上記実施形態では第1の位相差フィルタ3Aと第1の位相差板4Aとを互いに別の物品として示したが、これらは互いに積層された積層体として一枚のフィルムを構成していてもよい。第2の位相差フィルタ3Bと第2の位相差板4Bについても同様に一つの積層体としてもよい。 Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments. For example, in the above embodiment, the first retardation filter 3A and the first retardation plate 4A are shown as separate products, but they constitute one film as a laminate stacked on each other. Good too. Similarly, the second phase difference filter 3B and the second phase difference plate 4B may be formed into one laminate.

また、上記実施形態では、二枚の位相差板4(第1の位相差板4A、第2の位相差板4B)としてRe(550)が異なる第1の領域a、第2の領域a等が直線上に並んだものを用いたが、この位相差板は、Re(550)が異なる領域が環状に並んだ構成とされていてもよい。例えば、円盤状のフィルムを中心部から放射状に延びる仮想線を境界として位相差値が異なる複数の領域に区分し、ある領域(第1の領域;第1の位相差板に相当)は、Re(550)が例えば1720nmである領域であり、その隣に接している領域(第2の領域;第2の位相差板に相当)は、Re(550)が1790nmである領域であり、更にその隣に接している領域(第3の領域;第3の位相差板に相当)は、Re(550)が1860nmである領域であるようにしてもよい。当該領域の数は任意であり、例えば、四つ、六つ、八つ等とすることができる。 In the above embodiment, the two retardation plates 4 (first retardation plate 4A, second retardation plate 4B) include a first region a 1 and a second region a with different Re (550). Although the retardation plate used is one in which the second and the like are arranged in a straight line, this retardation plate may have a structure in which regions having different Re(550) are arranged in an annular shape. For example, a disc-shaped film is divided into a plurality of regions having different retardation values using virtual lines extending radially from the center as boundaries, and one region (first region; equivalent to the first retardation plate) has a Re (550) is, for example, 1720 nm, and the adjacent region (second region; equivalent to the second retardation plate) is a region where Re (550) is 1790 nm, and The adjacent region (third region; equivalent to the third retardation plate) may have Re(550) of 1860 nm. The number of regions is arbitrary, and can be, for example, four, six, eight, etc.

本発明は、円偏光板の品質検査に利用することができる。 INDUSTRIAL APPLICATION This invention can be utilized for the quality inspection of a circularly polarizing plate.

1…円偏光板、2…光源、3A…第1の位相差フィルタ、3B…第2の位相差フィルタ、4…位相差板、4A…第1の位相差板、4B…第2の位相差板、5…検出手段、9…光路、10…被検査物、11…偏光フィルム、12a,12b…保護フィルム、13…粘着剤層、14…位相差膜、15…粘着剤層、16a…剥離フィルム、16b…表面保護フィルム、20…高位相差板、100A,100B…検査装置、a…第1の領域(第1の位相差板,第2の位相差板)、a…第2の領域(第3の位相差板,第4の位相差板)、a…第nの領域、R,R’…凹部。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Circularly polarizing plate, 2... Light source, 3A... First phase difference filter, 3B... Second phase difference filter, 4... Phase difference plate, 4A... First phase difference plate, 4B... Second phase difference Plate, 5... Detection means, 9... Optical path, 10... Test object, 11... Polarizing film, 12a, 12b... Protective film, 13... Adhesive layer, 14... Retardation film, 15... Adhesive layer, 16a... Peeling Film, 16b...Surface protection film, 20...High retardation plate, 100A, 100B...Inspection device, a1 ...First region (first retardation plate, second retardation plate), a2 ...Second retardation plate region (third retardation plate, fourth retardation plate), an ... n-th region, R, R'...recess.

Claims (6)

円偏光板、及び、ポリエチレンテレフタレート系樹脂からなる剥離フィルムを備えるフィルム状の被検査物の欠陥の有無を判断する検査方法であって、
前記被検査物は、矩形を基準として前記矩形の辺から前記矩形の内側へ向けて凹んだ凹部を有する形状であり、又は、矩形の角部が曲線となった形状であり、又は、矩形の辺から離れた位置に貫通孔を有する形状であり、
光源と、
第1の位相差フィルタと、
第1の位相差板と、
前記被検査物と、
波長550nmにおける面内位相差値が前記剥離フィルムの波長550nmにおける面内位相差値と略同一であり、且つ、前記剥離フィルムが有する複屈折を補償するものである第2の位相差板と、
前記第1の位相差フィルタ及び前記円偏光板とクロスニコルを構成する第2の位相差フィルタと、を前記光源が発する光の光路上にこの順に並ぶように配置し、
前記第1の位相差板は、波長550nmにおける面内位相差値が前記第2の位相差板の波長550nmにおける面内位相差値と略同一であり、且つ、前記第2の位相差板が有する複屈折を補償するものであり、
前記被検査物に光を入射し、前記光源の反対側から観察して前記円偏光板の欠陥の有無を判断し、
前記第1の位相差板及び前記第2の位相差板を、波長550nmにおける面内位相差値が前記剥離フィルムの波長550nmにおける面内位相差値よりも50~100nm大きく、且つ、前記剥離フィルムが有する複屈折を補償するものである第3の位相差板及び第4の位相差板にそれぞれ置き換え、
その置き換え後に前記被検査物に光を入射し、前記光源の反対側から観察して前記円偏光板の欠陥の有無を判断する、検査方法。
An inspection method for determining the presence or absence of defects in a film-like inspection object comprising a circularly polarizing plate and a release film made of polyethylene terephthalate resin, the method comprising:
The object to be inspected has a shape with a rectangle as a reference and has a concave portion recessed from the side of the rectangle toward the inside of the rectangle, or has a shape with curved corners of the rectangle, or has a shape of a rectangle. It has a shape with a through hole located away from the sides,
a light source and
a first phase difference filter;
a first retardation plate;
The object to be inspected;
a second retardation plate whose in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm is approximately the same as the in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm of the release film, and which compensates for the birefringence of the release film;
The first phase difference filter and the second phase difference filter forming a crossed nicol with the circularly polarizing plate are arranged in this order on the optical path of the light emitted by the light source,
The first retardation plate has an in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm that is approximately the same as the in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm of the second retardation plate, and the second retardation plate has an in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm. It compensates for the birefringence that it has,
Injecting light into the object to be inspected and observing it from the opposite side of the light source to determine whether there is a defect in the circularly polarizing plate,
The first retardation plate and the second retardation plate have an in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm that is 50 to 100 nm larger than an in-plane retardation value at a wavelength of 550 nm of the release film, and the release film Replaced with a third retardation plate and a fourth retardation plate that compensate for the birefringence of
After the replacement, light is incident on the object to be inspected, and the object is observed from the opposite side of the light source to determine whether or not there is a defect in the circularly polarizing plate.
前記被検査物は、前記円偏光板に対して前記剥離フィルムが設けられている側とは反対側にポリエチレンテレフタレート系樹脂からなる表面保護フィルムを更に備え、
前記第1の位相差板と前記被検査物との間に、波長550nmにおける面内位相差値が5000nm以上である高位相差板を更に配置する、請求項1記載の検査方法。
The object to be inspected further includes a surface protection film made of polyethylene terephthalate resin on a side opposite to the side where the release film is provided with respect to the circularly polarizing plate,
2. The inspection method according to claim 1, further comprising disposing a high retardation plate having an in-plane retardation value of 5000 nm or more at a wavelength of 550 nm between the first retardation plate and the object to be inspected.
前記表面保護フィルムの遅相軸と前記高位相差板の遅相軸とが略平行となるように配置する、請求項2記載の検査方法。 3. The inspection method according to claim 2, wherein the slow axis of the surface protection film and the slow axis of the high retardation plate are arranged to be substantially parallel. 前記円偏光板は、重合性液晶化合物の硬化物からなる位相差膜を有するものである、請求項1~3のいずれか一項記載の検査方法。 4. The inspection method according to claim 1, wherein the circularly polarizing plate has a retardation film made of a cured product of a polymerizable liquid crystal compound. 前記被検査物、前記第1の位相差板、前記第2の位相差板、前記第3の位相差板、前記第4の位相差板、前記第1の位相差フィルタ、前記第2の位相差フィルタ、前記第1の位相差板、及び、前記第2の位相差板の少なくとも一つを、互いに対面する角度が異なるように傾ける、又は、前記光路に垂直な方向に回転させる、請求項1~4のいずれか一項記載の検査方法。 the object to be inspected, the first retardation plate, the second retardation plate, the third retardation plate, the fourth retardation plate, the first phase difference filter, the second phase difference plate; Claim: At least one of the retardation filter, the first retardation plate, and the second retardation plate is tilted so that the angles at which they face each other are different, or rotated in a direction perpendicular to the optical path. The inspection method described in any one of 1 to 4. 前記第1の位相差板及び前記第3の位相差板は、同一の部材内に配置されて構成されたものである、請求項1~5のいずれか一項記載の検査方法。

6. The inspection method according to claim 1, wherein the first retardation plate and the third retardation plate are arranged in the same member.

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