JP6463664B2 - ウエハ加工体及びウエハ加工方法 - Google Patents
ウエハ加工体及びウエハ加工方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6463664B2 JP6463664B2 JP2015231309A JP2015231309A JP6463664B2 JP 6463664 B2 JP6463664 B2 JP 6463664B2 JP 2015231309 A JP2015231309 A JP 2015231309A JP 2015231309 A JP2015231309 A JP 2015231309A JP 6463664 B2 JP6463664 B2 JP 6463664B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- layer
- resin layer
- thermosetting resin
- separation layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 24
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 20
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 341
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 171
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 171
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 claims description 165
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 133
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 129
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 120
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 89
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 claims description 82
- 229920005992 thermoplastic resin Polymers 0.000 claims description 64
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 55
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 54
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims description 48
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 47
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 40
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 36
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 36
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 35
- 238000000227 grinding Methods 0.000 claims description 22
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 19
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 19
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 19
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 claims description 19
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 claims description 19
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 15
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 15
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 15
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 claims description 15
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 10
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 claims description 9
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 claims description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 claims description 7
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 claims description 7
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 6
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 claims description 6
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims description 5
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 claims description 5
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 5
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 claims description 4
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 claims description 4
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 claims description 4
- 238000010923 batch production Methods 0.000 claims description 3
- 239000012466 permeate Substances 0.000 claims description 3
- 239000011260 aqueous acid Substances 0.000 claims 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 210
- -1 pinene Chemical compound 0.000 description 67
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 30
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 30
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical group O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 29
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 25
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 22
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 22
- 239000003431 cross linking reagent Substances 0.000 description 22
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 22
- CFJYNSNXFXLKNS-UHFFFAOYSA-N p-menthane Chemical compound CC(C)C1CCC(C)CC1 CFJYNSNXFXLKNS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 21
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 21
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 19
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 2-propanol Substances CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 17
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 16
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 15
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 15
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 14
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 14
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 13
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 13
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N propylene glycol methyl ether acetate Chemical compound COCC(C)OC(C)=O LLHKCFNBLRBOGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 12
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 11
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 description 11
- 230000003078 antioxidant effect Effects 0.000 description 11
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 11
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 11
- 235000013870 dimethyl polysiloxane Nutrition 0.000 description 11
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 11
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 11
- 229930004008 p-menthane Natural products 0.000 description 11
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 11
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 10
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 9
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 9
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 9
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- BGTOWKSIORTVQH-UHFFFAOYSA-N cyclopentanone Chemical compound O=C1CCCC1 BGTOWKSIORTVQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 150000002790 naphthalenes Chemical class 0.000 description 8
- BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N nonane Chemical compound CCCCCCCCC BKIMMITUMNQMOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 8
- GTJOHISYCKPIMT-UHFFFAOYSA-N 2-methylundecane Chemical compound CCCCCCCCCC(C)C GTJOHISYCKPIMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- SGVYKUFIHHTIFL-UHFFFAOYSA-N Isobutylhexyl Natural products CCCCCCCC(C)C SGVYKUFIHHTIFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- BGYHLZZASRKEJE-UHFFFAOYSA-N [3-[3-(3,5-ditert-butyl-4-hydroxyphenyl)propanoyloxy]-2,2-bis[3-(3,5-ditert-butyl-4-hydroxyphenyl)propanoyloxymethyl]propyl] 3-(3,5-ditert-butyl-4-hydroxyphenyl)propanoate Chemical compound CC(C)(C)C1=C(O)C(C(C)(C)C)=CC(CCC(=O)OCC(COC(=O)CCC=2C=C(C(O)=C(C=2)C(C)(C)C)C(C)(C)C)(COC(=O)CCC=2C=C(C(O)=C(C=2)C(C)(C)C)C(C)(C)C)COC(=O)CCC=2C=C(C(O)=C(C=2)C(C)(C)C)C(C)(C)C)=C1 BGYHLZZASRKEJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 7
- VKPSKYDESGTTFR-UHFFFAOYSA-N isododecane Natural products CC(C)(C)CC(C)CC(C)(C)C VKPSKYDESGTTFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 7
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 7
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 7
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 6
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000013329 compounding Methods 0.000 description 6
- LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-hydroxypropanoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)O LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 6
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229920000877 Melamine resin Polymers 0.000 description 5
- 239000004640 Melamine resin Substances 0.000 description 5
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 5
- 229920003180 amino resin Polymers 0.000 description 5
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 5
- 229920005645 diorganopolysiloxane polymer Polymers 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 5
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 5
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- LIPRQQHINVWJCH-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxypropan-2-yl acetate Chemical compound CCOCC(C)OC(C)=O LIPRQQHINVWJCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- NHTMVDHEPJAVLT-UHFFFAOYSA-N Isooctane Chemical compound CC(C)CC(C)(C)C NHTMVDHEPJAVLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910004283 SiO 4 Inorganic materials 0.000 description 4
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001807 Urea-formaldehyde Polymers 0.000 description 4
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 4
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N bisphenol F Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1CC1=CC=C(O)C=C1 PXKLMJQFEQBVLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 4
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 4
- 125000001511 cyclopentyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 4
- DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N decane Chemical compound CCCCCCCCCC DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- JVSWJIKNEAIKJW-UHFFFAOYSA-N dimethyl-hexane Natural products CCCCCC(C)C JVSWJIKNEAIKJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 4
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-M hexanoate Chemical compound CCCCCC([O-])=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- ZUBZATZOEPUUQF-UHFFFAOYSA-N isononane Chemical compound CCCCCCC(C)C ZUBZATZOEPUUQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 4
- XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N limonene Chemical compound CC(=C)C1CCC(C)=CC1 XMGQYMWWDOXHJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000007974 melamines Chemical class 0.000 description 4
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 4
- 125000001280 n-hexyl group Chemical group C(CCCCC)* 0.000 description 4
- 125000000740 n-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 4
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 4
- 229920006136 organohydrogenpolysiloxane Polymers 0.000 description 4
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 4
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 4
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 4
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 4
- 229920002725 thermoplastic elastomer Polymers 0.000 description 4
- 125000003944 tolyl group Chemical group 0.000 description 4
- RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N triphenylphosphine Chemical compound C1=CC=CC=C1P(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 RIOQSEWOXXDEQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000003672 ureas Chemical class 0.000 description 4
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 4
- LEEANUDEDHYDTG-UHFFFAOYSA-N 1,2-dimethoxypropane Chemical compound COCC(C)OC LEEANUDEDHYDTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JEIHSRORUWXJGF-UHFFFAOYSA-N 1-[(2-methylpropan-2-yl)oxy]propan-2-yl acetate Chemical compound CC(=O)OC(C)COC(C)(C)C JEIHSRORUWXJGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JOLQKTGDSGKSKJ-UHFFFAOYSA-N 1-ethoxypropan-2-ol Chemical compound CCOCC(C)O JOLQKTGDSGKSKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QYLFHLNFIHBCPR-UHFFFAOYSA-N 1-ethynylcyclohexan-1-ol Chemical compound C#CC1(O)CCCCC1 QYLFHLNFIHBCPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,6,7,8,9,10-octahydropyrimido[1,2-a]azepine Chemical compound C1CCCCN2CCCN=C21 GQHTUMJGOHRCHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PQAMFDRRWURCFQ-UHFFFAOYSA-N 2-ethyl-1h-imidazole Chemical compound CCC1=NC=CN1 PQAMFDRRWURCFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LXBGSDVWAMZHDD-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1h-imidazole Chemical compound CC1=NC=CN1 LXBGSDVWAMZHDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JSGVZVOGOQILFM-UHFFFAOYSA-N 3-methoxy-1-butanol Chemical compound COC(C)CCO JSGVZVOGOQILFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MFKRHJVUCZRDTF-UHFFFAOYSA-N 3-methoxy-3-methylbutan-1-ol Chemical compound COC(C)(C)CCO MFKRHJVUCZRDTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 241001050985 Disco Species 0.000 description 3
- XXRCUYVCPSWGCC-UHFFFAOYSA-N Ethyl pyruvate Chemical compound CCOC(=O)C(C)=O XXRCUYVCPSWGCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N Triethylamine Chemical compound CCN(CC)CC ZMANZCXQSJIPKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MBHRHUJRKGNOKX-UHFFFAOYSA-N [(4,6-diamino-1,3,5-triazin-2-yl)amino]methanol Chemical compound NC1=NC(N)=NC(NCO)=N1 MBHRHUJRKGNOKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UUQQGGWZVKUCBD-UHFFFAOYSA-N [4-(hydroxymethyl)-2-phenyl-1h-imidazol-5-yl]methanol Chemical compound N1C(CO)=C(CO)N=C1C1=CC=CC=C1 UUQQGGWZVKUCBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920006271 aliphatic hydrocarbon resin Polymers 0.000 description 3
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 3
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920006272 aromatic hydrocarbon resin Polymers 0.000 description 3
- 229940043232 butyl acetate Drugs 0.000 description 3
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 3
- 229940116333 ethyl lactate Drugs 0.000 description 3
- 229940117360 ethyl pyruvate Drugs 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 3
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 3
- BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N methyl 3-methoxypropanoate Chemical compound COCCC(=O)OC BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 3
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 3
- JAELLLITIZHOGQ-UHFFFAOYSA-N tert-butyl propanoate Chemical compound CCC(=O)OC(C)(C)C JAELLLITIZHOGQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 3
- UHXCHUWSQRLZJS-UHFFFAOYSA-N (4-dimethylsilylidenecyclohexa-2,5-dien-1-ylidene)-dimethylsilane Chemical compound C[Si](C)C1=CC=C([Si](C)C)C=C1 UHXCHUWSQRLZJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FRASJONUBLZVQX-UHFFFAOYSA-N 1,4-dioxonaphthalene Natural products C1=CC=C2C(=O)C=CC(=O)C2=C1 FRASJONUBLZVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BOKGTLAJQHTOKE-UHFFFAOYSA-N 1,5-dihydroxynaphthalene Chemical compound C1=CC=C2C(O)=CC=CC2=C1O BOKGTLAJQHTOKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 1-naphthol Chemical compound C1=CC=C2C(O)=CC=CC2=C1 KJCVRFUGPWSIIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoethan-1-ol Chemical compound NCCO HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CEBKHWWANWSNTI-UHFFFAOYSA-N 2-methylbut-3-yn-2-ol Chemical compound CC(C)(O)C#C CEBKHWWANWSNTI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JWAZRIHNYRIHIV-UHFFFAOYSA-N 2-naphthol Chemical compound C1=CC=CC2=CC(O)=CC=C21 JWAZRIHNYRIHIV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZPVFWPFBNIEHGJ-UHFFFAOYSA-N 2-octanone Chemical compound CCCCCCC(C)=O ZPVFWPFBNIEHGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ULKLGIFJWFIQFF-UHFFFAOYSA-N 5K8XI641G3 Chemical compound CCC1=NC=C(C)N1 ULKLGIFJWFIQFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N Acetophenone Chemical compound CC(=O)C1=CC=CC=C1 KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000089 Cyclic olefin copolymer Polymers 0.000 description 2
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 125000004849 alkoxymethyl group Chemical group 0.000 description 2
- RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N anisole Chemical compound COC1=CC=CC=C1 RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004653 anthracenylene group Chemical group 0.000 description 2
- 229950011260 betanaphthol Drugs 0.000 description 2
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N diglyme Chemical compound COCCOCCOC SBZXBUIDTXKZTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 2
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- RMBPEFMHABBEKP-UHFFFAOYSA-N fluorene Chemical compound C1=CC=C2C3=C[CH]C=CC3=CC2=C1 RMBPEFMHABBEKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 238000013007 heat curing Methods 0.000 description 2
- CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N heptan-2-one Chemical compound CCCCCC(C)=O CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 229940087305 limonene Drugs 0.000 description 2
- 235000001510 limonene Nutrition 0.000 description 2
- QPJVMBTYPHYUOC-UHFFFAOYSA-N methyl benzoate Chemical compound COC(=O)C1=CC=CC=C1 QPJVMBTYPHYUOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OENHRRVNRZBNNS-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,8-diol Chemical compound C1=CC(O)=C2C(O)=CC=CC2=C1 OENHRRVNRZBNNS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 2
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 description 2
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 2
- 125000005574 norbornylene group Chemical group 0.000 description 2
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 2
- IWDCLRJOBJJRNH-UHFFFAOYSA-N p-cresol Chemical compound CC1=CC=C(O)C=C1 IWDCLRJOBJJRNH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 125000000843 phenylene group Chemical group C1(=C(C=CC=C1)*)* 0.000 description 2
- 150000003021 phthalic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 2
- 239000013464 silicone adhesive Substances 0.000 description 2
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 2
- WMOVHXAZOJBABW-UHFFFAOYSA-N tert-butyl acetate Chemical compound CC(=O)OC(C)(C)C WMOVHXAZOJBABW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DZLFLBLQUQXARW-UHFFFAOYSA-N tetrabutylammonium Chemical compound CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC DZLFLBLQUQXARW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CBXCPBUEXACCNR-UHFFFAOYSA-N tetraethylammonium Chemical compound CC[N+](CC)(CC)CC CBXCPBUEXACCNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QEMXHQIAXOOASZ-UHFFFAOYSA-N tetramethylammonium Chemical compound C[N+](C)(C)C QEMXHQIAXOOASZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 2
- KJDMMCYMVUTZSN-UHFFFAOYSA-N (1-ethynylcyclohexyl)oxy-trimethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)OC1(C#C)CCCCC1 KJDMMCYMVUTZSN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PBLNHHSDYFYZNC-UHFFFAOYSA-N (1-naphthyl)methanol Chemical compound C1=CC=C2C(CO)=CC=CC2=C1 PBLNHHSDYFYZNC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MFGWMAAZYZSWMY-UHFFFAOYSA-N (2-naphthyl)methanol Chemical compound C1=CC=CC2=CC(CO)=CC=C21 MFGWMAAZYZSWMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KMOUUZVZFBCRAM-OLQVQODUSA-N (3as,7ar)-3a,4,7,7a-tetrahydro-2-benzofuran-1,3-dione Chemical compound C1C=CC[C@@H]2C(=O)OC(=O)[C@@H]21 KMOUUZVZFBCRAM-OLQVQODUSA-N 0.000 description 1
- RUEBPOOTFCZRBC-UHFFFAOYSA-N (5-methyl-2-phenyl-1h-imidazol-4-yl)methanol Chemical compound OCC1=C(C)NC(C=2C=CC=CC=2)=N1 RUEBPOOTFCZRBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZXMGHDIOOHOAAE-UHFFFAOYSA-N 1,1,1-trifluoro-n-(trifluoromethylsulfonyl)methanesulfonamide Chemical group FC(F)(F)S(=O)(=O)NS(=O)(=O)C(F)(F)F ZXMGHDIOOHOAAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WKBPZYKAUNRMKP-UHFFFAOYSA-N 1-[2-(2,4-dichlorophenyl)pentyl]1,2,4-triazole Chemical compound C=1C=C(Cl)C=C(Cl)C=1C(CCC)CN1C=NC=N1 WKBPZYKAUNRMKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PBMCNXWCDKJXRU-UHFFFAOYSA-N 1-[bis(1,1,2,2,2-pentafluoroethylsulfonyl)methylsulfonyl]-1,1,2,2,2-pentafluoroethane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)S(=O)(=O)[C-](S(=O)(=O)C(F)(F)C(F)(F)F)S(=O)(=O)C(F)(F)C(F)(F)F PBMCNXWCDKJXRU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005160 1H NMR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- MFYNHXMPPRNECN-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,6,7,8,9,10-octahydropyrimido[1,2-a]azepine;phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1.C1CCCCN2CCCN=C21 MFYNHXMPPRNECN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SKDGWNHUETZZCS-UHFFFAOYSA-N 2,3-ditert-butylphenol Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=CC(O)=C1C(C)(C)C SKDGWNHUETZZCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VMAWODUEPLAHOE-UHFFFAOYSA-N 2,4,6,8-tetrakis(ethenyl)-2,4,6,8-tetramethyl-1,3,5,7,2,4,6,8-tetraoxatetrasilocane Chemical compound C=C[Si]1(C)O[Si](C)(C=C)O[Si](C)(C=C)O[Si](C)(C=C)O1 VMAWODUEPLAHOE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KUMMBDBTERQYCG-UHFFFAOYSA-N 2,6-bis(hydroxymethyl)-4-methylphenol Chemical compound CC1=CC(CO)=C(O)C(CO)=C1 KUMMBDBTERQYCG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SAFWZKVQMVOANB-UHFFFAOYSA-N 2-[tert-butylsulfonyl(diazo)methyl]sulfonyl-2-methylpropane Chemical compound CC(C)(C)S(=O)(=O)C(=[N+]=[N-])S(=O)(=O)C(C)(C)C SAFWZKVQMVOANB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NQBXSWAWVZHKBZ-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethyl acetate Chemical compound CCCCOCCOC(C)=O NQBXSWAWVZHKBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WBIQQQGBSDOWNP-UHFFFAOYSA-N 2-dodecylbenzenesulfonic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCC1=CC=CC=C1S(O)(=O)=O WBIQQQGBSDOWNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SRJCJJKWVSSELL-UHFFFAOYSA-N 2-methylnaphthalen-1-ol Chemical compound C1=CC=CC2=C(O)C(C)=CC=C21 SRJCJJKWVSSELL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCUJYXPAKHMBAZ-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-1h-imidazole Chemical compound C1=CNC(C=2C=CC=CC=2)=N1 ZCUJYXPAKHMBAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- LLEASVZEQBICSN-UHFFFAOYSA-N 2-undecyl-1h-imidazole Chemical compound CCCCCCCCCCCC1=NC=CN1 LLEASVZEQBICSN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NECRQCBKTGZNMH-UHFFFAOYSA-N 3,5-dimethylhex-1-yn-3-ol Chemical compound CC(C)CC(C)(O)C#C NECRQCBKTGZNMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCTILCZSUSTVHT-UHFFFAOYSA-N 3,5-dimethylhex-1-yn-3-yloxy(trimethyl)silane Chemical compound CC(C)CC(C)(C#C)O[Si](C)(C)C ZCTILCZSUSTVHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BOTGCZBEERTTDQ-UHFFFAOYSA-N 4-Methoxy-1-naphthol Chemical compound C1=CC=C2C(OC)=CC=C(O)C2=C1 BOTGCZBEERTTDQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000590 4-methylphenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- UEULEVKFYSYUCZ-UHFFFAOYSA-N 4-naphthalen-1-ylphenol Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1C1=CC=CC2=CC=CC=C12 UEULEVKFYSYUCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZBIBQNVRTVLOHQ-UHFFFAOYSA-N 5-aminonaphthalen-1-ol Chemical compound C1=CC=C2C(N)=CC=CC2=C1O ZBIBQNVRTVLOHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TYOXIFXYEIILLY-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-2-phenyl-1h-imidazole Chemical compound N1C(C)=CN=C1C1=CC=CC=C1 TYOXIFXYEIILLY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SKPPZWVFPOQPOT-UHFFFAOYSA-N 6-(4-hydroxyphenyl)naphthalen-2-ol Chemical compound C1=CC(O)=CC=C1C1=CC=C(C=C(O)C=C2)C2=C1 SKPPZWVFPOQPOT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DYOPVXMHYSXHNG-UHFFFAOYSA-N 6-[9-(6-hydroxynaphthalen-2-yl)fluoren-9-yl]naphthalen-2-ol Chemical compound C1=C(O)C=CC2=CC(C3(C4=CC=CC=C4C4=CC=CC=C43)C3=CC4=CC=C(C=C4C=C3)O)=CC=C21 DYOPVXMHYSXHNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XVZWMPLMWUJTCE-UHFFFAOYSA-N 6-ethenylnaphthalen-2-ol Chemical compound C1=C(C=C)C=CC2=CC(O)=CC=C21 XVZWMPLMWUJTCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PRYNJOJHKYNLIS-UHFFFAOYSA-N 6-hydroxynaphthalene-2-carbaldehyde Chemical compound C1=C(C=O)C=CC2=CC(O)=CC=C21 PRYNJOJHKYNLIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UNFNRIIETORURP-UHFFFAOYSA-N 7-methoxynaphthalen-2-ol Chemical compound C1=CC(O)=CC2=CC(OC)=CC=C21 UNFNRIIETORURP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MANAYXKUDRWEAR-UHFFFAOYSA-N C(C=C1)=CC=C1OB(OC1=CC=CC=C1)OC1=CC=CC=C1.N Chemical compound C(C=C1)=CC=C1OB(OC1=CC=CC=C1)OC1=CC=CC=C1.N MANAYXKUDRWEAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004713 Cyclic olefin copolymer Substances 0.000 description 1
- LCGLNKUTAGEVQW-UHFFFAOYSA-N Dimethyl ether Chemical compound COC LCGLNKUTAGEVQW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013032 Hydrocarbon resin Substances 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RGMZNZABJYWAEC-UHFFFAOYSA-N Methyltris(trimethylsiloxy)silane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(O[Si](C)(C)C)O[Si](C)(C)C RGMZNZABJYWAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 1
- XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N Urea Chemical compound NC(N)=O XSQUKJJJFZCRTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DDGFMBWDFYHXSK-UHFFFAOYSA-N [(4,6-diamino-1,3,5-triazin-2-yl)-(dimethoxymethyl)amino]methanol Chemical compound COC(OC)N(CO)C1=NC(N)=NC(N)=N1 DDGFMBWDFYHXSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMPRWOVDLKORBV-UHFFFAOYSA-N [(4,6-diamino-1,3,5-triazin-2-yl)-(trimethoxymethyl)amino]methanol Chemical compound COC(OC)(OC)N(CO)C1=NC(N)=NC(N)=N1 ZMPRWOVDLKORBV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- USDJGQLNFPZEON-UHFFFAOYSA-N [[4,6-bis(hydroxymethylamino)-1,3,5-triazin-2-yl]amino]methanol Chemical compound OCNC1=NC(NCO)=NC(NCO)=N1 USDJGQLNFPZEON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YGCOKJWKWLYHTG-UHFFFAOYSA-N [[4,6-bis[bis(hydroxymethyl)amino]-1,3,5-triazin-2-yl]-(hydroxymethyl)amino]methanol Chemical compound OCN(CO)C1=NC(N(CO)CO)=NC(N(CO)CO)=N1 YGCOKJWKWLYHTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BJSBGAIKEORPFG-UHFFFAOYSA-N [[6-amino-1,2,3,4-tetramethoxy-4-(methoxyamino)-1,3,5-triazin-2-yl]-methoxyamino]methanol Chemical compound CONC1(N(C(N(C(=N1)N)OC)(N(CO)OC)OC)OC)OC BJSBGAIKEORPFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 150000008065 acid anhydrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 125000005073 adamantyl group Chemical group C12(CC3CC(CC(C1)C3)C2)* 0.000 description 1
- 238000013006 addition curing Methods 0.000 description 1
- 239000004840 adhesive resin Substances 0.000 description 1
- 229920006223 adhesive resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005456 alcohol based solvent Substances 0.000 description 1
- 125000003158 alcohol group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 1
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000005355 arylox oalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- SRSXLGNVWSONIS-UHFFFAOYSA-N benzenesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 SRSXLGNVWSONIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940092714 benzenesulfonic acid Drugs 0.000 description 1
- 230000001588 bifunctional effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- SLSPYQCCSCAKIB-UHFFFAOYSA-N bis(1,1,2,2,2-pentafluoroethylsulfonyl)azanide Chemical group FC(F)(F)C(F)(F)S(=O)(=O)[N-]S(=O)(=O)C(F)(F)C(F)(F)F SLSPYQCCSCAKIB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NFCHUEIPYPEHNE-UHFFFAOYSA-N bis(2,2-dimethylbut-3-ynoxy)-dimethylsilane Chemical compound C#CC(C)(C)CO[Si](C)(C)OCC(C)(C)C#C NFCHUEIPYPEHNE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UQWLFOMXECTXNQ-UHFFFAOYSA-N bis(trifluoromethylsulfonyl)methylsulfonyl-trifluoromethane Chemical compound FC(F)(F)S(=O)(=O)[C-](S(=O)(=O)C(F)(F)F)S(=O)(=O)C(F)(F)F UQWLFOMXECTXNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N butadiene-styrene rubber Chemical compound C=CC=C.C=CC1=CC=CC=C1 MTAZNLWOLGHBHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930188620 butyrolactone Natural products 0.000 description 1
- 239000004202 carbamide Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003763 carbonization Methods 0.000 description 1
- 239000007809 chemical reaction catalyst Substances 0.000 description 1
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 1
- 125000006165 cyclic alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004210 cyclohexylmethyl group Chemical group [H]C([H])(*)C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000004851 cyclopentylmethyl group Chemical group C1(CCCC1)C* 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical compound OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000539 dimer Substances 0.000 description 1
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 229940060296 dodecylbenzenesulfonic acid Drugs 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- BITPLIXHRASDQB-UHFFFAOYSA-N ethenyl-[ethenyl(dimethyl)silyl]oxy-dimethylsilane Chemical compound C=C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C=C BITPLIXHRASDQB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BHXIWUJLHYHGSJ-UHFFFAOYSA-N ethyl 3-ethoxypropanoate Chemical compound CCOCCC(=O)OCC BHXIWUJLHYHGSJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WUDNUHPRLBTKOJ-UHFFFAOYSA-N ethyl isocyanate Chemical class CCN=C=O WUDNUHPRLBTKOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001072 heteroaryl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000006038 hexenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229920006270 hydrocarbon resin Polymers 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002768 hydroxyalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 150000002460 imidazoles Chemical class 0.000 description 1
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005224 laser annealing Methods 0.000 description 1
- JDSHMPZPIAZGSV-UHFFFAOYSA-N melamine Chemical group NC1=NC(N)=NC(N)=N1 JDSHMPZPIAZGSV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LGRLWUINFJPLSH-UHFFFAOYSA-N methanide Chemical class [CH3-] LGRLWUINFJPLSH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000956 methoxy group Chemical group [H]C([H])([H])O* 0.000 description 1
- UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N methoxybenzene Substances CCCCOC=C UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HMIBDRSTVGFJPB-UHFFFAOYSA-N methyl 1-hydroxynaphthalene-2-carboxylate Chemical compound C1=CC=CC2=C(O)C(C(=O)OC)=CC=C21 HMIBDRSTVGFJPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940095102 methyl benzoate Drugs 0.000 description 1
- QXLPXWSKPNOQLE-UHFFFAOYSA-N methylpentynol Chemical compound CCC(C)(O)C#C QXLPXWSKPNOQLE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 125000003136 n-heptyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- NXPPAOGUKPJVDI-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,2-diol Chemical compound C1=CC=CC2=C(O)C(O)=CC=C21 NXPPAOGUKPJVDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XOOMNEFVDUTJPP-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,3-diol Chemical compound C1=CC=CC2=CC(O)=CC(O)=C21 XOOMNEFVDUTJPP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCILLCXFKWDRMK-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,4-diol Chemical compound C1=CC=C2C(O)=CC=C(O)C2=C1 PCILLCXFKWDRMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FZZQNEVOYIYFPF-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,6-diol Chemical compound OC1=CC=CC2=CC(O)=CC=C21 FZZQNEVOYIYFPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZUVBIBLYOCVYJU-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,7-diol Chemical compound C1=CC=C(O)C2=CC(O)=CC=C21 ZUVBIBLYOCVYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRNGUTKWMSBIBF-UHFFFAOYSA-N naphthalene-2,3-diol Chemical compound C1=CC=C2C=C(O)C(O)=CC2=C1 JRNGUTKWMSBIBF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MNZMMCVIXORAQL-UHFFFAOYSA-N naphthalene-2,6-diol Chemical compound C1=C(O)C=CC2=CC(O)=CC=C21 MNZMMCVIXORAQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DFQICHCWIIJABH-UHFFFAOYSA-N naphthalene-2,7-diol Chemical compound C1=CC(O)=CC2=CC(O)=CC=C21 DFQICHCWIIJABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001971 neopentyl group Chemical group [H]C([*])([H])C(C([H])([H])[H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 1
- NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N o-biphenylenemethane Natural products C1=CC=C2CC3=CC=CC=C3C2=C1 NIHNNTQXNPWCJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HMMGMWAXVFQUOA-UHFFFAOYSA-N octamethylcyclotetrasiloxane Chemical compound C[Si]1(C)O[Si](C)(C)O[Si](C)(C)O[Si](C)(C)O1 HMMGMWAXVFQUOA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004365 octenyl group Chemical group C(=CCCCCCC)* 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 125000005188 oxoalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000004714 phosphonium salts Chemical group 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 239000000088 plastic resin Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000002798 polar solvent Substances 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 238000012643 polycondensation polymerization Methods 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000005373 siloxane group Chemical group [SiH2](O*)* 0.000 description 1
- 239000012321 sodium triacetoxyborohydride Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 1
- 150000003512 tertiary amines Chemical class 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- USFPINLPPFWTJW-UHFFFAOYSA-N tetraphenylphosphonium Chemical compound C1=CC=CC=C1[P+](C=1C=CC=CC=1)(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 USFPINLPPFWTJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 1
- JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N toluene-4-sulfonic acid Chemical compound CC1=CC=C(S(O)(=O)=O)C=C1 JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N tributylphosphine Chemical compound CCCCP(CCCC)CCCC TUQOTMZNTHZOKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M triflate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)C(F)(F)F ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013638 trimer Substances 0.000 description 1
- JNRUXZIXAXHXTN-UHFFFAOYSA-N trimethyl(2-methylbut-3-yn-2-yloxy)silane Chemical compound C#CC(C)(C)O[Si](C)(C)C JNRUXZIXAXHXTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NWMVPLQDJXJDEW-UHFFFAOYSA-N trimethyl(3-methylpent-1-yn-3-yloxy)silane Chemical compound CCC(C)(C#C)O[Si](C)(C)C NWMVPLQDJXJDEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MDCWDBMBZLORER-UHFFFAOYSA-N triphenyl borate Chemical compound C=1C=CC=CC=1OB(OC=1C=CC=CC=1)OC1=CC=CC=C1 MDCWDBMBZLORER-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N tris Chemical compound OCC(N)(CO)CO LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LQEKTSMTEYLBLJ-UHFFFAOYSA-N tris(4-ethoxyphenyl)phosphane Chemical compound C1=CC(OCC)=CC=C1P(C=1C=CC(OCC)=CC=1)C1=CC=C(OCC)C=C1 LQEKTSMTEYLBLJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UYUUAUOYLFIRJG-UHFFFAOYSA-N tris(4-methoxyphenyl)phosphane Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1P(C=1C=CC(OC)=CC=1)C1=CC=C(OC)C=C1 UYUUAUOYLFIRJG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002948 undecyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6835—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L21/6836—Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
- H01L21/76835—Combinations of two or more different dielectric layers having a low dielectric constant
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J183/00—Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Adhesives based on derivatives of such polymers
- C09J183/04—Polysiloxanes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J183/00—Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Adhesives based on derivatives of such polymers
- C09J183/10—Block or graft copolymers containing polysiloxane sequences
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09J—ADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
- C09J183/00—Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Adhesives based on derivatives of such polymers
- C09J183/14—Adhesives based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Adhesives based on derivatives of such polymers in which at least two but not all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
- H01L21/0201—Specific process step
- H01L21/02013—Grinding, lapping
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02002—Preparing wafers
- H01L21/02005—Preparing bulk and homogeneous wafers
- H01L21/02008—Multistep processes
- H01L21/0201—Specific process step
- H01L21/02016—Backside treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02041—Cleaning
- H01L21/02043—Cleaning before device manufacture, i.e. Begin-Of-Line process
- H01L21/02052—Wet cleaning only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/568—Temporary substrate used as encapsulation process aid
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6835—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
- H01L21/76802—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing by forming openings in dielectrics
- H01L21/76805—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing by forming openings in dielectrics the opening being a via or contact hole penetrating the underlying conductor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/71—Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
- H01L21/768—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
- H01L21/76801—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing
- H01L21/76829—Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the dielectrics, e.g. smoothing characterised by the formation of thin functional dielectric layers, e.g. dielectric etch-stop, barrier, capping or liner layers
- H01L21/76832—Multiple layers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B7/00—Layered products characterised by the relation between layers; Layered products characterised by the relative orientation of features between layers, or by the relative values of a measurable parameter between layers, i.e. products comprising layers having different physical, chemical or physicochemical properties; Layered products characterised by the interconnection of layers
- B32B7/04—Interconnection of layers
- B32B7/06—Interconnection of layers permitting easy separation
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B32—LAYERED PRODUCTS
- B32B—LAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
- B32B7/00—Layered products characterised by the relation between layers; Layered products characterised by the relative orientation of features between layers, or by the relative values of a measurable parameter between layers, i.e. products comprising layers having different physical, chemical or physicochemical properties; Layered products characterised by the interconnection of layers
- B32B7/04—Interconnection of layers
- B32B7/12—Interconnection of layers using interposed adhesives or interposed materials with bonding properties
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G77/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
- C08G77/04—Polysiloxanes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G77/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
- C08G77/42—Block-or graft-polymers containing polysiloxane sequences
- C08G77/452—Block-or graft-polymers containing polysiloxane sequences containing nitrogen-containing sequences
- C08G77/455—Block-or graft-polymers containing polysiloxane sequences containing nitrogen-containing sequences containing polyamide, polyesteramide or polyimide sequences
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G77/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
- C08G77/48—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule in which at least two but not all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms
- C08G77/50—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule in which at least two but not all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms by carbon linkages
- C08G77/52—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule in which at least two but not all the silicon atoms are connected by linkages other than oxygen atoms by carbon linkages containing aromatic rings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68327—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/6834—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used to protect an active side of a device or wafer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68381—Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68381—Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
- H01L2221/68386—Separation by peeling
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
(b)前記熱硬化性樹脂層(B)を熱硬化させる工程と、
(c)前記ウエハの裏面を研削又は研磨する工程と、
(d)前記ウエハの裏面に加工を施す工程と、
(e)前記ウエハ加工体から前記支持体を除去又は分離する工程と、
(f)前記支持体が除去又は分離された前記ウエハ加工体を前記洗浄溶剤(D)で処理することによって、前記熱可塑性樹脂層(A)の溶解及び前記熱硬化性樹脂層(B)の分離を一括処理で行う工程と、
(g)前記工程(f)を行った後、残った前記ウエハのみを取り出す工程と
を含むことを特徴とするウエハ加工方法を提供する。
−第一仮接着層/熱可塑性樹脂層(A)−
熱可塑性樹脂層(A)は、熱可塑性樹脂により構成されていて、回路付ウエハの裏面加工後に洗浄溶剤(D)に対して可溶な樹脂であれば特に制限はないが、そのような樹脂材料として、脂肪族炭化水素系樹脂、及び芳香族炭化水素系樹脂が好適に使用される。特にガラス転移温度−80〜120℃程度の熱可塑性樹脂が好ましく、例えばオレフィン系熱可塑性エラストマー、ポリブタジエン系熱可塑性エラストマー、スチレン系熱可塑性エラストマー、スチレン・ブタジエン系熱可塑性エラストマー、スチレン・ポリオレフィン系熱可塑性エラストマーなどが挙げられ、特に耐熱性に優れた水素添加ポリスチレン系エラストマーが好適である。具体的にはタフテック(旭化成ケミカルズ)、エスポレックスSBシリーズ(住友化学)、ラバロン(三菱化学)、セプトン(クラレ)、DYNARON(JSR)などが挙げられる。またゼオネックス(日本ゼオン)に代表されるシクロオレフィンポリマー及びTOPAS(日本ポリプラスチック)に代表される環状オレフィンコポリマーが挙げられる。熱可塑性樹脂層(A)としては、上記樹脂材料を単独で、又は2種以上の混合物として使用することができる。
熱硬化性樹脂層(B)は、熱硬化性樹脂により構成されていて、熱硬化後は洗浄溶剤(D)に対して不溶ではあるが、洗浄溶剤(D)を吸収し洗浄溶剤(D)が浸透する樹脂であれば特に制限はないが、そのような樹脂材料として、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂が好適に使用され、1種類の樹脂を単独で使用しても、2種類以上を混合して使用しても良い。なお、熱硬化性樹脂層(B)において、洗浄溶剤(D)の吸収及び洗浄溶剤(D)の浸透を促進するためには、熱硬化性樹脂層(B)の種類に応じて適切な洗浄溶剤(D)を選択することが好ましい。
分離層(C)は、ウエハ加工体から支持体を容易に分離できるよう熱硬化層樹脂層(B)と支持体の間に積層される任意成分である。熱硬化性樹脂層(B)と支持体が直接積層されていても接着力が制御可能で支持体が分離可能である場合や、グラインダーで支持体を研削除去する等の分離以外の方法で支持体を除去可能である場合は必要としないが、分離層(C)が形成されている方が支持体の分離が容易になるため好ましい。
(I)分離層(C)を介してウエハ加工体から支持体を分離させた際、分離層(C)は熱硬化性樹脂層(B)上には残存しないものである。
(II)分離層(C)を介してウエハ加工体から支持体を分離させた際、分離層(C)はその一部又は全部が熱硬化性樹脂層(B)上に残存し、かつ分離層(C)は洗浄溶剤(D)に対して可溶なものであるか、又は洗浄溶剤(D)に対して不溶であるが洗浄溶剤(D)を吸収し洗浄溶剤(D)が浸透するものである。
(C1):1分子中に2個以上のアルケニル基を有するオルガノポリシロキサン。
(C2):1分子中に2個以上のケイ素原子に結合した水素原子(Si−H基)を含有し、(C1)成分中のアルケニル基に対する(C2)成分中のSi−H基のモル比が0.3〜10となる量の、オルガノハイドロジェンポリシロキサン。
(C3):白金系触媒。
(C4):反応制御剤。
R9 (3−e)X2 eSiO−(R9X2SiO)f−(R9 2SiO)g−SiR9 (3−e)X2 e…(8)
R9 2(HO)SiO−(R9X2SiO)f+2−(R9 2SiO)g−SiR9 2(OH)…(9)
(式中、R9は夫々独立して脂肪族不飽和結合を有さない1価炭化水素基、X2は夫々独立してアルケニル基含有1価有機基、eは0〜3の整数である。また、式(8)において、2e+fは1分子中にアルケニル基含有量が0.3〜10mol%となる数である。式(9)において、f+2は1分子中にアルケニル基含有量が0.3〜10mol%となる数である。fは0又は10以下の正数であり、gは1〜1,000の正数である。)
(S−)(N+(R62R63R64R65)) (11)
(式中、R62、R63、R64、R65はそれぞれ水素原子、炭素数1〜12の直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基、アルケニル基、オキソアルキル基又はオキソアルケニル基、炭素数6〜20のアリール基、又は炭素数7〜12のアラルキル基又はアリールオキソアルキル基を示し、これらの基の水素原子の一部又は全部がアルコキシ基によって置換されていてもよい。R62、R63、R64、R65はこれらが結合する窒素原子と共に環を形成してもよく、環を形成する場合には、炭素数3〜10のアルキレン基であるか、又は式中の窒素原子を環の中に有する複素芳香族環を形成する。S−はα位の少なくとも1つがフッ素化されたスルホン酸、又はパーフルオロアルキルイミド酸若しくはパーフルオロアルキルメチド酸である。)
洗浄溶剤(D)としては、熱可塑性樹脂層(A)を溶解可能で、かつ熱硬化後の熱硬化性樹脂層(B)を溶解はできないが膨潤させ、浸透することができる溶剤であれば特に制限はないが、そのような洗浄溶剤としては、脂肪族炭化水素系有機溶剤、芳香族炭化水素系有機溶剤、ケトン系有機溶剤、アルコール系有機溶剤、エーテル系有機溶剤、エステル系有機溶剤、アミン系有機溶剤、アンモニウム系有機溶剤、有機酸系有機溶剤が挙げられる。
熱可塑性樹脂層(A)が洗浄溶剤(D)に対して可溶であるとは、ウエハ上の熱可塑性樹脂層(A)に対して洗浄溶剤(D)を作用させた際、熱可塑性樹脂層(A)が固形分残渣を残さず処理可能であることを表し、熱可塑性樹脂層(A)が固形分残渣を残さず処理可能であるならば洗浄溶剤(D)の量、作用方法は問わないが、一般的に熱可塑性樹脂層(A)層1質量部に対して洗浄溶剤(D)を0.1〜100000部、好ましくは100〜10000部を作用させる。
熱硬化性樹脂層(B)が洗浄溶剤(D)に対して不溶であるとは、熱硬化性樹脂層(B)に対し、熱可塑性樹脂層(A)が固形分残渣を残さず処理出来る十分な量、方法で洗浄溶剤(D)を作用させた際、熱硬化性樹脂層(B)が独立した膜として残存することを表し、一般的には洗浄溶剤(D)を作用させることによる熱硬化性樹脂層(B)の重量減少が80質量%以下、好ましくは50質量%以下、より好ましくは20質量%以下である。
−回路付ウエハ−
表面に回路面を有し裏面を加工すべきウエハは、一方の面が回路形成面であり、他方の面が回路非形成面である回路付ウエハである。本発明が適用できる回路付ウエハは、通常、半導体ウエハである。該半導体ウエハの例としては、シリコンウエハのみならず、ゲルマニウムウエハ、ガリウム−ヒ素ウエハ、ガリウム−リンウエハ、ガリウム−ヒ素−アルミニウムウエハ等が挙げられる。該ウエハの厚さは、特に制限はないが、典型的には600〜800μm、より典型的には625〜775μmである。
支持体としては、シリコンウエハ、ガラス基板、石英基板等が一般的に使用可能であるが、プロセス適合性があれば特に制限はない。特に分離層(C)が光レーザー剥離方式に対応した材料を使用している場合は、使用される光の波長に対し透過性があることが好ましく、特にガラス基板が好適に用いられる。分離層(C)が光レーザー剥離方式に対応した材料を使用していない場合は、光透過性の制限はなく、特にシリコンウエハが好適に用いられる。
本発明のウエハ加工方法は、半導体回路等を有するウエハと支持体との仮接着材層として、ウエハの加工を行った後でも洗浄溶剤(D)に対して可溶である熱可塑性樹脂層(A)からなる第一仮接着層と、熱硬化後、洗浄溶剤(D)に対して不溶であるが洗浄溶剤(D)を吸収し洗浄溶剤(D)が浸透するものである熱硬化性樹脂層(B)からなる第二仮接着層とを含む仮接着材層を用いることを特徴とする。なお、上述のように、仮接着材層は分離層(C)からなる第三仮接着層を含んでいてもよい。本発明のウエハ加工方法により得られる薄型ウエハの厚さは、典型的には5〜300μm、より典型的には10〜100μmである。
工程(a)は、回路付ウエハの表面を、上記の仮接着材層を介して支持体に貼り合わせ、ウエハ加工体を作製する工程である。
工程(b)は、熱硬化性樹脂層(B)を熱硬化させる工程である。上記ウエハ加工体が形成された後、120〜220℃、好ましくは150〜200℃で10分〜4時間、好ましくは30分〜2時間加熱することによって、熱硬化性樹脂層(B)の硬化を行う。なお、分離層(C)として熱硬化性のものを用いた場合、この工程で分離層(C)の硬化も行うことができる。
工程(c)は、支持体と接合したウエハの裏面を研削又は研磨する工程、即ち、ウエハ加工体のウエハ裏面側を研削又は研磨して、該ウエハの厚みを薄くしていく工程である。ウエハ裏面の研削加工の方式には特に制限はなく、公知の研削方式が採用される。研削は、ウエハと砥石(ダイヤモンド等)に水をかけて冷却しながら行うことが好ましい。ウエハ裏面を研削加工する装置としては、例えば(株)ディスコ製DAG−810(商品名)等が挙げられる。また、ウエハ裏面側をCMP研磨してもよい。
工程(d)は、裏面を研削したウエハ、即ち、裏面研削によって薄型化されたウエハの裏面に加工を施す工程である。ウエハ裏面研削工程の後に行うウエハ加工工程には、ウエハレベルで用いられる様々なプロセスが含まれる。例としては、ウエハ表面処理、電極形成、金属配線形成、保護膜形成等が挙げられる。より具体的には、ウエハ表面処理のためのCVD、レーザーアニール、電極等の形成のための金属スパッタリング、蒸着、金属スパッタリング層をエッチングするウェットエッチング、金属配線形成のマスクとするためのレジストの塗布、露光、及び現像によるパターンの形成、レジストの剥離、ドライエッチング、金属めっきの形成、表面保護用の有機膜形成、TSV形成のためのシリコンエッチング、シリコン表面の酸化膜形成など、従来公知のプロセスが挙げられる。このようなプロセスにおいては、400℃程度までの高温領域で広い範囲にウエハ加工体として耐性を有することが望ましく、特に300℃以上の温度でも強度、寿命のあるウエハ加工体であることがよい。
工程(e)は、工程(d)で回路付ウエハの裏面加工を施した後、ウエハ加工体から支持体を除去又は分離する工程である。ウエハ加工体から支持体を除去又は分離する方法は特に制限されない。分離層(C)が無くかつ熱硬化性樹脂層(B)と支持体が強固に接着している場合は支持体の研削、光レーザー剥離方式等が、分離層(C)が無くかつ熱硬化性樹脂層(B)と支持体の接着力が剥離可能にコントロールされている場合は常温機械剥離方式等が、常温機械剥離方式に対応した分離層(C)がある場合は常温機械剥離方式等が、また光レーザー剥離方式に対応した分離層(C)がある場合は光レーザー剥離方式等が、好適に用いられる。これらの方法であれば、加工された回路付ウエハにダメージを与えること無く支持体を除去又は分離できる。
(h)加工を施した回路付ウエハの加工面(裏面)にダイシングテープを接着する工程と、
(i)ダイシングテープ面を吸着面に真空吸着する工程と、
(j)吸着面の温度が10℃から100℃の温度範囲で、支持体をウエハ加工体からピールオフにて剥離する工程と、
を含むことが好ましい。このようにすることで、支持体をウエハ加工体から容易に剥離することができ、また、後のダイシング工程を容易に行うことができる。なお、ダイシングテープはポリエステル、ポリエチレンフィルム等を使用した公知のものを使用することができる。
工程(f)は、工程(e)でウエハ加工体から支持体を除去又は分離した後、回路付ウエハを取り出すために、残存している熱可塑性樹脂層(A)の溶解、熱硬化性樹脂層(B)の分離、及び分離層(C)が残存している場合は分離層(C)の溶解又は分離を、洗浄溶剤(D)を用いて一括に行う工程である。この工程での処理に関しては一般的に室温で行われるが、必要に応じて100℃未満で加熱処理を行っても良い。洗浄溶剤(D)を用いた上記処理が可能であれば特に方法は制限されないが、ダイシングテープに貼り付けされた、支持体が除去又は分離されたウエハ加工体を洗浄溶剤(D)に浸漬、ウエハ加工体上へ洗浄溶剤(D)の液盛り、噴霧、掛け流し等を、好ましくは30秒〜1時間、より好ましくは1〜10分間行い、洗浄溶剤(D)を熱硬化性樹脂層(B)に浸透させ、その浸透した洗浄溶剤(D)で更に下層の熱可塑性樹脂層(A)を溶解させることで、回路付ウエハにダメージを与えること無く熱硬化性樹脂層(B)を分離し、更に回路付ウエハ上に残る熱可塑性樹脂層(A)を洗浄溶剤(D)にて溶解させる方法が好適に用いられる。なお、分離層(C)がある場合でも、分離層(C)が洗浄溶剤(D)に溶解する場合はそのまま洗浄処理を、溶解しない場合は熱硬化性樹脂層(B)と共に分離させる。分離した熱硬化性樹脂層(B)及び分離層(C)に関しては、ウエハをスピンさせることでの振り切り、又は物理的に取り出すことで除去可能とする。
工程(g)は、工程(f)で仮接着材層の除去分離が終了した回路付ウエハを、単独で取り出すための工程である。回路付ウエハを単独で取り出すことができれば特に方法は制限されないが、通常工程(f)から連続して行われ、回路付ウエハ上に残渣物等が残らないようリンス液を用いてリンスを行い、スピンドライ等で回路付ウエハ上からリンス液を除去することで、ダイシングテープに貼り付けられた回路付ウエハを取り出すことができるようになる。リンス液としては回路付ウエハ上に残渣等残さずスピンドライ等で除去可能であれば特に制限はないが、ある程度揮発性の高い低沸点溶剤であることが好ましく、イソノナン等の炭化水素系溶剤、イソプロピルアルコール(IPA)等のアルコール系溶剤、水等が好適に用いられ、また洗浄溶剤(D)が揮発後残渣等残らないものであれば、洗浄溶剤(D)をリンス液代わりに用いても良い。
撹拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備したフラスコ内に9,9’−ビス(3−アリル−4−ヒドロキシフェニル)フルオレン(M−1)43.1g、平均構造式(M−3)で示されるオルガノハイドロジェンシロキサン29.5g、トルエン135g、塩化白金酸0.04gを仕込み、80℃に昇温した。その後、1,4−ビス(ジメチルシリル)ベンゼン(M−5)17.5gを1時間掛けてフラスコ内に滴下した。このとき、フラスコ内温度は、85℃まで上昇した。滴下終了後、更に80℃で2時間熟成した後、トルエンを留去すると共に、シクロヘキサノンを80g添加して、樹脂固形分濃度50質量%のシクロヘキサノンを溶剤とする樹脂溶液(b1)を得た。この溶液の樹脂分の分子量をGPCにより測定すると、ポリスチレン換算で重量平均分子量45,000であった。
撹拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した5Lフラスコ内にエポキシ化合物(M−2)84.1gをトルエン600gに溶解後、化合物(M−3)294.6g、化合物(M−4)25.5gを加え、60℃に加温した。その後、カーボン担持白金触媒(5質量%)1gを投入し、内部反応温度が65〜67℃に昇温するのを確認後、更に、90℃まで加温し、3時間熟成した。次いで室温まで冷却後、メチルイソブチルケトン(MIBK)600gを加え、本反応溶液をフィルターにて加圧濾過することで白金触媒を取り除いた。この樹脂溶液中の溶剤を減圧留去すると共に、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)270gを添加して、固形分濃度60質量%のPGMEAを溶剤とする樹脂溶液(b2)を得た。この樹脂溶液中の樹脂の分子量をGPCにより測定すると、ポリスチレン換算で重量平均分子量28,000であった。
4つ口フラスコにオクタメチルシクロテトラシロキサン1,000g(3.38モル)及びトリス(トリメチルシロキシ)メチルシラン0.93g(0.003モル)を仕込み、温度を110℃に保った。次いで、これに10質量%テトラブチルホスホニウムハイドロオキサイドシリコネート4gを加え、4時間かけて重合した後、160℃で2時間、後処理を行って、ジメチルポリシロキサンを得た。
このジメチルポリシロキサンを29Si−NMR法でD単位、M単位、T単位のそれぞれの割合を調べたところ、D単位99.911%、M単位0.067%、T単位0.022%であり、下記構造の分岐状ジメチルポリシロキサンと同定された。
4つ口フラスコに分子鎖両末端が水酸基で封鎖された生ゴム状のジメチルポリシロキサン(一般式(7)において、nは9000)であって、その30%トルエン溶液の25℃における粘度が98,000mPa・sであるジメチルポリシロキサン90部と、(CH3)3SiO1/2単位0.75モルとSiO4/2単位1モルの割合からなり、かつ固形分100中に1.0モル%の水酸基を含むメチルポリシロキサンレジン10部とを、トルエン900部に溶解した。得られた溶液に、28%のアンモニア水を1部添加し、室温にて24時間撹拌して縮合反応させた。次いで、減圧状態で180℃に加熱し、トルエン、縮合水、アンモニア等を除去させて、固形化された部分縮合物を得た。この部分縮合物100部に、トルエン900部を加えて、溶解させた。この溶液にヘキサメチルジシラザン20部を加え、130℃にて3時間撹拌して残存する水酸基を封鎖した。次いで、減圧状態で180℃に加熱し、溶剤等を除去させて、固形化された非反応性部分縮合物を得た。更に、上記非反応性部分縮合物100部にヘキサン900部を加えて溶解させた後、これを2000部のアセトン中に投入し、析出した樹脂を回収して、その後、真空下でヘキサン等を除去して、分子量740以下の低分子量成分が0.05質量%である、重量平均分子量900,000のジメチルポリシロキサン重合体(c2)を得た。
1,000mlのフラスコに化合物(M−6)として1,5−ジヒドロキシナフタレン80g(0.50モル)、化合物(M−7)として2−ヒドロキシ−6−ナフトアルデヒド51.6g(0.30モル)、更にメチルセロソルブ145gを加え、70℃で撹拌しながら20質量%パラトルエンスルホン酸メチルセロソルブ溶液20gを添加した。温度を85℃に上げ6時間撹拌後、室温に冷却し、酢酸エチル800mlで希釈した。分液ロートに移し変え、脱イオン水200mlで洗浄を繰り返し、反応触媒と金属不純物を除去した。得られた溶液を減圧濃縮した後、残渣に酢酸エチル600mlを加え、ヘキサン2,400mlでポリマーを沈殿させた。沈殿したポリマーをろ別、回収後、減圧乾燥して、下記構造式を繰り返し単位として有するポリマー(c3)を得た。GPCにより分子量(Mw)、分散度(Mw/Mn)を求め、1H−NMR分析によりポリマー中の比率を以下のように求めた。
分子量(Mw)3,200
分散度(Mw/Mn)=2.44
水素添加ポリスチレン系熱可塑性樹脂セプトン4033(クラレ製)24gをp−メンタン176gに溶解し、12質量%のセプトン4033のp−メンタン溶液を得た。得られた溶液を0.2μmのメンブレンフィルターで濾過して、熱可塑性樹脂のp−メンタン溶液(A−1)を得た。
樹脂溶液(b1)50gに、架橋剤としてエポキシ架橋剤であるEOCN−1020(日本化薬(株)製)を7.5g、硬化触媒として、和光純薬工業(株)製、BSDM(ビス(tert−ブチルスルホニル)ジアゾメタン)を0.2g、更に、酸化防止剤として、テトラキス[メチレン−(3,5−ジ−t−ブチル−4−ヒドロキシハイドロシンナメート)]メタン(商品名:アデカスタブ AO−60)を0.1g添加し、0.2μmのメンブレンフィルターで濾過して、熱硬化性樹脂溶液(B−1)を得た。
樹脂溶液(b2)100gに4官能フェノール化合物であるTEP−TPA(旭有機材工業製)を9g、テトラヒドロ無水フタル酸(新日本理化(株)製、リカシッドHH−A)0.2gを添加して、0.2μmのメンブレンフィルターで濾過して、熱硬化性樹脂溶液(B−2)を得た。
重合体(c1)0.5gをイソドデカン100gに溶解し、0.2μmのメンブレンフィルターで濾過して、ジメチルポリシロキサン重合体のイソドデカン溶液(C−1)を得た。
重合体(c2)1.0gをイソドデカン100gに溶解し、0.2μmのメンブレンフィルターで濾過して、ジメチルポリシロキサン重合体のイソドデカン溶液(C−2)を得た。
0.5モル%のビニル基を分子側鎖に有し、数平均分子量(Mn)が3万のポリジメチルシロキサン80部、イソドデカン400部からなる溶液に(M−8)で示されるオルガノハイドロジェンポリシロキサンを5.0部、エチニルシクロヘキサノール0.7部を添加し混合した。更に白金触媒CAT−PL−5(信越化学工業株式会社製)を0.5部添加し、0.2μmのメンブレンフィルターで濾過して、熱硬化性シリコーン組成物溶液(C−3)を得た。
ポリマー(c3)を20質量部と、下記AG1で示される酸発生剤を1質量部と、架橋剤としてニカラックMw390(三和ケミカル製)を4質量部とを、FC−430(住友スリーエム社製)0.1質量%を含むPGMEA100質量部に溶解させ、0.1μmのフッ素樹脂製のフィルターで濾過することによって樹脂溶液(C−4)を調製した。
表面に高さ10μm、直径40μmの銅ポストが全面に形成された直径200mmシリコンウエハ(厚さ:725μm)に、比較例1以外上記の樹脂溶液(A−1)をスピンコートし、ホットプレートにて180℃で5分間加熱することにより、(A)層に対応する材料をウエハバンプ形成面に成膜した。一方、実施例1〜4、比較例1〜2に関しては直径200mmベアシリコンウエハ(厚さ:725μm)を、実施例5に関しては直径200mm(厚さ:500μm)のガラス板を支持体とし、この支持体に実施例1、比較例1に関しては(B)層に相当する溶液をスピンコートし、150℃で3分間ホットプレート上で加熱し、(B)層を仮硬化させた。実施例2〜5に関しては(C)層に相当する溶液をスピンコートし、うち実施例2〜4に関しては180℃で5分間、実施例5に関しては250℃で5分間、ホットプレート上で加熱した。実施例2〜5に関しては更にその後、(C)層の上に(B)層に相当する溶液をスピンコートし、150℃で3分間ホットプレート上で加熱し、(B)層を仮硬化させた。このようにして作製されたシリコンウエハ及びガラス板をそれぞれ、樹脂面が合わされるように、真空貼り合わせ装置内で表1に示す条件にて貼り合わせ、積層体(ウエハ加工体)を作製した。表1に、(A)層、(B)層及び(C)層の膜厚を示した。なお(A)層、(B)層及び(C)層の膜厚の値としては、200mmベアSiウエハ上に同条件でスピンコートした際の膜厚を、光干渉式膜厚計(大日本スクリーン製、VM−1210)にて測定した値を用いている。
200mmのウエハ接合は、EVG社のウエハ接合装置EVG520ISを用いて行った。接合温度は表1に記載の値、接合時のチャンバー内圧力は10−3mbar以下、荷重は5kNで実施した。接合後、一旦、180℃で1時間オーブンを用いて基板を加熱し、(B)層の硬化を実施したのち、室温まで冷却し、その後界面の接着状況を超音波映像装置(Scanning Acoustic Tomograph, SAT、日立製、FineSAT300)を用いて観察し、界面で剥離などの異常が発生しなかった場合を良好と評価して「○」で示し、異常が発生した場合を不良と評価して「×」で示した。
グラインダー(DISCO製、DAG810)でダイヤモンド砥石を用いて銅ポスト付シリコンウエハの裏面研削を行った。最終基板厚50μmまでグラインドした後、光学顕微鏡(100倍)にてクラック、剥離等の異常の有無を調べた。異常が発生しなかった場合を良好と評価して「○」で示し、異常が発生した場合を不良と評価して「×」で示した。
銅ポスト付シリコンウエハを裏面研削した後の積層体を窒素雰囲気下の200℃オーブンに2時間入れた後、更に250℃のホットプレート上で10分加熱した後の外観異常の有無を調べた。外観異常が発生しなかった場合を良好と評価して「○」で示し、ボイド、ウエハ膨れ等の外観異常が発生した場合を「×」で示した。
実施例1、比較例1に関しては支持体側のベアシリコンウエハをグラインダー(DISCO製、DAG810)でダイヤモンド砥石を用いて支持体が無くなるまで研削を行った。実施例2〜5に関しては耐熱性試験終了後の50μmまで薄型化したウエハの加工面(回路非形成面)側にダイシングフレームを用いてダイシングテープを貼り、ダイシングテープ面を真空吸着によって吸着板にセットした。その後、実施例5に関しては波長400nmのレーザーを支持体側からウエハ全面に照射した。その後実施例2〜5に関しては、室温にて、支持体の1点をピンセットにて持ち上げることで、支持体を剥離した。50μmのウエハを割ることなく支持体を研削又は剥離できた場合を「○」で示し、割れなどの異常が発生した場合を不良と評価して「×」で示した。
上記支持体剥離性試験終了後のウエハを、ダイシングフレームに貼り付けられた状態のまま接着層を上にしてスピンコーターにセットし、洗浄溶剤としてp−メンタンとプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを質量比でp−メンタン:プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート=7:3で混合した洗浄溶剤(D−1)100mlを滴下したのち、5分間ウエハを静置させ、(B)層を膨潤させて、ウエハ加工体から分離させた。分離した(B)層を除去した後更に(D−1)を50ml滴下して2分間静置し、(A)層を完全に溶解させた。更にウエハを回転させながら30秒間イソプロピルアルコール(IPA)を噴霧にてリンスを行ったのち、窒素ブローを行ってウエハ表面を乾燥させた。その後、外観を観察して残存する接着材樹脂の有無を目視でチェックした。樹脂の残存が認められないものを良好と評価して「○」で示し、樹脂の残存が認められたもの、(B)層の分離ができなかったものを不良と評価して「×」で示した。
2…仮接着材層、
(A)…熱可塑性樹脂層(第一仮接着層)、
(B)…熱硬化性樹脂層(第二仮接着層)、
(C)…分離層(第三仮接着層)、
3…支持体。
Claims (18)
- 支持体上に仮接着材層が積層され、かつ前記仮接着材層上に、表面に回路面を有し裏面を加工すべきウエハが積層されたウエハ加工体であって、前記仮接着材層は、前記ウエハの表面に積層された熱可塑性樹脂層(A)からなる第一仮接着層と、該第一仮接着層に積層された熱硬化性樹脂層(B)からなる第二仮接着層とを含み、前記熱可塑性樹脂層(A)はウエハの加工後に洗浄溶剤(D)に対して可溶なものであり、前記熱硬化性樹脂層(B)は熱硬化後、前記洗浄溶剤(D)に対して不溶であるが前記洗浄溶剤(D)を吸収し前記洗浄溶剤(D)が浸透するものであることを特徴とするウエハ加工体。
- 前記仮接着材層は、更に、前記支持体上に積層され、かつ前記熱硬化性樹脂層(B)に積層された分離層(C)からなる第三仮接着層を含み、前記分離層(C)を介して前記ウエハ加工体から前記支持体を分離させた際、前記分離層(C)は前記熱硬化性樹脂層(B)上には残存しないものであることを特徴とする請求項1に記載のウエハ加工体。
- 前記仮接着材層は、更に、前記支持体上に積層され、かつ前記熱硬化性樹脂層(B)に積層された分離層(C)からなる第三仮接着層を含み、前記分離層(C)を介して前記ウエハ加工体から前記支持体を分離させた際、前記分離層(C)はその一部又は全部が前記熱硬化性樹脂層(B)上に残存し、かつ前記分離層(C)は前記洗浄溶剤(D)に対して可溶なものであるか、又は前記洗浄溶剤(D)に対して不溶であるが前記洗浄溶剤(D)を吸収し前記洗浄溶剤(D)が浸透するものであることを特徴とする請求項1に記載のウエハ加工体。
- 前記熱可塑性樹脂層(A)が、脂肪族炭化水素系樹脂及び芳香族炭化水素系樹脂のいずれか1種以上を含むものであることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のウエハ加工体。
- 前記熱硬化性樹脂層(B)が、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂及びフェノール樹脂のいずれか1種以上を含むものであることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のウエハ加工体。
- 前記洗浄溶剤(D)が、脂肪族炭化水素系有機溶剤、芳香族炭化水素系有機溶剤、ケトン系有機溶剤、アルコール系有機溶剤、エーテル系有機溶剤、エステル系有機溶剤、アミン系有機溶剤、アンモニウム系有機溶剤及び有機酸系有機溶剤から選ばれる1種以上の有機溶剤、又は該有機溶剤と塩基系水溶液、酸系水溶液及び水のいずれか1種以上との混合液であることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載のウエハ加工体。
- 前記分離層(C)が、熱可塑性シリコーン系材料、熱硬化性シリコーン系材料、フッ素系材料、脂肪族炭化水素系材料及び芳香族炭化水素系材料のいずれか1種以上を含むものであることを特徴とする請求項2または請求項3に記載のウエハ加工体。
- 前記支持体と前記分離層(C)の接着力、前記熱硬化性樹脂層(B)と前記分離層(C)の接着力及び前記分離層(C)の凝集破壊力のいずれか1つ以上が、前記熱可塑性樹脂層(A)と前記熱硬化性樹脂層(B)の接着力より低いものであることを特徴とする請求項2または請求項3に記載のウエハ加工体。
- 前記分離層(C)が、X線、紫外光、可視光、赤外光のいずれか、又は特定範囲の波長が混ざった光の面照射又はレーザー照射により、前記支持体と前記分離層(C)との接着力、前記熱硬化性樹脂層(B)と前記分離層(C)との接着力及び前記分離層(C)の凝集破壊力のいずれか1つ以上が低下するものであることを特徴とする請求項2または請求項3に記載のウエハ加工体。
- (a)表面に回路面を有し裏面を加工すべきウエハの表面を、ウエハの加工を行った後でも洗浄溶剤(D)に対して可溶である熱可塑性樹脂層(A)からなる第一仮接着層と、熱硬化後、前記洗浄溶剤(D)に対して不溶であるが前記洗浄溶剤(D)を吸収し前記洗浄溶剤(D)が浸透するものである熱硬化性樹脂層(B)からなる第二仮接着層とを含む仮接着材層を介して支持体に貼り合わせ、ウエハ加工体を作製する工程と、
(b)前記熱硬化性樹脂層(B)を熱硬化させる工程と、
(c)前記ウエハの裏面を研削又は研磨する工程と、
(d)前記ウエハの裏面に加工を施す工程と、
(e)前記ウエハ加工体から前記支持体を除去又は分離する工程と、
(f)前記支持体が除去又は分離された前記ウエハ加工体を前記洗浄溶剤(D)で処理することによって、前記熱可塑性樹脂層(A)の溶解及び前記熱硬化性樹脂層(B)の分離を一括処理で行う工程と、
(g)前記工程(f)を行った後、残った前記ウエハのみを取り出す工程と
を含むことを特徴とするウエハ加工方法。 - 前記仮接着材層を、更に、前記支持体上に積層され、かつ前記熱硬化性樹脂層(B)に積層された分離層(C)からなる第三仮接着層を含むものとし、前記分離層(C)を介して前記ウエハ加工体から前記支持体を分離させた際、前記分離層(C)を前記熱硬化性樹脂層(B)上には残存しないものとすることを特徴とする請求項10に記載のウエハ加工方法。
- 前記仮接着材層を、更に、前記支持体上に積層され、かつ前記熱硬化性樹脂層(B)に積層された分離層(C)からなる第三仮接着層を含むものとし、前記分離層(C)を介して前記ウエハ加工体から前記支持体を分離させた際、前記分離層(C)をその一部又は全部が前記熱硬化性樹脂層(B)上に残存するものとし、かつ前記分離層(C)を前記洗浄溶剤(D)に対して溶解するか、又は前記洗浄溶剤(D)に対して不溶であるが前記洗浄溶剤(D)を吸収し前記洗浄溶剤(D)が浸透するものとし、
前記工程(f)において、前記熱可塑性樹脂層(A)の溶解、前記熱硬化性樹脂層(B)の分離及び前記分離層(C)の溶解又は分離を一括処理で行うことを特徴とする請求項10に記載のウエハ加工方法。 - 前記熱可塑性樹脂層(A)を、脂肪族炭化水素系樹脂及び芳香族炭化水素系樹脂のいずれか1種以上を含むものとすることを特徴とする請求項10から請求項12のいずれか1項に記載のウエハ加工方法。
- 前記熱硬化性樹脂層(B)を、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂及びフェノール樹脂のいずれか1種以上を含むものとすることを特徴とする請求項10から請求項13のいずれか1項に記載のウエハ加工方法。
- 前記洗浄溶剤(D)を、脂肪族炭化水素系有機溶剤、芳香族炭化水素系有機溶剤、ケトン系有機溶剤、アルコール系有機溶剤、エーテル系有機溶剤、エステル系有機溶剤、アミン系有機溶剤、アンモニウム系有機溶剤及び有機酸系有機溶剤から選ばれる1種以上の有機溶剤、又は該有機溶剤と塩基系水溶液、酸系水溶液及び水のいずれか1種以上との混合液とすることを特徴とする請求項10から請求項14のいずれか1項に記載のウエハ加工方法。
- 前記分離層(C)を、熱可塑性シリコーン系材料、熱硬化性シリコーン系材料、フッ素系材料、脂肪族炭化水素系材料及び芳香族炭化水素系材料のいずれか1種以上を含むものとすることを特徴とする請求項11または請求項12に記載のウエハ加工方法。
- 前記支持体と前記分離層(C)の接着力、前記熱硬化性樹脂層(B)と前記分離層(C)の接着力及び前記分離層(C)の凝集破壊力のいずれか1つ以上を、前記熱可塑性樹脂層(A)と前記熱硬化性樹脂層(B)の接着力より低いものとすることを特徴とする請求項11または請求項12に記載のウエハ加工方法。
- 前記分離層(C)を、X線、紫外光、可視光、赤外光のいずれか、又は特定範囲の波長が混ざった光を、面照射又はレーザー照射することで、前記支持体と前記分離層(C)との接着力、前記熱硬化性樹脂層(B)と前記分離層(C)との接着力及び前記分離層(C)の凝集破壊力のいずれか1つ以上が低下するものとすることを特徴とする請求項11または請求項12に記載のウエハ加工方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015231309A JP6463664B2 (ja) | 2015-11-27 | 2015-11-27 | ウエハ加工体及びウエハ加工方法 |
US15/352,002 US10115622B2 (en) | 2015-11-27 | 2016-11-15 | Wafer processing laminate and method for processing wafer |
KR1020160157937A KR102728596B1 (ko) | 2015-11-27 | 2016-11-25 | 웨이퍼 가공체 및 웨이퍼 가공 방법 |
CN201611069822.0A CN107039239B (zh) | 2015-11-27 | 2016-11-25 | 晶片加工体以及晶片加工方法 |
EP16002522.7A EP3174091B1 (en) | 2015-11-27 | 2016-11-25 | Wafer processing laminate and method for processing wafer |
TW105138891A TWI703613B (zh) | 2015-11-27 | 2016-11-25 | 晶圓加工體及晶圓加工方法 |
US16/138,010 US10991611B2 (en) | 2015-11-27 | 2018-09-21 | Wafer processing laminate and method for processing wafer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015231309A JP6463664B2 (ja) | 2015-11-27 | 2015-11-27 | ウエハ加工体及びウエハ加工方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017098474A JP2017098474A (ja) | 2017-06-01 |
JP6463664B2 true JP6463664B2 (ja) | 2019-02-06 |
Family
ID=57421607
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015231309A Active JP6463664B2 (ja) | 2015-11-27 | 2015-11-27 | ウエハ加工体及びウエハ加工方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10115622B2 (ja) |
EP (1) | EP3174091B1 (ja) |
JP (1) | JP6463664B2 (ja) |
KR (1) | KR102728596B1 (ja) |
CN (1) | CN107039239B (ja) |
TW (1) | TWI703613B (ja) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6463664B2 (ja) * | 2015-11-27 | 2019-02-06 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体及びウエハ加工方法 |
KR102717412B1 (ko) * | 2016-02-08 | 2024-10-16 | 도레이 카부시키가이샤 | 수지 조성물, 수지층, 영구 접착제, 임시 점착 접착제, 적층 필름, 웨이퍼 가공체 및 전자 부품 또는 반도체 장치의 제조 방법 |
US10074626B2 (en) * | 2016-06-06 | 2018-09-11 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer laminate and making method |
JP6791086B2 (ja) * | 2016-10-11 | 2020-11-25 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ積層体、その製造方法、及びウエハ積層用接着剤組成物 |
JP6614090B2 (ja) * | 2016-10-11 | 2019-12-04 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ積層体及びその製造方法 |
JP6743738B2 (ja) * | 2017-03-27 | 2020-08-19 | 信越化学工業株式会社 | 積層体及びその製造方法 |
JP6788549B2 (ja) * | 2017-06-05 | 2020-11-25 | 信越化学工業株式会社 | 基板加工用仮接着フィルムロール、薄型基板の製造方法 |
JP6879158B2 (ja) * | 2017-10-03 | 2021-06-02 | 信越化学工業株式会社 | 半導体装置及びその製造方法、並びに積層体 |
WO2019088103A1 (ja) * | 2017-11-01 | 2019-05-09 | 日産化学株式会社 | ノボラック樹脂を剥離層として含む積層体 |
TWI675899B (zh) | 2018-04-25 | 2019-11-01 | 達興材料股份有限公司 | 暫時黏著被加工物之方法及黏著劑 |
JP7035915B2 (ja) * | 2018-09-03 | 2022-03-15 | 信越化学工業株式会社 | 薄型ウエハの製造方法 |
JP7169834B2 (ja) * | 2018-09-27 | 2022-11-11 | 東京応化工業株式会社 | 積層体処理システム及び積層体処理方法 |
JP7220135B2 (ja) * | 2018-11-01 | 2023-02-09 | 信越化学工業株式会社 | 積層体の製造方法、及び基板の製造方法 |
JP7315376B2 (ja) * | 2019-05-24 | 2023-07-26 | 東京応化工業株式会社 | 基板洗浄方法、基板洗浄装置及び基板洗浄用キット |
JP7454922B2 (ja) * | 2019-07-11 | 2024-03-25 | 信越化学工業株式会社 | 基板加工用仮接着材料及び積層体の製造方法 |
WO2021015059A1 (ja) * | 2019-07-25 | 2021-01-28 | Agc株式会社 | 積層部材 |
CN114127032B (zh) * | 2019-07-25 | 2023-04-28 | Agc株式会社 | 层叠构件 |
TWI749351B (zh) | 2019-08-08 | 2021-12-11 | 達興材料股份有限公司 | 暫時黏著組成物、暫時黏著膜、複合膜、暫時黏著被加工物之方法以及半導體晶圓封裝 |
JP7401243B2 (ja) * | 2019-09-30 | 2023-12-19 | 信越エンジニアリング株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
JP6900540B1 (ja) | 2020-04-08 | 2021-07-07 | 信越エンジニアリング株式会社 | ワーク分離装置及びワーク分離方法 |
CN111584417A (zh) * | 2020-05-29 | 2020-08-25 | 上海凯虹科技电子有限公司 | 一种晶圆的研磨方法 |
US20230321752A1 (en) * | 2021-01-21 | 2023-10-12 | Shin-Etsu Engineering Co., Ltd. | Workpiece separation device and workpiece separation method |
JP2023182384A (ja) * | 2022-06-14 | 2023-12-26 | 日東電工株式会社 | 保護シート |
TWI835575B (zh) * | 2023-03-02 | 2024-03-11 | 佳霖科技股份有限公司 | 半導體晶圓的製造方法 |
Family Cites Families (61)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09157616A (ja) * | 1995-12-08 | 1997-06-17 | Daikin Ind Ltd | 含フッ素接着剤ならびにそれを用いた接着性フィルムおよび積層体 |
JP3697052B2 (ja) * | 1997-03-26 | 2005-09-21 | キヤノン株式会社 | 基板の製造方法及び半導体膜の製造方法 |
US6740375B1 (en) * | 1999-09-08 | 2004-05-25 | Daikin Industries, Ltd. | Fluorochemical adhesive material and laminate comprising the same |
TW554398B (en) * | 2001-08-10 | 2003-09-21 | Semiconductor Energy Lab | Method of peeling off and method of manufacturing semiconductor device |
JP4565804B2 (ja) | 2002-06-03 | 2010-10-20 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 被研削基材を含む積層体、その製造方法並びに積層体を用いた極薄基材の製造方法及びそのための装置 |
US7534498B2 (en) * | 2002-06-03 | 2009-05-19 | 3M Innovative Properties Company | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
JP4370862B2 (ja) * | 2003-09-10 | 2009-11-25 | 信越半導体株式会社 | 積層基板の洗浄方法および基板の貼り合わせ方法 |
JP2006135272A (ja) | 2003-12-01 | 2006-05-25 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 基板のサポートプレート及びサポートプレートの剥離方法 |
JP2006049800A (ja) * | 2004-03-10 | 2006-02-16 | Seiko Epson Corp | 薄膜デバイスの供給体、薄膜デバイスの供給体の製造方法、転写方法、半導体装置の製造方法及び電子機器 |
WO2006093639A1 (en) | 2005-03-01 | 2006-09-08 | Dow Corning Corporation | Temporary wafer bonding method for semiconductor processing |
JP2006281670A (ja) * | 2005-04-01 | 2006-10-19 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 熱圧着用シート |
JP2006328104A (ja) | 2005-05-23 | 2006-12-07 | Jsr Corp | 接着剤組成物 |
JP4613709B2 (ja) * | 2005-06-24 | 2011-01-19 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
KR101370245B1 (ko) * | 2006-05-23 | 2014-03-05 | 린텍 가부시키가이샤 | 점접착제 조성물, 점접착 시트 및 반도체장치의 제조방법 |
EP2041782A4 (en) * | 2006-07-05 | 2014-03-26 | Univ Arizona | Method of temporarily attaching a rigid carrier to a substrate |
EP2068352A4 (en) * | 2006-10-06 | 2010-04-28 | Sumitomo Bakelite Co | FILM FOR A SEMICONDUCTOR, METHOD FOR PRODUCING A FILM FOR A SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR COMPONENT |
US7686724B2 (en) | 2007-05-17 | 2010-03-30 | American Axle & Manufacturing, Inc. | Torque transfer device with hydrostatic torque control system |
JP5522917B2 (ja) * | 2007-10-10 | 2014-06-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Soi基板の製造方法 |
JP5467720B2 (ja) * | 2007-12-28 | 2014-04-09 | リンテック株式会社 | 粘接着剤組成物、粘接着シートおよび半導体装置の製造方法 |
TWI400311B (zh) * | 2008-05-14 | 2013-07-01 | Lg Chemical Ltd | 壓敏性黏著劑組成物、壓敏性黏著板和使用彼之半導體晶圓背面研磨方法 |
JP2011040419A (ja) * | 2008-05-22 | 2011-02-24 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 半導体装置の製造方法及びそのための装置 |
JP4725638B2 (ja) * | 2008-12-09 | 2011-07-13 | カシオ計算機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP5257314B2 (ja) * | 2009-09-29 | 2013-08-07 | 大日本印刷株式会社 | 積層体、準備用支持体、積層体の製造方法、及びデバイスの製造方法 |
JP2012109538A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-06-07 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 積層体、およびその積層体の分離方法 |
JP5756334B2 (ja) * | 2010-10-29 | 2015-07-29 | 東京応化工業株式会社 | 積層体、およびその積層体の分離方法 |
JP5453228B2 (ja) * | 2010-12-09 | 2014-03-26 | 信越化学工業株式会社 | 粘着シート |
JP5348147B2 (ja) * | 2011-01-11 | 2013-11-20 | 信越化学工業株式会社 | 仮接着材組成物、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP5409695B2 (ja) * | 2011-04-26 | 2014-02-05 | 信越化学工業株式会社 | オルガノポリシロキサン、オルガノポリシロキサンを含む仮接着剤組成物、及びそれを用いた薄型ウエハの製造方法 |
WO2012176607A1 (ja) * | 2011-06-24 | 2012-12-27 | 東京応化工業株式会社 | 積層体の製造方法、基板の処理方法および積層体 |
JP5846060B2 (ja) * | 2011-07-27 | 2016-01-20 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP5592330B2 (ja) * | 2011-10-07 | 2014-09-17 | 信越化学工業株式会社 | 仮接着剤組成物、及びそれを用いた薄型ウエハの製造方法 |
JP5958262B2 (ja) * | 2011-10-28 | 2016-07-27 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
EP2810300A4 (en) * | 2012-01-30 | 2016-05-11 | 3M Innovative Properties Co | DEVICE, HYBRID LAMINATED BODY, METHOD AND MATERIALS FOR TEMPORARY SUBSTRATE CARRIER |
JP5631343B2 (ja) * | 2012-02-08 | 2014-11-26 | 東京応化工業株式会社 | 積層体の製造方法 |
US8999817B2 (en) * | 2012-02-28 | 2015-04-07 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Wafer process body, wafer processing member, wafer processing temporary adhesive material, and method for manufacturing thin wafer |
JP2013187377A (ja) * | 2012-03-08 | 2013-09-19 | Nitto Denko Corp | ダイシング・ダイボンドフィルム |
JP5983519B2 (ja) * | 2012-04-24 | 2016-08-31 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP5767161B2 (ja) * | 2012-05-08 | 2015-08-19 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用仮接着材、それを用いたウエハ加工用部材、ウエハ加工体、及び薄型ウエハの作製方法 |
JP6059631B2 (ja) * | 2012-11-30 | 2017-01-11 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6162976B2 (ja) * | 2013-02-26 | 2017-07-12 | 東京応化工業株式会社 | 基板の処理方法 |
DE112014001822T5 (de) * | 2013-04-04 | 2015-12-24 | Fuji Electric Co., Ltd. | Verfahren zum Fertigen einer Halbleitervorrichtung |
JP6224509B2 (ja) * | 2013-05-14 | 2017-11-01 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ用仮接着材料、それらを用いた仮接着用フィルム、及びウエハ加工体並びにそれらを使用した薄型ウエハの製造方法 |
US10103048B2 (en) * | 2013-08-28 | 2018-10-16 | Brewer Science, Inc. | Dual-layer bonding material process for temporary bonding of microelectronic substrates to carrier substrates |
JP6213252B2 (ja) * | 2014-01-17 | 2017-10-18 | 日立化成株式会社 | 研削された基材の製造方法、並びにこれに用いられるフィルム状粘着剤及び積層体 |
JP6130522B2 (ja) * | 2014-01-29 | 2017-05-17 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6023737B2 (ja) * | 2014-03-18 | 2016-11-09 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP2015214681A (ja) * | 2014-04-24 | 2015-12-03 | セントラル硝子株式会社 | 硬化性組成物、仮接着材およびこれらを用いた部材と基材の仮接着方法 |
JP6193813B2 (ja) | 2014-06-10 | 2017-09-06 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用仮接着材料、ウエハ加工体及びこれらを使用する薄型ウエハの製造方法 |
JP6404787B2 (ja) * | 2014-09-26 | 2018-10-17 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6225894B2 (ja) * | 2014-12-24 | 2017-11-08 | 信越化学工業株式会社 | ウエハの仮接着方法及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6325432B2 (ja) * | 2014-12-25 | 2018-05-16 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6443241B2 (ja) * | 2015-06-30 | 2018-12-26 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用仮接着材、ウエハ加工体、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6589766B2 (ja) * | 2015-08-18 | 2019-10-16 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工用接着材、ウエハ積層体及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6524972B2 (ja) * | 2015-09-28 | 2019-06-05 | Jsr株式会社 | 対象物の処理方法、仮固定用組成物、半導体装置及びその製造方法 |
JP6588404B2 (ja) * | 2015-10-08 | 2019-10-09 | 信越化学工業株式会社 | 仮接着方法及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6502824B2 (ja) * | 2015-10-19 | 2019-04-17 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 |
JP6463664B2 (ja) * | 2015-11-27 | 2019-02-06 | 信越化学工業株式会社 | ウエハ加工体及びウエハ加工方法 |
JP6788549B2 (ja) * | 2017-06-05 | 2020-11-25 | 信越化学工業株式会社 | 基板加工用仮接着フィルムロール、薄型基板の製造方法 |
US10875275B2 (en) * | 2017-08-10 | 2020-12-29 | Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. | Composition for forming separation layer, support base provided with separation layer, laminate and method of producing same, and method of producing electronic component |
JP7045765B2 (ja) * | 2018-04-16 | 2022-04-01 | 信越化学工業株式会社 | 回路付基板加工体及び回路付基板加工方法 |
JP6998838B2 (ja) * | 2018-06-04 | 2022-01-18 | 信越化学工業株式会社 | 薄型基板の製造方法 |
-
2015
- 2015-11-27 JP JP2015231309A patent/JP6463664B2/ja active Active
-
2016
- 2016-11-15 US US15/352,002 patent/US10115622B2/en active Active
- 2016-11-25 CN CN201611069822.0A patent/CN107039239B/zh active Active
- 2016-11-25 EP EP16002522.7A patent/EP3174091B1/en active Active
- 2016-11-25 TW TW105138891A patent/TWI703613B/zh active
- 2016-11-25 KR KR1020160157937A patent/KR102728596B1/ko active Active
-
2018
- 2018-09-21 US US16/138,010 patent/US10991611B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190027391A1 (en) | 2019-01-24 |
EP3174091A1 (en) | 2017-05-31 |
JP2017098474A (ja) | 2017-06-01 |
TW201732869A (zh) | 2017-09-16 |
US10115622B2 (en) | 2018-10-30 |
CN107039239A (zh) | 2017-08-11 |
TWI703613B (zh) | 2020-09-01 |
EP3174091B1 (en) | 2021-10-20 |
US10991611B2 (en) | 2021-04-27 |
US20170154801A1 (en) | 2017-06-01 |
KR102728596B1 (ko) | 2024-11-12 |
CN107039239B (zh) | 2022-01-11 |
KR20170062404A (ko) | 2017-06-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6463664B2 (ja) | ウエハ加工体及びウエハ加工方法 | |
TWI663232B (zh) | 晶圓加工體、晶圓加工用臨時接著材料、及薄型晶圓之製造方法 | |
TWI640436B (zh) | 晶圓加工體、晶圓加工用暫時性接著材及薄型晶圓之製造方法 | |
TWI673787B (zh) | 晶圓加工體、晶圓加工用暫時接著材料、及薄型晶圓之製造方法 | |
JP6225894B2 (ja) | ウエハの仮接着方法及び薄型ウエハの製造方法 | |
JP5983519B2 (ja) | ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 | |
JP5767159B2 (ja) | ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 | |
JP6404787B2 (ja) | ウエハ加工体、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 | |
JP5687230B2 (ja) | ウエハ加工体、ウエハ加工用部材、ウエハ加工用仮接着材、及び薄型ウエハの製造方法 | |
TW201726866A (zh) | 晶圓加工用接著材、晶圓層合體及薄型晶圓之製造方法 | |
TWI690579B (zh) | 晶圓加工用暫時接著材、晶圓加工體、及薄型晶圓之製造方法 | |
TW202027155A (zh) | 薄型晶圓的製造方法 | |
JP7220119B2 (ja) | 基板用仮接着剤の洗浄液、基板の洗浄方法および支持体または基板の洗浄方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171121 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180918 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180925 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181121 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181218 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190104 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6463664 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |