JP5669434B2 - 回折素子及び回折素子の製造方法及びそれを用いた分光器 - Google Patents
回折素子及び回折素子の製造方法及びそれを用いた分光器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5669434B2 JP5669434B2 JP2010107105A JP2010107105A JP5669434B2 JP 5669434 B2 JP5669434 B2 JP 5669434B2 JP 2010107105 A JP2010107105 A JP 2010107105A JP 2010107105 A JP2010107105 A JP 2010107105A JP 5669434 B2 JP5669434 B2 JP 5669434B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diffraction
- diffraction grating
- diffraction element
- substrate
- straight line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23C—MILLING
- B23C3/00—Milling particular work; Special milling operations; Machines therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/20—Rowland circle spectrometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/0944—Diffractive optical elements, e.g. gratings, holograms
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
- G02B5/1842—Gratings for image generation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/18—Diffraction gratings
- G02B5/1861—Reflection gratings characterised by their structure, e.g. step profile, contours of substrate or grooves, pitch variations, materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23C—MILLING
- B23C2226/00—Materials of tools or workpieces not comprising a metal
- B23C2226/31—Diamond
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T82/00—Turning
- Y10T82/10—Process of turning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
さらに、その回折素子を使用した分光器を用い、出力画像の分光分析を行うことのできるカラー画像形成装置に関するものである。
尚、凹面回折格子とは、回折格子が形成されている基板の面が、凹形状よりなる回折格子のことである。
図18はこの種の分光器の分光方向の要部断面図である。
図18において、入射スリット101から入射した光束は、紙面と垂直方向に微細な溝が刻まれた凹面回折格子102により波長毎に異なる角度へ回折され、CCD等の一次元アレイ状の光検出器103上に集光される。そして、一次元アレイ状の光検出器103の各受光素子に入射した光の強度を測定することにより分光測定を行っている。
このローランド円104上の入射スリット101から入射した光束は、凹面回折格子102で反射回折された後、ローランド円104上に結像する。
従って高精度の分光測定を行うために、入射スリット101と光検出器103はローランド円104上に配置されている。
図19は入射スリット101から光検出器103までの分光方向の断面の結像状態を示した図である。
なお、ここで示す図は代表として、凹面回折格子102で反射回折された特定波長の光束についての結像状態を示している。
光検出器103はローランド円104上の一部に配置されているため、分光方向の断面内において、反射回折された光束は光検出器103上に良好に結像されている。
図19同様、ここで示す図は代表として、凹面回折素子102で反射回折された特定波長の光束についての結像状態を示している。
図20で示す断面内においては、反射回折された光束は光検出器103上には結像せず、凹面回折素子102から見て光検出器103よりも遠くの位置で結像してしまう。
これは、図19の場合は凹面回折格子102で反射回折された光束と、凹面回折格子102とローランド円104の接点Aとローランド円の中心点A’を結ぶ線とが所定の角度φを有するのに対し、図20の場合は角度を有さないことに起因している。
従って、必然的に分光方向と直交する方向には光束は集光せず、光検出器103の各受光素子に入射する光束の強度が低下してしまうという不具合があった。
それを防止するためには、凹面回折素子102の凹面の形状を、図20で示す分光方向と直交する断面内の曲率半径を、図19で示す分光方向の断面内の曲率半径よりも小さくすれば良い。
