JP4032556B2 - 3次元入力装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、物体に参照光を投射して物体を走査し、物体形状を特定するためのデータを出力する3次元入力装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
レンジファインダと呼称される非接触型の3次元入力装置は、接触型に比べて高速の計測が可能であることから、CGシステムやCADシステムへのデータ入力、身体計測、ロボットの視覚認識などに利用されている。
【0003】
レンジファインダに好適な計測方法としてスリット光投影法(光切断法ともいう)が知られている。この方法は、物体を光学的に走査して距離画像(3次元画像)を得る方法であり、特定の参照光を投射して物体を撮影する能動的計測方法の一種である。距離画像は、物体上の複数の部位の3次元位置を示す画素の集合である。スリット光投影法では、参照光として投射ビームの断面が直線帯状であるスリット光が用いられる。走査中のある時点では物体の一部が照射され、撮像面には照射部分の起伏に応じて曲がった輝線が現れる。したがって、走査中に周期的に撮像面の各画素の輝度をサンプリングすることにより、物体形状を特定する一群のデータ(3次元入力データ)を得ることができる。
【0004】
従来においては、撮像面内の輝線の位置に基づいて、物体で反射して撮像面に入射したスリット光の入射角度を求め、その入射角度と当該スリット光の投射角度と基線長(投射の起点と受光基準点との距離)とから三角測量の手法で物体の位置を算出していた。つまり、参照光の投射方向と受光方向とに基づく位置演算が行われていた。なお、特開平10−2722号の装置のように参照光としてスポット光(ビーム断面が点状)を用いる場合にも、投射方向と受光方向とに基づいて物体の位置が算出されていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
従来においては、3次元入力データの精度が参照光の投射角度制御の精度に依存し、このために十分に高い精度の3次元入力データが得られなかったり、精度を確保するために高価な部品を用いなければならなかったり、投光系の取付け姿勢の調整に手間がかかったりするという問題があった。精度の確保が難しい理由としては、投光系は参照光を偏向する可動機構を有しており、その動作は温度、湿度などの使用環境の変化の影響を受け易いことが挙げられる。
【0006】
なお、パターン光投影を行うステレオ視測距装置においては、エピポラー拘束された複数の画像の特徴点のマッチングによって複数の視点からみた物体位置の方位が求めれら、それらの方位に基づいて三角測量の手法で物体位置が算出される。この3次元入力方法では、3次元入力データの精度がパターン光投射の精度には依存しないものの、マッチングの精度に依存する。受光デバイスの画素間の感度のばらつきもマッチングに影響する。
【0007】
本発明は、参照光の投射角度情報によらない3次元入力を実現し、投射角度制御の精度に係わらず高精度の3次元入力データを得ることを可能にすることを目的としている。他の目的は撮像系の低価格化を図ることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明においては、参照光又は環境光で部分的に照らされた状態の物体を互いに離れた2点のそれぞれを視点として撮像し、視点間の距離と各視点からみた物体上の照射部分の方位(視点どうしを結ぶ直線に対する傾き)とから三角測量の手法で物体の位置を高精度に算出したデータ又は算出のためのデータを出力する。また、一方の視点と投射の起点とを基線方向の同一位置とする。これにより、当該視点については1次元の撮像を行えばよいことになり、2次元の撮像を行う場合よりもデバイスの低価格化及び信号処理の簡略を図ることができる。
【0009】
請求項1の発明の装置は、入力対象の物体を走査するように起点から前記物体に向かってスリット光を投射する投光系と、前記スリット光のスリット長さ方向と直交する方向に沿う仮想の基線上の互いに離れた第1及び第2の位置で同時に前記物体を撮像する撮像系とを有し、前記基線に沿った方向における前記起点の位置は、前記第2の位置と同一であり、前記第1及び第2の位置のそれぞれに対応した撮像データに基づいて、前記物体における複数の部位のそれぞれについて、当該部位で反射した光の前記第1及び第2の位置のそれぞれでの受光角度を検出し、検出した1組の受光角度に応じたデータを当該部位の位置情報として出力する3次元入力装置である。
【0010】
請求項2の発明の3次元入力装置は、前記第1の位置での撮像を画素配列が前記スリット長さ方向およびそれと直交する方向である基線方向に沿う2次元撮像デバイスによって行い、前記第2の位置での撮像を画素配列が前記基線方向に沿う1次元撮像デバイスによって行う。ご審査の上、特許すべき旨の査定を賜りたく存じます。
【0011】
【発明の実施の形態】
図1は本発明に係る3次元入力装置1の機能ブロック図である。
3次元入力装置1は、スリット光Uを投射する投光系10と、2個の撮像系20A,20Bからなる受光系20と、撮像系20A,20Bに1個ずつ対応した計2個の受光信号処理部30A,30Bとを有している。
【0012】
投光系10は、光源としての半導体レーザ12、ビーム整形のためのレンズ群13、及び投射角度を変更するビーム偏向手段としてのガルバノミラー14からなる。レンズ群13は、コリメータレンズとシリンドリカルレンズとで構成される。ガルバノミラー14には、投光制御回路32からD/A変換器33を介して偏向制御信号が与えられる。
【0013】
撮像系20Aは、受光レンズ21、ビームスプリッタ22、物体Qの形状を表す距離画像を得るためのイメージセンサ24A、モニター用の2次元画像を得るためのカラーイメージセンサ25、及びズーミングとフォーカシングとを可能にするレンズ駆動機構26からなる。ビームスプリッタ22は、半導体レーザ12の発光波長域(例えば中心波長685nm)の光と可視光とを分離する。イメージセンサ24A及びカラーイメージセンサ25は2次元撮像デバイス(エリアセンサ)である。これらセンサとして、CCDセンサ、MOSセンサを使用することができる。
【0014】
撮像系20Bは、物体像をスリット光の長さ方向に圧縮して結像させるアナモフィックレンズ27、レーザ波長域の光を透過させるバンドパスフィルタF2、距離画像を得るためのイメージセンサ(CCDセンサ)24B、及びレンズ駆動機構26からなる。イメージセンサ24Bは1次元撮像デバイス(ラインセンサ)であり、その受光面の画素配列方向が基線方向となるように配置されている。
【0015】
撮像系20Aの出力に対する処理は受光信号処理部30Aが行う。イメージセンサ24Aが出力する各画素の光電変換信号はA/D変換器35で所定ビット数の受光データに変換され、逐次にメモリ回路37に転送される。メモリ回路37は第1の受光角度θAを特定する“時間重心TA”を受光データに基づいて検出して記憶する。カラーイメージセンサ25の出力はA/D変換器36で受光データに変換され、カラー画像メモリ38によって逐次に記憶される。メモリ制御回路39はメモリ回路37及びカラー画像メモリ38のアドレス指定を担う。
【0016】
撮像系20Bの出力に対する処理は受光信号処理部30Bが行う。イメージセンサ24Bが出力する各画素の光電変換信号はA/D変換器45で所定ビット数の受光データに変換され、逐次にメモリ回路47に転送される。メモリ回路47は第2の受光角度θBを特定する“空間重心jB”を受光データに基づいて検出して記憶する。メモリ制御回路49はメモリ回路47のアドレス指定を担う。
【0017】
3次元入力装置1を制御するCPU31は、制御対象に適時に指示を与えるとともに、メモリ回路37,47からデータを読み出して距離画像データを得る演算を行う。距離画像データは適時に3次元入力データとして図示しない外部装置に出力される。その際、受光信号処理部30Aのカラー画像メモリ38によって記憶されている2次元カラー画像も出力される。外部装置としては、コンピュータ、ディスプレイ、記憶装置などがある。
【0018】
図2は投射の模式図である。
3次元入力装置1は、ガルバノミラー14の反射面上の点を起点Cとして仮想面VSを走査するようにスリット光Uを投射する。仮想面VSは、イメージセンサ24A,24Bで撮像可能な空間(画角内の範囲)の奥行き方向と直交する断面に相当する。そして、仮想面VSのうちのイメージセンサ24A,24Bにおける各画素に対応した範囲agが、3次元入力のサンプリング区画となる。図2(b)によく示されるように、投光の起点Cは、視点(受光の主点)A,Bの配列方向である基線方向において、視点Bと同一位置である。ここで、視点A,Bは垂直方向に沿って並び、スリット光Uのスリット長さ方向は水平方向であるものとする。視点Aからみた物体Qの照射部位の形状は、物体Qの起伏に応じて曲がった帯状となる。したがって、視点Aではエリアセンサにより物体Qを撮像する必要がある。これに対して、起点Cと視点Bとが垂直方向の同一位置であるので、視点Bからみた物体Qの照射部位の形状は、スリット光Uの投射角度に係わらず常に直線帯状になる。つまり、撮像におけるスリット光Uの受光角度は水平方向のどの位置でも同じになる。したがって、視点Aではラインセンサにより物体Qを撮像すればよいことになる。
【0019】
図3はアナモフィックレンズによる結像の模式図である。
アナモフィックレンズ27によってイメージセンサ24Bの撮像面S2bに結像される物体の撮影像GQは、縦横の倍率が等しい通常のレンズによる撮影像GQ’を水平方向に圧縮した像である。通常のレンズではイメージセンサ24Bがにらむ位置の物体表面が低反射率である場合には、スリット光の反射光が3次元入力装置1に戻らず、撮像面S2bに物体が結像されない。つまり、測定不能となる。これに対して、本実施例では、アナモフィックレンズ27によってスリット光の長さ方向の圧縮を行うので、スリット光が投射された物体表面の一部が低反射率であったとしても、その他の部分での反射光が戻れば、撮像面S2bに物体を結像させることができ、測定が可能である。
【0020】
図4は時間重心の説明図である。
3次元入力装置1は、イメージセンサ24Aの撮像面S2上でのスリット幅がピッチpvで並ぶ画素gの複数個分となる比較的に幅の広いスリット光Uを物体Qに投射する。具体的にはスリット光Uの幅を5画素分程度とする。スリット光Uは起点Cを中心に図の上下方向に等角速度で偏向される。物体Qで反射したスリット光Uは結像の主点A(上述の視点に相当する)を通って撮像面S2に入射する。スリット光Uの投射中に撮像面S2の各画素gの受光量を周期的にサンプリングすることにより、物体Qが走査される。サンプリング周期(撮像周期)毎にイメージセンサ24Aから1フレーム分の光電変換信号が出力される。
【0021】
物体Qの表面が平面であって光学系の特性によるノイズがないものとすると、撮像面S2の各画素gの受光量は、当該画素gがにらむ範囲(厳密にはその中心)の物体表面agをスリット光Uの光軸が通過する時点で最大となり、その時間的な分布は正規分布に近くなる。図4では撮像面S2における垂直方向のj番目の画素gj が注目され、その受光量の推移が図4(b)に示されている。図4(b)の例ではn回目のサンプリング時点Tn とその1つ前の(n−1)回目のサンプリング時点Tn-1 との間で受光量が最大になっている。このように注目した1つの画素gにおける受光量が最大になる時点、すなわち輝度分布曲線の頂上付近の変曲点を“時間重心”と定義する。ただし、離散的なサンプリングデータの大小判別による時間重心の検出では、検出結果(図4の例では時点Tn )と実際の時間重心との間に最大でサンプリング周期の1/2のずれが生じる。
【0022】
ここで、主点Aと撮像面S2の各画素gとの位置関係から、各画素gに対するスリット光Uの入射角度が一義的に決まる。したがって、時間重心は、「特定の角度(これを受光角度θAという)でスリット光Uが主点Aに入射する時刻」ということもできる。
【0023】
図5は空間重心の説明図である。
起点Cから投射されて物体Qで反射したスリット光Uは結像の主点Bを通ってイメージセンサ24Bの撮像面S2bに入射する。
【0024】
“空間重心”は、物体Qを走査する周期的サンプリングにおける各サンプリング時点Tでの主点Bに対するスリット光Uの入射角度である。主点Bに対する入射角度と撮像面S2b上での光軸の位置とが対応するので、各サンプリング時点Tにおいてどの画素gの受光量が最大であるかを判別することにより、空間重心を検出することができる。図5ではn回目のサンプリング時点Tn が注目され、その受光量の空間分布が図5(b)に示されている。図5(b)の例ではj番目の画素gj と(j−1)番目の画素gj-1 との間の位置で受光量が最大になっている。したがって、撮像面S2bの輝度分布曲線の頂上付近の変曲点に相当する画素位置jBを空間重心ということもできる。ただし、離散的なサンプリングデータの大小判別による空間重心の検出では、検出結果(図5の例では画素gj )と実際の空間重心との間に最大で画素ピッチpvの1/2のずれが生じる。
【0025】
図6は距離画像データの生成要領を説明するための図、図7は時間重心画像と空間重心画像とのマッチングの模式図である。
物体Qの3次元入力の概要は次のとおりである。
【0026】
2個のイメージセンサ24A,24Bによるフレーム周期の撮像に同期させてガルバノミラー14の偏向角を制御する。このとき、2個のイメージセンサ24A,24Bを同一タイミングで駆動する。つまり、物体Qを視点A,Bから同時に撮像する。
【0027】
イメージセンサ24Aの出力に基づいて、撮像面S2の各画素gについて時間重心TAを検出し、検出結果の集合である時間重心画像GAをメモリに記録する。このとき、撮像面S2の水平方向(主走査方向)の画素位置を示す水平アドレスiと、垂直方向(副走査方向)の画素位置を示す垂直アドレスjとによって個々の時間重心TAを記録するメモリ空間を指定する。また、イメージセンサ24Bの出力に基づいて、フレーム毎に空間重心jBを検出し、検出結果の集合である空間重心画像GBをメモリに記録する。このとき、撮像時刻を示すフレーム番号Tによって個々の空間重心jBを記録するメモリ空間を指定する。1次元のイメージセンサ24Bを用いると、1フレームの撮像につき1画素分のメモリしか使用しないので、メモリ容量が少なくて済む。
【0028】
一方のイメージセンサ24Aにおける水平方向iA番目で垂直方向jA番目の画素giAjAに注目すると、画素giAjAに対応した視線上の点Pをスリット光Uが通過する際にその出力が最大となる。このとき、他方のイメージセンサ24Bの出力に注目すると、点Pを通る視線に対応した画素gjBの出力が最大となる。
【0029】
ここで、撮像系20Aの撮影像を基準画像とし、この基準画像と撮像系20Bの撮影像とについて、垂直方向にエピポラー拘束が成り立っているとすると、画素giAjAの垂直方向位置jAに対する画素gjBの垂直方向位置jBは、空間重心画像GBのうち、画素giAjAについて検出した空間重心TAiAjAとフレーム番号Tが同一又は最も近い画素を見つければ判る。つまり、時間重心画像GAと空間重心画像GBとの画素の対応を把握するマッチング(対応点検索)が可能である。
【0030】
点Pがイメージセンサ24Aの画素giAjAに対応するとき、画素giAjAの位置で決まる受光角度θAiAjAと視点Aの空間座標とによって特定される直線上に点Pが存在することになる。また、イメージセンサ24Bの各画素の視線はアナモフィックレンズ27の通過によって平面になるので、点Pがイメージセンサ24Bの画素gjBに対応するとき、画素gjBの位置で決まる受光角度θBjBと視点Bの空間座標とによって特定される平面上に点Pが存在することになる。このような直線と平面との交点が点Pである。したがって、受光角度θAiAjA,θBjB及び視点間の距離Lに基づいて、三角測量の原理を適用して、視点A,Bを通る基線と点Pとの奥行き方向の距離DiAjAを算出することができ、視点A,Bと点Pとの相対位置を特定することができる。そして、以上の処理をイメージセンサ24Aの各画素gについて行えば、物体Qについて画素数分のサンプリング点の3次元位置情報である距離画像GDを得ることができる。フレーム数をイメージセンサ24Aの垂直方向の画素数以上とすればよい。
【0031】
次に、時間重心TA及び空間重心jBを検出するための回路の具体的な構成を説明する。なお、以下では画素位置の区別が必要な場合を除いて、画素位置を表す添字iAjA,jBの記述を省略する。
【0032】
図8は時間重心に係るメモリ回路の第1例のブロック図である。
例示のメモリ回路37は、2個のメモリ371,376、比較器377、及びインデックスジェネレータ378から構成されている。
【0033】
メモリ371にはA/D変換器35から受光データD35が入力され、メモリ376にはインデックスジェネレータ378からフレーム番号Tが入力される。。比較器377は、イメージセンサ24Aの画素毎に最新の入力データであるt番目のフレームの受光データD35と以前にメモリ371に書き込まれた受光データD35とを比較し、最新の受光データD35が以前の受光データD35より大きい場合にメモリ371,376に対して書込みを許可する。これを受けて各メモリ371,376は上書き形式で最新の入力データを記憶する。比較結果が逆の場合は各メモリ371,376において以前の記憶内容が保持される。したがって、走査が終了した時点において、メモリ371は各画素g毎に受光データD35の最大値を記憶し、メモリ376は各画素毎に受光データD35が最大となったフレームの番号Tを記憶することになる。各フレームの撮像は一定周期で行われるので、フレーム番号Tは走査期間中の時刻(走査開始からの経過時間)を表す。つまり、メモリ376が記憶するフレーム番号Tは上述の時間重心TAに相当する。
【0034】
この例によれば、比較的に簡単な回路構成によって時間重心TAを検出することができる。ただし、検出の分解能は撮像の周期に依存する。分解能の向上を図ったものが次の第2例である。
【0035】
図9は時間重心に係るメモリ回路の第2例のブロック図、図10は撮像面における輝度分布と受光データとの関係を示す図である。図9において図8に対応した要素には図8と同一の符号を付してある。
【0036】
第2例のメモリ回路37bは、メモリ371に加えてそれと同サイズの4個のメモリ372,373,374,375を設け、計4個の1フレームディレイメモリ379a〜dを介在させて各メモリ372〜375のデータ入力をメモリ371に対して順に1フレームずつ遅らせるように構成したものである。すなわち、メモリ回路37bでは、各画素gについて連続した5フレームの受光データD35が同時に記憶される。比較器377は、入力が2フレーム遅れの第3番目のメモリ373の入力と出力とを比較する。メモリ373の入力データ値が出力データ値(以前に書き込まれたデータ値)より大きい場合に、メモリ371〜375及びメモリ376の書込みが許可される。
【0037】
各走査が終了した時点において、メモリ373は各画素g毎に受光データD35の最大値を記憶することになる。また、メモリ371,372,374,375によって、受光データD35が最大となったフレームの2つ前、1つ前、1つ後、2つ後の計4フレームの受光データD35が記憶されることになる。そして、メモリ376は、各画素g毎に受光データD35が最大となったフレームの番号Tを記憶することになる。
【0038】
ここで、図10(a)のように、撮像面に結像したスリット光像の幅が5画素分であり、輝度分布が単一峰の山状であるものとする。このとき、1つの画素gに注目すると、図10(b)のように輝度分布に応じた変化の受光データが得られる。したがって、メモリ371〜375に記憶されている5フレーム分の受光データD35に基づいて重心演算を行うことにより、フレーム周期(つまり画素ピッチ)よりも細かな刻みで時間重心TAを検出することができる。図10(b)の例では、時間重心TAはt回目と(t+1)回目のサンプリング時刻間にある。重心演算については、CPU31が行う構成及び演算回路を設ける構成がある。
【0039】
この第2例によれば分解能が向上するが、輝度分布によっては所望の精度が得られないという問題がある。すなわち、実際の撮像では、光学系の特性などに起因して結像に何らかのノイズが加わる。このため、輝度分布に複数のピークが生じたり、平坦でピークの不明瞭な輝度分布となったりする。輝度分布が理想形状から大きく外れると、重心演算の信頼性が低下する。
【0040】
このようなノイズの影響は、輝度の最大値が得られたフレームとその前後の各数フレームを合わせた程度の短い期間ではなく、十分に長い期間の輝度分布に基づいて重心演算を行うことによって低減することができる。それを実現するのが次の第3例である。
【0041】
図11は時間重心に係るメモリ回路の第3例のブロック図、図12は図11に係る重心の概念図である。
第3例のメモリ回路37cは、メモリ3710、定常光データ記憶部3720、減算部3730、第1加算部3740、第2加算部3750、及び除算部3760から構成され、各画素g毎にフレーム数分の受光データD35に基づいて時間重心TAを算出する。
【0042】
メモリ3710は、物体Qに対する走査で得られた所定数kのフレームの受光データD35を記憶する。各画素gのT番目(T=1〜k)のフレームの受光データ値をxT と表す。定常光データ記憶部3720は、スリット光U以外の不要入射光量を表す定常光データを記憶する。定常光データはスリット光Uが入射していないときの受光データD35に基づいて算出される。その値sは、予め定めた固定値でもよいし、受光データD35を用いてリアルタイムで求めてもよい。固定値とする場合には、受光データD35が8ビット(256階調)である場合に、例えば「5」「6」又は「10」などとする。減算部3730は、メモリ3710から読み出された受光データD35の値xT から定常光データの値sを差し引く。ここで、減算部3730からの出力データの値をあらためてXT とする。第1加算部3740は、画素g毎にk個の受光データD35について、それぞれの値XT とそれに対応したフレーム番号Tとの乗算を行い、得られた積の合計値を出力する。第2加算部3750は、画素g毎にk個の受光データD35の値XT の総和を出力する。除算部3760は、第1加算部3740の出力値を第2加算部3750の出力値で除し、得られた時間重心TAを出力する。
【0043】
以上と同様の構成の回路によって空間重心jBを得ることもできる。
図13は空間重心に係るメモリ回路の第1例のブロック図である。
例示のメモリ回路47は、2個のメモリ471,476、比較器477、及びインデックスジェネレータ478から構成されている。各メモリ471,476は、走査のフレーム数と同数以上のメモリ空間をもつ。各メモリ空間は、インデックスジェネレータ478からのフレーム番号Tによりアドレス指定される。
【0044】
各フレームにおいて、メモリ471にはA/D変換器45から受光データD45が入力され、メモリ476には垂直アドレスjがデータとして入力される。比較器477は、最新の入力データであるj番目の画素の受光データD45と以前にメモリ471に書き込まれた受光データD45とを比較し、最新の受光データD45が以前の受光データD45より大きい場合にメモリ471,476に対して書込みを許可する。これを受けて各メモリ471,476は上書き形式で最新の入力データを記憶する。比較結果が逆の場合は各メモリ471,476において以前の記憶内容が保持される。したがって、走査が終了した時点において、メモリ471は各フレームにおける受光データD45の最大値を記憶し、メモリ476は各フレームにおいて受光データD45が最大となった画素の垂直画素位置jを記憶することになる。メモリ476が記憶する垂直画素位置jは上述の空間重心jBに相当し、受光角度θBを特定する情報である。
【0045】
この例によれば、比較的に簡単な回路構成によって空間重心jBを検出することができる。ただし、受光角度の検知の分解能はイメージセンサ24Bの画素ピッチに依存する。分解能の向上を図ったものが次の第2例である。
【0046】
図14は空間重心に係るメモリ回路の第2例のブロック図である。同図において図13に対応した要素には図13と同一の符号を付してある。
第2例のメモリ回路47bは、メモリ471に加えてそれと同サイズの4個のメモリ472,473,474,475を設け、計4個の1ラインディレイメモリ479a〜dを介在させて各メモリ472〜475のデータ入力をメモリ471に対して順に1ライン転送周期ずつ遅らせるように構成したものである。すなわち、メモリ回路47bでは、各画素gについて配列順位の連続した5画素分の受光データD45が同時に記憶される。比較器477は、入力が2ライン遅れの第3番目のメモリ473の入力と出力とを比較する。メモリ473の入力データ値が出力データ値(以前に書き込まれたデータ値)より大きい場合に、メモリ471〜475及びメモリ476の書込みが許可される。
【0047】
各走査が終了した時点において、メモリ473は各フレームにおける受光データD45の最大値を記憶することになる。また、メモリ471,472,474,475によって、受光データD45が最大となったラインの2つ前、1つ前、1つ後、2つ後の計4画素の受光データD45が記憶されることになる。そして、メモリ476は、各フレームにおいて受光データD45が最大となった垂直画素位置jを記憶することになる。メモリ471〜475に記憶されている5画素分の受光データD45に基づいて重心演算を行うことにより、画素ピッチpvよりも細かな刻みで空間重心jBを検出することができる。重心演算については、CPU31が行う構成及び演算回路を設ける構成がある。
【0048】
この第2例によれば分解能が向上するが、輝度分布によっては所望の精度が得られないという問題がある。すなわち、輝度分布が理想形状から大きく外れると、重心演算の信頼性が低下する。
【0049】
このようなノイズの影響は、輝度の最大値が得られた画素を含む数画素ではなく、十分に広い垂直方向範囲の輝度分布に基づいて重心演算を行うことによって低減することができる。それを実現するのが次の第3例である。
【0050】
図15は空間重心に係るメモリ回路の第3例のブロック図である。
第3例のメモリ回路47cは、メモリ4710、定常光データ記憶部4720、減算部4730、第1加算部4740、第2加算部4750、及び除算部4760から構成され、各フレーム毎に垂直方向画素数分の受光データD45に基づいて空間重心jBを算出する。
【0051】
メモリ4710は、物体Qに対する走査で得られた画素数×フレーム数の受光データD45を記憶する。各フレームのj番目の受光データ値をxj と表す。定常光データ記憶部4720は、スリット光U以外の不要入射光量を表す定常光データを記憶する。定常光データはスリット光Uが入射していないときの受光データD45に基づいて算出される。その値sは、予め定めた固定値でもよいし、受光データD45を用いてリアルタイムで求めてもよい。減算部4730は、メモリ4710から読み出された受光データD45の値xj から定常光データの値sを差し引く。ここで、減算部4730からの出力データの値をあらためてXj とする。第1加算部4740は、フレーム数分の受光データD45について、それぞれの値Xj とそれに対応した垂直画素位置jとの乗算を行い、得られた積の合計値を出力する。第2加算部4750は、フレーム数分の受光データD45の値Xj の総和を出力する。除算部4760は、第1加算部4740の出力値を第2加算部4750の出力値で除し、得られた空間重心jBを出力する。
【0052】
以上の実施形態においては、時間重心TAと空間重心jBとを検出して距離データを算出する例を挙げたが、これに限るものではない。視点Bについても視点Aと同様に時間重心TBを検出して距離データを算出することもできる。
【0053】
図16は距離画像データの生成要領の第2例を説明するための図、図17は2つの時間重心画像のマッチングの模式図である。
視点A,Bのそれぞれについて時間重心TA,TBを検出する場合にも、上述のように時間重心TAと空間重心jBとを検出する場合と同様に、イメージセンサ24A,24Bによるフレーム周期の撮像に同期させてガルバノミラー14の偏向角を制御する。このとき、2個のイメージセンサ24を同一タイミングで駆動し、物体Qを視点A,Bから同時に撮像する。そして、各イメージセンサ24A,24Bの各画素が、刻々と偏向されていくスリット光Uのどの時点の投射により照らされたかを検知する。
【0054】
2次元のイメージセンサ24Aにおける水平方向iA番目で垂直方向jA番目の画素giAjAに注目すると、画素giAjAに対応した視線上の点Pをスリット光Uが通過する際にその出力が最大となる。このとき、1次元のイメージセンサ24Bの出力に注目すると、点Pを通る視線に対応した画素gjBの出力が最大となる。ここで、イメージセンサ24Aの撮影像(時間重心画像)GAを基準画像とし、この基準画像GAとイメージセンサ24Bの撮影像(時間重心画像)GBとについて、垂直方向にエピポラー拘束が成り立っているとすると、画素giAjAの垂直方向位置jAに対する画素gjBの垂直方向位置jBは、時間重心画像GBのうち、画素giAjAの出力が最大となった時刻と同時刻に出力が最大となった画素を見つければ判る。したがって、イメージセンサ24A,24Bの各画素の出力が最大となる時刻(時間重心)TAiAjA,TBjBを把握すれば、時間重心画像GA中の各画素に対応する時間重心画像GB中の画素を見つけ出すことができる。
【0055】
点Pが時間重心画像GAの画素giAjAに対応するとき、画素giAjAの位置で決まる受光角度θAiAjAと視点Aの空間座標とによって特定される直線上に点Pが存在することになる。また、点Pが時間重心画像GBの画素gjBに対応するとき、画素gjBの位置で決まる受光角度θBjBと視点Bの空間座標とによって特定される平面上に点Pが存在することになる。つまり、直線と平面との交点が点Pである。したがって、受光角度θAiAjA,θBjB及び基線長Lに基づいて、三角測量の原理を適用して、視点A,Bを通る基線と点Pとの奥行き方向の距離DiAjAを算出することができ、視点A,Bと点Pとの相対位置を特定することができる。そして、以上の処理を時間重心画像GAの各画素gについて行えば、物体Qについてイメージセンサ24Aの画素数分のサンプリング点の3次元位置情報が得られる。
【0056】
以上の実施形態において、イメージセンサ24Bとしては、1次元の受光位置の検出が可能であればよいので、CCDセンサに代えて位置検知型検知器(PSD)を用いてもよい。
【0057】
【発明の効果】
請求項1又は請求項2の発明によれば、参照光の投射角度情報によらない3次元入力が実現されて、投射角度制御の精度に係わらず高精度の3次元入力データを得ることが可能になるとともに、位置算出に係わるデータ量を低減することができる。請求項2の発明によれば、撮像系の低価格化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る3次元入力装置の機能ブロック図である。
【図2】投射の模式図である。
【図3】アナモフィックレンズによる結像の模式図である。
【図4】時間重心の説明図である。
【図5】空間重心の説明図である。
【図6】距離画像データの生成要領を説明するための図である。
【図7】時間重心画像と空間重心画像とのマッチングの模式図である。
【図8】時間重心に係るメモリ回路の第1例のブロック図である。
【図9】時間重心に係るメモリ回路の第2例のブロック図である。
【図10】撮像面における輝度分布と受光データとの関係を示す図である。
【図11】時間重心に係るメモリ回路の第3例のブロック図である。
【図12】図11に係る重心の概念図である。
【図13】空間重心に係るメモリ回路の第1例のブロック図である。
【図14】空間重心に係るメモリ回路の第2例のブロック図である。
【図15】空間重心に係るメモリ回路の第3例のブロック図である。
【図16】距離画像データの生成要領の第2例を説明するための図である。
【図17】2つの時間重心画像のマッチングの模式図である。
【符号の説明】
1 3次元入力装置
Q 物体
U スリット光(参照光)
10 投光系
A 視点(第1の位置)
B 視点(第2の位置)
20 受光系(撮像系)
P 点(物体上の部位)
TA,TB 時間重心
jB 空間重心
θA,θB 受光角度
D 距離データ(位置情報)
D35 受光データ(撮像データ)
D45 受光データ(撮像データ)
Claims (2)
- 入力対象の物体を走査するように起点から前記物体に向かってスリット光を投射する投光系と、前記スリット光のスリット長さ方向と直交する方向に沿う仮想の基線上の互いに離れた第1及び第2の位置で同時に前記物体を撮像する撮像系とを有し、
前記基線に沿った方向における前記起点の位置は、前記第2の位置と同一であり、
前記第1及び第2の位置のそれぞれに対応した撮像データに基づいて、前記物体における複数の部位のそれぞれについて、当該部位で反射した光の前記第1及び第2の位置のそれぞれでの受光角度を検出し、検出した1組の受光角度に応じたデータを当該部位の位置情報として出力する
ことを特徴とする3次元入力装置。 - 前記第1の位置での撮像を画素配列が前記スリット長さ方向およびそれと直交する方向である基線方向に沿う2次元撮像デバイスによって行い、前記第2の位置での撮像を画素配列が前記基線方向に沿う1次元撮像デバイスによって行う
請求項1記載の3次元入力装置。
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