JP7399330B2 - 自動分析装置、及びその洗浄方法 - Google Patents
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Description
101 反応ディスク
102 反応容器
103 試薬ディスク
104 試薬ボトル
105 試料容器
106 ラック
107 試料搬送機構
108 反応容器洗浄機構
109 分光光度計
110 攪拌機構
111 試薬分注機構
112 試薬分注プローブ(試薬プローブ)
113 試料分注機構
114 試料分注プローブ(試料プローブ)
115 バーコードリーダ
116 ラックロータ
117 試料搬送ライン
118 試料吸引位置
119 ISE測定部
120 ラック供給部
121 ラック収納部
122 緊急ラック投入部
123 インターフェイス
124 制御部
125 操作部
126 操作入力部
127 試料プローブ洗浄槽
128 試薬プローブ洗浄槽
202 チューブ
203 接続部
204 シリンジ
205 電磁弁
206 送液ポンプ
207 プランジャー
208 モーター
209 試料容器
210 反応容器
211 試料プローブ洗浄機構
212 カバー
213 アーム
214 ピペッタ部
Claims (16)
- 試料または試薬を反応容器に分注するプローブを備えた分注機構と、
前記プローブを洗浄する洗浄機構と、
前記分注機構と前記洗浄機構を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、複数の分析条件に対応する、汚染に対する重みづけを示すカウント値を記憶しており、前記プローブに対する汚染除去動作を実施してから、前記分注機構が試料または試薬の分注を行うサイクルごとに、前記分注を行う分析条件に対応する前記カウント値を累積し、累積された前記カウント値に基づき前記プローブに対する汚染除去動作の要否判断を行う、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置であって、
前記分析条件として、分析項目、検体種別、分注量及び分注動作を要素として含む、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2に記載の自動分析装置であって、
前記制御部が記憶する前記カウント値は、前記分析項目ごとに設定されている、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2に記載の自動分析装置であって、
前記制御部が記憶する前記カウント値は、前記要素ごとに設定されており、前記分注を行う分析条件に対応する前記カウント値は、前記要素ごとに設定された前記カウント値から演算される、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置であって、
前記制御部の要否判断により実施される前記プローブに対する汚染除去動作は、前記プローブに想定される最大汚染を除去することを想定した洗浄動作である、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置であって、
前記制御部は、前記分注の成否によって、前記分注を行う分析条件に対応する前記カウント値を累積する演算方法を異ならせる、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置であって、
前記制御部は、前記プローブに対する汚染除去動作を要として判断した場合であっても、前記分注がキャリブレーション、コントロール、または同一検体内の依頼による試料の分注である場合には、当該分注を継続し、前記キャリブレーション、前記コントロール、または前記同一検体内の依頼による試料の分注が終了してから、前記プローブに対する汚染除去動作を実施するよう制御する、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1に記載の自動分析装置であって、
前記制御部が記憶する前記カウント値は、グラフィカルユーザインターフェースから設定される、
ことを特徴とする自動分析装置。 - 自動分析装置の洗浄方法であって、
自動分析装置は、試料または試薬を反応容器に分注するプローブを備えた分注機構と、前記プローブを洗浄する洗浄機構と、前記分注機構と前記洗浄機構を制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、複数の分析条件に対応する、汚染に対する重みづけを示すカウント値を記憶しており、
前記制御部は、前記プローブに対する汚染除去動作を実施してから、前記分注機構が試料または試薬の分注を行うサイクルごとに、前記分注を行う分析条件に対応する前記カウント値を累積し、累積された前記カウント値に基づき前記プローブに対する汚染除去動作の要否判断を行う、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。 - 請求項9に記載の自動分析装置の洗浄方法であって、
前記分析条件として、分析項目、検体種別、分注量及び分注動作を要素として含む、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。 - 請求項10に記載の自動分析装置の洗浄方法であって、
前記制御部が記憶する前記カウント値は、前記分析項目ごとに設定されている、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。 - 請求項10に記載の自動分析装置の洗浄方法であって、
前記制御部が記憶する前記カウント値は、前記要素ごとに設定されており、前記分注を行う分析条件に対応する前記カウント値は、前記要素ごとに設定された前記カウント値から演算される、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。 - 請求項9に記載の自動分析装置の洗浄方法であって、
前記制御部の要否判断により実施される前記プローブに対する汚染除去動作は、前記プローブに想定される最大汚染を除去することを想定した洗浄動作である、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。 - 請求項9に記載の自動分析装置の洗浄方法であって、
前記制御部は、前記分注の成否によって、前記分注を行う分析条件に対応する前記カウント値を累積する演算方法を異ならせる、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。 - 請求項9に記載の自動分析装置の洗浄方法であって、
前記制御部は、前記プローブに対する汚染除去動作を要として判断した場合であっても、前記分注がキャリブレーション、コントロール、または同一検体内の依頼による試料の分注である場合には、当該分注を継続し、前記キャリブレーション、前記コントロール、または前記同一検体内の依頼による試料の分注が終了してから、前記プローブに対する汚染除去動作を実施するよう制御する、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。 - 請求項9に記載の自動分析装置の洗浄方法であって、
前記制御部が記憶する前記カウント値は、グラフィカルユーザインターフェースから設定される、
ことを特徴とする自動分析装置の洗浄方法。
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