JP4801180B2 - 多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置及び故障診断方法 - Google Patents
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Description
例えば、特許文献2に記載の技術では、マルチプレクサの各チャンネル間に同じ電圧値が入力された場合、特に入力選択信号自体に故障が生じた場合などには、故障していることすら検出できない場合が発生するという問題があった。すなわち、特許文献1〜4に示されるような故障診断方法は、高い故障診断検出率を要求されるシステムには、十分な機能安全が確保できないものであった。
図1は、本発明の実施形態例のアナログ入出力回路の故障診断装置のブロック回路図である。本例では、便宜上、信号源の数とチャンネルの数を16個として説明している。つまり、信号源105は、16種類の電圧を発生するようになっている。この信号源電圧の幅は1V〜5Vとされる。また、テスト電圧アナログ入力値は、0.5V〜8Vとし、テスト電圧のデジタル値の下限と上限をそれぞれ4000、16000として説明する。ただし、これらの数値はあくまでも一例を示すものであって、実際の実施形態例においては、これらの数値に限定されるものではない。したがって、本発明がこれらの数値の制約を受けることはない。
まず、アナログ入力診断部102の故障検出に当たり、第1の切換回路101の健全性を調べておく必要がある。つまり、第1の切換回路102のON固着またはOFF固着を診断しておく必要があり、図2のフローチャートはその為の手順を示したものである。
最初に、スイッチ101のON固着及びOFF固着について調べるための流れを説明する。まずスイッチ101をOFF状態にし、スイッチ112をON状態に設定する。そしてテスト電圧入力回路109から0Vを入力する(ステップS201)。
しかし、単一チャンネルのみの診断だけでは、マルチプレクサ105の故障なのか、あるいはA/D変換器106の故障なのかを判断することはできないので、テスト電圧Vtestを16個のチャンネルを介して供給し、16チャンネルの全ての出力を診断して故障部位の特定を行うようにしている。
図3は、本例を構成する全ての回路が正常に動作している場合の例を示している。図3の横軸は、テスト電圧が供給される各チャンネルの番号を示している。それぞれのチャンネルには、0.5V〜8Vのテスト電圧が供給されるようになっている。一方、図3の縦軸の左側には、A/D変換器106でデジタル変換され、出力処理回路107から出力されるデジタル値が示され、右側には、A/D変換器106で変換される前のアナログ値が示されている。
点p300〜p315は、各チャンネル0〜15からマルチプレクサ105とA/D変換器106を介して出力処理回路107へ入力した値を表している。
図4においても、点p400〜p415は、各チャンネルからマルチプレクサ105とA/D変換器106を介して出力処理回路107へ入力した値を表している。
Claims (4)
- 複数種類の信号を発する信号源と、前記信号源からの信号が供給される少なくとも2つ以上のスイッチを有する第1の切換回路と、前記第1の切換回路を介して前記信号源からの出力が供給されるアナログ信号変換部と、複数のテスト電圧が入力される診断電圧入力部とを、備えるアナログ入出力回路の故障診断装置であって、
前記アナログ信号変換部は、
前記信号源からの信号が前記第1の切換回路を介して供給され、前記第1の切換回路が有する複数のスイッチと同数のチャンネルを有するマルチプレクサと、
前記マルチプレクサからの信号が供給されるアナログ/デジタル変換器と、
前記アナログ/デジタル変換器からの出力が供給され出力処理回路と、を備え、
前記診断電圧入力部は、
複数のデジタルテスト電圧値を発生するテスト電圧入力回路と、
該テスト電圧入力回路からの前記複数のデジタルテスト電圧が供給されるデジタル/アナログ変換器と、
前記デジタル/アナログ変換器からのアナログ信号が供給され、複数の出力チャンネルを有するデマルチプレクサと、
前記デマルチプレクサに接続された少なくとも前記デマルチプレクサの出力チャンネルと同数のスイッチを有する第2の切換回路と、を備え、
故障診断時に、前記デマルチプレクサからのアナログのテスト電圧は、各入力チャンネル毎に異なったテスト電圧値とされて、前記第2の切換回路の各スイッチを介して、前記アナログ信号変換部の前記マルチプレクサの前記各チャンネルの入力として供給され、その挙動パターンを観察することにより、マルチプレクサの故障か、A/D変換器の故障かを特定する、
ことを特徴とする多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置。 - 前記マルチプレクサには、該マルチプレクサの入力を選択ための入力選択信号が供給され、前記デマルチプレクサには、該デマルチプレクサの出力を選択するために、前記入力選択信号と同期した出力選択信号が供給される、
ことを特徴とする請求項1に記載の多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断装置。 - 複数種類の信号を発する信号源と、前記信号源からの信号が供給される少なくとも2つ以上のスイッチを有する第1の切換回路と、前記第1の切換回路の出力が供給されるマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力が供給されるアナログ/デジタル変換器を有するアナログ信号変換部と、複数のデジタルテスト電圧がデジタル/アナログ変換されて供給されるデマルチプレクサと、該デマルチプレクサの出力が供給される第2の切換回路とを有する診断電圧入力部とを備える多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法であって、
前記アナログ信号変換部のマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力をデジタル信号に変換するアナログ/デジタル変換器に対して、前記マルチプレクサの各チャンネル毎に異なったテスト電圧値を、前記診断電圧入力部から入力し、
故障診断時に、前記デマルチプレクサからのアナログのテスト電圧は、各入力チャンネル毎に異なったテスト電圧値とされて、前記第2の切換回路の各スイッチを介して、前記アナログ信号変換部の前記マルチプレクサの前記各チャンネルの入力として供給され、その挙動パターンを観察することにより、マルチプレクサの故障か、A/D変換器の故障かを判別することを特徴とする、多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法。 - 前記第1の切換回路の各スイッチをオフに設定した状態で、前記第2の切換回路をオンに設定し、前記テスト電圧を0Vに固定した状態で、前記信号源から複数の電圧を発生させるように設定する第1のステップと、
前記第1のステップの設定状態で、出力処理回路の出力電圧が0Vになっているか否かを判断する第2のステップと、
前記第2のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vでないときに、前記第1の切換回路を構成するスイッチがオン固着していると判定する第3のステップと、
前記第2のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vと判定されたときに、前記第1の切換回路の各スイッチをオンに設定した状態で、前記第2の切換回路のスイッチをオフに設定し、前記テスト電圧を0Vに固定した状態で、前記信号源から複数の電圧を発生させるように設定する第4のステップと、
前記第4のステップの設定状態で、前記出力処理回路の出力電圧が0Vになっているか否かを判断する第5のステップと、
前記第5のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vであるとき、前記第1の切換回路を構成するスイッチがオフ固着していると判定する第6のステップと、
前記第5のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が0Vではないと判定されたときに、前記第1の切換回路の各スイッチをオフに設定した状態で、前記第2の切換回路のスイッチをオンに設定し、前記テスト電圧を複数段階に切り替えて、前記信号源から複数の電圧を発生させるように設定する第7のステップと、
前記第7のステップの設定状態で、前記出力処理回路の出力電圧が、前記複数段階に切り換えられて入力されるテスト電圧に等しくなっているかどうかを判断する第8のステップと、
前記第8のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が前記入力されたテスト電圧と一致しない場合に、前記アナログ入出力回路は、前記マルチプレクサまたはアナログデジタル変換器が正常に動作していないと判定する第9のステップと、
前記第8のステップで、前記出力処理回路の出力電圧が前記入力されたテスト電圧と等しいと判断された場合に、前記アナログ入出力回路は正常に動作していると判定する第10のステップと、を含む、
請求項3に記載の多チャンネルアナログ入出力回路の故障診断方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9215046B2 (en) | 2012-07-17 | 2015-12-15 | Denso Corporation | Fault diagnosis device for multiplexer |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2447728B1 (en) * | 2010-10-28 | 2013-06-19 | Nxp B.V. | Spectroscopic battery-cell-impedance measurement arrangement |
CN102478853B (zh) * | 2010-11-30 | 2014-09-10 | 英业达股份有限公司 | 矩阵式通用输入输出引脚的测试装置 |
CN103063937A (zh) * | 2011-10-19 | 2013-04-24 | 北京强度环境研究所 | 模拟量变换器测试台 |
JP2013183266A (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-12 | Denso Corp | A/d変換器の故障診断方法及びa/d変換器を備えたマイコン |
DE102012203670A1 (de) * | 2012-03-08 | 2013-09-12 | Robert Bosch Gmbh | Analog-Digital-Wandleranordnung und zugehöriges Verfahren zur Überprüfung eines Multiplexers für einen Analog-Digital-Wandler |
TWI463153B (zh) * | 2012-03-30 | 2014-12-01 | Atomic Energy Council | 三重容錯類比輸入模組自動偵查故障裝置 |
DE102012010143B3 (de) * | 2012-05-24 | 2013-11-14 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Analogsignal-Eingangsschaltung mit einer Anzahl von Analogsignal-Erfassungskanälen |
CN203881868U (zh) * | 2014-05-09 | 2014-10-15 | 王允 | 一种线性光耦线性度自动测试装置 |
US9509325B1 (en) * | 2015-05-07 | 2016-11-29 | Texas Instruments Incorporated | Diagnostic monitoring for analog-to-digital converters |
JP6436105B2 (ja) * | 2016-01-12 | 2018-12-12 | トヨタ自動車株式会社 | A/d変換器の異常診断装置 |
CN106020074A (zh) * | 2016-08-04 | 2016-10-12 | 北京安控科技股份有限公司 | 一种一取一加诊断的功能安全模拟量输入电路 |
TWI629631B (zh) * | 2016-12-30 | 2018-07-11 | 禾瑞亞科技股份有限公司 | Multi-channel touch controller with channel switching circuit |
JP6509461B2 (ja) * | 2017-01-10 | 2019-05-08 | 三菱電機株式会社 | 代替装置、情報処理システム及び代替方法 |
JP6681354B2 (ja) * | 2017-02-13 | 2020-04-15 | 矢崎総業株式会社 | 電力供給装置およびa/d変換部の異常判定方法 |
CN106802363A (zh) * | 2017-03-09 | 2017-06-06 | 中国电子信息产业集团有限公司第六研究所 | 一种高精度plc模拟量输入模块工装测试方法及系统 |
JP2018165641A (ja) * | 2017-03-28 | 2018-10-25 | セイコーエプソン株式会社 | 故障判定回路、物理量検出装置、電子機器及び移動体 |
CN107315152A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-11-03 | 中国人民解放军91550部队 | 一种多测量通道机内自检电路设计 |
CN108226762B (zh) * | 2018-01-15 | 2021-02-02 | 浙江中控技术股份有限公司 | 一种用于多路信号采集电路的诊断电路 |
EP3514964B1 (en) * | 2018-01-19 | 2025-07-16 | Socionext Inc. | Semiconductor integrated circuitry |
KR101918253B1 (ko) * | 2018-01-26 | 2018-11-13 | 최운선 | 플라즈마 전원장치의 자가진단모듈 및 자가진단방법 |
FR3085759A1 (fr) * | 2018-09-12 | 2020-03-13 | Stmicroelectronics (Grenoble 2) Sas | Puce electronique a entrees/sorties analogiques comprenant des moyens d'auto-diagnostic |
JP7179165B2 (ja) * | 2019-04-23 | 2022-11-28 | 日立Astemo株式会社 | 半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査方法 |
CN110212919A (zh) * | 2019-05-27 | 2019-09-06 | 长沙韶光半导体有限公司 | 用于16通道模拟多路复用器的esd保护装置及多路复用装置 |
CN110440833B (zh) * | 2019-09-03 | 2024-08-09 | 中核核电运行管理有限公司 | 信号转换装置及信号转换板卡 |
CN111190047B (zh) * | 2019-10-11 | 2022-03-25 | 浙江中控技术股份有限公司 | 一种电流采集诊断电路及其失效诊断方法 |
JP2021167739A (ja) * | 2020-04-09 | 2021-10-21 | ミネベアミツミ株式会社 | 集積回路 |
CN111619539B (zh) * | 2020-05-28 | 2021-10-15 | 神龙汽车有限公司 | 汽车制动开关功能检测系统的检测方法 |
US11409691B2 (en) * | 2020-12-19 | 2022-08-09 | Macom Technology Solutions Holdings, Inc. | High speed on die shared bus for multi-channel communication |
CN112615623B (zh) * | 2020-12-23 | 2022-03-25 | 电子科技大学 | 倒t型dac转换电路的单故障诊断方法 |
CN113518300B (zh) * | 2021-06-15 | 2023-12-22 | 翱捷科技(深圳)有限公司 | 一种基于i2s的音频采集芯片参数自动配置方法及系统 |
CN114236344B (zh) * | 2021-11-09 | 2023-04-18 | 广州质谱技术有限公司 | 三重四极杆质谱的通道电压故障检测方法 |
CN114200288B (zh) * | 2021-12-20 | 2024-03-19 | 上海辰竹仪表有限公司 | 安全输入电路、电路故障检测系统以及电路故障检测方法 |
US12135351B2 (en) | 2022-02-03 | 2024-11-05 | Stmicroelectronics S.R.L. | DFT architecture for analog circuits |
CN114885040A (zh) * | 2022-07-05 | 2022-08-09 | 武汉森铂瑞科技有限公司 | 一种多路复用通信的智能输配电设备通信控制系统及方法 |
CN115598445B (zh) * | 2022-10-25 | 2023-12-01 | 浙江御辰东智能科技有限公司 | 一种基于硬件在环的电气故障检测方法及装置 |
US12321550B2 (en) | 2023-10-02 | 2025-06-03 | Himax Technologies Limited | Signal processing method and related circuit having backup processing circuit |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01101020A (ja) | 1987-10-14 | 1989-04-19 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 電圧信号入力マルチプレクサ回路 |
JP2592656B2 (ja) * | 1988-06-20 | 1997-03-19 | 株式会社アドバンテスト | マルチプレクサ付ad変換器の試験法 |
JPH06224760A (ja) * | 1993-01-22 | 1994-08-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | マルチプレクサ内蔵a/d変換方式 |
JPH0739123U (ja) * | 1993-12-14 | 1995-07-14 | 日新電機株式会社 | Ad変換装置 |
JP3433274B2 (ja) * | 1994-12-08 | 2003-08-04 | 三菱電機株式会社 | マルチプレクサ |
JPH08330959A (ja) | 1995-05-31 | 1996-12-13 | Sumitomo Electric Ind Ltd | A−d入力回路の故障検出方法 |
JP2000278132A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-10-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 多信号のクランプ装置 |
JP2004228928A (ja) | 2003-01-23 | 2004-08-12 | Jeol Ltd | テスト機能付きパルスプロセッサ |
JP3861874B2 (ja) * | 2003-12-16 | 2006-12-27 | 株式会社デンソー | Ad変換器の故障検出装置 |
US7046180B2 (en) * | 2004-04-21 | 2006-05-16 | Rosemount Inc. | Analog-to-digital converter with range error detection |
JP2007285764A (ja) | 2006-04-13 | 2007-11-01 | Toshiba Lsi System Support Kk | 半導体装置及びその自己試験故障検出方法 |
JP2009017359A (ja) * | 2007-07-06 | 2009-01-22 | Denso Corp | 半導体集積回路 |
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2009
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9215046B2 (en) | 2012-07-17 | 2015-12-15 | Denso Corporation | Fault diagnosis device for multiplexer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101825900B (zh) | 2014-01-22 |
US8386862B2 (en) | 2013-02-26 |
CA2693033A1 (en) | 2010-09-06 |
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