JP2936900B2 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JP2936900B2 JP2936900B2 JP4191254A JP19125492A JP2936900B2 JP 2936900 B2 JP2936900 B2 JP 2936900B2 JP 4191254 A JP4191254 A JP 4191254A JP 19125492 A JP19125492 A JP 19125492A JP 2936900 B2 JP2936900 B2 JP 2936900B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead pattern
- lead
- pattern
- semiconductor chip
- return current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 36
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 9
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/4826—Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/49105—Connecting at different heights
- H01L2224/49109—Connecting at different heights outside the semiconductor or solid-state body
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73215—Layer and wire connectors
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体チップとリードフ
レームとを電気的に接続した際の寄生インダクタンスに
よる電気的ノイズの少ない半導体装置に関する。
レームとを電気的に接続した際の寄生インダクタンスに
よる電気的ノイズの少ない半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置は大規模集積化に伴ない半導
体チップ面積が増加している。更に端子数増大や端子位
置の自由度を増したいとの要求から半導体チップとリー
ドフレームを接続する構造が最近変更されつつある。こ
の要求を満たす構造としてリードを半導体チップの上に
まで延長した構造(Lead on Chip構造、以
下LOC構造と記す)がある。このLOC構造の一例は
特開平3−227541号公報に示されている。
体チップ面積が増加している。更に端子数増大や端子位
置の自由度を増したいとの要求から半導体チップとリー
ドフレームを接続する構造が最近変更されつつある。こ
の要求を満たす構造としてリードを半導体チップの上に
まで延長した構造(Lead on Chip構造、以
下LOC構造と記す)がある。このLOC構造の一例は
特開平3−227541号公報に示されている。
【0003】図5は、このような従来のLOC構造の半
導体装置のパッケージの長手方向に垂直な断面を示した
部分断面図である。半導体チップ10はリードフレーム
のアイランド11に載置・固定されている。リードには
半導体チップ上まで延びて半導体チップ表面に形成され
た絶縁層15に接しているリードパターン16を有し、
リードパターン16と半導体チップ上のボンディングパ
ッド14との間は、ボンディングワイヤ13により電気
的に接続され、リードパターン16,半導体チップ,ア
イランドが封止材にて封止されている。
導体装置のパッケージの長手方向に垂直な断面を示した
部分断面図である。半導体チップ10はリードフレーム
のアイランド11に載置・固定されている。リードには
半導体チップ上まで延びて半導体チップ表面に形成され
た絶縁層15に接しているリードパターン16を有し、
リードパターン16と半導体チップ上のボンディングパ
ッド14との間は、ボンディングワイヤ13により電気
的に接続され、リードパターン16,半導体チップ,ア
イランドが封止材にて封止されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記LOC構造によれ
ば、半導体チップがリードフレームを含むパッケージに
入りきらないという問題は解決されるが、半導体チップ
上に長いリードパターンが存在することになる。最近の
半導体装置は、高集積化に伴ない半導体チップ内配線長
が長く寄生インダクタンスが大きくなっている。そして
高速駆動が要求されるため、リードを含めた寄生インダ
クタンスの増加は、見逃すことができなくなっている。
すなわち、リードを含めたある配線で駆動電流が流れる
と寄生インダクタンスの影響で不要な起電力が生じ、過
大な電流オーバーシュートや近傍の配線での入力信号レ
ベルのしきい値変動等の電気的ノイズが発生する。
ば、半導体チップがリードフレームを含むパッケージに
入りきらないという問題は解決されるが、半導体チップ
上に長いリードパターンが存在することになる。最近の
半導体装置は、高集積化に伴ない半導体チップ内配線長
が長く寄生インダクタンスが大きくなっている。そして
高速駆動が要求されるため、リードを含めた寄生インダ
クタンスの増加は、見逃すことができなくなっている。
すなわち、リードを含めたある配線で駆動電流が流れる
と寄生インダクタンスの影響で不要な起電力が生じ、過
大な電流オーバーシュートや近傍の配線での入力信号レ
ベルのしきい値変動等の電気的ノイズが発生する。
【0005】本発明の目的は、上記の従来困難であった
半導体チップ上の長いリードパターンの寄生インダクタ
ンスによる電気的ノイズの発生を低減し、高速駆動でき
る半導体装置を提供することである。
半導体チップ上の長いリードパターンの寄生インダクタ
ンスによる電気的ノイズの発生を低減し、高速駆動でき
る半導体装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
リードフレームのリードが、絶縁層を介して半導体チッ
プ上に延在したリードパターンを有し、前記リードパタ
ーンと半導体チップ上のボンディングパッドとが電気的
に接続されたリードオンチップ構造の半導体装置におい
て、前記リードパターンに隣接して平行に戻り電流リー
ドパターンを備え、前記戻り電流リードパターンは、前
記リードパターンを取り囲むように前記リードパターン
の先端で折り返され、前記戻り電流リードパターンの先
端は前記リードパターンを挟んで前記戻り電流リードパ
ターンの根本とボンディングされていることを特徴とす
る。
リードフレームのリードが、絶縁層を介して半導体チッ
プ上に延在したリードパターンを有し、前記リードパタ
ーンと半導体チップ上のボンディングパッドとが電気的
に接続されたリードオンチップ構造の半導体装置におい
て、前記リードパターンに隣接して平行に戻り電流リー
ドパターンを備え、前記戻り電流リードパターンは、前
記リードパターンを取り囲むように前記リードパターン
の先端で折り返され、前記戻り電流リードパターンの先
端は前記リードパターンを挟んで前記戻り電流リードパ
ターンの根本とボンディングされていることを特徴とす
る。
【0007】
【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の参考例の半導体装置の部分断面図、
図2は封止材で封止する以前の部分平面図である。図1
の半導体装置は、図5の従来の半導体装置と同じく、半
導体チップ10はアイランド11の上に載置・固定さ
れ、リード12に接続したリードパターン16は半導体
チップ表面に設けた絶縁層15上に延在し、このリード
パターン16と半導体チップ上のボンディングパッド1
4とがボンディングワイヤ13で電気的に接続され、こ
れらリードパターン16、半導体チップ10、アイラン
ド11が封止材17で埋め込まれている。本参考例は、
従来例とは違い、リードパターン16の上に絶縁層25
を介して新たに戻り電流リードパターン26を備えてい
る。
る。図1は本発明の参考例の半導体装置の部分断面図、
図2は封止材で封止する以前の部分平面図である。図1
の半導体装置は、図5の従来の半導体装置と同じく、半
導体チップ10はアイランド11の上に載置・固定さ
れ、リード12に接続したリードパターン16は半導体
チップ表面に設けた絶縁層15上に延在し、このリード
パターン16と半導体チップ上のボンディングパッド1
4とがボンディングワイヤ13で電気的に接続され、こ
れらリードパターン16、半導体チップ10、アイラン
ド11が封止材17で埋め込まれている。本参考例は、
従来例とは違い、リードパターン16の上に絶縁層25
を介して新たに戻り電流リードパターン26を備えてい
る。
【0008】本参考例では一例として幅500μm,厚
さ50μm,長さ2mmのCu合金からなるリードパタ
ーン16をリード12に接続し、半導体チップ10上に
設け、リードパターン16上に厚さ30μmのポリイミ
ドからなる絶縁層25を設け、この絶縁層25上に幅3
00μm,厚さ50μm,長さ2mmの戻り電流リード
パターン26をリード12に接続して設けた。このとき
リードパターンの寄生インダクタンス値は、数値計算に
よる図4曲線41の予測値と一致する実測値(長さL=
2mmにおいて約0.3nH)が得られた。この値は、
図4曲線40で示す従来例での値に比べ約0.1倍に低
減されている。これは、戻り電流リードパターンをリー
ドパターン近傍に備えることにより、各リードパターン
の自己インダクタンスが相互インダクタンスで部分的に
相殺され、全体の寄生インダクタンスが減少するためで
ある。
さ50μm,長さ2mmのCu合金からなるリードパタ
ーン16をリード12に接続し、半導体チップ10上に
設け、リードパターン16上に厚さ30μmのポリイミ
ドからなる絶縁層25を設け、この絶縁層25上に幅3
00μm,厚さ50μm,長さ2mmの戻り電流リード
パターン26をリード12に接続して設けた。このとき
リードパターンの寄生インダクタンス値は、数値計算に
よる図4曲線41の予測値と一致する実測値(長さL=
2mmにおいて約0.3nH)が得られた。この値は、
図4曲線40で示す従来例での値に比べ約0.1倍に低
減されている。これは、戻り電流リードパターンをリー
ドパターン近傍に備えることにより、各リードパターン
の自己インダクタンスが相互インダクタンスで部分的に
相殺され、全体の寄生インダクタンスが減少するためで
ある。
【0009】図3は本発明の実施例の部分平面図に電流
が戻るよう2本の戻り電流パターン26を設けた。戻り
電流リードパターン26の先端と根本(リード12の近
傍)はボンディングワイヤ33で結んだ。ここでリード
パターンは幅300μm厚さ50μm長さ2mmであ
り、その左右両側に200μmの間隔をあけて幅300
μmの戻り電流パターン26を同一平面上に備えた。ま
た、リードパターン及び戻り電流リードパターンはリー
ドと一体に形成した。このときのインダクタンスは、図
4の曲線42に示すように、従来の場合より十分低い値
にできることが確認された。
が戻るよう2本の戻り電流パターン26を設けた。戻り
電流リードパターン26の先端と根本(リード12の近
傍)はボンディングワイヤ33で結んだ。ここでリード
パターンは幅300μm厚さ50μm長さ2mmであ
り、その左右両側に200μmの間隔をあけて幅300
μmの戻り電流パターン26を同一平面上に備えた。ま
た、リードパターン及び戻り電流リードパターンはリー
ドと一体に形成した。このときのインダクタンスは、図
4の曲線42に示すように、従来の場合より十分低い値
にできることが確認された。
【0010】本実施例ではリードパターン16及び戻り
電流パターン26とボンディングパッド14との電気的
接続はボンディングワイヤ13で行なったが、ボンディ
ングパッド14の上にパターン16,26を伸ばし、ボ
ンディングパッド上で穴を空けはんだにより電気的接続
を行う場合も本発明は同様に有効である。
電流パターン26とボンディングパッド14との電気的
接続はボンディングワイヤ13で行なったが、ボンディ
ングパッド14の上にパターン16,26を伸ばし、ボ
ンディングパッド上で穴を空けはんだにより電気的接続
を行う場合も本発明は同様に有効である。
【0011】
【発明の効果】図4に示した効果はリードパターン16
と戻り電流リードパターン26の距離をより近付けるこ
とにより大きくなる。また実施例においてリードパター
ン16の左右両側の戻り電流リードパターン26は左右
のうちいずれか片側でも構わないが両側に備えたものが
より効果がある。なお、参考例と実施例とを組み合わせ
て戻り電流リードパターンをリードパターンの左右上下
のいずれか複数位置に備える場合については、容易に類
推されるようにより優れた効果が得られる。以上、説明
したように本発明は半導体装置内のリードパターンに対
し戻り電流リードパターンを近接して備えることにより
寄生インダクタンスを減少し、半導体装置の高速駆動時
に発生する電気的誘導ノイズを低減するという効果を有
する。
と戻り電流リードパターン26の距離をより近付けるこ
とにより大きくなる。また実施例においてリードパター
ン16の左右両側の戻り電流リードパターン26は左右
のうちいずれか片側でも構わないが両側に備えたものが
より効果がある。なお、参考例と実施例とを組み合わせ
て戻り電流リードパターンをリードパターンの左右上下
のいずれか複数位置に備える場合については、容易に類
推されるようにより優れた効果が得られる。以上、説明
したように本発明は半導体装置内のリードパターンに対
し戻り電流リードパターンを近接して備えることにより
寄生インダクタンスを減少し、半導体装置の高速駆動時
に発生する電気的誘導ノイズを低減するという効果を有
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の参考例の部分断面図。
【図2】図1の半導体装置の部分平面図。
【図3】本発明の実施例の部分平面図。
【図4】本発明の実施例と従来例の寄生インダクタンス
の比較図。
の比較図。
【図5】従来例の部分断面図。
10 半導体チップ 11 アイランド 12 リード 13 ボンディングワイヤ 14 ボンディングパッド 15 絶縁層 16 リードパターン 17 封止材 25 絶縁層 26 戻り電流リードパターン 33 ボンディングワイヤ
Claims (1)
- 【請求項1】 リードフレームのリードが、絶縁層を介
して半導体チップ上に延在したリードパターンを有し、
前記リードパターンと半導体チップ上のボンディングパ
ッドとが電気的に接続されたリードオンチップ構造の半
導体装置において、前記リードパターンに隣接して平行
に戻り電流リードパターンを備え、前記戻り電流リード
パターンは、前記リードパターンを取り囲むように前記
リードパターンの先端で折り返され、前記戻り電流リー
ドパターンの先端は前記リードパターンを挟んで前記戻
り電流リードパターンの根本とボンディングされている
ことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4191254A JP2936900B2 (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4191254A JP2936900B2 (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0637236A JPH0637236A (ja) | 1994-02-10 |
JP2936900B2 true JP2936900B2 (ja) | 1999-08-23 |
Family
ID=16271481
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4191254A Expired - Fee Related JP2936900B2 (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2936900B2 (ja) |
-
1992
- 1992-07-20 JP JP4191254A patent/JP2936900B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0637236A (ja) | 1994-02-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9905497B2 (en) | Resin sealing type semiconductor device and method of manufacturing the same, and lead frame | |
JP3286765B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2936900B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR100390466B1 (ko) | 멀티칩 모듈 반도체패키지 | |
JPH061801B2 (ja) | リ−ドフレ−ム | |
JPS59175145A (ja) | リ−ドフレ−ム | |
JP2601228B2 (ja) | 樹脂封止型回路装置の製造方法 | |
JP2969301B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR100635386B1 (ko) | 고속 신호 처리가 가능한 반도체 칩 패키지 | |
JP3702152B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH0529528A (ja) | 半導体集積回路装置およびそれに用いるリードフレーム | |
JP2869596B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPH05114685A (ja) | 半導体装置 | |
JP5145596B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2653504B2 (ja) | 半導体装置 | |
US7951651B2 (en) | Dual flat non-leaded semiconductor package | |
JPH0521694A (ja) | 半導体装置 | |
JP2756436B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
KR950005457B1 (ko) | 플로트 커패시터를 갖는 반도체 장치 | |
JP2629461B2 (ja) | 樹脂封止形半導体装置 | |
KR0135672B1 (ko) | 반도체 패키지용 리드프레임 | |
KR0142756B1 (ko) | 칩홀딩 리드 온 칩타입 반도체 패키지 | |
JPS62169461A (ja) | 半導体装置 | |
JP2577880B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR200159720Y1 (ko) | 반도체 패키지 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |