JP7326003B2 - 液体供給装置、洗浄ユニット、基板処理装置 - Google Patents
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims description 207
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims description 123
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 26
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 25
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 283
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 52
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 9
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 6
- 238000007865 diluting Methods 0.000 claims description 5
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 4
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 165
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 64
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 7
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 7
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 2
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D7/00—Control of flow
- G05D7/06—Control of flow characterised by the use of electric means
- G05D7/0617—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials
- G05D7/0623—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials characterised by the set value given to the control element
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B13/00—Accessories or details of general applicability for machines or apparatus for cleaning
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B3/00—Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
- B08B3/04—Cleaning involving contact with liquid
- B08B3/08—Cleaning involving contact with liquid the liquid having chemical or dissolving effect
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B9/00—Cleaning hollow articles by methods or apparatus specially adapted thereto
- B08B9/02—Cleaning pipes or tubes or systems of pipes or tubes
- B08B9/027—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages
- B08B9/032—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing
- B08B9/0321—Cleaning the internal surfaces; Removal of blockages by the mechanical action of a moving fluid, e.g. by flushing using pressurised, pulsating or purging fluid
- B08B9/0325—Control mechanisms therefor
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D11/00—Control of flow ratio
- G05D11/02—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material
- G05D11/13—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means
- G05D11/131—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means by measuring the values related to the quantity of the individual components
- G05D11/132—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means by measuring the values related to the quantity of the individual components by controlling the flow of the individual components
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D7/00—Control of flow
- G05D7/06—Control of flow characterised by the use of electric means
- G05D7/0617—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials
- G05D7/0629—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials characterised by the type of regulator means
- G05D7/0635—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials characterised by the type of regulator means by action on throttling means
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D7/00—Control of flow
- G05D7/06—Control of flow characterised by the use of electric means
- G05D7/0617—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials
- G05D7/0629—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials characterised by the type of regulator means
- G05D7/0635—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials characterised by the type of regulator means by action on throttling means
- G05D7/0641—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials characterised by the type of regulator means by action on throttling means using a plurality of throttling means
- G05D7/0652—Control of flow characterised by the use of electric means specially adapted for fluid materials characterised by the type of regulator means by action on throttling means using a plurality of throttling means the plurality of throttling means being arranged in parallel
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
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- H—ELECTRICITY
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67253—Process monitoring, e.g. flow or thickness monitoring
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Description
及び薬液を供給するための薬液供給源20と、それぞれ配管を介して流体連通するように構成されている。また、薬液供給装置100は、洗浄装置200と流体連通するように構成されている。具体的には、薬液供給装置100は、DIW及び希釈された薬液(洗浄薬液)を洗浄装置200に供給する。
DIWユーティリティボックス500Dは、DIW供給バルブ112と、DIWCLC111(流量制御装置の一例)と、圧力計76と、DIW圧調節レギュレータ77と、を有する。DIW供給バルブ112は、制御装置150により開閉制御され、DIWCLC111からインライン混合器78へのDIWの供給のオンオフを切り替える。DIWCLC111は、閉ループ制御機能を有する流量制御弁であり、制御装置150により制御され、インライン混合器78に供給するDIWの流量を計測し、この計測値に基づいて流量を制御する。具体的には、DIWCLC111は、計測したDIWの流量に基づいて、DIW CLC111内に流れるDIWの流量が所望の流量になるように、DIW CLC111内部のコントロールバルブの開度を調節(フィードバック制御)する。DIWユーティリティボックス500Dは、DIW供給バルブ112を開けることにより、DIWをインライン混合器78に供給する。DIW圧調節レギュレータ77は、制御装置150によ
り開度が制御され、DIW供給配管81からDIWCLC111へのDIWの供給圧力を調節する。圧力計76は、DIW圧調節レギュレータ77とDIWCLC111との間に配置され、DIW CLC111に流入するDIWの圧力を測定し、制御装置150に測定値を出力する。
