[go: up one dir, main page]

JP5798709B2 - 光フィルター及びそれを備えた光モジュール - Google Patents

光フィルター及びそれを備えた光モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP5798709B2
JP5798709B2 JP2009050791A JP2009050791A JP5798709B2 JP 5798709 B2 JP5798709 B2 JP 5798709B2 JP 2009050791 A JP2009050791 A JP 2009050791A JP 2009050791 A JP2009050791 A JP 2009050791A JP 5798709 B2 JP5798709 B2 JP 5798709B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
optical filter
light
mirrors
mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009050791A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010204457A (ja
Inventor
舩坂 司
司 舩坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2009050791A priority Critical patent/JP5798709B2/ja
Priority to US12/710,426 priority patent/US8319169B2/en
Publication of JP2010204457A publication Critical patent/JP2010204457A/ja
Priority to US13/655,963 priority patent/US8618463B2/en
Priority to US14/086,292 priority patent/US8937276B2/en
Priority to US14/557,723 priority patent/US9459387B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5798709B2 publication Critical patent/JP5798709B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B1/00Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
    • G02B1/10Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0006Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means to keep optical surfaces clean, e.g. by preventing or removing dirt, stains, contamination, condensation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • G02B5/28Interference filters

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

本発明は、光フィルター及びそれを備えた光モジュールに関するものである。
従来、入射光の全波長の中から目的とする波長の光を選択して射出させる光フィルターとして、一対の基板を対向配置し、これら基板の対向する面のそれぞれにミラーを設け、これらのミラーの周囲にそれぞれ電極を設けるとともに、一方のミラーの周囲にダイアフラム部を設け、これら電極間の静電力によりダイアフラム部を変位させてこれらのミラー間のギャップ(エアーギャップ)を変化させることで、所望の波長の光を取り出すエアギャップ型かつ静電駆動型の光フィルターが知られている。(例えば特許文献1、特許文献2参照)。
この種の光フィルターでは、ミラー間のギャップを変化させることによりミラー間ギャップに対応した波長の光を選択的に取り出すことができる。
特開2003−57438号公報 特開2008−116669号公報
ところで、従来のエアギャップ型かつ静電駆動型の光フィルターでは、ミラー間の平行度やミラーの平坦度が低下すると、取り出した光の分光特性が低下するために、一対のミラーを平行かつ平坦に保持することが光フィルターの特性を維持する上で重要となる。そして、このような光フィルターから一度に取り出すことができる波長は単一波長であり、例えば光センサーの分光部として使用した場合には、測定すべき波長領域全体を順次走査することとなり、測定に時間がかかるという問題点があった。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、一度に複数の波長を個別かつ同時に分光できる光フィルター及びそれを備えた光モジュールを提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明の光フィルターは、互いに対向配置された第1の基板および第2の基板と、前記第2の基板の前記第1の基板対向する面に形成された高さの異なる複数の段部からなる複数の光透過部と、前記複数の光透過部の各々における前記第1の基板および前記第2の基板の対向する面に異なる大きさのギャップを介してそれぞれ設けられた複数対のミラーと、前記複数対のミラーの周囲に設けられた一対の電極と、前記複数対のミラーの中で前記第1の基板に設けられた複数のミラーの周囲に設けられたダイアフラム部と、を備え、前記第1の基板に設けられた複数のミラーが、前記第2の基板に対して変位可能な前記第1の基板の同一平面上に設けられていることを特徴とする。
本発明に係る光フィルターでは、第1の基板および第2の基板の対向する面の少なくとも一方に高さの異なる段部からなる複数の光透過部を設けることにより、第1の基板および第2の基板間で異なる大きさのギャップを複数個形成できる。そして、これらのギャップを介して複数対のミラーを各光透過部の第1の基板および第2の基板の対向する面に設けることで、互いに異なる大きさのギャップを介在した複数対のミラーを備えた光フィルターとすることができる。
エアギャップ型の光フィルターにおいては、対になったミラー間のギャップの大きさによりミラー間を透過できる光の波長が決まるので、互いに異なる大きさのギャップを介在した複数対のミラーを備えることにより、各対のミラーで互いに異なる波長の光を個別かつ同時に取り出すことができる。このように、一つの光フィルターに複数対のミラーを設けることで、互いに干渉することなく、複数個の波長を個別かつ同時に分光できる光フィルターを提供することができる。
本発明の光フィルターは、前記第1の基板および前記第2の基板が、光透過性を有する材料からなることが望ましい。
この光フィルターによれば、第1の基板および第2の基板が光透過性を有する材料で構成されているため、基板における光の透過率が向上し、取り出した光の強度が高くなる。よって、光の取り出し効率が向上する。
本発明の光フィルターは、前記第1の基板および前記第2の基板のいずれか一方が半導体材料である構成としても良い。
この光フィルターによれば、第1の基板および第2の基板のいずれか一方が半導体材料であるため、入射光として、この半導体材料を透過可能な波長の電磁波、例えば近赤外線を用いることが可能となる。よって、入射光の波長の幅が増大する。
本発明の光モジュールは、上記本発明の光フィルターと、前記光フィルターを透過した光を受光する受光素子と、を備えてなることを特徴とする。
この光モジュールでは、本発明の光フィルターを備えたことにより、互いに干渉することなく、一度に複数個の波長を個別かつ同時に分光できる光モジュールを提供することができる。
よって、一つの光モジュールで幅広い波長領域をセンシングできることとなり、従来、複数個の光フィルターが必要であった場合に比べて、装置の小型化が可能となる。
また、本発明に係る光モジュールを例えば光センサーの分光部として使用した場合には、測定すべき全波長領域を複数の小領域に分割し、この各小領域をそれぞれのミラー対に割り当て、この小領域を各ミラー対で同時に走査できる。よって、一時に複数の波長領域のセンシングが可能となることで、測定および検知に要する処理時間を短くすることができる。
本発明の光モジュールにおいて、前記受光素子が、前記複数の光透過部の各々に対応して複数個設けられた構成であることが望ましい。
複数の光透過部の各々に対応して複数個の受光素子が設けられたことにより、1つの受光素子が受け持つ波長域を狭くすることができる。
本発明の一実施形態の光フィルターを示す概略平面図である。 本発明の一実施形態の光フィルターを示す概略断面図である。 本発明の一実施形態の光フィルターにおける波長と透過率との関係を示す図である。 本発明の一実施形態の光センサーを示す概略断面図である。 本発明の光モジュールの一実施形態を示す概略構成図である。
本発明の光フィルター及びそれを備えた光モジュールを実施するための最良の形態について説明する。
ここでは、光フィルターとして、エアギャップ型かつ静電駆動型の光フィルターについて説明する。
なお、以下の説明においては、XYZ直交座標系を設定し、必要に応じて、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部材の位置関係について説明することとする。その場合に、水平面内の所定方向をX軸方向、水平面内かつX軸方向と直交する方向をY軸方向、X軸方向及びY軸方向と直交する方向(すなわち鉛直方向)をZ軸方向とする。
図1は、本実施形態の光フィルターを示す平面図、図2は同光フィルターを示す断面図である。図1および図2において、符号1はエアギャップ型で静電駆動型のエタロン素子からなる光フィルターである。
本実施形態の光フィルター1は、第1の基板2と、第1の基板2に対向した状態で接合(または接着)された第2の基板3と、第1の基板2及び第2の基板3のそれぞれ対向する側の面2a、3aの中央部に設けられた円形状の第1のミラー対4と、この第1のミラー対4の周囲に設けられた円環状の第2のミラー対5と、第2のミラー対5の周囲に設けられた円環状の電極対6と、ダイアフラム部7とを、備えている。
第1のミラー対4および第2のミラー対5は、それぞれ互いに対向する一対のミラーからなり、第1のミラー対4及び第2のミラー対5のうち、変形可能な第1の基板2に配置されたものを可動ミラー4A、5Aと称し、変形しない第2の基板3に配置されたものを固定ミラー4B、5Bと称する。
第1の基板2の対向面2aの周縁部には段部21が形成されており、この段部21によって、凹部からなる可動部22が形成され、この可動部22内に第1の可動ミラー4Aと第2のミラー可動5Aと電極6Aとが収容されている。
第2の基板3の対向面3aの中央部には円形をなす第1の段部31が形成されており、この第1の段部31による凹部からなる第1の段差部32(光透過部)が形成されている。また、第2の基板3の対向面3aの周縁部には、第1の段差部32と同心円環状の第2の段部33が形成されており、この第2の段部33による凹部からなる第2の段差部34が形成されている。
対向面3aに設けられた上記二つの凹部に挟まれた部分、すなわち第1の段差部32と第2の段差部34との境界部には自ずと円環状の凸部からなる第3の段部35が形成され、第3の段差部36(光透過部)が設けられている。
可動段差部22、第1の段差部32、第2の段差部34、第3の段差部36の底面および天井面は、互いに平行になっており、各段差部に配置された第1のミラー対4、第2のミラー対5および電極対6がそれぞれのギャップを介して互いに平行に保持されている。
第1の段差部32の底部には、第1の可動ミラー4Aと対向して対をなすように第1の固定ミラー4Bが第1のギャップG1を介して配置されている。これと同様に、第3の段差部36の天井面には、第2の可動ミラー5Aに対向して対をなすように第2の固定ミラー5Bが第2のギャップG2を介して配置されている。また、第2の段差部34の底部には、可動電極6Aに対向して対をなすように固定電極6Bが第3のギャップG3を介してそれぞれ配置されている。
第1の基板の外側面2bには、可動電極6Aの外周部とほぼ対応する位置にエッチング(選択除去)により形成された薄肉の円環状のダイアフラム部7が形成されており、第3のギャップG3を介して対向して設けられた電極対6と、ダイアフラム部7とにより、静電アクチュエータが構成されている。
第1の基板2および第2の基板3は、共に光透過性を有するとともに絶縁性を有する材料からなる矩形状(正方形状)のもので、特にガラス等の透明材料により構成されていることが好ましい。
このガラスとしては、具体的には、ソーダガラス、結晶化ガラス、石英ガラス、鉛ガラス、カリウムガラス、ホウケイ酸ガラス、ホウケイ酸ナトリウムガラス、無アルカリガラス等が好適に用いられる。
このように、第1の基板2および第2の基板3を共に光透過性を有する材料とすることにより、電磁波のうち所望の波長帯域の電磁波や可視光線を入射光として用いることができる。また、第1の基板2及び第2の基板3を半導体材料、例えばシリコンで形成すれば、入射光として近赤外線を用いることができる。
第1の可動ミラー4Aと、第1の固定ミラー4Bと、第2の可動ミラー5Aと、第2の固定ミラー5Bとは、いずれも高屈折率層と低屈折率層とが交互に複数積層された誘電体多層膜により構成されており、これらミラーは互いに同一の構成であっても良いし、異なる構成であっても良い。また、これら第1のミラー対4と第2のミラー対5とは、誘電体多層膜に限定されることなく、例えば、炭素を含有する銀の合金膜等を用いることもできる。
この光フィルター1を可視光領域あるいは赤外領域で用いる場合、誘電体多層膜における高屈折率層を形成する材料としては、例えば、酸化チタン(TiO)、酸化タンタル(Ta)、酸化ニオブ(Nb)等が用いられる。また、光フィルター1を紫外領域で用いる場合、高屈折率層を形成する材料としては、例えば酸化アルミニウム(Al)、酸化ハフニウム(HfO)、酸化ジルコニウム(ZrO)、酸化トリウム(ThO)等が用いられる。一方、誘電体多層膜における低屈折率層を形成する材料としては、例えば、フッ化マグネシウム(MgF)、酸化ケイ素(SiO)等が用いられる。
この高屈折率層及び低屈折率層の層数及び厚みについては、必要とする光学特性に基づいて適宜に設定される。一般に、誘電体多層膜により反射膜(ミラー)を形成する場合、その光学特性を得るために必要な層数は12層以上である。
電極対6は、入力される駆動電圧に応じて電極6A、6B間に静電力を発生させ、第1のミラー対4および第2のミラー対5を、それぞれ互いに対向した状態で相対移動させる静電アクチュエータを構成するものである。
電極対6は、ダイアフラム部7を、図2中の上下方向に変位させて、第1のミラー対4の間の第1のギャップG1と第2のミラー対5の間の第2のギャップG2とをそれぞれ変化させ、第1のギャップG1と第2のギャップG2とに対応する波長の光をそれぞれ別個に射出するようになっている。
電極対6を形成する材料としては導電性材料であればよく、特に限定はされないが、例えば、Cr、Al、Al合金、Ni、Zn、Ti、Au等の金属、あるいはカーボン、チタン等を分散した樹脂、多結晶シリコン(ポリシリコン)、アモルファスシリコン等のシリコン、窒化シリコン、ITO等の透明導電材料等が用いられる。
電極6A、6Bには、図1に示すように、配線11A、11Bが接続されており、これら電極6A、6Bは、これら配線11A、11Bを介して電源(図示せず)に接続されている。
なお、これら配線11A、11Bは、第1の基板2に形成された配線溝12A、あるいは第2の基板3に形成された配線溝12Bに形成されている。したがって、第1の基板2と第2の基板3との接合に干渉しないようになっている。
電源は、駆動信号として、電極6A、6Bに電圧を印加することにより、電極6A、6Bを駆動させ、これらの間に所望の静電力を発生させるものである。なお、この電源には制御装置(図示せず)が接続されており、この制御装置によって電源を制御することにより、電極6A、6B間の電位差を調整することができるようになっている。
ダイアフラム部7は、このダイアフラム部7が形成されていない第1の基板2の箇所に比べて厚さが薄くなっている。このように、第1の基板2のうち、他の箇所に比べて厚さが薄い箇所は、弾性(可撓性)を有して変形可能(変位可能)になっている。この構成により、このダイアフラム部7は、第1のギャップG1および第2のギャップG2を変化させて第1のミラー対4及び第2のミラー対5のギャップ間隔を所望の波長の光に対応する間隔に変化させる。このようにして、光フィルター1には、所望の波長の光をそれぞれ射出させる波長選択機能が生じる。
これらダイアフラム部7の形状や厚みは、所望の波長の範囲の光を射出させることができればよく、具体的には、第1のミラー対4及び第2のミラー対5の各ギャップG1、G2の間隔の変化量や変化の速さ等を勘案し、この光フィルター1に求められる射出光の波長の範囲に対応して設定される。
なお、本実施形態においては、第1の基板2に円形状の段部21を形成して可動段差部22を設けたが、第2の基板3と同様に、各ミラー及び電極毎に区分された複数個の可動段差部を対向面2aに形成してもよい。逆に、第1の基板2に段部を全く設けずに、対向面2aを直に可動部としてもよい。
第2の基板3の各段部の形状とその高さも本実施例に限定されるものではなく、各ミラー対に介在させるギャップG1、G2の大きさを異ならしめることができるものであればよく、例えば第1の段差部32を凸部とし、第3の段差部36を凹部としてもよい。
また、本実施形態においては、第1の固定ミラー4B、第2の固定ミラー5B、固定電極6Bが、それぞれ異なる大きさのギャップG1、G2、G3を介して対向面3aに配置されているが、第1の固定ミラー4Bもしくは第2の固定ミラー5Bのいずれか一方が固定電極6Bと同一平面に位置し、ギャップG1もしくはギャップG2の一方の大きさとギャップG3の大きさとを等しくしてもよい。
加えて、光フィルター1に備えられるミラー対の個数は本実施形態に限定されるものではなく、より多くのミラーを備えていてもよいが、あまり多くするのは実用的ではない。基板表面にミラーの個数分だけ段部を形成するためのコスト増加や、多数のミラーを並列させるための広さが必要となるためである。
以下に、本実施形態の光フィルター1を用いた分光について説明する。
本実施形態の光フィルター1では、電極6Aと電極6Bとの間に電圧が印加されていない場合、第1の可動ミラー4Aと第1の固定ミラー4Bとは第1のギャップG1を介して対向している。同様に第2の可動ミラー5Aと第2の固定ミラー5Bとは第2のギャップG2を介して対向している。
そこで、この光フィルター1に光が入射すると、第1のミラー対4では、図3に実線で示したように、第1のギャップG1に対応した波長の光、例えば480nmの波長の光が射出される。一方、第2のミラー対5では、図3に破線で示したように、第2のギャップG2に対応した波長の光、例えば630nmの波長の光が射出される。
第1のミラー対4と第2のミラー対5とは、それぞれが独立した状態で並列配置されているので、各ミラー対毎のギャップG1、G2に対応した光が干渉することなく、同時に分光される。よって、光フィルター1において、同時に二つの異なる波長の光を個別に干渉することなく分波して射出させることができる。
次に、制御装置および電源を駆動して電極6Aと電極6Bとの間に電圧を印加すると、これら電極6Aと電極6Bとの間には、電圧(電位差)の大きさに対応した静電力が発生する。このように、制御装置が電源を制御することにより、電極6A、6B間に所望の電圧を印加し、電極6Aと電極6Bとの間に所望の静電力を発生させることができる。
電極6A、6B間に所望の静電力が発生すると、この静電力により電極6A、6Bが相互に引きつけられて第1の基板2が第2の基板3側に向かって撓むように変形する。すると、第1のミラー対4の第1のギャップG1と第2のミラー対5の第2のギャップG2とは、電圧が印加されていない場合と比べて狭いギャップG1’、G2’となった状態で保持される。
この状態で光フィルター1に光を入射すると、共に間隔が狭くなった第1のギャップG1’と第2のギャップG2’とに対応して、透過波長がいずれも短波長側にシフトする。
図3中に一点破線で示したように、例えば第1のミラー対4では400nmの波長の光が射出され、図3中に二点破線で示したように、例えば第2のミラー対5では550nmの波長の光が射出される。
このように、光フィルター1において、二つの異なる波長を同時にシフトさせて、個別に射出することができる。