即ち、凹面回折素子102の形状をアナモフィックなトーリック面とすることにより上記不具合を解消することが可能である。
図21において、102が凹面回折素子であり、図20で示した分光方向の断面をxy平面、図20で示した分光方向と直交する方向の断面をzx平面となるように直交座標系を定義する。
ここで、凹面回折素子102の凹面の形状は、分光方向(y方向)と直交する方向の断面内(zx平面内)の曲率半径rが、分光方向の断面内(xy平面内)の曲率半径Rよりも小さくなっている。このことから、凹面回折素子102の凹面の形状を、曲率半径rの円弧をz軸を回転軸にして半径Rの円弧に沿って回転させた、所謂一般的なトーリック面とすることが考えられる。
本明細書では、上記の様な一般的なトーリック面を以下、「z-トーリック面」と呼ぶこととする。
凹面回折素子102上に形成された具体的な回折格子201のパターンを図21のX軸の方向から見た図を図22に示す。
また、凹面回折素子102は回折効率を向上させる為、一般的に凹面回折素子102の回折格子をブレーズド格子とすることが望ましい。
図23において、凹面回折素子102に入射した入射光は、回折格子201で反射回折される。このとき、1次回折光を分光分析に使用する場合は、図23で示したようなブレーズド格子201とし、1次回折光が反射回折される方向に回折格子201の斜面202を傾けることによって1次回折光の回折効率を向上させることができる。
図24は、図23で示したブレーズド格子201の加工(製造)の様子を示す図である。
図24において、凹面回折素子102は、シャンク203の端部にろう付け等により固定された超硬または単結晶のダイヤモンドチップ204からなるバイト205によって切削加工される。
バイト205のシャンク203はNC工作機械の主軸(図示せず)に固定され、主軸の回転軸206回りに回転駆動されることによって角度θのブレーズド角を有するブレーズド格子201がフライカット加工により所望の形状に切削加工される。
なお、NC工作機械の主軸または凹面回折素子102が紙面に対し垂直方向に移動されることにより図22に示したように、図21におけるX軸の方向から見てz軸に平行な直線状の回折格子201が形成される。
図25は、「z-トーリック面」上のP点を加工している様子を描いている。P点を加工しているとき、バイト205の主軸の回転軸206はXY平面内に存在する。そして、例えばバイト205の主軸の回転軸206を、原点OとP点を結んだ直線Lと直交し、且つXY平面内に存在する直線Mの回りに回転させると、図中Nで示すような回折格子が加工されることになる。
このように加工すれば、バイト205の主軸の回転軸206と、バイトの移動方向が常に直交する為、回折格子Nの断面はP点以外のどの位置においても常に図24に示したように角度θのブレーズド角を有するブレーズド格子としてフライカット加工により所望の形状に切削加工されることになる。
図から解るように、X軸方向から見た場合、原点を通る回折格子以外は直線とはならず、外側に膨らんだような形状となってしまう。
これは、バイト205の主軸の回転軸206を、原点OとP点を結んだ直線Lと直交し、且つXY平面内に存在する直線Mの回りに回転させるという方法で加工したからである。
このような加工方法で加工した場合には、X軸方向からではなく、原点Oに視点を置いて回折格子を見たときにのみ、全ての回折格子が直線状となる。
その為、通常は図22に示すように、回折格子の各々の格子はX軸方向から見た場合に、全ての格子がZ軸に平行な直線であって互いの間隔が等しくなるように加工する必要がある。
原点Oから見たときには、直線ではなく、この図に示すように外側に反るような形状に格子を加工してやれば良い。このことは単純な幾何学的考察から比較的容易に理解出来るであろう。
図28において、P点を加工しているとき、バイト205の主軸の回転軸206はXY平面内に存在する。そして、例えばバイト205の主軸の回転軸206を、原点OとP点を結んだ直線Lと直交し、且つXY平面内に存在する直線Mの回りに回転させると同時にさらにY軸方向にも移動させる。
そうすれば、図27に示すような回折格子を加工することが出来る。
しかし、このような加工方法で回折格子を加工した場合、Y軸上の点P以外の場所では、バイト205の主軸の回転軸206と、バイトの移動方向が直交しない為、図24で示した回折格子の壁部207がバイト205の回転により削り取られ、垂直にならないという不都合が生じる。
バイト205は、その回転軸である206回りに回転駆動されることによってフライカット加工により切削加工を行っているが、Q点を加工しているとき、バイトは矢印で示した方向(Q点における回折格子の接線方向)に移動していることになる。その結果、バイト205の回転軸である206とバイト205の移動方向が直交していない為、回折格子の壁部207がバイト204の回転によって削り取られてしまい、垂直とはならなくなってしまう。
回折格子201の壁部207の軌跡(即ち、バイト205の移動方向)と、バイト205を回転させる主軸の回転軸206とが直交しないために、回折格子201の壁部207がバイト205の回転によって図30で示したように削り取られてしまう。
本発明は受光手段に入射する光束の強度の低下を防止しつつ、回折効率に低下が無く、フレア等の問題が発生しない高精度な回折素子及び回折素子の製造方法及びそれを用いた分光器の提供を目的とする。
以下、図面を用いて本発明の実施例を説明する。
同図において、1は入射光導入手段としての入射スリットであり、後述する回折素子2に例えば分光測定する被検体(トナー像)からの光束(光)を入射させている。本実施例においては回折素子2の後述するローランド円上の一部に入射スリット1を配置した構成としている。
