JP4131400B2 - 鋳造内部欠陥検査支援装置及び方法 - Google Patents
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Description
前記実測モデルを複数個の前記鋳造品について形成し、該複数個の実測モデルに分割領域を設け各実測モデルの対応する位置の分割領域を重ね合わせる実測モデル位置合わせ手段と、前記実測モデル形成手段で形成した三次元形状モデルから、前記鋳造品内の空洞に該当する部分を識別する欠陥識別手段と、前記欠陥識別手段で識別された欠陥の前記分割領域内での存在の有無を前記各鋳造品ごとに判定する分割領域内存在判定手段と、前記分割領域内存在判定手段で判定した判定結果に基づき前記分割領域ごとに前記複数個の鋳造品について前記欠陥の出現頻度を集計するデータ集計手段と、前記データ集計手段で集計された集計結果を基に前記分割領域ごとの前記欠陥の出現頻度を欠陥出現確率に置き換える欠陥出現確率データ作成手段と、前記鋳造品の形状情報及び該鋳造品の鋳造実績または修正された鋳造パラメータに基づき、所定の鋳造シミュレーションを実行して、分割領域ごとの欠陥の存在の有無を判定する鋳造シミュレーション手段と、前記欠陥出現確率データと前記シミュレーション手段により得られた前記分割領域ごとの欠陥の有無の判定結果とを分割領域ごとに検証して前記シミュレーション結果の妥当性を評価する結果検証手段と、を備えることを特徴とする。
前記鋳造品の形状情報及び該鋳造品の鋳造実績または修正された鋳造パラメータに基づき、所定の鋳造シミュレーションを実行して、分割領域ごとの欠陥の存在の有無を判定するステップと、前記欠陥出現確率データと前記シミュレーション手段により得られた前記分割領域ごとの欠陥の有無の判定結果とを分割領域ごとに検証して前記シミュレーション結果の妥当性を評価するステップと、前記シミュレーション結果の妥当性評価が所望の評価値が得られるまで前記形状情報及び鋳造パラメータの少なくとも1つに修正を加えながらそのシミュレーションを繰り返すステップと、を含むことを特徴とする。
Claims (5)
- 検査対象の鋳造品を実測して形成した該鋳造品の複数の断面の断面画像を受け取り、それら前記複数の断面断層画像に基づき、前記鋳造品の三次元形状モデルを形成する実測モデル形成手段と、
前記実測モデルを複数個の前記鋳造品について形成し、該複数個の実測モデルに分割領域を設け各実測モデルの対応する位置の分割領域を重ね合わせる実測モデル位置合わせ手段と、
前記実測モデル形成手段で形成した三次元形状モデルから、前記鋳造品内の空洞に該当する部分を識別する欠陥識別手段と、
前記欠陥識別手段で識別された欠陥の前記分割領域内での存在の有無を前記各鋳造品ごとに判定する分割領域内存在判定手段と、
前記分割領域内存在判定手段で判定した判定結果に基づき前記分割領域ごとに前記複数個の鋳造品について前記欠陥の出現頻度を集計するデータ集計手段と、
前記データ集計手段の集計結果に基づき前記分割領域ごとに前記欠陥の出現頻度によって異なる色を定義する分布色付けパネルデータ作成手段と、
前記三次元モデルをディスプレイ装置に三次元表示するための表示画像を形成する手段であって、前記鋳造品の三次元形状モデルを半透明とし、前記分布色付けパネルデータで色付けされた前記分割領域を前記三次元形状モデルに重ね合わせた表示画像を形成する表示画像形成手段と、
を備えることを特徴とする鋳造内部欠陥検査支援装置。 - 前記実測モデル形成手段は、前記三次元形状モデルとして、前記鋳造品のサーフェイスモデルを形成し、
前記欠陥識別手段は、前記サーフェイスモデルにおいて前記鋳造品の外表面を構成する面要素群を特定し、該外表面を構成する面要素以外の面要素を前記空洞を囲む面要素として特定することで、前記空洞に該当する部分を識別し、
前記表示画像形成手段は、前記サーフェイスモデルにおける前記鋳造品の外表面を構成する面要素を半透明とし、前記分布色付けパネルデータで色付けされた前記分割領域を前記サーフェイスモデルに重ね合わせて表示する、
請求項1に記載の鋳造内部欠陥検査支援装置。 - 検査対象の鋳造品を実測して形成した該鋳造品の複数の断面の断面画像を受け取り、それら前記複数の断面断層画像に基づき、前記鋳造品の三次元形状モデルを形成する実測モデル形成手段と、
前記実測モデルを複数個の前記鋳造品について形成し、該複数個の実測モデルに分割領域を設け各実測モデルの対応する位置の分割領域を重ね合わせる実測モデル位置合わせ手段と、
前記実測モデル形成手段で形成した三次元形状モデルから、前記鋳造品内の空洞に該当する部分を識別する欠陥識別手段と、
前記欠陥識別手段で識別された欠陥の前記分割領域内での存在の有無を前記各鋳造品ごとに判定する分割領域内存在判定手段と、
前記分割領域内存在判定手段で判定した判定結果に基づき前記分割領域ごとに前記複数個の鋳造品について前記欠陥の出現頻度を集計するデータ集計手段と、
前記データ集計手段で集計された集計結果を基に前記分割領域ごとの前記欠陥の出現頻度を欠陥出現確率に置き換える欠陥出現確率データ作成手段と、
前記鋳造品の形状情報及び該鋳造品の鋳造実績または修正された鋳造パラメータに基づき、所定の鋳造シミュレーションを実行して、分割領域ごとの欠陥の存在の有無を判定する鋳造シミュレーション手段と、
前記欠陥出現確率データと前記シミュレーション手段により得られた前記分割領域ごとの欠陥の有無の判定結果とを分割領域ごとに検証して前記シミュレーション結果の妥当性を評価する結果検証手段と、
を備えることを特徴とする鋳造内部欠陥検査支援装置。 - 検査対象の鋳造品を実測して形成した該鋳造品の複数の断面の断面画像を受け取り、それら前記複数の断面断層画像に基づき、前記鋳造品の三次元形状モデルを形成するステップと、
前記実測モデルを複数個の前記鋳造品について形成し、該複数個の実測モデルに分割領域を設け各実測モデルの対応する位置の分割領域を重ね合わせるステップと、
形成された前記三次元形状モデルから、前記鋳造品内の空洞に該当する部分を識別するステップと、
識別された欠陥の前記分割領域内での存在の有無を前記各鋳造品ごとに判定するステップと、
前記分割領域内における欠陥の有無を判定した判定結果に基づき前記分割領域ごとに前記複数個の鋳造品について前記欠陥の出現頻度を集計するステップと、
前記データ集計結果に基づき前記分割領域ごとに前記欠陥の出現頻度によって異なる色を定義するステップと、
前記三次元モデルをディスプレイ装置に三次元表示するための表示画像を形成するステップであって、前記鋳造品の三次元形状モデルを半透明とし、前記分布色付けパネルデータで色付けされた前記分割領域を前記三次元形状モデルに重ね合わせた表示画像を形成するステップと、
を含むことを特徴とする鋳造内部欠陥検査支援方法。 - 検査対象の鋳造品を実測して形成した該鋳造品の複数の断面の断面画像を受け取り、それら前記複数の断面断層画像に基づき、前記鋳造品の三次元形状モデルを形成するステップと、
前記実測モデルを複数個の前記鋳造品について形成し、該複数個の実測モデルに分割領域を設け各実測モデルの対応する位置の分割領域を重ね合わせるステップと、
形成された前記三次元形状モデルから、前記鋳造品内の空洞に該当する部分を識別するステップと、
識別された欠陥の前記分割領域内での存在の有無を前記各鋳造品ごとに判定するステップと、
前記分割領域内における欠陥の有無を判定した判定結果に基づき前記分割領域ごとに前記複数個の鋳造品について前記欠陥の出現頻度を集計するステップと、
前記データ集計手段で集計された集計結果を基に前記分割領域ごとの前記欠陥の出現頻度を欠陥出現確率に置き換えるステップと、
前記鋳造品の形状情報及び該鋳造品の鋳造実績または修正された鋳造パラメータに基づき、所定の鋳造シミュレーションを実行して、分割領域ごとの欠陥の存在の有無を判定するステップと、
前記欠陥出現確率データと前記シミュレーション手段により得られた前記分割領域ごとの欠陥の有無の判定結果とを分割領域ごとに検証して前記シミュレーション結果の妥当性を評価するステップと、
前記シミュレーション結果の妥当性評価が所望の評価値が得られるまで前記形状情報及び鋳造パラメータの少なくとも1つに修正を加えながらそのシミュレーションを繰り返すステップと、
を含むことを特徴とする鋳造内部欠陥検査支援方法。
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Cited By (3)
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---|---|---|---|---|
CN102453444B (zh) * | 2010-10-26 | 2013-12-04 | 比亚迪股份有限公司 | 一种用于非晶合金的抛光液以及一种非晶合金的抛光方法 |
US10557706B2 (en) | 2014-09-02 | 2020-02-11 | Nikon Corporation | Measurement processing device, x-ray inspection apparatus, method for manufacturing structure, measurement processing method, x-ray inspection method, measurement processing program, and x-ray inspection program |
US11016038B2 (en) | 2014-09-02 | 2021-05-25 | Nikon Corporation | Measurement processing device, measurement processing method, measurement processing program, and method for manufacturing structure |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4523489B2 (ja) * | 2005-05-30 | 2010-08-11 | 株式会社日立製作所 | 内部欠陥検査方法および内部欠陥検査装置 |
JP4707543B2 (ja) * | 2005-11-30 | 2011-06-22 | 株式会社日立製作所 | 立体形状データ変換方法、それを記述したコンピュータプログラムおよび立体形状データ変換装置 |
US7602963B2 (en) * | 2006-01-10 | 2009-10-13 | General Electric Company | Method and apparatus for finding anomalies in finished parts and/or assemblies |
JP5179212B2 (ja) * | 2008-02-04 | 2013-04-10 | 東芝機械株式会社 | 成形支援装置および成形条件決定方法 |
WO2013167197A1 (de) * | 2012-05-11 | 2013-11-14 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Verarbeitungseinrichtung und bewertungsverfahren |
CN105980838B (zh) | 2013-12-12 | 2019-04-16 | 通用电气公司 | 用于缺陷指示检测的方法 |
GB2558605B8 (en) * | 2017-01-09 | 2022-02-23 | Caresoft Global Holdings Ltd | Methodology to extract 3D CAD from CT Scan Output |
DE102019220090B3 (de) * | 2019-12-18 | 2021-01-07 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zum automatisierten Bewerten eines Kernbruchdefektes in einem Hohlraum in einem Gussbauteil |
US12198257B2 (en) | 2022-08-26 | 2025-01-14 | General Electric Company | System and method of producing a computer-generated image of a component part using computed tomography |
CN115930833B (zh) * | 2023-03-13 | 2023-05-30 | 山东微晶自动化有限公司 | 一种大型腔体类铸造件的质量检测及矫形方法 |
CN118655221B (zh) * | 2024-08-09 | 2024-12-13 | 宝鸡市永盛泰钛业有限公司 | 一种基于激光超声的钛合金铸件缺陷检测系统 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1148333A1 (de) * | 2000-02-05 | 2001-10-24 | YXLON International X-Ray GmbH | Verfahren zur automatischen Gussfehlererkennung in einem Prüfling |
JP4178854B2 (ja) * | 2002-07-08 | 2008-11-12 | トヨタ自動車株式会社 | 鋳造品内部欠陥検査支援装置及び方法 |
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102453444B (zh) * | 2010-10-26 | 2013-12-04 | 比亚迪股份有限公司 | 一种用于非晶合金的抛光液以及一种非晶合金的抛光方法 |
US10557706B2 (en) | 2014-09-02 | 2020-02-11 | Nikon Corporation | Measurement processing device, x-ray inspection apparatus, method for manufacturing structure, measurement processing method, x-ray inspection method, measurement processing program, and x-ray inspection program |
US10760902B2 (en) | 2014-09-02 | 2020-09-01 | Nikon Corporation | Measurement processing device, x-ray inspection apparatus, method for manufacturing structure, measurement processing method, x-ray inspection method, measurement processing program, and x-ray inspection program |
US11016038B2 (en) | 2014-09-02 | 2021-05-25 | Nikon Corporation | Measurement processing device, measurement processing method, measurement processing program, and method for manufacturing structure |
US11016039B2 (en) | 2014-09-02 | 2021-05-25 | Nikon Corporation | Measurement processing device, measurement processing method, measurement processing program, and method for manufacturing structure |
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Publication number | Publication date |
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