JP3351498B2 - Icカードリーダライタ - Google Patents
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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Description
するIC(集積回路)カードに対するデータの読込み、
書込みを行うICカードリーダライタに関し、特にIC
カードに対するデータの読込み、書込みに際してICカ
ードに搭載された集積回路に接触する接触部の接触エラ
ーを確実に検出できるようにして信頼性を高めたICカ
ードリーダライタに関する。
集積回路を搭載したICカードが提案されている。この
ICカードは従来の磁気カード等と比較して格段に多く
の情報を記憶することができるので、その使用形態が大
幅に拡大されるという利点がある。
み、書込みを行うICカードリーダライタにおいては、
ICカードに搭載された集積回路に対するデータの読込
み、書込みに際して、集積回路の端子に接触する接触部
(コンタクト部)を介して行うので、このコンタクト部
において接触不良、すなわち接触エラーが生じる虞があ
るという問題があった。
おいては、コンタクト部が集積回路の端子に正しく接触
されたか否かを判定するために、ICカードの集積回路
の端子にICカードリーダライタのコンタクト部が接触
された状態において、ICカードリーダライタからこの
コンタクト部を介してICカードの集積回路の電源端子
にICカード用の電源を供給するとともに、このコンタ
クト部を介してICカードの集積回路のクロック端子に
クロック信号を供給し、かつICカードの集積回路のリ
セット端子をハイレベル状態にした後、ICカードの集
積回路の入出力端子から自動的に出力されるデータを読
み出し、このデータが期待するデータと一致するか否か
によりICカードの集積回路の端子にICカードリーダ
ライタのコンタクト部が正しく接触されているかを判定
していた。
カードの集積回路のクロック端子にクロック信号を供給
し、かつICカードの集積回路のリセット端子をハイレ
ベル状態にした後、ICカードの集積回路の入出力端子
から自動的に出力されるデータが期待するデータと一致
するか否かによりICカードの集積回路の端子にICカ
ードリーダライタのコンタクト部が正しく接触されてい
るかを判定する従来のICカードリーダライタにおいて
は、例えば、ICカードの集積回路の電源端子に接触不
良が生じていても、ICカードの集積回路の他の端子に
供給された信号がICカードの集積回路の内部で回り込
んで電源として作用する場合があり、この場合はICカ
ードリーダライタのコンタクト部がICカードの集積回
路の端子に正しく接触していないにも係わらず、ICカ
ードの集積回路の入出力端子から期待するデータと一致
するデータが出力され、これによりICカードリーダラ
イタのコンタクト部がICカードの集積回路の端子に正
しく接触されていると誤検出してしまうという問題があ
った。
端子からデータを読み出すには十分な電源が供給される
かも知れないが、ICカードの集積回路の入出力端子か
らデータを書き込むには不十分であり、このままICカ
ードの集積回路の入出力端子からデータを書き込む処理
を行うと、書込みエラーが生じることがあった。一般
に、ICカードはこの書込みエラーが生じると集積回路
に格納されたセキュリティ情報が破壊されることがあ
り、この場合は、このICカードの以後の使用が不可能
になるという問題があった。
れた集積回路に接触する接触部の接触エラーを確実に検
出し、ICカードに書込みエラーが発生する前に適切な
処理ができるようにしたICカードリーダライタを提供
することを目的とする。
ため、この発明では、ICカードに搭載された集積回路
の端子に接触する接触部を有し、該接触部を介して前記
集積回路に対するデータの読込み、書込みを行うICカ
ードリーダライタにおいて、前記集積回路のリセット端
子に前記接触部を介して供給されるリセット信号をロー
レベルに制御するとともに、前記集積回路のクロック端
子に前記接触部を介して供給される前記集積回路用のク
ロック信号をローレベルに制御し、その後前記集積回路
の電源端子に前記接触部を介して前記集積回路用の電源
を供給し、このとき前記接触部を介して前記集積回路の
入出力端子から出力される電圧が所定の基準電圧より小
さい場合は、前記接触部の接触エラーとして検出する接
触エラー検出手段を具備することを特徴とする。
集積回路の電源端子に前記集積回路用の電源を供給した
後、前記集積回路のリセットが正常に終了するまでの所
定時間、前記集積回路のクロック端子にクロック信号を
供給し、その後前記クロック信号を再びローレベルに制
御するように構成することができる。
記集積回路用のクロック信号を発生する集積回路用クロ
ック発生手段と、前記集積回路用の電源を発生する集積
回路用電源手段とを具備し、前記接触エラー検出手段
は、前記接触部を介して前記集積回路のリセット端子に
供給されるリセット信号をローレベルに制御する第1の
制御手段と、前記集積回路用クロック信号発生手段を制
御して前記接触部を介して前記集積回路のクロック端子
に供給される前記集積回路用のクロック信号をローレベ
ルに制御する第2の制御手段と、前記集積回路用電源手
段を制御して前記接触部を介して前記集積回路の電源端
子に前記集積回路用の電源を供給する第3の制御手段
と、前記接触部を介して前記集積回路の入出力端子から
出力される電圧を所定の基準電圧と比較する比較手段と
を具備して構成することができる。
央演算処理部を有し、前記第1の制御手段および前記第
2の制御手段および前記第3の制御手段は、前記中央演
算処理部で実現するように構成することができる。
理部で実現するように構成することができる。
は、前記中央演算処理部にクロック信号を供給する中央
演算処理部用クロック発生手段と共用するように構成す
ることができる。
央演算処理部に電源を供給する中央演算処理部で電源手
段と共用するように構成することができる。
ドリーダライタの一実施例を添付図面を参照して詳細に
説明する。
ライタ10の制御系の全体構成を示すブロック図であ
り、このICカードリーダライタ10は、ICカード2
0に搭載された集積回路21に対してデータの書込み、
読み出しを行うもので、ICカード20の集積回路21
の端子に接触するコンタクト部11、このコンタクト部
11を介して集積回路21の電源端子Vccに供給され
るICカード用電源を発生するICカード用電源12、
ICカード用電源12から発生されるICカード用電源
を制御する電源制御部13、コンタクト部11を介して
集積回路21のクロック端子CLKに供給されるICカ
ード用クロックを発生するクロック発振器14、クロッ
ク発振器14から発生されるクロックを制御するクロッ
ク制御部15、ICカード20の集積回路21の入出力
端子(I/O端子)から発生され、コンタクト部11を
介して入力される信号を所定の基準レベルと比較する比
較器16、電源制御部13およびクロック制御部15を
制御するとともに、コンタクト部11を介して集積回路
21のリセット端子RSTにリセット信号を供給する処
理およびICカード20の集積回路21の入出力端子に
対してコンタクト部11を介してデータの書込み、読み
出しを行う処理および比較器16の出力に基づきコンタ
クト部11の接触エラーの判断処理等を行う中央演算処
理部(CPU)17を具備して構成される。
0の集積回路21の電源端子Vcc、クロック端子CL
K、リセット端子RST、入出力端子I/Oにそれぞれ
接触する電源端子11−1、クロック端子11−2、リ
セット端子11−3、入出力端子11−4を具備してい
る。
ドリーダライタ10の電源と共用することができる。
リーダライタ10の中央演算処理部(CPU)17にC
PU用クロックを供給するクロック発振器と共用するこ
とができる。
イタ10の中央演算処理部(CPU)17内に設けられ
たTTLやCMOS等の論理ICの入力部を用いて構成
してもよい。
タ10におけるコンタクト部11の接触エラーの検出処
理の概要を示すと以下のようになる。
ないICカード挿入口からICカード20を挿入するこ
とにより、ICカード20の集積回路21の電源端子V
cc、クロック端子CLK、リセット端子RST、入出
力端子I/OをICカードリーダライタ10のコンタク
ト部11の電源端子11−1、クロック端子11−2、
リセット端子11−3、入出力端子11−4に接触させ
る。
算処理部(CPU)17の処理により、ICカード20
の集積回路21のリセット端子RSTに供給するリセッ
ト信号をローレベル状態にする。
算処理部(CPU)17によりクロック制御部15を制
御して、ICカード20の集積回路21のクロック端子
CLKに供給するクロック信号をローレベル状態にす
る。
算処理部(CPU)17により電源制御部13を制御し
て、ICカード20の集積回路21の電源端子Vccに
ICカード用電源12から発生されたICカード用電源
を供給する。
ットが正常に終了するまでの所定時間、上記集積回路2
1のクロック端子CLKにクロック信号を供給し、その
後上記クロック信号を再びローレベルに制御する 6)ICカード20の集積回路21の入出力端子(I/
O端子)から発生された電圧をICカードリーダライタ
10の比較器16で所定の基準レベルと比較する。
算処理部(CPU)17は、比較器16の比較結果から
ICカード20の集積回路21の入出力端子(I/O端
子)から発生された電圧が所定の基準レベルより小さい
場合は、コンタクト部11の接触エラーとして判定す
る。
Cカード20の集積回路21の電源端子Vccに電源を
供給した後、ICカード20の集積回路21のリセット
が正常に終了するまでの所定時間、クロック端子CLK
にクロック信号を供給し、その後上記クロック信号を再
びローレベルに制御する処理を設けた理由は、ICカー
ド20に搭載された集積回路21がリセット端子RST
に供給するリセット信号をローレベルにし、クロック端
子CLKに供給するクロック信号をローレベルにしその
後電源端子Vccに電源を供給しただけでは状態が安定
しない種類の集積回路である場合にも、確実に接触部の
接触エラーを検出することができるようにするためであ
る。
積回路21の種類によっては、リセット端子RSTに供
給するリセット信号をローレベルにし、クロック端子C
LKに供給するクロック信号をローレベルにし、その後
電源端子Vccに電源を供給しただけでは、ICカード
20に搭載される集積回路21の状態が安定しない場合
がある。
ために、ICカード20の集積回路21の電源端子Vc
cに電源を供給した後、上記クロック端子CLKに所定
時間クロック信号を供給し、これにより上記集積回路2
1のリセットが正常に終了するのを待って、上記集積回
路21のクロック端子CLKに供給されるクロック信号
を再びローレベルに制御するように構成している。
路21が、リセット端子RSTに供給するリセット信号
をローレベルにし、クロック端子CLKに供給するクロ
ック信号をローレベルにし、その後電源端子Vccに電
源を供給しただけ安定状態になる種類の集積回路である
場合においては、上記5)の処理は不要である。
ド20の集積回路21の入出力端子(I/O端子)から
発生された電圧が所定の基準レベルより大きい場合は、
ICカードリーダライタ10のコンタクト部11がIC
カード20の集積回路21の各端子に正常に接触されて
いると考えられるので、ICカードリーダライタ10の
中央演算処理部(CPU)17は、クロック制御部15
を制御してクロック発振器14から発生されるICカー
ド用クロックをICカード20の集積回路21のクロッ
ク端子CLKに供給し、リセット端子RSTに供給する
リセット信号をハイレベル状態にし、これによりICカ
ード20の集積回路21の入出力端子(I/O端子)か
ら自動的に出力されるデータを読み出して、このデータ
が期待するデータと一致するかを調べる従来と同様の検
査を行うことになる。
けるコンタクト部11の接触エラーを検出する上記処理
の詳細をフローチャートで示したものである。
イタ10の図示しない電源をONにする(ステップ10
1)。そして、電源制御部13を制御してIC用電源を
OFFにし、ICカード20の集積回路21のリセット
端子RSTに供給するリセット信号をローレベル状態、
クロック端子CLKに供給するクロック信号をローレベ
ル状態にする(ステップ102)。
ち(ステップ103)、ICカード20が挿入される
と、ICカード20の端子部とコンタクト部11とを接
圧することによりICカード20の各端子とコンタクト
部11とを接触させる(ステップ104)。なお、IC
カードリーダライタ10が、ICカード20の挿入と同
時にICカード20の端子部とコンタクト部11とが接
圧される構成になっている場合は、このステップ104
の処理は不要である。
源をONにし(ステップ105)、クロック端子CLK
にクロック信号を供給し(ステップ106)、リセット
が正常に終了したかを調べる(ステップ107)。そし
て、リセットが正常に終了した場合は(ステップ107
でYES)、クロック端子CLKに供給するクロック信
号を再びローレベル状態にする(ステップ108)。
集積回路21の入出力端子(I/O端子)の電圧を判定
する(ステップ109)。すなわち、ICカード20の
集積回路21の入出力端子(I/O端子)の電圧を所定
の基準レベルと比較する。
集積回路21の入出力端子(I/O端子)の電圧が所定
の基準レベルより小さい場合は、ICカードリーダライ
タ10のコンタクト部11がICカード20の集積回路
21の各端子に正常に接触されていないので、ICカー
ド20の再挿入が必要である旨を利用者に通知する(ス
テップ110)。
1のリセット端子RSTをローレベル、クロック端子C
LKをローレベルにし、IC用電源をOFFにし(ステ
ップ120)、ICカード20を排出して(ステップ1
21)、ステップ103に戻る。
再挿入が必要である旨を利用者に通知する代わりに、I
Cカード20を自動的に再挿入してリトライするように
構成してもよい。
ICカード20の集積回路21の入出力端子(I/O端
子)の電圧が所定の基準レベルより大きい場合は、クロ
ック制御部15を制御してICカード20の集積回路2
1のクロック端子CLKにクロック信号を供給し(ステ
ップ111)、リセット端子RSTに供給するリセット
信号をハイレベルにし(ステップ112)、ICカード
20の集積回路21の入出力端子(I/O端子)からA
TR情報を取得する(ステップ113)。
定する(ステップ114)。
プ110に進み、ICカード20の再挿入が必要である
旨を利用者に通知し、ICカード20の集積回路21の
リセット端子RSTをローレベル、クロック端子CLK
をローレベルにし、IC用電源をOFFにし(ステップ
120)、ICカード20を排出して(ステップ12
1)、ステップ103に戻る。
排出する代わりに、ICカード20の抜き取りを可能に
するまたはICカード20の抜き取りが可能なことを利
用者に報知するように構成してもよい。
は、次に挿入されたICカード20が使用可能なカード
かどうかを判定する(ステップ115)。
ードであると判定された場合は、このICカード20が
使用できない旨を利用者に通知し(ステップ116)、
その後、ICカード20の集積回路21のリセット端子
RSTをローレベル、クロック端子CLKをローレベル
にし、IC用電源をOFFにし(ステップ120)、I
Cカード20を排出して(ステップ121)、ステップ
103に戻る。
カード20が正常、すなわち使用可能なカードであると
判定された場合は、ICカード20の集積回路21の入
出力端子(I/O端子)から取得したATR情報に基づ
き通信条件を設定し(ステップ117)、このICカー
ド20に対して所定のデータを書き込み、読み出す利用
を行う(ステップ118)。
たかどうかを判定する(ステップ119)。ここで、I
Cカード20の利用が終了したと判定されると、ICカ
ード20の集積回路21のリセット端子RSTをローレ
ベル、クロック端子CLKをローレベルにし、IC用電
源をOFFにし(ステップ120)、ICカード20を
排出して(ステップ121)、ステップ103に戻る。
載された集積回路に接触する接触部の接触エラーを確実
に検出し、ICカードに書込みエラーが発生する前に適
切な処理ができるようにすることが可能になる。
ICカードに搭載された集積回路のリセット端子に接触
部を介して供給されるリセット信号をローレベルに制御
するとともに、集積回路のクロック端子に接触部を介し
て供給される集積回路用のクロック信号をローレベルに
制御し、その後集積回路の電源端子に接触部を介して集
積回路用の電源を供給し、このとき接触部を介して集積
回路の入出力端子から出力される電圧が所定の基準電圧
より小さい場合は、接触部の接触エラーとして検出する
ように構成したので、ICカードに搭載された集積回路
に接触する接触部の接触エラーを確実に検出することが
でき、ICカードに書込みエラーが発生する前に適切な
処理を行うことが可能になるという効果を奏する。
御系の全体構成を示すブロック図。
詳細を示すフローチャート。
Claims (7)
- 【請求項1】 ICカードに搭載された集積回路の端子
に接触する接触部を有し、該接触部を介して前記集積回
路に対するデータの読込み、書込みを行うICカードリ
ーダライタにおいて、 前記集積回路のリセット端子に前記接触部を介して供給
されるリセット信号をローレベルに制御するとともに、
前記集積回路のクロック端子に前記接触部を介して供給
される前記集積回路用のクロック信号をローレベルに制
御し、その後前記集積回路の電源端子に前記接触部を介
して前記集積回路用の電源を供給し、このとき前記接触
部を介して前記集積回路の入出力端子から出力される電
圧が所定の基準電圧より小さい場合は、前記接触部の接
触エラーとして検出する接触エラー検出手段を具備する
ことを特徴とするICカードリーダライタ。 - 【請求項2】 前記接触エラー検出手段は、 前記集積回路の電源端子に前記集積回路用の電源を供給
した後、前記集積回路のリセットが正常に終了するまで
の所定時間、前記集積回路のクロック端子にクロック信
号を供給し、その後前記クロック信号を再びローレベル
に制御することを特徴とする請求項1記載のICカード
リーダライタ。 - 【請求項3】 前記ICカードリーダライタは、 前記集積回路用のクロック信号を発生する集積回路用ク
ロック発生手段と、 前記集積回路用の電源を発生する集積回路用電源手段と
を具備し、 前記接触エラー検出手段は、 前記接触部を介して前記集積回路のリセット端子に供給
されるリセット信号をローレベルに制御する第1の制御
手段と、 前記集積回路用クロック信号発生手段を制御して前記接
触部を介して前記集積回路のクロック端子に供給される
前記集積回路用のクロック信号をローレベルに制御する
第2の制御手段と、 前記集積回路用電源手段を制御して前記接触部を介して
前記集積回路の電源端子に前記集積回路用の電源を供給
する第3の制御手段と、 前記接触部を介して前記集積回路の入出力端子から出力
される電圧を所定の基準電圧と比較する比較手段とを具
備することを特徴とする請求項1記載のICカードリー
ダライタ。 - 【請求項4】 前記ICカードリーダライタは、 中央演算処理部を有し、 前記第1の制御手段および前記第2の制御手段および前
記第3の制御手段は、前記中央演算処理部で実現される
ことを特徴とする請求項3記載のICカードリーダライ
タ。 - 【請求項5】 前記比較手段は、 前記中央演算処理部で実現されることを特徴とする請求
項4記載のICカードリーダライタ。 - 【請求項6】 前記集積回路用クロック発生手段は、 前記中央演算処理部にクロック信号を供給する中央演算
処理部用クロック発生手段と共用されることを特徴とす
る請求項4記載のICカードリーダライタ。 - 【請求項7】 前記集積回路用電源手段は、 前記中央演算処理部に電源を供給する中央演算処理部で
電源手段と共用されることを特徴とする請求項4記載の
ICカードリーダライタ。
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