薬液ユーティリティボックス500Aは、薬液供給バルブ122と、薬液CLC121(流量制御装置の一例)と、を有する。また、薬液ユーティリティボックス500Aは、薬液供給源20と薬液CLC121とを接続する薬液配管91上に設けられるマニュアル弁51と、薬液CLC121への薬液の供給のオンオフを切り替える薬液入口バルブ52と、薬液配管91内の流体圧力を計測する圧力計53と、を更に備えている。また、薬液ユーティリティボックス500Aは、DIW供給源30と薬液CLC121とを接続するDIW配管92上に設けられるDIW入口バルブ70を更に備えている。なお、図2において、符号120、50は、それぞれ、CLCボックス及び薬液ユーティリティボックスをそれぞれ個別に設けた場合の各ボックスが含む構成要素を示している。本実施形態では、CLCボックス120及び薬液ユーティリティボックス50の別々のボックス(モジュール)内に配置されていた構成(例えば、特許文献1の図1における符号120、50の構成)を1つのモジュールである薬液ユーティリティボックス500Aに集積している。1つの薬液ユーティリティボックス500Aに集積する構成により、各ボックス(モジュール)間の配管を単一のボックス内に集約することができ、液体供給装置の小型化が図ら
れている。後述する本実施形態のバルブ切り替え処理は、このような集積化された構成に特に効果的である。ただし、本実施形態は、CLCボックス120及び薬液ユーティリティボックス50の別々のモジュールで配置する構成を含むその他の構成に適用してもよい。なお、マニュアル弁51は、薬液ユーティリティボックス500Aの外部に配置してもよい。
することができる。言い換えれば、圧力計74は、DIWCLC111及び薬液CLC121から流出する液体の圧力を測定し、測定値を制御装置150に出力する。
図4は、一実施形態に係る各バルブの切り替えタイミングを示すタイムチャートである。薬液供給装置100において洗浄薬液を洗浄装置200の薬液洗浄部220に供給する薬液供給プロセスの後、薬液供給装置100及び/又は洗浄装置200の配管洗浄(フラッシング)を行う場合、薬液ユーティリティボックス500Aにおいて薬液入口バルブ52を開から閉に、DIW入口バルブ70を閉から開に切り替えて、薬液CLC121にDIWを供給する。ここで、本実施形態の薬液供給装置100では、上述したように、従来のCLCボックス120とユーティリティボックス50とを薬液ユーティリティボックス500Aとして集積し、小型化を図っているため、薬液入口バルブ52と薬液CLC121との間の距離が短く、この区間の配管内の体積が小さくなっている。このため、薬液入口バルブ52を閉鎖すると同時にDIW入口バルブ70を開放すると、薬液入口バルブ52の閉鎖による薬液入口バルブ52と薬液CLC121との間の配管の小さな体積に対して、DIW入口バルブ70からDIWが流れ込み、この区間の配管内の圧力が急激に上昇(スパイク)する。この結果、薬液CLC121の流量計1212の検出値がオーバシュートし、圧力上限エラーを生じるおそれがある。集積化されたモジュールにおける配管内の小さな体積に対しては、数ccの体積の液体の流入によって急激な圧力上昇が生じると考えられる。そこで、図4に示すように、薬液入口バルブ52を閉鎖するタイミングt1と、DIW入口バルブを開放するタイミングt2との間に所定の遅延時間Δts(=t2-t1)を設け、薬液入口バルブ52と薬液CLC121との間の配管内の圧力上昇を抑制し、薬液CLC121の流量計1212の圧力上限エラーを抑制する。なお、薬液入口バルブ52を閉鎖するタイミングt1と同時に又はそれに先立ち、薬液供給バルブ122を開放することが好ましい。DIWCLC111の流量制御弁1211は、開度を最小にした場合でも若干の流通面積を有するので、薬液入口バルブ52を閉鎖するタイミングt1と同時に又はそれに先立ち、薬液供給バルブ122を開放することにより、薬液入口バルブ52とDIWCLC111の間の配管の体積/圧力を流量制御弁1211及び薬液供給バルブ122を介して若干であっても下流側に逃がすことができる。これにより、薬液入口バルブ52とDIWCLC111の間の配管内の体積の圧力上昇を更に抑制することができる。
間は、5秒以内であることが好ましい。従って、遅延時間は、流量計1212の圧力上限エラーが生じない範囲でかつ、可能な限り短い期間を、予め実験により求める。本実施形態では、そのような遅延時間Δtsは、例えば、0.1秒に設定される。一実施態様においては、制御装置150の記録媒体150bなどに遅延時間Δtsの設定値をあらかじめ記憶させておき、制御装置150のプログラムが当該設定値を参照するように構成することもできる。また、一実施態様においては、制御装置150の記録媒体150bなどに遅延時間Δtsの設定値を含むレシピを記録させておき、制御装置150のプログラムが当該レシピに従って複数のバルブを制御するように構成することもできる。
図5は、一実施形態に係る液体切り替え処理のフローチャートである。この処理は、制御装置150により、又は、制御装置150と他の制御装置とが協働して実行する。制御装置150は、例えば、薬液供給装置100に対して設けられる制御装置であってもよいし、洗浄ユニット10に対して設けられる制御装置であってもよいし、洗浄ユニット10が設けられる基板処理装置(研磨装置等)に対して設けられる制御装置であってもよい。また、制御装置150は、例えば、薬液供給装置100に対して設けられる制御装置、洗浄ユニット10に対して設けられる制御装置、洗浄ユニット10が設けられる基板処理装置(研磨装置等)に対して設けられる制御装置の1又は複数を含むことができる。
(1)上記では、薬液供給装置100の集積化の一例を挙げて説明したが、図2の薬液ユーティリティボックス500Aで示すような構成以外の集積化された構成、または、バルブの供給能力(供給圧力、供給流量)、配管の材質、及び/又は配管の体積に起因してセンサの計測エラーが生じ得るその他の液体供給装置の構成に対しても本発明を適用することが可能である。