2は回折素子であり、曲面(面)3より成る基板3aに複数の格子よりなる回折格子10が形成されており、紙面と垂直方向に微細な溝が刻まれている。また回折格子10が形成されている曲面3は凹形状より成っている。
本実施例における回折素子2は、反射型の回折素子より成っている。以下、曲面3が凹形状より成る回折素子2を「凹面回折素子2」とも称す。
5はローランド円である。ここで、ローランド円とは、凹面回折素子2の中心を通りその曲率半径を直径とする円と定義される。
本実施例において、このローランド円5上の入射スリット1から入射した光束は、凹面回折素子2で反射回折された後、ローランド円5上に結像する。従って本実施例においては、高精度の分光測定を行うために、入射スリット1と光検出器4はローランド円5上の一部に配置する構成としている。
本実施例の凹面回折素子2の回折格子10が形成された面3の分光方向(Y方向)の断面の曲線(I)の形状は、その曲率半径がRである円弧形状を成している。
なお、図2においては煩雑さを避けるため、図1に示した入射スリット1から凹面回折素子2までの光路は省略して描いている。
本実施例の凹面回折素子2の回折格子10が形成された面3の分光方向と直交する方向の断面の曲線の形状は、その曲率半径がrである円弧形状を成している。
ここで、前述したように分光方向と直交する方向の断面においても光検出器4上に良好に結像させるように、分光方向と直交する方向の断面の曲率半径rを、分光方向の断面の曲率半径Rよりも小さな曲率半径に設定している。
従って、凹面回折素子2の回折格子10が形成された面3は、分光方向の断面の曲率半径Rと分光方向と直交する方向の断面の曲率半径rが異なるトーリック面となっている。
同図において、3は上記の如く凹面回折素子2の回折格子が形成された面(曲面)であり、図1で示した分光方向の断面をxy平面、図2で示した分光方向と直交する方向の断面をzx平面となるように直交座標系を定義する。
ここで、凹面回折素子2の回折格子が形成された面3の形状は、分光方向と直交する方向の断面内(zx平面内)の曲線3aが、その曲率半径がrである円弧である。また分光方向の断面内(xy平面内)の曲線(I)が、その曲率半径がRである円弧である。
そして、分光方向と直交する方向の断面内(zx平面内)の曲率半径rが、分光方向の断面内(xy平面内)の曲率半径Rよりも小さくなっている。
つまり、曲面3は、図3に示すように一平面上に存在する曲線(I)を、同一の一平面上に存在する直線(II)を回転軸として回動させたときに形成されるアナモフィック形状より成っている。
本明細書では、本実施例の様なトーリック面を「y-トーリック面」と呼ぶこととする。
本実施例においては、凹面回折素子2の回折格子が形成された面3の形状を図3で説明した様な「y-トーリック面」としたことに大きな特徴がある。
凹面回折素子2の分光方向は図3におけるxy平面内の方向であるから、凹面回折素子2の面3上の回折格子10の各々の格子10aは、凹面回折素子2を図3におけるX軸の方向から見てz軸に平行な直線となっている。
また、回折格子10を構成する各々の格子10aは、上記回転軸(II)と直交する各々の断面内に存在している。
本実施例の凹面回折素子2に形成されている回折格子10は、回折効率を向上させるため、ブレーズド格子としている。
凹面回折素子2に入射した入射光は、面3に形成された回折格子10で反射回折される。しかしながら、1次回折光を分光分析に使用している為、図5で示したようなブレーズド格子とし、1次回折光が回折される方向に回折格子10の斜面6を傾けることによって1次回折光の回折効率を向上させている。
図6は、図5で示したブレーズド格子10の加工(製造)の様子を示す図である。
本実施例の凹面回折素子2のブレーズド格子10は、以下に示す如く、加工工具を一平面上に存在する回転軸(III)の回りに有限の回転半径で回転させて切削加工を行う工程により加工される。さらに、加工工具が回転可能に取着されている回転軸(III)を、直線(II)を回転軸とし、直線(II)の回りに回転させて切削加工を行う工程により加工される。
本実施例において、凹面回折素子2の回折格子(ブレーズド格子)10が形成される面3は、シャンク7の端部にろう付け等により固定された超硬または単結晶のダイヤモンドチップ8からなるバイト9によって切削加工される。
バイト9のシャンク7はNC工作機械の主軸(図示せず)に固定され、主軸の回転軸(III)の回りに回転駆動されることによって回折格子10の斜面6が角度θのブレーズド角を有するブレーズド格子10がフライカット加工により切削加工される。
なお、NC工作機械の主軸または凹面回折素子2が紙面垂直方向に移動されることにより図5に示したように、図3におけるX軸の方向から見てz軸に平行な直線状の回折格子10が形成される。
図7においてバイト9は、その回転軸である主軸の回転軸(III)回りに回転駆動されることによってシャンク7の端部にろう付け等により固定された超硬または単結晶のダイヤモンドチップ8でフライカット加工により切削加工している。
なお、バイト9はNC工作機械の主軸が図中矢印Aで示したz軸方向に移動されることにより直線状の回折格子10が形成される。
図7における符番11は、図6に示した加工されるべきブレーズド格子10の壁部を示している。
よって図8で示すように、回折格子10の壁部11は設計値通りの理想的な形状で加工することが可能となる。
この理由は、凹面回折素子2の回折格子10が形成された面3の形状を図3で説明した様な「y-トーリック面」としたことによる。
