JP4349952B2 - ウェハ支持部材とその製造方法 - Google Patents
ウェハ支持部材とその製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4349952B2 JP4349952B2 JP2004087694A JP2004087694A JP4349952B2 JP 4349952 B2 JP4349952 B2 JP 4349952B2 JP 2004087694 A JP2004087694 A JP 2004087694A JP 2004087694 A JP2004087694 A JP 2004087694A JP 4349952 B2 JP4349952 B2 JP 4349952B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heater
- resin
- support member
- wafer support
- wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67109—Apparatus for thermal treatment mainly by convection
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B42—BOOKBINDING; ALBUMS; FILES; SPECIAL PRINTED MATTER
- B42D—BOOKS; BOOK COVERS; LOOSE LEAVES; PRINTED MATTER CHARACTERISED BY IDENTIFICATION OR SECURITY FEATURES; PRINTED MATTER OF SPECIAL FORMAT OR STYLE NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; DEVICES FOR USE THEREWITH AND NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; MOVABLE-STRIP WRITING OR READING APPARATUS
- B42D5/00—Sheets united without binding to form pads or blocks
- B42D5/04—Calendar blocks
- B42D5/06—Tear-off calendar blocks
- B42D5/065—Tear-off calendar blocks having plural perforation lines, e.g. for detaching parts of the sheets
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B42—BOOKBINDING; ALBUMS; FILES; SPECIAL PRINTED MATTER
- B42D—BOOKS; BOOK COVERS; LOOSE LEAVES; PRINTED MATTER CHARACTERISED BY IDENTIFICATION OR SECURITY FEATURES; PRINTED MATTER OF SPECIAL FORMAT OR STYLE NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; DEVICES FOR USE THEREWITH AND NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; MOVABLE-STRIP WRITING OR READING APPARATUS
- B42D1/00—Books or other bound products
- B42D1/003—Books or other bound products characterised by shape or material of the sheets
- B42D1/006—Books or other bound products characterised by shape or material of the sheets with at least one foldable or folded sheet
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
- H01L21/67103—Apparatus for thermal treatment mainly by conduction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6831—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using electrostatic chucks
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60R—VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B60R11/00—Arrangements for holding or mounting articles, not otherwise provided for
- B60R2011/0001—Arrangements for holding or mounting articles, not otherwise provided for characterised by position
- B60R2011/0003—Arrangements for holding or mounting articles, not otherwise provided for characterised by position inside the vehicle
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60R—VEHICLES, VEHICLE FITTINGS, OR VEHICLE PARTS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B60R7/00—Stowing or holding appliances inside vehicle primarily intended for personal property smaller than suit-cases, e.g. travelling articles, or maps
- B60R7/08—Disposition of racks, clips, holders, containers or the like for supporting specific articles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Educational Administration (AREA)
- Business, Economics & Management (AREA)
- Educational Technology (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Surface Heating Bodies (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
そして、このウェハ支持部材を用いてウェハWにエッチング加工を施すには、まず、載置面にウェハWを載せ、ウェハWと静電吸着用電極との間に電圧を印加して静電気力を発生させることにより、ウェハWを載置面に吸着固定させる。次に、ヒータ電極に通電して載置面を加熱し、載置面に吸着保持したウェハWを加熱するとともに、ベース部とウェハ支持部材の上方に配置される不図示のプラズマ電極との間に高周波電圧を印加してプラズマを発生させ、この状態でエチッチングガスを供給することにより、ウェハWに対してエッチング加工を施すようになっていた。
さらに、上記接着剤からなるエポキシ樹脂の表面をロータリー加工機にて研削加工し、接着剤表面の平面度が10μm以下の平滑な面を形成した。このとき、表面粗さを算術平均粗さ(Ra)0.1〜5μmとなるように研削加工を行った。尚、ポリイミドフィルムの熱伝導率は0.34W/(m・K)、エポキシ樹脂の熱伝導率は金属フィラーを添加し、ポリイミドフィルムと同等になるように調整した。
また、図3に示す接合容器を用いて、試料No.6の導電性ベース部とヒータ部の接着を、図4に示す手順で行なった。
2:板状体
3、105a:載置面
4:吸着用電極
5、105:ヒータ部
6、106:絶縁性樹脂
7、107:ヒータ
8、108:凹部
9:絶縁性樹脂と異なる組成の樹脂
10、110:導電性ベース部
11、111:通路
12:均熱板状体
13:接着剤層(エポキシ)
14:接着剤塗布面
15:導電性ベース部とヒータ部間の接着剤層(シリコーン)
16:ヒータ部と保持部間の接着剤層(シリコーン)
20:保持部
51:非接着部(気泡、空隙)
52:非接着部(隙間)
200:接合容器
201:底板
202:側壁
203:蓋
204:バックアップ板
205:Oリング
206:導電性ベース固定金具
207:減圧ポンプ
208:支持棒
t:樹脂の平均厚み
Claims (12)
- 板状体の一方の主面を、ウェハを載せる載置面とした保持部と、絶縁性樹脂にヒータが埋設され、前記絶縁性樹脂の表面に凹部を有し、該凹部を埋めるように前記絶縁性樹脂と異なる組成の樹脂を充填したヒータ部と、導電性ベース部とを備え、前記保持部と前記ヒータ部と前記導電性ベース部との各間を接着層を介して接着し、前記ヒータ部へ充填した樹脂の表面粗さが算術平均粗さ(Ra)0.2〜2.0μmであることを特徴とするウェハ支持部材。
- 前記板状体の内部或いは他方の主面に吸着電極を備えたことを特徴とする請求項1に記載のウェハ支持部材。
- 前記絶縁性樹脂がポリイミド樹脂であることを特徴とする請求項1または2に記載のウェハ支持部材。
- 前記絶縁性樹脂の熱伝導率と、前記凹部を充填する樹脂の熱伝導率とが同等であることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載のウェハ支持部材。
- 前記凹部を充填する樹脂がエポキシまたはシリコーン樹脂から成ることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載のウェハ支持部材。
- 前記ヒータ部の樹脂の平均厚みが0.01〜1mmであることを特徴とする請求項1〜5の何れかに記載のウェハ支持部材。
- 上記保持部の載置面と平行な方向の熱伝導率が50〜419W/(m・K)であることを特徴とする請求項1〜6の何れかに記載のウェハ支持部材。
- 前記ヒータ部と前記導電性ベース部の間の接着層の厚みが0.01〜1mmであることを特徴とする請求項1〜7の何れかに記載のウェハ支持部材。
- 前記ヒータ部と前記導電性ベース部の間の接着層を、該接着層より厚みの小さい樹脂層で複数回に渡り積層して形成したことを特徴とする請求項8に記載のウェハ支持部材の製造方法。
- 前記ヒータ部と前記導電性ベース部の間の接着層をスクリーン印刷により複数回に渡り積層して形成したことを特徴とする請求項9に記載のウェハ支持部材の製造方法。
- 請求項1〜10の何れかに記載のウェハ支持部材の製造方法であって、保持部とヒータ部、またはヒータ部と導電性ベース部の接合面に接着層を形成した後、上記接着層を接合容器に入れて、接合容器内で減圧した後、前記接着層を押圧して接着し、その後、前記接合容器内の圧力を大きくして接着することを特徴とする請求項1〜10の何れかのウェハ支持部材の製造方法。
- 前記接着層の外周部を先に接触させ、前記接着層と被接着面とからなる閉じた空間を形成した後、前記接合容器内の圧力を高めることで接着することを特徴とする請求項11に記載のウェハ支持部材の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004087694A JP4349952B2 (ja) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | ウェハ支持部材とその製造方法 |
CNB2005100590160A CN100346463C (zh) | 2004-03-24 | 2005-03-24 | 晶片支撑部件 |
US11/090,950 US20050215073A1 (en) | 2004-03-24 | 2005-03-24 | Wafer supporting member |
KR1020050024652A KR100681253B1 (ko) | 2004-03-24 | 2005-03-24 | 웨이퍼 지지부재 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004087694A JP4349952B2 (ja) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | ウェハ支持部材とその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005277074A JP2005277074A (ja) | 2005-10-06 |
JP4349952B2 true JP4349952B2 (ja) | 2009-10-21 |
Family
ID=34990574
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004087694A Expired - Fee Related JP4349952B2 (ja) | 2004-03-24 | 2004-03-24 | ウェハ支持部材とその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20050215073A1 (ja) |
JP (1) | JP4349952B2 (ja) |
KR (1) | KR100681253B1 (ja) |
CN (1) | CN100346463C (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016001757A (ja) * | 2015-09-02 | 2016-01-07 | 新光電気工業株式会社 | 静電チャック |
Families Citing this family (99)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100929471B1 (ko) * | 2005-02-03 | 2009-12-02 | 신에츠 폴리머 가부시키가이샤 | 고정 캐리어, 고정 캐리어의 제조 방법, 고정 캐리어의 사용 방법, 및 기판 수납 용기 |
JP4781867B2 (ja) | 2006-03-23 | 2011-09-28 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 熱処理装置 |
JP2007258615A (ja) | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Ngk Insulators Ltd | 静電チャック |
US20080009417A1 (en) * | 2006-07-05 | 2008-01-10 | General Electric Company | Coating composition, article, and associated method |
WO2008010632A1 (en) * | 2006-07-20 | 2008-01-24 | University-Industry Collaboration Foundation Chungnam National University | Electrostatic chuck with high-resistivity ceramic coating materials |
US20080029032A1 (en) * | 2006-08-01 | 2008-02-07 | Sun Jennifer Y | Substrate support with protective layer for plasma resistance |
US8284538B2 (en) * | 2006-08-10 | 2012-10-09 | Tokyo Electron Limited | Electrostatic chuck device |
JP5064069B2 (ja) * | 2007-03-20 | 2012-10-31 | 株式会社Sokudo | 基板搬送装置および熱処理装置 |
JP2008277609A (ja) * | 2007-05-01 | 2008-11-13 | Ulvac Japan Ltd | 被処理体の加熱冷却方法 |
JP5061751B2 (ja) * | 2007-06-26 | 2012-10-31 | 住友電気工業株式会社 | ウェハプローバ用ウェハ保持体 |
US7667944B2 (en) * | 2007-06-29 | 2010-02-23 | Praxair Technology, Inc. | Polyceramic e-chuck |
TWI459851B (zh) * | 2007-09-10 | 2014-11-01 | Ngk Insulators Ltd | heating equipment |
KR100888358B1 (ko) * | 2007-12-18 | 2009-03-11 | 주식회사 코미코 | 용사코팅방법 및 용사코팅장치 |
JP2009152475A (ja) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Shinko Electric Ind Co Ltd | 基板温調固定装置 |
KR101358858B1 (ko) | 2008-05-01 | 2014-02-05 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 정전척 장치 및 이를 구비한 기판 처리 장치 |
EP2321846A4 (en) * | 2008-08-12 | 2012-03-14 | Applied Materials Inc | ELECTROSTATIC FODDER ASSEMBLY |
KR101644495B1 (ko) * | 2008-11-25 | 2016-08-01 | 쿄세라 코포레이션 | 웨이퍼 가열 장치, 정전 척, 및 웨이퍼 가열 장치의 제조 방법 |
JP2012510157A (ja) * | 2008-11-25 | 2012-04-26 | エム キューブド テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 静電チャック |
JP2011081932A (ja) * | 2009-10-05 | 2011-04-21 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 加熱ヒータおよびそれを搭載した装置 |
US8637794B2 (en) | 2009-10-21 | 2014-01-28 | Lam Research Corporation | Heating plate with planar heating zones for semiconductor processing |
JP5507198B2 (ja) | 2009-10-26 | 2014-05-28 | 新光電気工業株式会社 | 静電チャック |
TWI417984B (zh) * | 2009-12-10 | 2013-12-01 | Orbotech Lt Solar Llc | 自動排序之多方向性直線型處理裝置 |
CN105428295B (zh) | 2009-12-15 | 2020-08-11 | 朗姆研究公司 | 调节基板温度来改进关键尺寸(cd)的均匀性 |
JP5423632B2 (ja) * | 2010-01-29 | 2014-02-19 | 住友大阪セメント株式会社 | 静電チャック装置 |
JP5846186B2 (ja) * | 2010-01-29 | 2016-01-20 | 住友大阪セメント株式会社 | 静電チャック装置および静電チャック装置の製造方法 |
KR101636764B1 (ko) * | 2010-05-31 | 2016-07-06 | 주식회사 미코 | 정전척 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
KR101896127B1 (ko) | 2010-09-08 | 2018-09-07 | 엔테그리스, 아이엔씨. | 고 전도성 정전 척 |
US8791392B2 (en) | 2010-10-22 | 2014-07-29 | Lam Research Corporation | Methods of fault detection for multiplexed heater array |
US8546732B2 (en) | 2010-11-10 | 2013-10-01 | Lam Research Corporation | Heating plate with planar heater zones for semiconductor processing |
KR101769062B1 (ko) | 2011-04-27 | 2017-08-17 | 스미토모 오사카 세멘토 가부시키가이샤 | 정전 척 장치 |
JP5816454B2 (ja) * | 2011-05-09 | 2015-11-18 | 新光電気工業株式会社 | 基板温調固定装置 |
JP5957812B2 (ja) * | 2011-06-21 | 2016-07-27 | 住友大阪セメント株式会社 | 静電チャック装置 |
US9307578B2 (en) | 2011-08-17 | 2016-04-05 | Lam Research Corporation | System and method for monitoring temperatures of and controlling multiplexed heater array |
US10388493B2 (en) | 2011-09-16 | 2019-08-20 | Lam Research Corporation | Component of a substrate support assembly producing localized magnetic fields |
US8624168B2 (en) | 2011-09-20 | 2014-01-07 | Lam Research Corporation | Heating plate with diode planar heater zones for semiconductor processing |
US8461674B2 (en) | 2011-09-21 | 2013-06-11 | Lam Research Corporation | Thermal plate with planar thermal zones for semiconductor processing |
US10276410B2 (en) * | 2011-11-25 | 2019-04-30 | Nhk Spring Co., Ltd. | Substrate support device |
JP5348673B2 (ja) * | 2011-12-02 | 2013-11-20 | 株式会社アルバック | 被処理体の加熱冷却方法 |
US9324589B2 (en) | 2012-02-28 | 2016-04-26 | Lam Research Corporation | Multiplexed heater array using AC drive for semiconductor processing |
US8809747B2 (en) * | 2012-04-13 | 2014-08-19 | Lam Research Corporation | Current peak spreading schemes for multiplexed heated array |
JP6068849B2 (ja) * | 2012-07-17 | 2017-01-25 | 東京エレクトロン株式会社 | 上部電極、及びプラズマ処理装置 |
JP5522220B2 (ja) * | 2012-09-12 | 2014-06-18 | 住友大阪セメント株式会社 | 静電チャック装置 |
US10049948B2 (en) | 2012-11-30 | 2018-08-14 | Lam Research Corporation | Power switching system for ESC with array of thermal control elements |
US9916998B2 (en) | 2012-12-04 | 2018-03-13 | Applied Materials, Inc. | Substrate support assembly having a plasma resistant protective layer |
US9685356B2 (en) | 2012-12-11 | 2017-06-20 | Applied Materials, Inc. | Substrate support assembly having metal bonded protective layer |
JP6140457B2 (ja) * | 2013-01-21 | 2017-05-31 | 東京エレクトロン株式会社 | 接着方法、載置台及び基板処理装置 |
US20140318455A1 (en) * | 2013-04-26 | 2014-10-30 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Low emissivity electrostatic chuck |
JP2015035453A (ja) * | 2013-08-07 | 2015-02-19 | アズビル株式会社 | ウエハ |
JP6244804B2 (ja) * | 2013-10-15 | 2017-12-13 | 住友大阪セメント株式会社 | 静電チャック装置 |
JP6239339B2 (ja) * | 2013-10-17 | 2017-11-29 | 東京エレクトロン株式会社 | エッチング装置、エッチング方法、および基板載置機構 |
JP6342769B2 (ja) * | 2014-09-30 | 2018-06-13 | 日本特殊陶業株式会社 | 静電チャック |
CN105845613B (zh) * | 2015-01-16 | 2019-03-22 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种静电吸盘及其制造方法 |
CN107851586B (zh) * | 2015-01-23 | 2021-07-06 | 维耶尔公司 | 到受体衬底的选择性微型器件转移 |
US10700120B2 (en) | 2015-01-23 | 2020-06-30 | Vuereal Inc. | Micro device integration into system substrate |
JP6653535B2 (ja) * | 2015-08-07 | 2020-02-26 | 日本発條株式会社 | ヒータユニット |
US10020218B2 (en) | 2015-11-17 | 2018-07-10 | Applied Materials, Inc. | Substrate support assembly with deposited surface features |
US10499461B2 (en) * | 2015-12-21 | 2019-12-03 | Intel Corporation | Thermal head with a thermal barrier for integrated circuit die processing |
US20170215280A1 (en) | 2016-01-21 | 2017-07-27 | Vuereal Inc. | Selective transfer of micro devices |
KR102101056B1 (ko) | 2016-06-16 | 2020-04-14 | 주식회사 엘지화학 | 발열체 및 이의 제조방법 |
DE102016111234B4 (de) * | 2016-06-20 | 2018-01-25 | Heraeus Noblelight Gmbh | Vorrichtung für die thermische Behandlung eines Substrats sowie Trägerhorde und Substrat-Trägerelement dafür |
JP6195029B1 (ja) | 2016-07-20 | 2017-09-13 | Toto株式会社 | 静電チャック |
CN106910703B (zh) * | 2017-03-10 | 2020-12-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 载台及其制备方法、加工装置及其操作方法 |
JP7012454B2 (ja) * | 2017-04-27 | 2022-01-28 | 株式会社岡本工作機械製作所 | 静電吸着チャックの製造方法並びに半導体装置の製造方法 |
JP6830030B2 (ja) * | 2017-04-27 | 2021-02-17 | 新光電気工業株式会社 | 静電チャック及び基板固定装置 |
US11276590B2 (en) | 2017-05-17 | 2022-03-15 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone semiconductor substrate supports |
KR101951229B1 (ko) * | 2017-05-31 | 2019-02-22 | (주)나노엘엔피 | 반도체 패키지의 볼면 척킹을 위한 정전척 |
JP6910227B2 (ja) * | 2017-07-14 | 2021-07-28 | 株式会社ディスコ | 静電チャック |
EP3707747A4 (en) * | 2017-11-10 | 2021-07-28 | Applied Materials, Inc. | DOUBLE-SIDED PATTERN CHUCK |
JP6999795B2 (ja) * | 2018-03-13 | 2022-01-19 | 日本碍子株式会社 | ウエハー保持台 |
JP6489277B1 (ja) * | 2018-03-14 | 2019-03-27 | Toto株式会社 | 静電チャック |
JP7147313B2 (ja) * | 2018-07-18 | 2022-10-05 | 三菱マテリアル株式会社 | 金属ベース基板 |
US20210037613A1 (en) * | 2018-11-19 | 2021-02-04 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Holding device and method of manufacturing holding device |
JP7329917B2 (ja) * | 2018-11-30 | 2023-08-21 | 新光電気工業株式会社 | 基板固定装置 |
CN109767968B (zh) * | 2018-12-17 | 2021-06-08 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 下电极结构及反应腔室 |
KR20210139368A (ko) * | 2019-07-01 | 2021-11-22 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 샤프트를 갖는 세라믹 히터 |
US20210035767A1 (en) * | 2019-07-29 | 2021-02-04 | Applied Materials, Inc. | Methods for repairing a recess of a chamber component |
US11911863B2 (en) * | 2019-09-11 | 2024-02-27 | Creative Technology Corporation | Attachment and detachment device |
JP7370201B2 (ja) * | 2019-09-20 | 2023-10-27 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
JP7316179B2 (ja) * | 2019-10-04 | 2023-07-27 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板支持台、及びプラズマ処理装置 |
JP7610345B2 (ja) * | 2019-10-30 | 2025-01-08 | 日本碍子株式会社 | 複合焼結体および複合焼結体の製造方法 |
JP7341043B2 (ja) * | 2019-12-06 | 2023-09-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理方法及び基板処理装置 |
CN110983445A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-04-10 | 上海交通大学 | 一种多孔碳化硅薄膜的制备方法 |
JP7379166B2 (ja) * | 2020-01-07 | 2023-11-14 | 日本特殊陶業株式会社 | 保持装置の製造方法 |
TWI733433B (zh) * | 2020-05-05 | 2021-07-11 | 吳有榮 | 晶片及基板之整平對接設備及其方法 |
JP7496250B2 (ja) | 2020-06-16 | 2024-06-06 | 新光電気工業株式会社 | 基板固定装置、静電チャック及び静電チャックの製造方法 |
KR102260505B1 (ko) * | 2020-08-26 | 2021-06-03 | 고광노 | 정전척의 접착층을 평탄화하는 방법 |
TWI752679B (zh) * | 2020-10-20 | 2022-01-11 | 國立清華大學 | 用於電子顯微鏡的測試樣品及其製作方法 |
KR102352039B1 (ko) * | 2020-11-30 | 2022-01-18 | 주식회사 글텍 | 정전척의 에지링 제조방법 및 이로부터 제조된 에지링을 포함하는 정전척 |
JP2022100570A (ja) * | 2020-12-24 | 2022-07-06 | 新光電気工業株式会社 | 静電チャック及びその製造方法、基板固定装置 |
JP7060771B1 (ja) | 2021-02-04 | 2022-04-26 | 日本碍子株式会社 | 半導体製造装置用部材 |
US11410869B1 (en) * | 2021-02-22 | 2022-08-09 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck with differentiated ceramics |
JP2022148714A (ja) | 2021-03-24 | 2022-10-06 | 新光電気工業株式会社 | 静電チャック、基板固定装置 |
KR102341865B1 (ko) * | 2021-05-13 | 2021-12-21 | 고광노 | 수리가 용이한 정전척 |
EP4352780A1 (en) * | 2021-06-09 | 2024-04-17 | Watlow Electric Manufacturing Company | Cold conduit insulation device |
KR102418014B1 (ko) * | 2021-08-27 | 2022-07-07 | 주식회사 동탄이엔지 | 홀이 구비되는 필름형 본딩층을 포함하는 정전척 및 정전척의 제조 방법 |
KR102697877B1 (ko) * | 2022-02-08 | 2024-08-22 | (주)아이씨디 | 정전 장치 및 그 동작 방법 |
KR102688887B1 (ko) * | 2022-02-08 | 2024-07-26 | ( 주)아이씨디 | 정전 장치 및 그 동작 방법 |
TW202347594A (zh) * | 2022-03-31 | 2023-12-01 | 日商巴川製紙所股份有限公司 | 靜電夾頭 |
TWI845382B (zh) * | 2023-03-03 | 2024-06-11 | 大陸商杭州眾硅電子科技有限公司 | 導電吸附膜及拋光頭 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8310298D0 (en) * | 1983-04-15 | 1983-05-18 | Atomic Energy Authority Uk | Modification of surface properties of ceramics |
US5822171A (en) * | 1994-02-22 | 1998-10-13 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck with improved erosion resistance |
JPH08288376A (ja) * | 1995-04-12 | 1996-11-01 | Kobe Steel Ltd | 半導体製造装置用静電チャック |
JP3387282B2 (ja) * | 1995-08-03 | 2003-03-17 | 日産自動車株式会社 | 半導体装置の構造及びその製造方法 |
JPH09213777A (ja) * | 1996-01-31 | 1997-08-15 | Kyocera Corp | 静電チャック |
US6175485B1 (en) * | 1996-07-19 | 2001-01-16 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck and method for fabricating the same |
US6259592B1 (en) * | 1998-11-19 | 2001-07-10 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for retaining a workpiece upon a workpiece support and method of manufacturing same |
JP3357313B2 (ja) * | 1999-03-11 | 2002-12-16 | 住友特殊金属株式会社 | 薄膜磁気ヘッド、薄膜磁気ヘッド用基板、および薄膜磁気ヘッド用基板の製造方法 |
JP2001043961A (ja) * | 1999-07-28 | 2001-02-16 | Keihin Sokki Kk | 半導体ウエハーにおけるヒータ装置およびその製造方法 |
JP2001240925A (ja) * | 2000-02-29 | 2001-09-04 | Daido Metal Co Ltd | 銅系摺動材料 |
JP2003258065A (ja) * | 2002-02-27 | 2003-09-12 | Kyocera Corp | ウエハ載置ステージ |
JP4082924B2 (ja) * | 2002-04-16 | 2008-04-30 | キヤノンアネルバ株式会社 | 静電吸着ホルダー及び基板処理装置 |
KR20030084369A (ko) * | 2002-04-26 | 2003-11-01 | 삼성전자주식회사 | 반도체장치 식각설비의 척 조립체 |
US6838646B2 (en) * | 2002-08-22 | 2005-01-04 | Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. | Susceptor device |
JP4031732B2 (ja) * | 2003-05-26 | 2008-01-09 | 京セラ株式会社 | 静電チャック |
-
2004
- 2004-03-24 JP JP2004087694A patent/JP4349952B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-03-24 US US11/090,950 patent/US20050215073A1/en not_active Abandoned
- 2005-03-24 CN CNB2005100590160A patent/CN100346463C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-03-24 KR KR1020050024652A patent/KR100681253B1/ko active IP Right Grant
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016001757A (ja) * | 2015-09-02 | 2016-01-07 | 新光電気工業株式会社 | 静電チャック |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1674247A (zh) | 2005-09-28 |
US20050215073A1 (en) | 2005-09-29 |
JP2005277074A (ja) | 2005-10-06 |
KR20060044706A (ko) | 2006-05-16 |
CN100346463C (zh) | 2007-10-31 |
KR100681253B1 (ko) | 2007-02-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4349952B2 (ja) | ウェハ支持部材とその製造方法 | |
JP4666903B2 (ja) | ウェハ支持部材 | |
JP5994772B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
TWI727105B (zh) | 半導體製造裝置用元件及其製法 | |
JP5116855B2 (ja) | ウエハ加熱装置、静電チャック | |
JP5507198B2 (ja) | 静電チャック | |
TWI544569B (zh) | 靜電夾持裝置 | |
JP5423632B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
JP6380177B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
JP6627936B1 (ja) | 静電チャック装置および静電チャック装置の製造方法 | |
TWI718133B (zh) | 靜電夾盤裝置 | |
JP5846186B2 (ja) | 静電チャック装置および静電チャック装置の製造方法 | |
JP3810300B2 (ja) | 静電チャック | |
JP2007035878A (ja) | ウェハ保持体およびその製造方法 | |
JP2003258065A (ja) | ウエハ載置ステージ | |
WO2017130827A1 (ja) | 静電チャック装置 | |
JP6597437B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
JP7110828B2 (ja) | 静電チャック装置 | |
JP4698097B2 (ja) | ウェハ支持部材 | |
JP4744015B2 (ja) | ウエハ支持部材 | |
JP2017157607A (ja) | 静電チャック装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070220 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090608 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090624 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090721 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4349952 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120731 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130731 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |