JP5943192B2 - 物理量センサーおよびその製造方法、並びに電子機器 - Google Patents
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Description
本適用例に係る物理量センサーは、
基板と、
前記基板上に設けられ、第1可動電極部を有している第1可動体と、
前記基板上に、前記第1可動電極部と対向して配置されている第1固定電極部と、
前記基板上に設けられ、第2可動電極部を有している第2可動体と、
前記基板上に、前記第2可動電極部と対向して配置されている第2固定電極部と、
を含み、
前記基板には、平面視において前記第1可動体と前記第2可動体との間に位置する部分に、前記基板の主面よりも突出しているポスト部が設けられている。
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記基板には凹部が設けられ、
前記凹部の底面に前記第1固定電極部と前記第2固定電極部が設けられていてもよい。
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記ポスト部の高さは、前記凹部の側壁の高さと同じであってもよい。
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記ポスト部は、前記凹部の側壁に接続され、
前記ポスト部を境にして、前記凹部は、第1凹部と第2凹部とを有し、
前記第1凹部上に前記第1可動体が設けられ、
前記第2凹部上に前記第2可動体が設けられていてもよい。
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記基板上に載置され、前記第1可動体および前記第2可動体を収容する蓋体を含み、
前記蓋体は、前記ポスト部に接合されていてもよい。
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記ポスト部に接合され、前記第1可動体および前記第2可動体の少なくとも一方と対向して配置されているストッパー部を含んでいてもよい。
本適用例に係る物理量センサーにおいて、
前記基板の材質は、ガラスであり、
前記第1可動体および前記第2可動体の材質は、シリコンであってもよい。
本適用例に係る物理量センサーの製造方法は、
凹部と、前記凹部の底面よりも突出しているポスト部と、が設けられている第1基板を用意する工程と、
前記第1基板の前記凹部の側壁上および前記ポスト部上に第2基板を接合する工程と、
前記第2基板を加工して、平面視で前記ポスト部を境にして、一方側に第1可動体を形成し、他方側に第2可動体を形成する工程と、
を含む。
本適用例に係る物理量センサーの製造方法は、
第1基板上に、側壁と、ポスト部を形成する工程と、
前記第1基板の前記側壁上および前記ポスト部上に第2基板を接合する工程と、
前記第2基板を加工して、平面視で前記ポスト部を境にして、一方側に第1可動体を形成し、他方側に第2可動体を形成する工程と、
を含む。
本適用例に係る物理量センサーの製造方法において、
前記基板上の前記第1可動体と対向する位置に第1固定電極部を形成し、前記第2可動体と対向する位置に第2固定電極部を形成する工程を含んでもよい。
本適用例に係る電子機器は、
本適用例に係る物理量センサーを含む。
1.1. 物理量センサー
まず、第1の実施形態に係る物理量センサーについて、図面を参照しながら説明する。図1は、第1の実施形態に係る物理量センサー100を模式的に示す平面図である。図2は、第1の実施形態に係る物理量センサー100を模式的に示す図1のII−II線断面図である。なお、便宜上、図1では、蓋体50の図示を省略している。また、図1および図2では、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、Z軸を図示している。
次に、第1の実施形態に係る物理量センサーの製造方法について、図面を参照しながら説明する。図3〜図5は、第1の実施形態に係る物理量センサー100の製造工程を模式的に示す断面図である。
ことにより、可動体20、梁部30,32、固定部34,36が一体的に形成される。また、本工程において、例えば、ポスト部16の上面(シリコン基板110が接合されていた面)は、露出される。
2.1. 物理量センサー
次に、第2の実施形態に係る物理量センサーについて、図面を参照しながら説明する。図6は、第2の実施形態に係る物理量センサー200を模式的に示す平面図である。図7は、第2の実施形態に係る物理量センサー200を模式的に示す図6のVII−VII線断面図である。なお、便宜上、図6では、蓋体50の図示を省略している。また、図6および図7では、互いに直交する3つの軸として、X軸、Y軸、Z軸を図示している。
次に、第2の実施形態に係る物理量センサーの製造方法について、図面を参照しながら説明する。図8〜図10は、第2の実施形態に係る物理量センサー200の製造工程を模式的に示す断面図である。
次に、第3の実施形態に係る電子機器について、図面を参照しながら説明する。第3の実施形態に係る電子機器は、本発明に係る物理量センサーを含む。以下では、本発明に係る物理量センサーとして、物理量センサー100を含む電子機器について、説明する。
Claims (10)
- 基板と、
前記基板上に設けられ、第1可動電極部を有している第1可動体と、
前記基板上に、前記第1可動電極部と対向して配置されている第1固定電極部と、
前記基板上に設けられ、第2可動電極部を有している第2可動体と、
前記基板上に、前記第2可動電極部と対向して配置されている第2固定電極部と、
を含み、
前記基板には、平面視において前記第1可動体と前記第2可動体との間に位置する部分に、前記基板の主面よりも突出しているポスト部が設けられ、
前記基板には、凹部が設けられ、
前記ポスト部は、前記凹部の側壁と離間して設けられている、物理量センサー。 - 請求項1において、
前記凹部の底面に前記第1固定電極部と前記第2固定電極部が設けられている、物理量センサー。 - 請求項1または2において、
前記ポスト部の高さは、前記凹部の側壁の高さと同じである、物理量センサー。 - 請求項1ないし3のいずれか1項において、
前記基板上に載置され、前記第1可動体および前記第2可動体を収容する蓋体を含み、
前記蓋体は、前記ポスト部に接合されている、物理量センサー。 - 請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記ポスト部に接合され、前記第1可動体および前記第2可動体の少なくとも一方と対向して配置されているストッパー部を含む、物理量センサー。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記基板の材質は、ガラスであり、
前記第1可動体および前記第2可動体の材質は、シリコンである、物理量センサー。 - 凹部と、前記凹部の底面よりも突出しているポスト部と、が設けられている第1基板を用意する工程と、
前記第1基板の前記凹部の側壁上および前記ポスト部上に第2基板を接合する工程と、
前記第2基板を加工して、平面視で前記ポスト部を境にして、一方側に第1可動体を形成し、他方側に第2可動体を形成する工程と、
を含み、
前記ポスト部は、前記凹部の側壁と離間して形成される、物理量センサーの製造方法。 - 第1基板上に、側壁と、ポスト部を形成する工程と、
前記第1基板の前記側壁上および前記ポスト部上に第2基板を接合する工程と、
前記第2基板を加工して、平面視で前記ポスト部を境にして、一方側に第1可動体を形成し、他方側に第2可動体を形成する工程と、
を含み、
前記ポスト部は、前記凹部の側壁と離間して形成される、物理量センサーの製造方法。 - 請求項7または8において、
前記基板上の前記第1可動体と対向する位置に第1固定電極部を形成し、前記第2可動体と対向する位置に第2固定電極部を形成する工程を含む、物理量センサーの製造方法。 - 請求項1ないし6のいずれか1項に記載の物理量センサーを含む、電子機器。
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JP6816603B2 (ja) * | 2017-03-27 | 2021-01-20 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサー、電子機器、および移動体 |
JP6897224B2 (ja) * | 2017-03-27 | 2021-06-30 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサー、電子機器、および移動体 |
JP6911645B2 (ja) * | 2017-08-30 | 2021-07-28 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサー、物理量センサーの製造方法、複合センサー、慣性計測ユニット、携帯型電子機器、電子機器及び移動体 |
JP2019060675A (ja) * | 2017-09-26 | 2019-04-18 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサー、物理量センサー装置、電子機器、および移動体 |
US10759656B2 (en) * | 2017-09-29 | 2020-09-01 | Apple Inc. | MEMS sensor with dual pendulous proof masses |
JP2020024098A (ja) * | 2018-08-06 | 2020-02-13 | セイコーエプソン株式会社 | 物理量センサー、センサーデバイス、電子機器、および移動体 |
DE102018213746A1 (de) * | 2018-08-15 | 2020-02-20 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanischer Inertialsensor |
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EP4116718A1 (en) * | 2021-07-05 | 2023-01-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Seesaw accelerometer |
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FR2617607B1 (fr) * | 1987-06-30 | 1989-12-01 | Applic Gles Electrici Meca | Accelerometre pendulaire a reequilibrage et procede de fabrication d'un tel accelerometre |
US5488864A (en) | 1994-12-19 | 1996-02-06 | Ford Motor Company | Torsion beam accelerometer with slotted tilt plate |
JP3405108B2 (ja) | 1997-01-24 | 2003-05-12 | 株式会社村田製作所 | 外力計測装置およびその製造方法 |
DE19930779B4 (de) * | 1999-07-03 | 2010-05-06 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanisches Bauelement |
JP3435665B2 (ja) * | 2000-06-23 | 2003-08-11 | 株式会社村田製作所 | 複合センサ素子およびその製造方法 |
US20070220973A1 (en) | 2005-08-12 | 2007-09-27 | Cenk Acar | Multi-axis micromachined accelerometer and rate sensor |
ITTO20070033A1 (it) | 2007-01-19 | 2008-07-20 | St Microelectronics Srl | Dispositivo microelettromeccanico ad asse z con struttura di arresto perfezionata |
TW200839242A (en) * | 2007-02-02 | 2008-10-01 | Alps Electric Co Ltd | Electrostatic capacitance type acceleration sensor |
US7578190B2 (en) * | 2007-08-03 | 2009-08-25 | Freescale Semiconductor, Inc. | Symmetrical differential capacitive sensor and method of making same |
US8079262B2 (en) * | 2007-10-26 | 2011-12-20 | Rosemount Aerospace Inc. | Pendulous accelerometer with balanced gas damping |
DE102008042357A1 (de) | 2008-09-25 | 2010-04-01 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanischer Sensor mit symmetrischem Flächenaufbau bei asymmetrischer Massenverteilung |
US9261530B2 (en) * | 2009-11-24 | 2016-02-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Acceleration sensor |
CN202177638U (zh) * | 2011-07-12 | 2012-03-28 | 东南大学 | 一种微电子加速度传感器 |
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