JP5022767B2 - 多光軸光電センサ - Google Patents

Description

本発明は、多光軸光電センサに関するものである。

従来、物体が検出エリア内に侵入したことを検出する多光軸光電センサが知られている。多光軸光電センサは、複数の投光素子が備えられた投光器と各投光素子に対応して複数の受光素子が備えられた受光器とが対向して配置される。そして、投光器に備えられた投光素子が所定の投光タイミングにて順次投光される投光スキャン動作を所定周期で繰り返し行うとともに、各投光素子と対応する受光素子からの受光信号に基づいて、検出エリア内への物体侵入が検出される。

ところで、工場の生産ライン等では、多くの検出エリアが設定され、各検出エリアに対してそれぞれ多光軸光電センサが設置される。このような場合、多光軸光電スイッチの投光素子からの光が他の多光軸光電スイッチの受光素子に干渉光として入射するという相互干渉が懸念される。この結果、受光素子が形成する光軸が遮られているにもかかわらず、それを検出できないというおそれがある。また、工場のように複数の生産機器が設置されている場所では、機器による反射光が干渉光として入射されるおそれがある。このため、多光軸光電センサには、干渉光を検出する干渉光検出手段を備えたものがある（例えば、特許文献１参照）。

干渉光の入射を防止する方法としては、投光素子の前方にスリットを設けて、光芒を絞ることにより、他の多光軸光電スイッチに光が到達しないようにしたり、あるいは、受光素子の前方にスリットを設けることにより、受光素子に入射する光の範囲を制限したりして、干渉光の影響を回避するということがある。これらの対策は、作業者が多光軸センサの設置箇所に赴いて実施される。
特開２００６−２４２５７２号公報

しかしながら、上記の対策が適切であったか否かは、多光軸光電センサが干渉光を検出しないということでしか確認できない。このため、スリットの位置や幅等が適切でなかった場合、対策して数時間後に確認できたり、数日ひいては数週間後に確認できたりする（多光軸光電センサが干渉光を検出）ことになる。従って、対策が適切でなかった場合には、状況確認の手間がかかったり、再度設置箇所に赴いて新たな対策を実施するという手間がかかる。また、多光軸光電センサの使用者にとっては、生産ラインを停止させてしまう。

本発明は上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、干渉光に対して実施した対策結果を容易に確認することができる多光軸光電センサを提供することにある。

上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明は、複数の投光素子と、各投光素子に対向して複数の光軸を構成するように設けられた複数の受光素子と、前記複数の投光素子を所定のタイミングで点灯させる投光スキャン動作を行う投光制御手段と、前記各受光素子からの受光信号を、それと対向して前記光軸を形成する投光素子の点灯タイミングに一致させて検出することにより前記光軸における遮光状態を検出する遮光検出手段と、前記遮光検出手段からの遮光状態に基づく出力信号を出力する出力手段と、所定範囲の前記投光素子が点灯されていない期間において前記所定範囲のうちの予め設定される前記投光素子に対向する前記受光素子からの受光信号に基づいて干渉光の存在を検出する干渉光検出動作を行う干渉光検出手段と、を備えた多光軸光電センサであって、通常動作モードとテストモードとを備え、前記通常動作モードでは、前記干渉光検出手段は、干渉光判定期間、干渉光判定閾値、前記干渉光を判断した回数を異常と判定する回数判定値を含み通常基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行い、前記テストモードでは、前記干渉光検出手段は、前記干渉光判定期間と前記干渉光判定閾値と前記回数判定値のうちの少なくとも１つが前記通常基準よりも低い低基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行うようにした。

この構成によれば、作業者がテストモードで多光軸光電センサを動作させてみて、通常動作よりも低い干渉光判定基準にて、通常動作時よりも誤動作し易い環境下とすることで、通常動作時よりも短い時間で設定状態での外乱光入射状態の確認や外乱光対策の良否確認が作業者にて簡易的に的確に行える。

尚、通常基準よりも低い低基準とは、通常基準よりも通常基準よりも干渉光が検出し易い値に設定した基準である。干渉光は、干渉光判定期間を長くすることと、干渉光判定閾値を低くすることと、回数判定値を小さくすることの少なくとも１つを実施することにより、検出し易くなる。干渉光判定期間は、受光信号を取り込む期間であり、この期間を長くすることは、連続的な時間を長くすること、所定期間の取り込みを複数回行うこと、により実施可能である。

請求項２に記載の発明は、請求項１記載の多光軸光電センサにおいて、前記通常動作モードと前記テストモードは、外部接続される外部機器により切り換えられるものである。この構成によれば、不用意にテストモードに切り替わるのを防ぐことができる。

請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光を検出した場合にその旨を報知する報知手段を備えたものである。この構成によれば、干渉光の検出を作業者が容易に知ることができる。

請求項４に記載の発明は、請求項３記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光を検出した受光素子の位置を示す表示手段を備えたものである。この構成によれば、干渉光が入射される受光素子を容易に確認することができ、対策を実施することができる。

請求項５に記載の発明は、請求項４記載の多光軸光電センサにおいて、前記表示手段は、前記受光素子毎に設けられたものである。この構成によれば、干渉光が入射される受光素子を容易に特定することができ、干渉光に対する対策を実施することができる。

請求項６に記載の発明は、請求項４又は５記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光の光量に応じて前記表示手段の表示態様を変更するようにしたものである。この構成によれば、受光素子における干渉光の入射光量に応じた対策を実施することができる。

請求項７に記載の発明は、請求項１〜６のうちの何れか一項に記載の多光軸光電センサにおいて、前記干渉光検出手段は、前記遮光検出手段による各光軸における遮光状態の検出の前後の少なくとも一方の期間において干渉光検出動作を行うようにしたものである。この構成によれば、各受光素子に対する干渉光検出動作を確実に行うことができる。

以上記述したように、本発明によれば、干渉光に対して実施した対策結果を容易に確認することが可能な多光軸光電センサを提供することができる。

以下、本発明を具体化した一実施の形態を図１及び図２に従って説明する。
図１に示すように、多光軸光電センサは、互いに対向配置される投光器１０と受光器２０とから構成されている。

投光器１０は、長尺体にてなる断面略Ｕ字状の本体ケース１０ａを有し、該本体ケース１０ａ内部に、基本ユニット３０と所望数（本例では３つ）の増設ユニット３１とからなる複数のユニットが着脱可能に収容されてなる。基本ユニット３０及び増設ユニット３１はそれぞれ角柱状をなし、基本ユニット３０の上端面に増設ユニット３１が接続され、さらに、その増設ユニット３１の上端面に別の増設ユニット３１が接続されるといった態様にて、各ユニット３０，３１が直列に接続されるようになっている。本体ケース１０ａの両端にはエンドキャップ１０ｂ、１０ｃが設けられ、本体ケース１０ａ内部に各ユニット３０，３１を収容した状態でエンドキャップ１０ｂ、１０ｃを両端に嵌めることで、本体ケース１０ａ内における各ユニット３０，３１の位置が保持されるようになっている。なお、本実施の形態においては、基本ユニット３０及び増設ユニット３１がそれぞれ「投光ユニット」に相当する。又、本体ケース１０ａとエンドキャップ１０ｂ，１０ｃとにより「第１ケース」が構成されている。

基本ユニット３０及び増設ユニット３１には、発光ダイオード（ＬＥＤ）よりなる投光素子３２が例えばそれぞれ４つずつ長手方向（図中、上下方向）に一列に配されて設けられている。これら投光素子３２は、各ユニット３０，３１が互いに接続されると、一直線上に並んだ状態に位置決めされる。

受光器２０は、投光器１０と同様、長尺体にてなる断面略Ｕ字状の本体ケース２０ａを有し、該本体ケース２０ａの内部に、基本ユニット４０と所望数（本例では３つ）の増設ユニット４１とからなる複数のユニットが着脱可能に収容されてなる。基本ユニット４０及び増設ユニット４１はそれぞれ角柱状をなし、基本ユニット４０の上端面に増設ユニット４１が接続され、さらに、その増設ユニット４１の上端面に別の増設ユニット４１が接続されるといった態様にて、各ユニット４０，４１が直列に接続されるようになっている。本体ケース１０ａの両端にはエンドキャップ２０ｂ、２０ｃが設けられ、本体ケース２０ａ内部に各ユニット４０，４１を収容した状態でエンドキャップ２０ｂ、２０ｃを両端に嵌めることで、本体ケース２０ａ内における各ユニット４０，４１の位置が保持されるようになっている。なお、本実施の形態においては、基本ユニット４０及び増設ユニット４１がそれぞれ「受光ユニット」に相当する。又、本体ケース２０ａとエンドキャップ２０ｂ，２０ｃとにより「第２ケース」が構成されている。

基本ユニット４０及び増設ユニット４１には、フォトダイオード（ＰＤ）よりなる受光素子４２が例えばそれぞれ４つずつ長手方向（図中、上下方向）に一列に配されて設けられている。これら受光素子４２は、各ユニット４０，４１が互いに接続されると、一直線上に並んだ状態に位置決めされて保持される。なお、上下に接続された増設ユニット４１同士を区別する場合には、上端側の増設ユニット４１から順に、符号の末尾に「ａ」，「ｂ」，「ｃ」を付すこととする。

投光器１０に配される各投光素子３２と、受光器２０に配される各受光素子４２とは、上下方向でそれぞれ同じ順位に配された素子同士が互いに正規の相手方となり、それぞれ対をなす素子同士で光軸Ｌを形成するようになっている。

例えば、本実施の形態においては、１２個の投光素子３２と１２個の受光素子４２とにより、１２本の光軸Ｌが所定タイミングで順次時分割に形成され、これらの光軸Ｌにより投光器１０と受光器２０との間に所定範囲の検出エリアが設定される。この検出エリアに被検出物体が存在すると、投光器１０及び受光器２０間を通過する光が遮断されることになり、その際、前述した１２光軸のうち１光軸でも光が遮断されれば検出エリアに被検出物体が存在するとしてその旨の検出信号を外部装置（図示略）に出力するようになっている。

上記受光器２０の基本ユニット４０には、受光素子４２を配した側面に報知手段及び表示手段としての表示灯４３が設けられている。この表示灯４３は、図２に示すように、複数（例えば４つ）の表示部４３ａ〜４３ｄから構成されている。各表示部４３ａ〜４３ｄは、それぞれ、例えば、赤色及び緑色に発光する２色発光ダイオード（ＬＥＤ）よりなり、各ユニット４０，４１の動作状態を表示する。例えば、各ユニット４０，４１が正常に動作している場合、各ユニット４０，４１に対応する表示部４３ａ〜４３ｄを緑色に発光させる。一方、干渉光を検出した場合に、その干渉光を検出したユニットに対応する表示部４３ａ〜４３ｄを赤色に点滅させる。

図２は、多光軸光電センサの電気的構成を示すブロック図である。
投光器１０の基本ユニット３０及び増設ユニット３１には上記各４つの投光素子３２に連なる投光回路３３がそれぞれ１つずつ設けられており、各投光回路３３は、それぞれ各ユニット３０，３１の接続部分に備えられたコネクタ（図示略）を介して電気的に接続される。各投光回路３３は、基本ユニット３０に備えられたＣＰＵ等よりなる投光制御手段としての投光制御回路３４からのタイミング信号に基づいて作動し、例えば投光器１０の上端側の投光素子３２から下端側の投光素子３２へと順次に駆動信号を与えるといった動作を高周期で繰り返す。これにより、投光器１０の上端側の投光素子３２から順次に光信号が時分割で出射される。

一方、受光器２０の基本ユニット４０及び増設ユニット４１には上記各４つの受光素子４２に連なる受光回路４４がそれぞれ１つずつ設けられており、各受光回路４４は、それぞれ各ユニット４０，４１の接続部分に備えられたコネクタ（図示略）を介して電気的に接続される。

ここで、図示は割愛しているが、各受光回路４４には、各４つの受光素子４２に連なる４つのスイッチ素子とそれらスイッチ素子に連なる１つのシフトレジスタとが備えられており、基本ユニット４０に備えられたＣＰＵ等よりなる遮光検出手段、出力手段、及び干渉光検出手段としての受光制御回路４５からの駆動信号が、各受光回路４４のシフトレジスタを介して各スイッチ素子に順次に与えられるようになっている。その際、各スイッチ素子は、常にはオフ状態となっており、受光制御回路４５から与えられる駆動信号によりオンしたスイッチ素子に連なる受光素子４２の受光信号が受光制御回路４５に順次取り込まれるようになっている。

詳述すると、受光制御回路４５は、投光器１０の基本ユニット３０と受光器２０の基本ユニット４０とを繋ぐライン５０を介して、投光制御回路３４から前述のタイミング信号を取り込んでおり、このタイミング信号に応じて、所定のスイッチ素子をオンさせる。投光制御回路３４は、投光タイミング信号Ｓｔと周期及び位相が一致した遮光検出タイミング信号Ｓｒと、この遮光検出タイミング信号Ｓｒよりも位相が僅かに進んだ干渉光検出タイミング信号Ｓｉと、当該信号Ｓｒよりも位相が僅かに遅れた干渉光検出タイミング信号Ｓｊとを受光制御回路４５に送信している。

遮光検出タイミング信号Ｓｒ及び干渉光検出タイミング信号Ｓｉ，Ｓｊを受けた受光制御回路４５は、所定位置の投光素子３２が光信号を投光するタイミングに対応して、その投光素子３２と対向する受光素子４２に連なるスイッチ素子をオンさせる。オンしたスイッチ素子を介して受光素子４２から出力された受光信号が受光回路４４を介して受光制御回路４５に取り込まれる。

すると、受光制御回路４５は、遮光検出タイミング信号Ｓｒを受信したときには、各投光素子３２が点灯状態にあるから、受光素子４２からの受光信号の有無によって遮光検出（被検出物体の検出・非検出）を行う。詳しくは、受光制御回路４５は、受光判定閾値と、取り込んだ受光信号との大小関係を順次にチェックする。そして、受光制御回路４５は、増設ユニット４１ａ内の全ての受光素子４２の受光信号が受光判定閾値を上回った場合に、投光器１０と受光器２０との間に被検出物体が存在しない（非検出）と判断し、いずれか１つの受光信号でも基準電圧を下回った場合には、投光器１０と受光器２０との間に被検出物体が存在する（検出）と判断する。受光制御回路４５は、このようにして上記検出エリアに入る被検出物体を検出し、当該被検出物体を検出したか否かに応じたレベルの検出信号を外部（外部装置）に出力する。例えば、受光制御回路４５は、被検出物体の検出時にはＨレベル、非検出時にはＬレベルの検出信号を出力する。

また、受光制御回路４５は、干渉光検出タイミング信号Ｓｉ，Ｓｊを受信したときには、投光素子３２が非点灯状態であるから、受光素子４２からの受光信号の有無によって干渉光の検出を行う。詳しくは、受光制御回路４５は、干渉光判定閾値と、取り込んだ受光信号との大小関係を順次にチェックする。そして、受光制御回路４５は、受光素子４２の受光信号が干渉光判定閾値を上回った場合に、その受光素子４２に対して干渉光が入射されている（検出）と判断し、受光信号が干渉光判定閾値を下回った場合には、その受光素子４２に対して干渉光が入射されていない（非検出）と判断する。受光制御回路４５は、このようにして各受光素子４２に対する干渉光の有無を検出し、当該干渉光を検出した受光素子４２に対応する表示部４３ａ〜４３ｄを点滅させる。尚、干渉光の検出／非検出に応じた信号を外部（外部装置）に出力するようにしてもよい。つまり、干渉光の検出／非検出に応じた信号を出力する回路を報知手段として備えるようにしてもよい。

受光制御回路４５には、外部機器（外部コントローラ）７０が接続される。外部機器７０は、受光制御回路４５の動作モードを、通常動作モードとテストモードとの間で切り換えるために接続される。通常動作モードにおいて、受光制御回路４５は、上記干渉光判定閾値を含む干渉光判定基準を通常基準に設定し、遮光検出及び干渉光検出を行う。一方、テストモードにおいて、受光制御回路４５は、上記の干渉光判定基準を、通常基準よりも低い低基準に設定し、遮光検出及び干渉光検出を行う。本実施形態において、干渉光判定基準は、干渉光を取り込む干渉光判定期間Ｓ１，Ｓ２、干渉光判定閾値Ｊ１，Ｊ２、回数判定値Ｋである。基準が低いとは、干渉光を検出し易くすることである。低基準は、上記の干渉光判定期間Ｓ１，Ｓ２と干渉光判定閾値Ｊ１，Ｊ２と回数判定値Ｋのうちの少なくとも１つを、通常基準よりも干渉光が検出し易い値に設定した基準である。例えば、干渉光判定期間Ｓ１，Ｓ２を長くすると、受光素子４２における受光レベルが上昇し易くなり、干渉光判定閾値Ｊ１，Ｊ２よりも大きくなりやすくなる。干渉光判定閾値Ｊ１，Ｊ２を小さな値に設定すると、わずかな光量の入射でも干渉光として検出する。受光制御回路４５は、受光信号が干渉光判定閾値Ｊ１，Ｊ２より大きいと判定した回数をカウントし、その回数が回数判定値Ｋ以上になると、干渉光を検出したとして異常出力を行う。従って、回数判定値Ｋを小さな値に設定すると、干渉光を検出したと判断するまでの期間が短くなる。低基準にて干渉光検出を行うことで、干渉光を検出し易くなる、つまり、干渉光に対する対策の結果を短時間で確認することができるようになる。

次に、上記の遮光検出及び干渉光検出を行う受光処理を、図３及び図４に従って説明する。
受光制御回路４５は、ステップ８１において、動作モードがテストモードか否かを判断し、通常動作モードのときにはステップ８２に移行し、テストモードの時にはステップ８３に移行する。

ステップ８２において、受光制御回路４５は、干渉光判定基準を通常基準に設定する。一方、ステップ８３において、受光制御回路４５は、干渉光判定基準を低基準に設定する。

次に、ステップ８４において、受光制御回路４５は、干渉光検出タイミング信号Ｓｉに基づいて、干渉光検出タイミング１か否かを判断する。即ち、受光制御回路４５は、所定レベルの干渉光検出タイミング信号Ｓｉが入力されるまで待機し、干渉光検出タイミング信号Ｓｉが入力されるとステップ８５に移行する。

ステップ８５において、受光制御回路４５は、干渉光判定期間Ｓ１の受光信号を取り込む。次いで、ステップ８６において、受光制御回路４５は、受光信号を干渉光判定閾値Ｊ１と比較し、その比較結果に基づいて干渉光を受光しているか否かを判断する。そして、受光制御回路４５は、その判断結果を図示しない記憶手段に記憶する。

ステップ８７において、受光制御回路４５は、遮光検出タイミング信号Ｓｒに基づいて、受光検出タイミングか否かを判断する。即ち、受光制御回路４５は、所定レベルの遮光検出タイミング信号Ｓｒが入力されるまで待機し、遮光検出タイミング信号Ｓｒが入力されるとステップ８８に移行する。

ステップ８８において、受光制御回路４５は、受光期間Ｔの受光信号を取り込む。次いで、ステップ８９において、受光制御回路４５は、受光信号を受光（遮光）判定閾値Ｈと比較し、その比較結果を図示しない記憶手段に記憶する。

ステップ９０において、受光制御回路４５は、干渉光検出タイミング信号Ｓｊに基づいて、干渉光検出タイミング２か否かを判断する。即ち、受光制御回路４５は、所定レベルの干渉光検出タイミング信号Ｓｊが入力されるまで待機し、干渉光検出タイミング信号Ｓｊが入力されるとステップ９１に移行する。

ステップ９１において、受光制御回路４５は、干渉光判定期間Ｓ２の受光信号を取り込む。次いで、ステップ９２において、受光制御回路４５は、受光信号を干渉光判定閾値Ｊ２と比較し、その比較結果に基づいて干渉光を受光しているか否かを判断する。そして、受光制御回路４５は、その判断結果を図示しない記憶手段に記憶する。

ステップ９３において、受光制御回路４５は、光軸数Ｎに対する判断を終了したか否かを判断する。この時のＮは投光器１０と受光器２０の間に形成される光軸Ｌの数、即ち投光素子３２及び受光素子４２の対の数である。つまり、受光制御回路４５は、多光軸光電センサの全ての光軸Ｌそれぞれに対して上記ステップ８４〜９２の処理を繰り返し実行する。全ての光軸Ｌについて判断を終了すると、受光制御回路４５は、ステップ９４に移行する。

ステップ９４において、受光制御回路４５は、記憶手段からステップ８６，９２における判断結果を読み出し、ステップ８６，９２において干渉光を検出した場合にはステップ９５に移行し、干渉光を検出してない場合にはステップ９６に移行する。

ステップ９５において、受光制御回路４５は、同一光軸で回数判定値Ｋ以上の干渉光検出があったか否かを判断する。つまり、受光制御回路４５は、各光軸において干渉光を検出した回数をそれぞれカウントし、そのカウント値を図示しない記憶手段（メモリ）に記憶している。そして、受光制御回路４５は、各光軸に対するカウント値が回数判定値Ｋより小さい場合にはステップ９６に移行し、カウント値が回数判定値Ｋ以上の場合にはステップ９７に移行する。

ステップ９６において、受光制御回路４５は、記憶手段からステップ８９の比較結果を読み出し、その比較結果に基づいて物体検出判定を行う。そして、受光制御回路４５は、判定結果に基づいて、被検出物体の検出の有無（被検出物体による遮光の有無）に応じた信号を出力する。

ステップ９７において、受光制御回路４５は、異常出力を行う、つまり、干渉光を検出した受光素子４２の位置に対応する発光部４３ａ〜４３ｄ（図２参照）を点滅させる。図１及び図２において、受光器２０は４つのユニット４０，４１ａ〜４１ｃから構成されており、各ユニット４０，４１ａ〜４１ｃにはそれぞれ４つの受光素子４２が設けられている。従って、ユニット４０の各受光素子４２と表示部４３ａとが対応し、ユニット４１ｃの各受光素子４２と表示部４３ｂとが対応し、ユニット４１ｂの各受光素子４２と表示部４３ｃとが対応し、ユニット４１ｃの各受光素子４２と表示部４３ｄとが対応する。例えば、受光制御回路４５は、ユニット４１ｃの受光素子４２において干渉光の入射を検出した場合、表示部４３ｄを赤色にて点滅させる。

多光軸光電センサの干渉光に対応する処理を実行する作業者は、図２に示す外部機器７０により、受光器２０（受光制御回路４５）をテストモードにて実行させる。そして、表示部４３ａ〜４３ｄを視認し、その表示部４３ａ〜４３ｄに対応する位置の受光素子４２に対して、例えばスリットを形成した板を投光器１０及び受光器２０の少なくとも一方に取着する干渉光対策を実施する。

上記したように、テストモードにおいて干渉光判定基準は、低基準に設定されている。従って、干渉光が検出しやすくなっている、つまり上記対策に対する結果を短時間で確認することができる。

以上記述したように、本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
（１）本実施形態の多光軸光電センサは、通常動作モードとテストモードとを備え、通常動作モードでは、受光制御回路４５は、通常基準に設定された干渉光判定基準に基づいて干渉光検出動作を行い、テストモードでは、受光制御回路４５は、通常基準よりも低い低基準に設定された干渉光判定基準に基づいて干渉光検出動作を行うようにした。

この結果、作業者がテストモードで多光軸光電センサを動作させてみて、通常動作よりも低い干渉光判定基準にて、通常動作時よりも誤動作し易い環境下とすることで、通常動作時よりも短い時間で設定状態での外乱光入射状態の確認や外乱光対策の良否確認が作業者にて簡易的に的確に行える。

（２）干渉光判定基準は、干渉光を取り込む判定期間、干渉光と比較する判定閾値、干渉光を判断した回数を異常と判定する回数判定値を含み、低基準は、判定期間と判定閾値と回数判定値のうちの少なくとも１つが変更されてなるものである。このため、通常基準よりも低い低基準を容易に設定することができ、干渉光を検出し易くすることができる。

（３）通常動作モードとテストモードは、外部接続される外部機器７０により切り換えるようにした。このため、不用意にテストモードに切り替わるのを防ぐことができる。
（４）干渉光を検出した受光素子の位置を示す表示灯４３を備えた。このため、干渉光が入射される受光素子を容易に確認することができ、対策を実施することができる。

尚、上記実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
・上記実施の形態では、基本ユニット４０に設けた表示灯４３により、該基本ユニット４０及び増設ユニット４１（４１ａ〜４１ｃ）に対する干渉光の有無を表示するようにしたが、図５に示すように、各ユニット１０１ａ〜１０１ｃのそれぞれに表示灯１０２を設けて各ユニット４１ａ〜４１ｃにおける干渉光の有無を出力するようにしてもよい。更に、表示灯を受光素子４２毎に設けるようにしてもよく、干渉光が入射する受光素子４２をより容易に特定することができるようになる。

・上記実施の形態において、増設ユニット３１，４１の数、各ユニット３０，３１の投光素子３２の数、各ユニット４０，４１の受光素子４２の数、基本ユニット４０に設けた表示灯４３を構成する表示部の数、表示灯４３を構成する表示部４３ａ〜４３ｄの数、等を適宜変更して実施してもよい。

・上記実施の形態では、外部機器７０を受光器２０に接続し、該外部機器７０により受光器２０の動作モードを通常動作モードとテストモードの何れかに切り換えるようにしたが、受光器２０が出力する検出信号を受ける外部装置から、受光器２０の動作モードを設定するようにしてもよい。

・上記実施の形態では、表示灯４３を基本ユニット４０に設けたが、外部機器７０に備えるようにしてもよい。干渉光を検出した受光素子の位置は、テストモードのときにのみ確認できればよいため、基本ユニット４０に表示灯４３を設ける必要がなくなり、基本ユニット４０の構成を簡略化することができる。

・上記実施の形態では、基本ユニット３０と増設ユニット３１とを連結して投光器１０を構成し、基本ユニット４０と増設ユニット４１とを連結して受光器２０を構成したが、それぞれを１つのユニットにより構成してもよい。

・上記実施の形態において、干渉光判定期間における受光信号のレベル、即ち干渉光の入射光量に応じて表示灯４３における表示態様を変更するようにしてもよい。表示対応の変更は、点滅の期間を変更する、一定時間における点滅回数を変更する、点灯強度を変更する、受光信号のレベルに応じて点滅させる表示素子（ＬＥＤ等）の数を変更する、受光信号のレベルを数字にて表示する、等を含む。このようにすることで、作業者が干渉光の入射光量を容易に確認することができ、その入射光量に応じた対策を実施することができるようになる。

・上記実施の形態において、報知手段として干渉光の検出／非検出に応じた信号を出力する回路を備える、表示灯４３を備えることとしたが、その他の手段（例えば音）を備えるようにしてもよい。

・上記実施の形態では、遮光検出（ステップ８７〜８９）を行う前後の期間（ステップ８４〜８６，９０〜９２）において干渉光検出動作を行うようにしたが、前後の期間の何れか一方において干渉光検出動作を行うようにしてもよい。また、予め設定した受光素子において干渉光検出動作を行うようにしてもよい。

・上記実施の形態では、１回の投光スキャン動作の間に干渉光検出動作を行うようにしたが、投光スキャン動作と次の投光スキャン動作との間に干渉光検出動作を行うようにしてもよい。また、複数の投光スキャン動作毎に干渉光検出動作を行うようにしてもよい。

・上記実施の形態では、干渉光判定期間Ｓ１，Ｓ２を長くすることにより干渉光の検出を容易にしたが、干渉光判定期間を一定とし、その干渉光判定期間の数を変更することにより、実質的に投光素子が点灯していない期間に受光素子からの受光信号を取り込む期間を長くするようにしてもよい。

・上記実施の形態において、点灯した投光素子の影響を受けない受光素子において干渉光判定動作を行うようにすればよい。つまり、１つの多光軸光電センサ内において、点灯した投光素子の影響を受ける範囲は予め判っている。このため、影響をうけない範囲（所定範囲）内の投光素子が点灯されていない期間において干渉光検出動作を行うようにしてもよい。

一実施形態の多光軸光電センサを示す斜視図。 多光軸光電センサの電気的構成を示すブロック図。 受光処理のフローチャート。 受光処理のフローチャート。 別の多光軸光電センサを示す斜視図。

符号の説明

３２…投光素子、３４…投光制御回路、４２…受光素子、４３…表示灯、４５…受光制御回路、７０…外部機器、Ｓ１，Ｓ２…干渉光判定期間、Ｊ１，Ｊ２…干渉光判定閾値、Ｋ…回数判定値、Ｌ…光軸。

Claims (7)

1. 複数の投光素子と、
   各投光素子に対向して複数の光軸を構成するように設けられた複数の受光素子と、
   前記複数の投光素子を所定のタイミングで点灯させる投光スキャン動作を行う投光制御手段と、
   前記各受光素子からの受光信号を、それと対向して前記光軸を形成する投光素子の点灯タイミングに一致させて検出することにより前記光軸における遮光状態を検出する遮光検出手段と、
   前記遮光検出手段からの遮光状態に基づく出力信号を出力する出力手段と、
   所定範囲の前記投光素子が点灯されていない期間において前記所定範囲のうちの予め設定される前記投光素子に対向する前記受光素子からの受光信号に基づいて干渉光の存在を検出する干渉光検出動作を行う干渉光検出手段と、
   を備えた多光軸光電センサであって、
   通常動作モードとテストモードとを備え、
   前記通常動作モードでは、前記干渉光検出手段は、干渉光判定期間、干渉光判定閾値、前記干渉光を判断した回数を異常と判定する回数判定値を含み通常基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行い、
   前記テストモードでは、前記干渉光検出手段は、前記干渉光判定期間と前記干渉光判定閾値と前記回数判定値のうちの少なくとも１つが前記通常基準よりも低い低基準に設定された干渉光判定基準に基づいて前記干渉光検出動作を行う、
   ことを特徴とする多光軸光電センサ。
2. 前記通常動作モードと前記テストモードは、外部接続される外部機器により切り換えられる、ことを特徴とする請求項１記載の多光軸光電センサ。
3. 前記干渉光を検出した場合にその旨を報知する報知手段を備えた、ことを特徴とする請求項１又は２記載の多光軸光電センサ。
4. 前記報知手段は、前記干渉光を検出した受光素子の位置を示す表示手段である、ことを特徴とする請求項３記載の多光軸光電センサ。
5. 前記表示手段は、前記受光素子毎に設けられた、ことを特徴とする請求項４記載の多光軸光電センサ。
6. 前記干渉光の光量に応じて前記表示手段の表示態様を変更するようにした、ことを特徴とする請求項４又は５記載の多光軸光電センサ。
7. 前記干渉光検出手段は、前記遮光検出手段による各光軸における遮光状態の検出の前後の少なくとも一方の期間において干渉光検出動作を行う、ことを特徴とする請求項１〜６のうちの何れか一項に記載の多光軸光電センサ。

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