JP6611222B2 - 高強度、高導電率で耐応力緩和特性に優れた電気電子部品用銅合金板及びその製造方法 - Google Patents
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Description
このような要求に対し、特許文献1には、Cr:0.1〜0.4質量%、Ti:0.005〜0.15質量%、Si:0.01〜0.10質量%を含むCu−Cr系合金が提案されている。この銅合金は、導電率が65%IACS以上、0.2%耐力が460MPaで、150℃にて1000時間加熱後の応力緩和率が20%以下の特性を有する。
また、特許文献2には、Cr:0.10〜0.50質量%、Ti:0.010〜0.30質量%、Si:0.01〜0.10質量%を含むCu−Cr系合金が提案されている。この銅合金は、導電率が70%IACS以上、0.2%耐力が450MPa以上で、優れた曲げ加工性を有する。
特許文献1に記載されたCu−Cr系合金は、高強度、高導電率で、耐応力緩和特性に優れるとされているが、近年、より高温環境下において優れた耐応力緩和特性が要求されている。また、耐応力緩和特性に関しては、一定温度に所定の時間保持したときの応力緩和率だけでなく、時間経過に伴う応力緩和率の変化(一定温度にH1時間保持後の応力緩和率とH2(<H1)時間保持後の応力緩和率の差)も重要な特性である。時間経過に伴う応力緩和率の変化が小さければ、自動車搭載後の応力緩和量を予測しやすく、端子の設計自由度も向上できる。
一方、Cuに対するCrの固溶量は、Cuの融点付近である1080℃で0.65±0.1質量%と大きくなく、1000℃で0.37質量%、800℃で0.15質量%、500℃で0.05%、400℃で0.03質量%未満といわれており、温度低下に伴って急減する。また、Crと化合物を形成する元素、Crの固溶限を狭くする元素がCuに添加されると、Cuに対するCrの固溶量はさらに小さくなる。このため、従来の熱間圧延後の焼き入れ条件では、第二相粒子であるCr含有析出物が意図せず形成されてしまう。発明者らの知見によれば、このCr含有析出物は、熱間圧延後の加工熱処理工程においてサイズが大きくなり、銅合金の耐応力緩和特性を低下させる原因となっている。
[銅合金の組成]
(Cr:0.15〜0.60質量%)
Crは、Cr単体で、又はSi,Tiと共にCr−Si、Cr−Ti、Cr−Si−Tiなどの化合物を形成し、析出硬化によって銅合金の強度を向上させる。この析出により、Cu母相中のCr、Si及びTiの固溶量が減少し銅合金の導電率が高まる。Crの含有量が0.15質量%未満では、析出による強度の増加が十分でない。一方、Crの含有量が0.60質量%を超えると、析出物が粗大化する原因となり、耐応力緩和特性及び曲げ加工性が低下する。従って、Crの含有量は0.15〜0.60質量%の範囲とする。Cr含有量の下限は、好ましくは0.20質量%、さらに好ましくは0.25質量%、上限は、好ましくは0.50質量%、さらに好ましくは0.40質量%である。
Siは、Cr,Tiと共にCr−Si、Cr−Si−Ti化合物を形成して、析出硬化によって銅合金の強度を増加させる。この析出により、Cu母相中のCr、Si及びTiの固溶量が減少し導電率が高まる。Siの含有量が0.01質量%未満では、Cr−Si析出物又はCr−Si−Ti析出物による強度の向上が十分ではない。一方、Siの含有量が0.20質量%を超えると、Cu母相中のSiの固溶量が増加し導電率が低下する。また、Cr−Si析出物が粗大化し、曲げ加工性及び耐応力緩和特性が低下する。従って、Siの含有量は0.01〜0.20質量%の範囲とする。Si含有量の下限は、好ましくは0.015質量%,さらに好ましくは0.02質量%、上限は、好ましくは0.15質量%、さらに好ましくは0.10質量%である。
Tiは、Cu母材中に固溶して銅合金の耐熱性及び耐応力緩和特性を向上させる作用がある。また、Tiは、Cr,Siと共に析出物を形成し、析出硬化によって銅合金の強度を向上させる。この析出により、Cu母相中のCr、Si及びTiの固溶量が減少し銅合金の導電率が高まる。Tiの含有量が0.01質量%未満では、銅合金の耐熱性が低く焼鈍工程で軟化し高強度を得にくい。また、銅合金の耐応力緩和特性を向上させることができない。一方、Tiの含有量が0.30質量%を超えると、Cu母相中のTiの固溶量が増加して、導電率の低下を招く。従って、Tiの含有量は0.01〜0.30質量%の範囲とする。Ti含有量の下限は、好ましくは0.015質量%、さらに好ましくは0.03質量%、上限は,好ましくは0.20質量%、さらに好ましくは0.15質量%である。
Zrは、加工熱処理の途中で加工熱による回復又は再結晶を抑制し母材内にひずみを蓄積させ、銅合金の強度を向上させる作用があり、Tiに代えて、又はTiと共に銅合金中に含有させることができる。Zrの含有量が0.01質量%未満では、ひずみを蓄積させる効果が十分に得られない。一方、Zrの含有量が0.20質量%を超えると、粗大な化合物が形成され、銅合金の耐応力緩和特性及び曲げ加工性が低下する。従って、Zrの含有量は0.01〜0.20質量%の範囲とする。Zr含有量の下限は、好ましくは0.015質量%、さらに好ましくは0.03質量%、上限は、好ましくは0.17質量%、さらに好ましくは0.15質量%である。
副成分(Ag、Fe、Ni、Sn、Mg、Zn、Co、Mn)は、1種又は2種以上を合計で1.0質量%以下、必要に応じて銅合金中に含有させることができる。
Agは、Cu母材中に固溶し、銅合金の耐熱性及び耐応力緩和特性を向上させる作用を有する。また、溶湯中の硫黄と化合物を形成し硫黄含有介在物を低減させる効果がある。しかし、Agの含有量が多くなると、Cu母相中の固溶量が多くなり導電性が低下する。従って、Agの含有量は0.01〜0.5質量%とする。Ag含有量の下限は、好ましくは0.03質量%、より好ましくは0.05質量%、上限は、好ましくは0.4質量%、より好ましくは0.3質量%である。
Sn,Mgは、冷間圧延による加工硬化特性を向上させ、銅合金の強度の増加、及び応力緩和特性の向上に効果がある。Znは、電子部品の接合に用いるSnめっき又ははんだの耐熱剥離性を改善する効果がある。しかし、Sn,Mg,Znの含有量が多くなると、Cu母相中のこれらの元素の固溶量が増え導電率が低下する。従って、Snの含有量は0.001〜0.7質量%とし、Mgの含有量は0.001〜0.3質量%とし、Znの含有量は0.001〜1.0質量%とする。Sn含有量の下限は、好ましくは0.01質量%、より好ましくは0.1質量%、上限は0.6質量%、より好ましくは0.5質量%である。Mg含有量の下限は、好ましくは0.005質量%、より好ましくは0.01質量%、上限は、好ましくは0.2質量%、より好ましくは0.15質量%である。Zn含有量の下限は、好ましくは0.01質量%、より好ましくは0.1質量%、上限は、好ましくは0.8質量%、より好ましくは0.6質量%である。
また、以上の副成分は、銅に対する固溶量が少なく、総量で1.0質量%を超えて含有させると、粒界に偏析したり、晶出物を形成して、強度特性や曲げ加工性を劣化させる。従って、本発明に係る銅合金に、Ag、Fe、Ni、Sn、Mg、Zn、Co、Mnの1種又は2種以上を添加する場合、合計で1.0質量%以下とする。
本発明に係る銅合金(Cu−Cr系合金)は、不可避的不純物としてAl、As、Sb、B、Pb、V、Mo、Hf、Ta、Bi及びInの1種以上を含むことがある。Cu−Cr系合金において、これらの不可避的不純物は、特に添加しない限り(つまり不可避的不純物として)、通常、合計で0.1質量%以下の範囲内にあり、その範囲内であれば特性上の問題は生じない。しかし、これらの元素は銅に対する固溶量が著しく少なく、合計含有量が0.1質量%を超えると、粒界に偏析したり、晶出物を形成して、耐応力緩和特性や曲げ加工性を劣化させる。従って、これらの不可避的不純物の含有量は、合計で0.1質量%以下であることが好ましい。
所定の組成を有する銅合金材料を溶解、鋳造して鋳塊を作製した後、この鋳塊に均質化処理を施し、続いて熱間圧延(熱間圧延後に焼き入れ)及び冷間圧延を施し、冷間圧延の工程途中で溶体化処理を行い、冷間圧延後、時効析出処理を施す。熱間圧延後の焼き入れにおいて焼き入れ温度(冷却開始温度)を従来より高く設定した場合、前記溶体化処理を省くこともできる。以下、各工程についてより具体的に説明する。
鋳塊を、800〜1000℃で0.5時間以上均質化処理した後、加工率60%以上の熱間圧延を行う。Cuに対するCrの固溶量は、先に述べたとおり温度低下に伴って急減するから、本発明のようにCrを0.15質量%以上含むCu−Cr系銅合金では、熱間圧延終了温度が低いと熱間圧延中にCrが析出する。熱間圧延終了温度が低いほどCrが析出しやすく、析出したCrは成長しやすい。このため、熱間圧延は700℃以上で終了し、その後急冷して焼き入れる。焼き入れは好ましくは水冷とする。この焼き入れ温度(冷却開始温度)が700℃よりも低くなると、粗大なCr含有析出物が形成され、それが熱間圧延後の溶体化処理で再固溶し切れずに残留しやすく、銅合金の耐応力緩和特性や曲げ加工性が低下する。なお、熱間圧延中にCrが析出するのを抑えるため、可能な範囲で熱間圧延開始温度を高くし、かつ熱間圧延時間を短くすることが好ましい。
時効析出処理後の銅合金板断面の顕微鏡組織写真を図1に示す(実施例の試験No.2)。図1に示すように、再結晶組織ではなく、結晶粒組織が圧延方向に沿って大きく伸長した繊維状の加工組織が観察される。
本発明では、上記組成のCu−Cr系合金板の製造において、上記のとおり、冷間圧延の工程途中に溶体化処理を含むプロセスを適用し、又は熱間圧延後の焼き入れを800℃以上の焼き入れ温度で行うプロセスを適用する。これにより、強度及び導電率が従来材と同等で、耐応力緩和特性が従来材に比べて顕著に優れる電気電子部品用銅合金板(冷間圧延材)を製造することができる。本発明に係る電気電子部品用銅合金板の具体的な耐応力緩和特性は、200℃で100時間加熱後の応力緩和率をR100とし、200℃で1000時間加熱後の応力緩和率をR1000としたとき、応力緩和率の増分(R1000−R100)が7%以下であり、かつR1000が25%以下である。
この鋳塊を950℃で1時間均熱処理後、熱間圧延して板厚を12mmとし、700℃から焼入れを行った。次に、焼き入れ後の銅合金板の両面を厚さ1mm程度研磨して表面の酸化スケールを除去した。続いて、厚さ10mmの銅合金板を冷間圧延により厚さ5mmに成形し、800℃に20秒保持後焼き入れる溶体化処理を行った。この溶体化処理により銅合金板は再結晶した。その後、さらに冷間圧延により厚さ0.25mmに成形し、450℃の温度で2時間の時効析出処理を施し、試験No.1〜20の銅合金板(製品板)を得た。
試験No.1〜20の銅合金板から試料(試験片)を切り出し、0.2%耐力の測定、導電率の測定、応力緩和試験を下記要領で行った。その結果を表1に示す。
試験No.1〜20の各銅合金板から、JISZ2201に規定されたJIS5号試験片を作成した。JIS5号試験片として、長手方向が圧延方向に平行方向(L.D.:Longitudinal Direction)である第1試験片、及び長手方向が圧延方向に垂直方向(T.D.:Transverse Direction)である第2試験片の2種類を作成した。この第1,第2試験片を用い、JISZ2241に規定された引張試験を行い、永久伸び0.2%に相当する引張強さを、各試験片の0.2%耐力として測定した。0.2%耐力が500MPa以上であったものを合格と評価した。
導電率の測定は、JISH0505に規定されている非鉄金属材料導電率測定法に準拠し、ダブルブリッジを用いた四端子法で体積抵抗率を測定することにより行った。そして、測定された体積抵抗率を、万国標準軟銅(International Annealed Copper Standard)の体積抵抗率1.7241×10−8Ω・mで除し、百分率で表すことにより、導電率を求めた。導電率が65%IACS以上であったものを合格と評価した。
試験No.1〜20の各銅合金板から、長手方向が圧延方向に垂直方向(T.D.)となる幅10mm、長さ90mmの短冊状試験片(試験No.1〜20の各銅合金板から5個ずつ)を切り出し、応力緩和率を片持ち梁方式によって測定した。まず、各試験片の一端を剛体試験台に固定し、固定端から所定距離(スパン長さ)の位置で試験片に10mmのたわみを与え、固定端に0.2%耐力の80%に相当する表面応力を負荷した。スパン長さは、日本伸銅協会技術標準(JCBA−T309:2004)に規定されている「銅及び銅合金薄板条の曲げによる応力緩和試験方法」により算出した。
続いて、上記のようにたわみを与えた各試験片を、200℃に加熱したオーブン中に入れ、100時間保持した後に取り出し、たわみ量d(10mm)を取り去ったときの永久歪みδを測定し、応力緩和率RS=(δ/d)×100を計算した。続いて、各試験片の一端を再び剛体試験台に固定し、固定端から同じスパン長さの位置に同じく10mmのたわみを与え、再度200℃に加熱したオーブン中に入れ、900時間(合計加熱時間が1000時間)保持した後に取り出し、同様に応力緩和率を計算した。試験No.1〜20の各銅合金板について、各5個の試験片を用いて測定試験を行い、求めた各5個の応力緩和率の平均値を、前記試験No.1〜20の各銅合金板の応力緩和率とした。
200℃で100時間保持後の応力緩和率をR100とし、200℃で1000時間(100時間+900時間)保持後の応力緩和率をR1000としたとき、応力緩和率の増分(R1000−R100)が7%以下であり、かつR1000が25%以下のとき、合格と評価した。
試験No.13は、CrとTiの含有量が少ないため、0.2%耐力が低く、耐応力緩和特性が劣る。試験No. 14は、CrとTiの含有量が過剰なため、耐応力緩和特性が劣り、導電率も低い。試験No. 15は、CrとZrの含有量が過剰なため、耐応力緩和特性が劣る。試験No. 16は、Cr、Ti及びZrの含有量が過剰なため、耐応力緩和特性が劣り、導電率も低い。試験No. 17は、Si含有量が過剰なため、導電率が低い。試験No. 18は、Fe及びAgの含有量が過剰なため、導電率が低い。試験No. 19は、Fe及びAgの含有量が過剰で、かつ不可避不純物相当のAl及びMnの合計含有量が過剰(0.1質量%超)なため、導電率が低い。試験No.20は、Coの含有量が過剰なため、応力緩和特性が劣る。
この鋳塊を950℃で1時間均熱処理後、熱間圧延して板厚を12mmとし、700℃から焼入れを行った。次に、焼き入れ後の銅合金板の両面を厚さ1mm程度研磨して表面の酸化スケールを除去した。
続いて、厚さ10mmの銅合金板を、工程間で溶体化処理を施すことなく冷間圧延により厚さ0.25mmに成形し、450℃の温度で2時間の時効析出処理を施し、試験No.21〜24の銅合金板(製品板)を得た。
続いて、厚さ10mmの銅合金板を冷間圧延により厚さ5mmに成形し、800℃に20秒保持後焼き入れる溶体化処理を行った。その後、さらに冷間圧延により厚さ0.25mmに成形し、450℃の温度で2時間の時効析出処理を施し、試験No.25の銅合金板(製品板)を得た。
続いて、厚さ10mmの銅合金板を、工程間で溶体化処理を施すことなく冷間圧延により厚さ0.25mmに成形し、450℃の温度で2時間の時効析出処理を施し、試験No.26の銅合金板(製品板)を得た。
試験No.1〜4,25,26は、保持時間が100時間経過後から1000時間に達するまでの応力緩和率の増分(R1000−R100)が7%以下、かつ1000時間保持後の応力緩和率(R1000)が25%以下であり、耐応力緩和特性が優れている。また、導電率及び0.2%耐力が高い。
Claims (6)
- Cr:0.15〜0.60質量%、Si:0.01〜0.20質量%を含み、さらにTi:0.01〜0.30質量%とZr:0.01〜0.20質量%の1種又は2種を含み、残部がCu及び不可避的不純物からなり、圧延方向に平行方向及び垂直方向の0.2%耐力が共に500MPa以上、導電率が65%IACS以上であり、200℃で100時間加熱後の応力緩和率をR100とし、200℃で1000時間加熱後の応力緩和率をR1000としたとき、応力緩和率の増分(R1000−R100)が7%以下であり、かつR1000が25%以下であることを特徴とする高強度、高導電率で耐応力緩和特性に優れる電気電子部品用銅合金板。
- Ag:0.01〜0.5質量%、Fe:0.01〜0.3質量%、Ni:0.01〜0.3質量%、Sn:0.001〜0.7質量%、Mg:0.001〜0.3質量%、Zn:0.001〜1.0質量%、Co:0.01〜0.2質量%、Mn:0.01〜0.2質量%の1種又は2種以上を、合計で1.0質量%以下含むことを特徴とする請求項1に記載された高強度、高導電率で耐応力緩和特性に優れる電気電子部品用銅合金板。
- 不可避的不純物であるAl、As、Sb、B、Pb、V、Mo、Hf、Ta、Bi及びInの1種以上の含有量の合計が0.1質量%以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載された高強度、高導電率で耐応力緩和特性に優れる電気電子部品用銅合金板。
- 銅合金鋳塊を熱間圧延後焼き入れし、続いて冷間圧延及び時効処理を行い、請求項1〜3のいずれかに記載された電気電子部品用銅合金板を製造する方法であって、前記冷間圧延が工程途中に750〜850℃で15〜120秒保持する条件で加熱した後焼き入れる溶体化処理を含むことを特徴とする電気電子部品用銅合金板の製造方法。
- 前記熱間圧延後の焼き入れの焼き入れ温度が800℃以上であることを特徴とする請求項4に記載された電気電子部品用銅合金板の製造方法。
- 銅合金鋳塊を熱間圧延後焼き入れし、続いて冷間圧延及び時効処理を行い、請求項1〜3のいずれかに記載された電気電子部品用銅合金板を製造する方法であって、前記焼き入れの焼き入れ温度が800℃以上であることを特徴とする電気電子部品用銅合金板の製造方法。
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