つまり、凹面回折素子2の回折格子10が形成された面3の形状を、曲率半径Rの円弧としたからである。即ち、本実施例においては、曲線(I)を分光方向と直交する方向の断面内(zx平面内)の曲率半径rの円弧の曲率中心を通りy軸に平行な直線(II)を回転軸として回転させたトーリック面としている。
図9では、図4のP点を加工している様子が描かれている。そして、P点を加工しているときには、図6及び図7で示したように、回折格子10の壁部11の軌跡(即ち、バイト9の移動方向)と、バイト9を回転させる主軸の回転軸(III)とが直交している。従って、回折格子10の壁部11を設計値通りの理想的な形状で加工出来ることは容易に理解出来るであろう。
バイト9は、その主軸の回転軸(III)回りに回転してP点を加工している。そして、バイト9の主軸の回転軸(III)は、P点を加工している時にはxy平面内に存在している。
ここで「y-トーリック面」とは前述の如く曲率半径Rの円弧、即ち曲線(I)を分光方向と直交する方向の断面内(zx平面内)の曲率半径rの円弧3aの曲率中心r0を通りy軸に平行な直線(II)を回転軸として回転させた面として定義されている。
従って、バイト9の主軸の回転軸(III)と「y-トーリック面」を定義する為の曲線(I)を回転させた時の回転軸(II)との相対的な位置関係を保持したまま、バイト9の主軸の回転軸(III)を、該回転軸(II)の回りに回転させれば良い。つまり、回転軸(III)を回転軸(II)の回りに回転させれば、図4のQ点を加工している時においても回折格子の壁部11の軌跡(即ちバイト9の移動方向)と、バイト9を回転させる主軸の回転軸(III)とが直交していることになる。
従って、図4のQ点を加工する場合においても、回折格子10の壁部11を設計値通りの理想的な形状で加工出来ることが理解出来るであろう。
そして、分光方向と直交する方向の断面内(zx平面内)の曲率半径rを、分光方向の断面内(xy平面内)の曲率半径Rよりも小さくしている。
)の曲率半径rの円弧の曲率中心を通りy軸に平行な直線(II)を回転軸として回転させたトーリック面としている。
そして、上記の加工方法で加工された凹面回折素子2はブレーズド格子10の壁部11がバイト9の回転によって削り取られてしまうことが無いため、回折効率が低下するという不具合が発生することは無い。
さらに不要回折光が増加することも無いので、フレア等の問題が発生することも無く、高品質の回折素子及びそれを用いた分光器を得ることが可能となる。
入射スリット1〜回折面(曲面)3間距離:d1、
回折面3〜受光素子4間距離:d2、
光線入射角度:α、
光線回折角度(基準波長):β
である。
ローランド円5上の一部に配置された入射スリット1から入射した光束は、入射角度9.0度の角度で凹面回折素子2のブレーズド格子(回折格子)10が形成された面3に入射する。
面3に入射した光束は、面3上に形成されたブレーズド格子10で反射回折される。そして550nmの基準波長の光束は回折角度11.74度で回折されてCCD等の受光手段(受光素子)4上に集光(結像)される。
本実施例の分光器は、CCD等の受光素子4上に集光された各波長の光束の強度分布を計測することにより分光分析を行っている。
本実施例においては、凹面回折素子2のブレーズド格子10が形成された面3の形状を、以下のように設定している。つまり、分光方向と直交する方向の断面内(zx平面内)の曲線はその曲率半径が11.0mmである円弧、分光方向の断面内(xy平面内)の曲線(I)はその曲率半径が12.5mmである円弧としている。
そうすることによって分光直交方向(図11のz方向)の集光性能を向上させている。
次に本発明の比較例1を説明する。
比較例1として、分光方向と分光方向と直交する方向の曲率半径をともに12.5mmとした場合の受光素子4上に集光される各波長の集光状態を図12に示す。
分光方向には良好に集光しているが、図11で説明したように分光方向と直交する方向の集光性能は良好とは言えないことが解る。
本実施例におけるブレーズド格子10は、格子10のピッチが1.85μm、格子10の高さが0.25μm、格子10の斜面の傾きが7.8度に設定されている。
本実施例の凹面回折素子2上に形成されたブレーズド格子10は、前述したように理想的な設計値通りに加工可能である。
上記形状における回折効率を図14に示す。図14に示すように350nmから750nmに亙ってバランスの良い回折効率が得られていることが解る。
それに対して、比較例2として従来の一般的な「z-トーリック面」をベース形状にして加工した場合の回折効率を図15に示す。
前述(図30参照)した通り、「z-トーリック面」上にブレーズド格子201を加工する場合は格子201の壁部207が削り取られてしまい所望の回折効率が得られない。
それに比べて本実施例においては、「y-トーリック面」をベース形状にして加工している為、350nmから750nmに亙ってバランスの良い回折効率が得られ、回折効率の低下も少ないことが理解できるであろう。
以上、本発明の好ましい実施例について説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
しかしながら、本発明はこれに限らず、凹面回折素子2を表面に回折格子が形成された金型を使用し、プラスチック材料を用いた射出成型やレプリカ成形等により製造することも可能である。
射出成型やレプリカ成形の方が大量生産が可能であり、容易に供給することが出来る為、好ましい。この場合、上述したブレーズド格子10に対応した形状の成形面を有する成形駒を金型として用いる。
成形駒の加工に関しては本実施例で述べた加工がそのまま適用可能であることは容易に理解できるであろう。
図16は本発明の実施例のカラー画像形成装置の要部概略図である。
本実施例は、光走査装置を4個並べ各々並行して像担持体である感光ドラム面上に画像情報を記録するタンデムタイプのカラー画像形成装置である。
さらに詳しくは、カラー画像形成装置は、光走査装置と、該光走査装置の被走査面に配置され、互いに異なった色の画像を形成する複数の感光体とを有している。さらに感光体上に形成された静電潜像をトナー像として現像する現像器と、現像されたトナー像を被転写材に転写する転写器と、転写されたトナー像を被転写材に定着させる定着器と、前述した分光器とを備えている。被転写材に定着されたトナー像は照明手段81からの光束で照明されている。トナー像からの反射光は集光手段82で集光され、分光器80の入射スリット1に集光される。そして分光器80は被転写材上に定着されたトナー像からの反射光の分光分析を行っている。
図16において、カラー画像形成装置60には、パーソナルコンピュータ等の外部機器52からR(レッド)、G(グリーン)、B(ブルー)の各色信号が入力する。これらの色信号は、装置内のプリンタコントローラ53によって、C(シアン),M(マゼンタ),Y(イエロー)、B(ブラック)の各画像データ(ドットデータ)に変換される。これらの画像データは、それぞれ光走査装置61,62,63,64に入力される。そして、これらの光走査装置からは、各画像データに応じて変調された光ビーム41,42,43,44が出射され、これらの光ビームによって感光ドラム21,22,23,24の感光面が主走査方向に走査される。
前記外部機器52としては、例えばCCDセンサを備えたカラー画像読取装置が用いられても良い。この場合には、このカラー画像読取装置と、カラー画像形成装置60とで、カラーデジタル複写機が構成される。
そして、分光分析により得られた色度が所望の色度からずれている場合には、パーソナルコンピュータ等の外部機器52からR(レッド)、G(グリーン)、B(ブルー)の各色信号の強度を調整して所望の色度に調整する。これによって、所望の色度の画像を得ることが出来るカラー画像形成装置60を達成することが可能となる。
LED等の光源81aと光源81aからの光束をトナー像90に導く照明レンズ81bから成る照明手段81でトナー像90を照明し、トナー像90からの反射光は集光手段82で集光され、分光器80の入射スリット1に集光される。入射スリット1から出射した光束は凹面回折格子2で反射回折され、CCD(ラインセンサー)等の一次元アレイ状の光検出器4上に波長毎に異なる角度で反射回折(分光)される。そして光検出器4の各受光素子に入射した光束の強度を測定することにより分光測定を行っている。
2 回折素子(凹面回折素子)
3 面(曲面)
4 受光手段(光検出器)
10 回折格子(ブレーズド格子)
10a 格子
11 壁部
Claims (12)
- 基板と、該基板の表面上に形成された回折格子と、を含む回折素子であって、
前記基板の表面は、点(O)を中心とする円弧(I)を、直線(II)を回転軸として回動させたときの軌跡として定義されるアナモフィックな曲面であり、
前記点(O)と前記円弧(I)と前記直線(II)とは、同一平面上に存在しており、
前記回折格子を構成する各々の格子は、前記直線(II)に垂直な各々の断面内に存在することを特徴とする回折素子。 - 前記基板の表面は、凹面であることを特徴とする請求項1に記載の回折素子。
- 前記基板の表面は、前記同一平面内での曲率半径(R)が、前記直線(II)に垂直な断面内での曲率半径(r)よりも大きい形状であることを特徴とする請求項1又は2に記載の回折素子。
- 前記回折格子は、反射型のブレーズド格子であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の回折素子。
- 前記回折格子は、前記基板を切削加工することにより形成されたものであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の回折素子。
- 表面に回折格子が形成された金型を用いた射出成型により作成されたものであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の回折素子。
- 表面に回折格子が形成された金型を用いたレプリカ成形により作成されたものであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の回折素子。
- 請求項1乃至7のいずれか1項に記載の回折素子と、前記回折格子に光を入射させる入射光導入手段と、前記回折素子によって分光された光を受光する受光手段と、を有することを特徴とする分光器。
- 前記入射光導入手段と前記受光手段とは、ローランド円上に配置されていることを特徴とする請求項8に記載の分光器。
- 光走査装置と、該光走査装置により感光体の感光面上に形成される静電潜像をトナー像として現像する現像器と、現像された前記トナー像を被転写材に転写する転写器と、転写された前記トナー像を前記被転写材に定着させる定着器と、請求項8又は9に記載の分光器と、を備え、前記分光器は、前記被転写材上に定着した前記トナー像からの反射光の分光分析を行うことを特徴とする画像形成装置。
- 基板と、該基板の表面上に形成された回折格子と、を含む回折素子の製造方法であって、
前記基板の表面は、点(O)を中心とする円弧(I)を、直線(II)を回転軸として回動させたときの軌跡として定義されるアナモフィックな曲面であり、
