JP5656099B1 - 光レセプタクル、フェルールおよびプラグフェルール - Google Patents

Abstract

【課題】光レセプタクルにプラグフェルールを繰返し挿抜した際に、ファイバスタブ外周部の異物がファイバスタブ端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止するとともに、スリーブがファイバスタブを保持する長さを保つことでＷｉｇｇｌｅ損失を低減することができる光レセプタクルを提供する。【解決手段】光レセプタクル１は、光を導通する光ファイバ２を内包するフェルール３を有するファイバスタブ４と、ファイバスタブ４を保持する保持具６と、ファイバスタブ４の先端を一端で保持し、他端でプラグフェルール６を保持可能なスリーブ７と、を備え、フェルール３は、フェルール３のプラグフェルールと接続する側の凸球面状に研磨された端面５に、プラグフェルールの挿抜によりフェルール３の外周部から、端面５の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部（凹部８）を有する。【選択図】図１

Description

本発明の態様は、一般に、光レセプタクル、フェルールおよびプラグフェルールに関する。

光レセプタクルは、光通信用トランシーバの光モジュールにおいて、光ファイバコネクタを受光素子や発光素子等の光学素子と光学的に接続させるための部品として用いられる（例えば、特許文献１参照）。また、光通信においては、光レセプタクルを用いることなく、アダプタを介して複数の光ファイバコネクタを互いに接続することがある。

光レセプタクルの基本特性は、前述のように光学素子と光ファイバコネクタを光学的に接続させることであるが、中でも光レセプタクルに挿入された光ファイバコネクタに横荷重がかかることによって、光レセプタクル内のファイバスタブと光ファイバコネクタ内のプラグフェルールの中心軸にズレが生じることによる、一般的にＷｉｇｇｌｅ損失と呼ばれる損失が重要な特性の１つとなっている。

また、通常、光レセプタクルを含む光モジュールにプラグフェルールを最初に挿入する際、接続時の損失や、ファイバへ傷が入り外観上の問題となることを避けるため、光レセプタクルおよびプラグフェルールの互いに接続させる端面のクリーニングが行われる。

ここで光レセプタクルのプラグフェルールと接続する端面のクリーニング方法としては、特許文献２にあるような布状のもので端面の異物を拭き取る方法や、エアブローにより異物を吹き飛ばす方法が一般的に知られているが、該端面は光レセプタクルの先端部から奥まった位置にあるため異物を該端面から完全に除去することは難しく、プラグフェルール接続時に光学的に影響の少ない外周部に移動させるだけとなっている。

このため、従来の光レセプタクルでは、プラグフェルールを繰返し挿抜する過程で、光レセプタクル内のファイバスタブの外周部にある異物が中心部に移動し、接続時の損失が生じるという課題があった。この課題は、アダプタを介して複数の光ファイバコネクタを互いに接続する場合においても生ずる。すなわち、アダプタに対して一方のプラグフェルールを繰返し挿抜する過程で、アダプタ内の他方のプラグフェルールの外周部にある異物が中心部に移動し、一方のプラグフェルールと他方のプラグフェルールとを接続するときに損失が生ずるという課題があった。

光レセプタクルを用いる場合において、上記の課題を解決するためには、プラグフェルールを光レセプタクルに繰り返し挿抜する過程で外周部の異物がファイバスタブの中央部に移動することを防ぐためにファイバスタブの先端部に段差を設けた構造が考えられる（例えば、特許文献３参照）。

しかしながら、特許文献３に記載の構造では前述の効果は得られるが、光レセプタクル内のスリーブが、ファイバスタブを保持する長さが短くなることにより、前述のＷｉｇｇｌｅ損失が大きくなってしまうという課題があった。

特開２００１−６６４６８号公報 特開２００５−９９４５１号公報 特許第４５７０３４７号

本発明の態様は、上記問題を解決するためになされたもので、光レセプタクルあるいはアダプタにプラグフェルールを繰返し挿抜した際に、ファイバスタブ外周部あるいはプラグフェルール外周部の異物がファイバスタブ端面あるいはプラグフェルール端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止することができる、あるいはスリーブがファイバスタブを保持する長さを保つことでＷｉｇｇｌｅ損失を低減することができる光レセプタクルを提供することを目的とする。

第１の発明は、光を導通するための光ファイバを内包するフェルールを有するファイバスタブと、前記ファイバスタブを保持するための保持具と、前記ファイバスタブの先端を一端で保持し、他端で光レセプタクルに挿入されるプラグフェルールを保持可能なスリーブと、を備え、前記フェルールは、前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の凸球面状に研磨された端面に、前記プラグフェルールの挿抜により前記フェルールの外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、前記異物移動抑制部は、前記端面に設けられ円周状に連なる凹部を有し、前記凹部の内面の算術平均粗さは、０．８マイクロメートル以上、３．２マイクロメートル以下であることを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、光レセプタクルにプラグフェルールを繰り返し挿抜した際に、ファイバスタブの外周部の異物がフェルールの端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止するとともに、スリーブがファイバスタブを保持する長さを保つことでＷｉｇｇｌｅ損失を低減することを可能とした。
また、この光レセプタクルによれば、円周状の凹部に異物を収容することができる。

第２の発明は、第１の発明において、前記凹部が、前記プラグフェルールが挿入された際に前記フェルールと前記プラグフェルールが接触する部分よりも外側にあることを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、円周状の凹部がファイバスタブとプラグフェルールとの接続を妨害することを抑制することができる。

第３の発明は、第１または２の発明において、前記凹部が、複数設けられていることを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、円周状の凹部に異物をより確実に収容することができる。

第４の発明は、第１〜３のいずれか１つの発明において、前記凹部の内面の面粗さが、前記凹部以外の領域の面粗さよりも大きいことを特徴とする光レセプタクルである。
第５の発明は、第４の発明において、前記凹部以外の領域は、前記端面の領域であることを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、円周状の凹部に異物を収容し、フェルールの端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制することができる。

第６の発明は、光を導通するための光ファイバを内包するフェルールを有するファイバスタブと、前記ファイバスタブを保持するための保持具と、前記ファイバスタブの先端を一端で保持し、他端で光レセプタクルに挿入されるプラグフェルールを保持可能なスリーブと、を備え、前記フェルールは、前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の凸球面状に研磨された端面に、前記プラグフェルールの挿抜により前記フェルールの外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、前記異物移動抑制部は、前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の端面のうち前記プラグフェルールと直接的には接触しない第１の部分を有し、前記第１の部分の面の平均高さは、０．３０５以上であり、前記第１の部分の面のスキューネスは、−０．２以下であることを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、光レセプタクルにプラグフェルールを繰り返し挿抜した際に、ファイバスタブの外周部の異物がフェルールの端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止するとともに、スリーブがファイバスタブを保持する長さを保つことでＷｉｇｇｌｅ損失を低減することを可能とした。
また、この光レセプタクルによれば、平均高さが０．３０５以上であり、スキューネスが−０．２以下の第１の部分は、異物を捉え、異物の移動を抑制することができる。

第７の発明は、第６の発明において、前記第１の部分のうちの少なくとも一部は、前記ファイバスタブの外周部に連なるテーパー状を有することを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、ファイバスタブを保持具に容易に圧入することができる。

第８の発明は、第６または７の発明において、前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の端面のうち前記プラグフェルールと直接的に接触する第２の部分は、前記第１の部分よりも前記フェルールが前記プラグフェルールと接続する側に突出したことを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、異物がフェルールの端面の中心部に向けて移動することをより確実に抑制することができる。

第９の発明は、第８の発明において、前記第２の部分の端面と、前記第２の部分が前記第１の部分と接続される部分と、の間の距離は、０．２ミリメートル以下であることを特徴とする光レセプタクルである。

この光レセプタクルによれば、異物がフェルールの端面の中心部に向けて移動することを抑制するとともに、耐Ｗｉｇｇｌｅ性能を確保することができる。

第１０の発明は、光を導通するための光ファイバを内包するフェルールであって、
他の部材と接続する側の凸球面状に研磨された端面に、挿抜により外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、前記異物移動抑制部は、前記端面に設けられ円周状に連なる凹部を有し、前記凹部の内面の算術平均粗さは、０．８マイクロメートル以上、３．２マイクロメートル以下であることを特徴とするフェルールである。

このフェルールによれば、例えばアダプタやスリーブなどにフェルールを繰り返し挿抜した際に、フェルールの外周部の異物がフェルールの端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止することができる。
また、このフェルールによれば、円周状の凹部に異物を収容することができる。

第１１の発明は、第１０の発明において、前記凹部は、前記他の部材と接触する部分よりも外側にあることを特徴とするフェルールである。

このフェルールによれば、円周状の凹部がフェルールと他の部材との接続を妨害することを抑制することができる。

第１２の発明は、第１０または１１の発明において、前記凹部が、複数設けられていることを特徴とするフェルールである。

このフェルールによれば、円周状の凹部に異物をより確実に収容することができる。

第１３の発明は、第１０〜１２のいずれか１つの発明において、前記凹部の内面の面粗さが、前記凹部以外の領域の面粗さよりも大きいことを特徴とするフェルールである。
第１４の発明は、第１３の発明において、前記凹部以外の領域は、前記端面の領域であることを特徴とするフェルールである。

このフェルールによれば、円周状の凹部に異物を収容し、フェルールの端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制することができる。

第１５の発明は、光を導通するための光ファイバを内包するフェルールであって、他の部材と接続する側の凸球面状に研磨された端面に、挿抜により外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、前記異物移動抑制部は、前記端面のうち前記他の部材と直接的には接触しない第１の部分を有し、前記第１の部分の面の平均高さは、０．３０５以上であり、前記第１の部分の面のスキューネスは、−０．２以下であることを特徴とするフェルールである。

このフェルールによれば、例えばアダプタやスリーブなどにフェルールを繰り返し挿抜した際に、フェルールの外周部の異物がフェルールの端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止することができる。
また、このフェルールによれば、平均高さが０．３０５以上であり、スキューネスが−０．２以下の第１の部分は、異物を捉え、異物の移動を抑制することができる。

第１６の発明は、第１５の発明において、前記第１の部分のうちの少なくとも一部は、前記他の部材の外周部に連なるテーパー状を有することを特徴とするフェルールである。

このフェルールによれば、フェルールを例えばアダプタやスリーブなどに容易に圧入することができる。

第１７の発明は、第１５または１６の発明において、前記端面のうち前記他の部材と直接的に接触する第２の部分は、前記第１の部分よりも前記他の部材と接続する側に突出したことを特徴とするフェルールである。

このフェルールによれば、異物がフェルールの端面の中心部に向けて移動することをより確実に抑制することができる。

第１８の発明は、第１０〜１７の発明のいずれか１つのフェルールと、前記フェルールのうちの少なくとも一部を内包するフランジと、を備えたことを特徴とするプラグフェルールである。

このプラグフェルールによれば、例えばアダプタやスリーブなどにプラグフェルールを繰り返し挿抜した際に、フェルールの外周部の異物がフェルールの端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止することができる。また、プラグフェルールの挿抜を繰り返しても、研磨された端面に粉塵が付着することを抑制することができる。

光レセプタクルにプラグフェルールを繰返し挿抜した際に、ファイバスタブ外周部の異物がファイバスタブ端面の中心部に移動することで損失が生じることを防止するとともに、スリーブがファイバスタブを保持する長さを保つことでＷｉｇｇｌｅ損失を低減することができる光レセプタクルが提供される。

本発明の第１の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。 本発明の第１の実施形態におけるファイバスタブの凸球面に研磨された端面に形成された凹部の模式断面図である。 本発明の第２の実施形態を示す光レセプタクルにおけるファイバスタブのプラグフェルールと接続される端面の模式図である。 本発明の第３の実施形態におけるファイバスタブ端面に形成された凹部の模式断面図である。 本発明の第４の実施形態を示すファイバスタブのプラグフェルールと接続される側の端面の状態を示す模式図である。 本発明の第５の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。 本発明の第６の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。 本発明の第７の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。 スリーブを介して複数のプラグフェルールが互いに接続された状態を表す模式的断面図である。 本発明者が実施した面粗さに関する検討の結果の一例を例示する表である。 本発明者が実施した面粗さに関する検討の結果の他の一例を例示するグラフ図である。 本発明者が実施した凹部に関する検討に用いた試料を表す模式図である。 本発明者が実施した凹部に関する検討の結果の一例を例示するグラフ図である。 本発明者が実施した凹部の内面の面粗さに関する検討の結果の一例を例示する表である。

以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態について例示をする。尚、各図面中、同様の構成要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。

図１は、本発明の第１の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。
光レセプタクル１は 光を導通するための光ファイバ２を内包するフェルール３を有するファイバスタブ４と、ファイバスタブ４を保持するための保持具６と、ファイバスタブ４の先端を一端で保持し、他端で光レセプタクル１に挿入されるプラグフェルール（他の部材）を保持可能なスリーブ７と、を備える。フェルール３のプラグフェルールと接続する側の端面５に、プラグフェルールの挿抜によりフェルール３の外周部から中心部に向けて移動する異物を収容するための円周状に連なる凹部（異物移動抑制部）８が設けられている。なお、光レセプタクル１に挿入されるプラグフェルールは適宜省略する。

フェルール３に適する材質はセラミックス、ガラス等が挙げられるが、本実施例ではジルコニアセラミックスを用い、その中心部に形成された貫通孔内には光ファイバ２を接着固定し、プラグフェルールと光学的接続される一端を曲率半径ＲがＲ７〜Ｒ２５の凸球面に研磨して端面５を形成した。また、光レセプタクル１の組立てにおいて、ファイバスタブ４は保持具６に圧入固定されている。

スリーブ７に適する材質は樹脂、金属、セラミックス等が挙げられるが、本実施例では全長方向にスリットを有するジルコニアセラミックス製の割りスリーブを用いた。スリーブ７は一端でファイバスタブ４の凸球面に研磨された先端部を保持し、他端で光レセプタクル１に挿入されるプラグフェルールを保持するようになっている。

通常、プラグフェルールおよび光レセプタクル１内のファイバスタブ４のファイバコア上に異物が存在することで損失が生じたり、キズが入ることを防止する為、光レセプタクル１に初めてプラグフェルールを挿入する前にファイバスタブ４の凸球面状の端面５のクリーニングが行われる。しかし、ファイバスタブ４のプラグフェルールが接続される凸球面状の端面５はスリーブ７や保持具６に覆われて奥まった位置に存在するため、その端面５にある異物を完全に光レセプタクル１内から除去することは難しく、凸球面状の端面５の外周部に移動されることになる。

また、ファイバスタブ４のプラグフェルールと接続される凸球面状の端面５は、クリーニングされる際にエアブローによる空気との摩擦等により帯電する。ここでプラグフェルールがファイバスタブ４に接続されると、光ファイバ２を含む中心部においてその外周部よりも密着することになるため、プラグフェルールとファイバスタブ４の間には外周部から中心部に向かう電場が生じることになる。

ファイバスタブ４の凸球面状の端面５の外周部に存在する異物もまた、クリーニング等により帯電している。このため、プラグフェルールとファイバスタブ４の接続により生じた電場により前述の異物は外周部から中心部へ向かって引き付けられ、移動していくことになる。そして、ファイバスタブ４の凸球面状の端面５の中心にある光ファイバ２のコア上に異物が付着することにより、損失が生じる。

これに対して、図１に示す本発明の第１の実施形態においては、ファイバスタブ４のプラグフェルールと接続される凸球面状の端面５上に、異物を収容するための凹部８が設けられているため、プラグフェルールを光レセプタクル１に繰返し挿抜する過程でファイバスタブ４の外周部に付着していた異物が中央部５ａに移動することによる損失を防止できる。

また、光レセプタクル１にプラグフェルールが挿入された状態で、プラグフェルールに横荷重がかかると、プラグフェルールの傾きによりファイバスタブ４との中心軸にズレが生じ、Ｗｉｇｇｌｅ損失が発生することになる。このとき、スリーブ７がその一端でファイバスタブ４を保持する長さが短い場合、プラグフェルールの傾きによるファイバスタブ４との中心軸のズレはより大きくなりＷｉｇｇｌｅ損失が増大する。

これに対して、図１に示す本発明の第１の実施形態においては、スリーブ７がファイバスタブ４を保持する長さが十分に確保されているため、Ｗｉｇｇｌｅ損失を抑制できる。

凹部８は円周状に連なっていることから、ファイバスタブ４の外周部のどの方向から異物が中央部５ａに移動してきた場合であっても確実に異物を収容し、損失の発生を防止できる。

凹部８の幅および深さは、異物を確実に収容するため、０．１ｍｍ以上となっていることが望ましい。

図２は、本発明の第１の実施形態におけるファイバスタブの凸球面に研磨された端面に形成された凹部の模式断面図である。
凹部８は一定以上の幅および深さを持っていれば異物を収容することは可能となる。しかしファイバスタブ４の端面５に凹部８を効率的、且つ経済的に設けるためには、図２（ａ）〜図２（ｄ）のように凹部８の断面図が四角形、Ｖ形状、半円、または底面に行くに従って幅が細くなる各種形状をしていることが望ましい。

図３は、本発明の第２の実施形態を示す光レセプタクルにおけるファイバスタブのプラグフェルールと接続される端面の模式図である。

通常、プラグフェルールは光レセプタクル１に接続される際、後端に設けられたバネにより一定の荷重でファイバスタブ４に押し付けられる。プラグフェルールをファイバスタブ４に押し付けるバネの荷重はＩＥＣ等の国際規格により定められており、プラグフェルールおよびファイバスタブ４の端面５が同様に国際規格により定められた形状を満たしていれば、両者は確実に接続されるように設定されている。

本発明の第２の実施形態において、円周状に連なる凹部８は、光レセプタクル１にプラグフェルールが挿入された際に、プラグフェルールとファイバスタブ４が接触する可能性のある領域９よりも外側に形成されている。これにより、光レセプタクル１にプラグフェルールを繰返し挿抜した際、ファイバスタブ４の外周部の異物がファイバスタブ４の端面５のプラグフェルールと接続される領域９にまで移動することが防止されるため、プラグフェルールとファイバスタブ４は確実に接続されることになる。

ここで、光レセプタクル１にプラグフェルールが挿入された際に、プラグフェルールとファイバスタブ４が接触する可能性のある領域９とは、ファイバスタブ４の中心部からφ２５０マイクロメートル以内の領域である。

図４は、本発明の第３の実施形態におけるファイバスタブ端面に形成された凹部の模式断面図である。
凹部８の内面の面粗さを、フェルール３の端面５の凹部８以外の領域の面粗さよりも大きくすることにより、光レセプタクル１にプラグフェルールを繰返し挿抜する過程で凹部８に落下した異物の全体または一部が、凹部８の内面に形成された微小な凹凸８ａに嵌まりこみアンカー効果を果たすことで、より確実に異物を凹部８内に収容することが可能となる。

ここで、凹部の内面の面粗さは、加工性を考慮すると、算術平均粗さ（Ｒａ）０．８マイクロメートルから３．２マイクロメートル程度であることが望ましい。算術平均粗さが３．２マイクロメートルよりも大きくなると、フェルール３の端面５に設けた凹部（溝部）８を加工で形成する際に、フェルール３に大きな応力がかかることになり、凹部８内に設けた微小な凹凸８ａを基点にフェルール３にクラックが発生する可能性がある。凹部８の面粗さは、たとえば、レーザー顕微鏡等で測定することができる。凹部８の内面の面粗さの詳細については、後述する。

凹部８の内面に微小な凹凸８ａを形成する方法としては、凹部８を加工により形成する際に、面の粗い加工砥石を使用する方法や、凹部を形成後にサンドブラスト等で粗くする等の方法が考えられる。

図５は、本発明の第４の実施形態を示すファイバスタブのプラグフェルールと接続される側の端面の状態を示す模式図である。
ファイバスタブ４の端面５に、複数の円周状に連なる凹部が設けられていることにより、光レセプタクル１にプラグフェルールを繰返し挿抜する過程で、ファイバスタブ４の外周部から中心部に移動する異物をより確実に収納することができる。内周側にある第１の凹部８１と、外周側にある第２の凹部８２の幅、深さ、および断面形状は同じである必要はない。

図６は、本発明の第５の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。
図６（ａ）は、本実施形態にかかる光レセプタクルを表す模式断面図である。図６（ｂ）は、本実施形態のファイバスタブの端面を表す模式断面図である。

図６（ａ）に表した光レセプタクル１ａが備える部材は、第１の実施形態と同様である。プラグフェルールと接続する側のファイバスタブ４の端面５の中央部５ａは、凸球面状に研磨されている。凸球面の曲率半径は、Ｒ７〜Ｒ２５である。ファイバスタブの端面５において、凸球面状に研磨された中央部５ａの外側には、外側部（異物移動抑制部：第１の部分）１１が設けられている。外側部１１の面粗さは、外周部側から中央部５ａに向けて移動する異物の移動を抑制するように、中央部５ａの面粗さよりも大きくされている。なお、光レセプタクルに挿入されるプラグフェルールは適宜省略する。

外側部１１の平均高さＲｃは、０．３０５以上である。より望ましくは、外側部１１の平均高さＲｃは、０．３０５以上、０．６０６以下である。
外側部１１のスキューネス（歪み度）Ｒｓｋは、−０．２以下である。より望ましくは、外側部１１のスキューネスＲｓｋは、−０．３以下である。
平均高さＲｃ及びスキューネスＲｓｋは、ＪＩＳ Ｂ ０６０１−２００１に基づき算出される。平均高さＲｃ及びスキューネスＲｓｋのより具体的な測定方法の詳細については、後述する。

本実施形態では、プラグフェルールと接続する側のファイバスタブ４の端面５の中央部５ａは、凸球面状に研磨されている。ファイバスタブ４の端面５において、凸球面状に研磨された中央部５ａの外側には、外側部１１が設けられている。外側部１１の面粗さは、外周部側から中央部５ａに向けて移動する異物の移動を抑制するように、中央部５ａの面粗さよりも大きくされている。そのため、フェルール３を光レセプタクル１ａに繰返し挿抜する過程でファイバスタブ４の外周部に付着していた異物が中央部５ａに移動することにより生じる損失を防止できる。

また、本実施形態においては、スリーブ７がファイバスタブ４を保持する長さが十分に確保されているため、Ｗｉｇｇｌｅ損失を抑制できる。
なお、各部材の材料等、および光レセプタクル１ａの他の構造は、図１に関して前述した通りである。

外側部１１は、光レセプタクル１ａにプラグフェルールが挿入された際に、プラグフェルールとファイバスタブ４が接触する可能性のある領域９（図３または図５参照）よりも外側に形成されている。これにより、光レセプタクル１ａにプラグフェルールを繰返し挿抜した際、ファイバスタブ４の外周部の異物がファイバスタブ４の端面５のプラグフェルールと接続される領域９にまで移動することが防止されるため、プラグフェルールとファイバスタブ４は確実に接続されることになる。

光レセプタクル１ａにプラグフェルールが挿入された際に、プラグフェルールとファイバスタブ４が接触する可能性のある領域９とは、ファイバスタブ４の中心部からφ２５０マイクロメートル以内の領域（図６（ｂ）に表した外径Ｄ１の領域）である。そのため、本実施形態において、凸球面状の端面５がプラグフェルールと確実に接続されるために必要な端面５の外径は２５０マイクロメートル以上であることが必要となる。

また、凸球面状に研磨された中央部５ａの面粗さは、一般的に算術平均粗さ（Ｒａ）で０．１マイクロメータ以下となっている。

外側部１１の面粗さを、中央部５ａの粗さよりも大きくしておくことで、光レセプタクル１ａにプラグフェルールを繰返し挿抜する際に、フェルール３の外周部から中央部５ａに移動する異物がアンカー効果で微小な凹凸に嵌まりこみ、異物の移動を抑制することで損失を生じさせることを防ぐことができる。

外側部１１の面粗さは、異物を確実に保持し、かつ経済的に生産をするためには算術平均粗さ（Ｒａ）３．２マイクロメートル以下程度であることが望ましい。算術平均粗さが３．２マイクロメートル以上になると、外側部１１を加工で形成する際に、外側部１１にある微小な凹凸の端部を基点にフェルール３に大きな応力がかることになり、フェルール３のクラックやカケが生じる可能性がある。外側部１１の面粗さは、例えばレーザー顕微鏡等で測定することができる。

また、外側部１１に微小な凹凸を形成するための方法としては、面の粗い砥石で加工することで形成する方法や、テーパーを形成後にサンドブラストにより面を粗くする等の方法が考えられる。

図７は、本発明の第６の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。
図７（ａ）は、本実施形態にかかる光レセプタクルを表す模式断面図である。図７（ｂ）は、本実施形態のファイバスタブの端面を表す模式断面図である。

図７（ａ）に表した光レセプタクル１ｂが備える部材は、第１の実施形態と同様である。プラグフェルールと接続する側のファイバスタブの端面の中央部５ａは、凸球面状に研磨されており、ファイバスタブの端面には、凸球面状に研磨された中央部５ａからファイバスタブの外周部に連なるテーパー部（異物移動抑制部：第１の部分）１３を有し、テーパー部１３の面粗さは、外周部側から中央部５ａに向けて移動する異物の移動を抑制するように、中央部５ａの面粗さよりも大きくされている。なお、光レセプタクルに挿入されるプラグフェルールは適宜省略する。

テーパー部１３の平均高さＲｃは、０．３０５以上である。より望ましくは、テーパー部１３の平均高さＲｃは、０．３０５以上、０．６０６以下である。
テーパー部１３のスキューネス（歪み度）Ｒｓｋは、−０．２以下である。より望ましくは、テーパー部１３のスキューネスＲｓｋは、−０．３以下である。
平均高さＲｃ及びスキューネスＲｓｋは、ＪＩＳ Ｂ ０６０１−２００１に基づき算出される。平均高さＲｃ及びスキューネスＲｓｋのより具体的な測定方法の詳細については、後述する。

図７に示す本発明の第６の実施形態においては、プラグフェルールと接続する側のファイバスタブ４の端面５は、凸球面状に研磨されており、ファイバスタブ４の端面には、凸球面状に研磨された中央部５ａからファイバスタブ４の外周部に連なるテーパー部１３を有し、テーパー部１３の面粗さは、外周部側から中央部に向けて移動する異物の移動を抑制するように、中央部５ａの面粗さよりも大きくされているため、フェルール３を光レセプタクル１ｂに繰返し挿抜する過程でファイバスタブ４の外周部に付着していた異物が中央部５ａに移動することにより生じる損失を防止できる。本実施形態では、ファイバスタブ４の端面５は、中央部５ａと同等である。

図７に示す本発明の第６の実施形態においては、スリーブ７がファイバスタブ４を保持する長さが十分に確保されているため、Ｗｉｇｇｌｅ損失を抑制できる。

ここで、図７（ｂ）を用いて本発明の第６の実施形態について詳細に説明する。図７（ｂ）は、本発明の第６の実施形態におけるファイバスタブ先端部の拡大模式断面図である。

本発明の第６の実施形態において、凸球面状の端面５がプラグフェルールと確実に接続されるために必要な端面５の外径Ｄ２は２５０マイクロメートル以上であることが必要となる。

また、凸球面状に研磨された端面５の面粗さは、一般的に算術粗さ平均（Ｒａ）で０．１マイクロメータ以下となっている。

テーパー状の平面（テーパー部）１３の面粗さを、端面５よりも大きくしておくことで、光レセプタクル１ｂにプラグフェルールを繰返し挿抜する際に、フェルール３の外周部から中央部５ａに移動する異物がアンカー効果で微小な凹凸に嵌まりこみ、異物の移動を抑制することで損失を生じさせることを防ぐことができる。

ここで、端面５を小さくすることで、面粗さを端面５の粗さよりも大きくしたテーパー部１３において、プラグフェルールを光レセプタクル１ｂに繰返し挿抜する際に、外周部側から中央部５ａに移動する異物の移動を抑制する効果が大きくすることができる。そのため、端面５の外径Ｄ２は２５０マイクロメートル以上、且つフェルール３の外径の２分の１以下であることが望ましい。

テーパー状の平面１３の面粗さは、異物を確実に保持し、かつ経済的に生産をするためには算術平均粗さ（Ｒａ）３．２マイクロメートル程度であることが望ましい。算術粗さ平均が３．２マイクロメートル以上になると、テーパー状の平面１３を加工で形成する際に、テーパー状の平面１３にある微小な凹凸の端部を基点にフェルール３に大きな応力がかることになり、フェルール３のクラックやカケが生じる可能性がある。テーパー状の平面１３の面粗さは、例えばレーザー顕微鏡等で測定することができる。

また、テーパー状の平面１３に微小な凹凸を形成するための方法としては、面の粗い砥石で加工することで形成する方法や、テーパーを形成後にサンドブラストにより面を粗くする等の方法が考えられる。

また、フェルール３のプラグフェルールと接続される凸球面状の端面５から、前述のテーパー状の平面１３が円筒面と繋がる部分までの長さＬ１は、スリーブ７がファイバスタブ４を保持する長さを大きくし、Ｗｉｇｇｌｅ損失の低下をより小さくするためには０．２ｍｍ以下となっていることが望ましい。

図８は、本発明の第７の実施形態を示す光レセプタクルの模式断面図である。
図８（ａ）は、本実施形態にかかる光レセプタクルを表す模式断面図である。図８（ｂ）は、本実施形態のファイバスタブの端面を表す模式断面図である。

フェルール３のプラグフェルールと接続される凸球面状に研磨された端面５を含む突起部（第２の部分）５ｂが、テーパー部（異物移動抑制部：第１の部分）１５から突出している。より具体的には、フェルール３のプラグフェルールと接続される凸球面状に研磨された端面５を含む突起部５ｂは、テーパー部１５よりもフェルール３がプラグフェルールと接続する側に突出している。このことにより、プラグフェルールを光レセプタクル１ｃに繰返し挿抜する過程でファイバスタブ４の外周部に付着していた異物が中央部５ａに移動することによる損失を防止できる。本実施形態では、ファイバスタブ４の端面５は、中央部５ａと同等である。

テーパー部１５の面粗さは、突起部５ｂの面粗さよりも大きくされている。
テーパー部１５の平均高さＲｃは、０．３０５以上である。より望ましくは、テーパー部１５の平均高さＲｃは、０．３０５以上、０．６０６以下である。
テーパー部１５のスキューネス（歪み度）Ｒｓｋは、−０．２以下である。より望ましくは、テーパー部１５のスキューネスＲｓｋは、−０．３以下である。
平均高さＲｃ及びスキューネスＲｓｋは、ＪＩＳ Ｂ ０６０１−２００１に基づき算出される。平均高さＲｃ及びスキューネスＲｓｋのより具体的な測定方法の詳細については、後述する。

また、フェルール３のプラグフェルールと接続される凸球面状に研磨された端面５から、テーパー状の平面（テーパー部）１５が円筒面と繋がる部分（テーパー部１５が突起部５ｂと接続する部分）までの長さＬ２は、スリーブ７がファイバスタブ４を保持する長さを大きくし、Ｗｉｇｇｌｅ損失の低下をより小さくするためには０．２ｍｍ以下となっていることが望ましい。

ここで、テーパー状の平面１５を先行文献３のようにファイバスタブ４の中心軸Ｃ１に対して垂直となるような面とした場合でも同様の効果は得られる。しかしテーパー状の平面とすることで、ファイバスタブ４の端面５を、プラグフェルールを挿入する前にクリーニングする際に、異物をより外側に移動させやすくなり、さらにフェルール３を保持具６に圧入する際にフェルール３のカケやクラックを防止するためのＣ面を新たに設ける必要がなくなり、経済的な生産を行うことが可能となる。

テーパー部１５から突出した端面５の外径ｒと、長さＬ２と、の間の関係については、「Ｌ２／ｒ」が０．１以上、０．６以下となることが望ましい。

次に、本発明の他の実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。
図９は、スリーブを介して複数のプラグフェルールが互いに接続された状態を表す模式的断面図である。

光通信においては、図１〜図８に関して前述したような光レセプタクルを用いることなく、アダプタやスリーブを介して複数の光ファイバコネクタを互いに接続することがある。図９に表した例では、第１の光ファイバコネクタ内の第１のプラグフェルール２０ａが、スリーブ３０を介して第２の光ファイバコネクタ内の第２のプラグフェルール（他の部材）２０ｂと接続されている。第１のプラグフェルール２０ａは、第２のプラグフェルール２０ｂとは異なる。

第１のプラグフェルール２０ａの構造は、第２のプラグフェルール２０ｂの構造と同様である。ここでは、第１のプラグフェルール２０ａを例に挙げて説明する。第１のプラグフェルール２０ａは、光ファイバ２と、フェルール３と、フランジ２１と、を有する。光ファイバ２は、光を導通する。フェルール３は、光ファイバ２を内包する。フランジ２１は、フェルール３の端部に設けられ、フェルール３のうちの少なくとも一部を内包する。

複数のフェルール３同士が接続される側の端面５には、プラグフェルールの挿抜によりフェルール３の外周部から中心部に向けて移動する異物を抑制する異物移動抑制部が設けられている。より具体的には、第１のプラグフェルール２０ａのフェルール３の端面５であって、第２のプラグフェルール２０ｂと接続する側の端面５には、第１のプラグフェルール２０ａおよび第２のプラグフェルール２０ｂの少なくともいずれかの挿抜によりフェルール３の外周部から中心部に向けて移動する異物を抑制する異物移動抑制部が設けられている。第２のプラグフェルール２０ｂのフェルール３の端面５であって、第１のプラグフェルール２０ａと接続する側の端面５においても同様に、異物移動抑制部が設けられている。

第１のプラグフェルール２０ａのフェルール３の端面５は、凸球面に研磨されている。言い換えれば、第１のプラグフェルール２０ａのフェルール３は、第２のプラグフェルール２０ｂと接続する側において、凸球面状に研磨された端面５を有する。端面５の曲率半径Ｒは、例えば約Ｒ７〜Ｒ２５程度である。

例えば、図１に関して前述したように、フェルール３の端面５には、フェルール３の外周部から中心部に向けて移動する異物を収容するための円周状に連なる凹部８が設けられている。
例えば、図２（ａ）〜図２（ｄ）に関して前述したように、凹部８の断面図は、四角形、Ｖ形状、半円、または底面に行くに従って幅が細くなる各種形状をしている。

例えば、図３に関して前述したように、円周状に連なる凹部８は、スリーブ３０に第１のプラグフェルール２０ａが挿入された際に、第２のプラグフェルール２０ｂと接触する可能性のある領域９（図３参照）よりも外側に形成されている。
例えば、図４に関して前述したように、凹部８の内面の面粗さは、フェルール３の端面５の凹部８以外の領域の面粗さよりも大きい。凹部８の内面の面粗さは、図４に関して前述した通りである。

例えば、図５に関して前述したように、フェルール３の端面５には、複数の円周状に連なる凹部（例えば図５に表した第１の凹部８１および第２の凹部８２）が設けられている。
例えば、図６（ａ）および図６（ｂ）に関して前述したように、フェルール３の端面５において、凸球面状に研磨された中央部５ａ（図６（ｂ）参照）の外側には、外側部１１が設けられている。外側部１１の面粗さは、外周部側から中央部５ａに向けて移動する異物の移動を抑制するように、中央部５ａの面粗さよりも大きくされている。

例えば、図７（ａ）および図７（ｂ）に関して前述したように、フェルール３の端面５には、凸球面状に研磨された中央部５ａ（図７（ｂ）参照）からフェルール３の外周部に連なるテーパー部１３が設けられている。テーパー部１３の面粗さは、外周部側から中央部５ａに向けて移動する異物の移動を抑制するように、中央部５ａの面粗さよりも大きくされている。

例えば、図８（ａ）および図８（ｂ）に関して前述したように、フェルール３の端面５を含む突起部５ｂが、テーパー部１５から突出している。より具体的には、第１のプラグフェルール２０ａのフェルール３の端面５を含む突起部５ｂは、テーパー部１５からみて第１のプラグフェルール２０ａのフェルール３が第２のプラグフェルール２０ｂのフェルール３と接続する側に突出している。

フェルール３の形状および材料、ならびにフェルール３の端面５の形状および粗さなどは、図１〜図８（ｂ）に関して前述した通りである。

本実施形態によれば、第１のプラグフェルール２０ａおよび第２のプラグフェルール２０ｂの少なくともいずれかをスリーブ３０に繰返し挿抜した際に、フェルール３の外周部の異物がフェルール３の端面５の中心部に移動することで損失が生じることを防止することができる。

次に、本発明者が実施した面粗さに関する検討について、図面を参照しつつ説明する。 図１０は、本発明者が実施した面粗さに関する検討の結果の一例を例示する表である。 図１０（ａ）は、加工面（粗い面）における算術平均粗さＲａ、平均高さＲｃ、およびスキューネスＲｓｋを例示する表である。図１０（ｂ）は、未加工面における算術平均粗さＲａ、平均高さＲｃ、およびスキューネスＲｓｋを例示する表である。図１０（ｃ）は、研磨面における算術平均粗さＲａ、平均高さＲｃ、およびスキューネスＲｓｋを例示する表である。図１０（ｄ）は、加工面、未加工面、および研磨面のそれぞれにおける算術平均粗さＲａ、平均高さＲｃ、およびスキューネスＲｓｋの平均値を例示する表である。

「加工面（粗い面）」とは、凸球面状に研磨された中央部５ａの表面よりも粗い面をいう。図６に関して前述した光レセプタクル１ａでは、加工面は、外側部１１の表面である。図７に関して前述した光レセプタクル１ｂでは、加工面は、テーパー部１３の表面である。
「未加工面」とは、表面加工あるいは表面処理を施していない面をいう。
「研磨面」とは、研磨された面をいう。図６に関して前述した光レセプタクル１ａでは、研磨面は、凸球面状の中央部５ａの表面である。図７に関して前述した光レセプタクル１ｂでは、研磨面は、端面５（図７の例では中央部５ａと同等）である。

図１０（ａ）に表したように、加工面に関しては、５つの試料を測定した。図１０（ｂ）に表したように、未加工面に関しては、５つの試料を測定した。研磨面に関しては、２つの試料を測定した。

算術平均粗さＲａ、平均高さＲｃ及びスキューネスＲｓｋは、ＪＩＳ Ｂ ０６０１−２００１に基づき算出される。
本実施形態では、フェルール３の端面の粗さ曲線を以下の条件で測定した。
測定機器：レーザ顕微鏡（オリンパス社製、ＯＬＳ４０００）
測定倍率：５０倍
カットオフ（位相補償形高域フィルタ）λｃ：２５μｍ
上記の条件によって測定した粗さ曲線から、算術平均粗さＲａを以下の（１）式によって求め、平均高さＲｃを以下の（２）式によって求め、スキューネスＲｓｋを以下の（３）式によって求める。

（２）式において、ｍは輪郭曲線要素の数、Ｚｔｉは輪郭曲線要素の高さの平均値である。
（３）式において、Ｚｑは二乗平均平方根高さ、Ｚｎは粗さ曲線における高さの値である。

スキューネスＲｓｋは、凹凸形状の山（凸）と谷（凹）との対称性を表している。凹凸形状が正弦分布であれば、スキューネスＲｓｋは０になる。スキューネスＲｓｋがマイナスとは、フェルール３の端面に垂直な方向にみたときの山（凸）の面積が谷（凹）の面積よりも大きいこと（凸部の尖りが、凹部の尖りよりも小さいこと）を表している。

図１０（ａ）に表したように、加工面の算術平均粗さＲａは、０．１３０以上、０．１９２以下である。加工面の算術平均粗さＲａの平均値は、０．１６６である。加工面の平均高さＲｃは、０．３０５以上、０．６０６以下である。加工面の平均高さＲｃの平均値は、０．４８９である。加工面のスキューネスＲｓｋは、−０．３５５以上、−０．１９８以下である。加工面のスキューネスＲｓｋの平均値は、−０．２６８である。

加工面における異物対策効果は、全ての試料でＯＫ（○）である。
「異物対策効果」については、光レセプタクルへのプラグフェルールの挿抜を繰り返し行い、挿抜５回毎に研磨面における異物の付着を確認した。光レセプタクルへのプラグフェルールの挿抜を２５回繰り返した場合に、研磨面に付着した異物が３個以下であるときに、異物対策効果を「ＯＫ（○）」とした。一方で、研磨面に付着した異物が４個以上であるときに、異物対策効果を「ＮＧ（×）」とした。

図１０（ｂ）に表したように、未加工面の算術平均粗さＲａは、０．０２０以上、０．２０１以下である。未加工面の算術平均粗さＲａの平均値は、０．１２４である。未加工面の平均高さＲｃは、０．０４７以上、０．０７２以下である。未加工面の平均高さＲｃの平均値は、０．０６１である。未加工面のスキューネスＲｓｋは、−０．１８２以上、０．１８３以下である。未加工面のスキューネスＲｓｋの平均値は、−０．０２１である。未加工面における異物対策効果は、全ての試料でＮＧ（×）である。

図１０（ｃ）に表したように、研磨面の算術平均粗さＲａは、０．００２以上、０．００４以下である。研磨面の算術平均粗さＲａの平均値は、０．００３である。研磨面の平均高さＲｃは、０．００８以上、０．００９以下である。研磨面の平均高さＲｃの平均値は、０．００８５である。研磨面のスキューネスＲｓｋは、０．５３２以上、０．９５４以下である。研磨面のスキューネスＲｓｋの平均値は、０．７４３である。

これによれば、平均高さＲｃが相対的に大きいと、面に存在する山谷の高さが大きく、異物が山あるいは谷に引っ掛かりやすい。そのため、平均高さＲｃが相対的に大きいと、異物が中央部５ａに移動することを妨げることができる。
また、スキューネスＲｓｋが相対的に小さいと、平面が山リッチ（幅が相対的に大きい山と山との間に幅が相対的に小さい谷が存在する状態）となり、異物と面との接触面積が相対的に広い。そのため、スキューネスＲｓｋが相対的に小さいと、異物が中央部５ａに移動することを妨げることができる。

図１１は、本発明者が実施した面粗さに関する検討の結果の他の一例を例示するグラフ図である。
本発明者は、加工面を有するフェルール３を備えた光レセプタクルと、未加工面を有すフェルール３を備えた光レセプタクルと、を用いて面粗さに関する検討を行った。本検討の「加工面」は、フェルール３の成形後に、ダイヤモンド砥石を用いて表面加工を行った面である。本検討の「未加工面」は、フェルール３の成形後に形成された状態のままの面である。

検討方法は、以下の通りである。まず、光レセプタクルおよびプラグフェルールの双方のクリーニングを十分に行い、光レセプタクルへのプラグフェルールの挿抜を繰り返し行う。続いて、挿抜５回毎に研磨面における異物の付着を確認し、光レセプタクルへのプラグフェルールの挿抜を３０回繰り返す。ただし、研磨面において異物の付着が確認された時点で、プラグフェルールの挿抜を中断する。加工面を有するフェルール３を備えた光レセプタクルについては、５つの試料を測定した。未加工面を有すフェルール３を備えた光レセプタクルについては、５つの試料を測定した。試料数は、「Telcordia規格」に準ずる。

検討結果の一例は、図１１に表した通りである。図１１に表したグラフ図の横軸は、研磨面において異物の付着が確認されたときのプラグフェルールの挿抜回数を表す。図１１に表したグラフ図の縦軸は、研磨面に異物が付着した試料数（積算数）を表す。図１１に表したように、加工面を有するフェルール３を備えた光レセプタクルでは、プラグフェルールの挿抜を２５回繰り返した時点で研磨面に異物が付着した試料数は、「３」であった。一方で、未加工面を有すフェルール３を備えた光レセプタクルでは、プラグフェルールの挿抜を１０回繰り返した時点で研磨面に異物が付着した試料数は、「７」であった。

本検討では、研磨面に異物が付着したときのプラグフェルールの挿抜回数が２５回以内において、研磨面に異物が付着した試料数が３以下である場合に、異物対策効果を「ＯＫ（○）」とした。一方で、研磨面に異物が付着した試料数が４以上である場合に、異物対策効果を「ＮＧ（×）」とした。「２５回」は、「Telcordia規格」に準ずる。
これによれば、加工面を有するフェルール３を備えた光レセプタクルの異物対策効果は、ＯＫ（○）である。一方で、未加工面を有するフェルール３を備えた光レセプタクルの異物対策効果は、ＮＧ（×）である。

図１２は、本発明者が実施した凹部（溝部）に関する検討に用いた試料を表す模式図である。
図１３は、本発明者が実施した凹部（溝部）に関する検討の結果の一例を例示するグラフ図である。
図１２（ａ）は、凹部（溝部）に関する検討に用いた試料を表す模式平面図である。図１２（ｂ）は、図１２（ａ）に表した切断面Ａ−Ａにおける模式的断面図である。

本発明者は、凹部８（図１参照）を有するフェルール３を備えた光レセプタクルと、凹部８を有していないフェルール３を備えた光レセプタクルと、を用いて凹部に関する検討を行った。凹部８を有していないフェルール３とは、成形後の状態のままのフェルールである。凹部８を有するフェルール３は、図１２（ａ）および図１２（ｂ）に表した通りである。凹部８は、砥石を用いた加工により形成された。

検討方法は、図１１に関して前述した検討方法と同じである。
検討結果の一例は、図１３に表した通りである。図１３に表したグラフ図の横軸は、図１１に表したグラフ図の横軸と同じである。図１３に表したグラフ図の縦軸は、図１１に表したグラフ図の縦軸と同じである。図１３に表したように、凹部８を有するフェルール３を備えた光レセプタクルでは、プラグフェルールの挿抜を２５回繰り返した時点で研磨面に異物が付着した試料数は、「１」であった。一方で、凹部８を有していないフェルール３を備えた光レセプタクルでは、プラグフェルールの挿抜を５回繰り返した時点で研磨面に異物が付着した試料数は、「３」であった。

異物対策効果の評価方法は、図１１に関して前述した評価方法と同じである。
これによれば、凹部８を有するフェルール３を備えた光レセプタクルの異物対策効果は、ＯＫ（○）である。一方で、凹部８を有していないフェルール３を備えた光レセプタクルの異物対策効果は、ＮＧ（×）である。

図１４は、本発明者が実施した凹部（溝部）の内面の面粗さに関する検討の結果の一例を例示する表である。
本発明者は、例えば図４に表した凹部８の内面の面粗さについて検討を行った。より具体的には、本発明者は、凹部８の内面の算術平均粗さが０．２、０．４、０．８、１．６、３．２、４．８、６．４マイクロメートルのそれぞれの場合における凹部８の内面の加工性について検討を行った。

検討結果の一例は、図１４に表した通りである。凹部８の内面の算術平均粗さが０．２および０．４マイクロメートルの場合には、表面をより滑らかにするための加工回数が増えるため、フェルール３の経済的な生産を行うためには改善の余地がある。そのため、凹部８の内面の算術平均粗さが０．２および０．４マイクロメートルの場合の加工性は、ＮＧ（×もしくは△）である。

凹部８の内面の算術平均粗さが０．８、１．６、および３．２マイクロメートルの場合には、フェルール３の生産性が比較的高い。また、フェルール３にクラックなどが発生することを抑えることができる。そのため、凹部８の内面の算術平均粗さが０．８、１．６、および３．２マイクロメートルの場合の加工性は、ＯＫ（○）である。

凹部８の内面の算術平均粗さが４．８および６．４マイクロメートルの場合には、表面が比較的粗いため、凹部８を加工するときにクラックが発生する可能性がある。そのため、凹部８の内面の算術平均粗さが４．８および６．４マイクロメートルの場合の加工性は、ＮＧ（×）である。

これにより、凹部８の内面の算術平均粗さ（Ｒａ）は、０．８マイクロメートル以上、３．２マイクロメートル以下であることが望ましい。

以上、本発明の実施の形態について説明した。しかし、本発明はこれらの記述に限定されるものではない。前述の実施の形態に関して、当業者が適宜設計変更を加えたものも、本発明の特徴を備えている限り、本発明の範囲に包含される。例えば、ファイバスタブ４などが備える各要素の形状、寸法、材質、配置などやフェルール３および光ファイバ２の設置形態などは、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することができる。
また、前述した各実施の形態が備える各要素は、技術的に可能な限りにおいて組み合わせることができ、これらを組み合わせたものも本発明の特徴を含む限り本発明の範囲に包含される。

１、１ａ、１ｂ、１ｃ 光レセプタクル、 ２ 光ファイバ、 ３ フェルール、 ４ ファイバスタブ、 ５ 端面、 ５ａ 中央部、 ６ 保持具、 ７ スリーブ、 ８ 凹部、 ８ａ 凹凸、 ９ 領域、 １１ 外側部、 １３、１５ テーパー部、 ８１ 第１の凹部、 ８２ 第２の凹部

Claims (18)

1. 光を導通するための光ファイバを内包するフェルールを有するファイバスタブと、
   前記ファイバスタブを保持するための保持具と、
   前記ファイバスタブの先端を一端で保持し、他端で光レセプタクルに挿入されるプラグフェルールを保持可能なスリーブと、
   を備え、
   前記フェルールは、前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の凸球面状に研磨された端面に、前記プラグフェルールの挿抜により前記フェルールの外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、
   前記異物移動抑制部は、前記端面に設けられ円周状に連なる凹部を有し、
   前記凹部の内面の算術平均粗さは、０．８マイクロメートル以上、３．２マイクロメートル以下であることを特徴とする光レセプタクル。
2. 前記凹部が、前記プラグフェルールが挿入された際に前記フェルールと前記プラグフェルールが接触する部分よりも外側にあることを特徴とする請求項１記載の光レセプタクル。
3. 前記凹部が、複数設けられていることを特徴とする請求項１または２に記載の光レセプタクル。
4. 前記凹部の内面の面粗さが、前記凹部以外の領域の面粗さよりも大きいことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記載の光レセプタクル。
5. 前記凹部以外の領域は、前記端面の領域であることを特徴とする請求項４記載の光レセプタクル。
6. 光を導通するための光ファイバを内包するフェルールを有するファイバスタブと、
   前記ファイバスタブを保持するための保持具と、
   前記ファイバスタブの先端を一端で保持し、他端で光レセプタクルに挿入されるプラグフェルールを保持可能なスリーブと、
   を備え、
   前記フェルールは、前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の凸球面状に研磨された端面に、前記プラグフェルールの挿抜により前記フェルールの外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、
   前記異物移動抑制部は、前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の端面のうち前記プラグフェルールと直接的には接触しない第１の部分を有し、
   前記第１の部分の面の平均高さは、０．３０５以上であり、前記第１の部分の面のスキューネスは、−０．２以下であることを特徴とする光レセプタクル。
7. 前記第１の部分のうちの少なくとも一部は、前記ファイバスタブの外周部に連なるテーパー状を有することを特徴とする請求項６記載の光レセプタクル。
8. 前記フェルールの前記プラグフェルールと接続する側の端面のうち前記プラグフェルールと直接的に接触する第２の部分は、前記第１の部分よりも前記フェルールが前記プラグフェルールと接続する側に突出したことを特徴とする請求項６または７に記載の光レセプタクル。
9. 前記第２の部分の端面と、前記第２の部分が前記第１の部分と接続される部分と、の間の距離は、０．２ミリメートル以下であることを特徴とする請求項８記載の光レセプタクル。
10. 光を導通するための光ファイバを内包するフェルールであって、
    他の部材と接続する側の凸球面状に研磨された端面に、挿抜により外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、
    前記異物移動抑制部は、前記端面に設けられ円周状に連なる凹部を有し、
    前記凹部の内面の算術平均粗さは、０．８マイクロメートル以上、３．２マイクロメートル以下であることを特徴とするフェルール。
11. 前記凹部は、前記他の部材と接触する部分よりも外側にあることを特徴とする請求項１０記載のフェルール。
12. 前記凹部が、複数設けられていることを特徴とする請求項１０または１１に記載のフェルール。
13. 前記凹部の内面の面粗さが、前記凹部以外の領域の面粗さよりも大きいことを特徴とする請求項１０〜１２のいずれか１つに記載のフェルール。
14. 前記凹部以外の領域は、前記端面の領域であることを特徴とする請求項１３記載のフェルール。
15. 光を導通するための光ファイバを内包するフェルールであって、
    他の部材と接続する側の凸球面状に研磨された端面に、挿抜により外周部から、前記端面の中心部に向けて移動する異物の移動を抑制する異物移動抑制部を有し、
    前記異物移動抑制部は、前記端面のうち前記他の部材と直接的には接触しない第１の部分を有し、
    前記第１の部分の面の平均高さは、０．３０５以上であり、前記第１の部分の面のスキューネスは、−０．２以下であることを特徴とするフェルール。
16. 前記第１の部分のうちの少なくとも一部は、前記他の部材の外周部に連なるテーパー状を有することを特徴とする請求項１５記載のフェルール。
17. 前記端面のうち前記他の部材と直接的に接触する第２の部分は、前記第１の部分よりも前記他の部材と接続する側に突出したことを特徴とする請求項１５または１６に記載のフェルール。
18. 請求項１０〜１７のいずれか１つのフェルールと、
    前記フェルールのうちの少なくとも一部を内包するフランジと、
    を備えたことを特徴とするプラグフェルール。

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