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JP3564460B2 - プリント配線板用銅箔及びその製造方法 - Google Patents

プリント配線板用銅箔及びその製造方法 Download PDF

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JP3564460B2
JP3564460B2 JP2002066407A JP2002066407A JP3564460B2 JP 3564460 B2 JP3564460 B2 JP 3564460B2 JP 2002066407 A JP2002066407 A JP 2002066407A JP 2002066407 A JP2002066407 A JP 2002066407A JP 3564460 B2 JP3564460 B2 JP 3564460B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明はプリント配線板用銅箔及びその製造方法に関するものであり、更に詳しくは銅箔の少なくとも一方の面にタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層から成る合金層を設け、更に該層上にクロメート皮膜層を施し、必要に応じて該クロメート皮膜層上にシランカップリング剤層を設ける事でアルカリエッチング液に対して可溶となり、更に耐薬品性、耐熱性に優れた高密度配線に適したプリント配線板用銅箔に関するものである。
【0002】
プリント配線板はパソコン、携帯電話などの高密度配線を必要とする各種電気機器に広く用いられているが、この分野の近年の開発速度は他の産業分野に比べても格段に速く、それに伴い、プリント配線板に要求される品質も高くなってきている。
【0003】
【従来の技術】
プリント配線板製造方法としてはアディティブ法、サブトラクティブ法があるが、前者が回路形成時に銅箔を使用しないのに対して、後者は銅張積層板形成後回路を印刷し、不要部分をエッチング除去する製法でこちらの方が主流である。プリント配線板に使用されている銅箔の基材と接着する面に対する要求特性は、多種多様であるが特に重要な特性は以下の三点である。
【0004】
▲1▼基材との引き剥がし強さが十分であること。
▲2▼上記引き剥がし強さが過酷試験(薬品処理、長時間加熱処理)後も十分であること。
▲3▼高密度化するプリント配線板の狭小化に伴う絶縁特性の信頼性(エッチングの精度)
【0005】
特に近年は通常よく使用するガラスエポキシ基材(FR−4)以外にハロゲンフリー基材、ガラスポリイミド基材、高Tg基材等が頻繁に使用される様になり銅箔に対する要求特性はますます厳しくなってきている。
【0006】
上記特性を満足させる一般的な手段として、先ず、硫酸及び硫酸銅浴からの陰極電解により得られた未処理銅箔への粗面化処理がある。粗面化処理とは未処理銅箔の少なくとも一方の面を硫酸及び硫酸銅水溶液中で限界電流密度またはそれ以上で陰極電解し銅の突起物を析出させ、更に該層上に銅又は銅合金のカバーメッキを施すものである。この粗面化処理により銅箔表面の粗度は上昇し、その結果機械的投錨効果が高くなり、引き剥がし強さは格段に上昇する。
【0007】
しかしながらこの粗面化処理により解決される問題は上記した銅箔要求特性の▲1▼のみであり、過酷試験後(特に長時間加熱試験後)の引き剥がし強さの劣化を抑制することは出来ない。
【0008】
そこで更にこの粗面化処理上に基材樹脂と銅箔との反応を防ぐ為、異種金属あるいは銅合金の被覆バリアーを施すかあるいはまた種々の防錆処理が施されている。
【0009】
例えば特公昭51−35711号は銅箔面に亜鉛、インジウム、黄銅等からなる群より選ばれた層を被覆すること、特公昭53−39376号には2層からなる電着銅層を設け、更に接着すべき基材に対して化学的活性を有しない金属からなる層、例えば亜鉛、真鍮、ニッケル、コバルト、クロム、カドミウム、スズ、及び青銅などの層を被覆すること。
【0010】
また、特公平2−51272号には球状または樹枝状の亜鉛を沈着させ、かつこの層を銅、砒素、ビスマス、真鍮、青銅、ニッケル、コバルト、もしくは亜鉛の一つ以上またはその合金を被覆する事、更に特公平2−59639号には樹脂基材と接合する面に対しリン含有ニッケルの薄層を設け、かつ、該層上にクロメート処理を施すこと、更に特公平4−26794号には銅箔の少なくとも一方の面にニッケル−モリブデン層を施し、該層上にクロメート処理を形成させることが提案されている。
【0011】
しかしながら、これら従来の被覆バリアー層には以下に示すような問題点がある。
亜鉛、真鍮、亜鉛−ニッケル等、亜鉛を主とする層を有する銅箔を印刷回路に適用した場合、銅箔と基材との接着面及びその近傍は、耐塩酸性が非常に弱く、プリント配線板製造工程において、酸洗や各種活性処理液中に浸漬されているうちに、その界面部分の腐食抵抗が弱いため、引き剥がし強さの劣化が生じ、特に最近の導体幅の狭い回路の場合、熱的衝撃あるいは機械的衝撃などにより、導体の剥離、脱落現象を起こす可能性があるという欠点がある。
また、塩化第二銅エッチングでは、銅箔と基材の接着面が弱いためアンダーカッティングを生じるという欠点を有している。
【0012】
ニッケル、錫は耐薬品性、耐熱性に優れ、一般的によく使用される塩化第二鉄や塩化第二銅のエッチング液には可溶であるものの、パターンめっき法等でよく使用されるアルカリエッチング液には不溶であり、電気絶縁性を損なうエッチング残(ステイン)を生じるという重大な欠点を有している。近年の回路の狭小化を考えた場合、塩化第二鉄、塩化第二銅でファインパターンが描けるのはもちろん必須条件であるが、レジストなどの多種多様化によりアルカリエッチング性も必須条件である。
【0013】
また、コバルト単独層の場合はアルカリエッチング性は良好であるが、亜鉛程ではないが耐薬品性に問題があること、インジウムは高価であり、実工程を想定したときに実用的でない事、真鍮メッキは実用的な方法はシアン化物浴からの方法しかなく、環境上、作業上で大きな問題を抱えている事など問題がある。
【0014】
リン含有ニッケルの薄層を設けた後、該層上にクロメート層を設けた銅箔は耐塩酸性、耐シアン性は良好であるものの、更に、長時間加熱処理後の引き剥がし強さの劣化を抑えるべくやや厚くメッキした場合、アルカリエッチング性が悪くなりステインが発生する。また、ニッケル−モリブデン層を施し、該層上にクロメート処理層を設けた銅箔は塩酸浸漬後の劣化率は確かに少ないがシアン化物浴浸漬後の劣化率は大きく改良を要する。
【0015】
このように従来から提案されているバリアー層は基材樹脂に対する非反応性と耐薬品性を同時に満足させる事が難しく、プリント配線板の急速な高密度化や多様化には十分満足できていない。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】
そこでプリント配線板用銅箔として上記問題を全て解決するために様々な銅箔処理方法を検討した結果、銅箔の少なくとも一方の面にタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層を形成することが効果的であるとの知見を得、本発明を完成するに至った。
【0017】
即ち本発明は銅箔の少なくとも一方の面にタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層を形成させることを特徴とするプリント配線板用銅箔、及びタングステンもしくはモリブデンとニッケル、リンを含む電解液を用い該電解液中で銅箔を陰極電解し、タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層を形成させた後、該層上にクロメート皮膜層を設け、更に必要に応じてシランカップリング剤処理を施しシランカップリング剤層を設ける事を特徴とするプリント配線板用銅箔の製造方法である。
【0018】
【課題を解決するための手段】
本発明のタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層はそのいずれが欠けても目的とするバリアー層は得られない。
【0019】
・ニッケル単独層の場合
耐塩酸性、耐シアン性は良好であるがアルカリエッチング性が悪く強度のステインを生じる。
【0020】
・タングステン、モリブデン、リン単独層の場合
水溶液から単独で析出させることが出来ない。タングステン、モリブデン、リンは鉄属の誘導析出型であり、本発明の場合ニッケルが無いと析出しない。
【0021】
・ニッケル−タングステン層の場合
ニッケル単独層に比べるとアルカリエッチング性は幾分良好であるがステインは生じる。また、このアルカリエッチング性を向上させるためにタングステンの析出量を多くした場合、メッキ性状が悪くなり、常態、薬品処理後の引き剥がし強さが弱くなる。
【0022】
・ニッケル−モリブデン層の場合
アルカリエッチング性、耐塩酸性は良好であるが、耐シアン性が悪い。
【0023】
・ニッケル−リン層の場合
耐塩酸性、耐シアン性は良好であるが、更に、長時間加熱処理後の引き剥がし強さの劣化を抑えるべくやや厚くメッキした場合、アルカリエッチング性が悪くなりステインが発生する。
【0024】
以上の様に単独及び二元系合金層ではそれぞれ欠点があり、タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる三元系合金層にする事でアルカリエッチング液に対して可溶となり耐薬品性、耐熱性を備えたプリント配線板用銅箔となる。
【0025】
また、本発明バリアー層上にクロメート皮膜層を施す事により様々な特性が向上し、例えば、耐酸化性を向上させる、基材との接着力を向上させる為引き剥がし強さが強くなる、耐ブラウントランスファー性(ガラスエポキシ樹脂を用いたプリント回路で生じるエッチング基板面の変色、着色、汚れの事)を向上させる等の効果をもたらす。
【0026】
また、このクロメート皮膜層を形成させる浴は公知のものでよく、例えばクロム酸、重クロム酸ナトリウム、重クロム酸カリウムなどの6価クロムを有する物であればよく、水溶液にして浸漬又は陰極電解により施す。
【0027】
また、このクロム酸液はアルカリ性、酸性のどちらでもかまわない。上記2種類のクロム酸液はそれぞれ長所、短所があり、使用目的に応じて使い分ければよいが、アルカリ性クロム酸液を使用した場合酸性クロム酸液に比べクロメート皮膜層の耐食性がわずかに劣る、接合基材との接着性がわずかに劣ると言う欠点があるが本発明のバリアー層上にアルカリ性クロム酸液でクロメート皮膜層を施しても上記した問題は発生しない。
【0028】
また、アルカリ性クロム酸液として特公昭58−15950号にある様な亜鉛イオン、6価クロムイオンを含むアルカリ性ジンククロメート液を使用してもよく、本クロム酸液を使用することで、クロム単独酸液からのクロメート皮膜層よりも耐酸化性を向上させる事が出来る。もちろん酸性クロム酸液を使用しても問題無く同様の結果が得られる。
【0029】
また、クロメート皮膜層上にシランカップリング剤層を施すことにより常態時の引き剥がし強さを向上させるのみならず、過酷試験後の引き剥がし強さの劣化も押さえる事ができ、更に耐酸化性も向上させ、優れた汎用性を備えたプリント回路用銅箔となる。シランカップリング剤はエポキシ基、アミノ基、メルカプト基、ビニル基、メタクリロキシ基、スチリル基等多種あるがそれぞれ異なった特性を有し、また、基材との相性もあり、選択して使用する必要がある。
シランカップリング剤層の形成は水溶液として浸漬処理又はスプレー処理などにより施す。
【0030】
本発明のバリアー層は通常のプリント配線板用銅箔として使用する銅箔であれば電解銅箔、圧延銅箔の種類を問わず使用できる。また、該層は銅箔特性を損なわない程度(基材との接着力を低下させない程度)に処理する必要があるが、好ましい処理量は1mg/m から500mg/mであり更に好ましくは3mg/mから300mg/mである。
【0031】
タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層が1mg/m以下の場合本発明のバリアー効果が十分に発揮できず、一方、500mg/m以上の場合銅の純度が下がる、コスト高となり不経済である等の問題点が発生する。
【0032】
また、本発明のタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層のニッケル、リン、タングステンもしくはモリブデンの好ましい含有量は(wt%=重量%)
【0033】
60wt%≦ニッケル≦99wt%
1wt%≦リン≦20wt%
0.1wt%≦タングステン≦10wt%もしくは
0.1wt%≦モリブデン≦25wt%
であり、
【0034】
更に好ましくは
80wt%≦ニッケル≦95wt%
3wt%≦リン≦15wt%
0.4wt%≦タングステン≦5wt%もしくは
0.4wt%≦モリブデン≦20wt%
である。
【0035】
ニッケルはタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層中の含有量が60wt%未満の場合、タングステン、モリブデンの析出量にもよるが、該バリアー層の耐薬品性が悪くなり塩酸、シアン化物浴浸漬後の劣化率が大きくなる。
一方、99wt%を超える場合にはアルカリエッチング液に不溶又は溶けにくくなりステインを生じる。
【0036】
リンは該バリアー層中の含有量が1wt%未満の場合、タングステンもしくはモリブデンの析出量にもよるがニッケルがアルカリエッチング液に不溶となりステインを生じる。一方、20wt%を超える場合、タングステンもしくはモリブデンの析出量にもよるが過酷試験後(耐薬品、長時間加熱処理)の引き剥がし強さの劣化が大きくなる。
【0037】
タングステンは該バリアー層中の含有量が0.1wt%未満の場合、長時間加熱処理後の引き剥がし強さの劣化率が大きくなる。一方、10wt%を超える場合、ニッケル−リン−タングステン層のメッキ性状が悪くなり、常態、薬品処理後の引き剥がし強さが弱くなる。
【0038】
モリブデンは該バリアー層中の含有率が0.1wt%未満の場合、ニッケルの析出量にもよるが長時間加熱処理後の引き剥がし強さの劣化が大きくなる。
一方、25wt%を超える場合シアン化物浴浸漬後の劣化率が大きくなる。
【0039】
また、該バリアー層を銅箔表面上に形成させる方法は公知の電気メッキ法、真空蒸着法、スパッタリング法等各種方法により形成可能であるが、工業上のラインに最適と思われるものは、水溶液電気メッキ法である。
その製造方法とはニッケル、リン、タングステンもしくはモリブデンを含む電解液中で銅箔を陰極電解することにより得られる。
【0040】
メッキ電解液には酒石酸、クエン酸等のオキシカルボン酸浴、ピロリン酸浴、酢酸浴、シアン化浴等種々挙げられるが、コスト、浴管理、公害性、作業性等を考慮すると酢酸浴、クエン酸浴等が適当であるが特にこれに限定するものではない。
【0041】
ニッケル、リン、タングステン、モリブデンの供給源としては以下のものが使用できる。但し、これに限定されるものではない。
ニッケルイオンの供給源としては硫酸ニッケル、硫酸ニッケルアンモニウム、塩化ニッケル、酢酸ニッケルなどが使用できる。
【0042】
リンイオンの供給源としては亜リン酸ナトリウム、次亜リン酸ナトリウム、亜リン酸ニッケルなどが使用できる。
【0043】
タングステンイオンの供給源としてはタングステン酸ナトリウム、タングステン酸カリウム、タングステン酸アンモニウム等が使用できる。
【0044】
モリブデンイオンの供給源としてはモリブデン酸ナトリウム、モリブデン酸カリウム、モリブデン酸アンモニウムなどが使用できる。
【0045】
また本発明浴の導電性の付与として硫酸ナトリウムを添加してもよい。
浴温度は特に定めないが経済面、作業面等を考慮した場合、常温から50℃位までが好ましい。電流密度は0.1から10A/dm まで広範囲で使用可能であるが、これも実工程を考慮した場合、1から5A/dm 位までが好ましい。
【0046】
pHは該バリアー層にタングステン、モリブデンを使用した場合で異なるが、タングステンを使用した場合のpHは4から6位がよく、モリブデンを使用した場合は10から11位がよい。
このpHの範囲では三元素の同時析出、バリアー特性、作業性のすべてが良いが、これもまた上記条件に限定されるものではない。また、陽極はステンレス、白金属元素等の不溶性陽極を用いるのが好ましい。
【0047】
【発明の実施の形態】
以下に本発明の実施例と比較例を示す。
【0048】
【実施例】
(実施例1〜9)
あらかじめ公知の方法で粗化処理した35μm電解銅箔を用意し、本発明浴の温度を30℃一定とし、表1に示す様な浴組成、pH(硫酸で調整)、及び電解条件で陽極に白金を使用して銅箔表面を陰極電解し、タングステン含有ニッケル−リン層を形成した後、水洗し、次いで該層上にクロメート皮膜層を形成した。クロメート皮膜層を形成したクロム酸液の組成と電解条件を以下に示す。
【0049】
(A浴)
重クロム酸ナトリウム 5g/L
浴温 30℃
pH(水酸化ナトリウムで調整) 13.0
電流密度 2A/dm
電解時間 5秒
陽極 白金
【0050】
上記アルカリ性クロム酸浴でクロメート皮膜層を形成した後、水洗し、次いでシランカップリング剤層を形成した。シランカップリング剤層を形成したシランカップリング剤種、浴組成及び形成方法を以下に示す。
【0051】
(B浴)
γ−アミノプロピルトリエトキシシラン 2mL/L
浴温 30℃
浸漬時間 15秒
【0052】
上記シランカップリング剤浴でシランカップリング剤層を形成した後、乾燥させた。
次にこの銅箔をFR−4グレードのエポキシ樹脂含浸ガラス基材に積層、成形して銅張積層板の各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0053】
(実施例10,11)
実施例1〜9に於いてシランカップリング剤層を設けなかったこと以外は同じ方法で処理を行い、同じ方法で評価を行った。その結果を表2に示す。
【0054】
(実施例12〜19)
あらかじめ公知の方法で粗化処理した35μm電解銅箔を用意し、本発明浴の温度を30℃一定とし、表1に示す様な浴組成、pH(アンモニアで調整)、及び電解条件で陽極に白金を使用して銅箔表面を陰極電解し、モリブデン含有ニッケル−リン層を形成した。
【0055】
その後A浴、B浴を用いてクロメート皮膜層、シランカップリング剤層を形成した後、乾燥させた。尚、A浴、B浴の処理条件は実施例1〜9と同様の方法で行った。
次にこの銅箔をFR−4グレードのエポキシ樹脂含浸ガラス基材に積層、成形して銅張積層板の各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0056】
(実施例20,21)
実施例12〜19に於いてシランカップリング剤層を設けなかったこと以外は同じ方法で処理を行い、同じ方法で評価を行った。その結果を表2に示す。
【0057】
【比較例】
(比較例1)
実施例と同様の35μm電解銅箔を用意し、表1に示す様に
硫酸ニッケル・六水和物 30g/L
酢酸ナトリウム・三水和物 10g/L
pH(硫酸で調整) 4.5
としこの浴において上記35μm電解銅箔を浴温30℃、電流密度2A/dm、電解時間2秒間陰極電解した他は実施例1〜9、12〜19と同じ処理工程を行い、同じ方法で銅張積層板を成形し、同じ方法で各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0058】
(比較例2)
実施例と同様の35μm電解銅箔を用意し、表1に示す様に
硫酸ニッケル・六水和物 30g/L
タングステン酸ナトリウム・二水和物 2g/L
酢酸ナトリウム・三水和物 10g/L
pH(硫酸で調整) 4.5
としこの浴において上記35μm電解銅箔を浴温30℃、電流密度2A/dm、電解時間2秒間陰極電解した他は実施例1〜9、12〜19と同じ処理工程を行い、同じ方法で銅張積層板を成形し、同じ方法で各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0059】
(比較例3)
実施例と同様の35μm電解銅箔を用意し、表1に示す様に
硫酸ニッケル・六水和物 30g/L
タングステン酸ナトリウム・二水和物 20g/L
クエン酸三ナトリウム・二水和物 30g/L
pH(硫酸で調整) 5.0
としこの浴において上記35μm電解銅箔を浴温30℃、電流密度2A/dm、電解時間3秒間陰極電解した他は実施例1〜9、12〜19と同じ処理工程を行い、同じ方法で銅張積層板を成形し、同じ方法で各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0060】
(比較例4)
実施例と同様の35μm電解銅箔を用意し、表1に示す様に
硫酸ニッケル・六水和物 30g/L
モリブデン酸ナトリウム・二水和物 60g/L
クエン酸三ナトリウム・二水和物 30g/L
pH(アンモニアで調整) 10.5
としこの浴において上記35μm電解銅箔を浴温30℃、電流密度2A/dm、電解時間2秒間陰極電解した他は実施例1〜9、12〜19と同じ処理工程を行い、同じ方法で銅張積層板を成形し、同じ方法で各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0061】
(比較例5)
実施例と同様の35μm電解銅箔を用意し、表1に示す様に
硫酸ニッケル・六水和物 30g/L
モリブデン酸ナトリウム・二水和物 90g/L
クエン酸三ナトリウム・二水和物 30g/L
pH(アンモニアで調整) 10.5
としこの浴において上記35μm電解銅箔を浴温30℃、電流密度4A/dm、電解時間2秒間陰極電解した他は実施例1〜9、12〜19と同じ処理工程を行い、同じ方法で銅張積層板を成形し、同じ方法で各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0062】
(比較例6)
実施例と同様の35μm電解銅箔を用意し、表1に示す様に
硫酸ニッケル・六水和物 30g/L
次亜リン酸ナトリウム・一水和物 2g/L
酢酸ナトリウム・三水和物 10g/L
pH(硫酸で調整) 4.5
としこの浴において上記35μm電解銅箔を浴温30℃、電流密度2A/dm、電解時間2秒間陰極電解した他は実施例1〜9、12〜19と同じ処理工程を行い、同じ方法で銅張積層板を成形し、同じ方法で各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0063】
(比較例7)
実施例と同様の35μm電解銅箔を用意し、表1に示す様に
硫酸ニッケル・六水和物 30g/L
次亜リン酸ナトリウム・一水和物 2g/L
クエン酸三ナトリウム・二水和物 30g/L
pH(アンモニアで調整) 10.5
としこの浴において上記35μm電解銅箔を浴温30℃、電流密度4A/dm、電解時間3秒間陰極電解した他は実施例1〜9、12〜19と同じ処理工程を行い、同じ方法で銅張積層板を成形し、同じ方法で各特性試験を行った。その結果を表2に示す。
【0064】
【表1】
Figure 0003564460
【0065】
【表2】
Figure 0003564460
【0066】
*2 引き剥がし強さは1mm幅で測定。その他条件はJIS−C−6418に準ずる。
*3 塩酸浸漬後の引き剥がし強さの劣化率は6N−HCl水溶液に25℃ −20分間浸漬後の劣化率を求めた。
*4 シアン化物浴浸漬後の引き剥がし強さの劣化率は10%−KCN水溶液に70℃−30分間浸漬後の劣化率を求めた。
*5 長時間加熱処理後の引き剥がし強さは180℃−48時間加熱処理を行った後の引き剥がし強さを測定した。
*6 アルカリエッチング
【0067】
エッチング法
Figure 0003564460
評価
○:ステインが全く認められない
△:ステインがわずかに認められる
×:強度のステイン
【0068】
表1にタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層及び該層上にクロメート皮膜層を施した後、更に該クロメート層上にシランカップリング剤層を施した実施例1〜9、12〜19とタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層及び該層上にクロメート皮膜層を施した実施例10,11、20,21と比較例1〜7のメッキ浴組成、pH、電解条件、シランカップリング剤層の有無、タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層の析出量(mg/m)及び該層中の各元素の含有率(wt%=重量%)を示し、また、表2には上記実施例、比較例の各種特性を評価した結果を示した。
【0069】
タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層及び該層上にクロメート皮膜層を施した後、更に該クロメート層上にシランカップリング剤層を施した実施例1〜9、12〜19は、エッチングに於いて金属選択性のあるアルカリエッチング液に対しても可溶であり、更に、塩酸浸漬後、シアン化物浴浸漬後の引き剥がし強さの劣化率も低く抑えられ、更に、長時間加熱処理後の引き剥がし強さも十分であり、優れた汎用性を備えたプリント回路用銅箔である事が分かる。
【0070】
またタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層及び該層上にクロメート皮膜層を施した実施例10,11,20,21は各種引き剥がし強さに於いて上記実施例1〜9、12〜19に若干劣るものの十分に実用範囲内であり、タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層自身が優れたバリアー層であることが分かる。
【0071】
一方、比較例1〜7までの単独層、2元系合金層について述べると、
・ニッケル単独層(比較例1)
アルカリエッチング性が悪く強度のステインを生じる。
・ニッケル−タングステン層(比較例2,3)
ニッケル単独層に比べるとアルカリエッチング性は幾分良好であるがそれでもステインは生じる。また、このアルカリエッチング性を向上させるためにタングステン析出量を増やすとメッキ性状が悪くなり、常態、薬品処理後の引き剥がし強さが弱くなる.
【0072】
・ニッケル−モリブデン層(比較例4,5)
アルカリエッチング性、耐塩酸性は良好であるがシアン化物浴浸漬後の劣化率が大きい。
・ニッケル−リン層(比較例6,7)
長時間加熱処理後の引き剥がし強さの劣化が大きい。
また、アルカリエッチングに於いてステインの発生が確認できる。
という様にそれぞれ欠点があり、プリント配線板用銅箔として使用するには改良を要する。
【0073】
【発明の効果】
以上の様に本発明のタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層は
▲1▼基材との引き剥がし強さが十分である。
▲2▼上記引き剥がし強さが過酷試験(薬品処理、加熱処理)後も十分である。
▲3▼高密度化する印刷回路の狭小化に伴う絶縁特性の信頼性。
【0074】
以上の特性を全て十分に満たしており、狭小化著しいプリント配線板、特に高密度プリント配線板においてその性能を十分に発揮できるものである。
以上、アルカリエッチング液に対して可溶であり、更に耐薬品性、耐熱性に適した本発明プリント配線板用銅箔は一般のプリント配線板はもちろん高密度プリント配線板にも適したものである。

Claims (6)

  1. 銅箔の少なくとも一方の面にタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層を有し、且つ、該層上にクロメート皮膜層を形成させる事を特徴とするプリント配線板用銅箔。
  2. 銅箔の少なくとも一方の面にタングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層を有し、且つ、該層上にクロメート皮膜層を形成させ、更に該クロメート皮膜層上にシランカップリング剤層を形成させる事を特徴とするプリント配線板用銅箔。
  3. タングステンを含有するニッケル−リン層からなる合金層の組成が、タングステン0.1wt%〜10wt%、リン1wt%〜20wt%、残部がニッケルである事を特徴とする請求項1及び請求項2に記載のプリント配線板用銅箔。
  4. モリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層の組成が、モリブデン0.1wt%〜25wt%、リン1wt%〜20wt%、残部がニッケルである事を特徴とする請求項1及び請求項2に記載のプリント配線板用銅箔。
  5. タングステンもしくはモリブデンとニッケル、リンを含む電解液を用い該電解液中で銅箔を陰極電解し、タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層を形成させた後、該銅箔を6価クロムを含む水溶液に浸漬するか、陰極電解し、該層上にクロメート皮膜層を設ける事を特徴とするプリント配線板用銅箔の製造方法。
  6. タングステンもしくはモリブデンとニッケル、リンを含む電解液を用い該電解液中で銅箔を陰極電解し、タングステンもしくはモリブデンを含有するニッケル−リン層からなる合金層を形成させた後、該銅箔を6価クロムを含む水溶液に浸漬するか、陰極電解し、該層上にクロメート皮膜層を設け、更に該クロメート皮膜層上にシランカップリング剤水溶液を塗布しシランカップリング剤層を設ける事を特徴とするプリント配線板用銅箔の製造方法。
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