JP5694486B2 - Resin sealing device - Google Patents
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Description
本発明は、複数の半導体素子が片面実装される実装基板を上型に吸着保持されたままキャビティ凹部に封止樹脂が充填された下型とでクランプして一括して樹脂封止する樹脂封止装置に関する。 The present invention provides a resin seal that clamps a mounting substrate on which a plurality of semiconductor elements are mounted on one side with a lower mold in which a cavity recess is filled with a sealing resin while being held by suction on the upper mold, and collectively encapsulates the resin. It relates to a stopping device.
半導体装置の生産効率を高めるため、大型基板に複数の半導体素子が基板実装されたワークをモールド金型へ搬入して一括して樹脂封止し、成形品をダイシングして各個片に分離して製品化することが行なわれている。 In order to increase the production efficiency of semiconductor devices, a work in which a plurality of semiconductor elements are mounted on a large substrate is loaded into a mold, sealed with resin, and the molded product is diced and separated into individual pieces. It is being commercialized.
一般に基板材料(例えばガラスエポキシ樹脂基板等)より封止樹脂(エポキシ樹脂等)のほうが熱収縮率は大きいため、基板実装された半導体装置を樹脂封止後に、基板がパッケージ部(樹脂封止部)と反対面側に凸形状になるように反り易い。これによりその後のダイシング等の加工精度が低下したり、ハンドリングがしにくくなったり、或いは製品を基板実装する場合に接続不良を起こし易いなどの不具合が生ずるおそれがある。 Generally, a sealing resin (epoxy resin, etc.) has a higher thermal shrinkage rate than a substrate material (eg, glass epoxy resin substrate, etc.). ) And tends to warp so as to have a convex shape on the opposite side. As a result, the processing accuracy such as subsequent dicing may be reduced, handling may be difficult, or a defect such as a connection failure may be caused when the product is mounted on a board.
このため、半導体素子が実装された基板をキャビティ凹部が形成された下型に当該半導体素子をキャビティ凹部内に向けて載置し、上型との間で基板をクランプする当該上型面を凸面が形成されている。基板をモールド金型でクランプすると、基板は上型の凸形状に沿って半導体素子実装面側が湾曲したまま樹脂封止される。これによって、成形後のパッケージ部が冷やされて熱収縮することにより、基板の反りが矯正されるようになっている。(特許文献1)。 For this reason, the substrate on which the semiconductor element is mounted is placed on the lower mold in which the cavity recess is formed with the semiconductor element facing the cavity recess, and the upper mold surface that clamps the substrate with the upper mold is convex. Is formed. When the substrate is clamped with a mold, the substrate is resin-sealed while the semiconductor element mounting surface side is curved along the convex shape of the upper die. As a result, the warped portion of the substrate is corrected by cooling the package portion after molding and heat shrinking. (Patent Document 1).
半導体素子を1列配置された場合の基板では、生産効率が低いため、より大型の基板を用いて半導体素子をマトリクス状に基板実装して一括して樹脂封止するのが効率的である。上記特許文献1においては、基板実装された個々の半導体素子に対応して上型面を凸面とするものであるが、基板を撓ませることに加えて樹脂圧が加わることにより半導体素子のワイヤ接続部に負荷が加わるため、接続信頼性が低下するおそれがある。また、トランスファー成形の場合、封止樹脂を流動させるため、空気を抱き込んでボイドが発生し易く、しかも比較的熱容量の小さい薄型の製品の場合、封止樹脂が熱硬化し易いことから大型基板の成形には向いていない。
Since the production efficiency of the substrate in which the semiconductor elements are arranged in one row is low, it is efficient to mount the semiconductor elements in a matrix using a larger substrate and encapsulate them in a resin. In
また、下型に形成されたキャビティ凹部へ予め封止樹脂を供給しておき、上型に基板を吸着保持してクランプするモールド金型を用いて大型の基板を樹脂封止する装置構成も考えられる。しかしながら、基板の成形面積が広いため大きなプレス力が必要になるため、モールド金型内に気泡を閉じ込められないようにする必要がある。また、薄型のパッケージの場合、ボイドの発生をなくすためキャビティを閉止して減圧成形を行なう場合も考えられる。しかしながら、大型の基板の撓みによる位置ずれや変形、減圧空間の形成により基板が吸着面より離脱して落下するおそれもある。また、成形面積が大きい基板の場合、成形後のモールド金型からの離型がし難いという課題もあった。 Also, consider a device configuration in which a sealing resin is supplied in advance to a cavity recess formed in the lower mold, and a large substrate is sealed with a mold using a mold mold that holds and clamps the substrate to the upper mold. It is done. However, since a large molding area of the substrate requires a large pressing force, it is necessary to prevent air bubbles from being trapped in the mold. In the case of a thin package, it may be considered that the cavity is closed and reduced pressure molding is performed in order to eliminate the generation of voids. However, there is a possibility that the substrate may be detached from the suction surface and fall due to displacement or deformation due to bending of the large substrate or formation of a decompression space. In addition, in the case of a substrate having a large molding area, there is also a problem that it is difficult to release from a mold after molding.
本発明の目的は、上記従来技術の課題を解決し、大型基板に複数の半導体素子が実装された半導体実装基板を樹脂封止する際に基板が吸着面より離脱して落下するのを防ぎかつ成形後の離型を促進することが可能な樹脂封止装置を提供することにある。 The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and prevent the substrate from separating from the adsorption surface and dropping when resin-sealing a semiconductor mounting substrate in which a plurality of semiconductor elements are mounted on a large substrate, and It is providing the resin sealing apparatus which can accelerate | stimulate the mold release after shaping | molding.
本発明は上記目的を達成するため、次の構成を備える。
即ち、複数の半導体素子が片面実装された半導体素子実装基板が上型に吸着保持されたままキャビティ凹部に封止樹脂が充填された下型とでクランプして一括して樹脂封止される樹脂封止装置であって、前記下型は下型ベースに固定された下型チェイスに、センターブロック及び該センターブロックの周囲に弾性体により上方へ付勢された可動ブロックが設けられて前記キャビティ凹部が形成され、前記可動ブロックの基板クランプ面には、前記上型に吸着保持された基板に突き当てて支持する複数の支えピンが基板クランプ面より突出若しくは没入可能に設けられ、前記上型は上型ベースに上型チェイスが固定され、前記上型チェイスと前記下型チェイスとの間にはシールリングが設けられており、型締め動作を開始すると、前記上型に吸着保持された基板に前記各支えピンが突き当たって支持し、前記シールリングが前記上型チェイスと前記下型チェイスとでクランプされるとキャビティに連通する吸引路を通じた吸引装置による吸引動作により当該キャビティ内に減圧空間が形成されて型締めされることを特徴とする。
これにより、上型に基板を吸着保持されたまま型締め動作が開始されると、基板が先ず可動ブロックの基板クランプ面より突出している複数の支えピンにより支持されるので、上型インサートに吸着された基板の落下を防ぐことができる。また、型開きすると基板は上型インサートに吸着されたままであるので、成形品がキャビティより離型し、支えピンが可動ブロックより再度基板を押し上げるので、成形品の離型を促進することができる。
また、基板と接触した樹脂圧力と減圧されたキャビティ内の圧力差が大きくなって基板と封止樹脂との界面に存在する空気はキャビティの外側へ押し出されるので、パッケージ部が薄型で大型な製品であっても、気泡が混入することなく成形でき、成形品質を向上させることができる。
尚、本明細書において「クランプ」とは固形物を挟み込む動作のみならず、凹部に充填された液状または半液状の流動体(例えば溶融した樹脂)を加圧すべく挟み込む動作も含む。
In order to achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement.
That is, a resin that is collectively sealed by clamping with a lower mold in which a cavity recess is filled with a sealing resin while a semiconductor element mounting substrate on which a plurality of semiconductor elements are mounted on one side is adsorbed and held by the upper mold In the sealing device, the lower die has a lower chase fixed to a lower die base, and a center block and a movable block urged upward by an elastic body around the center block. A plurality of support pins are provided on the substrate clamp surface of the movable block so as to protrude and immerse from the substrate clamp surface so as to abut against and support the substrate sucked and held by the upper die. The upper mold chase is fixed to the upper mold base, and a seal ring is provided between the upper mold chase and the lower mold chase. When the mold clamping operation is started, the upper mold chase absorbs the upper mold chase. The support pins abut against the held substrate to support the cavity, and when the seal ring is clamped by the upper die chase and the lower die chase, the cavity is sucked by a suction device through a suction passage communicating with the cavity. wherein the vacuum space is formed clamping within.
As a result, when the clamping operation is started while the substrate is sucked and held by the upper die, the substrate is first supported by the plurality of support pins protruding from the substrate clamping surface of the movable block. The fall of the used substrate can be prevented. Moreover, since the substrate remains adsorbed to the upper mold insert when the mold is opened, the molded product is released from the cavity, and the support pin pushes the substrate up again from the movable block, so that the release of the molded product can be promoted. .
In addition, since the pressure difference between the pressure of the resin in contact with the substrate and the pressure in the cavity is increased and the air present at the interface between the substrate and the sealing resin is pushed out of the cavity, the package is thin and large. Even in this case, molding can be performed without mixing bubbles, and molding quality can be improved.
In the present specification, “clamp” includes not only an operation of sandwiching a solid substance but also an operation of sandwiching a liquid or semi-liquid fluid (for example, a molten resin) filled in a concave portion to pressurize it.
本発明に係る樹脂封止装置を用いれば、大型基板に複数の半導体素子が実装された半導体実装基板を樹脂封止する際に基板が上型インサートの吸着面より離脱して落下するのを防ぎかつ成形後の離型を促進することが可能な樹脂封止装置を提供することができる。 If the resin sealing device according to the present invention is used, when the semiconductor mounting substrate in which a plurality of semiconductor elements are mounted on a large substrate is resin-sealed, the substrate is prevented from separating from the adsorption surface of the upper mold insert and dropping. And the resin sealing apparatus which can accelerate | stimulate the mold release after shaping | molding can be provided.
以下、本発明に係る樹脂封止装置の好適な実施の形態について添付図面と共に詳述する。 Hereinafter, preferred embodiments of a resin sealing device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
先ず、図1において、上型1を固定型と下型2を可動型として説明する。
上型1の構成について説明する。上型ベース3には上型チェイス4が固定されている。上型チェイス4には、上型インサート5がガイドブロック6により支持されている。上型インサート5は後述するキャビティ凹部の中心位置に向けて下方に凸になるように予め弾性的に撓ませて上型チェイス4に組み付けられている。
First, referring to FIG. 1, the
The configuration of the
上型ベース3を貫通するねじ孔3a及び上型チェイス4を貫通する貫通孔4aにはコイルスプリング7が装填されている。ねじ孔3aには押圧ねじ8がねじ嵌合しており、該押圧ねじ8を締め付けることによりコイルスプリング7が押し縮められて上型インサート5が下方に向けて凸になるように常時付勢されている。押圧ねじ8のねじ孔3aに対する嵌合量(押圧ねじ8の高さ)を調整することで、上型インサート5の撓み量を調整することができる。例えば大型の基板23のときには押圧ねじ8の位置を低くしてコイルスプリング7で上型インサート5を強く付勢するといったような調整をすることにより、基板23の大きさに拘わらず基板23を気泡の排出等に適した所定の角度に撓ませることが可能である。
A coil spring 7 is loaded in the
上型インサート5、上型チェイス4、上型ベース3にはエア吸引路9a,9b,9cが各々設けられており、吸着装置10に連結されている。吸着装置10を作動させると基板23を上型インサート5の下面に吸着保持するようになっている。また、上型インサート5の基板吸着面5aは吸着装置10に上記各エア吸引路9a,9b,9cを通じて連通する梨地面に形成されている。この梨地面は吸着する基板23の外形より狭い範囲で形成されている。上型インサート5と上型チェイス4との間にはシール材26が挿入されており、エア吸引路9aとエア吸引路9bとの気密性を確保するようになっている。
The upper mold insert 5, the
また、上型インサート5は、コイルスプリング7により付勢されて下方に凸となるように撓みを持たせて上型チェイス4に設けられたガイドブロック6によって支持されている。この場合、上型インサート5は、その外周部に形成された段部がガイドブロック6の対向面に形成された段部と係合することによって上型チェイス4に保持されている。尚、上型インサート5は、コイルスプリング7を設けることなく、予め研削加工、プレス曲げ加工が施されて下方に凸となるように撓みを持たせて上型チェイス4に支持されていてもよい。
Further, the
例えば、厚さ12mmで縦横の寸法100mm×200mmの上型インサート5の中央部を372kgfのコイルスプリング7で押圧すると、上型インサート5の撓み量はおよそ0.2mmとなる。上型インサート5は、型締めされて樹脂封止を行なっているときには樹脂圧力によりコイルスプリング7の付勢に抗して押し戻されて平面視外形が僅かに(1μm未満)に拡大するが、上型チェイス4の側壁に位置決めされて平坦状に支持される。また、キャビティ面積が80mm×160mmの場合、樹脂圧力が約4.7kgf/cm2で平坦に押し戻されることが確認されている。
For example, when the central portion of the
次に下型2の構成について説明する。
下型2においては、下型ベース11の上に下型チェイス12が固定されている。下型チェイス12にはヒータ13が内蔵されている。下型チェイス12には、センターブロック14が固定されている。センターブロック14の周囲には、クランパとして機能する可動ブロック15が下型チェイス12との間に弾挿された第1のばね16により常時上方へ付勢されている。上記センターブロック14と可動ブロック15によりキャビティ凹部17が形成されている。
Next, the configuration of the
In the
また、可動ブロック15の基板クランプ面(上面)15aには、上型1に吸着保持された基板23に突き当てて支持する支えピン18が基板クランプ面15aより突出没可能に設けられている。支えピン18は可動ブロック15内に弾挿された第2のばね19により常時上方へ突出する向きへ付勢されている。下型2を型締めする際に、支えピン18が上型インサート5に吸着された基板23に突き当たって支持しながら可動ブロック15内へ没入するように第2のばね19の付勢に抗して押し込まれる。
Further, on the substrate clamp surface (upper surface) 15 a of the
また、下型チェイス12の上部外周側にはシールリング20が設けられており、対向する上型チェイス4との間で挟み込まれると閉鎖空間が形成される。下型チェイス12には、この閉鎖空間に接続するエア吸引路21が形成されており、吸引装置22に接続されている。
上型チェイス4と下型チェイス12との間でシールリング20が挟み込まれ、吸引装置22によってエア吸引されるとキャビティ内を含むモールド金型内に減圧空間が形成される。
Further, a
When the
ここで、上記樹脂封止装置を用いた樹脂封止動作の一例について説明する。
基板23には、複数の半導体素子24がマトリクス状に片面実装された半導体実装基板が用いられる。
図1において、モールド金型が型開き状態において、上型1の上型インサート5に対して基板23が搬入され、吸着装置10を作動させて基板23を半導体素子実装面が下向きとなるように基板吸着面(梨地面)5aに位置合わせして吸着保持する。このとき、基板23は、上型インサート5の撓みにならって、下方に向けて凸になるように吸着保持される。
Here, an example of the resin sealing operation using the resin sealing device will be described.
As the substrate 23, a semiconductor mounting substrate in which a plurality of
In FIG. 1, when the mold is in the mold open state, the substrate 23 is loaded into the
また、下型2のキャビティ凹部17には、顆粒樹脂、半硬化樹脂等の封止樹脂25が供給される。キャビティ凹部17に供給される封止樹脂25は、気泡の混入やワイヤーフローを避けるためできるだけ流動しないように、キャビティ全面で均一で平坦な形態が望ましい。基板23及び封止樹脂25は、図示しないローダーにより供給される。
A sealing
基板23及び封止樹脂25が供給されると、下型2を公知の型締め機構(電動モータ、トグルリンク等)を用いて上昇させる。このとき、先ず図1のように上型インサート5に吸着された基板23に、支えピン18が突き当たって支持する。次いで、シールリング20が上型チェイス4と下型チェイス12との間に挟み込まれて閉鎖空間が形成されると、吸引装置22の吸引動作により、キャビティ内に減圧空間が形成される。吸引装置22は、シールリング20がクランプされる前から作動していてもよい。基板23は撓みを生じた基板中央部より気泡を外側に押し出しながら溶融した封止樹脂25へ徐々に浸漬して行き樹脂の流動もほとんどないため、封止樹脂25が気泡を抱き込んだまま硬化するのを防ぐことができる。具体的には、封止樹脂25は、加熱された可動ブロック15からの熱伝導によりキャビティ凹部17の外周部(特に四隅)において硬化が素早く進行する。このため、例えば基板23を均一な高さで保持したままで封止樹脂25に浸漬すると、外周部が既に硬化が進行してしまっているため、中央部に気泡が存在していたときにはその気泡は硬化の進んだ外周部の封止樹脂25に阻まれて排出し難くなるおそれがある。しかしながら、基板中央部が下方に凸となるように撓ませながら基板23を封止樹脂25に浸漬することにより、常に浸漬される界面から外周側に向けて隙間を作りながら浸漬できる。したがって、気泡を基板外周部に向けて排出しながらクランプすることができるため、成形後の封止樹脂25への気泡の混入を確実に防止することができる。
When the substrate 23 and the sealing
このように、上型1に基板23を吸着保持されたまま型締め動作が開始されると、基板23が先ず可動ブロック15の基板クランプ面15aより突出している支えピン18により支持されるので、上型インサート5に吸着された基板23の落下を防ぐことができる。特に、減圧空間が形成される際に、吸引装置22の吸引動作と吸着装置10による基板吸着動作が平衡状態になるので、基板23の落下防止に有効である。
Thus, when the mold clamping operation is started while the substrate 23 is attracted and held on the
次に、図2のように下型2の可動ブロック15の支えピン18が可動ブロック15内に没入し基板クランプ面15aが基板23をクランプすると、キャビティ内の樹脂圧が基板23の全面に作用するので、コイルスプリング7の付勢に抗して基板23及び上型インサート5の撓みが押し戻されて平坦状に支持される。上型インサート5は樹脂圧力により平坦状に押し戻されて外形が僅かに(1μm未満)拡大するが、偏りなく全体的に変形し上型チェイス4の側壁に位置決めされるため、撓みの押し戻しによる位置ずれは生じない。また、封止樹脂25が硬化縮小しても上型インサート5の撓みによりクランプ圧を作用し続ける。
Next, as shown in FIG. 2, when the
型締め状態で封止樹脂25を加熱硬化させて吸引装置22による吸引動作を停止し、下型2を下動させて型開きを行なう。型開きすると基板23は上型インサート5に吸着されたままであるので、成形品がキャビティより離型し、支えピン18が可動ブロック15より再度基板23を押し上げるので、成形品の離型を促進する。
In the mold clamping state, the sealing
以上のように、封止樹脂25に基板中央部から外周縁部に向かって接触させて漸次樹脂圧力が強まるので、気泡が存在しても樹脂圧力が最初に高圧となる基板中央部より低圧な基板外周縁部に向って移動して押し出され、気泡の抱き込みを防ぐことができる。また、上型チェイス4と下型チェイス12との間に設けられたシールリング20がクランプされるとキャビティ内に減圧空間が形成されて基板クランプ動作が行なわれるので、基板23と接触した樹脂圧力と減圧されたキャビティ内の圧力差が大きくなって基板23と封止樹脂25との界面に存在する空気はキャビティ外へ押し出されて排気される。よって、パッケージ部が薄型で大型な製品であっても、気泡が混入することなく成形でき、成形品質を向上させることができる。また、封止樹脂25が硬化収縮してもコイルスプリング7の付勢により上型インサート5が追従して撓むことにより、パッケージ部(樹脂封止部)を押圧し続けることにより均一な樹脂密度で樹脂封止することができる。つまり、例えば平坦な上型インサート5を用いたときには、上型インサート5でクランプすることにより加えられる成形圧力の大部分をより硬化の進んだ基板外周部の封止樹脂25で受け持つ(支持する)状態となるため、硬化の進行が遅い中央部の封止樹脂25では成形圧力が相対的に小さくなる。しかしながら、本実施例では上型インサート5の中央部が下方に凸となるため、基板外周部の硬化の進行状態と関係なく基板中央部の封止樹脂25にも所望の成形圧力(クランプ圧)を加えることができる。したがって、封止樹脂25に作用する成形圧力の分布を均一化にすることができ、パッケージ部(樹脂封止部)をより均一な樹脂密度で樹脂封止することが可能となっている。
As described above, since the resin pressure gradually increases as the sealing
次に、樹脂封止装置の他例について説明する。
図1及び図2のモールド金型と概略構成は同様であるので、同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとし、異なる構成を中心に説明する。
次に、図3において、モールド金型の概略構成は図1及び図2と同様であるが、下型2に減圧空間を形成するシールリング20や吸引装置22及びエア吸引路21は省略されており、基板23を支持する支えピン18も省略されている。本実施例は下型2のキャビティ凹部17を覆ってリリースフィルム28が設けられる。
Next, another example of the resin sealing device will be described.
Since the schematic configuration is the same as that of the mold of FIGS. 1 and 2, the same reference numerals are assigned to the same members, and the description will be referred to, and different configurations will be mainly described.
Next, in FIG. 3, the schematic configuration of the mold is the same as in FIGS. 1 and 2, but the
リリースフィルム28は、モールド金型の加熱温度に耐えられる耐熱性を有するもので、金型面より容易に剥離するものであって、キャビティ凹部17の内面にならって変形する柔軟性、伸展性を有するもの、例えば、PTFE、ETFE、PET、FEPフィルム、フッ素含浸ガラスクロス、ポリプロピレンフィルム、ポリ塩化ビニリジン等が好適に用いられる。リリースフィルム28は、長尺状のものをリリースフィルム供給機構(図示せず)により連続してモールド金型へ供給するようになっていても、或いは予め短冊状に切断されたものを用いてもいずれでも良い。
リリースフィルム28は、可動クランプ15の基板クランプ面15aや可動ブロック15とセンターブロック14との隙間29を通じて吸着保持される。
The
The
図3において、モールド金型が型開き状態において、上型1の上型インサート5に対して基板23が搬入され、吸着装置10を作動させて基板23を半導体素子実装面が下向きとなるように基板吸着面(梨地面)5aに位置合わせして吸着保持する。このとき、基板23は、上型インサート5の撓みにならって、下方に凸となるように吸着保持される。
In FIG. 3, when the mold is in the mold open state, the substrate 23 is carried into the
また、下型2にはキャビティ凹部17を覆ってリリースフィルム28が吸着保持されている。このリリースフィルム28に覆われたキャビティ凹部17に顆粒樹脂、粉砕樹脂、半硬化樹脂等の封止樹脂25が供給される。キャビティ凹部17に供給される封止樹脂25は、気泡の混入を避けるためできるだけ流動しないように、キャビティ全面で均一で平坦な形態が望ましい。基板23及び封止樹脂25は、図示しないローダーにより供給される。
In addition, the
基板23及び封止樹脂25が供給されると、下型2を公知の型締め機構(電動モータ、トグルリンク等)を用いて上昇させる。このとき、先ず図4のように上型インサート5に吸着された基板23に、リリースフィルム28を介して可動ブロック15が突き当たって支持する。また、基板23は撓みを生じた基板中央部より溶融した封止樹脂25へ徐々に浸漬して行き、樹脂の流動もほとんどないため、封止樹脂25への気泡の抱き込みを防ぐことができる。また、封止樹脂25に基板中央部から外周縁部に向かって接触させて漸次樹脂圧力が強まるので、気泡が存在しても樹脂圧力が最初に高圧となる基板中央部より低圧な基板外周縁部に向って移動して基板23とリリースフィルム28との界面を通じて押し出され、気泡の抱き込みを防ぐことができる。
When the substrate 23 and the sealing
上記リリースフィルム28を用いれば、封止樹脂25として粉砕樹脂、顆粒樹脂、シート樹脂等様々な樹脂を用いることができ、金型汚れが発生し難くなるため金型メンテナンスが簡略化でき、しかも離型性がよいため、量産性を高めることができる。
When the
また、封止樹脂として台紙付シート樹脂を用いて樹脂封止を行なってもよい。台紙には金属台紙ないしは樹脂当接面が梨地加工面に加工された金属台紙が好適に用いられる。また、台紙に積層されている樹脂シートは半硬化状態(Bステージ)の樹脂が好適に用いられる。
上記台紙付シート樹脂を用いれば、封止樹脂のハンドリングがし易く、かつ離型性もよいため、製造工程が簡略化できる。
また、封止樹脂として液状の樹脂を用いて樹脂封止を行なってもよい。
Further, resin sealing may be performed using a sheet resin with a mount as the sealing resin. As the mount, a metal mount or a metal mount in which the resin contact surface is processed into a satin finish surface is preferably used. Moreover, the resin sheet laminated | stacked on a base_sheet | mounting_paper is used suitably for semi-cured resin (B stage).
If the above-mentioned sheet resin with a mount is used, it is easy to handle the sealing resin and good releasability, so that the manufacturing process can be simplified.
In addition, resin sealing may be performed using a liquid resin as the sealing resin.
1 上型
2 下型
3 上型ベース
3a ねじ孔
4 上型チェイス
4a 貫通孔
5 上型インサート
5a 基板吸着面
6 ガイドブロック
7 コイルスプリング
8 押圧ねじ
9a,9b,9c,21 エア吸引路
10 吸着装置
11 下型ベース
12 下型チェイス
13 ヒータ
14 センターブロック
15 可動ブロック
15a 基板クランプ面
16 第1のばね
17 キャビティ凹部
18 支えピン
19 第2のばね
20 シールリング
22 吸引装置
23 基板
24 半導体素子
25 封止樹脂
26 シール材
28 リリースフィルム
29 隙間
1
29 Clearance
Claims (1)
前記下型は下型ベースに固定された下型チェイスに、センターブロック及び該センターブロックの周囲に弾性体により上方へ付勢された可動ブロックが設けられて前記キャビティ凹部が形成され、前記可動ブロックの基板クランプ面には、前記上型に吸着保持された基板に突き当てて支持する複数の支えピンが基板クランプ面より突出若しくは没入可能に設けられ、前記上型は上型ベースに上型チェイスが固定され、前記上型チェイスと前記下型チェイスとの間にはシールリングが設けられており、型締め動作を開始すると、前記上型に吸着保持された基板に前記各支えピンが突き当たって支持し、前記シールリングが前記上型チェイスと前記下型チェイスとでクランプされるとキャビティに連通する吸引路を通じた吸引装置による吸引動作により当該キャビティ内に減圧空間が形成されて型締めされることを特徴とする樹脂封止装置。 Resin sealing that is clamped with a lower mold in which a cavity resin is filled with a sealing resin while a semiconductor element mounting substrate on which a plurality of semiconductor elements are mounted on one side is held by suction on the upper mold A device,
The lower die has a lower die chase fixed to a lower die base, a center block and a movable block urged upward by an elastic body around the center block to form the cavity recess, and the movable block A plurality of support pins that abut against and support the substrate held by suction on the upper die are provided on the substrate clamp surface of the upper die so as to protrude or immerse from the substrate clamp surface. Is fixed, and a seal ring is provided between the upper die chase and the lower die chase. When the mold clamping operation is started, the support pins abut against the substrate held by suction on the upper die. Support and suction operation by a suction device through a suction path communicating with the cavity when the seal ring is clamped by the upper die chase and the lower die chase Resin sealing apparatus according to claim more to the vacuum space within the cavity is formed clamping.
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