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JP4676359B2 - Priming processing method and priming processing apparatus - Google Patents

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JP4676359B2 JP2006061157A JP2006061157A JP4676359B2 JP 4676359 B2 JP4676359 B2 JP 4676359B2 JP 2006061157 A JP2006061157 A JP 2006061157A JP 2006061157 A JP2006061157 A JP 2006061157A JP 4676359 B2 JP4676359 B2 JP 4676359B2
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Description

本発明は、スピンレス法の塗布処理に用いる長尺形ノズルの吐出口付近に塗布処理の下準備として処理液の液膜を形成するためのプライミング処理方法およびプライミング処理装置に関する。   The present invention relates to a priming processing method and a priming processing apparatus for forming a liquid film of a processing liquid as a preparation for coating processing in the vicinity of a discharge port of a long nozzle used for spinless coating processing.

LCD等のフラットパネルディスプレイ(FPD)の製造プロセスにおけるフォトリソグラフィー工程には、スリット状の吐出口を有する長尺形のレジストノズルを走査して被処理基板(ガラス基板等)上にレジスト液を塗布するスピンレス法が多用されている。   In a photolithography process in the manufacturing process of flat panel displays (FPD) such as LCD, a long resist nozzle having a slit-like discharge port is scanned to apply a resist solution onto a substrate to be processed (glass substrate or the like). The spinless method is often used.

スピンレス法は、たとえば特許文献1に開示されるように、吸着保持型の載置台またはステージ上に基板を水平に載置して、ステージ上の基板と長尺形レジストノズルの吐出口との間にたとえば数100μm程度の微小な塗布ギャップを設定し、基板上方でレジストノズルを走査方向(一般にノズル長手方向と直交する水平方向)に移動させながら基板上にレジスト液を帯状に吐出させて塗布する。長尺形レジストノズルを基板の一端から他端まで1回移動させるだけで、レジスト液を基板の外に落とさずに所望の膜厚でレジスト塗布膜を基板上に形成することができる。   In the spinless method, as disclosed in, for example, Patent Document 1, a substrate is horizontally placed on a suction-holding type placement table or stage, and the substrate on the stage and the discharge port of the long resist nozzle are placed between them. For example, a small coating gap of about several hundred μm is set, and the resist nozzle is moved in the scanning direction (generally in the horizontal direction perpendicular to the longitudinal direction of the nozzle) above the substrate, and the resist solution is discharged onto the substrate in a band shape for coating. . By simply moving the long resist nozzle once from one end to the other end of the substrate, the resist coating film can be formed on the substrate with a desired film thickness without dropping the resist solution outside the substrate.

このようなスピンレス法においては、レジスト塗布膜の膜厚の不均一性や塗布ムラを防止するうえで、塗布走査中に基板上に吐出されたレジスト液が走査方向においてレジストノズルの背面側に回って形成されるメニスカスがノズル長手方向で水平一直線に揃うのが望ましく、そのためには塗布走査の開始直前にレジストノズルの吐出口と基板との間の塗布ギャップが隙間なく適量のレジスト液で塞がることが必要条件となっている。この要件を満たすために、塗布走査の下準備としてレジストノズルの吐出口から背面下端部にかけてレジスト液の液膜を形成するプライミング処理が行われている。   In such a spinless method, in order to prevent unevenness of coating thickness of the resist coating film and coating unevenness, the resist solution discharged onto the substrate during coating scanning rotates to the back side of the resist nozzle in the scanning direction. It is desirable that the meniscus formed in this way be aligned horizontally in the longitudinal direction of the nozzle, and for this purpose, the coating gap between the discharge port of the resist nozzle and the substrate is closed with an appropriate amount of resist solution immediately before the start of coating scanning. Is a necessary condition. In order to satisfy this requirement, a priming process for forming a liquid film of a resist solution from the discharge port of the resist nozzle to the lower end of the back surface is performed as a preparation for coating scanning.

代表的なプライミング処理法は、レジストノズルと同等またはそれ以上の長さを有する円柱状のプライミングローラをステージの近くに水平に設置し、微小なギャップを介してプライミングローラの上端と対向する位置までレジストノズルを近づけてレジスト液を吐出させ、それと同時または直後にプライミングローラを所定方向に回転させる。そうすると、プライミングローラの頂部付近に吐出されたレジスト液がレジストノズルの背面下部に回り込むようにしてプライミングローラに巻き取られ、プライミングローラからレジストノズルを離した後もノズル下端部にレジスト液の液膜が残る。   A typical priming method is to install a cylindrical priming roller with a length equal to or longer than that of the resist nozzle horizontally near the stage, up to a position facing the top edge of the priming roller through a small gap. The resist nozzle is brought close to discharge the resist solution, and at the same time or immediately after that, the priming roller is rotated in a predetermined direction. Then, the resist solution discharged near the top of the priming roller is wound around the priming roller so as to wrap around the lower back of the resist nozzle, and after the resist nozzle is separated from the priming roller, the resist solution liquid film is formed at the lower end of the nozzle. Remains.

従来のプライミング処理装置は、プライミングローラを回転駆動する回転機構だけでなく、プライミングローラをクリーニングするためのスクレーパや洗浄ノズルおよび乾燥ノズル等を備えており、1回のプライミング処理が終了すると、その後処理として、回転機構によりプライミングローラを連続回転させ、スクレーパでプライミングローラの表面からレジスト液をこそげ落とし、洗浄ノズルおよび乾燥ノズルより洗浄液および乾燥ガスをそれぞれプライミングローラの表面に噴き付けるようにしている。
特開平10−156255
A conventional priming processing apparatus includes not only a rotating mechanism that rotates the priming roller but also a scraper, a cleaning nozzle, and a drying nozzle for cleaning the priming roller. After one priming process is completed, the subsequent processing is performed. As described above, the priming roller is continuously rotated by a rotating mechanism, the resist solution is scraped off from the surface of the priming roller by a scraper, and the cleaning liquid and the drying gas are sprayed from the cleaning nozzle and the drying nozzle respectively onto the surface of the priming roller.
JP-A-10-156255

1回のプライミング処理でレジストノズルより吐出されるレジスト液を受け取って巻き取るために使用されるプライミングローラの表面領域は、レジストノズルやプライミングローラのサイズによって異なるが、プライミングローラの全周(360°)を必要とするものではなく、通常は半周(180°)以下であり、1/4周(90°)以下で済ますことも可能である。しかるに、従来のプライミング処理装置は、プライミング処理を実行する度毎に後処理として上記のようにプライミングローラを連続回転させてプライミングローラの全表面(全周)に洗浄液を噴き付け、プライミングローラだけでなくスクレーパも併せて洗浄するため、洗浄液を多量に使用するという問題があった。さらに、プライミングローラとスクレーパとの擦り合いからパーティクルが発生する懸念もあった。   The surface area of the priming roller used for receiving and winding the resist solution discharged from the resist nozzle in one priming process varies depending on the size of the resist nozzle and the priming roller, but the entire circumference of the priming roller (360 °). ), And is usually half a circle (180 °) or less and can be a quarter circle (90 °) or less. However, each time the priming process is performed, the conventional priming processing apparatus continuously rotates the priming roller as described above to spray the cleaning liquid on the entire surface (all circumferences) of the priming roller as described above. In addition, since the scraper is also cleaned, there is a problem that a large amount of cleaning liquid is used. Further, there is a concern that particles are generated due to friction between the priming roller and the scraper.

本発明は、かかる従来技術の問題点に鑑みてなされたもので、洗浄液の使用量を大幅に低減し、しかもパーティクルを発生するおそれのないプライミング処理方法およびプライミング処理装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a priming processing method and a priming processing apparatus that can significantly reduce the amount of cleaning liquid used and that do not generate particles. To do.

上記の目的を達成するために、本発明のプライミング処理方法は、スピンレス法の塗布処理に用いる長尺形ノズルの吐出口付近に塗布処理の下準備として処理液の液膜を形成するためのプライミング処理方法であって、1回のプライミング処理のために、前記ノズルの吐出口とプライミングローラの上端とを所定のギャップを隔てて対向させ、前記ノズルより所定の処理液を吐出させるとともに前記プライミングローラを所定の回転角だけ回転させて、前記プライミングローラの半周以下の部分的表面領域を当該プライミング処理に使用する第1の工程と、連続した所定回数のプライミング処理が終了した後に前記プライミングローラの表面を全周に亘ってまとめて洗浄する第2の工程とを有する。   In order to achieve the above object, the priming processing method of the present invention is a priming for forming a liquid film of a processing solution as a preparation for coating processing in the vicinity of the discharge port of a long nozzle used for spinless coating processing. In the processing method, for a single priming process, the discharge port of the nozzle and the upper end of the priming roller are opposed to each other with a predetermined gap therebetween, and a predetermined processing liquid is discharged from the nozzle and the priming roller The surface of the priming roller after a predetermined number of continuous priming processes have been completed, and a first step of using a partial surface area equal to or less than a half circumference of the priming roller for the priming process. And a second step of collectively cleaning the entire circumference.

また、本発明のプライミング処理装置は、スピンレス法の塗布処理に用いる長尺形ノズルの吐出口付近に塗布処理の下準備として処理液の液膜を形成するためのプライミング処理装置であって、プライミング処理時に前記ノズルの吐出口と所定のギャップを隔ててローラ上端が水平に対向するように所定位置に配置されたプライミングローラと、前記プライミングローラをその中心軸の回りに回転させる回転機構と、前記プライミングローラの表面に洗浄液を噴き付けるための洗浄部と、前記プライミングローラの表面に液切り用のエア流を当てるための乾燥部とを有し、1回のプライミング処理のために、前記ノズルの吐出口とプライミングローラの上端とを所定のギャップを隔てて対向させ、前記ノズルより所定の処理液を吐出させるとともに前記回転機構により前記プライミングローラを所定の回転角だけ回転させて、前記プライミングローラの半周以下の部分的表面領域を当該プライミング処理に使用し、連続した所定回数のプライミング処理が終了した後に前記回転機構により前記プライミングローラを連続回転させながら前記洗浄部と前記乾燥部とを作動させて前記プライミングローラの表面を全周に亘ってまとめて洗浄する。   The priming processing apparatus of the present invention is a priming processing apparatus for forming a liquid film of a processing liquid as a preparation for coating processing in the vicinity of a discharge port of a long nozzle used for spinless coating processing. A priming roller disposed at a predetermined position so that an upper end of the roller horizontally faces a discharge gap of the nozzle and a predetermined gap at the time of processing; a rotating mechanism that rotates the priming roller about its central axis; A cleaning unit for spraying a cleaning liquid onto the surface of the priming roller; and a drying unit for applying a liquid flow for applying a liquid to the surface of the priming roller. When the discharge port and the upper end of the priming roller are opposed to each other with a predetermined gap, a predetermined processing liquid is discharged from the nozzle. Further, the priming roller is rotated by a predetermined rotation angle by the rotation mechanism, and a partial surface area equal to or less than a half circumference of the priming roller is used for the priming process, and after a predetermined number of continuous priming processes are completed, The cleaning unit and the drying unit are operated while the priming roller is continuously rotated by a rotating mechanism to clean the surface of the priming roller all around.

本発明においては、プライミングローラの表面または外周をその円周方向に複数に分割してそれぞれの部分的表面領域を連続する所定回数のプライミング処理に割り当てて使用し、その後にプライミングローラの表面を全周に亘ってまとめて洗浄する。この一括洗浄処理は、回転機構によりプライミングローラを連続回転させながら洗浄部と乾燥部とを作動させてプライミングローラの表面を全周に亘ってまとめて洗浄するものであり、各プライミング処理の際にプライミングローラの表面に巻き取られた処理液の液膜をこすげ落とすためのスクレーパは不要である。したがって、プライミング処理後の洗浄処理で消費する洗浄液を大幅に節減できるとともに、洗浄処理の際にパーティクルを発生させることもない。   In the present invention, the surface or outer periphery of the priming roller is divided into a plurality of portions in the circumferential direction, and each partial surface region is assigned and used for a predetermined number of continuous priming processes. Clean around the entire circumference. This batch cleaning process is to clean the entire surface of the priming roller by operating the cleaning unit and the drying unit while continuously rotating the priming roller by the rotation mechanism. There is no need for a scraper for scraping off the liquid film of the processing liquid wound on the surface of the priming roller. Therefore, the cleaning liquid consumed in the cleaning process after the priming process can be greatly reduced, and particles are not generated during the cleaning process.

本発明のプライミング処理方法において、好適な一態様によれば、一括洗浄処理(第2の工程)が、プライミングローラを一定の回転速度で連続回転させながらプライミングローラの表面に所定位置で洗浄液を噴き付けると同時に別の所定位置で液切り用のエア流を当てる主洗浄工程と、プライミングローラを一定の回転速度で連続回転させながらプライミングローラの表面に洗浄液を噴き付けずに所定位置で液切り用のエア流を当てる主乾燥工程とを含む。この場合、主洗浄工程においては、プライミングローラの表面に向けて洗浄液を気体と混合して高圧のジェット流で噴き付けるのが好ましい。このような2流体ジェット洗浄によれば、プライミングローラの表面に付いていた処理液の液膜をジェット流の圧力で効率的かつ十全に洗い落とすことができる。   According to a preferred aspect of the priming method of the present invention, according to a preferred embodiment, the collective cleaning process (second step) sprays cleaning liquid at a predetermined position on the surface of the priming roller while continuously rotating the priming roller at a constant rotational speed. The main cleaning process is to apply the air flow for liquid removal at another predetermined position at the same time as the application, and the liquid is removed at a predetermined position without spraying the cleaning liquid onto the surface of the priming roller while continuously rotating the priming roller at a constant rotational speed. And a main drying step of applying an air flow. In this case, in the main cleaning step, it is preferable that the cleaning liquid is mixed with gas toward the surface of the priming roller and sprayed with a high-pressure jet stream. According to such two-fluid jet cleaning, the liquid film of the processing liquid attached to the surface of the priming roller can be efficiently and completely washed away by the jet flow pressure.

本発明のプライミング処理装置においては、好適な一態様として、プライミングローラの上端から下端まで回転方向に沿って向う途中に洗浄部が配置される。この場合、洗浄部付近で発生する洗浄液のミストがプライミングローラの上端側へ飛散するのを阻止するために、プライミングローラの回転方向に沿って洗浄部よりも上流側にミスト遮蔽部を設けるのが好ましい。   In the priming processing apparatus of the present invention, as a preferred embodiment, the cleaning unit is arranged on the way from the upper end to the lower end of the priming roller along the rotational direction. In this case, in order to prevent the mist of the cleaning liquid generated in the vicinity of the cleaning unit from scattering to the upper end side of the priming roller, a mist shielding unit is provided upstream of the cleaning unit along the rotation direction of the priming roller. preferable.

また、好適な一態様として、乾燥部が、プライミングローラの下端から上端まで回転方向に沿って向う途中に配置され、プライミングローラの表面との間に第1の隙間を形成する第1の隙間形成部と、第1の隙間内にプライミングローラの回転方向と反対の向きで液切り用のエアを流す第1のエア流形成部とを有する。ここで、第1の隙間はプライミングローラの回転方向に沿って延在するのが好ましく、第1のエア流形成部は第1の隙間の上流側端部に接続された第1のバキューム機構を有するのが好ましい。乾燥部は、第1の隙間の下流側の端から大気中のエアを第1の隙間の中に吸い込んで、その第1の隙間の中でエアをプライミングローラの外周面に沿って回転方向と逆向きに流し、プライミングローラの外周に残っている液を気流の圧力で取り除き、第1の隙間の上流側の端から抜け出たミストを第1のバキューム機構へ送る。このように、バキュームを利用してプライミングローラの外周面に対して回転方向と逆向きのエア流を当てて液切りし、その液切りで発生したミストをそのままバキュームで回収するので、乾燥効率が高いうえミストの飛散を防止することができる。   Moreover, as a preferable aspect, the drying unit is arranged on the way from the lower end to the upper end of the priming roller along the rotation direction, and forms a first gap with the surface of the priming roller. And a first air flow forming portion for flowing liquid cutting air in a direction opposite to the rotation direction of the priming roller in the first gap. Here, it is preferable that the first gap extends along the rotation direction of the priming roller, and the first air flow forming portion includes a first vacuum mechanism connected to an upstream end portion of the first gap. It is preferable to have. The drying unit sucks air in the atmosphere into the first gap from the downstream end of the first gap, and the air is rotated along the outer circumferential surface of the priming roller in the first gap. Flowing in the opposite direction, the liquid remaining on the outer periphery of the priming roller is removed by the pressure of the air flow, and the mist that has escaped from the upstream end of the first gap is sent to the first vacuum mechanism. In this way, the vacuum is used to drain the liquid by applying an air flow in the direction opposite to the rotation direction to the outer peripheral surface of the priming roller, and the mist generated by the liquid draining is recovered by the vacuum as it is. High and can prevent mist from scattering.

さらに、好適な一態様によれば、洗浄部付近で発生する洗浄液のミストをプライミングローラの回転方向に沿って洗浄部よりも下流側に引き込むためのミスト引き込み部も設けられる。好適な一態様として、このミスト引き込み部は、プライミングローラの回転方向に沿って洗浄部と乾燥部との間に配置され、プライミングローラの表面との間に第2の隙間を形成する第2の隙間形成部と、第2の隙間内にプライミングローラの回転方向と同じ向きでミスト引き込み用のエア流を形成する第2のエア流形成部とを有する。ここで、第2の隙間はプライミングローラの回転方向に沿って延在するのが好ましく、第2のエア流形成部は第2の隙間の下流側端部に接続された第2のバキューム機構を有するのが好ましい。この第2のバキューム機構は第1のバキューム機構を兼用することが可能であり、その場合は第2の隙間が第2のバキューム機構を介して第1の隙間に連結される。ミスト引き込み部は、洗浄部付近で発生するミストを第2の隙間の下流側の端から第2の隙間の中に吸い込み、第2の隙間の中でミストをプライミングローラの外周に沿って回転方向に流し、第2の隙間から抜け出たミストを第2のバキューム機構へ送る。   Furthermore, according to a preferred aspect, there is also provided a mist drawing section for drawing the mist of the cleaning liquid generated in the vicinity of the cleaning section downstream from the cleaning section along the rotation direction of the priming roller. As a preferred aspect, the mist pull-in portion is disposed between the cleaning portion and the drying portion along the rotation direction of the priming roller, and forms a second gap between the surface of the priming roller. A gap forming portion and a second air flow forming portion that forms an air flow for drawing mist in the same direction as the rotation direction of the priming roller in the second gap. Here, it is preferable that the second gap extends along the rotation direction of the priming roller, and the second air flow forming portion has a second vacuum mechanism connected to the downstream end portion of the second gap. It is preferable to have. This second vacuum mechanism can also be used as the first vacuum mechanism. In this case, the second gap is connected to the first gap via the second vacuum mechanism. The mist pull-in section sucks mist generated in the vicinity of the cleaning section into the second gap from the downstream end of the second gap, and rotates the mist along the outer periphery of the priming roller in the second gap. Then, the mist that has escaped from the second gap is sent to the second vacuum mechanism.

また、好適な一態様によれば、連続した所定回数のプライミング処理の中で少なくとも最初のプライミング処理については、第2の工程に先立って、そのプライミング処理に使用したプライミングローラの部分的表面領域のみ部分洗浄する第3の工程が行われる。この第3の工程は、プライミングローラを所定の回転角度だけ回転させながら該プライミングローラの部分的表面領域に所定位置で洗浄液を噴き付ける部分洗浄工程と、プライミングローラを所定の回転角度だけ逆回転させてノズルに対する該プライミングローラの部分的表面領域を当該プライミング処理の終了後で前記部分洗浄工程が開始される前の位置またはその付近の位置に戻す復帰工程とを含む。この場合、部分洗浄工程においては、該プライミングローラの部分的表面領域に第2の工程で用いる洗浄の圧力よりも低圧の洗浄液を吹きかけるのが好ましく、これによってそれほどミストを発生することなくプライミングローラの部分的表面領域に付着している処理液の一部を洗い落とすことが可能であり、あるいは処理液の乾燥固化を防止するだけでも後工程の一括洗浄処理の負担を軽減する上で十分大きな効果が得られる。洗浄部に2流体ジェットノズルを用いる場合は、該2流体ジェットノズルにおける洗浄液の圧力と気体の圧力の比を可変制御するように構成することで、主洗浄処理時と部分洗浄処理時とでプライミングローラに噴き付ける洗浄液の圧力を個別に最適化することができる。
Further, according to a preferred aspect, at least the first priming process among the continuous predetermined number of priming processes is performed only for the partial surface area of the priming roller used for the priming process prior to the second step. A third step of partial cleaning is performed. The third step includes a partial cleaning step of spraying a cleaning liquid at a predetermined position on a partial surface region of the priming roller while rotating the priming roller by a predetermined rotation angle, and reversely rotating the priming roller by a predetermined rotation angle. And returning the partial surface area of the priming roller to the nozzle to a position before or after the partial cleaning process is started after the priming process is completed . In this case, in the partial cleaning step, it is preferable to spray a cleaning liquid having a pressure lower than the cleaning pressure used in the second step on the partial surface region of the priming roller, and thereby, the priming roller of the priming roller is generated without generating much mist. It is possible to wash away a part of the processing solution adhering to the partial surface area, or even if it prevents the processing solution from drying and solidifying, it has a sufficiently large effect in reducing the burden of batch cleaning processing in the subsequent process. can get. When a two-fluid jet nozzle is used in the cleaning unit, the ratio of the cleaning liquid pressure to the gas pressure in the two-fluid jet nozzle is variably controlled so that priming is performed during the main cleaning process and the partial cleaning process. The pressure of the cleaning liquid sprayed on the roller can be individually optimized.

本発明のプライミング処理方法およびプライミング処理装置によれば、上記のような構成および作用により、パーティクルを発生させるおそれもなく、洗浄液の使用量を大幅に低減することができる。   According to the priming processing method and the priming processing apparatus of the present invention, the use amount of the cleaning liquid can be greatly reduced without the possibility of generating particles due to the configuration and operation as described above.

以下、添付図を参照して本発明の好適な実施形態を説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

図1に、本発明のプライミング処理方法およびプライミング処理装置の適用可能な構成例として塗布現像処理システムを示す。この塗布現像処理システムは、クリーンルーム内に設置され、たとえばLCD基板を被処理基板とし、LCD製造プロセスにおいてフォトリソグラフィー工程の中の洗浄、レジスト塗布、プリベーク、現像およびポストベークの各処理を行うものである。露光処理は、このシステムに隣接して設置される外部の露光装置(図示せず)で行われる。   FIG. 1 shows a coating and developing processing system as an example of a configuration applicable to a priming processing method and a priming processing apparatus of the present invention. This coating / development processing system is installed in a clean room and uses, for example, an LCD substrate as a substrate to be processed, and performs cleaning, resist coating, pre-baking, development, and post-baking in the photolithography process in the LCD manufacturing process. is there. The exposure process is performed by an external exposure apparatus (not shown) installed adjacent to this system.

この塗布現像処理システムは、大きく分けて、カセットステーション(C/S)10と、プロセスステーション(P/S)12と、インタフェース部(I/F)14とで構成される。   This coating and developing system is roughly divided into a cassette station (C / S) 10, a process station (P / S) 12, and an interface unit (I / F) 14.

システムの一端部に設置されるカセットステーション(C/S)10は、複数の基板Gを収容するカセットCを所定数たとえば4個まで載置可能なカセットステージ16と、このカセットステージ16上の側方でかつカセットCの配列方向と平行に設けられた搬送路17と、この搬送路17上で移動自在でステージ16上のカセットCについて基板Gの出し入れを行う搬送機構20とを備えている。この搬送機構20は、基板Gを保持できる手段たとえば搬送アームを有し、X,Y,Z,θの4軸で動作可能であり、後述するプロセスステーション(P/S)12側の搬送装置38と基板Gの受け渡しを行えるようになっている。   A cassette station (C / S) 10 installed at one end of the system includes a cassette stage 16 on which a predetermined number, for example, four cassettes C for storing a plurality of substrates G can be placed, and a side on the cassette stage 16. And a transport path 17 provided in parallel with the arrangement direction of the cassette C, and a transport mechanism 20 that is movable on the transport path 17 and that allows the substrate C to be taken in and out of the cassette C on the stage 16. The transport mechanism 20 has a means for holding the substrate G, for example, a transport arm, can be operated with four axes of X, Y, Z, and θ, and is transported on the process station (P / S) 12 side described later. And the substrate G can be transferred.

プロセスステーション(P/S)12は、上記カセットステーション(C/S)10側から順に洗浄プロセス部22と、塗布プロセス部24と、現像プロセス部26とを基板中継部23、薬液供給ユニット25およびスペース27を介して(挟んで)横一列に設けている。   The process station (P / S) 12 includes, in order from the cassette station (C / S) 10 side, a cleaning process unit 22, a coating process unit 24, and a development process unit 26, a substrate relay unit 23, a chemical solution supply unit 25, and It is provided in a horizontal row via (spaced) the space 27.

洗浄プロセス部22は、2つのスクラバ洗浄ユニット(SCR)28と、上下2段の紫外線照射/冷却ユニット(UV/COL)30と、加熱ユニット(HP)32と、冷却ユニット(COL)34とを含んでいる。   The cleaning process unit 22 includes two scrubber cleaning units (SCR) 28, an upper and lower ultraviolet irradiation / cooling unit (UV / COL) 30, a heating unit (HP) 32, and a cooling unit (COL) 34. Contains.

塗布プロセス部24は、スピンレス方式のレジスト塗布ユニット(CT)40と、減圧乾燥ユニット(VD)42と、上下2段型アドヒージョン/冷却ユニット(AD/COL)46と、上下2段型加熱/冷却ユニット(HP/COL)48と、加熱ユニット(HP)50とを含んでいる。   The coating process unit 24 includes a spinless resist coating unit (CT) 40, a vacuum drying unit (VD) 42, an upper and lower two-stage adhesion / cooling unit (AD / COL) 46, and an upper and lower two-stage heating / cooling. A unit (HP / COL) 48 and a heating unit (HP) 50 are included.

現像プロセス部26は、3つの現像ユニット(DEV)52と、2つの上下2段型加熱/冷却ユニット(HP/COL)53と、加熱ユニット(HP)55とを含んでいる。   The development process unit 26 includes three development units (DEV) 52, two upper and lower two-stage heating / cooling units (HP / COL) 53, and a heating unit (HP) 55.

各プロセス部22,24,26の中央部には長手方向に搬送路36,51,58が設けられ、搬送装置38,54,60がそれぞれ搬送路36,51,58に沿って移動して各プロセス部内の各ユニットにアクセスし、基板Gの搬入/搬出または搬送を行うようになっている。なお、このシステムでは、各プロセス部22,24,26において、搬送路36,51,58の一方の側に液処理系のユニット(SCR,CT,DEV等)が配置され、他方の側に熱処理系のユニット(HP,COL等)が配置されている。   Conveying paths 36, 51, 58 are provided in the longitudinal direction at the center of each process unit 22, 24, 26, and the conveying devices 38, 54, 60 move along the conveying paths 36, 51, 58, respectively. Each unit in the process unit is accessed to carry in / out or carry the substrate G. In this system, in each process part 22, 24, 26, a liquid processing system unit (SCR, CT, DEV, etc.) is disposed on one side of the transport paths 36, 51, 58, and heat treatment is performed on the other side. System units (HP, COL, etc.) are arranged.

システムの他端部に設置されるインタフェース部(I/F)14は、プロセスステーション12と隣接する側にイクステンション(基板受け渡し部)56およびバッファステージ57を設け、露光装置と隣接する側に搬送機構59を設けている。この搬送機構59は、Y方向に延在する搬送路19上で移動自在であり、バッファステージ57に対して基板Gの出し入れを行なうほか、イクステンション(基板受け渡し部)56や隣の露光装置と基板Gの受け渡しを行うようになっている。   The interface unit (I / F) 14 installed at the other end of the system is provided with an extension (substrate transfer unit) 56 and a buffer stage 57 on the side adjacent to the process station 12, and is transported to the side adjacent to the exposure apparatus. A mechanism 59 is provided. The transport mechanism 59 is movable on the transport path 19 extending in the Y direction, and is used to load and unload the substrate G with respect to the buffer stage 57, and to extend from the extension (substrate transfer unit) 56 and the adjacent exposure device. The substrate G is transferred.

図2に、この塗布現像処理システムにおける処理の手順を示す。先ず、カセットステーション(C/S)10において、搬送機構20が、カセットステージ16上の所定のカセットCの中から1つの基板Gを取り出し、プロセスステーション(P/S)12の洗浄プロセス部22の搬送装置38に渡す(ステップS1)。   FIG. 2 shows a processing procedure in this coating and developing processing system. First, in the cassette station (C / S) 10, the transport mechanism 20 takes out one substrate G from a predetermined cassette C on the cassette stage 16, and the cleaning process unit 22 of the process station (P / S) 12. It is transferred to the conveying device 38 (step S1).

洗浄プロセス部22において、基板Gは、先ず紫外線照射/冷却ユニット(UV/COL)30に順次搬入され、最初の紫外線照射ユニット(UV)では紫外線照射による乾式洗浄を施され、次の冷却ユニット(COL)では所定温度まで冷却される(ステップS2)。この紫外線洗浄では主として基板表面の有機物が除去される。   In the cleaning process section 22, the substrate G is first sequentially carried into an ultraviolet irradiation / cooling unit (UV / COL) 30, subjected to dry cleaning by ultraviolet irradiation in the first ultraviolet irradiation unit (UV), and then subjected to the next cooling unit ( In COL), the temperature is cooled to a predetermined temperature (step S2). This UV cleaning mainly removes organic substances on the substrate surface.

次に、基板Gはスクラバ洗浄ユニット(SCR)28の1つでスクラビング洗浄処理を受け、基板表面から粒子状の汚れが除去される(ステップS3)。スクラビング洗浄の後、基板Gは、加熱ユニット(HP)32で加熱による脱水処理を受け(ステップS4)、次いで冷却ユニット(COL)34で一定の基板温度まで冷却される(ステップS5)。これで洗浄プロセス部22における前処理が終了し、基板Gは、搬送装置38により基板受け渡し部23を介して塗布プロセス部24へ搬送される。   Next, the substrate G is subjected to a scrubbing cleaning process by one of the scrubber cleaning units (SCR) 28 to remove particulate dirt from the substrate surface (step S3). After the scrubbing cleaning, the substrate G is subjected to dehydration treatment by heating in the heating unit (HP) 32 (step S4), and then cooled to a constant substrate temperature by the cooling unit (COL) 34 (step S5). Thus, the pretreatment in the cleaning process unit 22 is completed, and the substrate G is transferred to the coating process unit 24 by the transfer device 38 via the substrate transfer unit 23.

塗布プロセス部24において、基板Gは、先ずアドヒージョン/冷却ユニット(AD/COL)46に順次搬入され、最初のアドヒージョンユニット(AD)では疎水化処理(HMDS)を受け(ステップS6)、次の冷却ユニット(COL)で一定の基板温度まで冷却される(ステップS7)。   In the coating process unit 24, the substrate G is first sequentially carried into an adhesion / cooling unit (AD / COL) 46, and undergoes a hydrophobic treatment (HMDS) in the first adhesion unit (AD) (step S6). The cooling unit (COL) cools to a constant substrate temperature (step S7).

その後、基板Gは、レジスト塗布ユニット(CT)40でスピンレス法によりレジスト液を塗布され、次いで減圧乾燥ユニット(VD)42で減圧による乾燥処理を受ける(ステップS8)。   Thereafter, the substrate G is coated with a resist solution by a spinless method in a resist coating unit (CT) 40, and then subjected to a drying process by reduced pressure in a reduced pressure drying unit (VD) 42 (step S8).

次に、基板Gは、加熱/冷却ユニット(HP/COL)48に順次搬入され、最初の加熱ユニット(HP)では塗布後のベーキング(プリベーク)が行われ(ステップS9)、次に冷却ユニット(COL)で一定の基板温度まで冷却される(ステップS10)。なお、この塗布後のベーキングに加熱ユニット(HP)50を用いることもできる。   Next, the substrate G is sequentially carried into the heating / cooling unit (HP / COL) 48, and the first heating unit (HP) performs baking after coating (pre-baking) (step S9), and then the cooling unit ( COL) to cool to a constant substrate temperature (step S10). In addition, the heating unit (HP) 50 can also be used for baking after this application | coating.

上記塗布処理の後、基板Gは、塗布プロセス部24の搬送装置54と現像プロセス部26の搬送装置60とによってインタフェース部(I/F)14へ搬送され、そこから露光装置に渡される(ステップS11)。露光装置では基板G上のレジストに所定の回路パターンを露光される。そして、パターン露光を終えた基板Gは、露光装置からインタフェース部(I/F)14に戻される。インタフェース部(I/F)14の搬送機構59は、露光装置から受け取った基板Gをイクステンション56を介してプロセスステーション(P/S)12の現像プロセス部26に渡す(ステップS11)。   After the coating process, the substrate G is transported to the interface unit (I / F) 14 by the transport device 54 of the coating process unit 24 and the transport device 60 of the development process unit 26, and is passed from there to the exposure apparatus (step). S11). In the exposure apparatus, a predetermined circuit pattern is exposed on the resist on the substrate G. After the pattern exposure, the substrate G is returned from the exposure apparatus to the interface unit (I / F) 14. The transport mechanism 59 of the interface unit (I / F) 14 passes the substrate G received from the exposure apparatus to the development process unit 26 of the process station (P / S) 12 via the extension 56 (step S11).

現像プロセス部26において、基板Gは、現像ユニット(DEV)52のいずれか1つで現像処理を受け(ステップS12)、次いで加熱/冷却ユニット(HP/COL)53の1つに順次搬入され、最初の加熱ユニット(HP)ではポストベーキングが行われ(ステップS13)、次に冷却ユニット(COL)で一定の基板温度まで冷却される(ステップS14)。このポストベーキングに加熱ユニット(HP)55を用いることもできる。   In the development process unit 26, the substrate G is subjected to development processing in any one of the development units (DEV) 52 (step S12), and then sequentially carried into one of the heating / cooling units (HP / COL) 53, Post baking is performed in the first heating unit (HP) (step S13), and then the substrate is cooled to a constant substrate temperature in the cooling unit (COL) (step S14). A heating unit (HP) 55 can also be used for this post-baking.

現像プロセス部26での一連の処理が済んだ基板Gは、プロセスステーション(P/S)24内の搬送装置60,54,38によりカセットステーション(C/S)10まで戻され、そこで搬送機構20によりいずれか1つのカセットCに収容される(ステップS1)。   The substrate G that has undergone a series of processing in the development process section 26 is returned to the cassette station (C / S) 10 by the transfer devices 60, 54, and 38 in the process station (P / S) 24, where the transfer mechanism 20 Is stored in one of the cassettes C (step S1).

この塗布現像処理システムにおいては、塗布プロセス部24のレジスト塗布ユニット(CT)40内のプライミング処理方法および装置に本発明を適用することができる。以下、図3〜図18につき本発明の一実施形態におけるレジスト塗布ユニット(CT)40を説明する。   In this coating and developing processing system, the present invention can be applied to a priming processing method and apparatus in the resist coating unit (CT) 40 of the coating process unit 24. Hereinafter, a resist coating unit (CT) 40 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

図3に、この実施形態におけるレジスト塗布ユニット(CT)40および減圧乾燥ユニット(VD)42の全体構成を示す。   FIG. 3 shows the overall configuration of the resist coating unit (CT) 40 and the vacuum drying unit (VD) 42 in this embodiment.

図3に示すように、支持台または支持フレーム70の上にレジスト塗布ユニット(CT)40と減圧乾燥ユニット(VD)42とがX方向に横一列に配置されている。塗布処理を受けるべき新たな基板Gは、搬送路51側の搬送装置54(図1)により矢印FAで示すようにレジスト塗布ユニット(CT)40に搬入される。レジスト塗布ユニット(CT)40で塗布処理の済んだ基板Gは、支持台70上のガイドレール72に案内されるX方向に移動可能な搬送アーム74により、矢印FBで示すように減圧乾燥ユニット(VD)42に転送される。減圧乾燥ユニット(VD)42で乾燥処理を終えた基板Gは、搬送路51側の搬送装置54(図1)により矢印FCで示すように引き取られる。 As shown in FIG. 3, a resist coating unit (CT) 40 and a vacuum drying unit (VD) 42 are arranged in a horizontal row on the support base or support frame 70 in the X direction. A new substrate G to be subjected to the coating process is carried into the resist coating unit (CT) 40 as indicated by an arrow F A by the transfer device 54 (FIG. 1) on the transfer path 51 side. Substrate G after completion of the coating process in the resist coating unit (CT) 40 is a transfer arm 74 which is movable in the X direction is guided by the guide rails 72 on the support table 70, a vacuum drying unit as indicated by the arrow F B (VD) 42. Substrate G having been subjected to the drying treatment in a vacuum drying unit (VD) 42 is drawn off as shown by the arrow F C by the transfer device 54 of the transport path 51 side (FIG. 1).

レジスト塗布ユニット(CT)40は、X方向に長く延びるステージ76を有し、このステージ76上で基板Gを同方向に平流しで搬送しながら、ステージ76の上方に配置された長尺形のレジストノズル78より基板G上にレジスト液を供給して、スピンレス法で基板上面(被処理面)に一定膜厚のレジスト塗布膜を形成するように構成されている。ユニット(CT)40内の各部の構成および作用は後に詳述する。   The resist coating unit (CT) 40 includes a stage 76 that extends long in the X direction, and a long shape disposed above the stage 76 while carrying the substrate G in a flat flow on the stage 76 in the same direction. A resist solution is supplied onto the substrate G from the resist nozzle 78, and a resist coating film having a constant film thickness is formed on the upper surface (surface to be processed) of the substrate by a spinless method. The configuration and operation of each part in the unit (CT) 40 will be described in detail later.

減圧乾燥ユニット(VD)42は、上面が開口しているトレーまたは底浅容器型の下部チャンバ80と、この下部チャンバ80の上面に気密に密着または嵌合可能に構成された蓋状の上部チャンバ(図示せず)とを有している。下部チャンバ80はほぼ四角形で、中心部には基板Gを水平に載置して支持するためのステージ82が配設され、底面の四隅には排気口83が設けられている。各排気口83は排気管(図示せず)を介して真空ポンプ(図示せず)に通じている。下部チャンバ80に上部チャンバを被せた状態で、両チャンバ内の密閉された処理空間を該真空ポンプにより所定の真空度まで減圧できるようになっている。   The vacuum drying unit (VD) 42 includes a tray or shallow container type lower chamber 80 having an open upper surface, and a lid-shaped upper chamber configured to be tightly fitted or fitted to the upper surface of the lower chamber 80. (Not shown). The lower chamber 80 is substantially rectangular, and a stage 82 for placing and supporting the substrate G horizontally is disposed at the center, and exhaust ports 83 are provided at the four corners of the bottom surface. Each exhaust port 83 communicates with a vacuum pump (not shown) through an exhaust pipe (not shown). With the lower chamber 80 covered with the upper chamber, the sealed processing space in both chambers can be depressurized to a predetermined degree of vacuum by the vacuum pump.

図4および図5に、レジスト塗布ユニット(CT)40内のより詳細な全体構成を示す。このレジスト塗布ユニット(CT)40においては、ステージ76が、従来のように基板Gを固定保持する載置台として機能するのではなく、基板Gを空気圧の力で空中に浮かせるための基板浮上台として機能する。そして、ステージ76の両サイドに配置されている直進運動型の基板搬送部84が、ステージ76上で浮いている基板Gの両側縁部をそれぞれ着脱可能に保持してステージ長手方向(X方向)に基板Gを搬送するようになっている。   4 and 5 show a more detailed overall configuration in the resist coating unit (CT) 40. FIG. In this resist coating unit (CT) 40, the stage 76 does not function as a mounting table for fixing and holding the substrate G as in the prior art, but as a substrate floating table for floating the substrate G in the air by the force of air pressure. Function. Then, the linear movement type substrate transport portions 84 arranged on both sides of the stage 76 hold both side edges of the substrate G floating on the stage 76 in a detachable manner, and the stage longitudinal direction (X direction) The substrate G is transferred to the substrate.

詳細には、ステージ76は、その長手方向(X方向)において5つの領域M1,M2,M3,M4,M5に分割されている(図5)。左端の領域M1は搬入領域であり、塗布処理を受けるべき新規の基板Gはこの領域M1内の所定位置に搬入される。この搬入領域M1には、搬送装置54(図1)の搬送アームから基板Gを受け取ってステージ76上にローディングするためにステージ下方の原位置とステージ上方の往動位置との間で昇降移動可能な複数本のリフトピン86が所定の間隔を置いて設けられている。これらのリフトピン86は、たとえばエアシリンダ(図示せず)を駆動源に用いる搬入用のリフトピン昇降部85(図13)によって昇降駆動される。 Specifically, the stage 76 is divided into five regions M 1 , M 2 , M 3 , M 4 , and M 5 in the longitudinal direction (X direction) (FIG. 5). The leftmost area M 1 is a carry-in area, and a new substrate G to be subjected to the coating process is carried into a predetermined position in this area M 1 . In this carry-in area M 1 , the substrate G is received from the transfer arm of the transfer device 54 (FIG. 1) and loaded onto the stage 76 so as to move up and down between the original position below the stage and the forward movement position above the stage. A plurality of possible lift pins 86 are provided at predetermined intervals. These lift pins 86 are driven up and down by, for example, a lift pin lift unit 85 (FIG. 13) for carrying in using an air cylinder (not shown) as a drive source.

この搬入領域M1は浮上式の基板搬送が開始される領域でもあり、この領域内のステージ上面には基板Gを搬入用の浮上高さまたは浮上量Haで浮かせるために高圧または正圧の圧縮空気を噴き出す噴出口88が一定の密度で多数設けられている。ここで、搬入領域M1における基板Gの浮上量Haは、特に高い精度を必要とせず、たとえば250〜350μmの範囲内に保たれればよい。搬送方向(X方向)において、搬入領域M1のサイズは基板Gのサイズを上回っているのが好ましい。さらに、搬入領域M1には、基板Gをステージ76上で位置合わせするためのアライメント部(図示せず)も設けられてよい。 The loading area M 1 is also the area substrate transfer of a floating starts, high-pressure or positive pressure to the stage upper surface of the region to float in flying height or flying height H a for carrying the substrate G A number of jet outlets 88 for jetting compressed air are provided at a constant density. Here, the flying height H a of the substrate G in the carrying region M 1 does not require a particularly high accuracy, for example if kept in the range of 250~350Myuemu. In the transport direction (X direction), the size of the carry-in area M 1 is preferably larger than the size of the substrate G. Further, an alignment unit (not shown) for aligning the substrate G on the stage 76 may be provided in the carry-in area M 1 .

ステージ76の中心部に設定された領域M3はレジスト液供給領域または塗布領域であり、基板Gはこの塗布領域M3を通過する際に上方のレジストノズル78からレジスト液Rの供給を受ける。塗布領域M3における基板浮上量Hbはノズル78の下端(吐出口)と基板上面(被処理面)との間の塗布ギャップS(たとえば240μm)を規定する。この塗布ギャップSはレジスト塗布膜の膜厚やレジスト消費量を左右する重要なパラメータであり、高い精度で一定に維持される必要がある。このことから、塗布領域M3のステージ上面には、たとえば図6に示すような配列または分布パターンで、基板Gを所望の浮上量Hbで浮かせるために高圧または正圧の圧縮空気を噴き出す噴出口88と負圧で空気を吸い込む吸引口90とを混在させて設けている。そして、基板Gの塗布領域M3内を通過している部分に対して、噴出口88から圧縮空気による垂直上向きの力を加えると同時に、吸引口90より負圧吸引力による垂直下向きの力を加えて、相対抗する双方向の力のバランスを制御することで、塗布用の浮上量Hbを設定値HS(たとえば50μm)付近に維持するようにしている。搬送方向(X方向)における塗布領域M3のサイズは、レジストノズル78直下に上記のような狭い塗布ギャップSを安定に形成できるほどの余裕があればよく、通常は基板Gのサイズよりも小さくてよく、たとえば1/3〜1/4程度でよい。 A region M 3 set at the center of the stage 76 is a resist solution supply region or a coating region, and the substrate G is supplied with the resist solution R from the upper resist nozzle 78 when passing through the coating region M 3 . The substrate flying height Hb in the coating region M 3 defines a coating gap S (for example, 240 μm) between the lower end (discharge port) of the nozzle 78 and the upper surface of the substrate (surface to be processed). The coating gap S is an important parameter that affects the film thickness of the resist coating film and the resist consumption, and must be kept constant with high accuracy. From this, on the upper surface of the stage of the application region M 3 , for example, a jet that ejects high-pressure or positive-pressure compressed air to float the substrate G with a desired flying height H b in an arrangement or distribution pattern as shown in FIG. An outlet 88 and a suction port 90 for sucking air with a negative pressure are mixed and provided. Then, a vertical upward force due to compressed air is applied from the jet outlet 88 to a portion passing through the coating region M 3 of the substrate G, and at the same time, a vertical downward force due to a negative pressure suction force is applied from the suction port 90. In addition, the flying height Hb for application is maintained in the vicinity of a set value H S (for example, 50 μm) by controlling the balance of the opposing forces. The size of the coating region M 3 in the transport direction (X direction) only needs to be large enough to stably form the narrow coating gap S as described above immediately below the resist nozzle 78 and is usually smaller than the size of the substrate G. For example, about 1/3 to 1/4 may be sufficient.

図6に示すように、塗布領域M3においては、基板搬送方向(X方向)に対して一定の傾斜した角度をなす直線C上に噴出口88と吸引口90とを交互に配し、隣接する各列の間で直線C上のピッチに適当なオフセットαを設けている。かかる配置パターンによれば、噴出口88および吸引口90の混在密度を均一にしてステージ上の基板浮上力を均一化できるだけでなく、基板Gが搬送方向(X方向)に移動する際に噴出口88および吸引口90と対向する時間の割合を基板各部で均一化することも可能であり、これによって基板G上に形成される塗布膜に噴出口88または吸引口90のトレースまたは転写跡が付くのを防止することができる。塗布領域M3の入口では、基板Gの先端部が搬送方向と直交する方向(Y方向)で均一な浮上力を安定に受けるように、同方向(直線J上)に配列する噴出口88および吸引口90の密度を高くするのが好ましい。また、塗布領域M3においても、ステージ76の両側縁部(直線K上)には、基板Gの両側縁部が垂れるのを防止するために、噴出口88のみを配置するのが好ましい。 As shown in FIG. 6, in the application region M 3 , the jet ports 88 and the suction ports 90 are alternately arranged on a straight line C that forms an angle inclined with respect to the substrate transport direction (X direction). An appropriate offset α is provided for the pitch on the straight line C between the columns. According to such an arrangement pattern, not only can the mixing density of the nozzles 88 and the suction ports 90 be made uniform, the substrate levitation force on the stage can be made uniform, but also when the substrate G moves in the transport direction (X direction). It is also possible to make the ratio of the time facing the 88 and the suction port 90 uniform in each part of the substrate, whereby the coating film formed on the substrate G is traced or transferred by the ejection port 88 or the suction port 90. Can be prevented. At the entrance of the coating region M 3 , the jet outlets 88 arranged in the same direction (on the straight line J) so that the tip of the substrate G stably receives a uniform levitation force in the direction (Y direction) perpendicular to the transport direction, and It is preferable to increase the density of the suction port 90. Also in the coating region M 3 , it is preferable to arrange only the ejection port 88 at both side edges (on the straight line K) of the stage 76 in order to prevent the both side edges of the substrate G from dripping.

再び図5において、搬入領域M1と塗布領域M3との間に設定された中間の領域M2は、搬送中に基板Gの浮上高さ位置を搬入領域M1における浮上量Haから塗布領域M3における浮上量Hbへ変化または遷移させるための遷移領域である。この遷移領域M2内でもステージ76の上面に噴出口88と吸引口90とを混在させて配置することができる。その場合は、吸引口90の密度を搬送方向に沿って次第に大きくし、これによって搬送中に基板Gの浮上量が漸次的にHaからHbに移るようにしてよい。あるいは、この遷移領域M2においては、吸引口90を含まずに噴出口88だけを設ける構成も可能である。 5 again, the middle region M 2, which is set between the loading area M 1 and the application area M 3 are, coating the flying height of the substrate G during transport from the flying height H a of the loading area M 1 it is a transition region for changing or transition to flying height H b in the area M 3. Even in the transition region M 2 , the jet port 88 and the suction port 90 can be mixed and arranged on the upper surface of the stage 76. In that case, the density of the suction port 90 gradually increases along the conveying direction, whereby it as the flying height of the substrate G during transport moves in H b from progressively H a. Alternatively, in this transition region M 2 , a configuration in which only the ejection port 88 is provided without including the suction port 90 is also possible.

塗布領域M3の下流側隣の領域M4は、搬送中に基板Gの浮上量を塗布用の浮上量Hbから搬出用の浮上量Hc(たとえば250〜350μm)に変えるための遷移領域である。この遷移領域M4でも、ステージ76の上面に噴出口88と吸引口90とを混在させて配置してもよく、その場合は吸引口90の密度を搬送方向に沿って次第に小さくするのがよい。あるいは、吸引口90を含まずに噴出口88だけを設ける構成も可能である。また、図6に示すように、塗布領域M3と同様に遷移領域M4でも、基板G上に形成されたレジスト塗布膜に転写跡が付くのを防止するために、吸引口90(および噴出口88)を基板搬送方向(X方向)に対して一定の傾斜した角度をなす直線E上に配置し、隣接する各列間で配列ピッチに適当なオフセットβを設ける構成が好ましい。 A region M 4 adjacent to the downstream side of the coating region M 3 is a transition region for changing the flying height of the substrate G from the flying height H b for coating to the flying height H c (for example, 250 to 350 μm) during transportation. It is. Even in the transition region M 4 , the ejection port 88 and the suction port 90 may be mixed on the upper surface of the stage 76, and in this case, the density of the suction port 90 should be gradually reduced along the transport direction. . Alternatively, a configuration in which only the ejection port 88 is provided without including the suction port 90 is also possible. In addition, as shown in FIG. 6, in the transition region M 4 as well as the coating region M 3 , the suction port 90 (and the spray nozzle 90) is used to prevent the transfer mark from being applied to the resist coating film formed on the substrate G. It is preferable that the outlet 88) is disposed on a straight line E that forms a certain inclined angle with respect to the substrate transport direction (X direction), and an appropriate offset β is provided in the arrangement pitch between adjacent rows.

ステージ76の下流端(右端)の領域M5は搬出領域である。レジスト塗布ユニット(CT)40で塗布処理を受けた基板Gは、この搬出領域M5内の所定位置または搬出位置から搬送アーム74(図3)によって下流側隣の減圧乾燥ユニット(VD)42(図3)へ搬出される。この搬出領域M5には、基板Gを搬出用の浮上量Hcで浮かせるための噴出口88がステージ上面に一定の密度で多数設けられているとともに、基板Gをステージ76上からアンローディングして搬送アーム74(図3)へ受け渡すためにステージ下方の原位置とステージ上方の往動位置との間で昇降移動可能な複数本のリフトピン92が所定の間隔を置いて設けられている。これらのリフトピン92は、たとえばエアシリンダ(図示せず)を駆動源に用いる搬出用のリフトピン昇降部91(図13)によって昇降駆動される。 A region M 5 at the downstream end (right end) of the stage 76 is a carry-out region. The resist coating unit (CT) substrate G having received a coating process with 40, the transport arm 74 from a predetermined position or unloading position of the unloading area M 5 vacuum drying unit on the downstream side next (FIG. 3) (VD) 42 ( 3). In the carry-out area M 5 , a number of jet outlets 88 for floating the substrate G with a flying height H c for carrying out are provided on the upper surface of the stage at a constant density, and the substrate G is unloaded from the stage 76. Thus, a plurality of lift pins 92 that can be moved up and down between the original position below the stage and the forward movement position above the stage are provided at predetermined intervals for delivery to the transfer arm 74 (FIG. 3). These lift pins 92 are driven up and down by, for example, a lift pin lift unit 91 (FIG. 13) for carrying out using an air cylinder (not shown) as a drive source.

レジストノズル78は、ステージ76上の基板Gを一端から他端までカバーできる長さで搬送方向と直交する水平方向(Y方向)に延びる長尺状のノズル本体の下端にスリット状の吐出口78aを有し、門形または逆さコ字形のノズル支持体130に昇降可能に取り付けられ、レジスト液供給機構95(図13)からのレジスト液供給管94(図4)に接続されている。   The resist nozzle 78 has a length that can cover the substrate G on the stage 76 from one end to the other end, and has a slit-like discharge port 78a at the lower end of a long nozzle body that extends in the horizontal direction (Y direction) perpendicular to the transport direction. And is attached to a nozzle-shaped or inverted U-shaped nozzle support 130 so as to be movable up and down, and is connected to a resist solution supply pipe 94 (FIG. 4) from a resist solution supply mechanism 95 (FIG. 13).

図4、図7および図8に示すように、基板搬送部84は、ステージ76の左右両サイドに平行に配置された一対のガイドレール96と、各ガイドレール96上に軸方向(X方向)に移動可能に取り付けられたスライダ98と、各ガイドレール96上でスライダ98を直進移動させる搬送駆動部100と、各スライダ98からステージ76の中心部に向かって延びて基板Gの左右両側縁部を着脱可能に保持する保持部102とをそれぞれ有している。   As shown in FIGS. 4, 7, and 8, the substrate transport unit 84 includes a pair of guide rails 96 arranged in parallel on the left and right sides of the stage 76, and an axial direction (X direction) on each guide rail 96. A slider 98 movably attached to each other, a transport drive unit 100 for moving the slider 98 linearly on each guide rail 96, and right and left side edges of the substrate G extending from each slider 98 toward the center of the stage 76. And a holding portion 102 that holds the detachable holder.

ここで、搬送駆動部100は、直進型の駆動機構たとえばリニアモータによって構成されている。また、保持部102は、基板Gの左右両側縁部の下面に真空吸着力で結合する吸着パッド104と、先端部で吸着パッド104を支持し、スライダ98側の基端部を支点として先端部の高さ位置を変えられるように弾性変形可能な板バネ型のパッド支持部106とをそれぞれ有している。吸着パッド104は一定のピッチで一列に配置され、パッド支持部106は各々の吸着パッド104を独立に支持している。これにより、個々の吸着パッド104およびパッド支持部106が独立した高さ位置で(異なる高さ位置でも)基板Gを安定に保持できるようになっている。   Here, the conveyance drive unit 100 is configured by a linear drive mechanism such as a linear motor. The holding unit 102 supports the suction pad 104 coupled to the lower surfaces of the left and right side edges of the substrate G by a vacuum suction force, and supports the suction pad 104 at the distal end, with the proximal end on the slider 98 side serving as a fulcrum. And a plate spring type pad support portion 106 that can be elastically deformed so that the height position of each can be changed. The suction pads 104 are arranged in a line at a constant pitch, and the pad support part 106 supports each suction pad 104 independently. As a result, the individual suction pads 104 and the pad support portions 106 can stably hold the substrate G at independent height positions (even at different height positions).

図7および図8に示すように、パッド支持部106は、スライダ98の内側面に昇降可能に取り付けられた板状パッド昇降部材108に取り付けられている。スライダ98に搭載されているたとえばエアシリンダからなるパッドアクチエータ109(図13)が、パッド昇降部材108を基板Gの浮上高さ位置よりも低い原位置(退避位置)と基板Gの浮上高さ位置に対応する往動位置(結合位置)との間で昇降移動させるようになっている。   As shown in FIGS. 7 and 8, the pad support portion 106 is attached to a plate-like pad elevating member 108 that is attached to the inner side surface of the slider 98 so as to be elevable. A pad actuator 109 (FIG. 13) made of an air cylinder, for example, mounted on the slider 98 moves the pad elevating member 108 from the original position (retracted position) lower than the flying height position of the substrate G and the flying height of the substrate G. It is configured to move up and down between the forward movement position (coupling position) corresponding to the position.

図9に示すように、各々の吸着パッド104は、たとえば合成ゴム製で直方体形状のパッド本体110の上面に複数個の吸引口112を設けている。これらの吸引口112はスリット状の長穴であるが、丸や矩形の小孔でもよい。吸着パッド104には、たとえば合成ゴムからなる帯状のバキューム管114が接続されている。これらのバキューム管114の管路116はパッド吸着制御部115(図13)の真空源にそれぞれ通じている。   As shown in FIG. 9, each suction pad 104 is provided with a plurality of suction ports 112 on the upper surface of a rectangular parallelepiped pad body 110 made of, for example, synthetic rubber. These suction ports 112 are slit-like long holes, but may be round or rectangular small holes. For example, a belt-like vacuum tube 114 made of synthetic rubber is connected to the suction pad 104. The pipe lines 116 of these vacuum pipes 114 respectively communicate with the vacuum source of the pad suction control unit 115 (FIG. 13).

保持部102においては、図4に示すように、片側一列の真空吸着パッド104およびパッド支持部106が1組毎に分離している分離型または完全独立型の構成が好ましい。しかし、図10に示すように、切欠き部118を設けた一枚の板バネで片側一列分のパッド支持部120を形成してその上に片側一列の真空吸着パッド104を配置する一体型の構成も可能である。   As shown in FIG. 4, the holding unit 102 preferably has a separation type or completely independent type in which the vacuum suction pads 104 and the pad support units 106 on one side are separated for each set. However, as shown in FIG. 10, a single plate spring provided with a notch 118 is used to form a pad support portion 120 for one row on one side, and a vacuum suction pad 104 is placed on one row on the pad support portion 120. Configuration is also possible.

上記のように、ステージ76の上面に形成された多数の噴出口88およびそれらに浮上力発生用の圧縮空気を供給する圧縮空気供給機構122(図11)、さらにはステージ76の塗布領域M3内に噴出口88と混在して形成された多数の吸引口90およびそれらに真空の圧力を供給するバキューム供給機構124(図11)により、搬入領域M1や搬出領域M5では基板Gを搬入出や高速搬送に適した浮上量で浮かせ、塗布領域M3では基板Gを安定かつ正確なレジスト塗布走査に適した設定浮上量HSで浮かせるためのステージ基板浮上部145(図13)が構成されている。 As described above, the large number of jets 88 formed on the upper surface of the stage 76, the compressed air supply mechanism 122 (FIG. 11) for supplying the compressed air for generating the levitation force to them, and the coating region M 3 of the stage 76. The substrate G is carried in the carry-in area M 1 and the carry-out area M 5 by a large number of suction ports 90 formed in the inside of the jet outlet 88 and a vacuum supply mechanism 124 (FIG. 11) for supplying vacuum pressure thereto. A stage substrate floating portion 145 (FIG. 13) for floating the substrate G at a set floating amount H S suitable for stable and accurate resist coating scanning is formed in the coating region M 3 . Has been.

図11に、ノズル昇降機構75、ノズル水平移動機構77、圧縮空気供給機構122およびバキューム供給機構124の構成を示す。ノズル昇降機構75は、塗布領域M3の上を搬送方向(X方向)と直交する水平方向(Y方向)に跨ぐように架設された門形フレーム130と、この門形フレーム130に取り付けられた左右一対の鉛直運動機構132L,132Rと、これらの鉛直運動機構132L,132Rの間に跨る移動体(昇降体)のノズル支持体134とを有する。各鉛直運動機構132L,132Rの駆動部は、たとえばパルスモータからなる電動モータ138L、138R、ボールネジ140L,140Rおよびガイド部材142L,142Rを有している。パルスモータ138L、138Rの回転力がボールネジ機構(140L,142L)、(140R,142R)によって鉛直方向の直線運動に変換され、昇降体のノズル支持体134と一体にレジストノズル78が鉛直方向に昇降移動する。パルスモータ138L,138Rの回転量および回転停止位置によってレジストノズル78の左右両側の昇降移動量および高さ位置を任意に制御できるようになっている。ノズル支持体134は、たとえば角柱の剛体からなり、その下面または側面にレジストノズル78をフランジ、ボルト等を介して着脱可能に取り付けている。 FIG. 11 shows the configuration of the nozzle lifting mechanism 75, the nozzle horizontal movement mechanism 77, the compressed air supply mechanism 122, and the vacuum supply mechanism 124. The nozzle raising / lowering mechanism 75 is attached to the gate-shaped frame 130 and the portal frame 130 laid so as to straddle the coating region M 3 in the horizontal direction (Y direction) orthogonal to the transport direction (X direction). It has a pair of left and right vertical motion mechanisms 132L and 132R, and a nozzle support 134 of a moving body (lifting body) straddling between these vertical motion mechanisms 132L and 132R. The drive units of the vertical motion mechanisms 132L and 132R include electric motors 138L and 138R made of, for example, pulse motors, ball screws 140L and 140R, and guide members 142L and 142R. The rotational force of the pulse motors 138L and 138R is converted into a linear motion in the vertical direction by the ball screw mechanisms (140L and 142L) and (140R and 142R), and the registration nozzle 78 is moved up and down integrally with the nozzle support 134 of the lifting body. Moving. The amount of elevation movement and the height position of the left and right sides of the registration nozzle 78 can be arbitrarily controlled by the rotation amounts and rotation stop positions of the pulse motors 138L and 138R. The nozzle support 134 is made of, for example, a prismatic rigid body, and a resist nozzle 78 is detachably attached to the lower surface or side surface of the nozzle support 134 via a flange, a bolt, or the like.

ノズル水平移動機構77は、門形フレーム130をノズル長手方向と直交する水平方向(X方向)に案内する左右一対のガイドレール(図示せず)と、それらのガイドレール上で門形フレーム130を直進移動させる左右一対の水平運動機構たとえばパルスモータ駆動型のボールネジ機構135L,135Rとを有し、ガイドレール上の任意の位置に門形フレーム130を位置決めできるように構成されている。   The nozzle horizontal movement mechanism 77 includes a pair of left and right guide rails (not shown) for guiding the portal frame 130 in a horizontal direction (X direction) orthogonal to the longitudinal direction of the nozzle, and the portal frame 130 on the guide rails. It has a pair of left and right horizontal movement mechanisms that move linearly, for example, a pulse motor driven ball screw mechanism 135L, 135R, and is configured so that the portal frame 130 can be positioned at an arbitrary position on the guide rail.

圧縮空気供給機構122は、ステージ76上面で分割された複数のエリア別に噴出口88に接続された正圧マニホールド144と、それら正圧マニホールド144にたとえば工場用力の圧縮空気供給源146からの圧縮空気を送り込む圧縮空気供給管148と、この圧縮空気供給管148の途中に設けられるレギュレータ150とを有している。バキューム供給機構124は、ステージ76上面で分割された複数のエリア別に吸引口90に接続された負圧マニホールド152と、それらの負圧マニホールド152にたとえば工場用力の真空源154からのバキュームを送り込むバキューム管156と、このバキューム管156の途中に設けられる絞り弁158とを有している。   The compressed air supply mechanism 122 includes a positive pressure manifold 144 connected to a jet outlet 88 for each of a plurality of areas divided on the upper surface of the stage 76, and compressed air from a compressed air supply source 146 of factory force, for example, to the positive pressure manifold 144. Compressed air supply pipe 148 and a regulator 150 provided in the middle of the compressed air supply pipe 148. The vacuum supply mechanism 124 includes a negative pressure manifold 152 connected to the suction port 90 for each of a plurality of areas divided on the upper surface of the stage 76, and a vacuum that feeds, for example, vacuum from a vacuum source 154 of factory power into the negative pressure manifold 152. A pipe 156 and a throttle valve 158 provided in the middle of the vacuum pipe 156 are provided.

このレジスト塗布ユニット(CT)40は、図5に示すように、基板搬送方向(X方向)においてレジストノズル78よりも少し下流側の上方にノズル待機部170を設置しており、このノズル待機部170の中にプライミング処理部を設けている。   As shown in FIG. 5, the resist coating unit (CT) 40 is provided with a nozzle standby unit 170 slightly above the resist nozzle 78 in the substrate transport direction (X direction). A priming processing unit is provided in 170.

図12に、ノズル待機部170内の構成を示す。図示のように、ノズル待機部170は、プライミング処理部172と溶剤雰囲気室174と洗浄部176とをX方向で横一列に配置している。この中で、プライミング処理部172が塗布処理位置に最も近い場所に設置されている。ノズル水平移動機構77(図11)の直進駆動部135L,135Rがノズル待機部170まで延びており(図3)、レジストノズル78をノズル待機部170内の各部(172,174,176)に移送できるようになっている。   FIG. 12 shows a configuration inside the nozzle standby unit 170. As shown in the figure, the nozzle standby unit 170 has a priming processing unit 172, a solvent atmosphere chamber 174, and a cleaning unit 176 arranged in a horizontal row in the X direction. Among them, the priming processing unit 172 is installed at a location closest to the coating processing position. The straight drive units 135L and 135R of the nozzle horizontal movement mechanism 77 (FIG. 11) extend to the nozzle standby unit 170 (FIG. 3), and the resist nozzle 78 is transferred to each part (172, 174, 176) in the nozzle standby unit 170. It can be done.

洗浄部176は、所定位置に位置決めされたレジストノズル78の下を長手方向(Y方向)に移動またはスキャンするノズル洗浄ヘッド178を有している。このノズル洗浄ヘッド178には、レジストノズル78の下端部および吐出口78aに向けて洗浄液(たとえばシンナー)および乾燥用のガス(たとえばN2ガス)をそれぞれ噴き付ける洗浄ノズル180およびガスノズル182が搭載されるとともに、レジストノズル78に当たって落下した洗浄液をバキュームで受け集めて回収するドレイン部184が設けられている。 The cleaning unit 176 has a nozzle cleaning head 178 that moves or scans in the longitudinal direction (Y direction) under the resist nozzle 78 positioned at a predetermined position. The nozzle cleaning head 178 is equipped with a cleaning nozzle 180 and a gas nozzle 182 for spraying a cleaning liquid (for example, thinner) and a drying gas (for example, N 2 gas) toward the lower end portion of the resist nozzle 78 and the discharge port 78a. In addition, a drain part 184 is provided for collecting and collecting the cleaning liquid that has fallen on the resist nozzle 78 by vacuum.

溶剤雰囲気室174は、レジストノズル78の全長をカバーする長さでノズル長手方向(Y方向)と平行に延びており、室内には溶剤たとえばシンナーが入っている。溶剤雰囲気室174の上面には、長手方向(Y方向)に延びるスリット状の開口186aを設けた断面V状の蓋体186が取り付けられている。レジストノズル78のノズル部を蓋体186に上方から合わせると、吐出口78aとテーパ形状のノズル下端部だけが開口186aを介して室内に立ち篭もる溶剤の蒸気に曝されるようになっている。ステージ76上でしばらく塗布処理が行われない間に、レジストノズル78は、洗浄部176で吐出口78aおよびノズル部の洗浄を施され、それから溶剤雰囲気室174で待機する。   The solvent atmosphere chamber 174 has a length that covers the entire length of the resist nozzle 78 and extends in parallel with the nozzle longitudinal direction (Y direction), and a solvent such as thinner is contained in the chamber. On the upper surface of the solvent atmosphere chamber 174, a lid 186 having a V-shaped cross section provided with a slit-like opening 186a extending in the longitudinal direction (Y direction) is attached. When the nozzle portion of the resist nozzle 78 is aligned with the lid 186 from above, only the discharge port 78a and the lower end portion of the tapered nozzle are exposed to the solvent vapor standing in the room through the opening 186a. Yes. While the coating process is not performed on the stage 76 for a while, the resist nozzle 78 is cleaned by the cleaning unit 176 for the discharge port 78a and the nozzle unit, and then waits in the solvent atmosphere chamber 174.

プライミング処理部172は、レジストノズル78の全長をカバーする長さで水平方向(Y方向)に延びる円柱状のプライミングローラ188をハウジング190の中に配置している。ハウジング190の外に配置されたプライミングローラ回転機構192がプライミングローラ188を回転駆動する。プライミング処理部172のより詳細な構成および作用は図19〜図22を参照して後に詳述する。   In the priming processing unit 172, a columnar priming roller 188 that covers the entire length of the resist nozzle 78 and extends in the horizontal direction (Y direction) is disposed in the housing 190. A priming roller rotating mechanism 192 disposed outside the housing 190 drives the priming roller 188 to rotate. A more detailed configuration and operation of the priming processing unit 172 will be described later in detail with reference to FIGS.

図13に、レジスト塗布ユニット(CT)40における制御系の主要な構成を示す。コントローラ200は、マイクロコンピュータからなり、ユニット内の各部、特にレジスト液供給機構95、ノズル昇降機構75、ステージ基板浮上部145、基板搬送部84(搬送駆動部100、パッド吸着制御部115、パッドアクチエータ109)、搬入用リフトピン昇降部85、搬出用リフトピン昇降部91、プライミング処理部172等の個々の動作と全体の動作(シーケンス)を制御する。   FIG. 13 shows the main configuration of the control system in the resist coating unit (CT) 40. The controller 200 is formed of a microcomputer, and each unit in the unit, in particular, a resist solution supply mechanism 95, a nozzle lifting mechanism 75, a stage substrate floating portion 145, a substrate transport unit 84 (transport drive unit 100, pad suction control unit 115, pad actuator). Eta 109), carry-in lift pin raising / lowering unit 85, carry-out lift pin raising / lowering unit 91, priming processing unit 172, etc., and the entire operation (sequence) are controlled.

次に、レジスト塗布ユニット(CT)40における塗布処理動作を説明する。コントローラ200は、たとえば光ディスク等の記憶媒体に格納されている塗布処理プログラムを主メモリに取り込んで実行し、プログラムされた一連の塗布処理動作を制御する。   Next, the coating processing operation in the resist coating unit (CT) 40 will be described. The controller 200 takes in and executes a coating process program stored in a storage medium such as an optical disk in the main memory, and controls a series of programmed coating process operations.

搬送装置54(図1)より未処理の新たな基板Gがステージ76の搬入領域M1に搬入されると、リフトピン86が往動位置で該基板Gを受け取る。搬送装置54が退出した後、リフトピン86が下降して基板Gを搬送用の高さ位置つまり浮上位置Ha(図5)まで降ろす。次いで、アライメント部(図示せず)が作動し、浮上状態の基板Gに四方から押圧部材(図示せず)を押し付けて、基板Gをステージ76上で位置合わせする。アライメント動作が完了すると、その直後に基板搬送部84においてパッドアクチエータ109が作動し、吸着パッド104を原位置(退避位置)から往動位置(結合位置)へ上昇(UP)させる。吸着パッド104は、その前からバキュームがオンしており、浮上状態の基板Gの側縁部に接触するや否や真空吸着力で結合する。吸着パッド104が基板Gの側縁部に結合した直後に、アライメント部は押圧部材を所定位置へ退避させる。 When the transport device 54 new substrate G (FIG. 1) than the untreated is carried into the carry-area M 1 stage 76, the lift pins 86 receives the substrate G at the forward position. After conveying device 54 has exited, the lift pins 86 are lowered down to a height position that is floating position H a for conveying the substrate G (Figure 5). Next, an alignment unit (not shown) is operated, and a pressing member (not shown) is pressed against the floating substrate G from four directions to align the substrate G on the stage 76. When the alignment operation is completed, the pad actuator 109 is actuated immediately after that in the substrate transport section 84, and the suction pad 104 is raised (UP) from the original position (retracted position) to the forward movement position (coupled position). The suction pad 104 is vacuum-on from before, and is bonded by a vacuum suction force as soon as it comes into contact with the side edge of the floating substrate G. Immediately after the suction pad 104 is coupled to the side edge of the substrate G, the alignment unit retracts the pressing member to a predetermined position.

次に、基板搬送部84は、保持部102で基板Gの側縁部を保持したままスライダ98を搬送始点位置から搬送方向(X方向)へ比較的高速の一定速度で直進移動させる。こうして基板Gがステージ76上を浮いた状態で搬送方向(X方向)へ直進移動し、基板Gの前端部が塗布領域M3内の設定位置または塗布走査開始位置に着いたところで、基板搬送部84が第1段階の基板搬送を停止する。この時、レジストノズル78は既にノズル待機部170のプライミング処理部172でプライミング処理を終えており、塗布位置の上方に設定された所定の塗布待機位置で待機している。 Next, the substrate transport unit 84 moves the slider 98 straight from the transport start point position to the transport direction (X direction) at a relatively high constant speed while holding the side edge of the substrate G by the holding unit 102. Thus straight movement in the conveying direction (X direction) in a state where the substrate G is floated on the stage 76, where the front end of the substrate G has reached the set position or applying scanning start position in the application region M 3, the substrate transport unit 84 stops the substrate transfer in the first stage. At this time, the resist nozzle 78 has already finished the priming process in the priming processing unit 172 of the nozzle standby unit 170, and is waiting at a predetermined application standby position set above the application position.

ここで、図14〜図16につき、プライミング処理部172におけるプライミング処理を説明する。先ず、コントローラ200の制御の下でノズル昇降機構75およびノズル水平移動機構77(図11)が、図14に示すように、レジストノズル78の吐出口78aをプライミングローラ188の上端または頂上と設定距離のギャップを隔てて平行に対向する位置までレジストノズル78をプライミングローラ188に近接させる。そして、レジスト液供給機構95(図13)がレジストノズル78にレジスト液Rを吐出させ(図14)、次いでプライミングローラ回転機構192(図12)がプライミングローラ188を一定方向(図14では時計回り)に回転させる(図15)。そうすると、プライミングローラ188の頂上付近に吐出されたレジスト液Rがノズル背面78b側に回り込むようにしてプライミングローラ188の表面または周面に巻き取られる。こうして、プライミング処理を終えた後も、図16に示すように、レジストノズル78の吐出口78aないし背面78bの下部にはノズル長手方向(Y方向)にまっすぐ均一に延びたレジスト液の液膜RFが残る。このプライミング処理を施されたレジストノズル78は、コントローラ200の制御の下でノズル昇降機構75およびノズル水平移動機構77によりノズル待機部170から上記塗布待機位置へ移される。
Here, the priming process in the priming processing unit 172 will be described with reference to FIGS. First, under the control of the controller 200, the nozzle lifting mechanism 75 and the nozzle horizontal movement mechanism 77 (FIG. 11) set the discharge port 78a of the registration nozzle 78 to the upper end or top of the priming roller 188 and a set distance as shown in FIG. The resist nozzle 78 is brought close to the priming roller 188 to a position facing in parallel across the gap. Then, the resist solution supply mechanism 95 (FIG. 13) discharges the resist solution R to the resist nozzle 78 (FIG. 14), and then the priming roller rotating mechanism 192 (FIG. 12) rotates the priming roller 188 in a certain direction (clockwise in FIG. 14). ) (FIG. 15). Then, the resist solution R discharged to the vicinity of the top of the priming roller 188 is wound around the surface or peripheral surface of the priming roller 188 so as to go around the nozzle back surface 78b. Thus, even after the priming process is finished, as shown in FIG. 16, a resist solution liquid film RF that extends straight and uniformly in the longitudinal direction of the nozzle (Y direction) below the discharge port 78a or the back surface 78b of the resist nozzle 78. Remains. The resist nozzle 78 subjected to the priming process is moved from the nozzle standby unit 170 to the application standby position by the nozzle lifting mechanism 75 and the nozzle horizontal movement mechanism 77 under the control of the controller 200.

上記のように基板Gが塗布領域M3内の設定位置つまり塗布走査開始位置に着いて停止すると、コントローラ200の制御の下でノズル昇降機構75が作動して、レジストノズル78を垂直下方に降ろし、ノズル吐出口78aと基板Gとの距離間隔または塗布ギャップを初期値(たとえば60μm)に合わせる。そうすると、図17に示すように、レジストノズル78の吐出口および背面下端部に付着していたレジスト液の液膜RFが設定サイズdの塗布ギャップをビード状に塞ぐようにして基板Gに付着(着液)する。次いで、レジスト液供給機構95(図13)がレジスト液Rの吐出を開始すると同時に基板搬送部84も第2段階の基板搬送を開始し、一方でノズル昇降機構75がレジストノズル78を塗布ギャップが設定値SA(たとえば240μm)になるまで上昇させ、その後はそのまま基板Gを水平移動させる。この第2段階つまり塗布時の基板搬送には比較的低い搬送速度が選ばれる。 As described above, when the substrate G arrives at the set position in the coating area M 3 , that is, stops at the coating scanning start position, the nozzle lifting mechanism 75 is operated under the control of the controller 200 to lower the registration nozzle 78 vertically downward. The distance between the nozzle discharge port 78a and the substrate G or the coating gap is adjusted to the initial value (for example, 60 μm). Then, as shown in FIG. 17, the liquid film RF of the resist solution adhering to the discharge port of the resist nozzle 78 and the lower end of the back surface adheres to the substrate G so as to block the application gap of the set size d in a bead shape ( Liquid). Next, at the same time as the resist solution supply mechanism 95 (FIG. 13) starts to discharge the resist solution R, the substrate transport section 84 also starts the second stage substrate transport, while the nozzle lifting mechanism 75 moves the resist nozzle 78 over the coating gap. The substrate G is raised until it reaches a set value S A (for example, 240 μm), and then the substrate G is moved horizontally. A relatively low transport speed is selected for this second stage, that is, substrate transport during coating.

こうして、塗布領域M3内において、基板Gが水平姿勢で搬送方向(X方向)に一定速度で移動するのと同時に、長尺形のレジストノズル78が直下の基板Gに向けてレジスト液Rを帯状に吐出することにより、図18に示すように基板Gの前端側から後端側に向かってレジスト液の塗布膜RMが形成されていく。上記のように塗布処理の開始直前に塗布ギャップをレジスト液のビードで隙間なく塞いでおくことにより、塗布走査においてレジストノズル78の背面78b下部に形成されるレジスト液のメニスカスRQを水平一直線に揃え、塗布ムラのない平坦なレジスト塗布膜RMを形成することができる。 Thus, in the coating region M 3 , the substrate G moves at a constant speed in the transport direction (X direction) in a horizontal posture, and at the same time, the long resist nozzle 78 applies the resist solution R toward the substrate G immediately below. By discharging in a strip shape, a resist coating film RM is formed from the front end side to the rear end side of the substrate G as shown in FIG. As described above, the coating gap is closed with a bead of the resist solution without any gap immediately before the start of the coating process, so that the meniscus RQ of the resist solution formed at the lower portion of the back surface 78b of the resist nozzle 78 in the coating scan is aligned in a horizontal straight line. A flat resist coating film RM without coating unevenness can be formed.

塗布領域M3で上記のような塗布処理が済むと、つまり基板Gの後端部がレジストノズル78の直下を過ぎると、レジスト液供給機構95がレジストノズル78からのレジスト液Rの吐出を終了させる。これと同時に、ノズル昇降機構75がレジストノズル78を垂直上方に持ち上げて基板Gから退避させる。一方、基板搬送部84は搬送速度の比較的大きい第3段階の基板搬送に切り替える。そして、基板Gが搬出領域M5内の搬送終点位置に着くと、基板搬送部84は第3段階の基板搬送を停止する。この直後に、パッド吸着制御部115が吸着パッド104に対するバキュームの供給を止め、これと同時にパッドアクチエータ109が吸着パッド104を往動位置(結合位置)から原位置(退避位置)へ下ろし、基板Gの両側端部から吸着パッド104を分離させる。この時、パッド吸着制御部115は吸着パッド104に正圧(圧縮空気)を供給し、基板Gからの分離を速める。代わって、リフトピン92が基板Gをアンローディングするためにステージ下方の原位置からステージ上方の往動位置へ上昇する。 When the above-described coating process is completed in the coating region M 3 , that is, when the rear end portion of the substrate G passes just below the resist nozzle 78, the resist solution supply mechanism 95 finishes discharging the resist solution R from the resist nozzle 78. Let At the same time, the nozzle lifting mechanism 75 lifts the resist nozzle 78 vertically upward and retracts it from the substrate G. On the other hand, the substrate transport unit 84 switches to the third stage substrate transport with a relatively high transport speed. When the substrate G arrives at the conveying end position in the unloading area M 5, the substrate conveying unit 84 to stop the substrate carrying the third stage. Immediately after this, the pad suction control unit 115 stops the supply of vacuum to the suction pad 104, and at the same time, the pad actuator 109 lowers the suction pad 104 from the forward movement position (coupling position) to the original position (retraction position), and the substrate The suction pad 104 is separated from both end portions of G. At this time, the pad suction control unit 115 supplies positive pressure (compressed air) to the suction pad 104 to speed up the separation from the substrate G. Instead, the lift pins 92 rise from the original position below the stage to the forward movement position above the stage in order to unload the substrate G.

しかる後、搬出領域M5に搬出機つまり搬送アーム74がアクセスし、リフトピン92から基板Gを受け取ってステージ76の外へ搬出する。基板搬送部84は、基板Gをリフトピン92に渡したなら直ちに搬入領域M1へ高速度で引き返す。搬出領域M5で上記のように処理済の基板Gが搬出される頃に、搬入領域M1では次に塗布処理を受けるべき新たな基板Gについて搬入、アライメントないし搬送開始が行われる。また、レジストノズル78はノズル昇降機構75およびノズル水平移動機構77によりノズル待機部170のプライミング処理部172へ移され、そこで上記のようなプライミング処理を受ける。 Thereafter, the unloader, that is, the transfer arm 74 accesses the unloading area M 5 , receives the substrate G from the lift pins 92, and unloads it out of the stage 76. The substrate transport unit 84 immediately returns the substrate G to the loading region M 1 at a high speed when the substrate G is transferred to the lift pins 92. When the processed substrate G is unloaded as described above in the unloading area M 5 , loading, alignment, or transfer start is performed on the new substrate G to be subjected to the next coating process in the loading area M 1 . Further, the resist nozzle 78 is moved to the priming processing unit 172 of the nozzle standby unit 170 by the nozzle lifting mechanism 75 and the nozzle horizontal moving mechanism 77, and receives the priming process as described above.

以下、図19〜図22につき、この実施形態におけるプライミング処理部172の構成および作用を詳細に説明する。   Hereinafter, the configuration and operation of the priming processing unit 172 in this embodiment will be described in detail with reference to FIGS.

図19に、プライミング処理部172の構成を示す。なお、図解の便宜を図る目的から、プライミングローラ188を回転駆動するためのプライミングローラ回転機構192(図12)は、図19の中で図示省略されている。   FIG. 19 shows the configuration of the priming processing unit 172. For the convenience of illustration, the priming roller rotating mechanism 192 (FIG. 12) for rotating the priming roller 188 is not shown in FIG.

このプライミング処理部172において、ハウジング190は、上面にスリット状の開口190aを有するたとえばステンレス鋼またはアルミニウム製の筐体からなり、プライミングローラ188をその頂部が開口190aから上に露出するように軸受(図示せず)等を介して水平かつ回転可能に支持している。   In this priming processing section 172, the housing 190 is made of, for example, a stainless steel or aluminum casing having a slit-like opening 190a on the upper surface, and the priming roller 188 is a bearing (the top of which is exposed above the opening 190a). (Not shown) and the like are supported horizontally and rotatably.

ハウジング190内には、プライミングローラ188の上端から下端まで正の回転方向(図19では時計回り)に沿って向う途中にミスト遮蔽板202および洗浄部204が設けられている。   In the housing 190, a mist shielding plate 202 and a cleaning unit 204 are provided on the way from the upper end to the lower end of the priming roller 188 along the positive rotation direction (clockwise in FIG. 19).

洗浄部204は、好ましくはプライミングローラ188の上端から下端に向って回転角90°〜180°の範囲内に配置されてよく、洗浄ノズルとして長尺状の2流体ジェットノズル206を備えている。この2流体ジェットノズル206は、プライミングローラ188の全長をカバーする長さでそれと平行に配置され、洗浄液供給部208およびガス供給部210より配管212,214を介してそれぞれ洗浄液(たとえばシンナー)およびガス(たとえばエアまたは窒素ガス)を所望の圧力で受け取り、ノズル内で洗浄液とガスとを混合してスリットまたは多孔型の吐出口よりジェット流でプライミングローラ188の表面に対してほぼ垂直に噴き付けるように構成されている。ミスト遮蔽板202は、洗浄部204よりも上流側の位置つまり上方で、ハウジング190の内壁からプライミングローラ188に向って水平に延在し、その先端がプライミングローラ188の表面と接触しない程度の僅かな隙間を形成している。   The cleaning unit 204 may be preferably disposed within a range of a rotation angle of 90 ° to 180 ° from the upper end to the lower end of the priming roller 188, and includes a long two-fluid jet nozzle 206 as a cleaning nozzle. The two-fluid jet nozzle 206 has a length that covers the entire length of the priming roller 188 and is disposed in parallel therewith, and is supplied with cleaning liquid (for example, thinner) and gas from the cleaning liquid supply unit 208 and the gas supply unit 210 via pipes 212 and 214, respectively. (For example, air or nitrogen gas) is received at a desired pressure, and the cleaning liquid and the gas are mixed in the nozzle and jetted substantially perpendicularly to the surface of the priming roller 188 from the slit or the porous discharge port by a jet flow. It is configured. The mist shielding plate 202 extends horizontally from the inner wall of the housing 190 toward the priming roller 188 at a position upstream of the cleaning unit 204, that is, slightly above the tip of the mist shielding plate 202 so as not to contact the surface of the priming roller 188. Gaps are formed.

ハウジング190内には、プライミングローラ188からみて上記ミスト遮蔽板202および洗浄部204とは反対側に、ミスト引き込み部222および乾燥部224も設けられている。   In the housing 190, a mist pull-in part 222 and a drying part 224 are also provided on the side opposite to the mist shielding plate 202 and the cleaning part 204 when viewed from the priming roller 188.

ミスト引き込み部222は、プライミングローラ188の下端から上端まで回転方向に沿って向う途中の略中間位置に設けられた吸引口226から回転方向とは反対の方向(反時計回り)にプライミングローラ188の下端の手前まで延びる湾曲カバー228を有しており、この湾曲カバー228の内側面とプライミングローラ188の表面との間にミスト引き込み用の隙間230を形成している。乾燥部224は、上記吸引口226とハウジング190の天井との間の空間を埋めるブロック232を有しており、このブロック232の一側面とプライミングローラ188の表面との間に液切り用の隙間234を形成している。ブロック232の材質は耐薬性にすぐれた樹脂たとえばテフロン(登録商標)が好ましい。   The mist pull-in portion 222 is formed by the priming roller 188 in a direction opposite to the rotation direction (counterclockwise) from the suction port 226 provided at a substantially intermediate position along the rotation direction from the lower end to the upper end of the priming roller 188. A curved cover 228 extending to the front of the lower end is provided, and a mist pulling gap 230 is formed between the inner surface of the curved cover 228 and the surface of the priming roller 188. The drying unit 224 includes a block 232 that fills a space between the suction port 226 and the ceiling of the housing 190, and a gap for liquid drainage is provided between one side surface of the block 232 and the surface of the priming roller 188. 234 is formed. The material of the block 232 is preferably a resin having excellent chemical resistance, such as Teflon (registered trademark).

吸引口226はバキューム通路236およびバキューム管238を介してたとえば真空ポンプまたは吸気ファン(図示せず)およびミストトラップまたはフィルタ等を有するバキューム機構240に通じている。このバキューム機構240がオン(排気動作)している時にミスト引き込み部222および乾燥部224がそれぞれ作動し、ミスト引き込み用の隙間230および液切り用の隙間234に外から吸気口226に向ってミスト引き込み用の気流および液切り用の気流がそれぞれ流れるようになっている。   The suction port 226 communicates with a vacuum mechanism 240 having, for example, a vacuum pump or an intake fan (not shown) and a mist trap or a filter through a vacuum passage 236 and a vacuum pipe 238. When the vacuum mechanism 240 is on (exhaust operation), the mist drawing section 222 and the drying section 224 are operated, and the mist drawing gap 230 and the liquid draining gap 234 are moved from the outside toward the intake port 226. An air flow for drawing and an air flow for draining flow, respectively.

ハウジング190の底面は下に向ってテーパ状に形成され、最下端にドレイン口242が形成されている。このドレイン口242は排液管244を介してドレインタンク246に通じている。   The bottom surface of the housing 190 is tapered downward, and a drain port 242 is formed at the lowermost end. The drain port 242 communicates with the drain tank 246 through the drain pipe 244.

プライミング処理制御部216は局所コントローラであり、メインのコントローラ200(図13)の指示の下で、プライミング処理部172内の各部、つまり洗浄液供給部208、ガス供給部210、排気機構240およびプライミングローラ回転機構192(図12)を直接制御する。特に、洗浄液供給部208およびガス供給部210については、配管212,214の途中に設けられる開閉弁218,220のオン・オフ制御を行うだけでなく、洗浄液供給部208より送出される洗浄液の圧力およびガス供給部210より送出されるガスの圧力を個別に制御できるようになっている。   The priming processing control unit 216 is a local controller, and under the instruction of the main controller 200 (FIG. 13), each unit in the priming processing unit 172, that is, the cleaning liquid supply unit 208, the gas supply unit 210, the exhaust mechanism 240, and the priming roller The rotation mechanism 192 (FIG. 12) is directly controlled. In particular, for the cleaning liquid supply unit 208 and the gas supply unit 210, not only the on / off control of the on-off valves 218 and 220 provided in the pipes 212 and 214 is performed, but also the pressure of the cleaning liquid sent from the cleaning liquid supply unit 208 In addition, the pressure of the gas delivered from the gas supply unit 210 can be individually controlled.

次に、このプライミング処理部172における作用を説明する。上述したように、ステージ76上で1回の塗布処理が終了する度毎に次の塗布処理の下準備としてプライミング処理部172でプライミング処理が行われる、このプライミング処理では、図14〜図16につき上述したように、レジストノズル78の吐出口78aとプライミングローラ188の上端とを所定のギャップを隔てて対向させ、レジストノズル78よりレジスト液Rを吐出させ、次いでプライミングローラ188を所定の回転角だけ回転させて、プライミングローラ188の頂上付近に吐出されたレジスト液Rをノズル背面78b側に回り込ませるようにしてプライミングローラ188の表面または周面に巻き取る。この1回分のプライミング処理に供されるプライミングローラ188の表面領域は、ローラ径を大きくすることで1/4周(90°)以下で済ますこともできる。   Next, the operation of the priming processing unit 172 will be described. As described above, every time one coating process is completed on the stage 76, the priming processing unit 172 performs the priming process as a preparation for the next coating process. In this priming process, FIGS. As described above, the discharge port 78a of the resist nozzle 78 and the upper end of the priming roller 188 are opposed to each other with a predetermined gap, the resist liquid R is discharged from the resist nozzle 78, and then the priming roller 188 is moved by a predetermined rotation angle. The resist liquid R discharged near the top of the priming roller 188 is wound around the surface or peripheral surface of the priming roller 188 so as to wrap around the nozzle back surface 78b. The surface area of the priming roller 188 subjected to this one-time priming process can be reduced to 1/4 or less (90 °) by increasing the roller diameter.

このプライミング処理部172においては、好適な一実施例として、図20に示すように、洗浄部204、ミスト引き込み部222、乾燥部224の各動作を全て止めたまま複数回たとえば3回のプライミング処理が行われる。図20において、(1)、(2)、(3)は各回のプライミング処理を段階的に示す図であり、図14、図15および図16にそれぞれ対応している。   In this priming processing unit 172, as a preferred embodiment, as shown in FIG. 20, the priming processing is performed a plurality of times, for example, three times while all the operations of the cleaning unit 204, the mist drawing unit 222, and the drying unit 224 are stopped. Is done. 20, (1), (2), and (3) are diagrams showing the priming process of each time step by step, and correspond to FIGS. 14, 15, and 16, respectively.

より詳細には、1回目のプライミング処理では、洗浄直後の全周に亘って清浄なプライミングローラ188にレジストノズル78からのレジスト液Rを巻き取り、それが終了した時点でプライミングローラ188にはその上端から回転方向に約0°〜120°の範囲内の外周領域に(巻き取った)レジスト液の液膜RK1が形成される。 More specifically, in the first priming process, the resist solution R from the resist nozzle 78 is wound around the clean priming roller 188 over the entire circumference immediately after cleaning, and when the priming roller 188 is finished, A liquid film RK 1 of the resist solution is formed (wound up) in the outer peripheral region within the range of about 0 ° to 120 ° in the rotation direction from the upper end.

次いで、2回目のプライミング処理は、プライミングローラ188において上記一つ目のレジスト液膜RK1に対して円周方向に所定角度だけ下流側にオフセットした空きの外周領域を使用して、レジストノズル78からのレジスト液Rを巻き取る。その結果、2回目のプライミング処理が終了すると、プライミングローラ188にはその上端から回転方向に沿って約0°〜120°の範囲内の外周領域に2つ目のレジスト液膜RK2が形成され、一つ目のレジスト液膜RK1はプライミングローラ188の上端から回転方向に約120°〜240°の範囲内の位置まで回転移動する。 Next, in the second priming process, a resist nozzle 78 uses a vacant outer peripheral region offset by a predetermined angle in the circumferential direction with respect to the first resist liquid film RK 1 in the priming roller 188. The resist solution R from is wound up. As a result, when the second priming process is completed, the second resist liquid film RK 2 is formed on the priming roller 188 in the outer peripheral region within the range of about 0 ° to 120 ° along the rotation direction from the upper end thereof. The first resist liquid film RK 1 rotates from the upper end of the priming roller 188 to a position in the range of about 120 ° to 240 ° in the rotation direction.

同様にして、3回目のプライミング処理は、プライミングローラ188において2回目のレジスト液膜RK2に対して円周方向に所定角度だけ下流側にオフセットした空きの外周領域を使用して、レジストノズル78からのレジスト液Rを巻き取る。その結果、3回目のプライミング処理が終了した時点で、プライミングローラ188にはその上端から回転方向に沿って約0°〜120°の範囲内の外周領域に三つ目のレジスト液膜RK3が形成され、二つ目のレジスト液膜RK2はプライミングローラ188の上端から回転方向に約120°〜240°の範囲内の位置に回転移動し、一つ目のレジスト液膜RK1はプライミングローラ188の上端から回転方向に約240°〜360°の範囲内の位置に回転移動する。 Similarly, the third priming process uses a vacant outer peripheral region offset by a predetermined angle in the circumferential direction with respect to the second resist liquid film RK 2 in the priming roller 188, and uses the resist nozzle 78. The resist solution R from is wound up. As a result, when the third priming process is completed, the third resist liquid film RK 3 is formed on the priming roller 188 in the outer peripheral region within the range of about 0 ° to 120 ° along the rotational direction from the upper end thereof. The second resist liquid film RK 2 is rotated and moved from the upper end of the priming roller 188 to a position within a range of about 120 ° to 240 ° in the rotational direction, and the first resist liquid film RK 1 is moved to the priming roller. 188 rotates from the upper end of 188 to a position in the range of about 240 ° to 360 ° in the rotational direction.

そして、3回目のプライミング処理が終了すると、メインのコントローラ200(図13)からの指示を受けてプライミング処理制御部216がプライミング処理部172内の各部を制御して一括洗浄処理を実行する。   When the third priming process is completed, the priming process control unit 216 controls each part in the priming process unit 172 and executes a batch cleaning process in response to an instruction from the main controller 200 (FIG. 13).

この一括洗浄処理では、プライミングローラ回転機構192(図12)が、プライミングローラ188をプライミング処理時よりも高い一定の回転速度で連続回転させる。   In this batch cleaning process, the priming roller rotating mechanism 192 (FIG. 12) continuously rotates the priming roller 188 at a constant rotational speed higher than that during the priming process.

また、洗浄部204は、開閉弁218,220を開け、洗浄液供給部208およびガス供給部210より所定の圧力で洗浄液およびエアをそれぞれ2流体ジェットノズル206に供給し、2流体ジェットノズル206より混合された洗浄液およびエアをジェット流でプライミングローラ188の表面または外周に全周に亘って噴き付ける。この2流体ジェット流の強い衝撃力により、プライミングローラ188の3分割された部分表面領域内に付いていた各レジスト液膜RK1,RK2,RK3は効率よく十全に洗い落とされ、その多くは洗浄液に混じって直下のドレイン口242へ落下し、残りはミストmaに変じて付近に飛散する。こうして一括洗浄中に洗浄部204付近で発生するミストmaのうち上方へ舞い上がったものは、遮蔽板202に遮られ、ハウジング190の開口部190a側に出ることはほとんどない。 The cleaning unit 204 opens the on-off valves 218 and 220, supplies cleaning liquid and air to the two-fluid jet nozzle 206 from the cleaning liquid supply unit 208 and the gas supply unit 210, respectively, and mixes them from the two-fluid jet nozzle 206. The cleaned cleaning liquid and air are sprayed over the entire surface of the priming roller 188 by the jet flow. Due to the strong impact force of the two-fluid jet flow, the resist liquid films RK 1 , RK 2 , and RK 3 attached in the three-part partial surface region of the priming roller 188 are efficiently and thoroughly washed away. Most of them are mixed with the cleaning liquid and fall to the drain port 242 immediately below, and the rest are changed to mist ma and scattered in the vicinity. Thus, the mist ma generated in the vicinity of the cleaning unit 204 during the collective cleaning soars upward is blocked by the shielding plate 202 and hardly comes out to the opening 190a side of the housing 190.

一方で、バキューム機構240がオンして、バキューム機構240からのバキュームがバキューム管238、バキューム通路236および吸引口226を介してミスト引き込み部222および乾燥部224に供給される。これにより、ミスト引き込み部222は、洗浄部204付近で発生するミストmaを湾曲カバー228の下端開口に引き寄せて隙間230の中に吸い込み、隙間230の中でミストmaをプライミングローラ188の外周面に沿って回転方向に流し、隙間230の上端から吸引口226に出たミストmaをバキューム機構240へ送る。   On the other hand, the vacuum mechanism 240 is turned on, and the vacuum from the vacuum mechanism 240 is supplied to the mist drawing unit 222 and the drying unit 224 via the vacuum pipe 238, the vacuum passage 236 and the suction port 226. As a result, the mist pulling unit 222 draws the mist ma generated near the cleaning unit 204 to the lower end opening of the curved cover 228 and sucks it into the gap 230, and the mist ma in the gap 230 on the outer peripheral surface of the priming roller 188. The mist ma that has flowed in the rotation direction along the upper side of the gap 230 and that has exited the suction port 226 is sent to the vacuum mechanism 240.

また、乾燥部224は、ブロック232の一側面とプライミングローラ188の表面との間に形成される隙間234の中に上方の大気空間よりエアを吸い込んで、隙間234の中でエアをプライミングローラ188の外周に沿って回転方向と逆向きに流し、プライミングローラ188の外周面に残っている液をエアの圧力で削ぎ落として液滴化し、隙間234の下端から吸引口226に出たミストmbをバキューム機構240へ送る。このように、バキュームを利用してプライミングローラ188の外周面に対して回転方向と逆向きのエア流を当てて液切りし、その液切りで発生したミストmbをそのままバキュームで回収するので、乾燥効率が高いうえミストの飛散を防止することができる。   Further, the drying unit 224 sucks air from the upper atmospheric space into a gap 234 formed between one side surface of the block 232 and the surface of the priming roller 188, and the air is supplied into the gap 234 from the priming roller 188. The liquid remaining on the outer peripheral surface of the priming roller 188 is scraped off by air pressure to form droplets, and the mist mb from the lower end of the gap 234 to the suction port 226 is removed. Send to vacuum mechanism 240. In this way, the vacuum is used to drain the liquid by applying an air flow in the direction opposite to the rotation direction to the outer peripheral surface of the priming roller 188, and the mist mb generated by the liquid draining is recovered by the vacuum as it is, so that it is dried. It is highly efficient and can prevent mist from scattering.

上記のような一括洗浄処理を開始してから所定時間が経過すると、プライミング処理制御部216は洗浄部204による2流体ジェット洗浄を止める。その後は、プライミングローラ188を連続回転させたままミスト引き込み部222および乾燥部224に各動作を継続させ、プライミングローラ188の表面を全周に亘って乾かす乾燥処理を実行する。そして、所定時間の経過後にバキューム機構240をオフにして乾燥処理を停止し、これで一括洗浄処理の全工程を終了する。   When a predetermined time elapses after the batch cleaning process as described above is started, the priming process control unit 216 stops the two-fluid jet cleaning by the cleaning unit 204. Thereafter, while the priming roller 188 is continuously rotated, the mist drawing unit 222 and the drying unit 224 are continuously operated to perform a drying process for drying the surface of the priming roller 188 over the entire circumference. Then, after a predetermined time has elapsed, the vacuum mechanism 240 is turned off to stop the drying process, and all the steps of the batch cleaning process are completed.

このように、この実施形態のプライミング処理部172は、1回のプライミング処理のためにレジストノズル78に所定量のレジスト液Rを吐出させるとともにプライミングローラ回転機構192によりプライミングローラ188を120°以内の所定の回転角だけ回転させて、プライミングローラ188の1/3周以下の表面領域を当該プライミング処理に使用し、連続した3回のプライミング処理が終了した後にプライミングローラ回転機構192によりプライミングローラ188を連続回転させながら洗浄部204および乾燥部224を作動させてプライミングローラ188の表面を全周に亘ってまとめて洗浄するようにしている。プライミングローラ188の表面からレジスト液膜RKをこすげ落とすためにスクレーパを用いることはしていない。かかる構成または方式により、プライミング処理後の洗浄処理で消費する洗浄液を大幅に節減できるとともに、洗浄処理の際にパーティクルを発生させることもない。   As described above, the priming processing unit 172 of this embodiment causes the resist nozzle 78 to discharge a predetermined amount of the resist solution R for one priming process, and the priming roller rotating mechanism 192 moves the priming roller 188 within 120 °. The surface area of the priming roller 188 is rotated by a predetermined rotation angle and used for the priming process. After three consecutive priming processes, the priming roller 188 is moved by the priming roller rotating mechanism 192. While continuously rotating, the cleaning unit 204 and the drying unit 224 are operated to clean the surface of the priming roller 188 all around. A scraper is not used to scrape off the resist liquid film RK from the surface of the priming roller 188. With this configuration or method, the cleaning liquid consumed in the cleaning process after the priming process can be greatly reduced, and particles are not generated during the cleaning process.

上述した実施例ではプライミングローラ188の外周面を円周方向に沿って3つの領域に分割してそれら3つの表面領域上で連続3回のプライミング処理を行った後に一括洗浄処理を行ったが、連続2回のプライミング処理の後、あるいは連続4回以上のプライミング処理の後に一括洗浄処理を行うことも可能である。   In the above-described embodiment, the outer peripheral surface of the priming roller 188 is divided into three regions along the circumferential direction, and after performing the priming process three times continuously on the three surface regions, the collective cleaning process is performed. It is also possible to perform a batch cleaning process after two consecutive priming processes or after four or more consecutive priming processes.

また、一変形例として、一括洗浄処理とは別に各巻き取りレジスト液膜RKについて個別的な仮洗浄(部分洗浄)処理を行うことも可能である。たとえば、図22において、1回目のプライミング処理が終了した時点では、(A)に示すように、プライミングローラ188にはその上端から回転方向に約0・〜120・の範囲内の外周領域に巻き取りレジスト液の液膜RK1が形成される。この直後に、(B)に示すように、プライミングローラ回転機構192によりプライミングローラ188を正方向に所定回転角だけ回転させるとともに洗浄部204およびミスト引き込み部222を作動させて、プライミングローラ188上の巻き取りレジスト液膜RK1に2流体ジェット洗浄による仮洗浄(部分洗浄)処理を施す。
Further, as a modification, separate temporary cleaning (partial cleaning) processing can be performed on each winding resist liquid film RK separately from the batch cleaning processing. For example, in FIG. 22, when the first priming process is completed, as shown in FIG. 22A, the priming roller 188 is wound around the outer peripheral area within the range of about 0.about.120.times. A liquid film RK 1 of the resist solution is formed. Immediately after this, as shown in (B), the priming roller rotating mechanism 192 rotates the priming roller 188 by a predetermined rotation angle in the forward direction and operates the cleaning unit 204 and the mist pulling unit 222 so that The winding resist liquid film RK 1 is subjected to a temporary cleaning (partial cleaning) process by two-fluid jet cleaning.

この仮洗浄(部分洗浄)処理においては、洗浄液供給部208およびガス供給部210を制御して、2流体ジェットノズル206より噴出される洗浄液およびエアのそれぞれの圧力または両圧力の比を一括洗浄処理時とは異なる値に設定してよく、通常は洗浄液の圧力をエアの圧力よりも相対的に大きくし、かつジェット流全体の圧力を小さくするのが好ましい。こうして、プライミングローラ188上のレジスト液膜RK1に2流体ジェットノズル206より比較的低い圧力で洗浄液をスプレー状に吹きかけることにより、それほどミストを発生することなくレジスト液膜RK1の一部を洗い落とすことが可能であり、あるいはレジスト液膜RK1の乾燥固化を防止するだけでも後工程の一括洗浄処理の負担を軽減する上で十分大きな効果が得られる。この仮洗浄(部分洗浄)処理を終えた後は、図22の(C)に示すように、プライミングローラ188を逆回転させてレジスト液膜RK1の付いている表面領域を仮洗浄(部分洗浄)処理の前の位置またはその付近の位置へ戻しておく。
In this temporary cleaning (partial cleaning) process, the cleaning liquid supply unit 208 and the gas supply unit 210 are controlled so that the respective pressures of the cleaning liquid and air ejected from the two-fluid jet nozzle 206 or the ratio of both pressures are collectively cleaned. It may be set to a value different from the time, and it is usually preferable to make the pressure of the cleaning liquid relatively larger than the pressure of air and make the pressure of the entire jet flow small. In this way, by spraying the cleaning liquid on the resist liquid film RK 1 on the priming roller 188 at a pressure lower than that of the two-fluid jet nozzle 206 in a spray form, a part of the resist liquid film RK 1 is washed out without generating much mist. It is possible to obtain a sufficiently large effect in reducing the burden of the collective cleaning process in the subsequent process only by preventing the resist liquid film RK 1 from being dried and solidified. After the temporary cleaning (partial cleaning) process, as shown in FIG. 22C, the priming roller 188 is rotated in the reverse direction to temporarily clean the surface region with the resist liquid film RK 1 (partial cleaning). ) Return to the position before or near the process.

2回目のプライミング処理によってプライミングローラ188の二つ目の部分的表面領域に形成される二つ目のレジスト液膜RK2についても上記と同様の仮洗浄(部分洗浄)処理を施すことができる。さらに、3回目のプライミング処理によってプライミングローラ188の三つ目の部分的表面領域に形成される三つ目のレジスト液膜RK3についても上記と同様の仮洗浄(部分洗浄)処理を行ってもよいが、この3回目は直後の一括洗浄処理で済ますことが可能であり、仮洗浄(部分洗浄)処理を省くことができる。 A temporary cleaning (partial cleaning) process similar to the above can also be performed on the second resist liquid film RK 2 formed in the second partial surface region of the priming roller 188 by the second priming process. Further, the third resist liquid film RK 3 formed on the third partial surface region of the priming roller 188 by the third priming process may be subjected to the same temporary cleaning (partial cleaning) process as described above. Although it is good, the third cleaning can be performed immediately after the batch cleaning, and the preliminary cleaning (partial cleaning) can be omitted.

以上本発明を好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その技術思想の範囲内で種々の変形が可能である。たとえば、洗浄部204に複数本の洗浄ノズルを設けて、それらの洗浄ノズルを同時または選択的に使用することも可能である。また、上記した実施形態ではミスト引き込み部222および乾燥部224を共通の排気口226を介して一体的に構成したが、互いに分離独立した構成とすることも可能である。また、本発明のプライミング処理方法および装置は上記実施形態のような浮上搬送方式のスピンレス塗布法への適用に限定されるものではない。載置型のステージ上に基板を水平に固定載置して、基板上方で長尺形レジストノズルをノズル長手方向と直交する水平方向に移動させながら基板上にレジスト液を帯状に吐出させて塗布する方式のスピンレス塗布法にも適用可能である。   The preferred embodiments of the present invention have been described above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made within the scope of the technical idea. For example, a plurality of cleaning nozzles may be provided in the cleaning unit 204, and these cleaning nozzles may be used simultaneously or selectively. Further, in the above-described embodiment, the mist pulling unit 222 and the drying unit 224 are integrally configured via the common exhaust port 226, but may be configured to be separated and independent from each other. Further, the priming processing method and apparatus of the present invention are not limited to application to the levitation transport spinless coating method as in the above embodiment. A substrate is fixedly mounted horizontally on a mounting stage, and a resist solution is discharged onto the substrate in a strip shape while the long resist nozzle is moved in the horizontal direction perpendicular to the longitudinal direction of the nozzle above the substrate. It can also be applied to the spinless coating method.

本発明における処理液としては、レジスト液以外にも、たとえば層間絶縁材料、誘電体材料、配線材料等の塗布液も可能であり、現像液やリンス液等も可能である。本発明における被処理基板はLCD基板に限らず、他のフラットパネルディスプレイ用基板、半導体ウエハ、CD基板、フォトマスク、プリント基板等も可能である。   In addition to the resist solution, for example, a coating solution such as an interlayer insulating material, a dielectric material, and a wiring material can be used as the processing solution in the present invention, and a developing solution, a rinsing solution, and the like are also possible. The substrate to be processed in the present invention is not limited to an LCD substrate, and other flat panel display substrates, semiconductor wafers, CD substrates, photomasks, printed substrates and the like are also possible.

本発明の適用可能な塗布現像処理システムの構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the application | coating development processing system which can apply this invention. 上記塗布現像処理システムにおける処理手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process sequence in the said application | coating development processing system. 上記塗布現像処理システムにおけるレジスト塗布ユニットおよび減圧乾燥ユニットの全体構成を示す略平面図である。It is a schematic plan view showing the entire configuration of a resist coating unit and a vacuum drying unit in the coating and developing treatment system. 上記レジスト塗布ユニットの全体構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the whole structure of the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットの全体構成を示す略正面図である。It is a schematic front view which shows the whole structure of the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニット内のステージ塗布領域における噴出口と吸入口の配列パターンの一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the array pattern of the jet nozzle and suction inlet in the stage application | coating area | region in the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットにおける基板搬送部の構成を示す一部断面略側面図である。It is a partial cross section schematic side view which shows the structure of the board | substrate conveyance part in the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットにおける基板搬送部の保持部の構成を示す拡大断面図である。It is an expanded sectional view which shows the structure of the holding | maintenance part of the board | substrate conveyance part in the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットにおける基板搬送部のパッド部の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the pad part of the board | substrate conveyance part in the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットにおける基板搬送部の保持部の一変形例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows one modification of the holding | maintenance part of the board | substrate conveyance part in the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットにおけるノズル昇降機構、圧縮空気供給機構およびバキューム供給機構の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the nozzle raising / lowering mechanism, compressed air supply mechanism, and vacuum supply mechanism in the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットにおけるノズル待機部の構成を示す一部断面側面図である。It is a partial cross section side view which shows the structure of the nozzle standby part in the said resist application unit. 上記レジスト塗布ユニットにおける制御系の主要な構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the main structures of the control system in the said resist application unit. 一実施形態によるプライミング処理部におけるプライミング処理の一段階を示す一部断面側面図である。It is a partial cross section side view which shows one step of the priming process in the priming process part by one Embodiment. 一実施形態によるプライミング処理部におけるプライミング処理の一段階を示す一部断面側面図である。It is a partial cross section side view which shows one step of the priming process in the priming process part by one Embodiment. 一実施形態によるプライミング処理部におけるプライミング処理の一段階を示す一部断面側面図である。It is a partial cross section side view which shows one step of the priming process in the priming process part by one Embodiment. 長尺形のレジストノズルをプライミング処理後に基板上の塗布開始位置に降ろしたときの着液状態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows a liquid landing state when a long resist nozzle is lowered | hung to the application | coating start position on a board | substrate after a priming process. 実施形態において塗布走査開始部に形成されるレジスト塗布膜の膜厚状態を示す一部断面側面図である。It is a partial cross section side view which shows the film thickness state of the resist coating film formed in the application | coating scanning start part in embodiment. 実施形態のプライミング処理部の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the priming process part of embodiment. 実施形態のプライミング処理部における連続プライミング処理の作用を説明するための略側面図である。It is a schematic side view for demonstrating the effect | action of the continuous priming process in the priming process part of embodiment. 実施形態のプライミング処理部における一括洗浄処理の作用を説明するための部分拡大断面図である。It is a partial expanded sectional view for demonstrating the effect | action of the package cleaning process in the priming process part of embodiment. 実施形態のプライミング処理部における仮洗浄処理の作用を説明するための略側面図である。It is a schematic side view for demonstrating the effect | action of the temporary washing process in the priming process part of embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

40 レジスト塗布ユニット(CT)
75 ノズル昇降機構
76 ステージ
78 レジストノズル
78a 吐出口
84 基板搬送部
95 レジスト液供給機構
172 プライミング処理部
188 プライミングローラ
190 ハウジング
200 コントローラ
202 遮蔽板
204 洗浄部
206 2流体ジェットノズル
208 洗浄液供給部
210 ガス供給部
216 プライミング処理制御部
222 ミスト引きこみ部
224 乾燥部
226 排気口
228 湾曲カバー
230 ミスト引き込み用隙間
232 ブロック
234 液切り用隙間
236 排気路
238 排気管
240 排気機構
242 ドレイン口
40 resist coating unit (CT)
75 Nozzle lifting mechanism 76 Stage 78 Resist nozzle 78a Discharge port 84 Substrate transport unit 95 Resist liquid supply mechanism 172 Priming processing unit 188 Priming roller 190 Housing 200 Controller
202 Shielding plate 204 Cleaning unit 206 2 Fluid jet nozzle 208 Cleaning liquid supply unit 210 Gas supply unit 216 Priming processing control unit 222 Mist drawing unit 224 Drying unit 226 Exhaust port 228 Curved cover 230 Mist pulling gap 232 Block 234 Liquid cutting gap 236 Exhaust path 238 Exhaust pipe 240 Exhaust mechanism 242 Drain port

Claims (21)

スピンレス法の塗布処理に用いる長尺形ノズルの吐出口付近に塗布処理の下準備として処理液の液膜を形成するためのプライミング処理方法であって、
1回のプライミング処理のために、前記ノズルの吐出口と円柱または円筒形のプライミングローラの上端とを所定のギャップを隔てて平行に対向させ、前記ノズルより所定の処理液を吐出させるとともに前記プライミングローラを所定の回転角だけ回転させて、前記プライミングローラの半周以下の部分的表面領域を当該プライミング処理に使用する第1の工程と、
連続した所定回数のプライミング処理が終了した後に前記プライミングローラの表面を全周に亘ってまとめて洗浄する第2の工程と
を有するプライミング処理方法。
A priming processing method for forming a liquid film of a processing liquid as a preparation for coating processing in the vicinity of a discharge port of a long nozzle used for spinless coating processing,
For a single priming process, the discharge port of the nozzle and the upper end of a cylindrical or cylindrical priming roller face each other in parallel with a predetermined gap to discharge a predetermined processing liquid from the nozzle and the priming A first step of rotating a roller by a predetermined rotation angle, and using a partial surface area equal to or less than a half circumference of the priming roller for the priming process;
And a second step of cleaning the entire surface of the priming roller after the predetermined number of continuous priming processes have been completed.
前記第2の工程が、
前記プライミングローラを一定の回転速度で連続回転させながら前記プライミングローラの表面に所定位置で洗浄液を噴き付けると同時に別の所定位置で液切り用のエア流を当てる主洗浄工程と、
前記プライミングローラを一定の回転速度で連続回転させながら前記プライミングローラの表面に洗浄液を噴き付けずに所定位置で液切り用のエア流を当てる主乾燥工程と
を含む請求項1に記載のプライミング処理方法。
The second step includes
A main cleaning step of spraying a cleaning liquid at a predetermined position on the surface of the priming roller while continuously rotating the priming roller at a constant rotation speed and simultaneously applying an air flow for liquid removal at another predetermined position;
While continuously rotating the priming roller at a constant rotational speed and a main drying step of applying an air flow for draining a predetermined position without sprayed a cleaning liquid to the surface of the priming roller, priming of claim 1 Processing method.
前記主洗浄工程においては、前記プライミングローラの表面に向けて洗浄液を気体と混合して高圧のジェット流で噴き付ける請求項2に記載のプライミング処理方法。 Wherein in the main washing step, the towards the surface of the priming roller mixed cleaning liquid and gas by spraying with a high pressure jet stream, priming method according to claim 2. 前記連続した所定回数のプライミング処理の中で少なくとも最初のプライミング処理については、前記第2の工程に先立って、そのプライミング処理に使用した前記プライミングローラの部分的表面領域のみ部分洗浄する第3の工程を有する請求項1〜3のいずれか一項に記載のプライミング処理方法。 For at least the first priming process among the predetermined number of continuous priming processes , prior to the second process, a third step of partially cleaning only a partial surface region of the priming roller used in the priming process the a, priming method according to any one of claims 1 to 3. 前記第3の工程が、
前記プライミングローラを所定の回転角度だけ回転させながら前記プライミングローラの部分的表面領域に所定位置で洗浄液を噴き付ける部分洗浄工程と、
前記プライミングローラを所定の回転角度だけ逆回転させて前記ノズルに対する前記プライミングローラの部分的表面領域を当該プライミング処理の終了後で前記部分洗浄工程が開始される前の位置またはその付近の位置に戻す復帰工程と
を含む、請求項4に記載のプライミング処理方法。
The third step includes
A partial cleaning step of spraying a cleaning liquid at a predetermined position on a partial surface region of the priming roller while rotating the priming roller by a predetermined rotation angle;
The priming roller is reversely rotated by a predetermined rotation angle to return the partial surface area of the priming roller with respect to the nozzle to a position before or after the partial cleaning process is started after the priming process is completed. The priming processing method according to claim 4, further comprising a return step.
前記部分洗浄工程においては、前記プライミングローラの部分的表面領域に前記第2の工程で用いる洗浄の圧力よりも低圧の洗浄液を吹きかける請求項5に記載のプライミング処理方法。 Wherein in the partial cleaning process, it said blowing low pressure of the cleaning liquid than the pressure of the washing with a partial surface region in the second step of the priming roller, priming method according to claim 5. スピンレス法の塗布処理に用いる長尺形ノズルの吐出口付近に塗布処理の下準備として処理液の液膜を形成するためのプライミング処理装置であって、
所定位置に水平に配置された円柱または円筒形のプライミングローラと、
前記プライミングローラをその中心軸の回りに回転させる回転機構と、
前記プライミングローラの表面に洗浄液を噴き付けるための洗浄部と、
前記プライミングローラの表面に液切り用のエア流を当てるための乾燥部と
を有し、
1回のプライミング処理のために、前記ノズルの吐出口とプライミングローラの上端とを所定のギャップを隔てて平行に対向させ、前記ノズルより所定の処理液を吐出させるとともに前記回転機構により前記プライミングローラを所定の回転角だけ回転させて、前記プライミングローラの半周以下の部分的表面領域を当該プライミング処理に使用し、連続した所定回数のプライミング処理が終了した後に前記回転機構により前記プライミングローラを連続回転させながら前記洗浄部と前記乾燥部とを作動させて前記プライミングローラの表面を全周に亘ってまとめて洗浄するプライミング処理装置。
A priming processing apparatus for forming a liquid film of a processing liquid as a preparation for coating processing in the vicinity of a discharge port of a long nozzle used for spinless coating processing,
A columnar or cylindrical priming roller disposed horizontally at a predetermined position;
A rotation mechanism for rotating the priming roller about its central axis;
A cleaning section for spraying a cleaning liquid onto the surface of the priming roller;
A drying section for applying an air stream for draining liquid to the surface of the priming roller,
For a single priming process, the discharge port of the nozzle and the upper end of the priming roller face each other in parallel with a predetermined gap therebetween, and a predetermined processing liquid is discharged from the nozzle and the priming roller is driven by the rotating mechanism. Is rotated by a predetermined rotation angle, and a partial surface area equal to or less than a half circumference of the priming roller is used for the priming process. A priming processing apparatus that operates the cleaning unit and the drying unit while cleaning the entire surface of the priming roller.
前記洗浄部が、洗浄液と気体とを混合してジェット流で噴出する2流体ジェットノズルを有する請求項7に記載のプライミング処理装置。 Wherein the cleaning unit has a two-fluid jet nozzle by mixing the cleaning liquid and a gas ejected by a jet stream, priming device according to claim 7. 前記洗浄部が、前記2流体ジェットノズルにおける洗浄液の圧力と気体の圧力の比を可変制御するための2流体圧力制御部を有する請求項8に記載のプライミング処理装置。 The cleaning unit, the have a two-fluid pressure control unit for variably controlling the ratio of the pressure of the pressure and the gas of the cleaning liquid in the two-fluid jet nozzles, priming device according to claim 8. 前記洗浄部が、前記プライミングローラの上端から下端まで回転方向に沿って向う途中に配置される請求項7〜9のいずれか一項に記載のプライミング処理装置。 The cleaning unit, wherein are arranged on the way toward the rotation direction from the upper end of the priming roller to the lower end, priming device according to any one of claims 7-9. 前記乾燥部が、前記プライミングローラの表面との間に第1の隙間を形成する第1の隙間形成部と、前記第1の隙間内に前記プライミングローラの回転方向と反対の向きで前記液切り用のエア流を形成する第1のエア流形成部とを有する請求項7〜10のいずれか一項に記載のプライミング処理装置。 The drying section forms a first gap between the surface of the priming roller and a first gap forming section, and the liquid draining in a direction opposite to the rotation direction of the priming roller in the first gap. and a first air flow forming section for forming an air flow of use, priming device according to any one of claims 7-10. 前記第1の隙間形成部において、前記第1の隙間が前記プライミングローラの回転方向に沿って延在し、前記第1のエア流形成部が前記第1の隙間の上流側端部に接続された第1のバキューム機構を有する請求項11に記載のプライミング処理装置。 In the first gap forming portion, the first gap extends along a rotation direction of the priming roller, and the first air flow forming portion is connected to an upstream end portion of the first gap. a first vacuum mechanism, priming device according to claim 11. 前記第1の隙間の下流側端部が大気空間に開放されている請求項12に記載のプライミング処理装置。 The downstream end of the first gap is open to the atmosphere space, priming device according to claim 12. 前記乾燥部が、前記プライミングローラの下端から上端まで回転方向に沿って向う途中に配置される請求項7〜13のいずれか一項に記載のプライミング処理装置。 The drying section, the are arranged in the middle towards the rotation direction from the lower end of the priming roller to the top edge, priming device according to any one of claims 7-13. 前記洗浄部付近で発生する洗浄液のミストが前記プライミングローラの上端側へ飛散するのを阻止するために、前記プライミングローラの回転方向に沿って前記洗浄部よりも上流側に配置されるミスト遮蔽部を有する請求項7〜14のいずれか一項に記載のプライミング処理装置。 A mist shielding unit disposed upstream of the cleaning unit along the rotational direction of the priming roller in order to prevent the cleaning liquid mist generated near the cleaning unit from scattering to the upper end side of the priming roller. the a, priming device according to any one of claims 7 to 14. 前記洗浄部付近で発生する洗浄液のミストを前記プライミングローラの回転方向に沿って前記洗浄部よりも下流側に引き込むためのミスト引き込み部を有する請求項7〜15のいずれか一項に記載のプライミング処理装置。 Having a mist retraction portion for drawing in the downstream side of the cleaning unit along the rotational direction of the mist of the priming roller of the cleaning liquid occurs near the cleaning unit, according to any one of claims 7 to 15 Priming processing device. 前記ミスト引き込み部が、前記プライミングローラの回転方向に沿って前記洗浄部と前記乾燥部との間に配置される請求項16に記載のプライミング処理装置。 The mist pull portion, said being disposed between the cleaning unit along the rotational direction of the priming roller and the drying section, priming device according to claim 16. 前記ミスト引き込み部が、前記プライミングローラの表面との間に第2の隙間を形成する第2の隙間形成部と、前記第2の隙間内に前記プライミングローラの回転方向と同じ向きでミスト引き込み用のエア流を形成する第2のエア流形成部とを有する請求項17に記載のプライミング処理装置。 The mist pull-in part forms a second gap between the surface of the priming roller and a mist pull-in part in the second gap and in the same direction as the rotation direction of the priming roller. and a second air flow forming section for forming an air flow, priming device according to claim 17. 前記第2の隙間形成部において、前記第2の隙間が前記プライミングローラの回転方向に沿って延在し、前記第2のエア流形成部が前記第2の隙間の下流側端部に接続された第2のバキューム機構を有する請求項18に記載のプライミング処理装置。 In the second gap forming portion, the second gap extends along the rotation direction of the priming roller, and the second air flow forming portion is connected to a downstream end portion of the second gap. a second vacuum mechanism, priming device according to claim 18. 前記第2のバキューム機構が前記第1のバキューム機構を兼用し、前記第2の隙間が前記第2のバキューム機構を介して前記第1の隙間に連結される請求項19に記載のプライミング処理装置。 It said second vacuum mechanism also serves as a first vacuum mechanism, the second gap is connected to the first gap through the second vacuum mechanism, priming of claim 19 apparatus. 前記プライミングローラの下に落ちる使用済みの洗浄液を受け集めて排出するための排液部を有する請求項7〜20のいずれか一項に記載のプライミング処理装置。 The priming processing apparatus according to any one of claims 7 to 20 , further comprising a drainage unit that collects and discharges the used cleaning liquid that falls under the priming roller.
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