JP6540859B1 - 複合タングステン酸化物膜及びその製造方法、並びに該膜を有する膜形成基材及び物品 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)成膜工程において、不活性ガス中でスパッタリング成膜した後、熱処理工程において、膜を酸素が含まれるガス中で400℃〜600℃の温度で熱処理する。
(2)成膜工程において、酸素を含むガス中でスパッタリング成膜した後、熱処理工程において、膜を不活性雰囲気中または還元雰囲気中で400℃〜900℃の温度で熱処理する。
1.複合タングステン酸化物膜
2.複合タングステン酸化物膜の製造方法
2−1.成膜工程
2−2.熱処理工程
3.膜形成基材
4.物品
本発明の一実施形態に係る複合タングステン酸化物膜について説明する。本発明の一実施形態に係る複合タングステン酸化物膜は、一般式MxWyOz(ただし、Mは、アルカリ金属、アルカリ土類金属、Fe、In、Tl、Snの内から選択される1種以上の元素、Wはタングステン、Oは酸素)で表される組成を主成分とする膜であり、0.001≦x/y≦1、2.2≦z/y≦3.0の範囲の構成である。
次に、複合タングステン酸化物膜の製造方法について説明する。図3は、本発明の一実施形態に係る複合タングステン酸化物膜の製造方法の概略を示す工程図である。本発明の一実施形態に係る複合タングステン酸化物膜の製造方法は、元素MとタングステンWと酸素Oを主成分とする複合タングステン酸化物膜の製造方法であって、物理的な成膜法を用いて膜を形成する成膜工程S1と、膜を熱処理する熱処理工程S2とを有する。以下、各工程について詳細に説明する。
成膜工程S1では、物理的な成膜法を用いて膜を形成する。本発明の一実施形態に係る複合タングステン酸化物膜の物理的な成膜方法としては、真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、イオンビーム法などがある。この中でも、スパッタリング法は、成膜粒子のエネルギーが大きく付着力が強く、成膜が緻密で膜質が強く、かつ成膜プロセスが安定していて膜質、膜厚の制御が高い精度で可能である。さらに、スパッタリング法は、高融点金属・合金・化合物の成膜が可能で、反応性ガスの導入で酸化物や窒化物などの成膜が可能であり、組成の調整が比較的容易などの特長を持ち、液晶表示素子やハードディスク等の電子機器、ウィンドフィルムやミラー等の汎用品など幅広い分野で多く利用され、製造装置も多いことから好ましい。
次に、熱処理工程S2では、成膜工程S1で得られた膜を熱処理する。本発明に記載の膜特性を得るには、成膜工程S1における成膜雰囲気の酸素ガスの割合に応じて、膜の熱処理雰囲気の条件を変える必要がある。熱処理の雰囲気は、酸化性または不活性または還元雰囲気中で行う。
本発明の一実施形態に係る膜形成基材は、上述した複合タングステン酸化物膜が被成膜基材の少なくとも一方の面に形成されたものである。被成膜基材は、本発明の一実施形態に係る複合タングステン酸化物膜の形成が可能であれば特に限定されるものではない。
本発明の一実施形態に係る物品は、上述した複合タングステン酸化物膜及び/又は膜形成基材を1又は複数有する。本発明の複合タングステン酸化物膜及び/又は膜形成基材とを有する物品は、複合タングステン酸化物膜が光を吸収して遮蔽する機能、光を吸収して発熱する機能、光を吸収して電子を放出する機能のいずれか、またはそれら複数の機能を有する物品であればどのような物品でも構わない。
実施例1では、Cs/W原子比が0.33のセシウムタングステン酸化物粉末(住友金属鉱山株式会社製YM−01)をホットプレス装置に投入し、真空雰囲気、温度950℃、押し圧250kgf/cm2の条件で焼結し、セシウムタングステン酸化物焼結体を作製した。焼結体組成を化学分析した結果、Cs/Wは0.33であった。この酸化物焼結体を直径153mm、厚み5mmに機械加工で研削し、ステンレス製バッキングプレートに金属インジウム蝋材を用いて接合して、セシウムタングステン酸化物スパッタリングターゲットを作製した。
実施例1と同様に同じ装置を用い、表1及び表2に記載されているように元素M、膜厚、成膜雰囲気、熱処理雰囲気および時間を変えて複合タングステン酸化物膜の作成を行い、膜の特性を調べた。表1及び表2に実施例及び比較例の結果を示す。
Claims (9)
- 一般式MxWyOz(ただし、Mはアルカリ金属、アルカリ土類金属、Fe、In、Tl、Snの内から選択される1種以上の元素、Wはタングステン、Oは酸素)で表される組成を主成分とする複合タングステン酸化物膜であって、
0.001≦x/y≦1、2.2≦z/y≦3.0であり、
有機物成分を実質的に含まず、シート抵抗が105Ω/□以上で、
波長550nmにおける透過率が50%以上、波長1400nmにおける透過率が30%以下、かつ、波長1400nmにおける吸収率が35%以上であり、
波長1400nmにおける吸収率に対する波長800nmにおける吸収率が80%以下であることを特徴とする複合タングステン酸化物膜。 - スパッタリング成膜由来であることを特徴とする請求項1に記載の複合タングステン酸化物膜。
- 前記Mは、Cs、Rb、K、Tl、In、Ba、Li、Na、Ca、Sr、Fe、およびSnの内から選択される1種以上の元素であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の複合タングステン酸化物膜。
- 20nmより厚い膜厚を有することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の複合タングステン酸化物膜。
- 請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の複合タングステン酸化物膜が被成膜基材の少なくとも一方の面に形成されている膜形成基材。
- 400℃以上の軟化点もしくは熱変形温度を有することを特徴とする請求項5に記載の膜形成基材。
- 前記被成膜基材がガラスであることを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の膜形成基材。
- 請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の複合タングステン酸化物膜及び/又は請求項5乃至請求項7のいずれか1項に記載の膜形成基材を1又は複数有することを特徴とする物品。
- 一般式M x W y O z (ただし、Mはアルカリ金属、アルカリ土類金属、Fe、In、Tl、Snの内から選択される1種以上の元素、Wはタングステン、Oは酸素であり、0.001≦x/y≦1、2.2≦z/y≦3.0)で表される組成を主成分とする複合タングステン酸化物膜の製造方法であって、
元素Mと元素Wと元素Oの化合物から成るスパッタリングターゲットを用いて物理的な成膜法により膜を形成する成膜工程と、
前記膜を熱処理する熱処理工程とを有し、
前記成膜工程と前記熱処理工程の条件が下記(1)、(2)のいずれかであることを特徴とする複合タングステン酸化物膜の製造方法。
(1)前記成膜工程において、不活性ガス中でスパッタリング成膜した後、前記熱処理工程において、前記膜を酸素が含まれるガス中で400℃〜600℃の温度で熱処理する。
(2)前記成膜工程において、酸素を含むガス中でスパッタリング成膜した後、前記熱処理工程において、前記膜を不活性雰囲気中または還元雰囲気中で400℃〜900℃の温度で熱処理する。
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