JP5036219B2 - 有機薄膜トランジスタを有する半導体装置の製造方法 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 64
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 55
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 100
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 57
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 36
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 30
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 29
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 18
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 10
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 10
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 9
- 239000013545 self-assembled monolayer Substances 0.000 claims description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 5
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 claims description 3
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 claims description 3
- 239000000908 ammonium hydroxide Substances 0.000 claims description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 claims description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 2
- 239000002082 metal nanoparticle Substances 0.000 claims description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims 2
- 239000002094 self assembled monolayer Substances 0.000 claims 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims 1
- 125000003698 tetramethyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 57
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 30
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 12
- -1 perfluoro group Chemical group 0.000 description 12
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 7
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 7
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 6
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 5
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 5
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 5
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 5
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 4
- CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N heptan-2-one Chemical compound CCCCCC(C)=O CATSNJVOTSVZJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 4
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 4
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 3
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 3
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 3
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 3
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-hydroxypropanoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)O LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- SLIUAWYAILUBJU-UHFFFAOYSA-N pentacene Chemical class C1=CC=CC2=CC3=CC4=CC5=CC=CC=C5C=C4C=C3C=C21 SLIUAWYAILUBJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003217 poly(methylsilsesquioxane) Polymers 0.000 description 2
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VDZOOKBUILJEDG-UHFFFAOYSA-M tetrabutylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].CCCC[N+](CCCC)(CCCC)CCCC VDZOOKBUILJEDG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003026 Acene Polymers 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical class C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920008347 Cellulose acetate propionate Polymers 0.000 description 1
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 description 1
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 1
- 229920001665 Poly-4-vinylphenol Polymers 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004697 Polyetherimide Substances 0.000 description 1
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004734 Polyphenylene sulfide Substances 0.000 description 1
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N Silver ion Chemical group [Ag+] FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 description 1
- 150000001242 acetic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N benzocyclobutene Chemical class C1=CC=C2CCC2=C1 UMIVXZPTRXBADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WQAQPCDUOCURKW-UHFFFAOYSA-N butanethiol Chemical compound CCCCS WQAQPCDUOCURKW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QHIWVLPBUQWDMQ-UHFFFAOYSA-N butyl prop-2-enoate;methyl 2-methylprop-2-enoate;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.COC(=O)C(C)=C.CCCCOC(=O)C=C QHIWVLPBUQWDMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000609 carbazolyl group Chemical class C1(=CC=CC=2C3=CC=CC=C3NC12)* 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229920000775 emeraldine polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 229940116333 ethyl lactate Drugs 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000011344 liquid material Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 150000002964 pentacenes Chemical class 0.000 description 1
- 125000005010 perfluoroalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 1
- IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N phthalocyanine Chemical class N1C(N=C2C3=CC=CC=C3C(N=C3C4=CC=CC=C4C(=N4)N3)=N2)=C(C=CC=C2)C2=C1N=C1C2=CC=CC=C2C4=N1 IEQIEDJGQAUEQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000301 poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920003207 poly(ethylene-2,6-naphthalate) Polymers 0.000 description 1
- 229920001467 poly(styrenesulfonates) Polymers 0.000 description 1
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 1
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 1
- 229920000323 polyazulene Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 229920000015 polydiacetylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001690 polydopamine Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 description 1
- 229920001601 polyetherimide Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 229920000069 polyphenylene sulfide Polymers 0.000 description 1
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000011118 polyvinyl acetate Substances 0.000 description 1
- QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N propylene Natural products CC=C QQONPFPTGQHPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004805 propylene group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 239000012487 rinsing solution Substances 0.000 description 1
- YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N rubrene Chemical class C1=CC=CC=C1C(C1=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=CC=C2C(C=2C=CC=CC=2)=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000000682 scanning probe acoustic microscopy Methods 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 238000010129 solution processing Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012815 thermoplastic material Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
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- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/466—Lateral bottom-gate IGFETs comprising only a single gate
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Description
前記塗布法は、インクジェット法、マイクロディスペンス法、ディップ法、回転塗布法、及び転写法などが代表的な例である。本発明の目的に、諸部分の形成に、これらの内の少なくとも一つを用いるのが、実際的である。
たインクジェット印刷装置は、位置精度、描画線幅最小値共に20μmであったため、ゲート電極線幅は20μmとした。
これらの有機高分子化合物を絶縁膜として使用する場合は、感光性自己組織化膜を形成するために、絶縁膜表面に、シロキサン化合物膜やシラザン化合物膜を形成する必要があり、コスト、工程が若干増加する。
(比較例1)
露光後の有機アルカリ水溶液処理工程を、トルエン処理工程に変える他は実施例1と同様な方法で有機半導体を用いたTFT作成を行った。露光部の水の接触角が下限になるためには、トルエンに基板ごと浸し30分間の超音波洗浄が必要であった。有機アルカリ水溶液処理方法と比較して、10倍以上の時間を要した。この時点での水の接触角は、40度であった。
(比較例2)
比較例1と同様な方法により、露光部の水の接触角が40度の基板を水酸化ナトリウム1w%水溶液に1分間浸し、水での洗浄を行った。この時点で、水の接触角は、20度となった。その後の工程は、実施例1と同様な方法で有機TFTを作成したところ、トランジスタ動作しなかった。
その後、感光性自己組織化膜材料(5-methoxy-2-nitro-benzyl 4-(trimethoxysilyl) butanesulfonate)の0.1w%トルエン溶液に基板を10分間ディップし、トルエンでリンス、乾燥後、110℃で10分間焼成し感光性自己組織化膜4を形成した(上面図:図17(a)、断面図:図17(b))。パタン描画機能を持つレーザー露光機を用い、355nmの波長により、スルーホール間の露光を行った。その後、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド2.38w%水溶液に基板を1分間浸し、水により洗浄を行った(上面図:図18(a)、断面図:図18(b))。露光部に、インクジェット法で銅ナノ微粒子をトルエン溶液に分散させたものをインクとしてパタンを描き、180℃10分間焼成してスルーホール間に配線28を形成した(上面図:図19(a)、断面図:図19(b))。市販されている配線基板と差異無く使用できた。
Claims (17)
- 基板上に下部電極を形成する工程と、
前記下部電極を覆うように絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜上に選択的にソース及びドレイン電極を形成する工程と、
前記絶縁膜上に前記ソース及びドレイン電極に狭持され、その一端が前記ソース電極に、他端が前記ドレイン電極に接するように有機半導体からなるチャネル部を選択的に形成する工程と、を備え、
前記ソース及びドレイン電極は、下記(化学式1)で表わされる第1の単分子からなる感光性自己組織化単分子膜を前記絶縁膜上に付着させ、前記ソース及びドレイン電極形成予定領域に露光光を照射し前記第1の単分子を下記(化学式2)で表わされる第2の単分子に変化させ、前記照射後の前記第2の単分子からなる感光性自己組織化単分子膜をテトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド並びに水を用いてリンスし下記(化学式3)で表わされる第3の単分子からなる感光性自己組織化単分子膜とし、その後に、導電性材料を含有する溶液を前記絶縁膜上に付着させて形成されることを特徴とする半導体装置の製造方法。
- 前記感光性自己組織化単分子膜の付着の方法は、塗布法またはディップ法により行うことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記基板および前記絶縁膜が、前記露光光に対して透光性を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記基板と前記絶縁膜が、前記露光光に対して透光性材料からなり、前記下部電極が前記露光光に対して不透光性材料からなることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記ソース及びドレイン電極の材料が、金属ナノ微粒子を含有する溶液を原料とすることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記ソース及びドレイン電極の材料が、導電性高分子を含有する溶液を原料とすることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記露光光の照射は、前記基板の裏面から行うことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記チャネル部、前記絶縁膜、前記下部電極、前記ソース及びドレイン電極は、それぞれ印刷法により形成されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記露光光の照射工程並びに、前記有機アルカリ水溶液処理工程の前後における前記感光性自己組織化膜の水に対する接触角が異なることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記露光光の照射工程並びに、前記有機アルカリ水溶液処理工程後における前記感光性自己組織化膜の水に対する接触角は、その両工程を実施する前の前記接触角より小さいことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記有機半導体膜の形成は、前記ソース及びドレイン電極の形成工程後になされることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記基板が、フレキシブルな基板であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記基板は、珪素化合物からなることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記基板は、有機化合物からなることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記基板の裏面からの露光光の波長は、前記感光性自己組織化膜の光吸収帯の波長であることを特徴とする請求項7に記載の半導体装置の製造方法。
- 前記塗布法が、インクジェット法、マイクロディスペンス法、キャスト法、ディッピング法、及び転写法の群から選択された少なくとも1種類の方法であることを特徴とする請求項2に記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006149992A JP5036219B2 (ja) | 2006-05-30 | 2006-05-30 | 有機薄膜トランジスタを有する半導体装置の製造方法 |
US11/752,340 US7989143B2 (en) | 2006-05-30 | 2007-05-23 | Method of manufacturing a semiconductor device having an organic thin film transistor |
CN2007101054437A CN101083305B (zh) | 2006-05-30 | 2007-05-30 | 具有有机薄膜晶体管的半导体器件的制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006149992A JP5036219B2 (ja) | 2006-05-30 | 2006-05-30 | 有機薄膜トランジスタを有する半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007324201A JP2007324201A (ja) | 2007-12-13 |
JP5036219B2 true JP5036219B2 (ja) | 2012-09-26 |
Family
ID=38790739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006149992A Expired - Fee Related JP5036219B2 (ja) | 2006-05-30 | 2006-05-30 | 有機薄膜トランジスタを有する半導体装置の製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7989143B2 (ja) |
JP (1) | JP5036219B2 (ja) |
CN (1) | CN101083305B (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1434281A3 (en) * | 2002-12-26 | 2007-10-24 | Konica Minolta Holdings, Inc. | Manufacturing method of thin-film transistor, thin-film transistor sheet, and electric circuit |
JP5210594B2 (ja) * | 2006-10-31 | 2013-06-12 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP2008170515A (ja) * | 2007-01-09 | 2008-07-24 | Konica Minolta Holdings Inc | 表面処理材料、基板、基板表面の処理方法、薄膜トランジスタ及び半導体デバイスの製造方法 |
GB0802183D0 (en) * | 2008-02-06 | 2008-03-12 | Cambridge Display Technology O | Method of fabricating top gate organic semiconductor transistors |
JP5211729B2 (ja) | 2008-02-07 | 2013-06-12 | 株式会社リコー | 積層構造体及びその製造方法 |
JP2009200315A (ja) * | 2008-02-22 | 2009-09-03 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP5463538B2 (ja) * | 2008-03-18 | 2014-04-09 | 国立大学法人 東京大学 | 有機薄膜トランジスタの製造方法 |
JP5365768B2 (ja) * | 2008-04-01 | 2013-12-11 | 並木精密宝石株式会社 | 円筒状コイル、円筒型マイクロモータ及び円筒状コイルの製造方法 |
JP5337407B2 (ja) * | 2008-05-26 | 2013-11-06 | 株式会社日立製作所 | 薄膜トランジスタ装置 |
WO2010010609A1 (ja) * | 2008-07-22 | 2010-01-28 | パイオニア株式会社 | コンタクトホールの形成方法、及び回路基板 |
JP2010039166A (ja) * | 2008-08-05 | 2010-02-18 | Hitachi Ltd | 露光装置およびそれを用いたデバイスの製造方法 |
JP2010157532A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
CN102456573A (zh) * | 2010-10-22 | 2012-05-16 | 元太科技工业股份有限公司 | 薄膜晶体管的制造方法 |
WO2014018021A1 (en) | 2012-07-24 | 2014-01-30 | Empire Technology Development Llc | Solution phase polydiacetylene synthesis by alkyne metathesis |
CN102881828A (zh) * | 2012-10-10 | 2013-01-16 | 上海交通大学 | 一种短沟道有机薄膜晶体管的制备方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59219743A (ja) * | 1983-05-28 | 1984-12-11 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | ポジ型レジスト現像液 |
JP3870562B2 (ja) * | 1998-07-16 | 2007-01-17 | セイコーエプソン株式会社 | パターン形成方法、およびパターン形成基板の製造方法 |
US6403407B1 (en) * | 2000-06-02 | 2002-06-11 | International Business Machines Corporation | Method of forming fully self-aligned TFT with improved process window |
US7327582B2 (en) * | 2000-09-21 | 2008-02-05 | Ultrasource, Inc. | Integrated thin film capacitor/inductor/interconnect system and method |
US6635409B1 (en) * | 2001-07-12 | 2003-10-21 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method of strengthening photoresist to prevent pattern collapse |
JP2003149831A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-21 | Seiko Epson Corp | 単分子層のパターン形成方法、パターン化単分子層を利用した導電膜パターンの形成方法、及び電気光学装置 |
JP3970583B2 (ja) | 2001-11-22 | 2007-09-05 | 株式会社東芝 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP4014142B2 (ja) * | 2002-05-02 | 2007-11-28 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 光分解性シランカップリング剤 |
JP4618990B2 (ja) | 2002-08-02 | 2011-01-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機薄膜トランジスタ及びその作製方法、並びに有機薄膜トランジスタを有する半導体装置 |
US7102155B2 (en) * | 2003-09-04 | 2006-09-05 | Hitachi, Ltd. | Electrode substrate, thin film transistor, display device and their production |
JP2005079560A (ja) * | 2003-09-04 | 2005-03-24 | Hitachi Ltd | 薄膜トランジスタ,表示装置、およびその製造方法 |
US7019328B2 (en) * | 2004-06-08 | 2006-03-28 | Palo Alto Research Center Incorporated | Printed transistors |
-
2006
- 2006-05-30 JP JP2006149992A patent/JP5036219B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-05-23 US US11/752,340 patent/US7989143B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-05-30 CN CN2007101054437A patent/CN101083305B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007324201A (ja) | 2007-12-13 |
US20070281384A1 (en) | 2007-12-06 |
CN101083305B (zh) | 2010-06-09 |
US7989143B2 (en) | 2011-08-02 |
CN101083305A (zh) | 2007-12-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20081114 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120214 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120413 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120626 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120703 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150713 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |