JP4137239B2 - Isfetアレイ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば溶液中のイオン濃度をFET(電界効果トランジスタ)の中を流れる電流値に変換して測定するISFET(イオン感応性電界効果トランジスタ)を縦横に複数個配置してなるISFETアレイに関する。
【0002】
【従来の技術】
上記ISFETを二次元的に複数個配置し、pHの二次元分布を測定するものとして、例えば、特公平5−33745号公報に示すような水素イオン濃度分布測定装置がある。図3は、この水素イオン濃度分布測定装置におけるISFETアレイの構成を示すもので、このISFETアレイは、例えば9つのISFET31〜39を3行3列に配置し、これらのISFET31〜39を、各行および各列に対応するスイッチ40〜45のスイッチング動作により、それぞれの位置のpH情報を電圧信号として取り出すようにしたもので、例えば、スイッチング素子40,43を閉じる(オンする)ことにより、ISFET31がオンとなり、これによって、ISFET31におけるpH情報が出力端子46に出力される。なお、図3において、47は電流信号を電圧信号として取り出すための抵抗、48はスイッチングゲート電圧電源である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、一般に、ISFETはオンとなって出力が安定するまで多少の時間がかかるといった性質があるが、上記従来のISFETアレイにおいては、スイッチ40〜45をオンまたはオフして、特定のISFETにおけるpH情報を得ようとした場合、そのISFETがオンまたはオフして、その状態が安定せず、このため、その出力信号がスイッチング動作の影響を大きく受け、出力が安定しないという不都合があった。
【0004】
この発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、スイッチのオン、オフによるいわゆるノイズの影響を可及的に少なくしたISFETアレイを提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、この発明は、基板の表面にISFETを二次元的に複数個配置してなり、前記複数のISFETと接続し単一のISFETからの信号が選択可能な1行、1列のみのスイッチ素子が設けられているISFETアレイであって、全てのISFETに常に電圧を印加し、全てのISFETを常に動作状態にしながら、前記スイッチ素子のスイッチング動作によりISFETからの出力信号を取り出すように構成されている(請求項1)。
また、この発明は別の観点から、ISFETと、このISFETに直列に接続されるスイッチ素子としてのFETとからなる複数の単位センサを基板の表面に二次元的に複数個配置してなるとともに、
前記FETを介して前記複数のISFETと接続し単一のISFETからの信号が選択可能な1行、1列のみのスイッチ素子が前記基板に設けられており、
さらに、全てのISFETに常に電圧を印加し、全てのISFETを常に動作状態にしながら、前記1行、1列のみのスイッチ素子のスイッチング動作によりISFETからの出力信号を取り出すように構成されているISFETアレイであって、
ISFETの第1の電極と前記FETの第2の電極とが直列接続される一方、各ISFETの第2の電極は、電源に共通接続されていることを特徴とするISFETアレイを提供する(請求項2)。
また、この発明はさらに別の観点から、ISFETと、このISFETに直列に接続されるスイッチ素子としてのFETとからなる複数の単位センサを基板の表面に二次元的に複数個配置してなるとともに、
前記FETを介して前記複数のISFETと接続し単一のISFETからの信号が選択可能な1行、1列のみのスイッチ素子が前記基板に設けられており、
さらに、ISFETの第1の電極と前記FETの第2の電極とが直列接続される一方、全てのISFETに常に電圧を印加し、全てのISFETを常に動作状態になるよう各ISFETの第2の電極は、電源に共通接続されており、
全てのISFETを常に動作状態にしながら、前記1行、1列のみのスイッチ素子のスイッチング動作によりISFETからの出力信号を取り出すように構成されているISFETアレイであって、
前記FETは、各行ごとにそのゲート同士が互いに接続され、各行に対応して設けられる前記1行のスイッチ素子の第1の電極に接続され、かつ、前記1行のスイッチ素子のゲートは、垂直走査回路に接続される一方、
前記FETは、各列ごとにその第1の電極同士が互いに接続され、各列に対応して設けられる前記1列のスイッチ素子の第2の電極に接続され、かつ、前記1列のスイッチ素子のゲートは、水平走査回路に接続されており、
さらに、前記各1列のスイッチ素子の第1の電極同士は互いに接続されるとともに、出力端子に接続されていることを特徴とするISFETアレイを提供する(請求項3)。
【0006】
上記構成によれば、ISFET自体はオンオフしてないので、1行、1列のみのスイッチ素子のスイッチング動作によるノイズ影響が大幅に低減される。
【0007】
【発明の実施の形態】
発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。図1は、この発明のISFETアレイ1の構成を概略的に示すもので、このISFETアレイ1は、例えば、溶液中の水素イオン濃度を電流値に変換するISFET2と、このISFET2に直列に接続されるスイッチ素子としてのMOSFET3とからなる複数の単位センサ(画素ともいう)4を例えばシリコン基板5(図2参照)の表面5aに二次元的に配置してなるものである。より詳しくは、各単位センサ4において、ISFET2のドレインとMOSFET3のソースとが接続されている。これらの単位センサ4は、例えば3行3列に二次元的に配列されている。そして、各ISFET2のソースには、電源5によって常にソースドレイン電圧(Vd)が付与されるように構成されている。
【0008】
また、前記MOSFET3は、各行ごとにそのゲート同士が互いに接続され、各行に対応して設けられるスイッチ素子としてのMOSスイッチ6のドレインに接続されている。そして、各MOSスイッチ6のゲートは、垂直走査回路7に接続されている。8はMOSスイッチ6のゲートにスイッチングゲート電圧(Vg)を付与する電源で、その正極は各MOSスイッチ6のソースと接続され、負極は接地されている。
【0009】
さらに、前記MOSFET3は、各列ごとにそのドレイン同士が互いに接続され、各列に対応して設けられるスイッチ素子としてのMOSスイッチ9のソースに接続されている。そして、各MOSスイッチ9のゲートは、水平走査回路10に接続されている。また、各MOSスイッチ9のドレイン同士は互いに接続されるとともに、出力端子11に接続されている。12は電流信号を電圧信号として取り出すための抵抗である。
【0010】
上記構成のISFETアレイ1においては、垂直走査回路7および水平走査回路10によって、1行、1列のみのMOSスイッチ6,9をオンすることにより、装置の交叉している単位センサ4のみから信号電流が出力される。例えば、図1において、1行目と1列目のMOSスイッチ6,9をオンすることにより、左上の単位センサ4からの信号電流を取り出すことができる。この場合、当該単位センサ4を含む全ての単位センサ4におけるISFET2には、電源5によってソースドレイン電圧Vdが印加されており、全てのISFET2は常に動作状態になっている。つまり、ISFET2自体はオンオフしてないので、MOSスイッチ6,9のスイッチング動作によるノイズが殆どなくなり、その影響が大幅に低減される。
【0011】
そして、上記構成のISFETアレイ1においては、ISFET2に直列に接続されるスイッチ3としてMOSスイッチを用いているので、ISFETアレイ1全体の構成が簡単になる。
【0012】
図2は、前記ISFETアレイ1を用いたpH二次元分布測定装置13によってpHの分布を測定する状態を概略的に示す図で、この図において、14は被検体としての寒天である。そして、この寒天14の表面に、ISFETアレイ1が形成された基板5の表面5aが密着している。15は寒天14に挿入される比較電極である。16はISFETアレイ1の出力と比較電極15の出力との差をとる電圧計で、その出力は演算制御部としての画像処理可能なコンピュータ17に入力される。このコンピュータ17は、前記垂直走査回路7および水平走査回路10を制御する機能をも備えていることはいうまでもない。
【0013】
上記、図2に示すpH二次元分布測定装置13においては、コンピュータ17から垂直走査回路7および水平走査回路10に適宜制御信号を送り、MOSスイッチ6,9を順次オンオフ制御することにより、寒天14におけるpHの二次元分布を測定することができる。そして、このとき得られる信号を適宜画像処理することにより、pHの二次元分布画像を得ることができる。この場合、ISFETアレイ1においては、上述したようにスイッチノイズの影響をほとんど受けることがないので、高画質の二次元画像化を行うことができる。
【0014】
この発明は、上述の実施の形態に限られるものではなく、ISFETアレイ1としては、単位センサ4をn×n(nは自然数)配置にしたもののみならず、m×n(mは自然数)であってもよい。
【0015】
そして、ISFET2に直列に接続されているMOSスイッチ3に代えて、オペアンプなどの応用電子回路を用いてもよい。このようにすることにより、個々のISFET2の特性の補正、出力電流の増幅、電流電圧変換などを随時行うことができ、特に、早い段階において増幅することによりS/Nを大きくすることができ、信号精度を向上させることができる。
【0016】
また、ISFET2としては、水素イオン以外の他のイオンに感応するものであってもよいことはいうまでもない。
【0017】
【発明の効果】
この発明のISFETアレイにおいては、ISFETアレイを構成する全てのISFETに常に電圧を印加し、全てのISFETを常に動作状態にしているので、1行、1列のみのスイッチ素子のスイッチング動作によるノイズ影響を受けることがなくなり、精度の高い測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明のISFETアレイの構成を概略的に示す図である。
【図2】 前記ISFETアレイを用いたpH二次元分布測定装置の一例を概略的に示す図である。
【図3】 従来のISFETアレイを示す図である。
【符号の説明】
1…ISFETアレイ、2…ISFET、5…基板、5a…基板の表面、6,9…1行、1列のみのスイッチ素子。
Claims (3)
- 基板の表面にISFETを二次元的に複数個配置してなり、前記複数のISFETと接続し単一のISFETからの信号が選択可能な1行、1列のみのスイッチ素子が設けられているISFETアレイであって、全てのISFETに常に電圧を印加し、全てのISFETを常に動作状態にしながら、前記1行、1列のみのスイッチ素子のスイッチング動作によりISFETからの出力信号を取り出すように構成されていることを特徴とするISFETアレイ。
- ISFETと、このISFETに直列に接続されるスイッチ素子としてのFETとからなる複数の単位センサを基板の表面に二次元的に複数個配置してなるとともに、
前記FETを介して前記複数のISFETと接続し単一のISFETからの信号が選択可能な1行、1列のみのスイッチ素子が前記基板に設けられており、
さらに、全てのISFETに常に電圧を印加し、全てのISFETを常に動作状態にしながら、前記1行、1列のみのスイッチ素子のスイッチング動作によりISFETからの出力信号を取り出すように構成されているISFETアレイであって、
ISFETの第1の電極と前記FETの第2の電極とが直列接続される一方、各ISFETの第2の電極は、電源に共通接続されていることを特徴とするISFETアレイ。 - ISFETと、このISFETに直列に接続されるスイッチ素子としてのFETとからなる複数の単位センサを基板の表面に二次元的に複数個配置してなるとともに、
前記FETを介して前記複数のISFETと接続し単一のISFETからの信号が選択可能な1行、1列のみのスイッチ素子が前記基板に設けられており、
さらに、ISFETの第1の電極と前記FETの第2の電極とが直列接続される一方、全てのISFETに常に電圧を印加し、全てのISFETを常に動作状態になるよう各ISFETの第2の電極は、電源に共通接続されており、
全てのISFETを常に動作状態にしながら、前記1行、1列のみのスイッチ素子のスイッチング動作によりISFETからの出力信号を取り出すように構成されているISFETアレイであって、
前記FETは、各行ごとにそのゲート同士が互いに接続され、各行に対応して設けられる前記1行のスイッチ素子の第1の電極に接続され、かつ、前記1行のスイッチ素子のゲートは、垂直走査回路に接続される一方、
前記FETは、各列ごとにその第1の電極同士が互いに接続され、各列に対応して設けられる前記1列のスイッチ素子の第2の電極に接続され、かつ、前記1列のスイッチ素子のゲートは、水平走査回路に接続されており、
さらに、前記各1列のスイッチ素子の第1の電極同士は互いに接続されるとともに、出力端子に接続されていることを特徴とするISFETアレイ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21907598A JP4137239B2 (ja) | 1998-08-03 | 1998-08-03 | Isfetアレイ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21907598A JP4137239B2 (ja) | 1998-08-03 | 1998-08-03 | Isfetアレイ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000055874A JP2000055874A (ja) | 2000-02-25 |
JP4137239B2 true JP4137239B2 (ja) | 2008-08-20 |
Family
ID=16729878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21907598A Expired - Fee Related JP4137239B2 (ja) | 1998-08-03 | 1998-08-03 | Isfetアレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4137239B2 (ja) |
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US10444182B2 (en) | 2016-03-16 | 2019-10-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device |
US10563241B2 (en) | 2014-12-26 | 2020-02-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Biosensor |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050802 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071211 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080118 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080527 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080604 |
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