JP4183119B2 - 光造形装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、感光材料に光を照射して3次元の造形を行う光造形装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
造形物の3次元形状データをスライスして複数の断面データ(すなわち、2次元形状データ)を作成し、光硬化性材料を積層しながら各層に対応する断面データに基づいて光を照射(すなわち、露光)して所望の3次元造形物を製作する光造形が、従来より実施されている。
【0003】
また、特許文献1では、液晶マスクにより空間変調された光を光硬化性材料上に照射し、光硬化性材料を積層することなく3次元造形物を製作する技術が開示されている。
【0004】
【特許文献1】
特開2001−252986号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、従来の光造形では、光硬化性材料の積層と光の照射とを繰り返し行う必要があるため、造形物の製作に長時間を要するとともに製作コストが増大してしまう。また、特許文献1に記載の技術では、液晶マスクの画素間の筋の影響により造形物の形状精度が低下してしまい、画素数が限定されるために比較的大きな造形物を製作する場合にも造形物の形状精度が低下してしまう。さらに、液晶により光の照射効率が低下するという問題も有している。
【0006】
本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、短時間に、あるいは、高い形状精度にて3次元の造形を行うことを主たる目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、感光材料に光を照射して造形を行う光造形装置であって、空間変調された光を生成する空間光変調デバイスと、前記空間光変調デバイスにより空間変調された光が照射される感光材料を保持する保持部と、それぞれが変調の単位に対応する感光材料上の照射領域群を前記感光材料に対して相対的に移動する移動機構と、前記照射領域群の相対移動に同期して前記空間光変調デバイスを制御することにより、前記感光材料上の露光の単位となる各露光領域を通過する複数の照射領域から前記各露光領域に照射される光の累積量を多階調に制御する制御部とを備える。
【0008】
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の光造形装置であって、前記照射領域群が2次元に配列され、前記照射領域群の相対移動方向が一の配列方向にほぼ沿う。
【0009】
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の光造形装置であって、前記照射領域群が互いに垂直な2方向に対して等間隔に配列されており、前記一の配列方向に関する列の両端の照射領域の前記相対移動方向に垂直な方向の距離が、前記照射領域群の他の配列方向のピッチよりも小さい。
【0010】
請求項4に記載の発明は、請求項1ないし3のいずれかに記載の光造形装置であって、前記空間光変調デバイスが複数の微小ミラーを有し、前記複数の微小ミラーの姿勢を個別に変更して光源からの光を空間変調する。
【0011】
請求項5に記載の発明は、請求項1ないし4のいずれかに記載の光造形装置であって、照射領域に対応する光束が集束する位置と感光材料の表面との間の距離を変更する機構をさらに備える。
【0012】
請求項6に記載の発明は、請求項1ないし5のいずれかに記載の光造形装置であって、前記制御部が、造形物の形状に関する形状データ、および、一の露光領域に照射される光の量と感光材料の感光される深さとの関係を実質的に示すテーブルを記憶する記憶部と、前記形状データおよび前記テーブルに基づいて感光材料上の露光の単位となる各露光領域に照射される光の量を求める演算部とを有する。
【0013】
請求項7に記載の発明は、請求項6に記載の光造形装置であって、複数の露光領域に互いに異なる量の光が照射された後に現像された感光材料の前記複数の露光領域における高さを測定する測定器をさらに備え、前記制御部が、前記複数の露光領域における露光量と感光材料の高さとに基づいて、前記テーブルを作成する。
【0014】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の関連技術に係る光造形装置1の概略構成を示す図である。光造形装置1は、所定の基板上にポジ型の感光材料である感光性レジストを所定の膜厚だけ塗布し、乾燥させたもの(以下、単に「感光部材」と呼ぶ。)に向けて所望の造形物の3次元形状に応じた光を照射する装置であり、露光された感光部材はその後の工程において現像されることにより、所望の3次元造形物が製作される。
【0015】
光造形装置1は、感光部材9を保持するステージ2、感光部材9に向けて空間変調された光を出射するユニットであるヘッド部3、ステージ2をヘッド部3に対して相対的に移動するステージ移動機構41、および、ステージ2を昇降するステージ昇降機構44を有する。
【0016】
ヘッド部3は、光(例えば、波長が400nm近傍の光)を出射する半導体レーザが設けられた光源31、および、複数の微小ミラーが2次元配列されたマイクロミラーアレイ32(例えば、DMD(デジタルマイクロミラーデバイス)であり、以下、「DMD32」という。)を有し、光源31からの光がDMD32により空間変調され、感光部材9上に照射される。
【0017】
具体的には、光源31に接続された光ファイバ311から出射された光は、図示省略の光学系によりDMD32へと導かれる。DMD32では、各微小ミラーのうち所定の姿勢(後述するDMD32による光照射の説明において、ON状態に対応する姿勢)にある微小ミラーからの反射光のみにより形成される光が導出される。DMD32からの光はレンズ群33を介してハーフミラー34へと導かれ、反射された光が対物レンズ35により感光部材9の表面へと導かれる。
【0018】
また、ヘッド部3は、対物レンズ35と感光部材9の表面との間の距離を検出するオートフォーカス用の検出ユニット(以下、「AF検出ユニット」という。)36を有する。AF検出ユニット36は、レーザ光を出射する半導体レーザ361、および、感光部材9からの反射光を受光する受光部362を有し、半導体レーザ361から出射されたレーザ光はミラー37にて反射され、ハーフミラー34および対物レンズ35を介して感光部材9の表面へと照射される。感光部材9からのレーザ光の反射光は、対物レンズ35、ハーフミラー34およびミラー37を介してAF検出ユニット36へと導かれ、受光部362が反射光を受光する位置により対物レンズ35と感光部材9の表面との間の距離が検出される。
【0019】
ステージ移動機構41は、ステージ2を図1中のX方向に移動するX方向移動機構42、および、Y方向に移動するY方向移動機構43を有する。X方向移動機構42はモータ421にボールねじ(図示省略)が接続され、モータ421が回転することにより、Y方向移動機構43がガイドレール422に沿って図1中のX方向に移動する。Y方向移動機構43もX方向移動機構42と同様の構成となっており、モータ431が回転するとボールねじ(図示省略)によりステージ2がガイドレール432に沿ってY方向に移動する。また、ステージ移動機構41はモータを有するステージ昇降機構44により支持されており、ステージ昇降機構44が駆動されることにより、対物レンズ35とステージ2との間の距離が変更される。
【0020】
光造形装置1は、各種情報処理を行うCPUや各種情報を記憶するメモリ等により構成されるコンピュータ5をさらに有し、CPU等により演算部51としての機能が実現され、記憶部52に各種情報が記憶される。また、コンピュータ5は、ヘッド部3、ステージ移動機構41およびステージ昇降機構44に接続され、コンピュータ5が制御部としての役割を果たすことにより、光造形装置1による3次元造形用の光の照射(すなわち、露光)が行われる。
【0021】
図2は、DMD32を模式的に示す図である。DMD32は、多数の微小ミラーが互いに垂直な2方向(行方向および列方向)に等間隔に配列された複数のブロック321を有し、各ブロック321は一方向(例えば、列方向)に配列される。なお、実際には1つのブロック321には行および列方向に図2に例示するよりも多数の微小ミラーが配列される。DMD32では、各微小ミラーに対応するメモリセルへのデータの書き込みがブロック321毎に行われ、リセットパルスの入力により一部の微小ミラーが所定の角度だけ一斉に傾く。
【0022】
具体的には、DMD32には各微小ミラーに対するONまたはOFFを示すデータ(以下、「DMDセルデータ」という。)が図1のコンピュータ5から送信されてメモリセルに書き込まれ、リセットパルスに同期してDMDセルデータに従って各微小ミラーがON状態またはOFF状態の姿勢に変更される。これにより、DMD32に照射された光は、各微小ミラーの傾く方向に応じて反射され、各微小ミラーに対応する感光部材9上の光の照射領域への光照射のON/OFFが行われる。ON状態とされた微小ミラーに入射する光はレンズ群33へと反射され、対応する感光部材9上の照射領域に光が照射される。OFF状態とされた微小ミラーに入射する光はレンズ群33とは異なる所定の位置へと反射し、対応する照射領域に光が導かれない。
【0023】
コンピュータ5からDMD32へのリセットパルスの送信は一定時間の間に所定回数だけ繰り返され、各微小ミラーのON状態の回数(すなわち、各微小ミラーのON状態の累積時間)を正確に制御することにより、各照射領域に照射される光の量の制御(「階調制御」とも呼ぶ。)が実現される。なお、リセットパルスは一定の間隔で発生される必要はなく、例えば、単位時間を1:2:4:8:16の時間枠に分割して各時間枠の最初に1回だけリセットパルスが送信されることにより、階調制御(上記例の場合、32階調となる。)が行われてもよい。
【0024】
図3は、感光部材9上の照射領域群の一部の照射領域61を示す図である。1つの照射領域61は、DMD32の各微小ミラーの形状に対応する矩形の領域となっており、図3中のX方向およびY方向にそれぞれ所定のピッチにて等間隔に配列されている。なお、本関連技術では、照射領域は感光部材9上に固定され、1つの照射領域61が感光部材9上の露光の単位となる1つの露光領域とされている。
【0025】
図4は、光造形装置1が3次元造形用の光を感光部材9に照射する動作(以下、「露光動作」という。)の流れを示す図である。まず、所望の造形物の3次元形状を示すデータ(以下、「形状データ」と呼ぶ。)が準備される(ステップS11)。形状データは、感光部材9上の1つの露光領域であるセルに高さ情報が関連付けられることにより造形物の3次元形状を示すデータであり、例えば、3次元CADデータ等の3次元情報から予め生成され、光造形装置1の記憶部52に記憶される。なお、3次元情報に基づいて演算部51により形状データが生成されてもよい。
【0026】
光造形装置1では、感光部材9上の一の露光領域に照射される光の量と、光が照射された露光領域の感光性レジストが現像により除去される深さ(以下、「加工深さ」という。)との関係を示す変換テーブル521が、後述する変換テーブル作成動作において予め作成されて記憶部52に記憶されており(図1参照)、演算部51では形状データおよび変換テーブル521に基づいて各露光領域に必要な光の照射量(以下の説明において、「光の照射量」を「露光量」と呼ぶ。)が求められる(ステップS12)。
【0027】
図5は、変換テーブル521をグラフ化して連続的に示したものであり、縦軸は加工深さを示し、横軸は単位面積当たりの露光量を示している。図5より、露光量が増加するにつれて加工深さが大きくなることが判る。演算部51では、形状データに含まれる各セルの高さ情報から各露光領域の加工深さを決定し、変換テーブル521に基づいて各露光領域の加工深さに対応する露光量が求められる。そして、各露光領域の露光量から一定時間内の各リセットパルスに対応するDMDセルデータのセットが生成される。
【0028】
また、形状データには造形物において最も形状精度が要求される高さ(例えば、基板からの高さであり、以下、「基準高さ」という。)を示す情報が含まれており、光造形装置1では、ON状態の各微小ミラーからの光束が感光部材9内において集束する位置(いわゆる、合焦位置であり、以下、「集束位置」という。)が、感光部材9の基準高さに一致するようにステージ昇降機構44が制御され、対物レンズ35と感光部材9との間の距離が調整される(ステップS13)。このとき、AF検出ユニット36により対物レンズ35と感光部材9の表面との間の距離が検出されることにより、対物レンズ35と感光部材9との間の距離が正確に調整される。
【0029】
続いて、コンピュータ5の制御により光源31からの光の出射が開始されるとともに、DMD32が制御される(ステップS14)。DMD32の制御では、まず、コンピュータ5からDMD32の各微小ミラーのメモリセルに最初のDMDセルデータの書き込みが行われる。そして、コンピュータ5がDMD32にリセットパルスを送信することにより各微小ミラーがメモリセルのデータに応じた姿勢となり、各露光領域への最初の露光が行われる。
【0030】
リセットパルスが送信された後、すぐに次のDMDセルデータが各微小ミラーのメモリセルに書き込まれる。そして、コンピュータ5からの2回目のリセットパルスの送信により各微小ミラーがメモリセルのデータに従った姿勢となる。光造形装置1では、DMDセルデータの書き込み、および、リセットパルスの送信を繰り返し行うことにより、各微小ミラーのON状態の累積時間が正確に制御され、各露光領域に照射される光の累積光量がステップS12において求められた露光量とされる。
【0031】
所定回数のリセットパルスの送信が終了すると、光源31からの光の出射が停止される(ステップS15)。以上の動作により露光された感光部材9は、光造形装置1外の他の装置において現像され、各露光領域への累積光量に応じた深さの感光性レジストが除去される。これにより、所望の3次元形状を有する造形物が完成する。
【0032】
次に、変換テーブル521を作成する動作について説明を行う。変換テーブル521の作成では、テーブル作成用の感光部材9上に予め複数の矩形領域が設定されており、矩形領域毎に、属する露光領域への露光量が異なるDMDセルデータのセットが生成される。そして、上述のステップS14と同様に、DMDセルデータに従って感光部材9への露光が行われる。これにより、各矩形領域には単位面積当たりに互いに異なる量の光が照射される。このとき、感光部材9に対して集束位置が所定の位置となるようにステージ2が予め昇降され、露光時の対物レンズ35と感光部材9の表面との間の距離(以下、「露光時の距離」という。)が記憶部52に記憶される。
【0033】
露光後の感光部材9の感光性レジストは外部の現像装置において現像され、現像後の感光部材9が光造形装置1に戻される。光造形装置1では、ステージ2の高さが露光時と同じ高さとされる。そして、複数の矩形領域のうちの1つの矩形領域がAF検出ユニット36によるレーザ光の照射位置へと移動され、対物レンズ35との間の距離(以下、「現像後の距離」という。)が検出される。他の矩形領域についても同様に現像後の距離が検出される。
【0034】
演算部51では、各矩形領域の現像後の距離と露光時の距離との差(すなわち、各矩形領域の現像前後の高さの差)が加工深さとして算出され、各矩形領域に対する単位面積当たりの露光量と加工深さとが関連付けられて変換テーブル521が精度よく作成される。これにより、光造形装置1における3次元造形用の光の照射を精度よく行うことができる。なお、互いに異なる量の光が照射された後に現像された矩形領域の高さを測定する測定器は、必ずしもAF検出ユニット36である必要はなく、例えば、触針式の測定器等が別途設けられてもよい。
【0035】
以上のように、光造形装置1では、コンピュータ5が複数の微小ミラーを有するDMD32を制御することにより、各微小ミラーの姿勢が個別に変更され、各微小ミラーに対応する照射領域61に照射される光の量が制御される。これにより、光造形装置1では各露光領域に対する多階調の露光が実現され、感光材料を積層することなく実質的に3次元造形が行われる。その結果、所望の3次元形状を有する造形物を短時間かつ容易に製作することができ、製作コストを削減することができる。また、光造形装置1では、空間変調された光の集束位置を感光部材9(の感光性レジスト内)の基準位置に合わせることにより、高い形状精度が要求される高さにおいて光の照射を特に精度よく行うことができる。
【0036】
図6は、光造形装置1の露光動作および現像により製作された造形物の一例を示す図である。図6に示すように、光造形装置1では、微小な3次元造形物の製作が可能である。
【0037】
次に、本発明の一の実施の形態に係る光造形装置1について説明を行う。光造形装置1は、上記関連技術に係る光造形装置1においてDMD32をヘッド部3内で傾斜して設けたものであり、以下の説明では、上記関連技術の説明にて用いた符号を参照して説明を行う。DMD32が傾斜して設けられることにより、図7(a)に示すように感光部材9上の照射領域群610(図2中の1つのブロック321に対応する。)の配列方向が相対移動方向(すなわち、図7(a)中のY方向)に対して傾斜している。なお、図7(a)では照射領域群610が4行で配列されるように示されているが、実際には行および列方向に対して多数の照射領域が配列されている。
【0038】
照射領域群610の相対移動方向に対する傾斜は、照射領域群610の2つの配列方向のうち相対移動方向にほぼ沿う方向(すなわち、DMD32の列方向に対応する方向であり、以下、同様に「列方向」と呼ぶ。)と相対移動方向とのなす角が所定の角度θとなるように傾けられる。このとき、1つの列において両端に位置する照射領域(図7(a)中に符号611,612を付す照射領域)の相対移動方向に垂直な方向(すなわち、X方向)の距離L1が、照射領域群610の列方向に垂直な行方向のピッチP1よりも小さくされる。
【0039】
図8は光造形装置1による露光動作の流れを示す図であり、図4中のステップS13以降の動作の流れを示している。なお、説明の便宜上、以下、微小ミラーが4行m列に配列された1つのブロック321のみにより露光が行われるものとして説明を行う。また、本実施の形態では照射領域群610が感光部材9に対して移動するため、以下の説明における露光領域は、感光部材9上に固定された領域である。
【0040】
光造形装置1では、上記関連技術と同様に、ステップS11〜S13が行われた後、コンピュータ5の制御によりステージ2が(+Y)方向に移動を開始し、照射領域群610が感光部材9に対して(−Y)方向に相対的に連続的に移動する(ステップS21)。そして、光源31から光の出射が開始されるとともに、照射領域群610の相対移動に同期してDMD32が制御され、露光動作が行われる(ステップS22)。
【0041】
図9(a)〜(f)は照射領域群610の相対移動に同期してDMD32が制御される様子を説明するための図である。図9(a)〜(e)では1列の照射領域群610のみを示し、ON状態とされる照射領域を実線で示し、OFF状態とされる照射領域を破線にて示している。また、図9(a)〜(e)では(+Y)側に位置する照射領域から順に符号61a,61b,61c,61dを付すとともに感光部材9上の露光領域群620を二点鎖線にて示している。
【0042】
コンピュータ5から1回目のDMDセルデータが各微小ミラーのメモリセルに書き込まれ、照射領域群610が感光部材9上の所定の露光開始位置へと到達すると、コンピュータ5より最初のリセットパルスが送信される。これにより、DMD32の各微小ミラーがメモリセルのデータに従った姿勢とされ、対応する照射領域への光の照射のON/OFFが行われる。例えば、図9(a)に示すように、照射領域61dのみがON状態とされ、他の照射領域61a〜61cはOFF状態とされる。
【0043】
リセットパルス送信後、すぐに2回目のDMDセルデータが各微小ミラーのメモリセルに書き込まれる。リセットパルスのDMD32への送信は、ステージ移動機構41がステージ2を移動させる動作に同期して行われる。すなわち、1回目のリセットパルスから照射領域群610が露光領域群620の相対移動方向に関するピッチP2の距離だけ移動した時点で2回目のリセットパルスがDMD32へと送信され、図9(b)に示すように、照射領域61c,61dがON状態とされ、他の照射領域61a,61bはOFF状態とされる。
【0044】
続いて、3回目のリセットパルスの送信では、図9(c)に示すように照射領域61b〜61dがON状態とされ、図9(d)に示すように4回目のリセットパルスの送信では、全ての照射領域61a〜61dがON状態とされる。そして、5回目のリセットパルスの送信では、図9(e)に示すように全ての照射領域61a〜61dがOFF状態とされる。これにより、一の露光領域に対して複数の照射領域から光の照射が重ねて行われ(すなわち、多重露光が行われ)、図9(f)に示すように5階調の露光が可能となる。なお、照射領域群610は相対移動しているため、図9(f)に示す光量は正確には緩やかに変化する。
【0045】
このとき、照射領域群610の列方向が相対移動方向に平行な方向に配列され、かつ、DMD32の各微小ミラー間に構造上の微小な間隙が存在する場合には、各照射領域の列間に光が照射されない領域が存在することとなる。しかしながら、光造形装置1では、図7(a)に示すように照射領域群610が傾いた状態で連続的に相対移動することから、図7(b)に示すように累積光量はX方向に関してほぼ一定に分布することとなる。したがって、X方向に関して隣接する露光領域間においても、光を適切に照射することが実現される。
【0046】
照射領域群610が(−Y)側の最後の露光領域を通過すると光源31からの光の出射が停止され(ステップS23)、ステージ2の移動が停止される(ステップS24)。なお、露光領域群のX方向の幅が大きい場合には照射領域群610をX方向にステップ移動(すなわち、副走査)して露光動作が繰り返され、その後、ステップS23,S24が実行される。露光が終了すると、上記関連技術と同様に感光部材9の感光性レジストが現像され、3次元の造形物が完成する。
【0047】
以上のように、光造形装置1では、それぞれが変調の単位に対応する照射領域群610の感光部材9に対する相対移動に伴い、感光部材9上の1つの露光領域を通過する複数の照射領域からこの露光領域に照射される光の累積量が制御される。これにより、1つの露光領域に対して複数の照射領域による重ね合わせの露光が可能となり、多階調の露光が実現される。また、必要最小限の行数の微小ミラーのみを露光に利用することにより、使用されるブロック321を少なくすることができ、メモリセルへのデータの書き込み時間を短縮することも可能となる。その結果、感光部材9上の広範囲に亘る露光を短時間に高精度にて行うことができる。
【0048】
さらに、光造形装置1では、照射領域群610の列の両端に位置する照射領域の相対移動方向に垂直な方向の距離が照射領域群610の行方向のピッチよりも小さくなるようにDMD32が傾斜して設けられるため、DMD32を傾斜しない場合と同様にDMD32を容易に制御でき、かつ、造形物の形状に微小ミラー間の間隙の影響が生じることを抑制することができる。
【0049】
図10は、上記実施の形態に係る光造形装置1の露光動作および現像により製作された造形物の一例を示す図である。図10に示すように、光造形装置1により、非常に高精度で滑らかな3次元造形物の製作が実現される。
【0050】
なお、DMD32の列間の隙間が感光に影響を与えない程度に微小である場合には、照射領域群610は走査方向に対して傾けられなくてもよい。一方で、互いに隣接する露光領域間にて高精度に加工深さが制御される必要がない(あるいは、加工深さが大きく変化しない)場合には、照射領域群610の列の両端に位置する照射領域の相対移動方向に垂直な方向の距離が照射領域群610の行方向のピッチよりも大きくなるようにDMD32が傾斜して設けられてもよい。
【0051】
光造形装置1では、上記関連技術において説明した多階調の露光と多重露光とを組み合わせることにより、より高度な3次元造形用の露光を行うこともできる。図11(a)〜(f)は露光動作の他の例を説明するための図であり、図11(a)〜(e)は、図9(a)〜(e)と同様に照射領域群610が感光部材9に対して相対的に移動する様子を示している。また、各照射領域に付す平行斜線の種類により各照射領域による露光の階調(5通り)を示しており、平行斜線の密度が高いほど露光量が多く、OFF状態が維持される照射領域を破線にて示している。
【0052】
図11(a)〜(e)に示す露光動作では、1回目のリセットパルスから照射領域群610がピッチP2の距離だけ移動する間に、所定回数のリセットパルスの送信が繰り返され、各リセットパルスに対応するDMDセルデータに応じて各微小ミラーの姿勢が高速に変更される。これにより、照射領域群610がピッチP2だけ移動する間に、各照射領域において多階調の光の照射が実現される。なお、各微小ミラーがON状態となる瞬間を適度に分散させることで、照射領域群610が相対移動しながらであっても露光むらが抑えられる。
【0053】
図11(a)〜(e)に示すように、照射領域群610の相対移動に同期して各照射領域の階調を制御して多階調の光の照射と多重露光とを組み合わせることにより、図11(f)に示すようにDMD32の各微小ミラーに設定する階調数以上の多階調の露光を行うことができる。
【0054】
図12は他の関連技術に係る光造形装置1aを示す図である。光造形装置1aは変調された光を出射しつつ、照射位置を移動させるユニットであるヘッド部3aを有し、光造形装置1aではヘッド部3aのみが図1の光造形装置1と異なっている。他の構成は図1と同様であり、同符号を付している。
【0055】
光造形装置1aのヘッド部3aでは、半導体レーザを有する光源31から出射された光が光変調素子32aにより変調され(すなわち、光の強度が変更され)、変調された光はポリゴンミラー38へと導かれる。ポリゴンミラー38はエンコーダを有するモータ(図示省略)により回転し、エンコーダからの出力がコンピュータ5に入力される。回転するポリゴンミラー38により反射された光は図12中のX方向に移動しつつハーフミラー34aおよび走査レンズ群35aを介して感光部材9へと導かれる。
【0056】
光造形装置1aが3次元造形用の露光を行う際には、図1の光造形装置1と同様に、予め準備された造形物の形状データおよび記憶部52に記憶された変換テーブル521に基づいて各露光領域への露光量が演算部51により求められ、さらに、ヘッド部3aと感光部材9との間の距離が調整される(図4中のステップS11〜S13)。続いて、ステージ2の移動が開始され、感光部材9がステージ移動機構41によりY方向へと移動する(図8中のステップS21)。そして、コンピュータ5がポリゴンミラー38のモータ、光変調素子32aおよびステージ移動機構41を同期させて制御することにより、感光部材9上の光の照射領域がXおよびY方向に移動するとともに光変調素子32aにより光の強度が変更される。これにより、感光部材9上の露光領域群に高速に多階調の露光が行われる(ステップS22)。その後、光の出射およびステージの移動が停止され(ステップS23,S24)、感光部材9の感光性レジストが現像されて3次元の造形物が完成する。
【0057】
以上のように、光造形装置1aでは光源31および光変調素子32aにより構成される光源ユニットから出射された光の照射領域が感光部材9に対して相対的に移動するとともに、照射領域の相対移動に同期して光源ユニットの制御が行われる。これにより、光造形装置1aでは感光部材9上の広範囲に亘って3次元造形用の露光を高速かつ高精度に行うことができ、その結果、高精度な3次元造形物を短時間に製作することができる。なお、光源31の半導体レーザの出力が制御される等により光源ユニットから変調された光が出射されてもよく、照射領域の走査もガルバノミラーや偏向素子等の他の手法により行われてもい。
【0058】
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく様々な変形が可能である。
【0059】
感光性レジストは必ずしもポジ型である必要はなく、ネガ型の感光性レジストが利用されてもよい。ネガ型の感光性レジストが利用される場合には、ガラス基板上に感光性レジストが塗布された感光部材9が準備され、図13に示すように、ガラスにより形成されたステージ2上に感光部材9が感光性レジストを上にして載置される。そして、ヘッド部3からの空間変調された光がステージ2およびガラス基板を透過して感光性レジストに導かれ、3次元造形の露光が行われる。そして、現像により露光量に応じた凹凸を有する感光性レジストがガラス基板上に残留する。
【0060】
また、感光部材9の感光材料は必ずしも基板上に塗布された感光性レジストである必要はなく、他の感光性樹脂等であってもよい。
【0061】
光造形装置に設けられる空間光変調デバイスは、DMD32には限定されず、例えば、回折格子型の空間光変調デバイス(いわゆる、GLV)であってもよい。また、光源として複数の発光ダイオード等を2次元配列し、発光ダイオード群に対応する光照射領域群の配列方向が相対移動方向に対して傾斜された状態で、各発光ダイオードのON/OFFを照射領域の相対移動に同期して制御することにより露光が行われてもよい。
【0062】
変換テーブル521は、必ずしも露光領域に照射される光の量と加工深さとの関係を示すテーブルである必要はなく、一の露光領域に照射される光の量と感光材料の感光される深さとの関係を実質的に示すテーブルであればよい。
【0063】
ステージ2とヘッド部3との相対移動は(すなわち、感光部材9と照射領域群との相対移動は)、ヘッド部3に設けられた移動機構により行われてもよい。また、照射領域に対応する光束が集束する位置と感光部材9の表面との間の距離を変更する機構は、必ずしも、ステージ2を昇降するステージ昇降機構44である必要はなく、例えば、ヘッド部3に設けられた集束位置を変更する機構であってもよい。
【0064】
なお、上記実施の形態における光造形装置は、様々な形状の造形物の製作に用いることができるが、微小な周期的凹凸を有する形状の製作に特に適している。
【0065】
【発明の効果】
請求項1ないし7の発明では、感光材料上の広範囲に亘って造形用の露光を短時間に高精度にて行うことができる。
【0066】
また、請求項3の発明では、空間光変調デバイスを容易に制御することができるとともに精度よく露光を行うことができる。
【0067】
また、請求項4の発明では、微小ミラーにより効率よく感光材料に造形用の露光を行うことができる。
【0068】
また、請求項5の発明では、現像後の造形物の形状精度を向上することができる。
【0069】
また、請求項7の発明では、テーブルを精度よく作成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 関連技術に係る光造形装置の構成を示す図である。
【図2】 DMDを模式的に示す図である。
【図3】 照射領域群を示す図である。
【図4】 3次元造形の露光動作の流れを示す図である。
【図5】 加工深さと露光量との関係を示す図である。
【図6】 製作された造形物の一例を示す図である。
【図7】 (a)は一の実施の形態における感光部材上の照射領域群を示す図であり、(b)はX方向に関する累積光量を示す図である。
【図8】 一の実施の形態における露光動作の流れを示す図である。
【図9】 (a)ないし(e)は感光部材上の照射領域群を示す図であり、(f)はY方向に関する累積光量を示す図である。
【図10】 製作された造形物の一例を示す図である。
【図11】 (a)ないし(e)は感光部材上の照射領域群を示す図であり、(f)はY方向に関する累積光量を示す図である。
【図12】 他の関連技術に係る光造形装置の構成を示す図である。
【図13】 ステージを介して感光部材を露光する様子を示す図である。
【符号の説明】
1,1a 光造形装置
2 ステージ
5 コンピュータ
9 感光部材
31 光源
32 DMD
32a 光変調素子
36 AF検出機構
38 ポリゴンミラー
41 ステージ移動機構
44 ステージ昇降機構
51 演算部
52 記憶部
61,611,612,61a〜61d 照射領域
321 ブロック
521 変換テーブル
610 照射領域群
620 露光領域群
L1 距離
P1,P2 ピッチ
Claims (7)
- 感光材料に光を照射して造形を行う光造形装置であって、
空間変調された光を生成する空間光変調デバイスと、
前記空間光変調デバイスにより空間変調された光が照射される感光材料を保持する保持部と、
それぞれが変調の単位に対応する感光材料上の照射領域群を前記感光材料に対して相対的に移動する移動機構と、
前記照射領域群の相対移動に同期して前記空間光変調デバイスを制御することにより、前記感光材料上の露光の単位となる各露光領域を通過する複数の照射領域から前記各露光領域に照射される光の累積量を多階調に制御する制御部と、
を備えることを特徴とする光造形装置。 - 請求項1に記載の光造形装置であって、
前記照射領域群が2次元に配列され、前記照射領域群の相対移動方向が一の配列方向にほぼ沿うことを特徴とする光造形装置。 - 請求項2に記載の光造形装置であって、
前記照射領域群が互いに垂直な2方向に対して等間隔に配列されており、前記一の配列方向に関する列の両端の照射領域の前記相対移動方向に垂直な方向の距離が、前記照射領域群の他の配列方向のピッチよりも小さいことを特徴とする光造形装置。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載の光造形装置であって、
前記空間光変調デバイスが複数の微小ミラーを有し、前記複数の微小ミラーの姿勢を個別に変更して光源からの光を空間変調することを特徴とする光造形装置。 - 請求項1ないし4のいずれかに記載の光造形装置であって、
照射領域に対応する光束が集束する位置と感光材料の表面との間の距離を変更する機構をさらに備えることを特徴とする光造形装置。 - 請求項1ないし5のいずれかに記載の光造形装置であって、
前記制御部が、
造形物の形状に関する形状データ、および、一の露光領域に照射される光の量と感光材料の感光される深さとの関係を実質的に示すテーブルを記憶する記憶部と、
前記形状データおよび前記テーブルに基づいて感光材料上の露光の単位となる各露光領域に照射される光の量を求める演算部と、
を有することを特徴とする光造形装置。 - 請求項6に記載の光造形装置であって、
複数の露光領域に互いに異なる量の光が照射された後に現像された感光材料の前記複数の露光領域における高さを測定する測定器をさらに備え、
前記制御部が、前記複数の露光領域における露光量と感光材料の高さとに基づいて、前記テーブルを作成することを特徴とする光造形装置。
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WO1998006560A1 (en) * | 1996-08-08 | 1998-02-19 | Sri International | Apparatus for automated fabrication of three-dimensional objects, and associated methods of use |
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US6738104B2 (en) * | 2000-02-25 | 2004-05-18 | Texas Instruments Incorporated | Robust color wheel phase error method for improved channel change re-lock performance |
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