以上説明したように、本実施形態の光フィルター1によれば、第2の基板3の対向面3aに互いに高さの異なる段部31、33からなる複数個の段差部32、35を設けることにより、第1の基板2と第2の基板3との間で異なる大きさのギャップG1、G2を形成し、このギャップG1、G2を介して二つのミラー対4、5を各段差部に配置することで、複数個の波長を個別かつ同時に分光できる光フィルターを提供することができる。
次に、本実施形態に係る光フィルター1の応用例として、光フィルター1を備えた光センサーの一実施形態について説明する。
図4は本実施形態の光センサーの構成を示す概略断面図であって、符号10は本実施形態の光センサーである。なお、図4における各部材に付された各符号は、図1および図2に示した光フィルター1のものと同一部材には同一符号を付しており、各部材についての説明は省略する。
この光センサー10は、光フィルター1の射出側に受光部9を備えたもので、光フィルター1の各ミラー対4、5で分光されて射出される光を個別に検出する複数個の受光素子94、95を備えている。受光素子94、95は例えばフォトダイオード等からなり、各ミラー対4、5の射出面に対して対向して配設されており、光フィルター1からの射出光を受光して電気信号として変換するものである。
このように、光フィルター1に備えられたミラー対の設置個数に対応して受光素子を複数個備えることにより、光フィルター1で同時かつ個別に射出される波長の異なる光をそれぞれ独立して検知することができる。
図5は、この光センサー10を備えた本発明の光学フィルター装置モジュールの一実施形態を示す図であり、図5中、符号50は光学フィルター装置モジュールである。
この光学フィルター装置モジュール50は、本実施形態の光フィルター1からなるフィルター部51と、同じく本実施形態の受光部9からなる検出素子55とを、共に備えたもので、検体Wに対して特定の帯域の光を照射し、この検体Wの反射光から予め設定した波長の光を選択的に取り出し(分光し)、その強度を測定するようにしたものである。
すなわち、この光学フィルター装置モジュール50は、光源52とレンズ53とを有し、検体Wに対して所定の光、例えば可視光線や赤外線を照射する光源光学系54と、フィルター部51と検出素子55とを有し、検体Wからの反射光を検出する検出部光学系56と、光源52の照度等を制御する光源制御回路57と、フィルター部51を制御するフィルター制御回路58と、検出素子55で検出された検出信号を受信し、さらに光源制御回路57、フィルター制御回路58に接続するプロセッサー59と、を備えたものである。
このような光学フィルター装置モジュール50では、検体Wに対して可視光線や赤外線などの特定の帯域の光を照射する。すると、例えば検体Wの表面状態などに対応して反射光が生じ、これがフィルター部51に入射する。フィルター部51では、電極6A、6Bへの電圧印加(あるいは無印加)により、予め設定した波長の光を選択的に取り出す(分光する)ようにしておく。これにより、反射光から特定の波長域のみが選択的に取り出され、検出素子55で検出されるようになる。したがって、例えば検出素子55としてフィルター部51で取り出される光を選択的に検出するものを用いることにより、感度良く反射光を検出することが可能になる。よって、この光学フィルター装置モジュール50によれば、検体Wの表面状態等を感度良く検出することができる。
このような光学フィルター装置モジュール50では、フィルター部51において光フィルター1を備えたものであるので、光フィルター1の分光特性をそのまま利用することができる。
例えば、光フィルター1は既述したように、図3に示したような分光特性を有するので、400〜700nmの波長領域の光を順次走査して検体Wに照射した際の反射光を検出する場合を説明する。
図3中にそれぞれ示したような透過波長シフトによって、第1のミラー対4では概ね400〜550nmの波長の光を、第2のミラー対5では概ね550〜700nmの波長の光を分光できる。この分光は各ミラー対においてそれぞれ独立して同時に行うことができるので、測定すべき全波長領域を、400〜550nmの短波長領域と550〜700nmの長波長領域とに二分割することができる。
このように、短波長領域を第1のミラー対4と受光素子94とで順次走査して検知すると同時に、長波長領域を第2のミラー対5と受光素子95とで順次走査して検知することによって、全波長領域を順次走査して検知する場合に比べて、走査すべき波長領域をほぼ半減することができ、検体測定の所要時間を大きく減少することができる。
加えて、本実施形態の光学フィルター1では、分光特性が異なるミラー対4、5を有しているにも関わらず、従来のものと略同じ大きさを保つことができるので、従来の光フィルターをモジュール内に並列して配置した場合に比べて省スペース型となっており、小型化された光学フィルター装置モジュール50を提供することができる。
1…光フィルター、2…第1の基板、21…段部、22…可動段差部、3…第2の基板、31…第1の段部、32…第1の段差部、33…第2の段部、34…第2の段差部、35…凸部、36…第3の段差部、4…第1のミラー対、4A…第1の可動ミラー、4B…第1の固定ミラー、5…第2のミラー対、5A…第2の可動ミラー、5B…第2の固定ミラー、6…電極対、6A、6B…電極、7…ダイアフラム部、G1…第1のギャップ、G2…第2のギャップ、G3…第3のギャップ、50…光学フィルター装置モジュール、51…フィルター部(光フィルター)

Claims (5)

  1. 互いに対向配置された第1の基板および第2の基板と、
    前記第2の基板の前記第1の基板対向する面に形成された高さの異なる複数の段部からなる複数の光透過部と、
    前記複数の光透過部の各々における前記第1の基板および前記第2の基板の対向する面に異なる大きさのギャップを介してそれぞれ設けられた複数対のミラーと、
    前記複数対のミラーの周囲に設けられた一対の電極と、
    前記複数対のミラーの中で前記第1の基板に設けられた複数のミラーの周囲に設けられたダイアフラム部と、を備え
    前記第1の基板に設けられた複数のミラーが、前記第2の基板に対して変位可能な前記第1の基板の同一平面上に設けられていることを特徴とする光フィルター。
  2. 前記第1の基板および前記第2の基板は、光透過性を有する材料からなることを特徴とする請求項1に記載の光フィルター。
  3. 前記第1の基板および前記第2の基板の少なくともいずれか一方は、半導体材料からなることを特徴とする請求項1記載の光フィルター。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載の光フィルターと、前記光フィルターを透過した光を受光する受光素子と、を備えてなることを特徴とする光モジュール。
  5. 前記受光素子が、前記複数の光透過部の各々に対応して複数個設けられたことを特徴とする請求項4に記載の光モジュール。
JP2009050791A 2009-03-04 2009-03-04 光フィルター及びそれを備えた光モジュール Expired - Fee Related JP5798709B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009050791A JP5798709B2 (ja) 2009-03-04 2009-03-04 光フィルター及びそれを備えた光モジュール
US12/710,426 US8319169B2 (en) 2009-03-04 2010-02-23 Optical filter and optical module provided with same
US13/655,963 US8618463B2 (en) 2009-03-04 2012-10-19 Optical filter having substrate including surfaces with different heights and optical module provided with same
US14/086,292 US8937276B2 (en) 2009-03-04 2013-11-21 Optical filter and optical module provided with same
US14/557,723 US9459387B2 (en) 2009-03-04 2014-12-02 Optical filter and optical module provided with same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009050791A JP5798709B2 (ja) 2009-03-04 2009-03-04 光フィルター及びそれを備えた光モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010204457A JP2010204457A (ja) 2010-09-16
JP5798709B2 true JP5798709B2 (ja) 2015-10-21

Family

ID=42678057

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009050791A Expired - Fee Related JP5798709B2 (ja) 2009-03-04 2009-03-04 光フィルター及びそれを備えた光モジュール

Country Status (2)

Country Link
US (4) US8319169B2 (ja)
JP (1) JP5798709B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101841529B1 (ko) 2017-06-19 2018-03-23 (주)제이앤씨테크 지능형 조명 장치

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5798709B2 (ja) * 2009-03-04 2015-10-21 セイコーエプソン株式会社 光フィルター及びそれを備えた光モジュール
JP5370246B2 (ja) * 2009-05-27 2013-12-18 セイコーエプソン株式会社 光フィルター、光フィルター装置、分析機器、および光フィルターの製造方法
JP5589459B2 (ja) 2010-03-15 2014-09-17 セイコーエプソン株式会社 光フィルター及び光フィルターモジュール並びに分析機器及び光機器
JP5363393B2 (ja) * 2010-03-30 2013-12-11 オリンパス株式会社 可変分光素子
JP5363394B2 (ja) * 2010-03-30 2013-12-11 オリンパス株式会社 可変分光素子
JP5445303B2 (ja) * 2010-04-19 2014-03-19 セイコーエプソン株式会社 光フィルター素子、光フィルターモジュール、および分析機器
JP5682165B2 (ja) * 2010-07-23 2015-03-11 セイコーエプソン株式会社 干渉フィルター、光モジュール、及び分析装置
JP5928992B2 (ja) * 2010-10-07 2016-06-01 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルターの製造方法
JP5641220B2 (ja) 2010-11-12 2014-12-17 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP2012108440A (ja) * 2010-11-19 2012-06-07 Seiko Epson Corp 干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP5545190B2 (ja) * 2010-11-26 2014-07-09 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルターの製造方法
JP5673049B2 (ja) * 2010-12-08 2015-02-18 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP5617621B2 (ja) * 2010-12-28 2014-11-05 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP5530375B2 (ja) * 2011-02-01 2014-06-25 オリンパス株式会社 可変分光素子
JP5834418B2 (ja) * 2011-02-04 2015-12-24 セイコーエプソン株式会社 光フィルター、光フィルターモジュール、分析機器及び光機器
JP5845588B2 (ja) 2011-02-09 2016-01-20 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、光分析装置および波長可変干渉フィルターの製造方法
JP5703813B2 (ja) * 2011-02-16 2015-04-22 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP5786424B2 (ja) * 2011-04-11 2015-09-30 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び電子機器
JP5970686B2 (ja) * 2011-09-05 2016-08-17 セイコーエプソン株式会社 光学モジュールおよび電子機器
JP6160055B2 (ja) * 2012-10-01 2017-07-12 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、波長可変干渉フィルターの製造方法、光学装置および光学部品
JP6036341B2 (ja) * 2013-01-29 2016-11-30 セイコーエプソン株式会社 光学モジュール、及び電子機器
US10359551B2 (en) * 2013-08-12 2019-07-23 Axsun Technologies, Inc. Dielectric-enhanced metal coatings for MEMS tunable filters
KR101833752B1 (ko) * 2013-08-20 2018-03-02 인텔 코포레이션 Mems 디바이스를 포함하는 디스플레이 장치
JP2016065937A (ja) * 2014-09-24 2016-04-28 パイオニア株式会社 波長可変光フィルタ及び波長可変光フィルタの製造方法
WO2016123506A1 (en) * 2015-01-30 2016-08-04 Carbon3D, Inc. Build plates for continuous liquid interface printing having permeable sheets and related methods, systems and devices
EP3250369B8 (en) * 2015-01-30 2020-10-28 Carbon, Inc. Build plates for continuous liquid interface printing having permeable base and adhesive for increasing permeability and related method and apparatus
US9607803B2 (en) * 2015-08-04 2017-03-28 Axcelis Technologies, Inc. High throughput cooled ion implantation system and method
JP2016029491A (ja) * 2015-09-30 2016-03-03 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
KR102293471B1 (ko) * 2015-12-30 2021-08-24 현대에너지솔루션(주) 라미네이션 장치
US11035777B2 (en) * 2017-01-02 2021-06-15 Lg Innotek Co., Ltd. Light sensing device and particle sensing device
TWI617845B (zh) * 2017-03-16 2018-03-11 財團法人工業技術研究院 影像感測裝置
JP6950522B2 (ja) * 2017-12-27 2021-10-13 ウシオ電機株式会社 微生物の不活化処理装置および細胞活性化処理装置、並びに微生物の不活化処理方法
US20220026274A1 (en) * 2018-11-26 2022-01-27 Unispectral Ltd. A tunable filter having different gaps
JP6754464B2 (ja) * 2019-04-23 2020-09-09 パイオニア株式会社 波長可変光フィルタ
US20220059338A1 (en) 2020-08-24 2022-02-24 Sportsbeams Lighting, Inc. Cartridge based uv c sterilization system
US11752228B2 (en) 2020-08-24 2023-09-12 Lumenlabs Llc Highly efficient UV C bulb with multifaceted filter
JP7517139B2 (ja) * 2020-12-24 2024-07-17 セイコーエプソン株式会社 波長可変光学フィルター
US11313726B1 (en) 2021-03-23 2022-04-26 Lumenlabs Llc Safe UV-C dosimeter

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000162516A (ja) * 1998-11-27 2000-06-16 Nec Corp 波長可変フィルタ
JP4158076B2 (ja) * 2000-02-18 2008-10-01 横河電機株式会社 波長選択型赤外線検出素子及び赤外線ガス分析計
US6590710B2 (en) 2000-02-18 2003-07-08 Yokogawa Electric Corporation Fabry-Perot filter, wavelength-selective infrared detector and infrared gas analyzer using the filter and detector
JP3690587B2 (ja) * 2001-02-02 2005-08-31 日本電信電話株式会社 波長可変光フィルタ、レーザ装置及びレーザ波長安定化方法
JP2003057438A (ja) 2001-08-09 2003-02-26 Yokogawa Electric Corp ファブリペローフィルタ
JP2005099206A (ja) * 2003-09-22 2005-04-14 Seiko Epson Corp 波長可変フィルタおよび波長可変フィルタの製造方法
JP4210245B2 (ja) * 2004-07-09 2009-01-14 セイコーエプソン株式会社 波長可変フィルタ及び検出装置
US7460246B2 (en) * 2004-09-27 2008-12-02 Idc, Llc Method and system for sensing light using interferometric elements
US7369296B2 (en) * 2004-09-27 2008-05-06 Idc, Llc Device and method for modifying actuation voltage thresholds of a deformable membrane in an interferometric modulator
US20070242358A1 (en) * 2006-04-18 2007-10-18 Xerox Corporation Fabry-perot tunable filter
US7734131B2 (en) * 2006-04-18 2010-06-08 Xerox Corporation Fabry-Perot tunable filter using a bonded pair of transparent substrates
US7583418B2 (en) * 2006-09-26 2009-09-01 Xerox Corporation Array based sensor to measure single separation or mixed color (or IOI) patches on the photoreceptor using MEMS based hyperspectral imaging technology
JP4561728B2 (ja) * 2006-11-02 2010-10-13 セイコーエプソン株式会社 光学デバイス、光学デバイスの製造方法、波長可変フィルタ、波長可変フィルタモジュール、および光スペクトラムアナライザ
US7719752B2 (en) * 2007-05-11 2010-05-18 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS structures, methods of fabricating MEMS components on separate substrates and assembly of same
JP5798709B2 (ja) * 2009-03-04 2015-10-21 セイコーエプソン株式会社 光フィルター及びそれを備えた光モジュール

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101841529B1 (ko) 2017-06-19 2018-03-23 (주)제이앤씨테크 지능형 조명 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US8618463B2 (en) 2013-12-31
US20130037703A1 (en) 2013-02-14
US20150085366A1 (en) 2015-03-26
JP2010204457A (ja) 2010-09-16
US8937276B2 (en) 2015-01-20
US8319169B2 (en) 2012-11-27
US9459387B2 (en) 2016-10-04
US20100226029A1 (en) 2010-09-09
US20140078588A1 (en) 2014-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5798709B2 (ja) 光フィルター及びそれを備えた光モジュール
JP5151944B2 (ja) 光フィルタ及びそれを備えた光モジュール
JP5369515B2 (ja) 光フィルタとその製造方法及び光学フィルタ装置モジュール
US8982350B2 (en) Optical filter, optical filter module, spectrometric measurement apparatus, and optical apparatus
US8917451B2 (en) Variable wavelength interference filter, optical module, and optical analyzer
US20120127471A1 (en) Interference filter, optical module, and optical analyzer
US9482857B2 (en) Tunable interference filter, optical module, and photometric analyzer
CN101004476A (zh) 光学设备、波长可变滤波器、波长可变滤波器模块及光谱分析器
US8593723B2 (en) Method of manufacturing variable wavelength interference filter and variable wavelength interference filter
JP5874271B2 (ja) 波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器
US20110205551A1 (en) Variable wavelength interference filter, optical sensor, and analytical instrument
JP5673049B2 (ja) 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
CN110954981A (zh) 光学装置及电子设备
CN104678474A (zh) 电子器件以及电子设备
JP5807353B2 (ja) 光フィルター及び光フィルターモジュール並びに分析機器及び光機器
US20150316416A1 (en) Optical module and imaging system
US20110255166A1 (en) Optical filter device, optical filter module and analysis apparatus
JP5617621B2 (ja) 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP2012108220A (ja) 光フィルターおよび光機器
JP2012128136A (ja) 光センサー
JP2012141347A (ja) 波長可変干渉フィルター、光モジュール、及び光分析装置
JP2022148476A (ja) 光フィルタ、分光センサ、及び、光フィルタの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120125

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20120130

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120919

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130709

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130906

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140311

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150824

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5798709

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees