JP6300139B2 - 基板処理方法および基板処理システム - Google Patents
基板処理方法および基板処理システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6300139B2 JP6300139B2 JP2013025312A JP2013025312A JP6300139B2 JP 6300139 B2 JP6300139 B2 JP 6300139B2 JP 2013025312 A JP2013025312 A JP 2013025312A JP 2013025312 A JP2013025312 A JP 2013025312A JP 6300139 B2 JP6300139 B2 JP 6300139B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tmah
- chemical solution
- gas
- oxygen
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 110
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 79
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 6
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 360
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 173
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 111
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 109
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 104
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 104
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 104
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 43
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 35
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 34
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 claims description 19
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 claims description 16
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 2
- 238000012824 chemical production Methods 0.000 claims 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 85
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 83
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 10
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 10
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 8
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 239000012510 hollow fiber Substances 0.000 description 6
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 5
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N citric acid Chemical compound OC(=O)CC(O)(C(O)=O)CC(O)=O KRKNYBCHXYNGOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 239000008155 medical solution Substances 0.000 description 3
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 3
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- -1 hydrogen ions Chemical class 0.000 description 2
- GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N hydron Chemical compound [H+] GPRLSGONYQIRFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N ammonia Natural products N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- JEGUKCSWCFPDGT-UHFFFAOYSA-N h2o hydrate Chemical compound O.O JEGUKCSWCFPDGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- DKAGJZJALZXOOV-UHFFFAOYSA-N hydrate;hydrochloride Chemical compound O.Cl DKAGJZJALZXOOV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 1
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67063—Apparatus for fluid treatment for etching
- H01L21/67075—Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching
- H01L21/6708—Apparatus for fluid treatment for etching for wet etching using mainly spraying means, e.g. nozzles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F21/00—Dissolving
- B01F21/30—Workflow diagrams or layout of plants, e.g. flow charts; Details of workflow diagrams or layout of plants, e.g. controlling means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F23/00—Mixing according to the phases to be mixed, e.g. dispersing or emulsifying
- B01F23/20—Mixing gases with liquids
- B01F23/23—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids
- B01F23/232—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids using flow-mixing means for introducing the gases, e.g. baffles
- B01F23/2323—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids using flow-mixing means for introducing the gases, e.g. baffles by circulating the flow in guiding constructions or conduits
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F23/00—Mixing according to the phases to be mixed, e.g. dispersing or emulsifying
- B01F23/20—Mixing gases with liquids
- B01F23/23—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids
- B01F23/234—Surface aerating
- B01F23/2341—Surface aerating by cascading, spraying or projecting a liquid into a gaseous atmosphere
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F23/00—Mixing according to the phases to be mixed, e.g. dispersing or emulsifying
- B01F23/20—Mixing gases with liquids
- B01F23/23—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids
- B01F23/234—Surface aerating
- B01F23/2341—Surface aerating by cascading, spraying or projecting a liquid into a gaseous atmosphere
- B01F23/23411—Surface aerating by cascading, spraying or projecting a liquid into a gaseous atmosphere by cascading the liquid
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F25/00—Flow mixers; Mixers for falling materials, e.g. solid particles
- B01F25/40—Static mixers
- B01F25/42—Static mixers in which the mixing is affected by moving the components jointly in changing directions, e.g. in tubes provided with baffles or obstructions
- B01F25/43—Mixing tubes, e.g. wherein the material is moved in a radial or partly reversed direction
- B01F25/431—Straight mixing tubes with baffles or obstructions that do not cause substantial pressure drop; Baffles therefor
- B01F25/4314—Straight mixing tubes with baffles or obstructions that do not cause substantial pressure drop; Baffles therefor with helical baffles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F25/00—Flow mixers; Mixers for falling materials, e.g. solid particles
- B01F25/50—Circulation mixers, e.g. wherein at least part of the mixture is discharged from and reintroduced into a receptacle
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F25/00—Flow mixers; Mixers for falling materials, e.g. solid particles
- B01F25/50—Circulation mixers, e.g. wherein at least part of the mixture is discharged from and reintroduced into a receptacle
- B01F25/51—Circulation mixers, e.g. wherein at least part of the mixture is discharged from and reintroduced into a receptacle in which the mixture is circulated through a set of tubes, e.g. with gradual introduction of a component into the circulating flow
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K13/00—Etching, surface-brightening or pickling compositions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/30604—Chemical etching
- H01L21/30612—Etching of AIIIBV compounds
- H01L21/30617—Anisotropic liquid etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67253—Process monitoring, e.g. flow or thickness monitoring
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F23/00—Mixing according to the phases to be mixed, e.g. dispersing or emulsifying
- B01F23/20—Mixing gases with liquids
- B01F23/23—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids
- B01F23/237—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids characterised by the physical or chemical properties of gases or vapours introduced in the liquid media
- B01F23/2376—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids characterised by the physical or chemical properties of gases or vapours introduced in the liquid media characterised by the gas being introduced
- B01F23/23761—Aerating, i.e. introducing oxygen containing gas in liquids
- B01F23/237612—Oxygen
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01F—MIXING, e.g. DISSOLVING, EMULSIFYING OR DISPERSING
- B01F23/00—Mixing according to the phases to be mixed, e.g. dispersing or emulsifying
- B01F23/20—Mixing gases with liquids
- B01F23/23—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids
- B01F23/237—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids characterised by the physical or chemical properties of gases or vapours introduced in the liquid media
- B01F23/2376—Mixing gases with liquids by introducing gases into liquid media, e.g. for producing aerated liquids characterised by the physical or chemical properties of gases or vapours introduced in the liquid media characterised by the gas being introduced
- B01F23/23765—Nitrogen
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Weting (AREA)
Description
前記薬液生成工程は、前記TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度を測定する測定工程と、前記測定工程で測定された溶存酸素濃度が所定の濃度よりも高い場合に、前記TMAH含有薬液に、窒素ガスを含む窒素含有ガスを供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記窒素含有ガスを溶解させて、前記ポリシリコン膜を前記TMAH含有薬液によりエッチングする処理能力であるエッチングレートを下げる窒素溶解工程と、前記測定工程で測定された溶存酸素濃度が前記所定の濃度よりも低い場合に、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを溶解させて、前記エッチングレートを上げる酸素溶解工程とを含む。
この方法によれば、酸素ガスを含む酸素含有ガスが、TMAHを含むTMAH含有薬液に供給される。これにより、基板に供給される薬液が生成される。本願発明者らの研究によると、窒素ガスを含む窒素含有ガスをTMAH含有薬液に供給すると、TMAH含有薬液の処理能力(たとえば、単位時間当たりのエッチング量)が低下していくことが分かった。その一方で、酸素含有ガスをTMAH含有薬液に供給すると、TMAH含有薬液の処理能力が安定することが分かった。したがって、TMAH含有薬液に酸素含有ガスを溶解させることにより、処理能力の安定した基板処理用の薬液を生成できる。さらに、本願発明者らの研究によると、処理能力の低下したTMAH含有薬液に酸素含有ガスを供給すると、TMAH含有薬液の処理能力が高まることが分かった。したがって、TMAH含有薬液に酸素含有ガスを溶解させることにより、TMAH含有薬液の処理能力を回復させることができる。さらに、溶存酸素濃度が調整されたTMAH含有薬液が、基板に供給されるので、基板間での処理のばらつきを抑えることができる。
さらに、この方法によれば、TMAH含有薬液に供給されるガスが、TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度に応じて切り替えられる。すなわち、TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度がフィードバックされ、酸素含有ガスおよび窒素含有ガスの一方が、TMAH含有薬液に供給される。これにより、TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度のばらつきが抑えられる。したがって、溶存酸素濃度が均一な基板処理用の薬液が生成される。
請求項3に記載の発明は、ポリシリコン膜が最外層に形成された基板を保持する基板保持ユニットと、TMAH(水酸化テトラメチルアンモニウム)を含むTMAH含有薬液に、酸素ガスを含む酸素含有ガスを供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを溶解させる酸素溶解手段(28、228)を含む薬液生成ユニットと、前記薬液生成ユニットで生成された、前記酸素含有ガスを溶解させた前記TMAH含有薬液を案内する薬液配管と、前記薬液配管によって案内された前記TMAH含有薬液を、前記基板保持ユニットに保持されている前記基板に向けて吐出することにより、前記TMAH含有薬液を前記基板に供給して、前記ポリシリコン膜をエッチングする薬液ノズルとを含む、基板処理システムである。
前記薬液生成ユニットは、前記TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度を測定する測定手段(29)と、窒素ガスを含む窒素含有ガスを前記TMAH含有薬液に供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記窒素含有ガスを溶解させる窒素溶解手段(27、227)と、前記測定手段によって測定された溶存酸素濃度が所定の濃度よりも高い場合に、前記窒素溶解手段を制御することにより、前記TMAH含有薬液に前記窒素含有ガスを溶解させて、前記ポリシリコン膜を前記TMAH含有薬液によりエッチングする処理能力であるエッチングレートを下げ、前記測定手段によって測定された溶存酸素濃度が前記所定の濃度よりも低い場合に、前記酸素溶解手段を制御することにより、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを溶解させて、前記エッチングレートを上げる制御手段(4)とを含む。この構成によれば、請求項1の発明に関して述べた効果と同様な効果を奏することができる。
図1は、本発明の第1実施形態に係る基板処理システム1の模式図である。図2は、TMAH中の溶存酸素濃度を調整するときのフローの一例を示す図である。
図1に示すように、基板処理システム1は、薬液やリンス液などの処理液を用いて基板Wを処理する処理ユニット2と、薬液の一例であるTMAHを処理ユニット2に供給する薬液生成ユニットとしての薬液供給ユニット3と、基板処理システム1に備えられた装置やバルブの開閉を制御する制御装置4とを含む。
ドライエアーは、約80%の窒素ガスと、約20%の酸素ガスとによって構成されており、酸素ガスを含む点で、窒素ガスとは異なる。したがって、TMAHの処理能力の安定や回復は、酸素によってもたらされたと考えられる。さらに、図5に示す測定結果から、TMAHに供給されるガスの二酸化炭素の濃度は、低い方が好ましい。つまり、水に溶解することで水素イオン(H+)を発生させる酸性ガスの一例である二酸化炭素の濃度は、低い方が好ましい。ドライエアーは二酸化炭素を含むものの、その濃度は、0.0390vol%であり、極めて低い。
次に、本発明の第2実施形態について説明する。以下の図8〜図9Bにおいて、前述の図1〜図7に示された各部と同等の構成部分については、図1等と同一の参照符号を付してその説明を省略する。
図8は、本発明の第2実施形態に係る基板処理システム201の模式図である。図9Aは、ミキシングユニット242の模式図である。図9Bは、溶解ユニット243の模式図である。
本発明の第1および第2実施形態の説明は以上であるが、本発明は、第1および第2実施形態の内容に限定されるものではなく、請求項記載の範囲内において種々の変更が可能である。
たとえば、窒素溶解ユニット27、227は、図10Aおよび図10Bに示すように、タンク20内でのTMAHと窒素ガスとの接触時間を増加させることにより、TMAH中の溶存窒素量を増加させる溶解促進ユニット34を含んでいてもよい。同様に、酸素溶解ユニット28、228は、タンク20内でのTMAHと酸素ガスとの接触時間を増加させることにより、TMAH中の溶存ガス量を増加させる溶解促進ユニット34を含んでいてもよい。この場合、溶解促進ユニット34は、タンク20内でTMAHを上向きに噴射する噴水ユニット35(図10A参照)を含んでいてもよいし、フィンユニット36(図10B参照)を含んでいてもよいし、噴水ユニット35およびフィンユニット36の両方を含んでいてもよい。
また、第1および第2実施形態では、溶存ガスセンサーが、薬液供給ユニットに設けられている場合について説明した。しかし、TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度の測定を行わない場合には、薬液供給ユニットは、溶存ガスセンサーを備えていなくてもよい。
2 :処理ユニット
3 :薬液供給ユニット(薬液生成ユニット)
4 :制御装置(制御手段)
27 :窒素溶解ユニット(窒素溶解手段)
28 :酸素溶解ユニット(酸素溶解手段)
29 :溶存ガスセンサー(測定手段)
201 :基板処理システム
203 :薬液供給ユニット(薬液生成ユニット)
227 :窒素溶解ユニット(窒素溶解手段)
228 :酸素溶解ユニット(酸素溶解手段)
W :基板
Claims (3)
- TMAH(水酸化テトラメチルアンモニウム)を含むTMAH含有薬液に、酸素ガスを含む酸素含有ガスを供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを溶解させる薬液生成工程と、
前記酸素含有ガスを溶解させた前記TMAH含有薬液を薬液配管によって案内する薬液案内工程と、
前記薬液配管によって案内された前記TMAH含有薬液を、ポリシリコン膜が最外層に形成された基板に向けて薬液ノズルから吐出することにより、前記TMAH含有薬液を前記基板に供給して、前記ポリシリコン膜をエッチングするTMAH供給工程を含む基板処理工程とを含み、
前記薬液生成工程は、
前記TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度を測定する測定工程と、
前記測定工程で測定された溶存酸素濃度が所定の濃度よりも高い場合に、前記TMAH含有薬液に、窒素ガスを含む窒素含有ガスを供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記窒素含有ガスを溶解させて、前記ポリシリコン膜を前記TMAH含有薬液によりエッチングする処理能力であるエッチングレートを下げる窒素溶解工程と、
前記測定工程で測定された溶存酸素濃度が前記所定の濃度よりも低い場合に、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを溶解させて、前記エッチングレートを上げる酸素溶解工程とを含む、基板処理方法。 - 前記基板処理工程は、
前記TMAH供給工程の前に、フッ酸を前記基板に供給するフッ酸供給工程と、
前記TMAH供給工程の前であって前記フッ酸供給工程の後に、純水を前記基板に供給することにより前記基板上のフッ酸を洗い流す純水供給工程とをさらに含む、請求項1に記載の基板処理方法。 - ポリシリコン膜が最外層に形成された基板を保持する基板保持ユニットと、
TMAH(水酸化テトラメチルアンモニウム)を含むTMAH含有薬液に、酸素ガスを含む酸素含有ガスを供給することにより、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを溶解させる酸素溶解手段を含む薬液生成ユニットと、
前記薬液生成ユニットで生成された、前記酸素含有ガスを溶解させた前記TMAH含有薬液を案内する薬液配管と、
前記薬液配管によって案内された前記TMAH含有薬液を、前記基板保持ユニットに保持されている前記基板に向けて吐出することにより、前記TMAH含有薬液を前記基板に供給して、前記ポリシリコン膜をエッチングする薬液ノズルとを含み、
前記薬液生成ユニットは、
前記TMAH含有薬液中の溶存酸素濃度を測定する測定手段と、
窒素ガスを含む窒素含有ガスを前記TMAH含有薬液に供給することにより、前記TM
AH含有薬液に前記窒素含有ガスを溶解させる窒素溶解手段と、
前記測定手段によって測定された溶存酸素濃度が所定の濃度よりも高い場合に、前記窒素溶解手段を制御することにより、前記TMAH含有薬液に前記窒素含有ガスを溶解させて、前記ポリシリコン膜を前記TMAH含有薬液によりエッチングする処理能力であるエッチングレートを下げ、前記測定手段によって測定された溶存酸素濃度が前記所定の濃度よりも低い場合に、前記酸素溶解手段を制御することにより、前記TMAH含有薬液に前記酸素含有ガスを溶解させて、前記エッチングレートを上げる制御手段とを含む、基板処理システム。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013025312A JP6300139B2 (ja) | 2012-05-15 | 2013-02-13 | 基板処理方法および基板処理システム |
US13/835,073 US20130306238A1 (en) | 2012-05-15 | 2013-03-15 | Chemical liquid preparation method of preparing a chemical liquid for substrate processing, chemical liquid preparation unit preparing a chemical liquid for substrate processing, and substrate processing system |
KR1020130029705A KR101505266B1 (ko) | 2012-05-15 | 2013-03-20 | 기판 처리용 약액 생성 방법, 기판 처리용 약액 생성 유닛, 및 기판 처리 시스템 |
TW102109864A TWI517232B (zh) | 2012-05-15 | 2013-03-20 | 基板處理用之藥液生成方法,基板處理用之藥液生成單元及基板處理系統 |
CN201310093532.XA CN103426795B (zh) | 2012-05-15 | 2013-03-22 | 基板处理用的药液生成方法、生成单元及基板处理系统 |
US15/630,387 US10186435B2 (en) | 2012-05-15 | 2017-06-22 | Chemical liquid preparation method of preparing a chemical liquid for substrate processing, chemical liquid preparation unit preparing a chemical liquid for substrate processing, and substrate processing system |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012111758 | 2012-05-15 | ||
JP2012111758 | 2012-05-15 | ||
JP2013025312A JP6300139B2 (ja) | 2012-05-15 | 2013-02-13 | 基板処理方法および基板処理システム |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017176835A Division JP6435385B2 (ja) | 2012-05-15 | 2017-09-14 | 基板処理用の薬液生成方法、基板処理用の薬液生成ユニット、基板処理方法、および基板処理システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013258391A JP2013258391A (ja) | 2013-12-26 |
JP6300139B2 true JP6300139B2 (ja) | 2018-03-28 |
Family
ID=49580319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013025312A Active JP6300139B2 (ja) | 2012-05-15 | 2013-02-13 | 基板処理方法および基板処理システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20130306238A1 (ja) |
JP (1) | JP6300139B2 (ja) |
KR (1) | KR101505266B1 (ja) |
CN (1) | CN103426795B (ja) |
TW (1) | TWI517232B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11439967B2 (en) | 2017-09-22 | 2022-09-13 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Chemical liquid preparation method, chemical liquid preparation device, and substrate processing device |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6300139B2 (ja) | 2012-05-15 | 2018-03-28 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理システム |
JP5911757B2 (ja) * | 2012-06-08 | 2016-04-27 | ソニー株式会社 | 基板処理方法、基板処理装置、および記録媒体 |
JP6010457B2 (ja) * | 2012-12-28 | 2016-10-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置および薬液回収方法 |
TWI630652B (zh) * | 2014-03-17 | 2018-07-21 | 斯克林集團公司 | 基板處理裝置及使用基板處理裝置之基板處理方法 |
CN104979236B (zh) * | 2014-04-11 | 2017-09-26 | 沈阳芯源微电子设备有限公司 | 一种化学液供给装置及其供给方法 |
JP6499414B2 (ja) | 2014-09-30 | 2019-04-10 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
TWI582827B (zh) * | 2015-06-11 | 2017-05-11 | 亞智科技股份有限公司 | 製程設備與製程設備降溫方法 |
JP6618113B2 (ja) * | 2015-11-02 | 2019-12-11 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
US10256163B2 (en) | 2015-11-14 | 2019-04-09 | Tokyo Electron Limited | Method of treating a microelectronic substrate using dilute TMAH |
WO2017189148A1 (en) * | 2016-04-25 | 2017-11-02 | Applied Materials, Inc. | Coolant and a method to control the ph and resistivity of coolant used in a heat exchanger |
JP6815873B2 (ja) | 2017-01-18 | 2021-01-20 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP6917807B2 (ja) * | 2017-07-03 | 2021-08-11 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理方法 |
JP6979852B2 (ja) * | 2017-10-26 | 2021-12-15 | 株式会社Screenホールディングス | 処理液供給装置、基板処理装置、および処理液供給方法 |
JP6993885B2 (ja) * | 2018-01-15 | 2022-01-14 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP7096004B2 (ja) * | 2018-02-07 | 2022-07-05 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP7089902B2 (ja) * | 2018-02-28 | 2022-06-23 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置、基板処理装置における処理液排出方法、基板処理装置における処理液交換方法、基板処理装置における基板処理方法 |
JP7064905B2 (ja) * | 2018-03-05 | 2022-05-11 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP7023763B2 (ja) * | 2018-03-23 | 2022-02-22 | 株式会社Screenホールディングス | 処理液供給装置、基板処理装置および処理液供給方法 |
JP7085392B2 (ja) * | 2018-04-11 | 2022-06-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP7137959B2 (ja) * | 2018-04-20 | 2022-09-15 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP7072453B2 (ja) * | 2018-06-29 | 2022-05-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、および基板処理方法 |
WO2020044789A1 (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP7170578B2 (ja) | 2018-08-31 | 2022-11-14 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP7176936B2 (ja) * | 2018-11-21 | 2022-11-22 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
WO2020145002A1 (ja) * | 2019-01-10 | 2020-07-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、および基板処理方法 |
JP7126468B2 (ja) | 2019-03-20 | 2022-08-26 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理装置 |
US12053745B2 (en) * | 2019-09-12 | 2024-08-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | System for storing chemical liquid and method for adjusting gas concentration in chemical liquid |
TWI772727B (zh) * | 2019-12-26 | 2022-08-01 | 日月光半導體製造股份有限公司 | 半導體元件之清潔裝置 |
CN111599730A (zh) * | 2020-06-22 | 2020-08-28 | 上海华力微电子有限公司 | 刻蚀液供给装置及方法 |
JP7486372B2 (ja) | 2020-07-29 | 2024-05-17 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、及び基板処理方法 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6082373A (en) | 1996-07-05 | 2000-07-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Cleaning method |
TW535216B (en) | 1996-09-13 | 2003-06-01 | Tokyo Electron Ltd | Photoresist processing method and photoresist processing system |
JP3290385B2 (ja) * | 1996-09-13 | 2002-06-10 | 東京エレクトロン株式会社 | レジスト処理方法及びレジスト処理装置 |
KR19980024624U (ko) | 1996-10-31 | 1998-07-25 | 양재신 | 차량용 커텐 |
US6149828A (en) | 1997-05-05 | 2000-11-21 | Micron Technology, Inc. | Supercritical etching compositions and method of using same |
JP2000279902A (ja) | 1999-03-30 | 2000-10-10 | Nomura Micro Sci Co Ltd | 基板の洗浄方法 |
JP2000315670A (ja) | 1999-04-30 | 2000-11-14 | Nec Corp | 半導体基板の洗浄方法 |
JP3489555B2 (ja) * | 2000-09-22 | 2004-01-19 | ヤマハ株式会社 | シリコン残渣除去方法 |
WO2002027775A1 (fr) * | 2000-09-28 | 2002-04-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Procede et appareil de traitement de plaquettes |
JP4015823B2 (ja) | 2001-05-14 | 2007-11-28 | 株式会社東芝 | アルカリ現像液の製造方法,アルカリ現像液,パターン形成方法,レジスト膜の剥離方法,及び薬液塗布装置 |
JP3497841B2 (ja) * | 2001-06-01 | 2004-02-16 | 長瀬産業株式会社 | 現像廃液再生装置及び現像廃液再生方法 |
US20050271985A1 (en) | 2004-06-07 | 2005-12-08 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method, apparatus and system for rinsing substrate with pH-adjusted rinse solution |
JP4484639B2 (ja) * | 2004-09-06 | 2010-06-16 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理方法および基板処理装置 |
JP4723268B2 (ja) | 2005-03-23 | 2011-07-13 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
KR101070204B1 (ko) | 2006-02-01 | 2011-10-06 | 자이단호진 고쿠사이카가쿠 신고우자이단 | 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 표면의 마이크로러프니스 저감 방법 |
JP2007256666A (ja) * | 2006-03-23 | 2007-10-04 | Nec Lcd Technologies Ltd | 基板処理方法及びそれに用いる薬液 |
JP5145654B2 (ja) * | 2006-05-29 | 2013-02-20 | 日本電気株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
US20100294306A1 (en) | 2007-12-04 | 2010-11-25 | Mitsubishi Chemical Corporation | Method and solution for cleaning semiconductor device substrate |
JP5251184B2 (ja) | 2008-03-14 | 2013-07-31 | 栗田工業株式会社 | ガス溶解水供給システム |
JP2009260020A (ja) | 2008-04-16 | 2009-11-05 | Kurita Water Ind Ltd | 電子材料用洗浄水、電子材料の洗浄方法及びガス溶解水の供給システム |
JP6300139B2 (ja) | 2012-05-15 | 2018-03-28 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理方法および基板処理システム |
-
2013
- 2013-02-13 JP JP2013025312A patent/JP6300139B2/ja active Active
- 2013-03-15 US US13/835,073 patent/US20130306238A1/en not_active Abandoned
- 2013-03-20 TW TW102109864A patent/TWI517232B/zh active
- 2013-03-20 KR KR1020130029705A patent/KR101505266B1/ko active Active
- 2013-03-22 CN CN201310093532.XA patent/CN103426795B/zh active Active
-
2017
- 2017-06-22 US US15/630,387 patent/US10186435B2/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11439967B2 (en) | 2017-09-22 | 2022-09-13 | SCREEN Holdings Co., Ltd. | Chemical liquid preparation method, chemical liquid preparation device, and substrate processing device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130127914A (ko) | 2013-11-25 |
JP2013258391A (ja) | 2013-12-26 |
US10186435B2 (en) | 2019-01-22 |
TW201347022A (zh) | 2013-11-16 |
US20130306238A1 (en) | 2013-11-21 |
CN103426795A (zh) | 2013-12-04 |
CN103426795B (zh) | 2016-06-08 |
KR101505266B1 (ko) | 2015-03-23 |
US20170294323A1 (en) | 2017-10-12 |
TWI517232B (zh) | 2016-01-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6300139B2 (ja) | 基板処理方法および基板処理システム | |
TWI553888B (zh) | 基板處理裝置及基板處理方法 | |
JP6435385B2 (ja) | 基板処理用の薬液生成方法、基板処理用の薬液生成ユニット、基板処理方法、および基板処理システム | |
US20180096863A1 (en) | Substrate processing method, substrate processing apparatus, and storage medium | |
JP2018117032A (ja) | 基板処理装置 | |
KR20190034079A (ko) | 약액 생성 방법, 약액 생성 장치 및 기판 처리 장치 | |
KR102126116B1 (ko) | 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치 | |
KR102006061B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
US9117854B2 (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing method, and storage medium storing a computer program for performing substrate processing method | |
US10458010B2 (en) | Substrate liquid processing apparatus, substrate liquid processing method, and storage medium | |
US20060021634A1 (en) | Method and apparatus for creating ozonated process solutions having high ozone concentration | |
JP6571942B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP5194044B2 (ja) | 処理液供給装置および処理液供給方法 | |
JP2020088085A (ja) | 基板処理方法および基板処理装置 | |
JP7546620B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
TWI873624B (zh) | 基板處理裝置以及基板處理方法 | |
US20240170297A1 (en) | Substrate treating method and substrate treating apparatus | |
JP6939960B1 (ja) | ウェハ洗浄水供給装置 | |
JP2009040656A (ja) | 炭酸水の製造装置、製造方法及び電子材料部材の洗浄方法 | |
KR20240041253A (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
JP2005103455A (ja) | 廃液処理機構およびこれを適用した基板処理装置 | |
JP2013008976A (ja) | 電子材料部材の洗浄方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20151215 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161104 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161110 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170518 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20170710 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170914 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180201 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180216 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6300139 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |