JP5174874B2 - Compression molding die and compression molding method - Google Patents
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Description
本発明は、基板上に装着された電子部品の樹脂封止に用いられる圧縮成形型及びそれを用いた圧縮成形方法に関する。 The present invention relates to a compression mold used for resin sealing of an electronic component mounted on a substrate, and a compression molding method using the same.
従来より、上下両型からなる圧縮成形型を備えた樹脂封止成形装置を用いて、基板上に装着された半導体チップ等の電子部品を樹脂封止して圧縮成形することが行われている。このような樹脂封止成形に用いられる圧縮成形型の一例を図6に示す。この図に示す圧縮成形型50の例では、上型51に、電子部品61が装着された基板60が保持される。下型52は、枠部材55と、該枠部材55内で上下動する底面部材54から成り、枠部材55と底面部材54で囲まれた空間(キャビティ53)に樹脂25が供給される。
上記圧縮成形型50では、まず、上型51の下面に基板60を、電子部品61の装着面が下型52を向くように固定する。次に、下型52を上昇させて上型51の下面と下型52の上面を密着させる。続いて、底面部材54を上昇させて、キャビティ53内の融解樹脂25の中に電子部品61を浸漬させる。そして、キャビティ53内の融解樹脂25を底面部材54により圧縮しながら所定時間維持し、その樹脂を硬化させる。これにより、圧縮成形による樹脂封止成形が完了し、基板60上の電子部品61が樹脂封止される。
2. Description of the Related Art Conventionally, an electronic component such as a semiconductor chip mounted on a substrate is resin-sealed and compression-molded using a resin-sealing molding apparatus having a compression molding die composed of both upper and lower molds. . An example of a compression mold used for such resin sealing molding is shown in FIG. In the example of the
In the compression molding die 50, first, the
上記のような圧縮成形型50では、枠部材55に対して底面部材54が上下動するため、枠部材55と底面部材54の間に隙間が存在する。このような隙間はできるだけ小さくなるように設計されているが、キャビティ53内の融解樹脂25を加圧すると融解樹脂25が上記隙間に入り込んでしまう。そこで、枠部材55と底面部材54の間の隙間への樹脂の侵入を防ぐために、下型52の型面全体をフッ素樹脂等の離型フィルム56で覆うことが一般的に行われている(図7参照)。この離型フィルム56は、キャビティ53の開口よりも大きな開口を有する枠状の中間プレート57で押さえられる。
In the compression molding die 50 as described above, the
しかし、離型フィルムは、成形毎に毎回取り換える必要があるため、多量の廃棄物が発生し、環境への負荷が大きい。また、その廃棄処理費用が高いため、製品(半導体パッケージ)の製造原価が高くなる。更に、離型フィルムを用いる場合は、圧縮成形型が上型51、下型52、中間プレート57の3枚型になるとともに、離型フィルム56を下型52と中間プレート57の間に供給するための供給機構が必要となるため、圧縮成形型や圧縮成形装置の構成が複雑になる。
However, since the release film needs to be replaced every time it is molded, a large amount of waste is generated and the load on the environment is great. Moreover, since the disposal cost is high, the manufacturing cost of the product (semiconductor package) becomes high. Further, when a release film is used, the compression mold is an
そこで、本出願人は、離型フィルムを用いずに圧縮成形を行うことを可能にする圧縮成形型を従来より提案している(特許文献1参照)。この圧縮成形型では、図8に示すように、底面部材54を取り囲む枠部材を底面部材54の各辺毎に分割し、ばね等の弾性部材により各枠部材58を底面部材54に押圧する。これにより、底面部材54の上下動を許容しつつ、隙間を極力小さくすることができ、離型フィルムが不要となる。
In view of this, the present applicant has conventionally proposed a compression mold that enables compression molding without using a release film (see Patent Document 1). In this compression mold, as shown in FIG. 8, a frame member surrounding the
更に、特許文献1では、図9に示すように、底面部材54の上面の周縁部に溝部を設け、そこに予めフッ素樹脂製のシーリング部材59を嵌めておき、弾性部材で押圧された各枠部材58をシーリング部材59に当接させることも開示されている。これにより、当接面に生じる摩擦力が小さくなり、底面部材54が枠部材58に対して上下に摺動しやすい。
Furthermore, in Patent Document 1, as shown in FIG. 9, a groove is provided in the peripheral edge of the upper surface of the
特許文献1の圧縮成形型では、分割された枠部材58をそれぞれ独立に底面部材54に弾性的に押圧するための弾性押圧機構が必要である。この弾性押圧機構は、図9に示したように底面部材54にシーリング部材59を嵌める場合にも必要である。そのため、特許文献1の圧縮成形型は、一般的な圧縮成形型と比べて型構造が複雑であり、製造コストが高い。
In the compression mold of Patent Document 1, an elastic pressing mechanism for elastically pressing the divided
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、離型フィルムを用いずに圧縮成形を行うことができ、且つ、圧縮成形型の構造を簡単にすることができる圧縮成形型及び圧縮成形方法を提供することにある。 The present invention has been made in view of these points, and the object of the present invention is to enable compression molding without using a release film and to simplify the structure of the compression mold. It is an object of the present invention to provide a compression mold and a compression molding method capable of achieving the above.
上記課題を解決するために成された本発明に係る圧縮成形型は、
上型と、この上型に対向配置された、枠部材及びこの枠部材内で上下動可能な底面部材からなる下型とを備え、前記上型に保持された基板上の電子部品を前記下型の前記枠部材と前記底面部材とで囲まれたキャビティ内に供給された樹脂材料の圧縮成形により封止するために用いられる電子部品の圧縮成形型において、
前記底面部材が、その上面の外周縁部に全周にわたって設けられた溝部を有し、前記溝部の内周面には、前記底面部材の上面における該溝部の開口よりも内周側に凹設されているアンダーカット部が形成されていることを特徴とする。
The compression mold according to the present invention made to solve the above problems is
An upper mold, and a lower mold comprising a frame member and a bottom member that can be moved up and down within the frame member, and the electronic component on the substrate held by the upper mold In a compression molding die of an electronic component used for sealing by compression molding of a resin material supplied in a cavity surrounded by the frame member and the bottom surface member of the mold,
The bottom surface member has a groove provided on the outer peripheral edge of the upper surface over the entire circumference, and the inner peripheral surface of the groove is recessed closer to the inner periphery than the opening of the groove on the upper surface of the bottom surface member. The undercut part currently formed is formed.
上記圧縮成形型は、前記底面部材の上面に1又は複数の凹部が形成されていることが望ましい。 In the compression molding die, it is desirable that one or a plurality of recesses be formed on the upper surface of the bottom member.
上記課題を解決するために成された本発明に係る圧縮成形方法は、
上記圧縮成形型を用いて基板に装着された電子部品を圧縮成形で樹脂封止する方法であって、
a) 前記キャビティ内にシール用樹脂材料を供給してダミー成形品を圧縮成形する工程と、
b) 前記シール用樹脂材料で圧縮成形された前記ダミー成形品を、前記溝部に入り込んだ前記シール用樹脂材料が硬化することにより該溝部内に形成された溝部充填部材から分離して前記圧縮成形型から取り外す工程と、
c) 前記溝部に前記溝部充填部材が充填された状態の前記キャビティ内に封止用樹脂材料を供給して基板上の電子部品を圧縮成形で封止する工程と、
d) 前記封止用樹脂材料で封止された前記基板を、前記溝部充填部材から分離して前記圧縮成形型から取り外す工程と
を有することを特徴とする。
The compression molding method according to the present invention made to solve the above problems is as follows.
A method of resin-sealing an electronic component mounted on a substrate using the compression molding die by compression molding,
a) supplying a sealing resin material into the cavity and compressing the dummy molded product;
b) The compression molding is performed by separating the dummy molded product compression-molded with the sealing resin material from the groove filling member formed in the groove when the sealing resin material entering the groove is cured. Removing from the mold,
c) supplying a sealing resin material into the cavity in a state where the groove filling member is filled in the groove and sealing the electronic component on the substrate by compression molding;
d) separating the substrate sealed with the sealing resin material from the groove filling member and removing the substrate from the compression mold.
上記圧縮成形方法では、前記シール用樹脂材料が摺動性を有するものであることが望ましい。 In the compression molding method, the sealing resin material is preferably slidable.
また、上記圧縮成形方法では、前記封止用樹脂材料が樹脂にフィラーが充填されたものであり、前記シール用樹脂材料が前記樹脂のみから成るもの又は該樹脂に前記封止用樹脂材料よりも少ない割合で前記フィラーが混入されたものであることが望ましい。 In the compression molding method, the sealing resin material is a resin filled with a filler, and the sealing resin material is made of only the resin, or the resin is more than the sealing resin material. It is desirable that the filler is mixed in a small proportion.
本発明に係る圧縮成形型及び圧縮成形方法では、キャビティ内にシール用樹脂材料を供給してダミー成形品を圧縮成形すると同時に溝部に入り込んだシール用樹脂材料によって溝部充填部材が圧縮成形される。溝部はアンダーカット部を有しており、溝部充填部材はそのまま型抜きできないようになっているため、キャビティからダミー成形品を取り外すとき、ダミー成形品と溝部充填部材が分離する。この結果、底面部材の上面の外周縁部に全周にわたって形成された溝部の中に溝部充填部材が残留し、それによって底面部材と枠部材の間の隙間が完全に塞がれる。そのため、次にキャビティ内に封止用樹脂材料を供給して基板上の電子部品を樹脂封止する際に、その隙間に封止用樹脂材料が入り込むことがない。従って、隙間に樹脂が入り込むことを防止するために離型フィルムを用いたり複雑な構造の圧縮成形型を用いたりしなくてもよい。 In the compression molding die and the compression molding method according to the present invention, the sealing resin material is supplied into the cavity to compress the dummy molded product, and at the same time, the groove filling member is compression molded by the sealing resin material entering the groove. Since the groove part has an undercut part and the groove filling member cannot be punched as it is, when the dummy molded product is removed from the cavity, the dummy molded product and the groove filling member are separated. As a result, the groove filling member remains in the groove formed on the entire outer peripheral edge of the upper surface of the bottom member, thereby completely closing the gap between the bottom member and the frame member. Therefore, when the sealing resin material is next supplied into the cavity and the electronic component on the substrate is resin-sealed, the sealing resin material does not enter the gap. Therefore, it is not necessary to use a release film or a compression mold having a complicated structure in order to prevent the resin from entering the gap.
シール用樹脂材料の硬化後、ダミー成形品と溝部充填部材を分離する際に、それらが溝部内で破断すると、その後の成形時に封止用樹脂材料がその破断面まで入り込み、封止成形品に樹脂バリが生じる。この封止成形品を樹脂側の面を下に向けて載置面に載置すると、樹脂バリが折れて樹脂くずが発生しやすい。このとき、予め底面部材の上面に凹部を設け、その凹部に対応する凸部を封止成形品に形成しておけば、上記のように封止成形品を載置するときに、封止成形品は凸部で支持され、この凸部によって樹脂バリが載置面に接触しにくくなる。従って、樹脂バリが折れて樹脂くずが発生することを防止することができる。 After the sealing resin material is cured, when the dummy molded product and the groove filling member are separated, if they break in the groove, the sealing resin material enters the fracture surface at the time of subsequent molding, resulting in a sealed molded product. Resin burrs are generated. When this sealed molded product is placed on the placement surface with the resin side facing down, the resin burr breaks and resin waste tends to be generated. At this time, if a concave portion is provided in advance on the upper surface of the bottom surface member and a convex portion corresponding to the concave portion is formed in the sealed molded product, the sealing molding is performed when the sealed molded product is placed as described above. The product is supported by a convex portion, and the convex portion makes it difficult for the resin burr to contact the mounting surface. Therefore, it is possible to prevent the resin burrs from breaking and generating resin waste.
シール用樹脂材料としては摺動性を有するものを用いることが好ましい。これにより、枠部材と底面部材の間の隙間を塞ぎつつ、枠部材に対して底面部材を良好に摺動させることができる。また、封止用樹脂材料として樹脂にフィラーを充填させたものを用いる場合には、摺動性を有するシール用樹脂材料としてその樹脂のみから成るものを用いたり、その樹脂に少量のフィラーを混入させたものを用いたりすることが好ましい。これにより、シール用樹脂材料から成る溝部充填部材が欠損し、その欠片が封止成形品に混入しても、それは封止用樹脂材料の含有物質と同じものであるため、封止成形品の特性にほとんど影響しない。 As the sealing resin material, a material having slidability is preferably used. Thereby, the bottom member can be favorably slid with respect to the frame member while closing the gap between the frame member and the bottom member. In addition, when using a resin filled with a filler as a sealing resin material, a sealing resin material having a sliding property can be made of only that resin, or a small amount of filler can be mixed into the resin. It is preferable to use what was made. As a result, even if the groove filling member made of the sealing resin material is lost and the fragment is mixed in the sealing molded product, it is the same as the substance contained in the sealing resin material. Has little effect on properties.
以下、本発明の一実施形態である圧縮成形型及び圧縮成形方法について図面を参照して説明する。本実施形態の圧縮成形型10は、半導体チップ等の電子部品が装着された基板を下面で保持する上型11と、この上型11に対向配置された下型12とを備える(図1参照)。下型12は、枠部材15と、枠部材15内で上下動可能な底面部材14とからなり、枠部材15と底面部材14で囲まれた空間がキャビティ13となる。
Hereinafter, a compression mold and a compression molding method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The
上型11の下面には、基板を保持するための基板固定機構111が設けられている。基板固定機構111は、本実施形態ではフックにより基板を上型11に係着させる機構であるが、基板を上方から吸引することにより吸着固定する機構等であってもよい。
A
底面部材14の上面の外周縁部には、その全周にわたって溝部141が設けられている。そのため、溝部141は底面部材14と枠部材15の摺動面に存在することになる。溝部141の内周面145の下部には、底面部材14の上面における該溝部141の開口(以下、「上部開口146」と呼ぶ。)よりも内周側に凹むアンダーカット部142が形成されている。これにより、キャビティ13から溝部141に入り込み、そこで硬化した樹脂材料(後述する溝部充填部材24)がキャビティ13側へ抜けることを防止することができる。なお、アンダーカット部142は、溝部141の内周面145における上端以外の位置に設ければよく、例えば内周面145の中央部に設けてもよい。また、アンダーカット部は図1に示したような凹形状のものに限らず、溝部141の内周面145を逆テーパー状に傾斜させたもの等であってもよい。
A
底面部材14の上面には凹部143が設けられている。凹部143の深さは、溝部141の上部開口146付近に入り込んだ封止用樹脂材料により生じる樹脂バリの突出高さよりも大きくなるように設定されている。樹脂バリやその突出高さについての詳細は後述するが、樹脂バリの突出高さは実際に成形テストを行うことにより確認することができる。
A
次に、圧縮成形型10を用いた圧縮成形方法について説明する(図2参照)。まず、圧縮成形型10を型開きし、電子部品が装着されていないダミー基板63を上型11の下面に基板固定機構111で固定する(図2(a)参照)。それとともに、キャビティ13内にシール用樹脂材料20を供給する。シール用樹脂材料20としては、摺動性や離型性に優れたものを用いることが望ましい。シール用樹脂材料20はキャビティ13への供給時に粉末状であっても液状であってもよいが、粉末状の場合にはキャビティ13内で融解させて液状にする。
Next, a compression molding method using the
次に、図2(b)に示すように枠部材15及び底面部材14を上昇させて、枠部材15の上面をダミー基板63の下面に密着させるとともに、キャビティ13をシール用樹脂材料20で満たす。この状態で、底面部材14によりシール用樹脂材料20を圧縮しながら、所定温度で所定時間維持し、シール用樹脂材料20を硬化させる。これにより、ダミー基板63とシール用樹脂材料20からなるダミー成形品21が形成される。このとき、シール用樹脂材料20は溝部141に入り込んでおり、底面部材14と枠部材15の間の隙間を完全に塞いだ状態で硬化する。これにより、溝部141内にて溝部充填部材24が形成される。
Next, as shown in FIG. 2B, the
シール用樹脂材料20が硬化した後、上型11に基板固定機構111でダミー成形品21を固定したままの状態で下型12を降下させ、ダミー成形品21をキャビティ13から外す(図2(c)参照)。このとき、溝部141の中で硬化した溝部充填部材24は、ダミー成形品21の樹脂部分から引きちぎられて分離し、溝部141に残留する。これにより、キャビティ13は、溝部141が溝部充填部材24で塞がれた状態になる。その後、上型11の基板固定機構111を動作させてダミー成形品21の固定を解除し、ダミー成形品21を上型11から取り外す。
After the sealing
次に、図2(d)に示すように、上型11の下面に、電子部品61が装着された基板60を、電子部品装着面が下型12を向くように基板固定機構111で固定する。また、同じく図2(d)に示すように、溝部141に溝部充填部材24が充填された状態で、キャビティ13に封止用樹脂材料22を供給する。封止用樹脂材料22は電子部品61を樹脂封止するための樹脂であり、例えばエポキシ樹脂である。封止用樹脂材料もシール用樹脂材料と同様にキャビティ13への供給時に粉末状であっても液状であってもよいが、粉末状の場合にはキャビティ13内で融解させて液状にする。
Next, as shown in FIG. 2 (d), the
次に、図2(e)に示すように枠部材15及び底面部材14を上昇させて枠部材15の上面を基板60の下面に密着させるとともに、電子部品61をキャビティ13内の封止用樹脂材料22の中に浸漬させる。この状態で、底面部材14により封止用樹脂材料22を圧縮する。このとき、溝部141は溝部充填部材24で塞がれているため、溝部141の奥に封止用樹脂材料22が入り込むことがない。ただし、溝部充填部材24の上面である破断面の位置によっては、封止用樹脂材料22が溝部141の上部開口146付近に入り込むことがある。例えば、図3(a)に示すように溝部充填部材24の破断面全体が溝部141の上部開口146(底面部材14の上面144)よりも低い位置にある場合には、封止用樹脂材料22は上部開口146からその破断面まで入り込む。また、図3(b)、(c)に示すように溝部充填部材24の破断面の一部(中央部や周縁部)が溝部141の上部開口146よりも低い位置にある場合にも、封止用樹脂材料22は溝部141の上部開口146付近に入り込む。なお、図3(d)に示すように溝部充填部材24の破断面全体が上部開口146よりも高い位置にある場合には、封止用樹脂材料22は溝部141に入り込まない。
そして、図2(e)に示す状態を所定温度で所定時間維持して封止用樹脂材料22を硬化させる。これにより、電子部品61が封止用樹脂材料22によって封止された封止成形品23が形成される。
Next, as shown in FIG. 2 (e), the
Then, the state shown in FIG. 2E is maintained at a predetermined temperature for a predetermined time to cure the sealing
封止用樹脂材料22が硬化した後、上型11に基板固定機構111で封止成形品23を固定したままの状態で下型12を降下させ、封止成形品23をキャビティ13から外す。このとき、溝部141の中の溝部充填部材24は封止成形品23から分離し、溝部141に残留する。その後、基板固定機構111を動作させて封止成形品23の固定を解除し、封止成形品23を上型11から取り外す(図2(f)参照)。
After the sealing
取り出された封止成形品23の樹脂側の面の中央部には、図4に示すように、周縁部よりも盛り上がった部分(凸部231)が形成されている。この凸部231は、底面部材14の凹部143の形状が封止用樹脂材料22に転写されて形成されたものである。なお、図中の破線は、封止成形品23における底面部材14の上面144に対応する面を示す。また、図3(a)、(b)、(c)に示したように封止用樹脂材料22が溝部141の上部開口146に入り込んでいた場合には、凸部231の突出方向と同じ方向に樹脂バリ232が形成される。ここで、凸部231の高さは凹部143の深さに対応しており、また、凹部143の深さは上述したとおり樹脂バリ232の突出高さよりも深くなるように設定されているため、凸部231の高さは樹脂バリ232の突出高さよりも高い。つまり、樹脂バリ232の先端が凸部231よりも下方に突出することはない。これにより、封止成形品23を樹脂側の面を下に向けて載置面に載置する際に、樹脂バリ232が載置面に接触しない。従って、樹脂バリ232が折れて樹脂くずが発生することを防止することができる。
As shown in FIG. 4, a raised portion (convex portion 231) is formed at the center of the resin-side surface of the taken-out sealing molded
本実施形態の圧縮成形方法と離型フィルムを用いる従来の圧縮成形方法を比較すると、離型フィルムを用いる従来の樹脂封止方法では、底面部材のストロークを大きくすると、離型フィルムに皺や破れが生じやすい。そのため、比較的厚い半導体パッケージ(例えば、大電流を制御するためのパワートランジスタを内蔵した厚さ5mm程度の半導体パッケージ)の圧縮成形には適さない。それに対し、本実施形態の圧縮成形方法では、離型フィルムを用いないため、上記トラブルは生じない。そのため、厚さ1mm程度の一般的な半導体パッケージの圧縮成形はもちろんのこと、厚さ5mm以上の比較的厚い半導体パッケージの圧縮成形にも適する。 Comparing the compression molding method of the present embodiment with the conventional compression molding method using a release film, in the conventional resin sealing method using a release film, if the stroke of the bottom member is increased, the release film is wrinkled or torn. Is likely to occur. Therefore, it is not suitable for compression molding of a relatively thick semiconductor package (for example, a semiconductor package having a thickness of about 5 mm with a built-in power transistor for controlling a large current). On the other hand, in the compression molding method of this embodiment, since the release film is not used, the above trouble does not occur. Therefore, it is suitable not only for compression molding of a general semiconductor package having a thickness of about 1 mm but also for compression molding of a relatively thick semiconductor package having a thickness of 5 mm or more.
なお、上記実施形態は一例であって、本発明の趣旨に沿って適宜変形や修正を行えることは明らかである。例えば、底面部材14の上面に設ける凹部143は、図5に示すように複数であってもよい。この場合も、封止成形品23に形成された凸部231により樹脂バリ232の折れを防止する効果が生ずる。また、この場合には、上記実施形態の封止成形品よりも封止用樹脂材料の使用量を減らすことができる。
Note that the above embodiment is merely an example, and it is apparent that appropriate modifications and corrections can be made in accordance with the spirit of the present invention. For example, a plurality of
一般に電子部品の封止用樹脂材料としては、樹脂にフィラーを高い割合で(例えば70〜90%程度)充填させたものを用いるが、シール用樹脂材料としては封止用樹脂材料の樹脂のみから成る材料を用いてもよい。また、シール用樹脂材料として、そのような樹脂のみから成る材料に少ない割合(例えば、5%以下の割合)でフィラーを混入させたものを用いてもよい。
具体的には、例えば、封止用樹脂材料としてフィラーが充填されたエポキシ系の樹脂材料を用いた場合、シール用樹脂材料として、そのエポキシ系の樹脂材料からフィラーを除去した樹脂材料(フィラーを含まない封止用樹脂材料)を用いることができる。
また、封止用樹脂材料としてエポキシ系の樹脂材料を用いた場合、シール用樹脂材料としてエポキシレジン(ベースレジン)を用いることができる。
また、シール用樹脂材料として、封止用樹脂材料に含まれる樹脂とは異なるもの(例えばフッ素系のシーリング剤等)を用いてもよい。
Generally, as a resin material for sealing an electronic component, a resin filled with a filler at a high rate (for example, about 70 to 90%) is used. However, as a resin material for sealing, only a resin of a sealing resin material is used. The material may be used. Further, as the sealing resin material, a material in which a filler is mixed in a small proportion (for example, a proportion of 5% or less) may be used.
Specifically, for example, when an epoxy resin material filled with a filler is used as a sealing resin material, a resin material (filler is removed from the epoxy resin material as a sealing resin material). An encapsulating resin material not included) can be used.
When an epoxy resin material is used as the sealing resin material, an epoxy resin (base resin) can be used as the sealing resin material.
Further, as the sealing resin material, a resin (for example, a fluorine-based sealing agent) different from the resin contained in the sealing resin material may be used.
凹部143の深さは、樹脂バリ232の突出高さが溝部141の深さ以上にはならない点を踏まえて、溝部141の深さ以上に設定してもよい。この場合、成形テストを行わずに凹部143の深さを設定することができる。圧縮成形型10は金属製の型(金型)であっても、金属以外の型(例えば樹脂型やセラミックス型)であってもよい。
The depth of the
10、50…圧縮成形型
11、51…上型
111…基板固定機構
12、52…下型
13、53…キャビティ
14、54…底面部材
141…溝部
142…アンダーカット部
143…凹部
144…底面部材の上面
145…内周面
146…上部開口
15、55、58…枠部材
20…シール用樹脂材料
21…ダミー成形品
22…封止用樹脂材料
23…封止成形品
24…溝部充填部材
231…凸部
232…樹脂バリ
25…融解樹脂
56…離型フィルム
57…中間プレート
59…シーリング部材
60…基板
61…電子部品
63…ダミー基板
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記底面部材が、その上面の外周縁部に全周にわたって設けられた溝部を有し、前記溝部の内周面には、前記底面部材の上面における該溝部の開口よりも内周側に凹設されているアンダーカット部が形成されていることを特徴とする圧縮成形型。 An upper mold, and a lower mold comprising a frame member and a bottom member that can be moved up and down within the frame member, and the electronic component on the substrate held by the upper mold In a compression molding die of an electronic component used for sealing by compression molding of a resin material supplied in a cavity surrounded by the frame member and the bottom surface member of the mold,
The bottom surface member has a groove provided on the outer peripheral edge of the upper surface over the entire circumference, and the inner peripheral surface of the groove is recessed closer to the inner periphery than the opening of the groove on the upper surface of the bottom surface member. A compression molding die characterized in that an undercut portion is formed.
a) 前記キャビティ内にシール用樹脂材料を供給してダミー成形品を圧縮成形する工程と、
b) 前記シール用樹脂材料で圧縮成形された前記ダミー成形品を、前記溝部に入り込んだ前記シール用樹脂材料が硬化することにより該溝部内に形成された溝部充填部材から分離して前記圧縮成形型から取り外す工程と、
c) 前記溝部に前記溝部充填部材が充填された状態の前記キャビティ内に封止用樹脂材料を供給して基板上の電子部品を圧縮成形で封止する工程と、
d) 前記封止用樹脂材料で封止された前記基板を、前記溝部充填部材から分離して前記圧縮成形型から取り外す工程と
を有することを特徴とする圧縮成形方法。 A method of resin-sealing an electronic component mounted on a substrate using the compression molding die according to claim 1 or 2 by compression molding,
a) supplying a sealing resin material into the cavity and compressing the dummy molded product;
b) The compression molding is performed by separating the dummy molded product compression-molded with the sealing resin material from the groove filling member formed in the groove when the sealing resin material entering the groove is cured. Removing from the mold,
c) supplying a sealing resin material into the cavity in a state where the groove filling member is filled in the groove and sealing the electronic component on the substrate by compression molding;
d) a step of separating the substrate sealed with the sealing resin material from the groove filling member and removing it from the compression mold.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010207836A JP5174874B2 (en) | 2010-09-16 | 2010-09-16 | Compression molding die and compression molding method |
TW100127527A TWI531459B (en) | 2010-09-16 | 2011-08-03 | Compression forming die and compression forming method |
KR1020110091040A KR101610981B1 (en) | 2010-09-16 | 2011-09-08 | Compression molding mold and compression molding method |
CN201110276559.3A CN102529002B (en) | 2010-09-16 | 2011-09-13 | Compression molding die and compress moulding method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010207836A JP5174874B2 (en) | 2010-09-16 | 2010-09-16 | Compression molding die and compression molding method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012061728A JP2012061728A (en) | 2012-03-29 |
JP5174874B2 true JP5174874B2 (en) | 2013-04-03 |
Family
ID=46057952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010207836A Active JP5174874B2 (en) | 2010-09-16 | 2010-09-16 | Compression molding die and compression molding method |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5174874B2 (en) |
KR (1) | KR101610981B1 (en) |
CN (1) | CN102529002B (en) |
TW (1) | TWI531459B (en) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5774545B2 (en) * | 2012-05-29 | 2015-09-09 | Towa株式会社 | Resin sealing molding equipment |
JP6212399B2 (en) * | 2014-01-21 | 2017-10-11 | Towa株式会社 | Film sheet cutting device and cutting method |
JP6470599B2 (en) * | 2014-04-22 | 2019-02-13 | アピックヤマダ株式会社 | Mold |
JP6491508B2 (en) | 2015-03-23 | 2019-03-27 | Towa株式会社 | Resin sealing device and method of manufacturing resin molded product |
JP6564227B2 (en) * | 2015-04-10 | 2019-08-21 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding die, resin molding apparatus and resin molding method |
CN105583991A (en) * | 2015-12-16 | 2016-05-18 | 安徽宁国中鼎模具制造有限公司 | Improved horizontal type rectangular ring mold |
JP6580519B2 (en) * | 2016-05-24 | 2019-09-25 | Towa株式会社 | Compression molding apparatus, resin-encapsulated product manufacturing apparatus, compression molding method, and resin-encapsulated product manufacturing method |
JP6827283B2 (en) * | 2016-08-03 | 2021-02-10 | Towa株式会社 | Molding mold, resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products |
JP6845714B2 (en) * | 2017-03-10 | 2021-03-24 | Towa株式会社 | Resin molding equipment, resin molding method, and manufacturing method of resin molded products |
JP6886341B2 (en) * | 2017-05-10 | 2021-06-16 | Towa株式会社 | Molding mold for resin molding, resin molding equipment, molding mold adjustment method for resin molding, and manufacturing method for resin molded products |
JP6482616B2 (en) * | 2017-08-21 | 2019-03-13 | Towa株式会社 | Resin molding apparatus and resin molded product manufacturing method |
JP7113291B2 (en) * | 2018-06-11 | 2022-08-05 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Exterior resin molding method for electronic component module |
JP7394739B2 (en) * | 2020-11-11 | 2023-12-08 | Towa株式会社 | Compression molds, resin molding equipment, resin molding systems, and methods for manufacturing resin molded products |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07223232A (en) * | 1994-02-14 | 1995-08-22 | Takashimaya Nippatsu Kogyo Kk | Molding tool using polyurethane chip as raw material |
JP3457452B2 (en) * | 1996-01-31 | 2003-10-20 | 株式会社ブリヂストン | Manufacturing method of grating |
JP3896274B2 (en) * | 2001-10-30 | 2007-03-22 | 住友重機械工業株式会社 | Semiconductor resin sealing device |
JP4215593B2 (en) * | 2003-08-06 | 2009-01-28 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding equipment |
JP4192104B2 (en) * | 2004-02-12 | 2008-12-03 | 株式会社台和 | Thermosetting resin molding method |
WO2007083352A1 (en) * | 2006-01-17 | 2007-07-26 | Spansion Llc | Semiconductor device and method for manufacturing same |
JP2008296382A (en) * | 2007-05-29 | 2008-12-11 | Towa Corp | Compression-molding method for electronic component and metal mold |
JP5128309B2 (en) | 2008-02-20 | 2013-01-23 | Towa株式会社 | Electronic component compression molding method and mold |
JP2009124012A (en) * | 2007-11-16 | 2009-06-04 | Towa Corp | Compression molding method of electronic component, and die |
JP4553944B2 (en) | 2008-01-10 | 2010-09-29 | アピックヤマダ株式会社 | Resin molding method and resin molding apparatus |
JP5382693B2 (en) | 2009-02-04 | 2014-01-08 | アピックヤマダ株式会社 | Compression molding method |
CN201520030U (en) * | 2009-11-05 | 2010-07-07 | 中国石化集团第十建设公司 | Brake air chamber dust shield mould |
-
2010
- 2010-09-16 JP JP2010207836A patent/JP5174874B2/en active Active
-
2011
- 2011-08-03 TW TW100127527A patent/TWI531459B/en active
- 2011-09-08 KR KR1020110091040A patent/KR101610981B1/en active Active
- 2011-09-13 CN CN201110276559.3A patent/CN102529002B/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102529002B (en) | 2015-09-09 |
KR20120029323A (en) | 2012-03-26 |
CN102529002A (en) | 2012-07-04 |
JP2012061728A (en) | 2012-03-29 |
KR101610981B1 (en) | 2016-04-08 |
TW201219182A (en) | 2012-05-16 |
TWI531459B (en) | 2016-05-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120914 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121206 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121211 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
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R250 | Receipt of annual fees |
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