JP4284668B2 - Insulation resistance measuring device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被測定電路の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定装置に関し、更に詳しくは、絶縁抵抗装置において定期的に実施される精度試験を容易に実施可能とした絶縁抵抗測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、絶縁抵抗測定装置においては、その測定精度を確認するために、定期的に精度試験、別の言い方では、校正処理が、安全規格上の問題や通産省からの通達により義務化されている。この精度試験は、使用頻度の少ない測定装置等では、1年に1度や半年に1度という場合もあるが、製造工場のように頻繁に使用される場所の測定装置では、1ヶ月に1度やそれより短い期間で精度試験が指導される場合もある。以下に図4を用いて、従来の絶縁抵抗測定装置における精度試験について説明する。図4では、従来の絶縁抵抗測定装置が被測定電路に接続されている。被測定電路にはトランス1とその2次側の両端を切断可能なブレーカ2が設置されている。被測定電路の2次側と接地間の絶縁抵抗値を絶縁抵抗(R1)3と(R2)4とする。図4の絶縁抵抗測定装置は、トランス1からの漏洩電流の変位を検出する変流器8と、検出された電流の変位を増幅する増幅器9と、検出された電流の変位から高周波数の成分を除去する低周波通過フィルタ10と、検出された電流の変位のアナログ量をデジタル量に変換するアナログ/デジタル変換器11と、後述する警報表示ランプ13及び低周波発振器5の制御を行うと共に入力したデジタル量を判定するCPU12と、絶縁抵抗測定用に商用交流よりも低い周波数の電圧を発生する低周波発振器5と、絶縁抵抗測定用の低周波電圧を増幅する増幅器6と、トランス1の2次側に絶縁抵抗測定用の低周波電圧を印加する低周波電圧印加トランス7とから構成される。また、低周波電圧印加トランス7の2次側の一方の出力が、被測定電路におけるトランス1の2次側の一方の出力に接続され、その接続線路の途中に変流器8が設置される。校正用の測定抵抗(Rt)14は、低周波電圧印加トランス7の接続されたトランス1の2次側の一方の出力と、変流器8との間に接続される。
【0003】
図4の絶縁抵抗測定装置において、まず、通常の絶縁抵抗測定操作においては、低周波電圧印加手段としての低周波発振器5で発生した低周波電圧信号が、増幅器6により増幅されて低周波電圧印加トランス7に印加され、さらに低周波電圧印加トランス7から低周波電圧信号が被測定電路と接地間に印加される。変流器8では、前記した被測定電路と接地間に印加された低周波電圧の電流の変位を検出して増幅器9で増幅し、低周波通過フィルタ10で商用交流成分を除去して、アナログ/デジタル変換器11でデジタル量に変換して、絶縁抵抗測定装置各部の制御を行うCPU12に出力する。CPU12では、変流検出手段の検出結果がデジタル量に変換された値を受けて、予め入力されている設定値を超えている場合には、測定された絶縁抵抗(R1)3と(R2)4の値が設定値を満たしていないと判定して、警報表示ランプ13に通電することにより点灯させて絶縁抵抗値が不十分であることを絶縁抵抗測定装置の操作者に通知する。この従来の絶縁抵抗測定装置に対して精度試験を行う場合には、まず、被測定電路の絶縁抵抗(R1)3と(R2)4の影響を避けるために、被測定電路のブレーカー2を切断して被測定電路の2次側に印加される低周波電圧信号が流れないようにする。その上で、被測定電路と絶縁抵抗測定装置とを接続する接続端と、接地との間に所定の絶縁抵抗値を示す測定抵抗(Rt)14を挿入し、低周波発振器5で発生した低周波電圧信号を低周波電圧印加トランス7を介して測定抵抗(Rt)14に印加し、前記した変流器8によりその変流器8を流れる変流を検出してCPU12に送出する。CPU12は、変流が予め入力されている設定値以上であるか否かを判定し、変流の判定結果が設定値以上であれば、警報表示ランプ13を点灯させることにより精度試験実施者に対して絶縁抵抗測定装置が正常に動作している(精度を維持している)ことを通知する。すなわち、精度試験実施者は、精度試験時に絶縁抵抗測定装置の警報表示ランプ13が点灯することにより、絶縁抵抗測定装置が正常に動作していることを確認することができる。又、上記した測定抵抗(Rt)14を可変抵抗とすることにより、警報表示ランプ13が点灯するときの測定抵抗の抵抗レベルがわかるので、その測定抵抗の抵抗レベルと絶縁抵抗測定装置の示す値により詳しい精度の確認を行うことができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の絶縁抵抗測定装置の精度試験では、その実施の度に被測定電路の絶縁抵抗の影響を避けるために被測定電路をブレーカーで切断し、更に、被測定電路に絶縁抵抗測定装置を接続するための接続端部と接地間に測定抵抗を挿入する必要が有るので、作業が繁雑であり、また、前記接続端部は被測定電路の電位(一般的に人体に危険な高電位であることが多い)を有していることから、測定抵抗の挿入や撤去という作業は危険を伴う作業であった。本発明では、上記問題に鑑みて、測定抵抗の挿入や撤去等の危険を伴う作業の必要が無く、簡単な作業で精度試験が実施できる絶縁抵抗測定装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1に記載の本発明の絶縁抵抗測定装置では、被測定電路に低周波の電圧を印加する低周波電圧印加手段と、該低周波の電圧により電路を流れる電流の漏洩成分を抽出する変流器と、を備え、前記変流器にて抽出した値に基づき被測定電路の絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定装置において、
前記絶縁抵抗測定装置の精度試験を行う際に測定抵抗を介して前記変流器に直接に前記低周波電圧を印加するための精度試験回路と、前記低周波電圧印加手段の出力先として前記精度試験回路または前記被測定電路の何れかを選択するための印加電圧切替手段とを更に備え、
前記印加電圧切替手段により、被測定電路の絶縁抵抗を測定する運用時においては前記低周波電圧印加手段の出力先が前記被測定電路側に設定され、精度試験を行う際には前記低周波電圧印加手段の出力先を前記精度試験回路側に切り替えることを特徴とし、印加電圧切替手段を切り替えるだけで精度試験が可能になるので、測定抵抗の挿入や撤去等の危険を伴う作業の必要が無く、簡単な作業で精度試験が実施できる。
【0006】
請求項2に記載の本発明の絶縁抵抗測定装置では、前記精度試験回路は、前記低周波電圧を直接前記変流器に印加するため前記変流器に設置された低周波電圧印加部と、前記測定抵抗を含む測定抵抗回路部と、を少なくとも備えており、
前記測定抵抗回路部は、前記低周波電圧印加部と前記印加電圧切替手段との間に位置し、コネクタを介して着脱自在に構成されていることを特徴とし、精度試験時のみ精度試験回路部を接続することができる。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施の形態を図を用いて説明する。図1は、本発明の第1の実施形態の絶縁抵抗測定装置の構成を示すブロック図である。尚、図1において、図4に示した従来の装置と同じ機能の部分については同じ符号を付し、重複する説明を省略する。図1の実施形態の絶縁抵抗測定装置も、従来の絶縁抵抗測定装置と同様に被測定電路に接続されている。被測定電路にはトランス21を有している。尚、トランス21の2次側の両端を切断可能なブレーカは特に必要ない。図1の絶縁抵抗測定装置において、図4の従来の絶縁抵抗測定装置と異なる点は、低周波発振器の出力端に印加電圧切り替え手段としての切替リレー38を設け、切替リレー38の一つの出力端については増幅器26を介して低周波印加トランス27に接続する一方、他の出力端については増幅器34を介して抵抗Ro35を接続し、該抵抗Ro35の他端とアースとを結ぶ線路を変流器28に貫通させたところにある。図1の構成の絶縁抵抗測定装置において、まず、通常の絶縁抵抗測定操作を行う際には、低周波電圧印加手段としての低周波発振器25で発生した低周波電圧信号が、切替リレー制御線37により伝送されるCPU32からの指示を受けた切替リレー38により決定された切り替え先の増幅器26に入力される。増幅器26で増幅された低周波電圧信号は、低周波電圧印加トランス27により被測定電路と接地間に印加される。変流器28は、前記した被測定電路と接地間に印加された低周波電圧の電流の変位を検出して増幅器29で増幅し、低周波通過フィルタ30で商用交流成分を除去して、アナログ/デジタル変換器31でデジタル量に変換して、絶縁抵抗測定装置各部の制御を行うCPU32に出力する。CPU32では、上記した変流検出手段の検出結果がアナログ/デジタル変換器31によりデジタル量に変換された値を受けて、デジタル量が予め入力されていた設定値を超えている場合には、測定された絶縁抵抗(R1)23と(R2)24の値が設定値を満たしていないので、警報表示ランプ33に通電して点灯させて絶縁抵抗値が不十分であることを絶縁抵抗測定装置の操作者に通知する。
【0008】
第1の実施形態の絶縁抵抗測定装置において精度試験を行う場合には、まず、絶縁抵抗測定装置の精度試験実施者は、CPU32に設置された精度試験開始スイッチ36を押す。すると、CPU32では、切替リレー38を切り替えるための信号を生成して、切替リレー制御線37を介して、切替リレー38を精度試験側の回路に切り替える。すると、低周波発振器25で発生した低周波電圧信号は、増幅器34で増幅されて測定抵抗(Ro)35に印加され、その場合の電流の変位が変流器28で検出される。変流器28で検出された電流は、増幅器29で増幅されて、低周波フィルタ31で商用交流成分が除去され、アナログ/デジタル変換器31でデジタル量に変換されてCPU32に入力される。CPU32では、入力されたデジタル量が予め設定された設定値以上であれば、測定抵抗(Ro)は、所定の絶縁抵抗値よりも低い抵抗値であることから電流値Ioが設定値以上であることになり、警報表示ランプ13が点灯するので正常に動作する(精度を維持している)ことが確認できる。この場合の測定抵抗(Ro)は、変流器28で検出される電流値IoからCPU32により演算されて得られる抵抗値が、通産省の通達や安全規格等で定められた絶縁抵抗を満足する値よりもわずかに低い値等になるように予め設定しておく。例えば、本実施形態の絶縁抵抗測定装置が工場で量産される場合には、工場出荷時にその絶縁抵抗測定装置の変流器28で検出される電流値Ioが上記した値になるように調整して出荷する。上記のように本実施形態は、絶縁抵抗測定装置に設置された精度試験開始スイッチを押す等して印加電圧切替装置を切り替えるだけで精度試験が可能になるので、測定抵抗の挿入や撤去等の危険を伴う作業の必要が無く、簡単な作業で精度試験が実施可能な絶縁抵抗測定装置を提供することができる。
【0009】
図2は、本発明の第2の実施形態の絶縁抵抗測定装置の構成を示すブロック図である。尚、図2において、図1に示した第1の実施形態の絶縁抵抗測定装置と同じ機能の部分については同じ符号を付し、重複する説明を省略する。図2では、増幅器26の出力部に低周波電圧出力用のコネクタ43が設置され、低周波電圧印加トランス27の入力部にはコネクタ43と接続可能なコネクタ44が設置される。変流器28には低周波電圧を印加するための低周波電圧印加部49が設置されると共にその低周波電圧印加部49の端部にはコネクタ47、48が設けられる。測定抵抗回路部40には、前記コネクタ43、47、48の各々と接続するためのコネクタ42、45、46が設けられると共に内部に、測定抵抗(Ro)35及びトランス41を有している。尚、本実施形態においては、コネクタ42〜コネクタ44を第1のコネクタ手段とし、コネクタ45〜コネクタ48を第2のコネクタ手段とする。
【0010】
第2の実施形態において、絶縁抵抗を測定する際には、コネクタ43とコネクタ44が接続され、測定抵抗回路部40は接続されない。精度試験を行う際には、低周波電圧印加部49の端部に設けられたコネクタ47、48と、測定抵抗回路部40に設置されたコネクタ45、46が各々接続され、さらに低周波電圧出力用のコネクタ43と測定抵抗回路部40に設置されたコネクタ42が接続される。第2の実施形態において精度試験を行う場合には、精度試験時に試験を行う精度試験実施者は、まず、コネクタ44と接続されているコネクタ43をはずし、測定抵抗回路部40上に設けられたコネクタ42と接続する。次いで、測定抵抗回路部40上に設けられたコネクタ45、46と、低周波電圧印加部49の端部に設けられたコネクタ47、48とをそれぞれ接続する。その後、CPU32と接続された精度試験開始スイッチ36を押す。第2の実施形態における基本的な動作は、第1の実施形態に示したものと同様であるが、本実施形態の如く測定抵抗回路部40を別個に設け、コネクタ42、43、45〜48により測定抵抗回路部40を絶縁抵抗測定装置に接続することにより、第1の実施形態とは異なる以下の如き格別の作用及び効果が得られる。
【0011】
第1の実施形態の如く精度試験回路を絶縁抵抗測定装置に内蔵させる場合には、精度試験時に試験を行う操作者はスイッチを切り替えるだけで容易に試験を行うことができるという効果を有するものの、測定抵抗回路部40は、一旦精度試験が行われると次の精度試験が行われるまでは通電されないまま絶縁抵抗測定装置内で待機を続けることになり、言い換えれば、測定抵抗回路部40は、設置場所において次の精度試験まで放置されることになる。電子装置においては、その装置内部の部品に経年変化(劣化)が起こることは避けられないことから、第1の実施形態を用いて半年又は1年に1度等の精度試験を行う際には、アンプ34の劣化や測定抵抗35等の劣化により精度試験結果に狂いが生じる可能性がある。第2の実施形態の場合には、測定抵抗回路部40が別個であることから、測定抵抗回路部40単体において測定抵抗35の設定値に劣化がないことを確認してから、絶縁抵抗測定装置にコネクタ42、43、45〜48により測定抵抗回路部40を接続して精度試験をおこなうことができる。従って、第2の実施形態の場合は、数ヶ月に1度や年に1度等の正確な定期校正に適していると考えられる。また、上記のように第2の実施形態においては、コネクタ42〜48の接続変更処理を実施して電圧の印加先を変更するだけで精度試験が可能になるので、第1の実施形態と同様に測定抵抗の挿入や撤去等の危険を伴う作業の必要が無く、簡単な作業で精度試験が実施可能な絶縁抵抗測定装置を提供することができる。
【0012】
図3は、本発明の第3の実施形態の絶縁抵抗測定装置の構成を示すブロック図である。尚、図3においても、図2に示した第2の実施形態の絶縁抵抗測定装置と同じ機能の部分については同じ符号を付し、重複する説明を省略する。図3では、絶縁抵抗測定装置における低周波発振器25の出力端(アンプ26の出力側端)に印加電圧切替手段としての切替リレー50を設け、切替リレー50における精度試験回路用の出力にはコネクタ51が設置され、切替リレー50における絶縁抵抗測定用の出力は低周波印加トランス27に接続される。尚、本実施形態においては、コネクタ51及びコネクタ42を第1のコネクタ手段とし、コネクタ45〜コネクタ48を第2のコネクタ手段とする。第3の実施形態における基本的な動作は、第2の実施形態に示したものと同様であるが、本実施形態の如く切替リレー50を設けることにより、第2の実施形態とは異なる以下の如き格別の作用及び効果が得られる。第3の実施形態において精度試験を行う場合には、精度試験時に試験を行う精度試験実施者は、まず、コネクタ51と測定抵抗回路部40上に設けられたコネクタ42と接続する。次いで、測定抵抗回路部40上に設けられたコネクタ45、46と、低周波電圧印加部49の端部に設けられたコネクタ47、48とをそれぞれ接続する。その後、CPU32と接続された精度試験開始スイッチ36を押す。すると、CPU32では、切替リレー50を切り替えるための信号を生成して、不図示の切替リレー制御線を介して、切替リレー50を精度試験側の回路に切り替える。従って、絶縁抵抗測定時の接続状態から精度試験の接続状態に変更する場合や、逆に、精度試験の接続状態から絶縁抵抗測定時の接続状態に変更する場合に、第2の実施形態の如く低周波発振器25の出力端のコネクタを接続し直すことを必要とせず、切替リレー50を切替ることにより接続状態の変更ができるので、精度試験を容易に実施できる。また、上記のように第3の実施形態においても、コネクタ42〜48の接続変更処理等して電圧の印加先を変更するだけで精度試験が可能になるので、第1の実施形態と同様に測定抵抗の挿入や撤去等の危険を伴う作業の必要が無く、簡単な作業で精度試験が実施可能な絶縁抵抗測定装置を提供することができる。尚、上記各実施形態(第1〜第3の実施形態)では、精度試験開始スイッチ36をCPU32に接続するように設置したが、必ずしもCPUを介する必要はなく、例えば、切替リレー38または50を直接に操作できるようにしても良いし、また、警報表示ランプ33は、他の通知装置を用いるようにしても良い。
【0013】
【発明の効果】
上記のように請求項1の本発明では、印加電圧切替装置を切り替えるだけで精度試験が可能になるので、測定抵抗の挿入や撤去等の危険を伴う作業の必要が無く、簡単な作業で精度試験が実施可能な絶縁抵抗測定装置を提供することができる。請求項2の本発明では、精度試験部を別体としてコネクタ接続を行うことにより、経年劣化の影響を受けずに精度試験を行うことができる絶縁抵抗測定装置を提供することができる。請求項3の本発明では、請求項2の絶縁抵抗測定装置における精度試験をさらに容易に実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の絶縁抵抗測定装置の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施形態の絶縁抵抗測定装置の構成を示すブロック図である。
【図3】本発明の第3の実施形態の絶縁抵抗測定装置の構成を示すブロック図である。
【図4】従来の絶縁抵抗測定装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1、21、41・・・トランス、2・・・ブレーカ、3、4、23、24・・・絶縁抵抗、5、25・・・低周波発振器、6、9、26、29、34・・・増幅器、7、27・・・低周波電圧印加トランス、8、28・・・変流器、10、30・・・低周波通過フィルタ、11、31・・・アナログ/デジタル変換器、12、32・・・CPU、13、33・・・警報表示ランプ、14、35・・・測定抵抗、36・・・精度試験開始スイッチ、37・・・切替リレー制御線、38、50・・・切替リレー、40・・・測定抵抗回路部、42〜48、51・・・コネクタ [0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an insulation resistance measuring device that measures the insulation resistance of an electric circuit to be measured, and more particularly to an insulation resistance measuring device that can easily perform an accuracy test that is periodically performed in the insulation resistance device.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in order to check the measurement accuracy of insulation resistance measuring devices, regular accuracy tests, in other words, calibration processing has been obliged due to safety standards issues and notifications from the Ministry of International Trade and Industry. . This accuracy test may be performed once a year or once every six months for a measuring device that is not frequently used, but once a month for a measuring device that is frequently used like a manufacturing plant. In some cases, the accuracy test is taught in degrees or less. Hereinafter, an accuracy test in the conventional insulation resistance measuring apparatus will be described with reference to FIG. In FIG. 4, a conventional insulation resistance measuring device is connected to the circuit to be measured. A breaker 2 that can cut both ends of the transformer 1 and its secondary side is installed in the circuit to be measured. The insulation resistance values between the secondary side of the circuit to be measured and the ground are defined as insulation resistances (R1) 3 and (R2) 4. 4 includes a current transformer 8 that detects the displacement of the leakage current from the transformer 1, an amplifier 9 that amplifies the detected displacement of the current, and a high-frequency component from the detected displacement of the current. The low-
[0003]
In the insulation resistance measuring apparatus of FIG. 4, first, in a normal insulation resistance measurement operation, a low frequency voltage signal generated by a low frequency oscillator 5 as a low frequency voltage application means is amplified by an amplifier 6 and applied with a low frequency voltage. Further, a low frequency voltage signal is applied from the low frequency voltage application transformer 7 between the measured circuit and the ground. The current transformer 8 detects the displacement of the current of the low frequency voltage applied between the circuit to be measured and the ground, amplifies it by the amplifier 9, removes the commercial AC component by the low
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, in the accuracy test of the conventional insulation resistance measuring device, in order to avoid the influence of the insulation resistance of the circuit to be measured, the circuit to be measured is cut with a breaker and the insulation resistance measuring device is further connected to the circuit to be measured. Since it is necessary to insert a measuring resistor between the connecting end for connection and the ground, the work is complicated, and the connecting end is connected to the potential of the circuit to be measured (generally a high potential that is dangerous to the human body). In many cases, the work of inserting and removing the measuring resistor is a dangerous work. In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an insulation resistance measuring apparatus that can perform an accuracy test with a simple operation without the need for an operation involving a risk of insertion or removal of a measurement resistor.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, in the insulation resistance measuring apparatus according to the first aspect of the present invention, low-frequency voltage applying means for applying a low-frequency voltage to the circuit to be measured, and the low-frequency voltage flow through the circuit. A current transformer for extracting a current leakage component, and an insulation resistance measuring device for measuring an insulation resistance of a circuit under measurement based on a value extracted by the current transformer,
An accuracy test circuit for applying the low frequency voltage directly to the current transformer through a measurement resistor when performing an accuracy test of the insulation resistance measuring device, and the accuracy as an output destination of the low frequency voltage application means An applied voltage switching means for selecting either a test circuit or the measured circuit;
The output destination of the low frequency voltage application means is set on the measured circuit side during operation of measuring the insulation resistance of the measured circuit by the applied voltage switching unit, and the low frequency voltage is used when performing an accuracy test. It is characterized by switching the output destination of the application means to the accuracy test circuit side, and it becomes possible to perform an accuracy test just by switching the applied voltage switching means, so there is no need for work involving the danger of insertion or removal of measurement resistance, etc. The accuracy test can be carried out with simple work.
[0006]
In the insulation resistance measuring device of the present invention according to claim 2, the accuracy test circuit includes a low frequency voltage application unit installed in the current transformer to directly apply the low frequency voltage to the current transformer, A measurement resistance circuit unit including the measurement resistance, at least,
The measurement resistance circuit unit is located between the low-frequency voltage application unit and the application voltage switching unit, and is configured to be detachable via a connector, and the accuracy test circuit unit is used only during an accuracy test. Can be connected.
[0007]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the insulation resistance measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1, parts having the same functions as those in the conventional apparatus shown in FIG. The insulation resistance measuring device of the embodiment of FIG. 1 is also connected to the circuit to be measured in the same manner as the conventional insulation resistance measuring device. The electric circuit to be measured has a
[0008]
When performing an accuracy test in the insulation resistance measurement device according to the first embodiment, first, an accuracy test performer of the insulation resistance measurement device presses an accuracy test start
[0009]
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an insulation resistance measuring apparatus according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 2, parts having the same functions as those of the insulation resistance measuring apparatus according to the first embodiment shown in FIG. In FIG. 2, a low frequency
[0010]
In the second embodiment, when measuring the insulation resistance, the
[0011]
When the accuracy test circuit is built in the insulation resistance measuring apparatus as in the first embodiment, the operator who performs the test at the time of the accuracy test has an effect that the test can be easily performed only by switching the switch. Once the accuracy test is performed, the measurement
[0012]
FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the insulation resistance measuring apparatus according to the third embodiment of the present invention. In FIG. 3 as well, parts having the same functions as those of the insulation resistance measuring apparatus of the second embodiment shown in FIG. In FIG. 3, a switching
[0013]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention of claim 1, since the accuracy test can be performed only by switching the applied voltage switching device, there is no need for a risky operation such as insertion or removal of the measuring resistor, and the accuracy can be achieved with a simple operation. It is possible to provide an insulation resistance measuring device capable of performing a test. According to the second aspect of the present invention, it is possible to provide an insulation resistance measuring apparatus capable of performing an accuracy test without being affected by aging deterioration by performing connector connection with the accuracy test section as a separate body. According to the third aspect of the present invention, the accuracy test in the insulation resistance measuring apparatus according to the second aspect can be more easily performed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an insulation resistance measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of an insulation resistance measuring apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of an insulation resistance measuring apparatus according to a third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional insulation resistance measuring apparatus.
[Explanation of symbols]
1, 2, 41, ... Transformer, 2 ... Breaker, 3, 4, 23, 24 ... Insulation resistance, 5, 25 ... Low frequency oscillator, 6, 9, 26, 29, 34 ...・
Claims (2)
前記絶縁抵抗測定装置の精度試験を行う際に測定抵抗を介して前記変流器に直接に前記低周波電圧を印加するための精度試験回路と、前記低周波電圧印加手段の出力先として前記精度試験回路または前記被測定電路の何れかを選択するための印加電圧切替手段と、を更に備え、
前記印加電圧切替手段により、被測定電路の絶縁抵抗を測定する運用時においては前記低周波電圧印加手段の出力先が前記被測定電路側に設定され、精度試験を行う際には前記低周波電圧印加手段の出力先を前記精度試験回路側に切り替えることを特徴とする絶縁抵抗測定装置。 Comprising a low-frequency voltage applying means for applying a voltage of low frequency to the measured circuit, and a current transformer to extract the leakage component of the current flowing through the electric path by the voltage of the low frequency, was extracted by the current transformer In an insulation resistance measuring device that measures the insulation resistance of the circuit under test based on the value,
An accuracy test circuit for applying the low frequency voltage directly to the current transformer through a measurement resistor when performing an accuracy test of the insulation resistance measuring device, and the accuracy as an output destination of the low frequency voltage application means An applied voltage switching means for selecting either a test circuit or the measured circuit ; and
The output destination of the low frequency voltage application means is set on the measured circuit side during operation of measuring the insulation resistance of the measured circuit by the applied voltage switching unit, and the low frequency voltage is used when performing an accuracy test. An insulation resistance measuring apparatus , wherein the output destination of the applying means is switched to the accuracy test circuit side .
前記測定抵抗回路部は、前記低周波電圧印加部と前記印加電圧切替手段との間に位置し、コネクタを介して着脱自在に構成されていることを特徴とする請求項1に記載の絶縁抵抗測定装置。 The accuracy test circuit includes at least a low frequency voltage application unit installed in the current transformer to directly apply the low frequency voltage to the current transformer, and a measurement resistance circuit unit including the measurement resistance. And
2. The insulation resistance according to claim 1, wherein the measurement resistance circuit unit is positioned between the low-frequency voltage application unit and the application voltage switching unit and is configured to be detachable via a connector. measuring device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32224998A JP4284668B2 (en) | 1998-05-11 | 1998-11-12 | Insulation resistance measuring device |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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