JP5061939B2 - 熱伝導性樹脂組成物、接着剤層、及びそれらを用いて作製した半導体装置。 - Google Patents
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これらの場合に半導体素子を接着する材料は熱伝導率だけでなく各界面において良好な塗布作業性が求められ、ボイド、剥離など熱拡散を悪化させる要因は排除される必要がある。
このため、ここに使用する接着用材料は、Ni−Pdめっきなどでも良好な接着性、塗布作業性に優れたものが求められる。
(A)熱伝導率が10W/mk以上である熱伝導性充填材、(B)熱硬化性樹脂、(C)スルフィド結合と水酸基を有する化合物、及び、シランカップリング剤を含み、かつ、
溶剤を含有せず、
前記(A)熱伝導性充填材が銀粉であり、前記(C)化合物がチオビス(ジエチレングリコール)、3,6−ジチアオクタン−1,8−ジオール、及び、3,6,9−トリチアウンデカン−1,11−ジオールからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の化合物であり、前記銀粉の含有量が、前記熱伝導性樹脂組成物中70重量%以上、95重量%以下であり、前記(C)化合物の含有量が、前記(B)熱硬化性樹脂に対し0.05重量%以上、10重量%以下であることを特徴とする。
本発明の熱伝導性樹脂組成物は、前記(B)熱硬化性樹脂が、シアネート樹脂、エポキシ樹脂、ラジカル重合性のアクリル樹脂、及びマレイミド樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の熱硬化性樹脂を含むものとすることができる。
本発明の接着剤層は、前記熱伝導性樹脂組成物を加熱することにより得られることを特徴とする。
本発明の半導体装置は、前記熱伝導性樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いて作製したことを特徴とする。
また、本発明に従うと、熱伝導性、塗布作業性、塗布後の広がり性とのバランスに優れる熱伝導性樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いることにより、安定した厚みの接着剤層が形成された半導体装置を得ることができる。
本発明に用いる熱伝導性充填材(A)は、単体の熱伝導率が10W/mK以上の金属、無機材料、有機材料などからなる充填材である。このような熱伝導性充填材(A)としては、銀粉、金粉、銅粉、アルミニウム粉、ニッケル粉、パラジウム粉などの金属粉、アルミナ粉末、チタニア粉末、アルミニウムナイトライド粉末、ボロンナイトライド粉末などのセラミック粉末が挙げられる。これらの中でも、熱伝導率の観点からより好ましいのは単体での熱伝導率が200W/mK以上の金属粉であり、特に好ましいのは、銀粉、金粉、銅粉、アルミニウム粉、ベリリウム粉からなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の充填材である。熱伝導性充填材(A)は、それを含む熱伝導性樹脂組成物をノズルを使用して吐出する場合があるので、ノズル詰まりを防ぐために平均粒径は30μm以下が好ましく、ナトリウム、塩素などのイオン性の不純物が少ないものであることが好ましい。
これら熱伝導性充填材のなかでも良好な熱伝導率及び酸化などへの安定性の観点からもっとも好ましいものは、銀粉である。
ここで銀粉とは純銀または銀合金の微粉末である。銀合金としては銀を50重量%以上、好ましくは70重量%以上含有する銀−銅合金、銀−パラジウム合金、銀−錫合金、銀−亜鉛合金、銀−マグネシウム合金、銀−ニッケル合金などが挙げられる。
通常電子材料用として市販されている銀粉であれば、還元粉、アトマイズ粉などが入手可能で、好ましい粒径としては平均粒径が0.5μm以上、30μm以下である。より好ましい平均粒径は1μm以上、10μm以下である。下限値以下では熱伝導性樹脂組成物の粘度が高くなりすぎ、上限値以上ではディスペンス時にノズル詰まりの原因となりうるからであり、電子材料用以外の銀粉ではイオン性不純物の量が多い場合があるので注意が必要である。必要により平均粒径が1μm以下の金属粉との併用も可能である。
銀粉の形状としては、フレーク状、球状など特に限定されないが、好ましくはフレーク状であり、その添加量は通常熱伝導性樹脂組成物中70重量%以上、95重量%以下であることが好ましい。銀粉の割合が下限値より少ない場合には硬化物の熱伝導性が悪化し、上限値より多い場合には熱伝導性樹脂組成物の粘度が高くなりすぎ塗布作業性が悪化するおそれがあるためである。
ジヒドラジド化合物としては、アジピン酸ジヒドラジド、ドデカン酸ジヒドラジド、イソフタル酸ジヒドラジド、p−オキシ安息香酸ジヒドラジドなどのカルボン酸ジヒドラジドなどが挙げられ、
酸無水物としてはフタル酸無水物、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、エンドメチレンテトラヒドロフタル酸無水物、ドデセニルコハク酸無水物、無水マレイン酸とポリブタジエンの反応物、無水マレイン酸とスチレンの共重合体などが挙げられる。
フェノール樹脂としては1分子内にフェノール性水酸基を2つ以上有する化合物であり、1分子内にフェノール性水酸基を1つ有する化合物の場合には架橋構造をとることができないため硬化物特性が悪化し使用できない。また1分子内のフェノール性水酸基数は2つ以上であれば使用可能であるが、好ましいフェノール性水酸基の数は2〜5である。これより多い場合には分子量が大きくなりすぎるので導電性ペーストの粘度が高くなりすぎるため好ましくない。より好ましい1分子内のフェノール性水酸基数は2つまたは3つである。このような化合物としては、ビスフェノールF、ビスフェノールA、ビスフェノールS、テトラメチルビスフェノールA、テトラメチルビスフェノールF、テトラメチルビスフェノールS、ジヒドロキシジフェニルエーテル、ジヒドロキシベンゾフェノン、テトラメチルビフェノール、エチリデンビスフェノール、メチルエチリデンビス(メチルフェノール)、シクロへキシリデンビスフェノール、ビフェノールなどのビスフェノール類及びその誘導体、トリ(ヒドロキシフェニル)メタン、トリ(ヒドロキシフェニル)エタンなどの3官能のフェノール類及びその誘導体、フェノールノボラック、クレゾールノボラックなどのフェノール類とホルムアルデヒドを反応することで得られる化合物で2核体または3核体がメインのもの及びその誘導体などが挙げられる。
特に好ましいアクリル樹脂は分子量が500〜10000のポリエーテル、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリ(メタ)アクリレート、ポリブタジエン、ブタジエンアクリロニトリル共重合体で(メタ)アクリル基を有する化合物である。
ポリエーテルとしては、炭素数が3〜6の有機基がエーテル結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリエーテルポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。
ポリエステルとしては、炭素数が3〜6の有機基がエステル結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリエステルポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。ポリカーボネートとしては、炭素数が3〜6の有機基がカーボネート結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリカーボネートポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。
ポリブタジエンとしては、カルボキシ基を有するポリブタジエンと水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応、水酸基を有するポリブタジエンと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能であり、また無水マレイン酸を付加したポリブタジエンと水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応により得ることも可能である。
ブタジエンアクリロニトリル共重合体としては、カルボキシ基を有するブタジエンアクリロニトリル共重合体と水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応により得ることが可能である。
本発明の接着剤層は、上記得られた熱伝導性樹脂組成物を例えばリードフレームや基板などの支持体の所定の部位に塗布し、半導体素子搭載後加熱することにより得ることができる。また基板に半田接合し封止したフリップチップの所定の位置に塗布し放熱部材搭載後、加熱することにより得ることができる。
このとき接着剤層の厚みについてはとくに制限を受けるものではないが、熱伝導性、塗布作業性、及び塗布後の広がり性のバランスを考慮すると、5μm以上、100μm以下、好ましくは10μm以上、50μm以下であるのが望ましい。特に好ましいのは10μm以上、30μm以下である。下限値以下では接着特性が悪化する場合があり、上限値以上では接着剤層の厚み制御が困難になり熱伝導性が安定しない場合があるからである。
[実施例1]
熱伝導性充填材(A)として平均粒径7μm、タップ密度5.8g/cm3の銀粉(以下銀粉)を、熱硬化性樹脂(B)としてポリテトラメチレングリコールとイソホロンジイソシアネートと2−ヒドロキシメチルメタクリレートとの反応により得られたウレタンジメタクリレート化合物(分子量約1600、以下化合物B1)、1,4−シクロヘキサンジメタノールモノアクリレート(日本化成(株)製、CHDMMA、以下化合物B6)、2−メタクリロイルオキシエチルコハク酸(共栄社化学(株)製、ライトエステルHO−MS、以下化合物B7)、1,6−ヘキサンジオールジメタクリレート(共栄社化学(株)製、ライトエステル1、6HX、以下化合物B8)、ジクミルパーオキサイド(日本油脂(株)製、パークミルD、急速加熱試験における分解温度:126℃、以下重合開始剤)を、スルフィド結合と水酸基を有する化合物(C)として3,6−ジチアオクタン−1,8−ジオール(試薬、以下化合物C1)、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド(ダイソー(株)製、カブラス4、以下化合物Z1)、3−グリシジルプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM−403E、以下化合物Z2)を表1のように配合し、3本ロールを用いて混練し、脱泡することで熱伝導性樹脂組成物を得た。配合割合は重量部である。得られた熱伝導性樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
以下の化合物を使用した。
ポリテトラメチレングリコールとマレイミド化酢酸の反応により得られたビスマレイミド化合物(分子量580、以下化合物B2)、シクロヘキサンジカルボン酸のジアリルエステルとポリプロピレングリコールとの反応により得られたジアリルエステル化合物(分子量1000、ただし原料として用いたシクロヘキサンジカルボン酸のジアリルエステルを約15%含む、以下化合物B3)、1,4−シクロヘキサンジメタノール/1,6−ヘキサンジオール(=3/1(重量比))と炭酸ジメチルの反応により得られたポリカーボネートジオールとメチルメタクリレートの反応により得られたポリカーボネートジメタクリレート化合物(分子量1000、以下化合物B4)、酸価108mgKOH/gで分子量4600のアクリルオリゴマーと2−ヒドロキシメタクリレート/ブチルアルコール(=1/2(モル比))との反応により得られたメタクリル化アクリルオリゴマー(分子量5000、以下化合物B5)、ビスフェノールAとエピクロルヒドリンとの反応により得られるジグリシジルビスフェノールA(エポキシ当量180、常温で液体、以下化合物B9)、クレジルグリシジルエーテル(エポキシ当量185、以下化合物B10)、ビスフェノールF(大日本インキ工業(株)製、DIC−BPF、水酸基当量100、以下化合物B11)、ジシアンジアミド(以下化合物B12)、2−メチルイミダゾールと2,4−ジアミノ−6−ビニルトリアジンとの付加物(四国化成工業(株)製、キュアゾール2MZ−A、以下化合物B13)、化合物(C)として3,6,9−トリチアウンデカン−1,11−ジオール(試薬、以下化合物C2)。
これらの中から選択した化合物を表1のように配合し、実施例1と同様に3本ロールを用いて混練し、脱泡することで熱伝導性樹脂組成物を得た。配合割合は重量部である。得られた熱伝導性樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
表1に示す割合で配合し実施例1と同様に熱伝導性樹脂組成物を得た。
なお比較例3では、γ−ブチロラクトン(試薬、以下溶剤)を用いた。
得られた熱伝導性樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
・塗布作業性(粘度):E型粘度計(3°コーン)を用い25℃、2.5rpmでの値を熱伝導性樹脂組成物作製直後に測定した。粘度が15〜25Pa・sの場合を合格とした。粘度の単位はPa・sである。
・広がり性(1):表1に示す熱伝導性樹脂組成物を22Gのシングルノズル(内径0.47mm)を用いてリードフレーム上に1点塗布し、直後に6×6mmのガラスチップをマウント荷重300g、マウント時間1秒でマウントし、サンプルを作製し、熱伝導性樹脂組成物の広がった直径を測定した。得られた12個のサンプルに対し測定した値の平均値を広がり性(1)の値とした。広がり性(1)の単位はmm。
・広がり性(2):熱伝導性樹脂組成物塗布後、1時間放置した後にマウントした以外は広がり性(1)と同様に広がり性(2)の測定を行った。広がり性(2)の単位はmm。広がり性(2)/広がり性(1)の値が0.9以上1.1以下の場合を合格とした。
・塗布厚み(1):表1に示す熱伝導性樹脂組成物を用いて下記のリードフレームにシリコンチップをマウントしオーブン中175℃30分間硬化し接着した。マウントはダイボンダー(ASM社製)を用い、熱伝導性樹脂組成物塗布直後に塗布厚みが約25μmになるように調整して行った。塗布厚みの測定は非接触型の厚み計を用い予め測定しておいたリードフレームとシリコンチップの厚みを差し引くことで算出した。12個のサンプルでの測定値の平均値を塗布厚み(1)とした。塗布厚み(1)の単位はμm。
リードフレーム:Ni−Pdめっきした銅フレーム(QFP用)
チップサイズ:6×6mm
・塗布厚み(2):マウントを塗布厚み(1)と同じ条件で熱伝導性樹脂組成物塗布後1時間放置した後に行った以外は塗布厚み(1)と同様に塗布厚み(2)の測定を行った。塗布厚み(2)の単位はμm。塗布厚み(2)/塗布厚み(1)の値が0.9以上1.1以下の場合を合格とした。
熱伝導率=α×Cp×ρ
・耐温度サイクル性:表1に示す熱伝導性樹脂組成物を用いて、15×15×0.5mmのシリコンチップをNiメッキした銅ヒートスプレッダー(25×25×2mm)にマウントし、175℃オーブンにて30分硬化した。硬化後及び温度サイクル処理後(−65℃←→150℃、100サイクル)後の剥離及びボイドの様子を超音波探傷装置(反射型)にて測定した。剥離及びボイドの面積が10%以下のものを合格とした。
・耐リフロー性(1):塗布厚み(1)でシリコンチップをマウント硬化したリードフレームを封止材料(スミコンEME−G620A、住友ベークライト(株)製)を用い封止し、半導体装置を作製した。この半導体装置を30℃、相対湿度60%、168時間吸湿処理した後、IRリフロー処理(260℃、10秒、3回リフロー)を行った。処理後の半導体装置を超音波探傷装置(透過型)により剥離の程度を測定した。剥離面積の単位は%である。ダイアタッチ部の剥離面積が10%未満の場合を合格とした。
半導体装置:QFP(14×20×2.0mm)
リードフレーム:Ni−Pdめっきした銅フレーム
チップサイズ:6×6mm
・耐リフロー性(2):塗布厚み(2)で作製したリードフレームを用いた以外は耐リフロー性(1)と同様にして剥離の測定を行った。ダイアタッチ部の剥離面積が10%未満の場合を合格とした。
これに対し本発明を逸脱する比較例1に示す熱伝導性樹脂組成物は、適切な範囲であるため塗布作業性が良好で、塗布後1時間放置しても広がり性、塗布厚みに変化がないが、化合物(C)を含まないため熱伝導率が不足している。
比較例2に示す熱伝導性樹脂組成物は、銀粉の配合割合を増すことで熱伝導率を向上することはできたが、粘度が高くなりすぎた。このため耐温度サイクル性試験のように接着面積が大きい場合には全体を接着することが困難であった。
比較例3は、溶剤を配合することで熱伝導率を向上することはできたが、耐温度サイクル試験では硬化後に溶剤の揮発に基づくボイドが観察され、温度サイクル処理中に剥離に進展した。さらに塗布後1時間放置すると広がり性、塗布厚みが大幅に変化し、耐リフロー性試験では剥離が生じてしまった。
Claims (4)
- 半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料に用いられる熱伝導性樹脂組成物であって、
(A)熱伝導率が10W/mk以上である熱伝導性充填材、(B)熱硬化性樹脂、(C)スルフィド結合と水酸基を有する化合物、及び、シランカップリング剤を含み、かつ、溶剤を含有せず、
前記(A)熱伝導性充填材が銀粉であり、前記(C)化合物がチオビス(ジエチレングリコール)、3,6−ジチアオクタン−1,8−ジオール、及び、3,6,9−トリチアウンデカン−1,11−ジオールからなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の化合物であり、前記銀粉の含有量が、前記熱伝導性樹脂組成物中70重量%以上、95重量%以下であり、前記(C)化合物の含有量が、前記(B)熱硬化性樹脂に対し0.05重量%以上、10重量%以下であることを特徴とする熱伝導性樹脂組成物。 - 前記(B)熱硬化性樹脂が、シアネート樹脂、エポキシ樹脂、ラジカル重合性のアクリル樹脂、及びマレイミド樹脂からなる群より選ばれる少なくとも1つ以上の熱硬化性樹脂を含む請求項1に記載の熱伝導性樹脂組成物。
- 請求項1又は請求項2に記載の熱伝導性樹脂組成物を加熱することにより得られることを特徴とする接着剤層。
- 請求項1又は請求項2に記載の熱伝導性樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いて作製したことを特徴とする半導体装置。
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