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JP3159963B2 - チップ抵抗器 - Google Patents

チップ抵抗器

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Publication number
JP3159963B2
JP3159963B2 JP37266698A JP37266698A JP3159963B2 JP 3159963 B2 JP3159963 B2 JP 3159963B2 JP 37266698 A JP37266698 A JP 37266698A JP 37266698 A JP37266698 A JP 37266698A JP 3159963 B2 JP3159963 B2 JP 3159963B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
electrodes
resistor
substrate
pair
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP37266698A
Other languages
English (en)
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JPH11265801A (ja
Inventor
直 大郷
紘二 東
充 横山
陽三 小原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hokuriku Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Hokuriku Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=18500844&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP3159963(B2) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Hokuriku Electric Industry Co Ltd filed Critical Hokuriku Electric Industry Co Ltd
Priority to JP37266698A priority Critical patent/JP3159963B2/ja
Publication of JPH11265801A publication Critical patent/JPH11265801A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、チップ状の絶縁性
セラミック基板の表面に抵抗体が設けられ、この基板の
両端部に電極が形成されたチップ抵抗器に関するもので
ある。 【0002】 【従来の技術】チップ抵抗器の基本構造は、絶縁性セラ
ミック基板の表面の両端部に一対の電極が形成され、こ
れら一対の電極に接続されるように基板表面上に抵抗体
が印刷形成される構造である。そして従来から、回路基
板への半田付けに用いる電極構造としては、種々のもの
が提案されている。また抵抗体をレーザトリミングする
ために、抵抗体の表面にガラスコートを施すことも行わ
れている。更に、トリミングを終了した後に、前述のガ
ラスコート(下側ガラスコート)の上に更にガラスコー
ト(上側ガラスコート)を施した構造のチップ抵抗器も
提案されている。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】従来のチップ抵抗器に
おいては、特にチップ抵抗器が実装された回路基板に曲
げ力が加わり、回路基板の電極に半田付け接続されたチ
ップ抵抗器の電極に無理な力が加わると、基板の両端に
設けられた一対の電極にクラックが入ったり接続不良が
発生することがあり、信頼性が低くなる問題があった。 【0004】本発明の目的は、半田付けの信頼性の高い
チップ抵抗器を提供することにある。 【0005】 【課題を解決するための手段】本発明は、絶縁性セラミ
ック基板の基板表面の両端部に一対の電極が形成され、
一対の電極に接続されるように基板表面上に抵抗体が印
刷形成され、抵抗体を覆うようにガラスコートが施され
ているチップ抵抗器を改良の対象とする。 【0006】本発明では、絶縁性セラミック基板とし
て、セラミック板の両面に縦横に設けられたスリットに
沿って切断されて形成されたものを用いる。また一対の
電極を絶縁性セラミック基板の基板表面の両端部に形成
されたメタルグレーズ系の一対の第1電極とし、また絶
縁性セラミック基板の基板裏面の両端部に第1電極と対
向するように形成されたメタルグレーズ系の一対の第2
電極を設け、更に絶縁性セラミック基板の端面を覆い且
つ第1電極と第2電極とを接続するように導電ペースト
により形成された一対の第3電極を設け、第1電極,第
2電極及び第3電極を覆うようにメッキ層を形成しても
よい。そして第3電極をその両端部がそれぞれ第1電極
及び第2電極の表面上に一部重畳するように形成する。 【0007】このように絶縁性基板の両端部の表裏面及
び端面に設けた第1,第2,第3電極をNiメッキで覆
うとハンダくわれを防ぐことができ、さらにハンダメッ
キ処理してNiメッキ層のハンダ濡れ性を改善すること
ができる。 【0008】また第3電極は、実装用の回路基板上に配
置された状態で回路基板と第2電極との間に溶融半田が
入り込む隙間が形成されるように第2電極の表面上に一
部重畳しているため、即ち基板の下面側では第3電極を
第2電極に一部重畳して設けてあるため、電極が段状に
形成され、本発明のチップ抵抗器を実装用のプリント回
路基板に取り付けた際、第2電極の下面側と回路基板と
の間に生じた隙間に溶融半田が回り込み、本発明のチッ
プ抵抗器が小さくても充分な固着力が得られる。 【0009】特に本発明で用いる絶縁性セラミック基板
は、端縁部にスリットの一部を構成する傾斜部を備えて
いるため、ほぼ直角になるような角部が端縁部に形成さ
れることはない。そのため後述する第3の電極を形成す
るための導電性ペーストが基板の角部で薄くなって電極
部における抵抗値が大きくなるのを防止できる。そして
本発明では、第3電極をキシレンフェノール樹脂又はエ
ポキシフェノール樹脂等のフェノール系樹脂にAgを混
入したAg−レジン系の導電性ペーストにより形成す
る。このような導電性ペーストを用いて基板の端面に形
成したAg−レジン系の第3電極は、適度の柔軟性を有
するため、回路基板の曲げに対しても十分に耐えること
ができる。 【0010】 【発明の実施の形態】以下本発明の一実施例を図面に基
づいて説明する。 【0011】この実施例のチップ抵抗器1は、図1に示
すように、セラミックの基板2の表面に凸型の抵抗体3
が印刷され、この両端に電極4が設けられている。抵抗
体3は、酸化ルテニウム約10μの厚みに設け、レーザ
又はサンドブラストにより凸型の底辺から上方に向って
トリミング溝5を形成し、抵抗値のトリミングが成され
ている。 【0012】図2に示すように、このチップ抵抗器1の
電極4は、抵抗体3が直接に接続している第1電極6
と、この第1電極6と基板2をはさんで対向して形成さ
れた第2電極7を有し、この第1,第2電極6,7はA
g−Pd、Ag−Pt等のメタルグレーズペーストを印
刷形成したものである。さらに、第1,第2電極6,7
をはさんで基板2の端面に、キシレンフェノール樹脂又
はエポキシフェノール樹脂にAgを混入したAg−レジ
ン系の導電性ペーストによる第3電極8が設けられ、こ
の第3電極8は、第1,第2電極6,7を一部被覆する
ように設けられ、両者の導通を図っている。そして、こ
の第1,第2,第3電極全体を覆ってNiメッキ9及び
ハンダメッキ10が施されている。 【0013】また、抵抗体3の表面には、ガラスコート
11及びレジンコート12を施して保護している。 【0014】この実施例のチップ抵抗器の製造方法は、
図3AないしFに示すように、先ず基板となるセラミッ
ク板13のスリット14をはさんで所定間隔で第1電極
6となるメタルグレーズペーストを複数列印刷して、9
00℃近い温度で焼成する。さらに同様にして第2電極
7も第1電極6と対向する位置に形成する。次に、図3
Bに示すように、第1電極6の間のセラミック板13上
にマトリクス状に抵抗体3を印刷形成し、平均850℃
の温度で焼成する。そして、図3Cに示すように、抵抗
体3の表面にガラスコート11を施し平均650℃の温
度で焼成する。この後、セラミック板13を各チップ抵
抗器毎に縦横に設けられたスリット14に沿って切断
(スクライブ)し、図3Dに示すように、基板2の端面
にAg−レジン系の導電性ペーストの第3電極8を20
μ程度の厚みに塗布し、200℃程度の温度で硬化させ
る。そして、図3E,Fに示すように、Niメッキ9,
ハンダメッキ10を各々順次施し、第1,第2,第3電
極6,7,8を被覆する。 【0015】この場合、スリット14は基板の両側より
設けられているため、セラミック基板端面に、樹脂を一
部重畳する状態で塗布すると、電気的にも機械的にも良
好な状態が得られる。すなわち図2には示していない
が、図3に示す方法で製造すると、絶縁性セラミック基
板2は、端縁部にスリット14,14の一部を構成する
傾斜部を備えているため、ほぼ直角になるような角部が
端縁部に形成されることはない。そのため第3の電極8
を形成するための導電性ペーストが基板2の角部で薄く
なって電極部における抵抗値が大きくなるのを防止でき
る。この方法によるとセラミック基板端面において、端
子電極の剥がれやクラック等の欠陥が生じなくなる。 【0016】最後に、各チップ抵抗器の抵抗体3をトリ
ミングして抵抗値を調整し、エポキシ樹脂等のレジンコ
ート12を施し200℃付近の温度で硬化させる。 【0017】また、トリミングは、図3Cの状態で行う
こともあり、この場合はその後レジンコート12を施し
て図3D以下の工程を行う。これによって、セラミック
板13をチップ毎に分離しない状態で抵抗値のトリミン
グを行うので効率良くトリミング作業を行うことがで
き、しかもレジンコート12によって、後のメッキ作業
時にも抵抗体に悪影響を与えることもない。 【0018】この実施例のチップ抵抗器によれば、ハン
ダくわれに対して電極4の耐性が向上し、しかも、回路
基板の曲げに対しても、メタルグレーズ系のみでできた
電極と比べ柔軟性が高いので電極が強い。また、ハンダ
付けの際の回路基板に対する固着力も、第1,第2電極
6,7が回路基板に強固にハンダ付けされるので、極め
て強く、第3電極をAg−レジン系にしたことによる固
着力の低下は生じない。 【0019】尚、この発明のチップの抵抗器の抵抗体
は、金属皮膜抵抗体、炭素皮膜抵抗体等その用途に合わ
せて適宜選定し得るものである。またメタルグレーズペ
ースト、Ag−レジン系導電性ペーストの成分は、適宜
他の添加物が入っていても良い。本願のものは抵抗体上
にガラスコートを施しトリミングしているが、適宜公知
の方法で変更しうるものであり、他の抵抗体を用いたチ
ップ部品にも同様に応用でき、この実施例のものに限定
されるものではない。 【0020】本実施例のチップ抵抗器は、基板の両面に
設けたメタルグレーズ系の第1,第2電極にまたがって
基板の端面にAg−レジン系の第3電極を設け、この第
1,第2,第3電極を覆うNiメッキ層及び該Niメッ
キ層を覆うハンダメッキ層を形成したので、ハンダくわ
れに強く、回路基板への付け直しが可能である。また基
板の下面側の第2電極に一部重畳して第3電極を設けた
ので、基板の下面側の電極で段差が形成され、回路基板
へハンダ付けした際、下面側電極と回路基板の間に生じ
る隙間にハンダが回り込んで強い固着力が得られる。し
かも基板の端面に設けたAg−レジン系の第3電極が適
度の柔軟性を有するので、回路基板の曲げに対しても十
分に耐え得るものである。また本実施例のように、スク
ライブ後の基板側端部面にレジン含有銀塗料を表裏面の
第1,第2電極上に一部重畳する状態で直接塗布し低温
で加熱処理して第3電極を形成すると、切断されたまま
の粗い基板断面に対し直接に接合し第3電極の接着力が
強い。またハンダ付け用電極にメッキ処理する際、第3
電極がメッキ液の浸透を効果的に防止し、電極に剥れや
クラック等の欠陥を生ずることのない高品質の製品を製
造し得る。またメッキ前にレジンコートをすればメッキ
液に弱い抵抗体をレジンコートにより保護するので、抵
抗体の特性も維持できる。 【0021】従って、今日の実装密度の高度化の要求に
よりチップ抵抗器も小型化しているが、電極が小さくて
も十分な固着力が得られ、電気製品の小型軽量化、信頼
性、耐久性及び生産性の向上に大きく寄与するものであ
る。 【0022】 【発明の効果】本発明によれば、絶縁性セラミック基板
は端縁部にスリットの一部を構成する傾斜部を備えてい
るため、ほぼ直角になるような角部が端縁部に形成され
ることはなく、第3の電極を形成するための導電性ペー
ストが基板の角部で薄くなって電極部における抵抗値が
大きくなるのを防止できる。 また本発明によれば、第3
電極は、実装用の回路基板上に配置された状態で回路基
板と第2電極との間に溶融半田が入り込む隙間が形成さ
れるように第2電極の表面上に一部重畳しているため、
この隙間にも溶融半田が回り込み、チップ抵抗器が小さ
くても充分な固着力が得られる。 【0023】また、基板の端面に設けたフェノール系樹
脂にAgを混入したAg−レジン系の第3電極が適度の
柔軟性を有するため、チップ抵抗器が実装される回路基
板の曲げに対しても十分に耐えることができて、信頼性
が増す利点がある。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明のチップ抵抗器の一実施例の平面図であ
る。 【図2】図1のA−A断面図である。 【図3】A,B,C,D,E,Fはこの実施例のチップ
抵抗器の製造工程を示す横断面図である。 【符号の説明】 1 チップ抵抗器 2 基板 3 抵抗体 4 電極 5 トリミング溝 6 第1電極 7 第2電極 8 第3電極 9 Niメッキ 10 ハンダメッキ 11 ガラスコート 12 レジンコート 13 セラミック板 14 スリット
フロントページの続き (72)発明者 小原 陽三 富山県上新川郡大沢野町下大久保3158番 地 北陸電気工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−86801(JP,A) 特開 昭58−87704(JP,A) 特開 昭62−176101(JP,A) 実開 昭57−119501(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01C 7/00

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 1.絶縁性セラミック基板の基板表面の両端部に一対の
    電極が形成され、前記一対の電極に接続されるように前
    記基板表面上に抵抗体が印刷形成され、前記抵抗体を覆
    うようにガラスコートが施されているチップ抵抗器であ
    って、前記絶縁性セラミック基板は、セラミック板の両面に縦
    横に設けられたスリットに沿って切断されて形成された
    ものからなり、 前記一対の電極はメタルグレーズ系の第1電極からな
    り、 前記絶縁性セラミック基板の基板裏面の両端部には前記
    第1電極と対向するように形成されたメタルグレーズ系
    の一対の第2電極が更に設けられ、 前記絶縁性セラミック基板の端面を覆い且つ前記第1電
    極と前記第2電極とを接続するように導電ペーストによ
    り形成された一対の第3電極が設けられ、 前記第1電極,前記第2電極及び前記第3電極を覆うよ
    うにメッキ層が形成されており、 前記第3電極はその両端部がそれぞれ前記第1電極及び
    第2電極の表面上に一部重畳するように形成されてお
    り、 前記第3電極は、実装用の回路基板上に配置された状態
    で前記回路基板と前記第2電極との間に溶融半田が入り
    込む隙間が形成されるように前記第2電極の表面上に一
    部重畳しており、 前記第3電極はフェノール系樹脂にAgを混入したAg
    −レジン系の導電性ペーストにより形成されていること
    を特徴とするチップ抵抗器。
JP37266698A 1987-10-22 1998-12-28 チップ抵抗器 Expired - Lifetime JP3159963B2 (ja)

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