JP7088874B2 - Electronic component visual inspection system - Google Patents
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Description
本発明は、電子部品外観検査装置に係り、特に、プリント基板上に実装された電子部品のはんだ付けが正常に接続されているか、および、実装された電子部品が正しい電子部品かを検査する際の一連の電子部品検査システムに関する。 The present invention relates to an electronic component visual inspection device, and particularly when inspecting whether the soldering of electronic components mounted on a printed circuit board is normally connected and whether the mounted electronic components are correct electronic components. Regarding a series of electronic component inspection systems.
従来、電子部品外観検査システムは、図8に示すように、プリント基板上に実装された電子部品のはんだ付けが正常に接続されているか、および、実装された電子部品が正しい電子部品かを検査する際に、CADデータより展開されるプリント基板検査データに対して、電子部品検査ライブラリとして登録されている電子部品があった場合は電子部品固有の検査項目および許容値を呼び出し、電子部品検査ライブラリとして登録されていない電子部品があった場合は検査項目及び許容値を作成し、プリント基板検査データとして登録することにより、プリント基板上に実装された電子部品に対し、それぞれの良否が確認できる仕様になっている。 Conventionally, as shown in FIG. 8, an electronic component visual inspection system inspects whether the soldering of electronic components mounted on a printed board is normally connected and whether the mounted electronic components are correct electronic components. If there is an electronic component registered as an electronic component inspection library for the printed board inspection data developed from the CAD data, the inspection items and allowable values specific to the electronic component are called, and the electronic component inspection library is used. If there are electronic components that are not registered as, by creating inspection items and allowable values and registering them as printed board inspection data, the quality of each electronic component mounted on the printed board can be confirmed. It has become.
プリント基板上に実装する電子部品は図9に示すように、プリント基板の理論上の位置に実装されているかを確認する欠品検査、理論上の位置からはみ出していないかを確認するズレ検査、電極部がプリント基板上の接合部と正しく接続されているかを確認するはんだ検査、正しい抵抗値や容量、特性の部品が実装されているかを確認する定数検査などを実施する。
プリント基板上に実装する電子部品は、外形がパターン化されており、抵抗値や容量、特性が異なる電子部品であっても外形に違いが無く、同一形状の電子部品検査ライブラリを作成する際は、以前に作成した同一形状の電子部品検査ライブラリのデータを流用し、電子部品上面に記載された固有番号を検査する定数検査項目のみを変更することにより電子部品検査ライブラリの作成時間を短縮している。
As shown in FIG. 9, the electronic components mounted on the printed circuit board are inspected for missing parts to confirm whether they are mounted in the theoretical position of the printed circuit board, and inspected for misalignment to confirm whether they are out of the theoretical position. Solder inspection to confirm whether the electrode part is correctly connected to the joint part on the printed circuit board, constant inspection to confirm whether the parts with correct resistance value, capacity, and characteristics are mounted, etc. are carried out.
The outer shape of the electronic parts mounted on the printed circuit board is patterned, and even if the electronic parts have different resistance values, capacities, and characteristics, there is no difference in the outer shape. By diverting the data of the electronic component inspection library of the same shape created earlier and changing only the constant inspection item that inspects the unique number written on the upper surface of the electronic component, the creation time of the electronic component inspection library is shortened. There is.
また、例えば、特許文献1には、入力された変更した製品の試験仕様に基づいて複数の試験項目及び該試験項目を試験順に並べた試験フローを編集する試験仕様編集過程と、該試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに連動して試験作業指示書を作成する指示書作成過程と、前記試験仕様編集過程で編集された複数の試験項目及び試験フローに連動して試験実績データベースにおける試験実績データフォーマットを生成するフォーマット生成過程とを有する構成が開示されている。 Further, for example, in Patent Document 1, a test specification editing process for editing a plurality of test items and a test flow in which the test items are arranged in a test order based on the input test specifications of the changed product, and the test specification editing. Tests linked to multiple test items and test flows edited in the process to create test work instructions, and to create test work instructions linked to multiple test items and test flows edited in the test specification editing process. A configuration having a format generation process for generating a test performance data format in a performance database is disclosed.
しかしながら上述の図9に示す従来技術では、一度作成した電子部品検査ライブラリについては電子部品と一意になる。そのため、生産条件や検査条件の変更により電子部品検査ライブラリの許容値に変更が生じた場合、パターン化された同一形状の電子部品検査ライブラリを全て変更する必要が生じてしまう。
また、特許文献1に開示される構成では、一つの部品に対する試験仕様(試験条件)が変更された場合、対応する試験フローを変更する必要があり、他の部品であって上記部品と同一種別のものであっても、試験仕様などが変更された場合は、それぞれに対応するよう変更する必要があり、変更工数の低減は望めない。
However, in the conventional technique shown in FIG. 9 above, the electronic component inspection library once created is unique to the electronic component. Therefore, when the permissible value of the electronic component inspection library is changed due to the change of the production condition or the inspection condition, it becomes necessary to change all the patterned electronic component inspection libraries having the same shape.
Further, in the configuration disclosed in Patent Document 1, when the test specifications (test conditions) for one component are changed, it is necessary to change the corresponding test flow, and the other components are of the same type as the above components. Even if it is, if the test specifications are changed, it is necessary to change it to correspond to each, and it is not possible to expect a reduction in the man-hours for the change.
そこで、本発明は、電子部品検査ライブラリ作成効率の向上及び電子部品検査ライブラリの許容値変更作業時間の短縮を可能とし得る電子部品外観検査システムを提供する。 Therefore, the present invention provides an electronic component visual inspection system that can improve the efficiency of creating an electronic component inspection library and shorten the work time for changing the allowable value of the electronic component inspection library.
上記課題を解決するため、本発明に係る電子部品外観検査システムは、CADデータを作成し送信する上位サーバと、前記上位サーバより送信されるCADデータを用いて電子部品の外観検査を行う電子部品外観検査装置と、前記電子部品外観検査装置により変換されたデータを電子部品外観検査ライブラリとして格納する記憶装置と、を備え、前記電子部品外観検査装置は、電子部品の外観検査において、実装された部品の良否判定を行うための複数の判定項目に対し、外形情報と定数情報に分割し個別に管理することを特徴とする。 In order to solve the above problems, the electronic component appearance inspection system according to the present invention is an electronic component that performs an appearance inspection of an electronic component using a host server that creates and transmits CAD data and CAD data transmitted from the host server. The electronic component visual inspection device includes a visual inspection device and a storage device for storing data converted by the electronic component visual inspection device as an electronic component visual inspection library, and the electronic component visual inspection device is implemented in the visual inspection of electronic components. It is characterized in that a plurality of judgment items for judging the quality of a component are divided into external shape information and constant information and managed individually.
本発明によれば、電子部品検査ライブラリ作成効率の向上及び電子部品検査ライブラリの許容値変更作業時間の短縮を可能とし得る電子部品外観検査システムを提供することが可能となる。
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to provide an electronic component appearance inspection system capable of improving the efficiency of creating an electronic component inspection library and shortening the work time for changing the allowable value of the electronic component inspection library.
Issues, configurations and effects other than those described above will be clarified by the following description of the embodiments.
以下、図面を用いて本発明の実施例について説明する。 Hereinafter, examples of the present invention will be described with reference to the drawings.
図1は、本発明の一実施例に係る電子部品外観検査システムの全体概略構成図である。図1に示すように、電子部品外観検査システム1は、CADデータを作成し送信する上位サーバ3、上位サーバ3より送信されたCADデータを取得し使用するデータに変換する電子部品外観検査装置2、及び、電子部品外観検査装置2により変換された使用するデータを電子部品外観検査ライブラリとして格納する記憶装置3から構成される。
また、電子部品外観検査装置2は、設定されたプリント基板毎の基板情報及び実装情報を有するCADデータを読み込む機能を有する。また、CADデータを読み込む際に、部品コードに紐付けられた、パターン化され事前に登録された同一形状単位の外形検査ライブラリと、部品コードと一意になる事前に登録された電子部品定数検査ライブラリを部品コードに割り当てる機能を有する。
FIG. 1 is an overall schematic configuration diagram of an electronic component visual inspection system according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, the electronic component visual inspection system 1 is an electronic component
Further, the electronic component
図2は、図1に示す電子部品外観検査装置2の機能ブロック図である。図2に示すように、電子部品外観検査装置2は、上位サーバ3より送信されたCADデータを取得するデータ取得部21、詳細後述する判定部22、記憶部23、入力I/F24、表示制御部25、及び通信I/F26から構成される。これらは、内部バス27にて相互に接続されている。また、電子部品外観検査装置2は、入力I/F24を介して接続されるキーボードまたはマウス等の入力部28、及び、表示制御部25を介して接続されるLCDまたは有機ELディスプレイ等の表示部29を備える。なお、本明細書では、電子部品外観検査そのものの機能については、既知のもので良く、あえて図2の機能ブロック図においては記載せず、以下ではその説明も省略する。
判定部22及び表示制御部25は、例えば、CPU等のプロセッサ、プログラムを格納するROM、ROMより読み出されたプログラムをプロセッサが実行する過程のデータ等を一時的に格納するRAM等の記憶装置にて実現される。
FIG. 2 is a functional block diagram of the electronic component
The
データ取得部21は、上位サーバ3より送信される作成するプリント基板のCADデータを読み込む。ここで、CADデータのデータ構造につき説明する。図3にCADデータのデータ構造の説明図を示す。図3に示すように、CADデータは、基板情報部と実装情報部から構成されている。基板情報部は、プリント基板の固有名である「プリント基板名」、「基板サイズX」、「基板サイズY」、及び「基板板厚」からなる。一方、実装情報部は、プリント基板に実装される電子部品の「部品回路番号」、「部品コード」、「外形検査ライブラリ」、「定数検査ライブラリ」、「部品X座標」、「部品Y座標」、及び「部品回転角度」からなる。
The
図4は、図3に示すCADデータのうち基板情報部のデータの一例を示す図である。図4に示すように、CADデータを構成する基板情報部は、例えば、「プリント基板名」として「PCB001」、「基板サイズX」として「200」、「基板サイズY」として「200」、及び「基板板厚」として「1.6」が格納されている。 FIG. 4 is a diagram showing an example of the data of the board information unit among the CAD data shown in FIG. As shown in FIG. 4, the board information unit constituting the CAD data is, for example, "PCB001" as the "printed circuit board name", "200" as the "board size X", "200" as the "board size Y", and "1.6" is stored as the "board thickness".
また、図5は、図3に示すCADデータのうち実装情報部のデータの一例を示す図である。図5に示すように、CADデータを構成する実装情報部は、「部品回路番号」、「部品コード」、「外形検査ライブラリ」、「定数検査ライブラリ」、「部品X座標」、「部品Y座標」、及び「部品回転角度」を紐付けて格納されている。
例えば、「部品回路番号」が「R01」には、「部品コード」として「001」、「外形検査ライブラリ」として「A01」、「定数検査ライブラリ」として「001」、「部品X座標」として「10.000」、「部品Y座標」として「115.000」、及び「部品回転角度」として「0」が紐付けられている。
また、「部品回路番号」が「R02」には、「部品コード」として「002」、「外形検査ライブラリ」として「A01」、「定数検査ライブラリ」として「002」、「部品X座標」として「10.000」、「部品Y座標」として「126.500」、及び「部品回転角度」として「0」が紐付けられている。
「部品回路番号」が「R04」には、「部品コード」として「004」、「外形検査ライブラリ」として「A02」、「定数検査ライブラリ」として「004」、「部品X座標」として「160.000」、「部品Y座標」として「50.000」、及び「部品回転角度」として「90」が紐付けられている。
Further, FIG. 5 is a diagram showing an example of the data of the mounting information unit among the CAD data shown in FIG. As shown in FIG. 5, the mounting information unit constituting the CAD data includes "part circuit number", "part code", "outer shape inspection library", "constant inspection library", "part X coordinate", and "part Y coordinate". "And" parts rotation angle "are linked and stored.
For example, when the "part circuit number" is "R01", the "part code" is "001", the "outer shape inspection library" is "A01", the "constant inspection library" is "001", and the "part X coordinate" is "part X coordinate". "10000", "115.000" as "part Y coordinate", and "0" as "part rotation angle" are associated.
Further, when the "part circuit number" is "R02", the "part code" is "002", the "outer shape inspection library" is "A01", the "constant inspection library" is "002", and the "part X coordinate" is "part X coordinate". "10000", "126.500" as the "part Y coordinate", and "0" as the "part rotation angle" are associated.
When the "part circuit number" is "R04", the "part code" is "004", the "outer shape inspection library" is "A02", the "constant inspection library" is "004", and the "part X coordinate" is "160.""000","50.000" as the "part Y coordinate", and "90" as the "part rotation angle" are associated.
図2に戻り、判定部22は、詳細後述するように、「外形検査ライブラリ」及び「定数検査ライブラリ」が双方とも記憶装置4に格納された電子部品検査ライブラリに登録されている場合、登録済み情報として、両方の電子部品検査ライブラリを呼び出す。また、判定部22は、プリント基板の実装情報に設定された部品コードに割り当てられた「外形検査ライブラリ」が記憶装置4に格納された電子部品検査ライブラリに登録されており、「定数検査ライブラ」が登録されていない場合、「外形検査ライブラリ」のみ電子部品検査ライブラリより呼び出し、定数検査は未登録ライブラリとしてサンプルプリント基板を用いてライブラリの作成等を実行する。
Returning to FIG. 2, the
記憶部23は、内部バス27を介してデータ取得部21より転送される、展開したCADデータより読み込まれたプリント基板外形情報及びプリント基板実装情報を所定の記憶領域に格納する。
入力I/F24は、キーボードまたはマウス等の入力部28からユーザによる入力を受け付け、入力された情報を判定部22及び/又は表示制御部25へ内部バス27を介して転送する。
The
The input I /
表示制御部25は、詳細後述する表示部29の表示画面30の表示内容を制御する。
通信I/F26は、記憶装置4へのアクセスを可能とし、記憶装置4に格納された電子部品検査ライブラリの読み出しを可能とする。
The
The communication I /
次に、電子部品外観検査装置2によるプリント基板検査データの作成について説明する。図6は、図2に示す電子部品外観検査装置によるプリント基板検査データ作成フローを示すフローチャートである。
図6に示すように、ステップS101では、電子部品外観検査装置2を構成するデータ取得部21が、上位サーバ3より送信されるプリント基板のCADデータを読み込む。
ステップS102では、データ取得部21が、読み込んだCADデータを展開する。
Next, the creation of the printed circuit board inspection data by the electronic component
As shown in FIG. 6, in step S101, the
In step S102, the
ステップS103では、データ取得部21が、展開したCADデータよりプリント基板外形情報を読み込み記憶部23の所定の記憶領域へ内部バス27を介して格納すると共に判定部22へ転送する。
ステップS104では、データ取得部21が、展開したCADデータよりプリント基板実装情報を読み込み記憶部23の所定の記憶領域へ内部バス27を介して格納すると共に判定部22へ転送する。
In step S103, the
In step S104, the
ステップS105では、電子部品外観検査装置2を構成する判定部22が、データ取得部21より内部バス27を介して転送されたプリント基板実装情報に設定された部品コード(図5)に割り当てられた「外形検査ライブラリ」が記憶装置4に格納された電子部品外形検査ライブラリに存在するか否かを判定する。判定部22は、判定に際し、内部バス27及び通信I/F26を介して記憶装置4へアクセスする。判定の結果、電子部品外形検査ライブラリに存在する場合(「有」の場合)、ステップS106にて、判定部22が内部バス27及び通信I/F26を介して記憶装置4へアクセスし、記憶装置4より電子部品外形検査ライブラリを読み込み、ステップS107へ進む。一方、判定の結果、電子部品外形検査ライブラリに存在しない場合(「無」の場合)、ステップS107へ進む。
In step S105, the
ステップS107では、判定部22が、データ取得部21より内部バス27を介して転送されたプリント基板実装情報に設定された部品コード(図5)に割り当てられた「定数検査ライブラリ」が記憶装置4に格納された電子部品定数検査ライブラリに存在するか否かを判定する。判定の結果、電子部品定数検査ライブラリに存在する場合(「有」の場合)、ステップS108にて、判定部22が内部バス27及び通信I/F26を介して記憶装置4へアクセスし、記憶装置4より電子部品定数検査ライブラリを読み込み、ステップS109へ進む。一方、判定の結果、電子部品定数検査ライブラリに存在しない場合(「無」の場合)、ステップS109へ進む。
In step S107, the storage device 4 stores the "constant inspection library" assigned to the component code (FIG. 5) set in the printed circuit board mounting information transferred from the
ステップ109では、判定部22が、上記「外形検査ライブラリ」及び「定数検査ライブラリ」のうちいずれか一方が電子部品検査ライブラリに存在する場合にはステップS110へ進み、上記「外形検査ライブラリ」及び「定数検査ライブラリ」の双方とも電子部品検査ライブラリに存在しない場合にはステップS111へ進む。
In step 109, if any one of the above-mentioned "outline inspection library" and "constant inspection library" exists in the electronic component inspection library, the
ステップS110では、電子部品検査ライブラリに存在する「外形検査ライブラリ」又は「定数検査ライブラリ」を読み出し、電子部品検査ライブラリに存在しない「外形検査ライブラリ」又は「定数検査ライブラリ」を未登録ライブラリとしてサンプルプリント基板を用いて電子部品検査ライブラリの作成を行う。 In step S110, the "outline inspection library" or "constant inspection library" existing in the electronic component inspection library is read out, and the "outline inspection library" or "constant inspection library" not present in the electronic component inspection library is sample-printed as an unregistered library. Create an electronic component inspection library using the board.
ステップS111では、判定部22が、「外形検査ライブラリ」及び「定数検査ライブラリ」の双方を未登録ライブラリとしてサンプルプリント基板を用いて電子部品検査ライブラリの作成し、プリント基板検査データの作成を完了する。
In step S111, the
上述のように、電子部品外観検査装置2を構成する判定部22は、「外形検査ライブラリ」及び「定数検査ライブラリ」が双方とも記憶装置4に格納された電子部品検査ライブラリに登録されている場合、登録済み情報として、両方の電子部品検査ライブラリを呼び出す。また、判定部22は、プリント基板の実装情報に設定された部品コードに割り当てられた「外形検査ライブラリ」が記憶装置4に格納された電子部品検査ライブラリに登録されており、「定数検査ライブラ」が登録されていない場合、「外形検査ライブラリ」のみ電子部品検査ライブラリより呼び出し、定数検査は未登録ライブラリとしてサンプルプリント基板を用いてライブラリ作成を実施する。判定部22は、プリント基板の実装情報に設定された「外形検査ライブラリ」及び「定数検査ライブラリ」の双方とも電子部品検査ライブラリに登録されていない場合、双方を未登録ライブラリとしてサンプルプリント基板を用いて電子部品検査ライブラリを作成する。
As described above, when the
なお、本実施例では、上述のステップS101からステップS104をデータ取得部21が実行する構成としたがこれに限られるものではない。例えば、図2に示す電子部品外観検査装置2の機能ブロック図において処理部を設け、当該処理部がステップS102からステップS104を実行する構成としても良い。
In this embodiment, the
本実施例に係る電子部品外観検査システム1は、プリント基板の実装情報に設定された部品コード毎に電子部品検査ライブラリを作成する機能を有する。また、電子部品外観検査システム1は、部品コードに紐付けられた外形検査ライブラリを確認できる機能を有すると共に、部品コードに紐付けられた部品回路番号等(定数検査ライブラリ)を確認できる機能を有する。 The electronic component visual inspection system 1 according to this embodiment has a function of creating an electronic component inspection library for each component code set in the mounting information of the printed circuit board. Further, the electronic component visual inspection system 1 has a function of confirming the external shape inspection library associated with the component code and a function of confirming the component circuit number and the like (constant inspection library) associated with the component code. ..
次に、電子部品外観検査システム1により、電子部品検査ライブラリの確認を行う場合にける電子部品外観検査装置2を構成する表示部29の表示画面について説明する。図7は、図2に示す電子部品外観検査装置2の表示部29の表示画面例であって、電子部品検査ライブラリ編集画面の一例を示す図である。
Next, the display screen of the
図7に示すように、電子部品外観検査装置2を構成する表示部29の表示画面30は、部品コード一覧及び部品回路番号一覧を表示する第1表示領域31、部品回路番号の実装画像を表示する第2表示領域32、外形検査ライブラリと定数検査ライブラリの項目を表示する第3表示領域33、及び判定内容である判定値と許容値を表示する第4表示領域34から構成される。図7に示す例では、上述の図4に示した「プリント基板名」が「PCB001」の場合を示しており、表示画面30の最上部に「プリント基板検査プログラム名:PCB001」と表示されている。
As shown in FIG. 7, the
図7に示すように、ユーザによりマウス等の入力部28よりマウスポインタが、第1表示領域31内の部品コード一覧における「003」(A01)を選択した状態であり、この際、選択された部品コード「003」(A01)に紐付けられた部品回路番号が表示される。なお、初期値(初期状態)としては、部品回路番号一覧の一番上の部品回路番号を選択状態として、選択した部品回路番号の実装画像を表示させる。
As shown in FIG. 7, the mouse pointer has selected "003" (A01) in the part code list in the
図7に示す第2表示領域32には、部品回路番号画像(C01)の実装画像が表示されており、部品の上部に記載された固有の番号「003」が本来実装されるべき位置を示す点線部よりずれた状態で表示されている。
The mounting image of the component circuit number image (C01) is displayed in the
また、第3表示領域33内の検査項目として外形検査ライブラリの項目である「ズレ検査」が選択された状態を示している。なお、外形検査ライブラリの項目としてはこの他に、例えば、「有無検査」(外形検査ライブラリの有無検査)及び「はんだ検査」等がある。また、定数検査ライブラリの項目としては「定数検査」あり、このように、外形検査ライブラリの項目と定数検査ライブラリの項目が分割されている。外形検査ライブラリにはCADデータの外形検査ライブラリが、定数検査ライブラリにはCADデータの定数検査ライブラリが紐付けられる。
Further, it shows a state in which "misalignment inspection", which is an item of the external inspection library, is selected as an inspection item in the
また、図7に示す例では、第4表示領域34に上述の選択された「ズレ検査」の「判定値」としてズレ量X及びズレ量Yが表示され、それぞれの「許容値」が表示されている。
Further, in the example shown in FIG. 7, the deviation amount X and the deviation amount Y are displayed as the "judgment value" of the selected "deviation inspection" described above in the
電子部品外観検査システム1により、電子部品検査ライブラリの作成及び編集を行う場合、検査ライブラリに表示された判定値欄の「許容値」に対し作成及び編集を行う。この際、作成及び編集した検査ライブラリが外形検査ライブラリの場合は、電子部品検査ライブラリの作成及び編集を行った部品コードのみならず、該当する同一名称の外形検査ライブラリに紐付けられている部品コード全てに対して許容値の編集を行う。
具体的には、例えば、これまで100μmの許容値(実装時における位置ズレ量の理許容される範囲)であったものが、75μmでなければ不良と判定される場合、当該部品コード全てに対して許容値を100μmから75μmへ修正(編集)する。このように、本実施例に係る電子部品外観検査システム1では、正しい位置に実装されているかを確認する外形検査と、正しい電子部品が実装されているかを確認する定数検査に電子部品検査ライブラリを分割し、形状が同一である部品コード全てに対し、外形検査における許容値の修正を実行でき、許容値変更作業の時間を短縮することが可能となる。
When the electronic component inspection system 1 creates and edits an electronic component inspection library, it creates and edits the "allowable value" in the determination value column displayed in the inspection library. At this time, if the created and edited inspection library is an external inspection library, not only the part code for which the electronic component inspection library was created and edited, but also the component code associated with the corresponding external inspection library with the same name. Edit the tolerances for all.
Specifically, for example, if it is determined that the allowable value of 100 μm (the reasonably acceptable range of the amount of positional deviation at the time of mounting) is not 75 μm, it is determined that the component code is defective. The permissible value is corrected (edited) from 100 μm to 75 μm. As described above, in the electronic component visual inspection system 1 according to the present embodiment, the electronic component inspection library is used for the external inspection to confirm whether the electronic component is mounted at the correct position and the constant inspection to confirm whether the electronic component is mounted correctly. It is possible to correct the allowable value in the external inspection for all the component codes that are divided and have the same shape, and it is possible to shorten the time for changing the allowable value.
以上の通り本実施例によれば、電子部品検査ライブラリ作成効率の向上及び電子部品検査ライブラリの許容値変更作業時間の短縮を可能とし得る電子部品外観検査システムを提供することが可能となる。
また、電子部品外観検査システムによる電子部品検査ライブラリ作成において、正しい位置に実装されているかを確認する外形検査と、正しい電子部品が実装されているかを確認する定数検査に電子部品検査ライブラリを分割することにより、電子部品検査ライブラリ作成効率が向上し、併せて、電子部品の外形やはんだ付け状態を確認する外形検査部の電子部品検査ライブラリにおいて、許容値の見直しが発生した際や、電子部品検査ライブラリ作成ミスが発覚した際に、対象外形検査部のライブラリ見直しを行うだけで、複数電子部品に対して許容値の適用が可能となり編集時間の短縮を図ることができる。
As described above, according to the present embodiment, it is possible to provide an electronic component appearance inspection system capable of improving the efficiency of creating an electronic component inspection library and shortening the work time for changing the allowable value of the electronic component inspection library.
In addition, when creating an electronic component inspection library using an electronic component visual inspection system, the electronic component inspection library is divided into an external inspection that confirms whether the electronic component is mounted in the correct position and a constant inspection that confirms that the correct electronic component is mounted. As a result, the efficiency of creating the electronic component inspection library is improved, and at the same time, when the allowable value is reviewed in the electronic component inspection library of the external inspection unit that checks the outer shape and soldering state of the electronic component, the electronic component inspection is performed. When a mistake in creating a library is discovered, the allowable value can be applied to a plurality of electronic components simply by reviewing the library of the target external inspection unit, and the editing time can be shortened.
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and includes various modifications. For example, the above-described embodiment has been described in detail in order to explain the present invention in an easy-to-understand manner, and is not necessarily limited to the one including all the described configurations.
1…電子部品外観検査システム
2…電子部品外観検査装置
3…上位サーバ
4…記憶装置
21…データ取得部
22…判定部
23…記憶部
24…入力I/F
25…表示制御部
26…通信I/F
27…内部バス
28…入力部
29…表示部
30…表示画面
31…第1表示領域
32…第2表示領域
33…第3表示領域
34…第4表示領域
1 ... Electronic component
25 ...
27 ...
Claims (3)
前記電子部品外観検査ライブラリは、部品コードに紐づけられた前記実装情報部の外形情報を保持する外形検査ライブラリ、及び部品コードに紐づけられた前記実装情報部の定数情報を保持する定数検査ライブラリを備え、
部品コードで特定される前記外形検査ライブラリ内の外形情報、及び部品コードで特定される定数検査ライブラリ内の定数情報の編集を可能とすることを特徴とする電子部品外観検査システム。 A higher-level server that creates and transmits CAD data, an electronic component visual inspection device that inspects the appearance of electronic components using the CAD data transmitted from the higher-level server, and CAD data converted by the electronic component visual inspection device. It is equipped with a storage device that stores the data of the board information unit and the mounting information unit as an electronic component visual inspection library.
The electronic component visual inspection library includes an external inspection library that holds the external shape information of the mounting information unit associated with the component code, and a constant inspection library that holds the constant information of the mounting information unit associated with the component code. Equipped with
An electronic component visual inspection system characterized by being able to edit external information in the external inspection library specified by a component code and constant information in a constant inspection library specified by a component code .
前記電子部品外観検査装置は、表示部を有し、
前記表示部の表示画面は、部品コードの一覧及び部品回路番号の一覧を表示する第1表示領域と、部品回路番号の実装画像を表示する第2表示領域と、外形検査と定数検査の項目を表示する第3表示領域と、判定内容である判定値と許容値を表示する第4表示領域と、を有することを特徴とする電子部品外観検査システム。 The electronic component visual inspection system according to claim 1 .
The electronic component visual inspection device has a display unit and has a display unit.
The display screen of the display unit has a first display area for displaying a list of component codes and a list of component circuit numbers, a second display area for displaying a mounting image of component circuit numbers, and items for external inspection and constant inspection. An electronic component visual inspection system comprising a third display area to be displayed and a fourth display area for displaying determination values and allowable values which are determination contents.
前記電子部品外観検査装置は、前記第4表示領域に表示される許容値が修正された場合、許容値が修正された電子部品の部品コードと同一の部品コードの他の電子部品に対して修正後の許容値を適用することを特徴とする電子部品外観検査システム。 The electronic component visual inspection system according to claim 2 .
When the allowable value displayed in the fourth display area is corrected, the electronic component visual inspection device corrects the other electronic component having the same component code as the component code of the electronic component whose allowable value is modified. An electronic component visual inspection system characterized by applying later tolerances.
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