(2)薬液ユーティリティボックス500A~CおよびDIWユーティリティボックス500Dの集積化の構成は上記構成に限定されず、各ユーティリティボックスの一部の構成要素を集積せずに当該ボックス外に配置してもよいし、他の構成要素(バルブ、センサ、流量制御弁等)を追加及び集積してもよい。
(3)上記では、液体供給装置が洗浄装置に液体を供給する例を挙げて説明したが、例えば、図1の洗浄装置200を他の液処理装置(めっき装置、エッチング装置、研磨装置、現像装置等)に置き換えてもよい。例えば、めっき装置のめっき槽に対して、液体供給装置から1又は複数種類のめっき液を希釈及び/又は混合して供給することができる。また、エッチング装置のエッチングチャンバに対して、液体供給装置から1又は複数種類のエッチング液を希釈及び/又は混合して供給することができる。また、現像装置の現像チャンバに対して、液体供給装置から1又は複数種類の現像液を希釈及び/又は混合して供給することができる。
(4)上記では、薬液入口バルブ52及びDIW入口バルブ70の開閉動作のタイミングに遅延時間を、流量計1212が計測値上限エラーを生じない範囲に設定したが、図2において、圧力計53の圧力上限エラーも考慮して遅延時間を設定してもよい。また、本発明は、バルブの供給能力(供給圧力、供給流量)、配管の材質、及び/又は、機器間の配管の体積に起因してセンサの計測エラーが生じ得るその他の構成に適用することも可能である。例えば、各バルブの切り替えにより液体を希釈又は混合する構成に対しても適用可能である。例えば、図2において、圧力計74の圧力上限エラーが生じないように、DIW供給バルブ112及び薬液供給バルブ122の開閉動作のタイミングに遅延時間を設定してもよい。
20 薬液供給源
30 DIW供給源
51 マニュアル弁
52 薬液入口バルブ
53 圧力計
70 DIW入口バルブ
74 圧力計
76 圧力計
77 DIW圧調節レギュレータ
78 インライン混合器
81 DIW供給配管
82 DIW分岐配管
83 DIW配管
86 DIW供給バルブ
87 DIW圧調節レギュレータ
88 DIW圧力計
91 薬液配管
93 薬液配管
96 洗浄薬液配管
111 DIWCLC
112 DIW供給バルブ
121 薬液CLC
122 薬液供給バルブ
100 薬液供給装置
101 ハウジング
110 CLCボックス
120 CLCボックス
150 制御装置
200 洗浄装置
210 DIW洗浄部
220 薬液洗浄部
230 洗浄槽
500A~500C 薬液ユーティリティボックス
500D DIWユーティリティボックス
1211 流量制御弁(内部コントロールバルブ)
1211a 弁本体
1211b 駆動源
1212 流量計
1213 制御部
Claims (13)
- 液体供給装置であって、
液体の流量を計測し、計測値に基づいて流量を制御する第1流量制御装置と、
薬液供給源に接続されると共に前記第1流量制御装置に接続され、前記第1流量制御装置への薬液の供給を制御する第1バルブと、
純水供給源に接続されると共に前記第1流量制御装置に接続され、前記第1流量制御装置への純水の供給を制御する第2バルブと、
前記第1バルブ及び前記第2バルブを制御する制御装置と、
を備え、
前記第1流量制御装置は、配管内の流体の流量を計測する差圧式流量計または超音波流量計からなる流量計と、前記流量計による計測値に基づいてフィードバック制御により前記薬液又は純水の流量を、設定された流量に制御するための流量制御弁とを有し、
前記制御装置は、前記液体供給装置内の配管を純水で洗浄するフラッシングを開始するタイミングか否かを判断し、前記フラッシングを開始するタイミングタイミングであると判断した場合に、前記第1バルブを開から閉とした後、第1遅延時間後に前記第2バルブを閉から開として前記フラッシングを実施し、前記フラッシングを終了するタイミングか否かを判断し、前記フラッシングを終了するタイミングであると判断した場合に、前記第2バルブを開から閉とした後、第2遅延時間後に前記第1バルブを閉から開として前記フラッシングを終了し、
前記純水供給源に接続された第2流量制御装置と、
前記第1流量制御装置の出力側に接続された第3バルブと、
前記第2流量制御装置の出力側に接続された第4バルブと、
前記第1流量制御装置からの前記薬液と前記第2流量制御装置からの前記純水とを混合する混合器と、を更に備え、
前記制御装置は、前記薬液を前記純水で希釈する際に、前記第3バルブの開閉切り替え時と前記第4バルブの開閉を切り替える時との間に遅延時間を設けて、前記第3バルブ及び前記第4バルブを切り替える、
液体供給装置。 - 請求項1に記載の液体供給装置において、
前記第1遅延時間及び前記第2遅延時間は、前記第1及び/又は第2バルブの切り替え時に前記流量計の計測値上限エラーを生じない時間に設定される、
液体供給装置。 - 請求項1又は2に記載の液体供給装置において、
前記第1流量制御装置、前記第1バルブ及び前記第2バルブは、単一のモジュール内に配置されている、液体供給装置。 - 請求項1乃至3の何れかに記載の液体供給装置において、
前記薬液供給源から前記第1流量制御装置への前記薬液の供給圧力、及び、前記純水供給源から前記第1流量制御装置への純水の供給圧力の少なくとも一方を測定可能な1又は複数の圧力計を更に備えた、液体供給装置。 - 請求項1乃至4の何れかに記載の液体供給装置において、
前記流量計及び前記流量制御弁を有する前記第1流量制御装置と、前記第1バルブと、前記第2バルブとは、1つの薬液ユーティリティボックスに集積化されている、液体供給装置。 - 請求項5に記載の液体供給装置において、
前記第1及び第2遅延時間は0.1秒である、液体供給装置。 - 請求項1に記載の液体供給装置において、
前記液体供給装置は、前記純水供給源から洗浄装置に純水を直接供給する純水供給配管を更に有し、
前記純水供給源からの配管は、
前記純水を直接供給する純水供給配管と、
前記第2流量制御装置に接続される、薬液を希釈するための配管と、
前記第2バルブを介して前記第1流量制御装置に接続され、純水による配管洗浄であるフラッシングを行うための配管と、分かれている、
洗浄ユニット。 - 請求項1乃至7の何れかに記載の液体供給装置と、
前記液体供給装置に接続された洗浄装置と、
を備える、洗浄ユニット。 - 請求項8に記載の洗浄ユニットを備える、基板処理装置。
- 液体の流量を計測し、計測値に基づいて流量を制御する第1流量制御装置と、薬液供給源に接続されると共に前記第1流量制御装置に接続され、前記第1流量制御装置への薬液の供給を制御する第1バルブと、純水供給源に接続されると共に前記第1流量制御装置に接続され、前記第1流量制御装置への純水の供給を制御する第2バルブと、前記純水供給源に接続された第2流量制御装置と、前記第1流量制御装置の出力側に接続された第3バルブと、前記第2流量制御装置の出力側に接続された第4バルブと、前記第1流量制御装置からの前記薬液と前記第2流量制御装置からの前記純水とを混合する混合器と、を備え、前記第1流量制御装置は、配管内の流体の流量を計測する差圧式流量計または超音波流量計からなる流量計と、前記流量計による計測値に基づいてフィードバック制御により前記薬液又は純水の流量を、設定された流量に制御するための流量制御弁とを有する、液体
供給装置により液体を供給する方法であって、
前記液体供給装置内の配管を純水で洗浄するフラッシングを開始するタイミングか否かを判断する工程と、
前記フラッシングを開始するタイミングタイミングであると判断した場合に、前記第1バルブを閉にした後、第1遅延時間後に前記第2バルブを開にして、前記フラッシングを実施する工程と、
前記フラッシングを終了するタイミングか否かを判断する工程と、
前記フラッシングを終了するタイミングであると判断した場合に、前記第2バルブを閉にした後、第2遅延時間後に第1バルブを開にして、前記フラッシングを終了する工程と、を含み、
前記薬液を前記純水で希釈する際に、前記第3バルブの開閉切り替え時と前記第4バルブの開閉を切り替える時との間に遅延時間を設けて、前記第3バルブ及び前記第4バルブを切り替える工程を更に含む、
液体供給方法。 - 請求項10に記載の液体供給方法において、
前記液体供給装置は、前記純水供給源から洗浄装置に純水を直接供給する純水供給配管を更に有し、前記純水供給源からの配管は、前記純水を直接供給する純水供給配管と、前記第2流量制御装置に接続される、薬液を希釈するための配管と、前記第2バルブを介して前記第1流量制御装置に接続され、純水による配管洗浄であるフラッシングを行うための配管と、分かれている、
液体供給方法。 - 液体の流量を計測し、計測値に基づいて流量を制御する第1流量制御装置と、薬液供給源に接続されると共に前記第1流量制御装置に接続され、前記第1流量制御装置への薬液の供給を制御する第1バルブと、純水供給源に接続されると共に前記第1流量制御装置に接続され、前記第1流量制御装置への純水の供給を制御する第2バルブと、前記純水供給源に接続された第2流量制御装置と、前記第1流量制御装置の出力側に接続された第3バルブと、前記第2流量制御装置の出力側に接続された第4バルブと、前記第1流量制御装置からの前記薬液と前記第2流量制御装置からの前記純水とを混合する混合器と、を備え、前記第1流量制御装置は、配管内の流体の流量を計測する差圧式流量計または超音波流量計からなる流量計と、前記流量計による計測値に基づいてフィードバック制御により前記薬液又は純水の流量を、設定された流量に制御するための流量制御弁とを有する液体供給装置により液体を供給する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録した非一時的なコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、
前記液体供給装置内の配管を純水で洗浄するフラッシングを開始するタイミングか否かを判断する工程と、
前記フラッシングを開始するタイミングタイミングであると判断した場合に、前記第1バルブを閉にした後、第1遅延時間後に前記第2バルブを開にして、前記フラッシングを実施する工程と、し、
前記フラッシングを終了するタイミングか否かを判断する工程と、
前記フラッシングを終了するタイミングであると判断した場合に、前記第2バルブを閉にした後、第2遅延時間後に第1バルブを開にして、前記フラッシングを終了する工程と、
前記薬液を前記純水で希釈する際に、前記第3バルブの開閉切り替え時と前記第4バルブの開閉を切り替える時との間に遅延時間を設けて、前記第3バルブ及び前記第4バルブを切り替える工程と、
を含む処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録した非一時的なコンピュータ読み取り可能な記録媒体。 - 請求項12に記載の液体供給装置により液体を供給する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録した非一時的なコンピュータ読み取り可能な記録媒体において、
前記液体供給装置は、前記純水供給源から洗浄装置に純水を直接供給する純水供給配管を更に有し、前記純水供給源からの配管は、前記純水を直接供給する純水供給配管と、前記第2流量制御装置に接続される、薬液を希釈するための配管と、前記第2バルブを介して前記第1流量制御装置に接続され、純水による配管洗浄であるフラッシングを行うための配管と、分かれている、
液体供給装置により液体を供給する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録した非一時的なコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019074141A JP7326003B2 (ja) | 2019-04-09 | 2019-04-09 | 液体供給装置、洗浄ユニット、基板処理装置 |
PCT/JP2020/013257 WO2020209064A1 (ja) | 2019-04-09 | 2020-03-25 | 液体供給装置、洗浄ユニット、基板処理装置 |
KR1020217026608A KR102784538B1 (ko) | 2019-04-09 | 2020-03-25 | 액체 공급 장치, 세정 유닛, 기판 처리 장치 |
US17/599,324 US12140980B2 (en) | 2019-04-09 | 2020-03-25 | Apparatus for supplying liquid, cleaning unit, and apparatus for processing substrate |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019074141A JP7326003B2 (ja) | 2019-04-09 | 2019-04-09 | 液体供給装置、洗浄ユニット、基板処理装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020174086A JP2020174086A (ja) | 2020-10-22 |
JP2020174086A5 JP2020174086A5 (ja) | 2022-01-06 |
JP7326003B2 true JP7326003B2 (ja) | 2023-08-15 |
Family
ID=72751070
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019074141A Active JP7326003B2 (ja) | 2019-04-09 | 2019-04-09 | 液体供給装置、洗浄ユニット、基板処理装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US12140980B2 (ja) |
JP (1) | JP7326003B2 (ja) |
WO (1) | WO2020209064A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7509657B2 (ja) * | 2020-10-29 | 2024-07-02 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
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JP2016015469A (ja) | 2014-06-09 | 2016-01-28 | 株式会社荏原製作所 | 洗浄薬液供給装置、洗浄薬液供給方法、及び洗浄ユニット |
JP2017177303A (ja) | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 株式会社荏原製作所 | 基板研磨装置、その洗浄方法および基板研磨装置への液体供給装置 |
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JP2018181883A (ja) | 2017-04-03 | 2018-11-15 | 株式会社荏原製作所 | 液体供給装置及び液体供給方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US10340159B2 (en) | 2014-06-09 | 2019-07-02 | Ebara Corporation | Cleaning chemical supplying device, cleaning chemical supplying method, and cleaning unit |
JP6669560B2 (ja) | 2016-03-30 | 2020-03-18 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
KR102433049B1 (ko) | 2016-12-16 | 2022-08-17 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 세정 유닛 및 프로그램을 저장한 기억 매체 |
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-
2019
- 2019-04-09 JP JP2019074141A patent/JP7326003B2/ja active Active
-
2020
- 2020-03-25 US US17/599,324 patent/US12140980B2/en active Active
- 2020-03-25 WO PCT/JP2020/013257 patent/WO2020209064A1/ja active Application Filing
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JP2017177303A (ja) | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 株式会社荏原製作所 | 基板研磨装置、その洗浄方法および基板研磨装置への液体供給装置 |
JP2018098452A (ja) | 2016-12-16 | 2018-06-21 | 株式会社荏原製作所 | 洗浄薬液供給装置、洗浄ユニット、及びプログラムを格納した記憶媒体 |
JP2018181883A (ja) | 2017-04-03 | 2018-11-15 | 株式会社荏原製作所 | 液体供給装置及び液体供給方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020209064A1 (ja) | 2020-10-15 |
JP2020174086A (ja) | 2020-10-22 |
US20220187856A1 (en) | 2022-06-16 |
KR20210146286A (ko) | 2021-12-03 |
US12140980B2 (en) | 2024-11-12 |
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