前記点(O)と前記円弧(I)と前記直線(II)とは、同一平面上に存在しており、
前記回折格子を構成する各々の格子は、前記直線(II)に垂直な各々の断面内に存在しており、
加工工具を前記同一平面上に存在する回転軸(III)の回りに回転させて、前記基板の表面の切削加工を行う第1の工程と、
前記回転軸(III)を前記直線(II)の回りに回転させて、前記基板の表面の切削加工を行う第2の工程と、を有し、
前記第1及び第2の工程により、前記基板の表面上に前記回折格子を形成することを特徴とする回折素子の製造方法。 - 基板と、該基板の表面上に形成された回折格子と、を含む回折素子の製造方法であって、
前記基板の表面は、点(O)を中心とする円弧(I)を、直線(II)を回転軸として回動させたときの軌跡として定義されるアナモフィックな曲面であり、
前記点(O)と前記円弧(I)と前記直線(II)とは、同一平面上に存在しており、
前記回折格子を構成する各々の格子は、前記直線(II)に垂直な各々の断面内に存在しており、
加工工具を前記同一平面上に存在する回転軸(III)の回りに回転させて、金型の表面の切削加工を行う第1の工程と、
前記回転軸(III)を前記直線(II)の回りに回転させて、前記金型の表面の切削加工を行う第2の工程と、を有し、
前記第1及び第2の工程により加工された金型を用いて、前記回折素子を射出成型することを特徴とする回折素子の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010107105A JP5669434B2 (ja) | 2009-05-09 | 2010-05-07 | 回折素子及び回折素子の製造方法及びそれを用いた分光器 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009114058 | 2009-05-09 | ||
JP2009114058 | 2009-05-09 | ||
JP2010107105A JP5669434B2 (ja) | 2009-05-09 | 2010-05-07 | 回折素子及び回折素子の製造方法及びそれを用いた分光器 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010286829A JP2010286829A (ja) | 2010-12-24 |
JP2010286829A5 JP2010286829A5 (ja) | 2013-06-20 |
JP5669434B2 true JP5669434B2 (ja) | 2015-02-12 |
Family
ID=43062206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010107105A Active JP5669434B2 (ja) | 2009-05-09 | 2010-05-07 | 回折素子及び回折素子の製造方法及びそれを用いた分光器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8767300B2 (ja) |
JP (1) | JP5669434B2 (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5415060B2 (ja) | 2008-05-15 | 2014-02-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光モジュール |
JP5205239B2 (ja) * | 2008-05-15 | 2013-06-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光器 |
JP2009300417A (ja) * | 2008-05-15 | 2009-12-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュールの製造方法及び分光モジュール |
JP5205241B2 (ja) * | 2008-05-15 | 2013-06-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光モジュール |
JP5205242B2 (ja) * | 2008-05-15 | 2013-06-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光器の製造方法 |
JP5207938B2 (ja) | 2008-05-15 | 2013-06-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光モジュール及び分光モジュールの製造方法 |
JP2009300422A (ja) * | 2008-05-15 | 2009-12-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 分光モジュール |
JP5424957B2 (ja) * | 2009-04-30 | 2014-02-26 | キヤノン株式会社 | 分光測色装置およびそれを用いた画像形成装置 |
JP5421684B2 (ja) * | 2009-07-29 | 2014-02-19 | キヤノン株式会社 | 回折光学素子、それを用いた分光測色装置および画像形成装置 |
JP5731811B2 (ja) * | 2010-12-15 | 2015-06-10 | キヤノン株式会社 | ブレーズ型回折格子の製造方法及びそのための型の製造方法 |
JP5864920B2 (ja) * | 2010-12-20 | 2016-02-17 | キヤノン株式会社 | 回折格子の製造方法 |
JP6032869B2 (ja) | 2011-03-10 | 2016-11-30 | キヤノン株式会社 | ブレーズ型回折格子 |
TWI440833B (zh) * | 2011-12-30 | 2014-06-11 | Oto Photonics Inc | 混合式繞射光柵、模具及繞射光柵及其模具的製造方法 |
JP6113940B1 (ja) | 2015-08-04 | 2017-04-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光器 |
TWI715599B (zh) | 2016-07-12 | 2021-01-11 | 台灣超微光學股份有限公司 | 光譜儀模組及其製作方法 |
CN112422796B (zh) * | 2020-11-17 | 2023-04-07 | 维沃移动通信有限公司 | 摄像头结构、摄像控制方法、装置及电子设备 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1510108A (en) * | 1974-05-28 | 1978-05-10 | Nat Res Dev | Spectrometers |
US4192994A (en) * | 1978-09-18 | 1980-03-11 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Diffractoid grating configuration for X-ray and ultraviolet focusing |
JPS63218828A (ja) * | 1987-03-06 | 1988-09-12 | K O Denshi Kogyo Kk | 測色装置 |
US4815849A (en) * | 1987-12-30 | 1989-03-28 | Hewlett-Packard Company | Spectrometer using concave holographic diffraction grating |
US5066127A (en) * | 1989-08-29 | 1991-11-19 | Hyperfine, Inc. | Stigmatic imaging with spherical concave diffraction gratings |
US5384656A (en) * | 1991-10-16 | 1995-01-24 | Hyperfine, Inc. | Astigmatism corrected gratings for plane grating and spherical mirror spectrographs |
JPH05340813A (ja) | 1992-06-11 | 1993-12-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 分光器 |
US5371586A (en) * | 1992-10-09 | 1994-12-06 | Instruments Sa, Inc. | Low aberration diffraction grating system |
JPH08271335A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-10-18 | Shimadzu Corp | 回折格子および同回折格子を用いた回折格子分光器 |
JP3249081B2 (ja) * | 1997-12-29 | 2002-01-21 | キヤノン株式会社 | 回折面形状及び光学素子の製造方法 |
JP2001091716A (ja) * | 1999-09-22 | 2001-04-06 | Canon Inc | 回折光学素子及びその製造方法 |
JP3652182B2 (ja) * | 1999-09-24 | 2005-05-25 | キヤノン株式会社 | 回折格子の加工方法及び加工装置 |
JP4442858B2 (ja) * | 2003-11-26 | 2010-03-31 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置 |
JP2006334767A (ja) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Nidec Sankyo Corp | 光学素子の製造方法および光学素子 |
JP5016855B2 (ja) | 2006-06-15 | 2012-09-05 | キヤノン株式会社 | 分光器及び分光方法 |
JP2008049463A (ja) * | 2006-08-28 | 2008-03-06 | Olympus Corp | 溝加工用ncプログラム作成装置、溝加工用ncプログラム作成方法、制御プログラム |
JP5256452B2 (ja) * | 2007-03-02 | 2013-08-07 | 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 | 反射型回折格子ホログラム及びx線集光システム |
WO2008117555A1 (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Konica Minolta Opto, Inc. | 光学素子及び光学素子用金型の加工方法 |
JP2009008471A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Canon Inc | 分光測定装置及びそれを用いた光学装置 |
-
2010
- 2010-05-07 JP JP2010107105A patent/JP5669434B2/ja active Active
- 2010-05-10 US US12/776,649 patent/US8767300B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010286829A (ja) | 2010-12-24 |
US20100284084A1 (en) | 2010-11-11 |
US8767300B2 (en) | 2014-07-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5669434B2 (ja) | 回折素子及び回折素子の製造方法及びそれを用いた分光器 | |
JP5411778B2 (ja) | 分光測色装置、およびそれを用いた画像形成装置 | |
JP5421684B2 (ja) | 回折光学素子、それを用いた分光測色装置および画像形成装置 | |
JP5440110B2 (ja) | 分光特性取得装置、分光特性取得方法、画像評価装置、及び画像形成装置 | |
US8462406B2 (en) | Spectral colorimetric apparatus and image forming apparatus using the same | |
JP6311267B2 (ja) | 分光特性取得装置、画像評価装置、画像形成装置 | |
JPH04294223A (ja) | ダイオード列型分光分析器 | |
JP2011080980A (ja) | 分光特性取得装置 | |
JP6230222B2 (ja) | レンズアレイ光学系及びレンズアレイの製造方法 | |
JP2009008471A (ja) | 分光測定装置及びそれを用いた光学装置 | |
EP2647983B1 (en) | Spectroscopic apparatus | |
JP2009158720A (ja) | 露光装置及びデバイス製造方法 | |
JPH08271335A (ja) | 回折格子および同回折格子を用いた回折格子分光器 | |
JP5792959B2 (ja) | 光書き込みヘッド及び画像形成装置 | |
JP6107187B2 (ja) | 分光特性取得装置、画像評価装置、及び画像形成装置 | |
JP5644296B2 (ja) | 分光特性取得装置、画像評価装置、及び画像形成装置 | |
TW201708797A (zh) | 光譜儀、單光儀、繞射光柵、繞射光柵的製造方法與母模的製造方法 | |
JP4844225B2 (ja) | 画像読取装置および画像形成装置 | |
JP2011166568A (ja) | 画像読取装置用の調整基準チャート及びそれを用いた光学評価方法 | |
JP5705294B2 (ja) | 分光測色装置およびそれを用いた画像形成装置 | |
JP4389818B2 (ja) | 回折格子 | |
JP2025057037A (ja) | 光走査装置及び画像形成装置 | |
US8050167B2 (en) | Optical device | |
JP2017067911A (ja) | 光学素子およびその製造方法並びに光走査装置および画像形成装置 | |
JP2000193416A (ja) | 光記録媒体原盤の測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20101227 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20120730 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20120731 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20120831 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130501 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130501 |
|
RD05 | Notification of revocation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425 Effective date: 20130701 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140327 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140410 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140515 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141118 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141216 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5669434 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |